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特表2024-538811アイドル及び非アクティブモードにあるｅＤＲＸを用いた低減された能力のＵＥのためのセル検出及び測定
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公表特許公報(A)
(11)【公表番号】
(43)【公表日】2024-10-23
(54)【発明の名称】アイドル及び非アクティブモードにあるｅＤＲＸを用いた低減された能力のＵＥのためのセル検出及び測定
(51)【国際特許分類】
H04W 52/02 20090101AFI20241016BHJP
H04W 24/08 20090101ALI20241016BHJP
H04W 16/28 20090101ALI20241016BHJP
【ＦＩ】
H04W52/02 111
H04W24/08
H04W16/28
【審査請求】有
【予備審査請求】未請求
(21)【出願番号】P 2024523979
(86)(22)【出願日】2021-10-22
(85)【翻訳文提出日】2024-04-22
(86)【国際出願番号】 CN2021125735
(87)【国際公開番号】W WO2023065307
(87)【国際公開日】2023-04-27
(81)【指定国・地域】
【公序良俗違反の表示】
（特許庁注：以下のものは登録商標）
１．３ＧＰＰ
(71)【出願人】
【識別番号】503260918
【氏名又は名称】アップル インコーポレイテッド
【氏名又は名称原語表記】Ａｐｐｌｅ Ｉｎｃ．
【住所又は居所原語表記】Ｏｎｅ Ａｐｐｌｅ Ｐａｒｋ Ｗａｙ，Ｃｕｐｅｒｔｉｎｏ， Ｃａｌｉｆｏｒｎｉａ ９５０１４， Ｕ．Ｓ．Ａ．
(74)【代理人】
【識別番号】110003281
【氏名又は名称】弁理士法人大塚国際特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】キュイ， ジエ
(72)【発明者】
【氏名】チャン， ダウェイ
(72)【発明者】
【氏名】ヘ， ホン
(72)【発明者】
【氏名】ニウ， ファニン
(72)【発明者】
【氏名】ラガヴァン， マナサ
(72)【発明者】
【氏名】リ， キミン
(72)【発明者】
【氏名】チェン， シアン
(72)【発明者】
【氏名】タン， ヤン
【テーマコード（参考）】
5K067
【Ｆターム（参考）】
5K067AA21
5K067EE02
5K067GG02
5K067KK02
(57)【要約】
ＦＲ１においてアイドルモードにある低減された能力のＵＥにおけるサービングセル測定は、低減された能力のＵＥに関連付けられたｅＤＲＸサイクル長が２０．４８秒以上かつ１０４８５．７６秒以下であることを識別することを含む。ｅＤＲＸサイクル長は、ＤＲＸサイクル長を含む。低減された能力のＵＥのサービングセルに関連付けられた測定期間は、ｅＤＲＸサイクルの単一のＰＴＷ内で生じるように決定される。測定期間は、単一のＰＴＷ内で実行される測定サンプルを含む。単一のＰＴＷの長さは、ＤＲＸサイクル長と測定サンプルに関連付けられたサンプルスケーリング係数との積に基づいて決定される。単一のＰＴＷの長さは、１．２８の倍数を含む。サービングセル測定は、単一のＰＴＷ中に実行される。サービングセル測定は、測定期間に関連付けられた測定サンプルの各々を含む。
【特許請求の範囲】
【請求項1】
周波数範囲１（ＦＲ１）においてアイドルモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）におけるサービングセル測定のための方法であって、前記方法は、前記低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長であって、前記ｅＤＲＸサイクル長は間欠受信（ＤＲＸ）サイクル長を含む前記ｅＤＲＸサイクル長が、２０．４８秒（ｓ）以上かつ１０４８５．７６ｓ以下であることを識別することと、
前記低減された能力のＵＥのサービングセルに関連付けられた測定期間であって、単一のページング時間ウィンドウ（ＰＴＷ）内で実行される複数の測定サンプルを含む前記測定期間が、前記ｅＤＲＸサイクルの前記単一のＰＴＷ内で生じると決定することと、
前記ＤＲＸサイクル長と前記複数の測定サンプルに関連付けられたサンプルスケーリング係数との積に基づいて、１．２８の倍数を含む前記単一のＰＴＷの前記長さを決定することと、
前記単一のＰＴＷの間に、サービングセル測定を実行することであって、前記サービングセル測定は、前記測定期間に関連付けられた前記複数の測定サンプルの各々を含む、ことと、
を含む、方法。
【請求項2】
前記複数の測定サンプルは、前記サービングセルの前記測定期間に関連付けられた測定サンプルの全体を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項3】
前記ＤＲＸサイクル長と前記サンプルスケーリング係数との前記積が１．２８の倍数ではない場合、前記単一のＰＴＷの前記長さを決定することは、１．２８で除算された前記積の結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、
前記整数に１．２８を乗算して、それによって前記単一のＰＴＷの前記長さを生成することと、を更に含む、請求項１に記載の方法。
【請求項4】
前記整数を生成することは、１．２８で除算された前記積の前記結果の値に対して天井関数を実行することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項5】
同期信号ブロック（ＳＳＢ）ベースの測定タイミング構成（ＳＭＴＣ）周期が２０ミリ秒（ｍｓ）より大きく、前記ＤＲＸサイクル長が０．６４ｓ以下である場合、前記単一のＰＴＷの前記長さを決定することは、前記ＤＲＸサイクル長と前記サンプルスケーリング係数との前記積にスケーリング係数ｋを乗算して、それによって新しい積を生成することを更に含む、請求項１に記載の方法。
【請求項6】
前記新しい積が１．２８の倍数ではない場合、前記単一のＰＴＷの前記長さを決定することは、１．２８で除算された前記新しい積の結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、
前記整数に１．２８を乗算して、それによって前記単一のＰＴＷの前記長さを生成することと、を更に含む、請求項５に記載の方法。
【請求項7】
周波数範囲１（ＦＲ１）においてアイドルモード又は非アクティブモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）におけるサービングセル測定のための方法であって、前記方法は、前記低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長が２．５６秒（ｓ）以上かつ１０．２４ｓ以下であることを識別することと、
前記低減された能力のＵＥのサービングセルに関連付けられた複数の測定サンプルは、前記ｅＤＲＸサイクルに関連付けられた測定期間内に測定されると決定することと、
前記測定期間の長さを決定することは、前記ｅＤＲＸサイクル長と前記複数の測定サンプルに関連付けられたサンプルスケーリング係数との積に基づくことと、
前記測定期間の間に、サービングセル測定を実行することであって、前記サービングセル測定は、前記測定期間に関連付けられた前記複数の測定サンプルの各々を含む、ことと、
を含む、方法。
【請求項8】
周波数範囲２（ＦＲ２）においてアイドルモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）におけるサービングセル測定のための方法であって、前記方法は、前記低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長であって、間欠受信（ＤＲＸ）サイクル長を含む前記ｅＤＲＸサイクル長が、２０．４８秒（ｓ）以上かつ１０４８５．７６ｓ以下であることを識別することと、
前記低減された能力のＵＥのサービングセルに関連付けられた測定期間であって、複数の受信（Ｒｘ）ビームに関連付けられたビーム掃引と、単一のページング時間ウィンドウ（ＰＴＷ）内で実行される前記複数のＲｘビームの各々に関連付けられた複数の物理レイヤフィルタリングサンプルとを含む、前記測定期間が、前記ｅＤＲＸサイクルの前記単一のＰＴＷ内で生じると決定することと、
前記ＤＲＸサイクル長と、前記複数のＲｘビームに関連付けられたビーム掃引スケーリング係数と、前記複数の物理レイヤフィルタリングサンプルに関連付けられたサンプルスケーリング係数との積に基づいて、１．２８の倍数を含む前記単一のＰＴＷの前記長さを決定すること、
前記単一のＰＴＷ中にサービングセル測定を実行することであって、前記サービングセル測定は、前記複数のＲｘビームの各々に関連付けられたビーム掃引と、前記複数のＲｘビームの各々に関連付けられた前記複数の物理レイヤフィルタリングサンプルとを含む、ことと、
を含む、方法。
【請求項9】
前記複数のＲｘビームは、Ｒｘビームの全体を含む、請求項８に記載の方法。
【請求項10】
前記ＤＲＸサイクル長は、複数の可能なＤＲＸサイクル長のうちの１つを含み、前記ビーム掃引スケーリング係数は、複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの１つを含み、前記複数のビーム掃引スケーリング係数の各々は、前記複数の可能なＤＲＸサイクル長のうちの所与のＤＲＸサイクル長に関連付けられている、請求項８に記載の方法。
【請求項11】
前記複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの少なくとも第１のビーム掃引スケーリング係数と、前記複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの少なくとも第２のビーム掃引スケーリング係数とが同じ値を含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項12】
前記複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの第１のビーム掃引スケーリング係数は第１の値を含み、前記複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの第２のビーム掃引スケーリング係数は第２の異なる値を含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項13】
前記ＤＲＸサイクル長と、前記サンプルスケーリング係数と、前記ビーム掃引スケーリング係数との前記積が１．２８の倍数ではない場合、前記単一のＰＴＷの前記長さを決定することは、１．２８で除算された前記積の結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、
前記整数に１．２８を乗算して、それによって前記単一のＰＴＷの前記長さを生成することと、を更に含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項14】
同期信号ブロック（ＳＳＢ）ベースの測定タイミング構成（ＳＭＴＣ）周期が２０ミリ秒（ｍｓ）より大きく、前記ＤＲＸサイクル長が０．６４ｓ以下である場合、前記単一のＰＴＷの前記長さを決定することは、前記ＤＲＸサイクル長と、前記サンプルスケーリング係数と、前記ビーム掃引スケーリング係数との前記積にスケーリング係数ｋを乗算して、それによって新しい積を生成することを更に含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項15】
前記新しい積が１．２８の倍数ではない場合、前記単一のＰＴＷの前記長さを決定することは、１．２８で除算された前記新しい積の結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、
前記整数に１．２８を乗算して、それによって前記単一のＰＴＷの前記長さを生成することと、を更に含む、請求項１４に記載の方法。
【請求項16】
周波数範囲２（ＦＲ２）においてアイドルモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）におけるサービングセル測定のための方法であって、前記方法は、前記低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長であって、前記ｅＤＲＸサイクル長は間欠受信（ＤＲＸ）サイクル長を含む、ｅＤＲＸサイクル長が、２０．４８秒（ｓ）以上かつ１０４８５．７６ｓ以下であることを識別することと、
前記低減された能力のＵＥのサービングセルに関連付けられた測定期間が、前記ｅＤＲＸサイクルの単一のページング時間ウィンドウ（ＰＴＷ）内で生じると決定することであって、前記測定期間は、複数の受信（Ｒｘ）ビームのうちの少なくとも１つであって、前記複数のＲｘビームの全体よりも少ないものを含む前記複数のＲｘビームのうちの少なくとも１つに関連付けられたビーム掃引と、前記単一のＰＴＷ内で実行される前記複数のＲｘビームのうちの前記少なくとも１つの各々に関連付けられた複数の物理レイヤフィルタリングサンプルとを含む、ことと、
前記複数のＲｘビームの各々についてビーム掃引を実行することに関連付けられている第１のセットのビーム掃引スケーリング係数から、第１のビーム掃引スケーリング係数を決定することと、
第２のセットのビーム掃引スケーリング係数から第２のビーム掃引スケーリング係数を決定することであって、前記第２のセットのビーム掃引スケーリング係数は、前記複数のＲｘビームの全体よりも少ないビーム掃引を実行することに関連付けられており、前記第２のセットのビーム掃引スケーリング係数の各々は、前記第１のセットのビーム掃引スケーリング係数の各々よりも小さい値を含む、ことと、
前記ＤＲＸサイクル長と、前記第２のビーム掃引スケーリング係数と、前記複数の物理レイヤフィルタリングサンプルに関連付けられたサンプルスケーリング係数との積に基づいて、１．２８の倍数を含む前記単一のＰＴＷの長さを決定すること、
前記単一のＰＴＷ中にサービングセル測定を実行することであって、前記サービングセル測定は、前記複数のＲｘビームの前記少なくとも１つに関連付けられたビーム掃引と、前記複数のＲｘビームの前記少なくとも１つの各々に関連付けられた前記複数の物理レイヤフィルタリングサンプルとを含む、ことと、
を含む、方法。
【請求項17】
前記ＤＲＸサイクル長は、複数の可能なＤＲＸサイクル長のうちの１つを含み、前記第２のセットのビーム掃引スケーリング係数の各々は、前記複数の可能なＤＲＸサイクル長のうちの所与のＤＲＸサイクル長に関連付けられている、請求項１６に記載の方法。
【請求項18】
前記第２のセットのビーム掃引スケーリング係数の前記第２のビーム掃引スケーリング係数と、前記第２のセットのビーム掃引スケーリング係数の第３のビーム掃引スケーリング係数とは同じ値を含む、請求項１７に記載の方法。
【請求項19】
前記第２のセットのビーム掃引スケーリング係数の前記第２のビーム掃引スケーリング係数は第１の値を含み、前記第２のセットのビーム掃引スケーリング係数の第３のビーム掃引スケーリング係数は第２の異なる値を含む、請求項１７に記載の方法。
【請求項20】
前記ＤＲＸサイクル長と、前記サンプルスケーリング係数と、前記第２のビーム掃引スケーリング係数との前記積が１．２８の倍数ではない場合、前記単一のＰＴＷの前記長さを決定することは、１．２８で除算された前記積の結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、
前記整数に１．２８を乗算して、それによって前記単一のＰＴＷの前記長さを生成することと、を更に含む、請求項１７に記載の方法。
【請求項21】
同期信号ブロック（ＳＳＢ）ベースの測定タイミング構成（ＳＭＴＣ）周期が２０ミリ秒（ｍｓ）より大きく、前記ＤＲＸサイクル長が０．６４ｓ以下である場合、前記単一のＰＴＷの前記長さを決定することは、前記ＤＲＸサイクル長と、前記サンプルスケーリング係数と、前記第２のビーム掃引スケーリング係数との前記積にスケーリング係数ｋを乗算して、それによって新しい積を生成することを更に含む、請求項１７に記載の方法。
【請求項22】
前記新しい積が１．２８の倍数ではない場合、前記単一のＰＴＷの前記長さを決定することは、１．２８で除算された前記新しい積の結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、
前記整数に１．２８を乗算して、それによって前記単一のＰＴＷの前記長さを生成することと、を更に含む、請求項２１に記載の方法。
【請求項23】
周波数範囲２（ＦＲ２）においてアイドルモード又は非アクティブモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）におけるサービングセル測定のための方法であって、前記方法は、前記低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長が２．５６秒（ｓ）以上かつ１０．２４ｓ以下であることを識別することと、
前記低減された能力のＵＥのサービングセルに関連付けられたサービングセル測定が、前記ｅＤＲＸサイクルに関連付けられた測定期間内に実行されると決定することであって、前記測定は、複数の受信（Ｒｘ）ビームに関連付けられたビーム掃引と、前記複数のＲｘビームの各々に関連付けられた複数の物理レイヤフィルタリングサンプルとを含む、ことと、
前記ｅＤＲＸサイクル長と、前記複数の物理レイヤフィルタリングサンプルに関連付けられたサンプルスケーリング係数と、前記複数のＲｘビームのビーム掃引に関連付けられたビーム掃引スケーリング係数との積に基づいて、前記測定期間の長さを決定することと、
前記測定期間中に前記サービングセル測定を実行することと、
を含む、方法。
【請求項24】
前記ｅＤＲＸサイクル長は、複数の可能なｅＤＲＸサイクル長のうちの１つを含み、前記ビーム掃引スケーリング係数は、複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの１つを含み、前記複数のビーム掃引スケーリング係数の各々は、前記複数の可能なｅＤＲＸサイクル長のうちの所与のｅＤＲＸサイクル長に関連付けられている、請求項２３に記載の方法。
【請求項25】
前記複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの少なくとも第１のビーム掃引スケーリング係数と、前記複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの少なくとも第２のビーム掃引スケーリング係数とが同じ値を含む、請求項２４に記載の方法。
【請求項26】
前記複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの第１のビーム掃引スケーリング係数は第１の値を含み、前記複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの第２のビーム掃引スケーリング係数は第２の異なる値を含む、請求項２４に記載の方法。
【請求項27】
周波数範囲１（ＦＲ１）においてアイドルモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）における周波数内又は周波数間近隣セル測定のための方法であって、前記方法は、前記低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長であって、間欠受信（ＤＲＸ）サイクル長を含む前記ｅＤＲＸサイクル長が、２０．４８秒（ｓ）以上かつ１０４８５．７６ｓ以下であることを識別することと、
前記低減された能力のＵＥの近隣セルに関連付けられた測定期間が、前記ｅＤＲＸサイクルの第１のページング時間ウィンドウ（ＰＴＷ）内に生じると決定することであって、前記測定期間は、前記単一のＰＴＷ内で実行される複数の近隣セル測定サンプルを含み、前記複数の近隣セル測定サンプルは、測定サンプルスケーリング係数に関連付けられている、ことと、
前記低減された能力のＵＥの近隣セルに関連付けられた評価期間が、前記ｅＤＲＸサイクルの第２のＰＴＷ内で生じること決定することであって、前記評価期間は、前記単一のＰＴＷ内で実行される複数の近隣セル評価サンプルを含み、前記複数の近隣セル評価サンプルは、評価サンプルスケーリング係数に関連付けられており、前記第１のＰＴＷ及び前記第２のＰＴＷは、同じ持続時間のＰＴＷ長を含む、ことと、
