(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公表特許公報(A)
(11)【公表番号】
(43)【公表日】2024-11-29
(54)【発明の名称】質量分析器
(51)【国際特許分類】
H01J 49/06 20060101AFI20241122BHJP
H01J 49/04 20060101ALI20241122BHJP
H01J 49/10 20060101ALI20241122BHJP
H01J 49/26 20060101ALI20241122BHJP
【FI】
H01J49/06 500
H01J49/06 700
H01J49/04 500
H01J49/10 500
H01J49/26
【審査請求】有
【予備審査請求】未請求
(21)【出願番号】P 2024532242
(86)(22)【出願日】2022-12-01
(85)【翻訳文提出日】2024-05-29
(86)【国際出願番号】 KR2022019404
(87)【国際公開番号】W WO2023101485
(87)【国際公開日】2023-06-08
(31)【優先権主張番号】10-2021-0171069
(32)【優先日】2021-12-02
(33)【優先権主張国・地域又は機関】KR
(81)【指定国・地域】
(71)【出願人】
【識別番号】522261075
【氏名又は名称】ヨンインエース カンパニー リミテッド
(74)【代理人】
【識別番号】110000051
【氏名又は名称】弁理士法人共生国際特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】カン,ソン ウォン
(72)【発明者】
【氏名】イ,フン
(72)【発明者】
【氏名】ジョン,ユン ジン
(72)【発明者】
【氏名】ウ,ジュ
(72)【発明者】
【氏名】イ,ヒョン-サン
(72)【発明者】
【氏名】イ,ジングン
(57)【要約】
【課題】分析対象イオンの透過率が高く、分解能及び測定正確度が改善された質量分析器を提供する。
【解決手段】本発明による質量分析器は、試料導入部、前記試料導入部と連結され、前記試料導入部から導入された試料をイオン化させるように構成されるイオン化部、イオン化部に隣接する抽出レンズ構造体、及び抽出レンズ構造体から抽出されたイオンビームをガイディングするように構成される第1及び第2ガイディングレンズを含むイオンレンズ部、及びイオンビームを検出するように構成される検出部を含み、抽出レンズ構造体の中心軸は第1方向に延長される第1軸であり、第1ガイディングレンズの中心軸は第1軸と第1距離を有して離隔される第2軸であり、第2ガイディングレンズの中心軸は第2軸と第2距離を有して離隔される第3軸であることを特徴とする。
【選択図】
図2
【特許請求の範囲】
【請求項1】
試料導入部と、
前記試料導入部と連結され、前記試料導入部から導入された試料をイオン化させるように構成されるイオン化部と、
前記イオン化部に隣接する抽出レンズ構造体及び前記抽出レンズ構造体から抽出されたイオンビームをガイディングするように構成される第1及び第2ガイディングレンズを含むイオンレンズ部と、
前記イオンビームを検出するように構成される検出部と、を含み、
前記抽出レンズ構造体の中