前記ＤＲＸサイクル長、前記測定サンプルスケーリング係数、及び前記評価サンプルスケーリング係数に基づいて、１．２８の倍数を含む前記ＰＴＷ長を決定することと、
前記第１のＰＴＷ中に前記複数の近隣セル測定サンプルを実行し、前記第２のＰＴＷ中に前記複数の近隣セル評価サンプルを実行することと、
を含む、方法。
【請求項28】
前記ＰＴＷ長を決定することは、前記測定サンプルスケーリング係数及び前記評価サンプルスケーリング係数のどちらが、より大きい値を含むかを決定することと、
前記より大きい値と前記ＤＲＸサイクル長との積を生成することと、
１．２８で除算された前記積の結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、
前記整数に１．２８を乗算して、それによって前記ＰＴＷ長を生成することと、
を更に含む、請求項２７に記載の方法。
【請求項29】
前記測定サンプルスケーリング係数及び前記評価サンプルスケーリング係数のどちらがより大きい値を含むかを決定することは、前記測定サンプルスケーリング係数及び前記評価サンプルスケーリング係数に対してｍａｘ関数を実行することを含む、請求項２８に記載の方法。
【請求項30】
前記整数を生成することは、１．２８で除算された前記積に対して天井関数を実行することを含む、請求項２８に記載の方法。
【請求項31】
前記第１のＰＴＷ及び前記第２のＰＴＷは同じＰＴＷである、請求項２７に記載の方法。
【請求項32】
前記第１のＰＴＷ及び前記第２のＰＴＷは異なるＰＴＷである、請求項２７に記載の方法。
【請求項33】
周波数範囲１（ＦＲ１）においてアイドルモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）における周波数内又は周波数間近隣セル測定のための方法であって、前記方法は、前記低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長であって、間欠受信（ＤＲＸ）サイクル長を含む前記ｅＤＲＸサイクル長が、２０．４８秒（ｓ）以上かつ１０４８５．７６ｓ以下であることを識別することと、
前記低減された能力のＵＥの近隣セルに関連付けられた検出期間が、前記ｅＤＲＸサイクルの１つ以上のページング時間ウィンドウ（ＰＴＷ）内で生じると決定することであって、前記近隣セル検出期間は、前記単一のＰＴＷ）内で実行される複数の近隣セル検出サンプルを含み、前記複数の近隣セル検出サンプルは、検出サンプルスケーリング係数に関連付けられており、前記１つ以上のＰＴＷの各々は、同じ持続時間のＰＴＷ長を含む、ことと、
前記ＤＲＸサイクル長と前記検出サンプルスケーリング係数との積に基づいて、１．２８の倍数を含む前記ＰＴＷ長を決定することと、
前記ＰＴＷ長、ＤＲＸサイクル長、及び前記複数の検出サンプルに基づいて、前記複数の近隣セル検出サンプルの各々を実行するための前記１つ以上のＰＴＷについてのＰＴＷの総数を決定することと、
前記総数のＰＴＷ内で前記近隣セル検出サンプルを実行することと、
を含む、方法。
【請求項34】
前記ＤＲＸサイクル長と前記検出サンプルスケーリング係数との前記積が１．２８の倍数ではない場合、前記ＰＴＷ長を決定することは、１．２８で除算された前記積の結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、
前記整数に１．２８を乗算して、それによって前記ＰＴＷ長を生成することと、を更に含む、請求項３３に記載の方法。
【請求項35】
前記ＰＴＷの総数を決定することは、前記ＤＲＸサイクル長によって除算された前記ＰＴＷ長の第１の結果の値よりも大きい第１の最も近い整数に切り上げることによって、第１の整数を生成することと、
前記第１の整数によって除算された前記複数の検出サンプルの第２の結果の値よりも大きい第２の最も近い整数に切り上げることによって、前記ＰＴＷの総数を含む第２の整数を生成することと、を更に含む、請求項３３に記載の方法。
【請求項36】
前記総数のＰＴＷは単一のＰＴＷを含む、請求項３３に記載の方法。
【請求項37】
周波数範囲１（ＦＲ１）においてアイドルモード又は非アクティブモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）における周波数内又は周波数間近隣セル測定のための方法であって、前記方法は、前記低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長が２．５６秒（ｓ）以上かつ１０．２４ｓ以下であることを識別することと、
測定サンプルスケーリング係数に関連付けられている複数の近隣セル測定サンプルが、前記ｅＤＲＸサイクルに関連付けられた測定期間内に実行されると決定することと、
評価サンプルスケーリング係数に関連付けられている複数の近隣セル評価サンプルが、前記ｅＤＲＸサイクルに関連付けられた評価期間内に実行されると決定することと、
検出サンプルスケーリング係数に関連付けられている複数の近隣セル検出サンプルが、前記ｅＤＲＸサイクルに関連付けられた検出期間内に実行されると決定することと、
前記ｅＤＲＸサイクル長と前記測定サンプルスケーリング係数との積に基づいて、前記測定期間の長さを決定することと、
前記ｅＤＲＸサイクル長と前記評価サンプルスケーリング係数との積に基づいて、前記評価期間の長さを決定することと、
前記ｅＤＲＸサイクル長と前記検出サンプルスケーリング係数との積に基づいて、前記検出期間の長さを決定することと、
前記測定期間内の前記複数の近隣セル測定サンプルと、前記評価期間内の複数の近隣セル評価サンプルと、前記検出期間内の前記複数の近隣セル検出サンプルとを実行することと、
を含む、方法。
【請求項38】
周波数範囲２（ＦＲ２）においてアイドルモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）における周波数内又は周波数間近隣セル測定のための方法であって、前記方法は、前記低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長であって、間欠受信（ＤＲＸ）サイクル長を含む前記ｅＤＲＸサイクル長が、２０．４８秒（ｓ）以上かつ１０４８５．７６ｓ以下であることを識別することと、
前記低減された能力のＵＥの近隣セルに関連付けられた測定期間が、前記ｅＤＲＸサイクルの第１のページング時間ウィンドウ（ＰＴＷ）内に生じると決定することであって、前記測定期間は、複数の近隣セル測定サンプルを含み、前記複数の近隣セル測定サンプルは、測定サンプルスケーリング係数に関連付けられており、前記測定期間は更に測定ビーム掃引を含む、ことと、
前記低減された能力のＵＥの近隣セルに関連付けられた評価期間が、前記ｅＤＲＸサイクルの第２のＰＴＷ内で生じると決定することであって、前記評価期間は、複数の近隣セル評価サンプルを含み、前記複数の近隣セル評価サンプルは、評価サンプルスケーリング係数に関連付けられており、前記第１のＰＴＷ及び前記第２のＰＴＷは、同じ持続時間のＰＴＷ長を含み、前記評価期間は更に評価ビーム掃引を含む、ことと、
前記ＤＲＸサイクル長と、前記測定サンプルスケーリング係数と、前記評価サンプルスケーリング係数と、前記測定ビーム掃引及び前記評価ビーム掃引に関連付けられたビーム掃引スケーリング係数とに基づいて、１．２８の倍数を含む前記ＰＴＷ長を決定することと、
前記第１のＰＴＷ中に前記複数の近隣セル測定サンプルを実行し、前記第２のＰＴＷ中に前記複数の近隣セル評価サンプルを実行することと、
を含む、方法。
【請求項39】
前記ＰＴＷ長を決定することは、前記測定サンプルスケーリング係数に前記ビーム掃引スケーリング係数を乗算したものを含む第１の積と、前記評価サンプルスケーリング係数に前記ビーム掃引スケーリング係数を乗算したものを含む第２の積とのいずれが、より大きい値を含むかを決定することと、
前記より大きい値と前記ＤＲＸサイクル長との第３の積を生成することと、
１．２８で除算された前記積の結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、
前記整数に１．２８を乗算して、それによって前記ＰＴＷ長を生成することと、を更に含む、請求項３８に記載の方法。
【請求項40】
前記第１の積及び前記第２の積のどちらがより大きい値を含むかを決定することは、前記第１の積及び前記第２の積に対してｍａｘ関数を実行することを含む、請求項３９に記載の方法。
【請求項41】
前記整数を生成することは、１．２８で除算された前記第３の積に対して天井関数を実行することを含む、請求項３８に記載の方法。
【請求項42】
前記第１のＰＴＷ及び前記第２のＰＴＷは同じＰＴＷである、請求項３７に記載の方法。
【請求項43】
前記第１のＰＴＷ及び前記第２のＰＴＷは異なるＰＴＷを含む、請求項３７に記載の方法。
【請求項44】
前記測定ビーム掃引及び前記評価ビーム掃引のうちの１つの少なくとも一部は、前記第１のＰＴＷ又は前記第２のＰＴＷのいずれかにおいて、並びに前記第１のＰＴＷ及び前記第２のＰＴＷとは異なる第３のＰＴＷにおいて実行される、請求項３８に記載の方法。
【請求項45】
前記ＤＲＸサイクル長は、複数の可能なＤＲＸサイクル長のうちの１つを含み、前記ビーム掃引スケーリング係数は、複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの１つを含み、前記複数のビーム掃引スケーリング係数の各々は、前記複数の可能なＤＲＸサイクル長のうちの所与のＤＲＸサイクル長に関連付けられている、請求項３８に記載の方法。
【請求項46】
前記複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの少なくとも第１のビーム掃引スケーリング係数と、前記複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの少なくとも第２のビーム掃引スケーリング係数とが同じ値を含む、請求項４５に記載の方法。
【請求項47】
前記複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの第１のビーム掃引スケーリング係数は第１の値を含み、前記複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの第２のビーム掃引スケーリング係数は第２の異なる値を含む、請求項４５に記載の方法。
【請求項48】
周波数範囲２（ＦＲ２）においてアイドルモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）における周波数内又は周波数間近隣セル測定のための方法であって、前記方法は、前記低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長であって、間欠受信（ＤＲＸ）サイクル長を含む前記ｅＤＲＸサイクル長が、２０．４８秒（ｓ）以上かつ１０４８５．７６ｓ以下であることを識別することと、
前記低減された能力のＵＥの近隣セルに関連付けられた検出期間が、前記ｅＤＲＸサイクルの１つ以上のページング時間ウィンドウ（ＰＴＷ）内で生じると決定することであって、前記近隣セル検出期間は、前記単一のＰＴＷ内で実行される複数の近隣セル検出サンプルを含み、前記複数の近隣セル検出サンプルは、検出サンプルスケーリング係数に関連付けられており、前記検出期間は更にビーム掃引を含み、前記１つ以上のＰＴＷの各々は、同じ持続時間のＰＴＷ長を含む、ことと、
前記ＤＲＸサイクル長と、前記検出サンプルスケーリング係数と、前記ビーム掃引に関連付けられたビーム掃引スケーリング係数との積に基づいて、１．２８の倍数を含む前記ＰＴＷ長を決定することと、
前記ＰＴＷ長、ＤＲＸサイクル長、及び前記複数の検出サンプルに基づいて、前記複数の近隣セル検出サンプルの各々を実行するための前記１つ以上のＰＴＷについてのＰＴＷの総数を決定することと、
前記総数のＰＴＷ内で前記近隣セル検出サンプルを実行することと、
を含む、方法。
【請求項49】
前記ＤＲＸサイクル長と、前記検出サンプルスケーリング係数と、前記ビーム掃引スケーリング係数との前記積が１．２８の倍数ではない場合、前記ＰＴＷ長を決定することは、１．２８で除算された前記積の結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、
前記整数に１．２８を乗算して、それによって前記ＰＴＷ長を生成することと、を更に含む、請求項４８に記載の方法。
【請求項50】
前記ＰＴＷの総数を決定することは、前記ＤＲＸサイクル長によって除算された前記ＰＴＷ長の第１の結果の値よりも大きい第１の最も近い整数に切り上げることによって、第１の整数を生成することと、
前記複数の検出サンプルと前記ビーム掃引スケーリング係数との新しい積を前記第１の整数で除算した第２の結果の値よりも大きい第２の最も近い整数に切り上げることによって、前記ＰＴＷの総数を含む第２の整数を生成することと、を更に含む、請求項４８に記載の方法。
【請求項51】
前記総数のＰＴＷは単一のＰＴＷを含む、請求項４８に記載の方法。
【請求項52】
前記ビーム掃引は、前記１つ以上のＰＴＷの第１のＰＴＷ及び前記１つ以上のＰＴＷの第２のＰＴＷの間に実行される、請求項４８に記載の方法。
【請求項53】
周波数範囲２（ＦＲ２）においてアイドルモード又は非アクティブモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）における周波数内又は周波数間近隣セル測定のための方法であって、前記方法は、前記低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長が２．５６秒（ｓ）以上かつ１０．２４ｓ以下であることを識別することと、
測定サンプルスケーリング係数に関連付けられている複数の近隣セル測定サンプルが、前記ｅＤＲＸサイクルに関連付けられた測定期間であって、測定ビーム掃引を含む前記測定期間内に実行されると決定することと、
評価サンプルスケーリング係数に関連付けられている複数の近隣セル評価サンプルが、前記ｅＤＲＸサイクルに関連付けられた評価期間であって、評価ビーム掃引を含む前記評価期間内に実行されると決定することと、
検出サンプルスケーリング係数に関連付けられている複数の近隣セル検出サンプルが、前記ｅＤＲＸサイクルに関連付けられた検出期間であって、検出ビーム掃引を含む前記検出期間内に実行されると決定することと、
前記ｅＤＲＸサイクル長と、前記測定サンプルスケーリング係数と、及び前記測定ビーム掃引に関連付けられた測定ビーム掃引スケーリング係数との積に基づいて、前記測定期間の長さを決定することと、
前記ｅＤＲＸサイクル長と、前記評価サンプルスケーリング係数と、及び前記評価ビーム掃引に関連付けられた評価ビーム掃引スケーリング係数との積に基づいて、前記評価期間の長さを決定することと、
前記ｅＤＲＸサイクル長と、前記検出サンプルスケーリング係数と、及び前記検出ビーム掃引に関連付けられた検出ビーム掃引スケーリング係数との積に基づいて、前記検出期間の長さを決定することと、
前記測定期間内の前記複数の近隣セル測定サンプルと、前記評価期間内の複数の近隣セル評価サンプルと、前記検出期間内の前記複数の近隣セル検出サンプルとを実行することと、
を含む、方法。
【請求項54】
前記ｅＤＲＸサイクル長は、複数の可能なｅＤＲＸサイクル長のうちの１つを含み、前記測定ビーム掃引スケーリング係数は、複数の測定ビーム掃引スケーリング係数のうちの１つを含み、前記複数の測定ビーム掃引スケーリング係数の各々は、前記複数の可能なｅＤＲＸサイクル長のうちの所与のｅＤＲＸサイクル長に関連付けられている、請求項５３に記載の方法。
【請求項55】
前記ｅＤＲＸサイクル長は、複数の可能なｅＤＲＸサイクル長のうちの１つを含み、前記評価ビーム掃引スケーリング係数は、複数の評価ビーム掃引スケーリング係数のうちの１つを含み、前記複数の評価ビーム掃引スケーリング係数の各々は、前記複数の可能なｅＤＲＸサイクル長のうちの所与のｅＤＲＸサイクル長に関連付けられている、請求項５３に記載の方法。
【請求項56】
前記ｅＤＲＸサイクル長は、複数の可能なｅＤＲＸサイクル長のうちの１つを含み、前記検出ビーム掃引スケーリング係数は、複数の検出ビーム掃引スケーリング係数のうちの１つを含み、前記複数の検出ビーム掃引スケーリング係数の各々は、前記複数の可能なｅＤＲＸサイクル長のうちの所与のｅＤＲＸサイクル長に関連付けられている、請求項５３に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本出願は、概して、低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）に関係するサービングセル測定を含む、無線通信システムに関する。
【背景技術】
【0002】
無線モバイル通信技術は、様々な規格及びプロトコルを使用して、基地局と無線通信デバイスとの間でデータを送信する。無線通信システム規格及びプロトコルは、例えば、第３世代パートナーシッププロジェクト（３ＧＰＰ：3rd Generation Partnership Project）ロングタームエボリューション（ＬＴＥ：long term evolution）（例えば、４Ｇ）、３ＧＰＰ新無線（ＮＲ：new radio）（例えば、５Ｇ）、及び無線ローカルエリアネットワーク（ＷＬＡＮ：wireless local area network）のためのＩＥＥＥ ８０２．１１規格（業界団体にはＷｉ－Ｆｉ（登録商標）として一般に知られている）を含むことができる。
【0003】
３ＧＰＰによって企図されるように、異なる無線通信システム規格及びプロトコルは、ＲＡＮの基地局（一般にＲＡＮノード、ネットワークノード、又は単にノードと呼ばれることもある）と、ユーザ機器（ＵＥ）として知られる無線通信デバイスとの間で通信するために、様々な無線アクセスネットワーク（ＲＡＮ）を使用することができる。３ＧＰＰ ＲＡＮは、例えば、モバイル通信用グローバルシステム（ＧＳＭ）、ＧＳＭ進化型（ＥＤＧＥ）ＲＡＮ（ＧＥＲＡＮ）用強化データレート、ユニバーサル地上無線アクセスネットワーク（ＵＴＲＡＮ）、発展型ユニバーサル地上無線アクセスネットワーク（Ｅ－ＵＴＲＡＮ）、及び／又は次世代無線アクセスネットワーク（ＮＧ－ＲＡＮ）を含むことができる。
【0004】
各ＲＡＮは、１つ以上の無線アクセス技術（ＲＡＴ）を使用して、基地局とＵＥとの間の通信を実行することができる。例えば、ＧＥＲＡＮは、ＧＳＭ及び／又はＥＤＧＥ ＲＡＴを実装し、ＵＴＲＡＮは、ユニバーサル移動通信システム（universal mobile telecommunication system、ＵＭＴＳ）ＲＡＴ、又は他の３ＧＰＰ ＲＡＴを実装し、Ｅ－ＵＴＲＡＮは、ＬＴＥ ＲＡＴ（単にＬＴＥと呼ばれることもある）を実装し、ＮＧ－ＲＡＮはＮＲ ＲＡＴ（本明細書では、５Ｇ ＲＡＴ、５Ｇ ＮＲ ＲＡＴ、又は単にＮＲと呼ばれることもある）を実装する。特定の配備では、Ｅ－ＵＴＲＡＮはまた、ＮＲ ＲＡＴを実装することができる。特定の配備では、ＮＧ－ＲＡＮはまた、ＬＴＥ ＲＡＴを実装することができる。
【0005】
ＲＡＮによって使用される基地局は、そのＲＡＮに対応し得る。Ｅ－ＵＴＲＡＮ基地局の一例は、発展型ユニバーサル地上無線アクセスネットワーク（Ｅ－ＵＴＲＡＮ）ノードＢ（一般に、発展型ノードＢ、拡張ノードＢ、ｅノードＢ、又はｅＮＢとも呼ばれる）である。ＮＧ－ＲＡＮ基地局の一例は、次世代ノードＢ（ノードＢ又はｇＮＢと呼ばれることもある）である。
【0006】
ＲＡＮは、コアネットワーク（ＣＮ）への接続を介して、外部エンティティとの通信サービスを提供する。例えば、Ｅ－ＵＴＲＡＮは、発展型パケットコア（ＥＰＣ）を利用することができ、ＮＧ－ＲＡＮは、５Ｇコアネットワーク（５ＧＣ）を利用することができる。
【0007】
５Ｇ ＮＲの周波数帯域は、２つ以上の異なる周波数範囲に分けることができる。例えば、周波数範囲１（ＦＲ１）は、サブ６ＧＨｚ周波数で動作する周波数帯を含んでもよく、そのうちいくつかは、以前の規格によって使用され得、かつ、４１０ＭＨｚ～７１２５ＭＨｚを提供する新しい周波数帯をカバーするように拡張され得る潜在的な可能性がある。周波数範囲２（ＦＲ２）は、２４．２５ＧＨｚ～５２．６ＧＨｚの周波数帯を含み得る。ＦＲ２のミリ波（ｍｍＷａｖｅ）範囲の帯域は、ＦＲ１の帯域よりも小さい範囲を有し得るが、利用可能な帯域幅は潜在的により広くなる。例として提供されるこれらの周波数範囲が時により、又は地域により変化し得ることは、当業者には理解される。
【図面の簡単な説明】
【0008】
任意の特定の要素又は行為の考察を容易に識別するために、参照番号の最上位の桁（単数又は複数）は、その要素が最初に導入された図の番号を指す。
【0009】
【図1】一実施形態による主題の態様を示す。
【0010】
【図2】一実施形態による、ＦＲ１においてアイドルモードにある低減された能力のＵＥにおけるサービングセル測定のための方法を示す。
【0011】
【図3】一実施形態による、ＦＲ１においてアイドルモード又は非アクティブモードにある低減された能力のＵＥにおけるサービングセル測定のための方法を示す。
【0012】
【図4】一実施形態による、ＦＲ２においてアイドルモードにある低減された能力のＵＥにおけるサービングセル測定のための方法を示す。
【0013】
【図5】一実施形態による、ＦＲ２においてアイドルモードにある低減された能力のＵＥにおけるサービングセル測定のための方法を示す。
【0014】
【図6】一実施形態による、ＦＲ２においてアイドルモード又は非アクティブモードにある低減された能力のＵＥにおけるサービングセル測定のための方法を示す。
【0015】
【図7】一実施形態による、ＦＲ１においてアイドルモードにある低減された能力のＵＥにおける周波数内又は周波数間近隣セル測定のための方法を示す。
【0016】
【図8】一実施形態による、ＦＲ１においてアイドルモードにある低減された能力のＵＥにおける周波数内又は周波数間近隣セル測定のための方法を示す。
【0017】
【図9】一実施形態による、ＦＲ１においてアイドルモード又は非アクティブモードにある低減された能力のＵＥにおける周波数内又は周波数間近隣セル測定のための方法を示す。
【0018】
【図10】一実施形態による、ＦＲ２においてアイドルモードにある低減された能力のＵＥにおける周波数内又は周波数間近隣セル測定のための方法を示す。
【0019】
【図11】一実施形態による、ＦＲ２においてアイドルモードにある低減された能力のＵＥにおける周波数内又は周波数間近隣セル測定のための方法を示す。
【0020】
【図12】一実施形態による、ＦＲ２においてアイドルモード又は非アクティブモードにある低減された能力のＵＥにおける周波数内又は周波数間近隣セル測定のための方法を示す。
【0021】
【図13】本明細書に開示された実施形態による、無線通信システムのアーキテクチャの例を例示する。
【0022】
【図14】本明細書で開示される実施形態による、無線デバイスとネットワークデバイスとの間でシグナリングを実行するためのシステムを示す。
【発明を実施するための形態】
【0023】
様々な実施形態は、ＵＥに関して記載されている。しかしながら、ＵＥへの言及は、単に例示のために提供されている。例示的な実施形態は、任意の電子構成要素で使用されてもよく、任意の電子コンポーネントは、ネットワークへの接続を確立することができ、情報及びデータをネットワークと交換するためのハードウェア、ソフトウェア、及び／又はファームウェアで構成されている。したがって、本明細書に記載されるＵＥは、任意の適切な電子構成要素を表すために使用される。
【0024】
背景として、アイドルモード及び非アクティブモードにおける拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）を用いた無線リソース管理（ＲＲＭ）測定に関していくつかの合意が得られている（ＷＦ Ｒ４－２１１５３６４参照）。しかしながら、いくつかの問題が依然として解決されなければならない。例えば、そのような合意の一部として、以下が適用され得る：１．ＦＲ１に対するｅＤＲＸ要件の優先順位付け及びＦＲ２に対するｅＤＲＸ要件の優先順位付け解除に関して、ＦＲ２に対するｅＤＲＸ要件が定義されるべきかどうかはまだ決定されていないが、ＦＲ１に対するｅＤＲＸ要件を定義することができ、２．ＬＴＥ ｅＤＲＸ要件の設計原理は、以下の未解決の問題を含む：ａ．ＮＲ ｅＤＲＸ要件を開発するときに、ＬＴＥ ｅＤＲＸ要件をベースラインとして使用するかどうか、ｂ．１０．２４秒（ｓ）＜ｅＤＲＸ＿ｃｙｃｌｅ＿ｌｅｎｇｔｈ≦２６２１．４４ｓの場合、アイドルモードのＣａｔ－Ｍ／Ｃａｔ－ＮＢ以外のＵＥカテゴリのＬＴＥ ＲＲＭ要件をベースラインとして使用して、低減された容量（ＲｅｄＣａｐ）（例えば、ウェアラブル、モノのインターネット（ＩｏＴ）デバイスなど）のためのＲＲＭ要件を定義するかどうか。アイドル及び非アクティブモードにあり、２６２１．４４ｓ＜ｅＤＲＸ＿ｃｙｃｌｅ＿ｌｅｎｇｔｈ≦１０４８５．７６ｓであるＵＥに対して、アイドル及び非アクティブモードにあるＲｅｄＣａｐ ＵＥに対する適用可能なＲＲＭ要件が決定され、ｃ．ＲＡＮ２におけるｅＤＲＸ構成に対する最終決定の後に、ＲＡＮ４におけるｅＤＲＸ拡張が決定され、３．ページング時間ウィンドウ（ＰＴＷ）長を決定する方法であって、１０．２４ｓより大きいｅＤＲＸサイクル長のためのベースラインとしてＬＴＥ（すなわち、ｅＤＲＸのための）と同じＰＴＷ長を使用することと、スケーリング係数の潜在的な使用とを含む方法、４．ＰＴＷを伴うｅＤＲＸにおける測定に関する仮定は、ａ．ｅＤＲＸがＲｅｄｃａｐのために構成されるとき、全ての測定がＬＴＥにおけるｅＤＲＸサイクルのＰＴＷ内で実行されるという仮定が依然としてＮＲのために再使用され得るかどうか、ｂ．ｅＤＲＸが使用されるとき、５Ｇ ＮＲにおけるＮｓｅｒｖのためのサンプルの数（ＤＲＸサイクルにおいて測定される）が単一のＰＴＷにおいて実行されなければならないかどうか。
【0025】
以下の問題もまだ決定されていない：１．ｅＤＲＸを用いたサービングセル測定に関して：ａ．ＦＲ１及び／又はＦＲ２のためにＵＥ／ネットワークにおいてＰＴＷをどのように実装するか（例えば、ＰＴＷ長、ＰＴＷの数など）、２．ｅＤＲＸを用いた近隣セル検出及び測定に関して、ａ．周波数内及び周波数間の場合をどのように実装するか、ｂ．セル検出、測定、及び評価をどのように実装するか、ｃ．ＦＲ１及び／又はＦＲ２についてＵＥ／ネットワークにおいてＰＴＷをどのように実装するか（例えば、ＰＴＷ長、ＰＴＷの数など）。したがって、本明細書で説明する原理は、ＰＴＷ、ｅＤＲＸを用いたサービングセル測定、及びｅＤＲＸを用いた近隣セル検出／測定に関するそのような問題に関する。
【0026】
図１は、ＤＲＸ、ｅＤＲＸ、及びＰＴＷに関するいくつかの例示的な背景情報を示す。図示のように、図１は、（ＤＲＸサイクル１０４によって部分的に表されるような）いくつかのＤＲＸサイクルを含むＤＲＸサイクルタイムライン１０２を含み、ＤＲＸサイクルの各々は、アクティブ部分（すなわち、各ＤＲＸサイクルのハイ部分）と非アクティブ部分（すなわち、各ＤＲＸサイクルのロー部分）とを有する。アクティブ部分の間に、例えば、ＵＥは、基地局に関して情報を送信／受信し得る。したがって、ＤＲＸは、ＵＥがリソースを節約することができるように、非アクティブ部分中にスリープし、アクティブ部分中にウェイクアップするためにＵＥによって利用され得る。
【0027】
図示のように、図１はまた、ＰＴＷ１０６ａを含むｅＤＲＸサイクル１０８を含む。そのようなｅＤＲＸサイクルは、ＵＥが（ＤＲＸと比較して）更により長い期間の間スリープすることを可能にし得、これは、低減された能力のＵＥ（例えば、ウェアラブル）にとって特に有用であり得る。図示のように、ｅＤＲＸサイクル１０８は、第１のＰＴＷ（例えば、ＰＴＷ１０６ａ）の開始点において開始し、別のｅＤＲＸサイクルの開始を含み得る第２のＰＴＷ（例えば、ＰＴＷ１０６ｂ）の開始において終了し得る。特に、ＰＴＷは、ＤＲＸサイクルタイムライン１０２の同じ時間フレームに関連付けられた波形の部分を含み得、それは、ＵＥがそのような期間（すなわち、所与のＰＴＷの間）にウェイクアップすることを可能にし得る。しかしながら、示されるように、ｅＤＲＸサイクルのＰＴＷの外側のＤＲＸサイクルは、ＵＥがそれらの期間中にスリープすることができるように、無視され得る。このようにして、ＵＥ（及びネットワーク）は、リソースをより良く節約することができる。加えて、ＤＲＸサイクル、ｅＤＲＸサイクル、及びＰＴＷは、ＤＲＸサイクル、ｅＤＲＸサイクル、及びＰＴＷが任意の所与のネットワーク状況においてより良く利用され得るように、持続時間に関して柔軟であり得る。
【0028】
最初に、本明細書で提供される原理及び解決策に関して、ＦＲ１におけるＲｅｄＣａｐ ＵＥのためのｅＤＲＸを用いたサービングセル測定では、最小ＰＴＷ長は１．２８ｓであり得るが、ＩＤＬＥ ｅＤＲＸサイクルが１０．２４ｓよりも長いとき、ＰＴＷ長のステップ長／粒度は１．２８であり得る（すなわち、ＰＴＷ長は１．２８で割り切れなければならない）。加えて、ｅＤＲＸを伴うＦＲ１では、ＲｅｄＣａｐ ＵＥ及び対応するネットワークは、以下の２つのオプションを用いて、アイドルモードのためにｅＤＲＸ＞１０．２４ｓであるとき、サービングセル測定期間（Ｎ個のサンプルを伴う、ここで、Ｎ＝Ｍ＊ＤＲＸ＿ｃｙｃｌｅサンプル）が単一のＰＴＷウィンドウ内に含まれる（すなわち、全てのサンプルが単一のＰＴＷ内で測定されなければならない）と仮定し得る。１．サービングセル測定期間は、アイドルモードについて２０．４８ｓ≦ｅＤＲＸ≦１０４８５．７６ｓであるとき、Ｍ＊ＤＲＸサイクル期間を含み得る。サンプルの数に関連する値Ｍは、任意の正の整数を含むことができるが、例示目的のために、以下の表１又は２ではＭ≦２として示されている。サービングセル測定期間は、アイドルモードに対して２０．４８ｓ＜ｅＤＲＸ≦１０４８５．７６ｓであるとき、Ｍ＊ＤＲＸサイクル期間（例えば、Ｍ≦２）を含むことができ、同期信号ブロック（ＳＳＢ）ベースの測定タイミング構成（ＳＭＴＣ）周期（ＴＳＭＴＣ）＞２０ｍｓ及びＤＲＸサイクル≦０．６４ｓである場合、サービングセル測定期間は、ｋ＊Ｍ＊ＤＲＸサイクル期間を含むことができ、ここで、ｋは、ＳＭＴＣ周期＞２０ｍｓ及びＤＲＸサイクル≦０．６４ｓを有する場合に関連するスケーリング係数である。
【0029】
以下の表２は、Ｍ≦２及びｋ＝２であるそのような実施形態を示す。しかしながら、Ｍ及びｋは、表２におけるＭ及びｋの値が例示目的のみのためであるので、任意の適用可能な値を含み得る。特に、表２（並びに本開示内の多くの他の表）は、所与のＰＴＷ長が１．２８の倍数（又は割り切れる）であることを保証するために使用され得る天井関数を含む。特に、ＰＴＷの計算された長さは、１．２８で割り切れない数を含み得る（例えば、０．６４ｓの３つのＤＲＸサイクルを有するＰＴＷ）。そのような場合、計算された数は１．２８で除算され得、結果として得られる数は、計算された数よりも大きい最も近い整数に切り上げられ得る（すなわち、天井関数）。次に、最も近い整数に１．２８を掛けることができ、結果の値をＰＴＷ長として使用することができ、したがって、ＰＴＷ長の１．２８による分割可能性を保証する。一例では、ＰＴＷが０．６４秒の５つのＤＲＸサイクルを含むと仮定するが、これは３．２に等しく、１．２８で割り切れない数である。したがって、３．２を１．２８で除算した後、結果の値は２．５である。２．５は、次いで、２．５より大きい最も近い整数３に切り上げられ得る。３は、次いで、１．２８で乗算され、３．８４ｓのＰＴＷ長をもたらし得る（１．２８で割り切れ、ＰＴＷ内に３．２秒のＤＲＸサイクルを含むことができる）。
【表1】
【表2】
【0030】
対照的に、ＦＲ１におけるＲｅｄＣａｐ ＵＥのためのｅＤＲＸを伴うサービングセル測定に関して、（Ｎ個のサンプルを伴う）サービングセル測定期間は、アイドルモード及び非アクティブモードについて２．５６ｓ≦ｅＤＲＸ≦１０．２４ｓであるとき、Ｍ＊ｅＤＲＸサイクル期間（例えば、Ｍ≦２）を含み得る。この実施形態を以下の表３に示す。
【表3】
【0031】
ＦＲ２におけるＲｅｄＣａｐ ＵＥのためのｅＤＲＸを用いたサービングセル測定は、様々なオプション及びサブオプションを含み得る。例えば、第１のオプションでは、（Ｎ個のサンプルを有する）サービングセル測定期間は、アイドルモードについてｅＤＲＸ＞１０．２４ｓであるとき、単一のＰＴＷウィンドウを含み得る。特に、ＦＲ２における測定期間は、測定のための物理レイヤ／レイヤ１（ＰＨＹ／Ｌ１）フィルタリングサンプル及びビーム掃引を含み得る。第１のオプションは、以下のような様々なサブオプションを更に含むことができる：ａ．サービングセル測定期間は、アイドルモードについて２０．４８ｓ≦ｅＤＲＸ≦１０４８５．７６ｓであるとき、Ｘ１（又はＸ２、Ｘ３、若しくはＸ４）＊Ｍ＊ＤＲＸサイクル期間を含むことができ、ここで、Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、及びＸ４は各々、ビーム掃引についてのスケーリング係数を含み、各々８以下である（例えば、Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、及び／又はＸ４＝３）。特に、Ｍは、１つのＲｘビーム（すなわち、物理レイヤフィルタリング係数）に基づいてＰＨＹ平均を実行するためのサンプルの数に関連してもよく、各Ｘ（すなわち、Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、及びＸ４）は、ビーム掃引のために使用されるビームの数に関係し、ここで、Ｘ＊Ｍ（すなわち、サンプルの数）は、単一のＰＴＷ内で完了される。オプション１ａは、Ｍが任意の適用可能な値を含み得るので、例示目的のためにＭ値≦２で以下の表４に示される、又はｂ．サービングセル測定期間は、アイドルモードについて２０．４８ｓ≦ｅＤＲＸ≦１０４８５．７６ｓであるとき、Ｘ１（又はＸ２、Ｘ３、又はＸ４）＊Ｍ＊ＤＲＸサイクル期間を含むことができ、ここでも、Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、及びＸ４は各々、ビーム掃引のためのスケーリング係数を含み、各々８以下（例えば、Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、及び／又はＸ４＝３）であり、ＴＳＭＴＣ＞２０ｍｓであり、ＤＲＸサイクル≦０．６４ｓである場合、サービングセル測定期間は、ｋ＊Ｘ１（又はＸ２、Ｘ３、又はＸ４）＊Ｍ＊ＤＲＸサイクル期間を含むことができる（ここで、Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、及びＸ４は各々、ビーム掃引のためのスケーリング係数を含み、各々８以下、例えば、Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、及び／又はＸ４＝３）。この場合も、ｋは、ＳＭＴＣ周期＞２０ｍｓ及びＤＲＸサイクル≦０．６４ｓを有するケースに関連するスケーリング係数を含むことができる。オプション１ｂは、Ｍ及びｋが任意の適用可能な値を含み得るので、例示目的のためにＭ≦２及びｋ＝２を用いて以下の表５に示される。特に、オプション１ａ及びオプション１ｂの両方について、Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、及び／又はＸ４は、同じ値（例えば、Ｘ１＝Ｘ２＝Ｘ３＝Ｘ４）又は異なる値（すなわち、Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、及び／又はＸ４のうちの１つ以上は、互いに比較して異なる値を含んでもよい）を含んでもよい。加えて、上記の両方のオプション（及びそれらの対応する表、表４及び表５）は、計算されたＰＴＷ長が１．２８で割り切れないとき、上記で説明されたように天井関数の使用を含み得る。最後に、どちらの場合も、Ｍ及びＸ１（Ｘ２、Ｘ３、又はＸ４）を介してサンプルを決定することを可能にし得る。
【表4】
【表5】
【0032】
ＦＲ２におけるＲｅｄＣａｐ ＵＥのためのｅＤＲＸを伴うサービングセル測定に関連する第２のオプションは、アイドルモードについてｅＤＲＸ＞１０．２４ｓであるとき、単一のＰＴＷウィンドウを含む（Ｎ個のサンプルを伴い、ビーム掃引を伴わない）サービングセル測定期間を含み得る。言い換えれば、そのような単一のＰＴＷは、１つ又はいくつかの受信（Ｒｘ）ビームに基づくＰＨＹ／Ｌ１フィルタリングサンプルのみを含み得るが、他のＲｘビームに関連付けられた測定サンプルを含まない（すなわち、完全なビーム掃引が含まれない）。しかしながら、特に、任意の所与のＲｘビームについての全てのサンプルは、単一のＰＴＷ内に含まれなければならない。したがって、１つのＲｘビームによる測定のためにＭ個のサンプルが使用され、ＵＥ Ｒｘビームスケーリング係数がＸ１、Ｘ２、Ｘ３、及びＸ４であると仮定すると、ＰＴＷは、完全なビーム掃引の場合に使用されることになるＭ＊Ｘ１（又はＸ２、Ｘ３、若しくはＸ４）よりも小さい期間を含み得る。そのような実施形態（すなわち、第２のオプション）は、以下のような様々なサブオプションを含み得る：ａ．サービングセル測定期間は、アイドルモードについて２０．４８ｓ≦ｅＤＲＸ≦１０４８５．７６ｓであるとき、Ｙ１（又はＹ２、Ｙ３、若しくはＹ４）＊Ｍ＊ＤＲＸサイクル期間を含み得、ここで、Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３、及びＹ４＜Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、及びＸ４（すなわち、Ｙ１＜Ｘ１、Ｙ２＜Ｘ２、Ｙ３＜Ｘ３、及びＹ４＜Ｘ４）である。ここでも、Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、及びＸ４は、ビーム掃引のためのスケーリング係数を含み、Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、及びＸ４≦８（例えば、Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、及びＸ４＝３）である。オプション２ａは、Ｍが任意の適用可能な値を含み得るので、例示目的のためにＭ値≦２で以下の表６に示される、又はｂ．サービングセル測定期間は、アイドルモードに対して２０．４８ｓ≦ｅＤＲＸ≦１０４８５．７６ｓであるとき、Ｙ１（又はＹ２、Ｙ３、若しくはＹ４）＊Ｍ＊ＤＲＸサイクル期間を含むことができ、ＳＭＴＣ周期（ＴＳＭＴＣ）＞２０ｍｓ及びＤＲＸサイクル≦０．６４ｓである場合、サービングセル測定期間は、ｋ＊Ｙ１／２／３／４＊Ｍ＊ＤＲＸサイクル期間を含むことができる。再び、Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３、及びＹ４＜Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、及びＸ４（すなわち、Ｙ１＜Ｘ１、Ｙ２＜Ｘ２、Ｙ３＜Ｘ３、及びＹ４＜Ｘ４）、並びにＸ１、Ｘ２、Ｘ３、及びＸ４は、各々が８以下の値（例えば、Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、及びＸ４＝３）を含むことに加えて、ビーム掃引のためのスケーリング係数を含む。オプション２ｂは、Ｍ及びｋが任意の適用可能な値を含み得るので、例示目的のためにＭ≦２及びｋ＝２を用いて以下の表７に示される。特に、オプション２ａ及びオプション２ｂの両方について、Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、及び／又はＸ４は、同じ値（すなわち、Ｘ１＝Ｘ２＝Ｘ３＝Ｘ４）又は異なる値（すなわち、Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、及び／又はＸ４のうちの１つ以上は、互いに比較して異なる値を含んでもよい）を含んでもよい。同様に、オプション２ａ及びオプション２ｂの両方について、Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３、及び／又はＹ４は、同じ値（すなわち、Ｙ１＝Ｙ２＝Ｙ３＝Ｙ４）又は異なる値（すなわち、Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３、及び／又はＹ４のうちの１つ以上は、互いに比較して異なる値を含んでもよい）を含んでもよい。加えて、上記の両方のオプション２ａ及び２ｂ（及びそれらの対応する表、表６及び表７）は、計算されたＰＴＷ長が１．２８で割り切れないとき、上記で説明されたように天井関数の使用を含み得る。
【表6】
【表7】
【0033】
対照的に、ＦＲ２におけるＲｅｄＣａｐ ＵＥのためのｅＤＲＸを伴うサービングセル測定に関して、（Ｎ個のサンプルを伴う）サービングセル測定期間は、アイドルモード及び非アクティブモードについて２．５６ｓ≦ｅＤＲＸ≦１０．２４ｓであるとき、Ｘ５（又はＸ６若しくはＸ７）＊Ｍ＊ＤＲＸサイクル期間を含み得る。Ｘ５、Ｘ６、及びＸ７は、ビーム掃引のためのスケーリング係数を含み、ここで、Ｘ５、Ｘ６、及びＸ７≦３（例えば、Ｘ５、Ｘ６、及びＸ７＝３）は、同じ値（すなわち、Ｘ５＝Ｘ６＝Ｘ７）又は異なる値（すなわち、Ｘ５、Ｘ６、及び／又はＸ７のうちの１つ以上は、互いに比較して異なる値を含み得る）を含み得る。この実施形態を以下の表８に示す。
【表8】
【0034】
ＦＲ１におけるＲｅｄＣａｐ ＵＥのためのｅＤＲＸを伴う周波数内及び周波数間セル測定に関して、最小ＰＴＷ長は、アイドルモードｅＤＲＸサイクルが１０．２４ｓよりも長いとき、ＰＴＷ長のステップ長／粒度が１．２８であることに加えて、１．２８ｓであり得る（すなわち、ＰＴＷ長は１．２８で割り切れなければならない）。ｅＤＲＸを有するＦＲ１におけるＲｅｄＣａｐ ＵＥに関する周波数内／周波数間セル検出／測定／評価に関して、アイドルモードについてｅＤＲＸ＞１０．２４ｓであるとき、以下が適用され得る：１．ＲｅｄＣａｐ ＵＥ及びネットワークは、周波数内／周波数間セル測定期間が単一のＰＴＷウィンドウを含み得ると仮定することができる、２．ＲｅｄＣａｐ ＵＥ及びネットワークは、周波数内／周波数間セル評価期間が単一のＰＴＷウィンドウを含み得ると仮定することができる。しかしながら、所与の周波数内／周波数間セル測定期間及び所与の周波数内／周波数間セル評価期間は、同じＰＴＷ（すなわち、そのようなセル測定期間及びセル評価期間は単一のＰＴＷで発生し得る）又は異なるＰＴＷウィンドウ（例えば、所与のセル測定期間は第１のＰＴＷ中に発生し得、所与のセル評価期間は第２の異なるＰＴＷ中に発生し得る）中にあり得る。
【0035】
したがって、ＰＴＷ設計は、関数ｍａｘ｛周波数内／周波数間セル測定期間、周波数内／周波数間セル評価期間｝に基づいて、そのようなＰＴＷの長さ（すなわち、そのような各ＰＴＷは同じ長さであり得る）が、セル測定期間及びセル評価期間のうちのより長い方が完全に実行されることを可能にするのに十分な大きさであることを保証し得る。ＰＴＷ長に関連付けられた以下の関数はまた、ＰＴＷ長が１．２８の倍数であり、セル測定期間及びセル評価期間のうちの少なくとも大きい方に対応するのに十分な大きさであることを保証するために（すなわち、天井関数の使用を介して）適用され得る：ＰＴＷ≧天井（ｍａｘ｛Ｍ１，Ｍ２｝＊ＤＲＸ＿ｃｙｃｌｅ／１．２８）＊１．２８、ここで、Ｍ１はセル測定（すなわち、測定サンプル）のためのＤＲＸ数であり、Ｍ２はセル評価（すなわち、評価サンプル）のためのＤＲＸ数である。
【0036】
更に、周波数内／周波数間セル検出期間及びＰＴＷウィンドウ設計（ＦＲ１においてｅＤＲＸを有するＲｅｄＣａｐ ＵＥの場合）に関して、以下のオプションが適用され得る：１．ＲｅｄＣａｐ ＵＥ及びネットワークは、周波数内／周波数間セル検出期間が単一のＰＴＷウィンドウを含み得ると仮定することができる、又は２．ＲｅｄＣａｐ ＵＥ及びネットワークは、周波数内／周波数間セル検出期間が複数のＰＴＷ間で分割され得ると仮定することができる。そのような実施形態（すなわち、オプション２）では、検出のために使用されるＰＴＷウィンドウの数は、天井（Ｍ３／ｃｅｉｌｉｎｇ（ＰＴＷ長／ＤＲＸ＿サイクル長））を含み得、ここで、Ｍ３は、セル検出のためのＤＲＸ数である（すなわち、Ｍ３は、検出サンプルの数であり得る）。
【0037】
特に、最初にＰＴＷ長をＤＲＸサイクル長で除算する（次いで、最も近いより大きい整数に切り上げる）ことによって、何個のＤＲＸサイクルが所与のＰＴＷ内にあるか（すなわち、ＰＴＷごとのＤＲＸサイクル）を決定することができる。次いで、ＰＴＷごとのＤＲＸの結果の値は、検出サンプルの数（すなわち、Ｍ３）によって除算され、検出サンプルの全ての性能を保証するために、ＰＴＷの総数を決定するために最も近いより大きい整数に切り上げられ得る。次いで、ＰＴＷの総数は、利用されるｅＤＲＸサイクルの数を決定するために使用され得る（すなわち、ＰＴＷの総数はｅＤＲＸサイクルの総数に等しい）。特に、ここでのＰＴＷ長は、本開示全体にわたって説明される他の例と同様に決定され得る（例えば、天井（（Ｍ３＊ＤＲＸ＿サイクル長）／１．２８）＊１．２８）。オプション２の例を以下の表９に示す。
【表9】
【0038】
ＦＲ１におけるアイドルモード及び非アクティブモードに対してｅＤＲＸ≦１０．２４ｓであるとき、ＲｅｄＣａｐ ＵＥ及びネットワークは、以下を実装し得る：１．周波数内／周波数間セル測定期間は、アイドルモード及び非アクティブモードについて２．５６ｓ≦ｅＤＲＸ≦１０．２４ｓであるとき、Ｍ４＊ｅＤＲＸサイクル期間（例えば、Ｍ４＝１）を含み得る、２．周波数内／周波数間セル評価期間は、アイドルモード及び非アクティブモードについて２．５６ｓ≦ｅＤＲＸ≦１０．２４ｓであるとき、Ｍ５＊ｅＤＲＸサイクル期間（例えば、Ｍ５≦３）を含むことができる、３．周波数内／周波数間セル検出期間は、アイドルモード及び非アクティブモードについて２．５６ｓ≦ｅＤＲＸ≦１０．２４ｓであるとき、Ｍ６＊ｅＤＲＸサイクル期間（例えば、Ｍ６≦２３）を含み得る。
【0039】
ＦＲ２におけるＲｅｄＣａｐ ＵＥのためのｅＤＲＸを用いた周波数内及び周波数間セル測定に関して、アイドルモードについてｅＤＲＸ＞１０．２４ｓであるときの周波数内セル検出／測定／評価は、様々なオプション及びサブオプションを含み得る。例えば、第１のオプションでは、ＲｅｄＣａｐ ＵＥ及びネットワークは、周波数内／周波数間セル測定期間及びビーム掃引手順が単一のＰＴＷ内で実行され得ると仮定することができる。そのような実施形態では、ＲｅｄＣａｐ ＵＥ及びネットワークはまた、周波数内／周波数間セル評価期間及びビーム掃引手順が単一のＰＴＷ内で実行され得ると仮定することができる。しかしながら、そのような周波数内／周波数間セル測定期間（関連するビーム掃引を含む）及び周波数内／周波数間セル評価期間（関連するビーム掃引を含む）は、異なるＰＴＷウィンドウ内にあってもよい（例えば、周波数内／周波数間セル測定期間は第１のＰＴＷにおいて実行されてもよく、周波数内／周波数間セル評価期間は第２のＰＴＷにおいて実行されてもよい）。したがって、ＰＴＷウィンドウ設計は、関数ｍａｘ｛ビーム掃引を伴う周波数内／周波数間セル測定期間、ビーム掃引を伴う周波数内／周波数間セル評価期間｝に基づき得る。更に、以下の関数が、ＰＴＷに関して適用され得る：ＰＴＷ≧天井（ｍａｘ｛Ｘ１（又はＸ２、Ｘ３、若しくはＸ４）＊Ｍ１，Ｘ１（又はＸ２、Ｘ３、若しくはＸ４）＊Ｍ２｝＊ＤＲＸ＿ｃｙｃｌｅ／１．２８）＊１．２８、ここで、Ｍ１は、１つのビームを用いたセル測定のためのＤＲＸ数であり、Ｍ２は、１つのビームを用いたセル評価のためのＤＲＸ数であり、Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、及びＸ４は、ビーム掃引のためのスケーリング係数である。再び、ｍａｘ関数は、測定期間と評価期間との比較における、より長い期間が単一のＰＴＷ内に含まれ得ることを確実にするために、上述のように利用され得る。特に、ビーム掃引のためのスケーリング係数（すなわち、Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、及びＸ４）は、各々、８以下（例えば、Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、及びＸ４＝３）であってもよく、各々、同じ値（すなわち、Ｘ１＝Ｘ２＝Ｘ３＝Ｘ４）又は異なる値（すなわち、Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、及び／又はＸ４のうちの１つ以上は、互いに比較して異なる値を含んでもよい）であってもよい。また、Ｘ１は、ＤＲＸサイクル＝０．３２ｓに対するビーム掃引係数であり、Ｘ２は、ＤＲＸサイクル＝０．６４ｓに対するビーム掃引係数であり、Ｘ３は、ＤＲＸサイクル＝１．２８ｓに対するビーム掃引係数であり、Ｘ４は、ＤＲＸサイクル＝２．５６ｓに対するビーム掃引係数であってもよい。更に、セル検出期間及びＰＴＷウィンドウ設計に関して、以下のサブオプションが適用され得る：ｂ．ＲｅｄＣａｐ ＵＥ及びネットワークは、ビーム掃引を伴う周波数内／周波数間セル検出期間が単一のＰＴＷを含むと仮定することができる、又はｂ．ＲｅｄＣａｐ ＵＥ及びネットワークは、ビーム掃引を伴う周波数内／周波数間セル検出期間が異なるＰＴＷにおいて実行され得ると仮定することができる。そのような実施形態（すなわち、オプション１ｂ）では、検出のために使用されるＰＴＷの数は、関数、天井（Ｍ３＊（Ｘ１（又はＸ２、Ｘ３、若しくはＸ４））／天井（ＰＴＷ／ＤＲＸ＿ｃｙｃｌｅ））に関連付けられ得、ここで、Ｍ３は、セル評価のためのＤＲＸ数である。また、オプション１ｂの例を下記の表１０に示す。
【表10】
【0040】
アイドルモードに対してｅＤＲＸ＞１０．２４ｓであるとき、ＦＲ２におけるＲｅｄＣａｐ ＵＥに対するｅＤＲＸを用いた周波数内及び周波数間セル検出、測定、及び評価に関する第２のオプションでは、ＲｅｄＣａｐ ＵＥ及びネットワークは、同じＲｘビームに対する周波数内／周波数間セル測定期間が単一のＰＴＷ内で発生すると仮定することができる。しかしながら、完全なビーム掃引を伴う測定期間は、異なるＰＴＷに分割され得る（例えば、第１のＲｘビームに関連付けられた測定期間は、完全に第１のＰＴＷ内で発生し得、第２のＲｘビームに関連付けられた測定期間は、完全に第２の異なるＰＴＷ内で発生し得るなど）。第２のオプションは、同じＲｘビームに関する周波数内／周波数間セル評価期間が単一のＰＴＷ内で発生すると仮定するＲｅｄＣａｐ ＵＥ及びネットワークを更に含み得る。しかしながら、完全なビーム掃引を伴う評価期間はまた、異なるＰＴＷに分割され得る（例えば、第１のＲｘビームに関連付けられた評価期間は、完全に第１のＰＴＷ内で発生し得、第２のＲｘビームに関連付けられた評価期間は、完全に第２の異なるＰＴＷ内で発生し得るなど）。第２のオプションはまた、同じＲｘビームに関する周波数内／周波数間セル検出期間が単一のＰＴＷウィンドウ内で発生すると仮定するＲｅｄＣａｐ ＵＥ及びネットワークを更に含み得る。再び、完全なビーム掃引を伴う検出期間はまた、異なるＰＴＷに分割され得る（例えば、第１のＲｘビームに関連付けられた検出期間は、完全に第１のＰＴＷ内で発生し得、第２のＲｘビームに関連付けられた検出期間は、完全に第２の異なるＰＴＷ内で発生し得るなど）。
【0041】
対照的に、アイドルモード及び非アクティブモードに対してｅＤＲＸ≦１０．２４ｓであるときのＦＲ１におけるＲｅｄＣａｐ ＵＥの場合、以下が適用され得る：１．周波数内／周波数間セル検出期間は、アイドルモード及び非アクティブモードについて２．５６ｓ≦ｅＤＲＸ≦１０．２４ｓであるとき、Ｘ５（又はＸ６若しくはＸ７）＊Ｍ４＊ｅＤＲＸサイクル期間（例えば、Ｍ４≦２３）を含むことができる。２．周波数内／周波数間セル測定期間は、アイドルモード及び非アクティブモードについて２．５６ｓ≦ｅＤＲＸ≦１０．２４ｓであるとき、Ｘ５（又はＸ６若しくはＸ７）＊Ｍ５＊ｅＤＲＸサイクル期間（例えば、Ｍ５＝１）を含み得る。３．周波数内セル評価期間は、アイドル及び非アクティブモードについて２．５６ｓ≦ｅＤＲＸ≦１０．２４ｓであるとき、Ｘ５（又はＸ６若しくはＸ７）＊Ｍ６＊ｅＤＲＸサイクル期間（例えば、Ｍ６≦３）を含み得る。この場合も、Ｘ５、Ｘ６、及びＸ７は、各々８以下であるビーム掃引のためのスケーリング係数を含む（例えば、Ｘ５、Ｘ６、及びＸ７＝３）。特に、Ｘ５はｅＤＲＸサイクル＝２．５６ｓに対するビーム掃引係数であってもよく、Ｘ６はｅＤＲＸサイクル＝５．１２ｓに対するビーム掃引係数であってもよく、Ｘ７はｅＤＲＸサイクル＝１０．２４ｓに対するビーム掃引係数であってもよい。
【0042】
図２は、周波数範囲１（ＦＲ１）においてアイドルモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）におけるサービングセル測定のための方法２００のフローチャートを示す。ブロック２０２において、方法２００は、低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長が２０．４８秒（ｓ）以上かつ１０４８５．７６ｓ以下であることを識別する。ｅＤＲＸサイクル長は、間欠受信（ＤＲＸ）サイクル長を含み得る。例えば、ｅＤＲＸサイクル長及びＤＲＸサイクル長は、図１に示すｅＤＲＸサイクル１０８及びＤＲＸサイクル１０４と同様であり得る。
【0043】
ブロック２０４において、方法２００は、低減された能力のＵＥのサービングセルに関連付けられた測定期間が、ｅＤＲＸサイクルの単一のページング時間ウィンドウ（ＰＴＷ）内で生じると決定する。例えば、ＰＴＷは、図１のＰＴＷ１０６ａと同様であってもよい。測定期間は、単一のＰＴＷ内で実行される複数の測定サンプルを含み得る。ブロック２０６において、方法２００は、ＤＲＸサイクル長と複数の測定サンプルに関連付けられたサンプルスケーリング係数との積に基づいて、単一のＰＴＷの長さを決定する。単一のＰＴＷの長さは、１．２８の倍数を含み得る。ブロック２０８において、方法２００は、単一のＰＴＷ中にサービングセル測定を実行する。サービングセル測定は、測定期間に関連付けられた複数の測定サンプルの各々を含み得る。
【0044】
方法２００は、サービングセルの測定期間に関連付けられた測定サンプルの全体を含む複数の測定サンプルを更に含み得る。方法２００は、ＤＲＸサイクル長とサンプルスケーリング係数との積が１．２８の倍数ではないとき、単一のＰＴＷの長さを決定することが、積を１．２８で除算した結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、整数に１．２８を乗算し、それによって単一のＰＴＷの長さを生成することとを更に含むことを更に含み得る。
【0045】
方法２００は、１．２８で除算された積の結果の値に天井関数を実行することを含む整数を生成することを更に含み得る。方法２００は、同期信号ブロック（ＳＳＢ）ベースの測定タイミング構成（ＳＭＴＣ）周期が２０ミリ秒（ｍｓ）より大きく、ＤＲＸサイクル長が０．６４ｓ以下であるとき、単一のＰＴＷの長さを決定することは、ＤＲＸサイクル長とサンプルスケーリング係数との積にスケーリング係数ｋを乗算し、それによって新しい積を生成することを更に含み得る。
【0046】
方法２００は、新しい積が１．２８の倍数ではないとき、単一のＰＴＷの長さを決定することが、新しい積を１．２８で除算した結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、整数に１．２８を乗算し、それによって単一のＰＴＷの長さを生成することとを更に含むことを更に含み得る。
【0047】
図３は、周波数範囲１（ＦＲ１）においてアイドルモード又は非アクティブモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）におけるサービングセル測定のための方法３００のフローチャートを示す。ブロック３０２において、方法３００は、低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長が２．５６秒（ｓ）以上かつ１０．２４ｓ以下であることを識別する。例えば、ｅＤＲＸサイクル長は、図１のｅＤＲＸサイクル１０８と同様であり得る。
【0048】
ブロック３０４において、方法３００は、低減された能力のＵＥのサービングセルに関連付けられた複数の測定サンプルは、ｅＤＲＸサイクルに関連付けられた測定期間内に測定されると決定する。例えば、測定期間は、単一のｅＤＲＸサイクル内に含まれ得る。ブロック３０６において、方法３００は、測定期間の長さを決定し、ｅＤＲＸサイクル長と複数の測定サンプルに関連付けられたサンプルスケーリング係数との積に基づく。一例では、測定期間は、単一のｅＤＲＸサイクルを含み得る。ブロック３０８において、方法３００は、測定期間中にサービングセル測定を実行する。サービングセル測定は、測定期間に関連付けられた複数の測定サンプルの各々を含み得る。
【0049】
図４は、周波数範囲２（ＦＲ２）においてアイドルモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）におけるサービングセル測定のための方法４００のフローチャートを示す。ブロック４０２において、方法４００は、低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長が２０．４８秒（ｓ）以上かつ１０４８５．７６ｓ以下であることを識別する。ｅＤＲＸサイクル長は、間欠受信（ＤＲＸ）サイクル長を含み得る。例えば、ｅＤＲＸサイクル長及びＤＲＸサイクル長は、図１のｅＤＲＸサイクル１０８及びＤＲＸサイクル１０４と同様であり得る。
【0050】
ブロック４０４において、方法４００は、低減された能力のＵＥのサービングセルに関連付けられた測定期間が、ｅＤＲＸサイクルの単一のページング時間ウィンドウ（ＰＴＷ）内で生じると決定する。測定期間は、複数の受信（Ｒｘ）ビームに関連付けられたビーム掃引と、単一のＰＴＷ内で実行される複数のＲｘビームの各々に関連付けられた複数の物理レイヤフィルタリングサンプルとを含み得る。ブロック４０６において、方法４００は、ＤＲＸサイクル長と、複数のＲｘビームに関連付けられたビーム掃引スケーリング係数と、複数の物理レイヤフィルタリングサンプルに関連付けられたサンプルスケーリング係数との積に基づいて、単一のＰＴＷの長さを決定する。単一のＰＴＷの長さは、１．２８の倍数を含み得る。ブロック４０８において、方法４００は、単一のＰＴＷ中にサービングセル測定を実行する。サービングセル測定は、複数のＲｘビームの各々に関連付けられたビーム掃引と、複数のＲｘビームの各々に関連付けられた複数の物理レイヤフィルタリングサンプルとを含み得る。
【0051】
方法４００は、複数のＲｘビームがＲｘビームの全体を含むことを更に含み得る。方法４００は、ＤＲＸサイクル長が複数の可能なＤＲＸサイクル長のうちの１つを備え、ビーム掃引スケーリング係数が複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの１つを備えることを更に含み得る。複数のビーム掃引スケーリング係数の各々は、複数の可能なＤＲＸサイクル長のうちの所与のＤＲＸサイクル長に関連付けられ得る。
【0052】
方法４００は、複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの少なくとも第１のビーム掃引スケーリング係数と、複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの少なくとも第２のビーム掃引スケーリング係数とが同じ値を含むことを更に含み得る。方法４００は、複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの第１のビーム掃引スケーリング係数は第１の値を含み、複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの第２のビーム掃引スケーリング係数は第２の異なる値を含むことを更に含み得る。
【0053】
方法４００は、ＤＲＸサイクル長と、サンプルスケーリング係数と、ビーム掃引スケーリング係数との積が１．２８の倍数ではないとき、単一のＰＴＷの長さを決定することが、積を１．２８で除算した結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、整数に１．２８を乗算し、それによって単一のＰＴＷの長さを生成することとを更に含むことを更に含み得る。
【0054】
方法４００は、同期信号ブロック（ＳＳＢ）ベースの測定タイミング構成（ＳＭＴＣ）周期が２０ミリ秒（ｍｓ）より大きく、ＤＲＸサイクル長が０．６４ｓ以下であるとき、単一のＰＴＷの長さを決定することは、ＤＲＸサイクル長と、サンプルスケーリング係数と、ビーム掃引スケーリング係数との積にスケーリング係数ｋを乗算し、それによって新しい積を生成することを更に含み得る。
【0055】
方法４００は、新しい積が１．２８の倍数ではないとき、単一のＰＴＷの長さを決定することが、新しい積を１．２８で除算した結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、整数に１．２８を乗算し、それによって単一のＰＴＷの長さを生成することとを更に含むことを更に含み得る。
【0056】
図５は、周波数範囲２（ＦＲ２）においてアイドルモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）におけるサービングセル測定のための方法５００のフローチャートを示す。ブロック５０２において、方法５００は、低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長が２０．４８秒（ｓ）以上かつ１０４８５．７６ｓ以下であることを識別する。ｅＤＲＸサイクル長は、間欠受信（ＤＲＸ）サイクル長を含み得る。例えば、ｅＤＲＸサイクル長及びＤＲＸサイクル長は、図１のｅＤＲＸサイクル１０８及びＤＲＸサイクル１０４と同様であり得る。
【0057】
ブロック５０４において、方法５００は、低減された能力のＵＥのサービングセルに関連付けられた測定期間が、ｅＤＲＸサイクルの単一のページング時間ウィンドウ（ＰＴＷ）内で生じると決定する。例えば、そのようなＰＴＷは、図１のＰＴＷ１０６ａを含んでもよい。測定期間は、複数の受信（Ｒｘ）ビームのうちの少なくとも１つに関連付けられたビーム掃引と、単一のＰＴＷ内で実行される複数のＲｘビームのうちの少なくとも１つの各々に関連付けられた複数の物理レイヤフィルタリングサンプルとを含み得る。複数のＲｘビームのうちの少なくとも１つは、複数のＲｘビームの全体より少ないものを含み得る。
【0058】
ブロック５０６において、方法５００は、第１のセットのビーム掃引スケーリング係数から第１のビーム掃引スケーリング係数を決定する。第１のセットのビーム掃引スケーリング係数は、複数のＲｘビームの各々についてビーム掃引を実行することに関連付けられ得る。ブロック５０８において、方法５００は、第２のセットのビーム掃引スケーリング係数から第２のビーム掃引スケーリング係数を決定する。第２のセットのビーム掃引スケーリング係数は、複数のＲｘビームの全体よりも少ないビーム掃引を実行することに関連付けられ得る。第２のセットのビーム掃引スケーリング係数の各々は、第１のセットのビーム掃引スケーリング係数の各々よりも小さい値を含み得る。
【0059】
ブロック５１０において、方法５００は、ＤＲＸサイクル長と、第２のビーム掃引スケーリング係数と、複数の物理レイヤフィルタリングサンプルに関連付けられたサンプルスケーリング係数との積に基づいて、単一のＰＴＷの長さを決定する。単一のＰＴＷの長さは、１．２８の倍数を含み得る。ブロック５１２において、方法５００は、単一のＰＴＷ中にサービングセル測定を実行する。サービングセル測定は、複数のＲｘビームの少なくとも１つに関連付けられたビーム掃引と、複数のＲｘビームの少なくとも１つの各々に関連付けられた複数の物理レイヤフィルタリングサンプルとを含み得る。
【0060】
方法５００は、ＤＲＸサイクル長が複数の可能なＤＲＸサイクル長のうちの１つを備えることを更に含み得る。第２のセットのビーム掃引スケーリング係数の各々は、複数の可能なＤＲＸサイクル長のうちの所与のＤＲＸサイクル長に関連付けられている。方法５００は、同じ値を含む第２のセットのビーム掃引スケーリング係数の第２のビーム掃引スケーリング係数と、第２のセットのビーム掃引スケーリング係数の第３のビーム掃引スケーリング係数とを更に含み得る。
【0061】
方法５００は、第１の値を含む第２のセットのビーム掃引スケーリング係数の第２のビーム掃引スケーリング係数と、第２の異なる値を含む第２のセットのビーム掃引スケーリング係数の第３のビーム掃引スケーリング係数とを更に含み得る。方法５００は、ＤＲＸサイクル長と、サンプルスケーリング係数と、第２のビーム掃引スケーリング係数との積が１．２８の倍数ではないとき、単一のＰＴＷの長さを決定することが、積を１．２８で除算した結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、整数に１．２８を乗算し、それによって単一のＰＴＷの長さを生成することとを更に含むことを更に含み得る。
【0062】
方法５００は、同期信号ブロック（ＳＳＢ）ベースの測定タイミング構成（ＳＭＴＣ）周期が２０ミリ秒（ｍｓ）より大きく、ＤＲＸサイクル長が０．６４ｓ以下であるとき、単一のＰＴＷの長さを決定することは、ＤＲＸサイクル長と、サンプルスケーリング係数と、第２のビーム掃引スケーリング係数との積にスケーリング係数ｋを乗算し、それによって新しい積を生成することを更に含み得る。方法５００は、新しい積が１．２８の倍数ではないとき、単一のＰＴＷの長さを決定することが、新しい積を１．２８で除算した結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、整数に１．２８を乗算し、それによって単一のＰＴＷの長さを生成することとを更に含むことを更に含み得る。
【0063】
図６は、周波数範囲２（ＦＲ２）においてアイドルモード又は非アクティブモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）におけるサービングセル測定のための方法６００のフローチャートを示す。ブロック６０２において、方法６００は、低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長が２．５６秒（ｓ）以上かつ１０．２４ｓ以下であることを識別する。例えば、ｅＤＲＸサイクル長は、図１のｅＤＲＸサイクル１０８と同様であり得る。ブロック６０４において、方法６００は、低減された能力のＵＥのサービングセルに関連付けられたサービングセル測定は、ｅＤＲＸサイクルに関連付けられた測定期間内に実行されると決定する。測定は、複数の受信（Ｒｘ）ビームに関連付けられたビーム掃引と、複数のＲｘビームの各々に関連付けられた複数の物理レイヤフィルタリングサンプルとを含み得る。ブロック６０６において、方法６００は、ｅＤＲＸサイクル長と、複数の物理レイヤフィルタリングサンプルに関連付けられたサンプルスケーリング係数と、複数のＲｘビームのビーム掃引に関連付けられたビーム掃引スケーリング係数との積に基づいて、測定期間の長さを決定する。一例では、測定期間はｅＤＲＸサイクルを含み得る。ブロック６０８において、方法６００は、測定期間中にサービングセル測定を実行する。
【0064】
方法６００は、ｅＤＲＸサイクル長が複数の可能なｅＤＲＸサイクル長のうちの１つを備え、ビーム掃引スケーリング係数が複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの１つを備えることを更に含み得る。複数のビーム掃引スケーリング係数の各々は、複数の可能なｅＤＲＸサイクル長のうちの所与のｅＤＲＸサイクル長に関連付けられている。方法６００は、複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの少なくとも第１のビーム掃引スケーリング係数と、複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの少なくとも第２のビーム掃引スケーリング係数とが同じ値を含むことを更に含み得る。方法６００は、複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの第１のビーム掃引スケーリング係数は第１の値を含み、複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの第２のビーム掃引スケーリング係数は第２の異なる値を含むことを更に含み得る。
【0065】
図７は、周波数範囲１（ＦＲ１）においてアイドルモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）における周波数内又は周波数間近隣セル測定のための方法７００のフローチャートを示す。ブロック７０２において、方法７００は、低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長が２０．４８秒（ｓ）以上かつ１０４８５．７６ｓ以下であることを識別する。ｅＤＲＸサイクル長は、間欠受信（ＤＲＸ）サイクル長を含み得る。
【0066】
ブロック７０４において、方法７００は、低減された能力のＵＥの近隣セルに関連付けられた測定期間が、ｅＤＲＸサイクルの第１のページング時間ウィンドウ（ＰＴＷ）内で生じると決定する。測定期間は、単一のＰＴＷ内で実行される複数の近隣セル測定サンプルを含み得る。複数の近隣セル測定サンプルは、測定サンプルスケーリング係数に関連付けられ得る。
【0067】
ブロック７０６において、方法７００は、低減された能力のＵＥの近隣セルに関連付けられた評価期間がｅＤＲＸサイクルの第２のＰＴＷ内で生じると決定する。評価期間は、単一のＰＴＷ内で実行される複数の近隣セル評価サンプルを含み得る。複数の近隣セル評価サンプルは、評価サンプルスケーリング係数に関連付けられ得る。第１のＰＴＷ及び第２のＰＴＷは、同じ持続時間のＰＴＷ長を含み得る。
【0068】
ブロック７０８において、方法７００は、ＤＲＸサイクル長、測定サンプルスケーリング係数、及び評価サンプルスケーリング係数に基づいて、ＰＴＷ長を決定するＰＴＷ長は、１．２８の倍数を含み得る。ブロック７１０において、方法７００は、第１のＰＴＷ中に複数の近隣セル測定サンプルを実行し、第２のＰＴＷ中に複数の近隣セル評価サンプルを実行する。例えば、第１のＰＴＷは、図１のＰＴＷ１０６ａを含んでもよく、第２のＰＴＷは、ＰＴＷ１０６ｂを含んでもよい。
【0069】
方法７００は、ＰＴＷ長を決定することが、測定サンプルスケーリング係数及び評価サンプルスケーリング係数のどちらがより大きい値を含むかを決定することと、より大きい値とＤＲＸサイクル長との積を生成することと、積を１．２８で除算した結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、整数に１．２８を乗算し、それによってＰＴＷ長を生成することとを更に含むことを更に含み得る。
【0070】
方法７００は、測定サンプルスケーリング係数及び評価サンプルスケーリング係数のどちらがより大きい値を含むかを決定することが、測定サンプルスケーリング係数及び評価サンプルスケーリング係数に対してｍａｘ関数を実行することを更に含み得る。方法７００は、整数を生成することが、１．２８で除算された積に天井関数を実行することを含むことを更に含み得る。方法７００は、第１のＰＴＷと第２のＰＴＷとが同じＰＴＷであることを更に含み得る。方法７００は、第１のＰＴＷと第２のＰＴＷとが異なるＰＴＷであることを更に含み得る。
【0071】
図８は、周波数範囲１（ＦＲ１）においてアイドルモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）における周波数内又は周波数間近隣セル測定のための方法８００のフローチャートを示す。ブロック８０２において、方法８００は、低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長が２０．４８秒（ｓ）以上かつ１０４８５．７６ｓ以下であることを識別する。ｅＤＲＸサイクル長は、間欠受信（ＤＲＸ）サイクル長を含み得る。
【0072】
ブロック８０４において、方法８００は、低減された能力のＵＥの近隣セルに関連付けられた検出期間が、ｅＤＲＸサイクルの１つ以上のページング時間ウィンドウ（ＰＴＷ）内で生じると決定する。近隣セル検出期間は、単一のＰＴＷ内で実行される複数の近隣セル検出サンプルを含み得る。複数の近隣セル検出サンプルは、検出サンプルスケーリング係数に関連付けられ得る。１つ以上のＰＴＷの各々は、同じ持続時間のＰＴＷ長を含む。
【0073】
ブロック８０６において、方法８００は、ＤＲＸサイクル長と検出サンプルスケーリング係数との積に基づいてＰＴＷ長を決定する。ＰＴＷ長は、１．２８の倍数を含み得る。ブロック８０８において、方法８００は、ＰＴＷ長、ＤＲＸサイクル長、及び複数の検出サンプルに基づいて、複数の近隣セル検出サンプルの各々を実行するための１つ以上のＰＴＷについてのＰＴＷの総数を決定する。例えば、ＰＴＷの総数は、単一又は複数のＰＴＷを含んでもよい。ブロック８１０において、方法８００は、総数のＰＴＷ内で近隣セル検出サンプルを実行する。例えば、近隣セル検出サンプルは、当該総数のＰＴＷが単一のＰＴＷを含むとき、図１のＰＴＷ１０６ａ内で実行され得る。
【0074】
方法８００は、ＤＲＸサイクル長と検出サンプルスケーリング係数との積が１．２８の倍数ではないとき、ＰＴＷ長を決定することが、積を１．２８で除算した結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、整数に１．２８を乗算し、それによってＰＴＷ長を生成することとを更に含むことを更に含み得る。
【0075】
方法８００は、ＰＴＷの総数を決定することが、ＤＲＸサイクル長によって除算されたＰＴＷ長の第１の結果の値よりも大きい第１の最も近い整数に切り上げることによって、第１の整数を生成することと、第１の整数によって除算された複数の検出サンプルの第２の結果の値よりも大きい第２の最も近い整数に切り上げることによって、第２の整数を生成することと、を更に含むことを更に含み得る。第２の整数は、ＰＴＷの総数を含み得る。方法８００は、当該総数のＰＴＷが単一のＰＴＷを含むことを更に含み得る。
【0076】
図９は、周波数範囲１（ＦＲ１）においてアイドルモード又は非アクティブモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）における周波数内又は周波数間近隣セル測定のための方法９００のフローチャートを示す。ブロック９０２において、方法９００は、低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長が２．５６秒（ｓ）以上かつ１０．２４ｓ以下であることを識別する。例えば、ｅＤＲＸサイクル長は、図１のｅＤＲＸサイクル１０８と同様であり得る。
【0077】
ブロック９０４において、方法９００は、ｅＤＲＸサイクルに関連付けられた測定期間内に複数の近隣セル測定サンプルが実行されると決定する。複数の近隣セル測定サンプルは、測定サンプルスケーリング係数に関連付けられ得る。ブロック９０６において、方法９００は、ｅＤＲＸサイクルに関連付けられた評価期間内に複数の近隣セル評価サンプルが実行されると決定する。複数の近隣セル評価サンプルは、評価サンプルスケーリング係数に関連付けられ得る。
【0078】
ブロック９０８において、方法９００は、ｅＤＲＸサイクルに関連付けられた検出期間内に複数の近隣セル検出サンプルが実行されると決定する。複数の近隣セル検出サンプルは、検出サンプルスケーリング係数に関連付けられ得る。ブロック９１０において、方法９００は、ｅＤＲＸサイクル長と測定サンプルスケーリング係数との積に基づいて、測定期間の長さを決定する例えば、測定期間長はｅＤＲＸサイクル長を含み得る。
【0079】
ブロック９１２において、方法９００は、ｅＤＲＸサイクル長と評価サンプルスケーリング係数との積に基づいて、評価期間の長さを決定する。例えば、評価期間長はｅＤＲＸサイクル長を含み得る。ブロック９１４において、方法９００は、ｅＤＲＸサイクル長と検出サンプルスケーリング係数との積に基づいて、検出期間の長さを決定する。例えば、検出期間長はｅＤＲＸサイクル長を含み得る。ブロック９１６において、方法９００は、測定期間内の複数の近隣セル測定サンプルと、評価期間内の複数の近隣セル評価サンプルと、検出期間内の複数の近隣セル検出サンプルとを実行する。
【0080】
図１０は、周波数範囲２（ＦＲ２）においてアイドルモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）における周波数内又は周波数間近隣セル測定のための方法１０００のフローチャートを示す。ブロック１００２において、方法１０００は、低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長が２０．４８秒（ｓ）以上かつ１０４８５．７６ｓ以下であることを識別する。ｅＤＲＸサイクル長は、間欠受信（ＤＲＸ）サイクル長を含み得る。
【0081】
ブロック１００４において、方法１０００は、低減された能力のＵＥの近隣セルに関連付けられた測定期間が、ｅＤＲＸサイクルの第１のページング時間ウィンドウ（ＰＴＷ）内で生じると決定する。測定期間は、複数の近隣セル測定サンプルを含み得る。複数の近隣セル測定サンプルは、測定サンプルスケーリング係数に関連付けられ得る。測定期間は、測定ビーム掃引を含むこともできる。
【0082】
ブロック１００６において、方法１０００は、低減された能力のＵＥの近隣セルに関連付けられた評価期間がｅＤＲＸサイクルの第２のＰＴＷ内で生じると決定する。評価期間は、複数の近隣セル評価サンプルを含み得る。複数の近隣セル評価サンプルは、評価サンプルスケーリング係数に関連付けられ得る。第１のＰＴＷ及び第２のＰＴＷは、同じ持続時間のＰＴＷ長を含み得る。評価期間はまた、評価ビーム掃引を含み得る。
【0083】
ブロック１００８において、方法１０００は、ＤＲＸサイクル長、測定サンプルスケーリング係数、評価サンプルスケーリング係数、並びに測定ビーム掃引及び評価ビーム掃引に関連付けられたビーム掃引スケーリング係数に基づいて、ＰＴＷ長を決定する。ＰＴＷ長は、１．２８の倍数を含み得る。ブロック１０１０において、方法１０００は、第１のＰＴＷ中に複数の近隣セル測定サンプルを実行し、第２のＰＴＷ中に複数の近隣セル評価サンプルを実行する。例えば、複数の近隣セル測定サンプルは、ＰＴＷ１０６ａ中に実行され得、複数の近隣セル評価サンプルは、ＰＴＷ１０６ｂ中に実行され得る。
【0084】
方法１０００は、ＰＴＷ長を決定することが、第１の積と第２の積のどちらがより大きい値を含むかを決定することを更に含むことを更に含み得る。第１の積は、測定サンプルスケーリング係数にビーム掃引スケーリング係数を乗じたものを含むことができ、第２の積は、評価サンプルスケーリング係数にビーム掃引スケーリング係数を乗じたものを含むことができる。ＰＴＷ長を決定することは、より大きい値とＤＲＸサイクル長との第３の積を生成することと、１．２８によって除算された積の結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、整数に１．２８を乗算し、それによってＰＴＷ長を生成することとを更に含み得る。
【0085】
方法１０００は、第１の積及び第２の積のどちらがより大きい値を含むかを決定することが、第１の積及び第２の積に対してｍａｘ関数を実行することを含むことを更に含み得る。方法１０００は、整数を生成することが、１．２８で除算された第３の積に天井関数を実行することを含むことを更に含み得る。方法１０００は、第１のＰＴＷと第２のＰＴＷとが同じＰＴＷであることを更に含み得る。
【0086】
方法１０００は、第１のＰＴＷと第２のＰＴＷとが異なるＰＴＷを含むことを更に含み得る。方法１０００は、測定ビーム掃引及び評価ビーム掃引のうちの１つの少なくとも一部は、第１のＰＴＷ又は第２のＰＴＷのいずれかにおいて、並びに第１のＰＴＷ及び第２のＰＴＷとは異なる第３のＰＴＷにおいて実行されることを更に含み得る。方法１０００は、ＤＲＸサイクル長が複数の可能なＤＲＸサイクル長のうちの１つを備え、ビーム掃引スケーリング係数が複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの１つを備えることを更に含み得る。複数のビーム掃引スケーリング係数の各々は、複数の可能なＤＲＸサイクル長のうちの所与のＤＲＸサイクル長に関連付けられ得る。
【0087】
方法１０００は、複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの少なくとも第１のビーム掃引スケーリング係数と、複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの少なくとも第２のビーム掃引スケーリング係数とが同じ値を含むことを含み得る。方法１０００は、複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの第１のビーム掃引スケーリング係数は第１の値を含み、複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの第２のビーム掃引スケーリング係数は第２の異なる値を含むことを含み得る。
【0088】
図１１は、周波数範囲２（ＦＲ２）においてアイドルモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）における周波数内又は周波数間近隣セル測定のための方法１１００のフローチャートを示す。ブロック１１０２において、方法１１００は、低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長が２０．４８秒（ｓ）以上かつ１０４８５．７６ｓ以下であることを識別する。ｅＤＲＸサイクル長は、間欠受信（ＤＲＸ）サイクル長を含み得る。
【0089】
ブロック１１０４において、方法１１００は、低減された能力のＵＥの近隣セルに関連付けられた検出期間が、ｅＤＲＸサイクルの１つ以上のページング時間ウィンドウ（ＰＴＷ）内で生じると決定する。近隣セル検出期間は、単一のＰＴＷ内で実行される複数の近隣セル検出サンプルを含み得る。複数の近隣セル検出サンプルは、検出サンプルスケーリング係数に関連付けられ得る。検出期間はまた、ビーム掃引を含み得る。１つ以上のＰＴＷの各々は、同じ持続時間のＰＴＷ長を含み得る。
【0090】
ブロック１１０６において、方法１１００は、ＤＲＸサイクル長と、検出サンプルスケーリング係数と、ビーム掃引に関連付けられたビーム掃引スケーリング係数との積に基づいて、ＰＴＷ長を決定する。ＰＴＷ長は、１．２８の倍数を含み得る。ブロック１１０８において、方法１１００は、ＰＴＷ長、ＤＲＸサイクル長、及び複数の検出サンプルに基づいて、複数の近隣セル検出サンプルの各々を実行するための１つ以上のＰＴＷについてのＰＴＷの総数を決定する。例えば、ＰＴＷ長は、単一のＰＴＷを含み得る。ブロック１１１０において、方法１１００は、総数のＰＴＷ内で近隣セル検出サンプルを実行する。例えば、当該総数のＰＴＷが１つのＰＴＷを含むとき、図１のＰＴＷ１０６ａなどのＰＴＷが使用され得る。
【0091】
方法１１００は、ＤＲＸサイクル長と、検出サンプルスケーリング係数と、ビーム掃引スケーリング係数との積が１．２８の倍数ではないとき、ＰＴＷ長を決定することが、積を１．２８で除算した結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、整数に１．２８を乗算し、それによってＰＴＷ長を生成することとを更に含むことを更に含み得る。
【0092】
方法１１００は、ＰＴＷの総数を決定することが、ＤＲＸサイクル長によって除算されたＰＴＷ長の第１の結果の値よりも大きい第１の最も近い整数に切り上げることによって、第１の整数を生成することと、複数の検出サンプルとビーム掃引スケーリング係数との新しい積を第１の整数で除算した第２の結果の値よりも大きい第２の最も近い整数に切り上げることによって、第２の整数を生成することと、を更に含むことを更に含み得る。第２の整数は、ＰＴＷの総数を含む。方法１１００は、当該総数のＰＴＷが単一のＰＴＷを含むことを更に含み得る。方法１１００は、ビーム掃引が、１つ以上のＰＴＷの第１のＰＴＷ及び１つ以上のＰＴＷの第２のＰＴＷの間に実行されることを更に含み得る。
【0093】
図１２は、周波数範囲２（ＦＲ２）においてアイドルモード又は非アクティブモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）における周波数内又は周波数間近隣セル測定のための方法１２００のフローチャートを示す。ブロック１２０２において、方法１２００は、低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長が２．５６秒（ｓ）以上かつ１０．２４ｓ以下であることを識別する。例えば、そのようなｅＤＲＸサイクル長は、図１のｅＤＲＸサイクル１０８と同様であり得る。
【0094】
ブロック１２０４において、方法１２００は、ｅＤＲＸサイクルに関連付けられた測定期間内に複数の近隣セル測定サンプルが実行されると決定する。複数の近隣セル測定サンプルは、測定サンプルスケーリング係数に関連付けられ得る。測定期間は、測定ビーム掃引を含むこともできる。ブロック１２０６において、方法１２００は、ｅＤＲＸサイクルに関連付けられた評価期間内に複数の近隣セル評価サンプルが実行されると決定する。複数の近隣セル評価サンプルは、評価サンプルスケーリング係数に関連付けられ得る。評価期間はまた、評価ビーム掃引を含み得る。
【0095】
ブロック１２０８において、方法１２００は、ｅＤＲＸサイクルに関連付けられた検出期間内に複数の近隣セル検出サンプルが実行されると決定する。複数の近隣セル検出サンプルは、検出サンプルスケーリング係数に関連付けられ得る。検出期間は、検出ビーム掃引を含み得る。ブロック１２１０において、方法１２００は、ｅＤＲＸサイクル長と、測定サンプルスケーリング係数と、及び測定ビーム掃引に関連付けられた測定ビーム掃引スケーリング係数との積に基づいて、測定期間の長さを決定する。例えば、測定期間長は、ｅＤＲＸサイクルの数（例えば、わずか１つ、潜在的には多く）を含み得る。
【0096】
ブロック１２１２において、方法１２００は、ｅＤＲＸサイクル長と、評価サンプルスケーリング係数と、及び評価ビーム掃引に関連付けられた評価ビーム掃引スケーリング係数との積に基づいて、評価期間の長さを決定する。例えば、評価期間長は、ｅＤＲＸサイクルの数（例えば、わずか１つ、潜在的には多く）を含み得る。ブロック１２１４において、方法１２００は、ｅＤＲＸサイクル長と、検出サンプルスケーリング係数と、及び検出ビーム掃引に関連付けられた検出ビーム掃引スケーリング係数との積に基づいて、検出期間の長さを決定する。例えば、検出期間長は、ｅＤＲＸサイクルの数（例えば、わずか１つ、潜在的には多く）を含み得る。ブロック１２１６において、方法１２００は、測定期間内の複数の近隣セル測定サンプルと、評価期間内の複数の近隣セル評価サンプルと、検出期間内の複数の近隣セル検出サンプルとを実行する。
【0097】
方法１２００は、ｅＤＲＸサイクル長が複数の可能なｅＤＲＸサイクル長のうちの１つを備え、測定ビーム掃引スケーリング係数が複数の測定ビーム掃引スケーリング係数のうちの１つを備えることを更に含み得る。複数の測定ビーム掃引スケーリング係数の各々は、複数の可能なｅＤＲＸサイクル長のうちの所与のｅＤＲＸサイクル長に関連付けられていてもよい。
【0098】
方法１２００は、ｅＤＲＸサイクル長が複数の可能なｅＤＲＸサイクル長のうちの１つを備え、評価ビーム掃引スケーリング係数が複数の評価ビーム掃引スケーリング係数のうちの１つを備えることを更に含み得る。複数の評価ビーム掃引スケーリング係数の各々は、複数の可能なｅＤＲＸサイクル長のうちの所与のｅＤＲＸサイクル長に関連付けられていてもよい。
【0099】
方法１２００は、ｅＤＲＸサイクル長が複数の可能なｅＤＲＸサイクル長のうちの１つを備え、検出ビーム掃引スケーリング係数が複数の検出ビーム掃引スケーリング係数のうちの１つを備えることを更に含み得る。複数の検出ビーム掃引スケーリング係数の各々は、複数の可能なｅＤＲＸサイクル長のうちの所与のｅＤＲＸサイクル長に関連付けられていてもよい。
【0100】
本明細書で企図される実施形態は、方法２００～１２００の１つ以上の要素を実行する手段を備える装置を含む。この装置は、例えば、（本明細書で説明するＵＥである無線デバイス１４０２などの）ＵＥの装置であり得る。
【0101】
本明細書で企図される実施形態は、電子デバイスの１つ以上のプロセッサによって命令が実行されると、電子デバイスに、方法２００～１２００の１つ以上の要素を実行させる、命令を含む１つ以上の非一時的コンピュータ可読媒体を含み得る。この非一時的コンピュータ可読媒体は、例えば、ＵＥのメモリ（本明細書で説明するような、ＵＥである無線デバイス１４０２のメモリ１４０６など）であり得る。
【0102】
本明細書で企図される実施形態は、方法２００～１２００の１つ以上の要素を実行する論理、モジュール又は回路を備える装置を含む。この装置は、例えば、（本明細書で説明するＵＥである無線デバイス１４０２などの）ＵＥの装置であり得る。
【0103】
本明細書で企図される実施形態は、１つ以上のプロセッサと、１つ以上のプロセッサによって実行されると、１つ以上のプロセッサに、方法２００～１２００の１つ以上の要素を実行させる命令を含む１つ以上のコンピュータ可読媒体とを備える、装置を含む。この装置は、例えば、（本明細書で説明するＵＥである無線デバイス１４０２などの）ＵＥの装置であり得る。
【0104】
本明細書で企図される実施形態は、方法２００～１２００の１つ以上の要素に記載されるか、又はそれに関連する信号を含む。
【0105】
本明細書で企図される実施形態は、命令を含むコンピュータプログラム又はコンピュータプログラム製品を含み、プロセッサによるプログラムの実行は、プロセッサに、方法２００～１２００の１つ以上の要素を実行させる。プロセッサは、（本明細書で説明ＵＥである無線デバイス１４０２のプロセッサ（単数又は複数）１４０４などの）ＵＥのプロセッサであり得る。これらの命令は、例えば、プロセッサ内に、及び／又はＵＥのメモリ（本明細書で説明するような、ＵＥである無線デバイス１４０２のメモリ１４０６など）上に位置し得る。
【0106】
図１３は、本明細書で開示される実施形態による、無線通信システム１３００の例示的なアーキテクチャを示す。以下の説明は、３ＧＰＰ技術仕様によって提供されるような、ＬＴＥシステム規格、及び／又は５Ｇ又はＮＲシステム規格と併せて動作する例示的な無線通信システム１３００に対して提供される。
【0107】
図１３によって示されるように、無線通信システム１３００は、ＵＥ１３０２及びＵＥ１３０４を含む（ただし、任意の数のＵＥが使用され得る）。この例では、ＵＥ１３０２及びＵＥ１３０４は、スマートフォン（例えば、１つ以上のセルラーネットワークに接続可能なハンドヘルドタッチスクリーンモバイルコンピューティングデバイス）として示されているが、無線通信のために構成された任意のモバイル又は非モバイルコンピューティングデバイスも備え得る。
【0108】
ＵＥ１３０２及びＵＥ１３０４は、ＲＡＮ１３０６と通信可能に結合するように構成され得る。実施形態において、ＲＡＮ１３０６は、ＮＧ－ＲＡＮ、Ｅ－ＵＴＲＡＮなどであってもよい。ＵＥ１３０２及びＵＥ１３０４は、ＲＡＮ１３０６との接続（又はチャネル）（それぞれ、接続１３０８及び接続１３１０として示される）を利用し、その各々は、物理的通信インタフェースを備える。ＲＡＮ１３０６は、接続１３０８及び接続１３１０を可能にする、基地局１３１２及び基地局１３１４などの１つ以上の基地局を含み得る。
【0109】
この例では、接続１３０８及び接続１３１０は、そのような通信結合を可能にするためのエアインタフェースであり、例えば、ＬＴＥ及び／又はＮＲなど、ＲＡＮ１３０６によって使用されるＲＡＴ（単数又は複数）と一致し得る。
【0110】
いくつかの実施形態では、ＵＥ１３０２及びＵＥ１３０４はまた、サイドリンクインタフェース１３１６を介して通信データを直接交換することができる。ＵＥ１３０４は、図示するように、接続１３２０を介してアクセスポイント（ＡＰ１３１８として示す）にアクセスするように構成されている。一例として、接続１３２０は、任意のＩＥＥＥ６０２．１１プロトコルと一致する接続などのローカル無線接続を含むことができ、ＡＰ１３１８はＷｉ－Ｆｉ（登録商標）ルータを含むことができる。この例では、ＡＰ１３１８は、ＣＮ１３２４を経由せずに他のネットワーク（例えば、インターネット）に接続されてもよい。
【0111】
実施形態では、ＵＥ１３０２及びＵＥ１３０４は、様々な通信技術に従ったマルチキャリア通信チャネルを介して、直交周波数分割多重（ＯＦＤＭ）通信信号を用いて、互いに又は基地局１３１２及び／又は基地局１３１４と通信するように構成することができ、この様々な通信技術は、例えば、（例えば、ダウンリンク通信用の）直交周波数分割多元接続（ＯＦＤＭＡ）通信技術、又は（例えば、アップリンク及びＰｒｏＳｅ又はサイドリンク通信用の）シングルキャリア周波数分割多元接続（ＳＣ－ＦＤＭＡ）通信技術であるが、これらに限定されず、実施形態の範囲は、この点において限定されない。ＯＦＤＭ信号は、複数の直交サブキャリアを含むことができる。
【0112】
いくつかの実施形態では、基地局１３１２又は基地局１３１４の全て又は一部は、仮想ネットワークの一部としてサーバコンピュータ上で実行される１つ以上のソフトウェアエンティティとして実装され得る。加えて、又は他の実施形態では、基地局１３１２又は基地局１３１４は、インタフェース１３２２を介して互いに通信するように構成され得る。無線通信システム１３００がＬＴＥシステム（例えば、ＣＮ１３２４がＥＰＣである場合）である実施形態では、インタフェース１３２２はＸ２インタフェースであり得る。Ｘ２インタフェースは、ＥＰＣに接続する２つ以上の基地局（例えば、２つ以上のｅＮＢなど）間、及び／又はＥＰＣに接続する２つのｅＮＢ間に定義されてもよい。無線通信システム１３００がＮＲシステム（例えば、ＣＮ１３２４が５ＧＣである場合）である実施形態では、インタフェース１３２２はＸｎインタフェースであり得る。Ｘｎインタフェースは、５ＧＣに接続する２つ以上の基地局（例えば、２つ以上のｇＮＢなど）間、５ＧＣに接続する基地局１３１２（例えば、ｇＮＢ）とｅＮＢとの間、及び／又は５ＧＣに接続する２つのｅＮＢ間に定義される（例えば、ＣＮ１３２４）。
【0113】
ＲＡＮ１３０６は、ＣＮ１３２４に通信可能に結合されるように示されている。ＣＮ１３２４は、ＲＡＮ１３０６を介してＣＮ１３２４に接続されている顧客／加入者（例えば、ＵＥ１３０２及びＵＥ１３０４のユーザ）に様々なデータ及び電気通信サービスを提供するように構成された１つ以上のネットワーク要素１３２６を備え得る。ＣＮ１３２４の構成要素は、機械可読媒体又はコンピュータ可読媒体（例えば、非一時的機械可読記憶媒体）から命令を読み取って実行するための構成要素を含む、１つの物理デバイス又は別個の物理デバイスに実装されてもよい。
【0114】
実施形態では、ＣＮ１３２４はＥＰＣであってもよく、ＲＡＮ１３０６はＳ１インタフェース１３２８を介してＣＮ１３２４と接続されてもよい。実施形態では、Ｓ１インタフェース１３２８は、基地局１３１２又は基地局１３１４とサービングゲートウェイ（Ｓ－ＧＷ）との間でトラフィックデータを搬送するＳ１ユーザプレーン（Ｓ１－Ｕ）インタフェースと、基地局１３１２又は基地局１３１４とモビリティ管理エンティティ（ＭＭＥ）との間のシグナリングインタフェースであるＳ１－ＭＭＥインタフェースとの２つの部分に分割されてもよい。
【0115】
実施形態では、ＣＮ１３２４は５ＧＣであってもよく、ＲＡＮ１３０６はＮＧインタフェース１３２８を介してＣＮ１３２４と接続されてもよい。実施形態では、ＮＧインタフェース１３２８は、基地局１３１２又は基地局１３１４とユーザプレーン機能（ＵＰＦ）との間でトラフィックデータを搬送するＮＧユーザプレーン（ＮＧ－Ｕ）インタフェースと、基地局１３１２又は基地局１３１４とアクセス及びモビリティ管理機能（ＡＭＦ）との間のシグナリングインタフェースであるＳ１制御プレーン（ＮＧ－Ｃ）インタフェースと、の２つの部分に分割することができる。
【0116】
一般に、アプリケーションサーバ１３３０は、ＣＮ１３２４とのインターネットプロトコル（ＩＰ）ベアラリソース（例えば、パケット交換データサービス）を使用するアプリケーションを提供する要素であり得る。アプリケーションサーバ１３３０はまた、ＣＮ１３２４を介してＵＥ１３０２及びＵＥ１３０４のための１つ以上の通信サービス（例えば、ＶｏＩＰセッション、グループ通信セッションなど）をサポートするように構成されることができる。アプリケーションサーバ１３３０は、ＩＰ通信インタフェース１３３２を介してＣＮ１３２４と通信してもよい。
【0117】
図１４は、本明細書で開示する実施形態による、無線デバイス１４０２とネットワークデバイス１４１８との間でシグナリング１４３４を実行するためのシステム１４００を示す。システム１４００は、本明細書で説明するような無線通信システムの一部分であり得る。無線デバイス１４０２は、例えば、無線通信システムのＵＥであり得る。ネットワークデバイス１４１８は、例えば、無線通信システムの基地局（例えば、ｅＮＢ又はｇＮＢ）であってもよい。
【0118】
無線デバイス１４０２は、１つ以上のプロセッサ（単数又は複数）１４０４を備えてもよい。プロセッサ（単数又は複数）１４０４は、本明細書で説明するように、無線デバイス１４０２の様々な動作が実行されるように命令を実行し得る。プロセッサ１４０４は、例えば、中央処理装置（ＣＰＵ）、デジタル信号プロセッサ（ＤＳＰ）、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）、コントローラ、フィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ）デバイス、別のハードウェアデバイス、ファームウェアデバイス、又は本明細書で説明する動作を実行するように構成されたそれらの任意の組み合わせを使用して実装された１つ以上のベースバンドプロセッサを含み得る。
【0119】
無線デバイス１４０２は、メモリ１４０６を含み得る。メモリ１４０６は、命令１４０８（例えば、プロセッサ（単数又は複数）１４０４によって実行されている命令を含み得る）を記憶する非一時的コンピュータ可読記憶媒体であり得る。命令１４０８はまた、プログラムコード又はコンピュータプログラムと呼ばれることがある。メモリ１４０６はまた、プロセッサ（単数又は複数）１４０４によって使用されるデータ、及びプロセッサ（単数又は複数）１４０４によって計算された結果を記憶し得る。
【0120】
無線デバイス１４０２は、対応するＲＡＴに従って他のデバイス（例えば、ネットワークデバイス１４１８）との無線デバイス１４０２への及び／又はそれからのシグナリング（例えば、シグナリング１４３４）を容易にするために、無線デバイス１４０２のアンテナ１４１２を使用する無線周波数（ＲＦ）送信機及び／又は受信機回路を含み得る１つ以上の送受信機（単数又は複数）１４１０を含み得る。
【0121】
無線デバイス１４０２は、１つ以上のアンテナ１４１２（例えば、１つ、２つ、４つ、又はそれ以上）を含み得る。複数のアンテナ（単数又は複数）１４１２を有する実施形態では、無線デバイス１４０２は、同じ時間及び周波数リソース上で複数の異なるデータストリームを送信及び／又は受信するために、そのような複数のアンテナ１４１２の空間ダイバーシティを活用し得る。この挙動は、例えば、（この態様を可能にする送信デバイス及び受信デバイスの各々において使用される複数のアンテナを指す）多入力多出力（ＭＩＭＯ）挙動と呼ばれることがある。無線デバイス１４０２によるＭＩＭＯ送信は、各データストリームが、他のストリームに対して適切な信号強度で、空間領域中の所望のロケーション（例えば、そのデータストリームに関連付けられた受信機のロケーション）において受信されるように、既知の又は仮定されたチャネル特性に従って、アンテナ１４１２にわたってデータストリームを多重化する無線デバイス１４０２において適用されるプリコーディング（又はデジタルビームフォーミング）に従って達成され得る。いくつかの実施形態は、シングルユーザＭＩＭＯ（ＳＵ－ＭＩＭＯ）方法（データストリームが全て単一の受信機に向けられる）及び／又はマルチユーザＭＩＭＯ（ＭＵ－ＭＩＭＯ）方法（個々のデータストリームが、空間領域中の異なるロケーション中の個々の（異なる）受信機に向けられ得る）を使用し得る。
【0122】
複数のアンテナを有するいくつかの実施形態では、無線デバイス１４０２は、アナログビームフォーミング技法を実装し得、それによって、アンテナ１４１２によって送られる信号の位相は、アンテナ１４１２の（ジョイント）送信が方向付けられ得るように相対的に調整される（これは、ビームステアリングと呼ばれることがある）。
【0123】
無線デバイス１４０２は、１つ以上のインタフェース１４１４を含み得る。インタフェース１４１４は、無線デバイス１４０２への入力又はそこからの出力を与えるために使用され得る。例えば、ＵＥである無線デバイス１４０２は、ＵＥのユーザによるＵＥへの入力及び／又は出力を可能にするために、マイクロフォン、スピーカ、タッチスクリーン、ボタンなどのインタフェース１４１４を含み得る。そのようなＵＥの他のインタフェースは、ＵＥと他のデバイスとの間の通信を可能にする送信機、受信機、及び（例えば、既に説明した送受信機１４１０／アンテナ１４１２以外の）他の回路から構成され得、知られているプロトコル（例えば、Ｗｉ－Ｆｉ（登録商標）、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）など）に従って動作し得る。
【0124】
無線デバイス１４０２は、ＰＴＷモジュール１４１６を含み得る。ＰＴＷモジュール１４１６は、ハードウェア、ソフトウェア、又はそれらの組み合わせを介して実装され得る。例えば、ＰＴＷモジュール１４１６は、プロセッサ、回路、及び／又はメモリ１４０６に記憶され、プロセッサ１４０４によって実行される命令１４０８として実装され得る。いくつかの例では、ＰＴＷモジュール１４１６は、プロセッサ（単数又は複数）１４０４及び／又は送受信機（単数又は複数）１４１０内に統合され得る。例えば、ＰＴＷモジュール１４１６は、プロセッサ１４０４又は送受信機１４１０内の（例えば、ＤＳＰ又は汎用プロセッサによって実行される）ソフトウェア構成要素と、ハードウェア構成要素（例えば、論理ゲート及び回路）と、の組み合わせによって実装され得る。
【0125】
ＰＴＷモジュール１４１６は、本開示の様々な態様、例えば、図１～図１２の態様のために使用され得る。ＰＴＷモジュール１４１６は、コンテキストに基づいて適切なＰＴＷ長を実装するのを支援するように構成される。
【0126】
ネットワークデバイス１４１８は、１つ以上のプロセッサ１４２０を含むことができる。プロセッサ（単数又は複数）１４２０は、本明細書で説明するように、ネットワークデバイス１４１８の様々な動作が実行されるように命令を実行し得る。プロセッサ１４０４は、例えば、ＣＰＵ、ＤＳＰ、ＡＳＩＣ、コントローラ、ＦＰＧＡデバイス、別のハードウェアデバイス、ファームウェアデバイス、又は本明細書で説明する動作を実行するように構成されたそれらの任意の組み合わせを使用して実装される１つ以上のベースバンドプロセッサを含み得る。
【0127】
ネットワークデバイス１４１８は、メモリ１４２２を含むことができる。メモリ１４２２は、命令１４２４（例えば、プロセッサ（単数又は複数）１４２０によって実行されている命令を含み得る）を記憶する非一時的コンピュータ可読記憶媒体であり得る。命令１４２４はまた、プログラムコード又はコンピュータプログラムと呼ばれることがある。メモリ１４２２はまた、プロセッサ（単数又は複数）１４２０によって使用されるデータ、及びプロセッサ（単数又は複数）１４２０によって計算された結果を記憶し得る。
【0128】
ネットワークデバイス１４１８は、対応するＲＡＴに従って他のデバイス（例えば、無線デバイス１４０２）とのネットワークデバイス１４１８への及び／又はそれからのシグナリング（例えば、シグナリング１４３４）を容易にするために、ネットワークデバイス１４１８のアンテナ１４２８を使用するＲＦ送信機及び／又は受信機回路を含み得る１つ以上の送受信機（単数又は複数）１４２６を含み得る。
【0129】
ネットワークデバイス１４１８は、１つ以上のアンテナ（単数又は複数）１４２８（例えば、１つ、２つ、４つ、又はそれ以上）を含み得る。複数のアンテナ１４２８を有する実施形態では、ネットワークデバイス１４１８は、説明したように、ＭＩＭＯ、デジタルビームフォーミング、アナログビームフォーミング、ビームステアリングなどを実行することができる。
【0130】
ネットワークデバイス１４１８は、１つ以上のインタフェース１４３０（単数又は複数）を含むことができる。インタフェース１４３０は、ネットワークデバイス１４１８への入力又はネットワークデバイス１４１８からの出力を提供するために使用され得る。例えば、基地局であるネットワークデバイス１４１８は、送信機、受信機、並びに基地局又はそれに動作可能に接続された他の機器の動作、管理、及び保守の目的で、基地局がコアネットワーク内の他の機器と通信することを可能にし、かつ／又は基地局が外部ネットワーク、コンピュータ、データベースなどと通信することを可能にする他の回路（例えば、既に説明した送受信機１４２６／アンテナ１４２８以外）から構成されるインタフェース１４３０を含むことができる。
【0131】
ネットワークデバイス１４１８は、ＰＴＷモジュール１４３２を含むことができる。ＰＴＷモジュール１４３２は、ハードウェア、ソフトウェア、又はそれらの組み合わせを介して実装され得る。例えば、ＰＴＷモジュール１４３２は、プロセッサ、回路、及び／又はメモリ１４２２に記憶され、プロセッサ１４２０によって実行される命令１４２４として実装され得る。いくつかの例では、ＰＴＷモジュール１４３２は、プロセッサ（単数又は複数）１４２０及び／又は送受信機（単数又は複数）１４２６内に統合され得る。例えば、ＰＴＷモジュール１４３２は、プロセッサ１４２０又は送受信機１４２６内の（例えば、ＤＳＰ又は汎用プロセッサによって実行される）ソフトウェア構成要素と、ハードウェア構成要素（例えば、論理ゲート及び回路）と、の組み合わせによって実装され得る。
【0132】
ＰＴＷモジュール１４３２は、本開示の様々な態様、例えば、図１～図１２の態様のために使用され得る。ＰＴＷモジュール１４３２は、コンテキストに基づいて適切なＰＴＷ長を実装するのを支援するように構成される。
【0133】
１つ以上の実施形態については、前述の図のうちの１つ以上に記載されている構成要素のうちの少なくとも１つは、本明細書に説明されているような１つ以上の動作、技術、プロセス及び／又は方法を実行するように構成され得る。例えば、本明細書の図のうちの１つ以上に関連して上述したベースバンドプロセッサは、本明細書に記載される例のうちの１つ以上に従って動作するように構成されていてもよい。別の実施例として、前述の図のうちの１つ以上に関連して上述したようなＵＥ、基地局、ネットワーク要素などに関連付けられた回路は、本明細書に記載される実施例のうちの１つ以上に従って動作するように構成され得る。
【0134】
上記の実施形態のいずれも、特に明記しない限り、任意の他の実施形態（又は実施形態の組み合わせ）と組み合わせることができる。１つ以上の実装形態の前述の説明は、例示及び説明を提供するが、網羅的であることを意図するものではなく、又は、実施形態の範囲を開示される正確な形態に限定することを意図するものではない。修正及び変形は、上記の教示を踏まえると可能であり、又は様々な実施形態の実践から習得し得る。
【0135】
本明細書に記載されるシステム及び方法の実施形態及び実装形態は、コンピュータシステムによって実行される機械実行可能命令で具現化することができる様々な動作を含むことができる。コンピュータシステムは、１つ以上の汎用コンピュータ又は専用コンピュータ（又は他の電子デバイス）を含んでもよい。コンピュータシステムは、動作を実行するための特定の論理を含むハードウェア構成要素を含んでもよく、又はハードウェア、ソフトウェア、及び／若しくはファームウェアの組み合わせを含んでもよい。
【0136】
本明細書に記載されるシステムは、特定の実施形態の説明を含むことが認識されるべきである。これらの実施形態は、単一のシステムに組み合わせる、他のシステムに部分的に組み合わせる、複数のシステムに分割する、又は他の方法で分割若しくは組み合わせることができる。加えて、一実施形態のパラメータ、属性、態様などは、別の実施形態で使用することができることが企図される。パラメータ、属性、態様は、明確にするために１つ以上の実施形態に記載されているだけであり、パラメータ、属性、態様などは、本明細書で具体的に放棄されない限り、別の実施形態のパラメータ、属性などと組み合わせること、又は置換することができることが認識される。
【0137】
個人情報の使用は、ユーザのプライバシーを維持するための業界又は政府の要件を満たす又は超えるとして一般に認識されているプライバシーポリシー及びプラクティスに従うべきであることに十分に理解されている。特に、個人情報データは、意図されない又は認可されていないアクセス又は使用のリスクを最小にするように管理され取り扱われるべきであり、認可された使用の性質は、ユーザに明確に示されるべきである。
【0138】
前述は、明確にするためにある程度詳細に説明されてきたが、その原理から逸脱することなく、特定の変更及び修正を行うことができることは明らかであろう。本明細書に記載されるプロセス及び装置の両方を実装する多くの代替的な方法が存在することに留意されたい。したがって、本実施形態は、例示的であり、限定的ではないと見なされるべきものであり、説明は、本明細書で与えられる詳細に限定されるものではなく、添付の特許請求の範囲及び均等物内で修正されてもよい。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【手続補正書】
【提出日】2024-04-26
【手続補正1】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項1】
周波数範囲１（ＦＲ１）においてアイドルモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）におけるサービングセル測定のための方法であって、前記方法は、前記低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長であって、間欠受信（ＤＲＸ）サイクル長を含む前記ｅＤＲＸサイクル長が、２０．４８秒（ｓ）以上かつ１０４８５．７６ｓ以下であることを識別することと、
前記低減された能力のＵＥのサービングセルに関連付けられた測定期間であって、単一のページング時間ウィンドウ（ＰＴＷ）内で実行される複数の測定サンプルを含む前記測定期間が、前記ｅＤＲＸサイクルの前記単一のＰＴＷ内で生じると決定することと、
前記ＤＲＸサイクル長と前記複数の測定サンプルに関連付けられたサンプルスケーリング係数との積に基づいて、１．２８の倍数を含む前記単一のＰＴＷの長さを決定することと、
前記単一のＰＴＷの間に、サービングセル測定を実行することであって、前記サービングセル測定は、前記測定期間に関連付けられた前記複数の測定サンプルの各々を含む、ことと、
を含む、方法。
【請求項2】
前記複数の測定サンプルは、前記サービングセルの前記測定期間に関連付けられた測定サンプルの全体を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項3】
前記ＤＲＸサイクル長と前記サンプルスケーリング係数との前記積が１．２８の倍数ではない場合、前記単一のＰＴＷの前記長さを決定することは、１．２８で除算された前記積の結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、
前記整数に１．２８を乗算して、それによって前記単一のＰＴＷの前記長さを生成することと、を更に含む、請求項１に記載の方法。
【請求項4】
前記整数を生成することは、１．２８で除算された前記積の前記結果の値に対して天井関数を実行することを含む、請求項３に記載の方法。
【請求項5】
同期信号ブロック（ＳＳＢ）ベースの測定タイミング構成（ＳＭＴＣ）周期が２０ミリ秒（ｍｓ）より大きく、前記ＤＲＸサイクル長が０．６４ｓ以下である場合、前記単一のＰＴＷの前記長さを決定することは、前記ＤＲＸサイクル長と前記サンプルスケーリング係数との前記積にスケーリング係数ｋを乗算して、それによって新しい積を生成することを更に含む、請求項１に記載の方法。
【請求項6】
前記新しい積が１．２８の倍数ではない場合、前記単一のＰＴＷの前記長さを決定することは、１．２８で除算された前記新しい積の結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、
前記整数に１．２８を乗算して、それによって前記単一のＰＴＷの前記長さを生成することと、を更に含む、請求項５に記載の方法。
【請求項7】
周波数範囲１（ＦＲ１）においてアイドルモード又は非アクティブモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）におけるサービングセル測定のための方法であって、前記方法は、前記低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長が２．５６秒（ｓ）以上かつ１０．２４ｓ以下であることを識別することと、
前記低減された能力のＵＥのサービングセルに関連付けられた複数の測定サンプルは、前記ｅＤＲＸサイクルに関連付けられた測定期間内に測定されると決定することと、
前記ｅＤＲＸサイクル長と前記複数の測定サンプルに関連付けられたサンプルスケーリング係数との積に基づいて、前記測定期間の長さを決定することと、
前記測定期間の間に、サービングセル測定を実行することであって、前記サービングセル測定は、前記測定期間に関連付けられた前記複数の測定サンプルの各々を含む、ことと、
を含む、方法。
【請求項8】
周波数範囲２（ＦＲ２）においてアイドルモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）におけるサービングセル測定のための方法であって、前記方法は、前記低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長であって、間欠受信（ＤＲＸ）サイクル長を含む前記ｅＤＲＸサイクル長が、２０．４８秒（ｓ）以上かつ１０４８５．７６ｓ以下であることを識別することと、
前記低減された能力のＵＥのサービングセルに関連付けられた測定期間であって、複数の受信（Ｒｘ）ビームに関連付けられたビーム掃引と、単一のページング時間ウィンドウ（ＰＴＷ）内で実行される前記複数のＲｘビームの各々に関連付けられた複数の物理レイヤフィルタリングサンプルとを含む、前記測定期間が、前記ｅＤＲＸサイクルの前記単一のＰＴＷ内で生じると決定することと、
前記ＤＲＸサイクル長と、前記複数のＲｘビームに関連付けられたビーム掃引スケーリング係数と、前記複数の物理レイヤフィルタリングサンプルに関連付けられたサンプルスケーリング係数との積に基づいて、１．２８の倍数を含む前記単一のＰＴＷの長さを決定すること、
前記単一のＰＴＷ中にサービングセル測定を実行することであって、前記サービングセル測定は、前記複数のＲｘビームの各々に関連付けられたビーム掃引と、前記複数のＲｘビームの各々に関連付けられた前記複数の物理レイヤフィルタリングサンプルとを含む、ことと、
を含む、方法。
【請求項9】
前記複数のＲｘビームは、Ｒｘビームの全体を含む、請求項８に記載の方法。
【請求項10】
前記ＤＲＸサイクル長は、複数の可能なＤＲＸサイクル長のうちの１つを含み、前記ビーム掃引スケーリング係数は、複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの１つを含み、前記複数のビーム掃引スケーリング係数の各々は、前記複数の可能なＤＲＸサイクル長のうちの所与のＤＲＸサイクル長に関連付けられている、請求項８に記載の方法。
【請求項11】
前記複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの少なくとも第１のビーム掃引スケーリング係数と、前記複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの少なくとも第２のビーム掃引スケーリング係数とが同じ値を含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項12】
前記複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの第１のビーム掃引スケーリング係数は第１の値を含み、前記複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの第２のビーム掃引スケーリング係数は第２の異なる値を含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項13】
前記ＤＲＸサイクル長と、前記サンプルスケーリング係数と、前記ビーム掃引スケーリング係数との前記積が１．２８の倍数ではない場合、前記単一のＰＴＷの前記長さを決定することは、１．２８で除算された前記積の結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、
前記整数に１．２８を乗算して、それによって前記単一のＰＴＷの前記長さを生成することと、を更に含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項14】
同期信号ブロック（ＳＳＢ）ベースの測定タイミング構成（ＳＭＴＣ）周期が２０ミリ秒（ｍｓ）より大きく、前記ＤＲＸサイクル長が０．６４ｓ以下である場合、前記単一のＰＴＷの前記長さを決定することは、前記ＤＲＸサイクル長と、前記サンプルスケーリング係数と、前記ビーム掃引スケーリング係数との前記積にスケーリング係数ｋを乗算して、それによって新しい積を生成することを更に含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項15】
前記新しい積が１．２８の倍数ではない場合、前記単一のＰＴＷの前記長さを決定することは、１．２８で除算された前記新しい積の結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、
前記整数に１．２８を乗算して、それによって前記単一のＰＴＷの前記長さを生成することと、を更に含む、請求項１４に記載の方法。
【請求項16】
周波数範囲２（ＦＲ２）においてアイドルモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）におけるサービングセル測定のための方法であって、前記方法は、前記低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長であって、間欠受信（ＤＲＸ）サイクル長を含む前記ｅＤＲＸサイクル長が、２０．４８秒（ｓ）以上かつ１０４８５．７６ｓ以下であることを識別することと、
前記低減された能力のＵＥのサービングセルに関連付けられた測定期間が、前記ｅＤＲＸサイクルの単一のページング時間ウィンドウ（ＰＴＷ）内で生じると決定することであって、前記測定期間は、複数の受信（Ｒｘ）ビームのうちの少なくとも１つであって、前記複数のＲｘビームの全体よりも少ないものを含む前記複数のＲｘビームのうちの少なくとも１つに関連付けられたビーム掃引と、前記単一のＰＴＷ内で実行される前記複数のＲｘビームのうちの前記少なくとも１つの各々に関連付けられた複数の物理レイヤフィルタリングサンプルとを含む、ことと、
前記複数のＲｘビームの各々についてビーム掃引を実行することに関連付けられている第１のセットのビーム掃引スケーリング係数から、第１のビーム掃引スケーリング係数を決定することと、
第２のセットのビーム掃引スケーリング係数から第２のビーム掃引スケーリング係数を決定することであって、前記第２のセットのビーム掃引スケーリング係数は、前記複数のＲｘビームの全体よりも少ないビーム掃引を実行することに関連付けられており、前記第２のセットのビーム掃引スケーリング係数の各々は、前記第１のセットのビーム掃引スケーリング係数の各々よりも小さい値を含む、ことと、
前記ＤＲＸサイクル長と、前記第２のビーム掃引スケーリング係数と、前記複数の物理レイヤフィルタリングサンプルに関連付けられたサンプルスケーリング係数との積に基づいて、１．２８の倍数を含む前記単一のＰＴＷの長さを決定すること、
前記単一のＰＴＷ中にサービングセル測定を実行することであって、前記サービングセル測定は、前記複数のＲｘビームの前記少なくとも１つに関連付けられたビーム掃引と、前記複数のＲｘビームの前記少なくとも１つの各々に関連付けられた前記複数の物理レイヤフィルタリングサンプルとを含む、ことと、
を含む、方法。
【請求項17】
前記ＤＲＸサイクル長は、複数の可能なＤＲＸサイクル長のうちの１つを含み、前記第２のセットのビーム掃引スケーリング係数の各々は、前記複数の可能なＤＲＸサイクル長のうちの所与のＤＲＸサイクル長に関連付けられている、請求項１６に記載の方法。
【請求項18】
前記第２のセットのビーム掃引スケーリング係数の前記第２のビーム掃引スケーリング係数と、前記第２のセットのビーム掃引スケーリング係数の第３のビーム掃引スケーリング係数とは同じ値を含む、請求項１７に記載の方法。
【請求項19】
前記第２のセットのビーム掃引スケーリング係数の前記第２のビーム掃引スケーリング係数は第１の値を含み、前記第２のセットのビーム掃引スケーリング係数の第３のビーム掃引スケーリング係数は第２の異なる値を含む、請求項１７に記載の方法。
【請求項20】
前記ＤＲＸサイクル長と、前記サンプルスケーリング係数と、前記第２のビーム掃引スケーリング係数との前記積が１．２８の倍数ではない場合、前記単一のＰＴＷの前記長さを決定することは、１．２８で除算された前記積の結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、
前記整数に１．２８を乗算して、それによって前記単一のＰＴＷの前記長さを生成することと、を更に含む、請求項１７に記載の方法。
【請求項21】
同期信号ブロック（ＳＳＢ）ベースの測定タイミング構成（ＳＭＴＣ）周期が２０ミリ秒（ｍｓ）より大きく、前記ＤＲＸサイクル長が０．６４ｓ以下である場合、前記単一のＰＴＷの前記長さを決定することは、前記ＤＲＸサイクル長と、前記サンプルスケーリング係数と、前記第２のビーム掃引スケーリング係数との前記積にスケーリング係数ｋを乗算して、それによって新しい積を生成することを更に含む、請求項１７に記載の方法。
【請求項22】
前記新しい積が１．２８の倍数ではない場合、前記単一のＰＴＷの前記長さを決定することは、１．２８で除算された前記新しい積の結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、
前記整数に１．２８を乗算して、それによって前記単一のＰＴＷの前記長さを生成することと、を更に含む、請求項２１に記載の方法。
【請求項23】
周波数範囲２（ＦＲ２）においてアイドルモード又は非アクティブモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）におけるサービングセル測定のための方法であって、前記方法は、前記低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長が２．５６秒（ｓ）以上かつ１０．２４ｓ以下であることを識別することと、
前記低減された能力のＵＥのサービングセルに関連付けられたサービングセル測定が、前記ｅＤＲＸサイクルに関連付けられた測定期間内に実行されると決定することであって、前記サービングセル測定は、複数の受信（Ｒｘ）ビームに関連付けられたビーム掃引と、前記複数のＲｘビームの各々に関連付けられた複数の物理レイヤフィルタリングサンプルとを含む、ことと、
前記ｅＤＲＸサイクル長と、前記複数の物理レイヤフィルタリングサンプルに関連付けられたサンプルスケーリング係数と、前記複数のＲｘビームのビーム掃引に関連付けられたビーム掃引スケーリング係数との積に基づいて、前記測定期間の長さを決定することと、
前記測定期間中に前記サービングセル測定を実行することと、
を含む、方法。
【請求項24】
前記ｅＤＲＸサイクル長は、複数の可能なｅＤＲＸサイクル長のうちの１つを含み、前記ビーム掃引スケーリング係数は、複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの１つを含み、前記複数のビーム掃引スケーリング係数の各々は、前記複数の可能なｅＤＲＸサイクル長のうちの所与のｅＤＲＸサイクル長に関連付けられている、請求項２３に記載の方法。
【請求項25】
前記複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの少なくとも第１のビーム掃引スケーリング係数と、前記複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの少なくとも第２のビーム掃引スケーリング係数とが同じ値を含む、請求項２４に記載の方法。
【請求項26】
前記複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの第１のビーム掃引スケーリング係数は第１の値を含み、前記複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの第２のビーム掃引スケーリング係数は第２の異なる値を含む、請求項２４に記載の方法。
【請求項27】
周波数範囲１（ＦＲ１）においてアイドルモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）における周波数内又は周波数間近隣セル測定のための方法であって、前記方法は、前記低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長であって、間欠受信（ＤＲＸ）サイクル長を含む前記ｅＤＲＸサイクル長が、２０．４８秒（ｓ）以上かつ１０４８５．７６ｓ以下であることを識別することと、
前記低減された能力のＵＥの近隣セルに関連付けられた測定期間が、前記ｅＤＲＸサイクルの第１のページング時間ウィンドウ（ＰＴＷ）内に生じると決定することであって、前記測定期間は、単一のＰＴＷ内で実行される複数の近隣セル測定サンプルを含み、前記複数の近隣セル測定サンプルは、測定サンプルスケーリング係数に関連付けられている、ことと、
前記低減された能力のＵＥの近隣セルに関連付けられた評価期間が、前記ｅＤＲＸサイクルの第２のＰＴＷ内で生じること決定することであって、前記評価期間は、前記単一のＰＴＷ内で実行される複数の近隣セル評価サンプルを含み、前記複数の近隣セル評価サンプルは、評価サンプルスケーリング係数に関連付けられており、前記第１のＰＴＷ及び前記第２のＰＴＷは、同じ持続時間のＰＴＷ長を含む、ことと、
前記ＤＲＸサイクル長、前記測定サンプルスケーリング係数、及び前記評価サンプルスケーリング係数に基づいて、１．２８の倍数を含む前記ＰＴＷ長を決定することと、
前記第１のＰＴＷ中に前記複数の近隣セル測定サンプルを実行し、前記第２のＰＴＷ中に前記複数の近隣セル評価サンプルを実行することと、
を含む、方法。
【請求項28】
前記ＰＴＷ長を決定することは、前記測定サンプルスケーリング係数及び前記評価サンプルスケーリング係数のどちらが、より大きい値を含むかを決定することと、
前記より大きい値と前記ＤＲＸサイクル長との積を生成することと、
１．２８で除算された前記積の結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、
前記整数に１．２８を乗算して、それによって前記ＰＴＷ長を生成することと、
を更に含む、請求項２７に記載の方法。
【請求項29】
前記測定サンプルスケーリング係数及び前記評価サンプルスケーリング係数のどちらがより大きい値を含むかを決定することは、前記測定サンプルスケーリング係数及び前記評価サンプルスケーリング係数に対してｍａｘ関数を実行することを含む、請求項２８に記載の方法。
【請求項30】
前記整数を生成することは、１．２８で除算された前記積に対して天井関数を実行することを含む、請求項２８に記載の方法。
【請求項31】
前記第１のＰＴＷ及び前記第２のＰＴＷは同じＰＴＷである、請求項２７に記載の方法。
【請求項32】
前記第１のＰＴＷ及び前記第２のＰＴＷは異なるＰＴＷである、請求項２７に記載の方法。
【請求項33】
周波数範囲１（ＦＲ１）においてアイドルモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）における周波数内又は周波数間近隣セル測定のための方法であって、前記方法は、前記低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長であって、間欠受信（ＤＲＸ）サイクル長を含む前記ｅＤＲＸサイクル長が、２０．４８秒（ｓ）以上かつ１０４８５．７６ｓ以下であることを識別することと、
前記低減された能力のＵＥの近隣セルに関連付けられた検出期間が、前記ｅＤＲＸサイクルの１つ以上のページング時間ウィンドウ（ＰＴＷ）内で生じると決定することであって、前記検出期間は、単一のＰＴＷ内で実行される複数の近隣セル検出サンプルを含み、前記複数の近隣セル検出サンプルは、検出サンプルスケーリング係数に関連付けられており、前記１つ以上のＰＴＷの各々は、同じ持続時間のＰＴＷ長を含む、ことと、
前記ＤＲＸサイクル長と前記検出サンプルスケーリング係数との積に基づいて、１．２８の倍数を含む前記ＰＴＷ長を決定することと、
前記ＰＴＷ長、前記ＤＲＸサイクル長、及び前記複数の近隣セル検出サンプルに基づいて、前記複数の近隣セル検出サンプルの各々を実行するための前記１つ以上のＰＴＷについてのＰＴＷの総数を決定することと、
前記総数のＰＴＷ内で前記近隣セル検出サンプルを実行することと、
を含む、方法。
【請求項34】
前記ＤＲＸサイクル長と前記検出サンプルスケーリング係数との前記積が１．２８の倍数ではない場合、前記ＰＴＷ長を決定することは、１．２８で除算された前記積の結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、
前記整数に１．２８を乗算して、それによって前記ＰＴＷ長を生成することと、を更に含む、請求項３３に記載の方法。
【請求項35】
前記ＰＴＷの総数を決定することは、前記ＤＲＸサイクル長によって除算された前記ＰＴＷ長の第１の結果の値よりも大きい第１の最も近い整数に切り上げることによって、第１の整数を生成することと、
前記第１の整数によって除算された前記複数の近隣セル検出サンプルの第２の結果の値よりも大きい第２の最も近い整数に切り上げることによって、前記ＰＴＷの総数を含む第２の整数を生成することと、を更に含む、請求項３３に記載の方法。
【請求項36】
前記総数のＰＴＷは単一のＰＴＷを含む、請求項３３に記載の方法。
【請求項37】
周波数範囲１（ＦＲ１）においてアイドルモード又は非アクティブモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）における周波数内又は周波数間近隣セル測定のための方法であって、前記方法は、前記低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長が２．５６秒（ｓ）以上かつ１０．２４ｓ以下であることを識別することと、
測定サンプルスケーリング係数に関連付けられている複数の近隣セル測定サンプルが、前記ｅＤＲＸサイクルに関連付けられた測定期間内に実行されると決定することと、
評価サンプルスケーリング係数に関連付けられている複数の近隣セル評価サンプルが、前記ｅＤＲＸサイクルに関連付けられた評価期間内に実行されると決定することと、
検出サンプルスケーリング係数に関連付けられている複数の近隣セル検出サンプルが、前記ｅＤＲＸサイクルに関連付けられた検出期間内に実行されると決定することと、
前記ｅＤＲＸサイクル長と前記測定サンプルスケーリング係数との積に基づいて、前記測定期間の長さを決定することと、
前記ｅＤＲＸサイクル長と前記評価サンプルスケーリング係数との積に基づいて、前記評価期間の長さを決定することと、
前記ｅＤＲＸサイクル長と前記検出サンプルスケーリング係数との積に基づいて、前記検出期間の長さを決定することと、
前記測定期間内の前記複数の近隣セル測定サンプルと、前記評価期間内の複数の近隣セル評価サンプルと、前記検出期間内の前記複数の近隣セル検出サンプルとを実行することと、
を含む、方法。
【請求項38】
周波数範囲２（ＦＲ２）においてアイドルモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）における周波数内又は周波数間近隣セル測定のための方法であって、前記方法は、前記低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長であって、間欠受信（ＤＲＸ）サイクル長を含む前記ｅＤＲＸサイクル長が、２０．４８秒（ｓ）以上かつ１０４８５．７６ｓ以下であることを識別することと、
前記低減された能力のＵＥの近隣セルに関連付けられた測定期間が、前記ｅＤＲＸサイクルの第１のページング時間ウィンドウ（ＰＴＷ）内に生じると決定することであって、前記測定期間は、複数の近隣セル測定サンプルを含み、前記複数の近隣セル測定サンプルは、測定サンプルスケーリング係数に関連付けられており、前記測定期間は更に測定ビーム掃引を含む、ことと、
前記低減された能力のＵＥの近隣セルに関連付けられた評価期間が、前記ｅＤＲＸサイクルの第２のＰＴＷ内で生じると決定することであって、前記評価期間は、複数の近隣セル評価サンプルを含み、前記複数の近隣セル評価サンプルは、評価サンプルスケーリング係数に関連付けられており、前記第１のＰＴＷ及び前記第２のＰＴＷは、同じ持続時間のＰＴＷ長を含み、前記評価期間は更に評価ビーム掃引を含む、ことと、
前記ＤＲＸサイクル長と、前記測定サンプルスケーリング係数と、前記評価サンプルスケーリング係数と、前記測定ビーム掃引及び前記評価ビーム掃引に関連付けられたビーム掃引スケーリング係数とに基づいて、１．２８の倍数を含む前記ＰＴＷ長を決定することと、
前記第１のＰＴＷ中に前記複数の近隣セル測定サンプルを実行し、前記第２のＰＴＷ中に前記複数の近隣セル評価サンプルを実行することと、
を含む、方法。
【請求項39】
前記ＰＴＷ長を決定することは、前記測定サンプルスケーリング係数に前記ビーム掃引スケーリング係数を乗算したものを含む第１の積と、前記評価サンプルスケーリング係数に前記ビーム掃引スケーリング係数を乗算したものを含む第２の積とのいずれが、より大きい値を含むかを決定することと、
前記より大きい値と前記ＤＲＸサイクル長との第３の積を生成することと、
１．２８で除算された前記積の結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、
前記整数に１．２８を乗算して、それによって前記ＰＴＷ長を生成することと、を更に含む、請求項３８に記載の方法。
【請求項40】
前記第１の積及び前記第２の積のどちらがより大きい値を含むかを決定することは、前記第１の積及び前記第２の積に対してｍａｘ関数を実行することを含む、請求項３９に記載の方法。
【請求項41】
前記整数を生成することは、１．２８で除算された前記第３の積に対して天井関数を実行することを含む、請求項３９に記載の方法。
【請求項42】
前記第１のＰＴＷ及び前記第２のＰＴＷは同じＰＴＷである、請求項３７に記載の方法。
【請求項43】
前記第１のＰＴＷ及び前記第２のＰＴＷは異なるＰＴＷを含む、請求項３７に記載の方法。
【請求項44】
前記測定ビーム掃引及び前記評価ビーム掃引のうちの１つの少なくとも一部は、前記第１のＰＴＷ又は前記第２のＰＴＷのいずれかにおいて、並びに前記第１のＰＴＷ及び前記第２のＰＴＷとは異なる第３のＰＴＷにおいて実行される、請求項３８に記載の方法。
【請求項45】
前記ＤＲＸサイクル長は、複数の可能なＤＲＸサイクル長のうちの１つを含み、前記ビーム掃引スケーリング係数は、複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの１つを含み、前記複数のビーム掃引スケーリング係数の各々は、前記複数の可能なＤＲＸサイクル長のうちの所与のＤＲＸサイクル長に関連付けられている、請求項３８に記載の方法。
【請求項46】
前記複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの少なくとも第１のビーム掃引スケーリング係数と、前記複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの少なくとも第２のビーム掃引スケーリング係数とが同じ値を含む、請求項４５に記載の方法。
【請求項47】
前記複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの第１のビーム掃引スケーリング係数は第１の値を含み、前記複数のビーム掃引スケーリング係数のうちの第２のビーム掃引スケーリング係数は第２の異なる値を含む、請求項４５に記載の方法。
【請求項48】
周波数範囲２（ＦＲ２）においてアイドルモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）における周波数内又は周波数間近隣セル測定のための方法であって、前記方法は、前記低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長であって、間欠受信（ＤＲＸ）サイクル長を含む前記ｅＤＲＸサイクル長が、２０．４８秒（ｓ）以上かつ１０４８５．７６ｓ以下であることを識別することと、
前記低減された能力のＵＥの近隣セルに関連付けられた検出期間が、前記ｅＤＲＸサイクルの１つ以上のページング時間ウィンドウ（ＰＴＷ）内で生じると決定することであって、前記検出期間は、単一のＰＴＷ内で実行される複数の近隣セル検出サンプルを含み、前記複数の近隣セル検出サンプルは、検出サンプルスケーリング係数に関連付けられており、前記検出期間は更にビーム掃引を含み、前記１つ以上のＰＴＷの各々は、同じ持続時間のＰＴＷ長を含む、ことと、
前記ＤＲＸサイクル長と、前記検出サンプルスケーリング係数と、前記ビーム掃引に関連付けられたビーム掃引スケーリング係数との積に基づいて、１．２８の倍数を含む前記ＰＴＷ長を決定することと、
前記ＰＴＷ長、前記ＤＲＸサイクル長、及び前記複数の近隣セル検出サンプルに基づいて、前記複数の近隣セル検出サンプルの各々を実行するための前記１つ以上のＰＴＷについてのＰＴＷの総数を決定することと、
前記総数のＰＴＷ内で前記近隣セル検出サンプルを実行することと、
を含む、方法。
【請求項49】
前記ＤＲＸサイクル長と、前記検出サンプルスケーリング係数と、前記ビーム掃引スケーリング係数との前記積が１．２８の倍数ではない場合、前記ＰＴＷ長を決定することは、１．２８で除算された前記積の結果の値よりも大きい最も近い整数に切り上げることによって整数を生成することと、
前記整数に１．２８を乗算して、それによって前記ＰＴＷ長を生成することと、を更に含む、請求項４８に記載の方法。
【請求項50】
前記ＰＴＷの総数を決定することは、前記ＤＲＸサイクル長によって除算された前記ＰＴＷ長の第１の結果の値よりも大きい第１の最も近い整数に切り上げることによって、第１の整数を生成することと、
前記複数の近隣セル検出サンプルと前記ビーム掃引スケーリング係数との新しい積を前記第１の整数で除算した第２の結果の値よりも大きい第２の最も近い整数に切り上げることによって、前記ＰＴＷの総数を含む第２の整数を生成することと、を更に含む、請求項４８に記載の方法。
【請求項51】
前記総数のＰＴＷは単一のＰＴＷを含む、請求項４８に記載の方法。
【請求項52】
前記ビーム掃引は、前記１つ以上のＰＴＷの第１のＰＴＷ及び前記１つ以上のＰＴＷの第２のＰＴＷの間に実行される、請求項４８に記載の方法。
【請求項53】
周波数範囲２（ＦＲ２）においてアイドルモード又は非アクティブモードにある低減された能力のユーザ機器（ＵＥ）における周波数内又は周波数間近隣セル測定のための方法であって、前記方法は、前記低減された能力のＵＥに関連付けられた拡張間欠受信（ｅＤＲＸ）サイクル長が２．５６秒（ｓ）以上かつ１０．２４ｓ以下であることを識別することと、
測定サンプルスケーリング係数に関連付けられている複数の近隣セル測定サンプルが、前記ｅＤＲＸサイクルに関連付けられた測定期間であって、測定ビーム掃引を含む前記測定期間内に実行されると決定することと、
評価サンプルスケーリング係数に関連付けられている複数の近隣セル評価サンプルが、前記ｅＤＲＸサイクルに関連付けられた評価期間であって、評価ビーム掃引を含む前記評価期間内に実行されると決定することと、
検出サンプルスケーリング係数に関連付けられている複数の近隣セル検出サンプルが、前記ｅＤＲＸサイクルに関連付けられた検出期間であって、検出ビーム掃引を含む前記検出期間内に実行されると決定することと、
前記ｅＤＲＸサイクル長と、前記測定サンプルスケーリング係数と、及び前記測定ビーム掃引に関連付けられた測定ビーム掃引スケーリング係数との積に基づいて、前記測定期間の長さを決定することと、
前記ｅＤＲＸサイクル長と、前記評価サンプルスケーリング係数と、及び前記評価ビーム掃引に関連付けられた評価ビーム掃引スケーリング係数との積に基づいて、前記評価期間の長さを決定することと、
前記ｅＤＲＸサイクル長と、前記検出サンプルスケーリング係数と、及び前記検出ビーム掃引に関連付けられた検出ビーム掃引スケーリング係数との積に基づいて、前記検出期間の長さを決定することと、
前記測定期間内の前記複数の近隣セル測定サンプルと、前記評価期間内の複数の近隣セル評価サンプルと、前記検出期間内の前記複数の近隣セル検出サンプルとを実行することと、
を含む、方法。
【請求項54】
前記ｅＤＲＸサイクル長は、複数の可能なｅＤＲＸサイクル長のうちの１つを含み、前記測定ビーム掃引スケーリング係数は、複数の測定ビーム掃引スケーリング係数のうちの１つを含み、前記複数の測定ビーム掃引スケーリング係数の各々は、前記複数の可能なｅＤＲＸサイクル長のうちの所与のｅＤＲＸサイクル長に関連付けられている、請求項５３に記載の方法。
【請求項55】
前記ｅＤＲＸサイクル長は、複数の可能なｅＤＲＸサイクル長のうちの１つを含み、前記評価ビーム掃引スケーリング係数は、複数の評価ビーム掃引スケーリング係数のうちの１つを含み、前記複数の評価ビーム掃引スケーリング係数の各々は、前記複数の可能なｅＤＲＸサイクル長のうちの所与のｅＤＲＸサイクル長に関連付けられている、請求項５３に記載の方法。
【請求項56】
前記ｅＤＲＸサイクル長は、複数の可能なｅＤＲＸサイクル長のうちの１つを含み、前記検出ビーム掃引スケーリング係数は、複数の検出ビーム掃引スケーリング係数のうちの１つを含み、前記複数の検出ビーム掃引スケーリング係数の各々は、前記複数の可能なｅＤＲＸサイクル長のうちの所与のｅＤＲＸサイクル長に関連付けられている、請求項５３に記載の方法。
【国際調査報告】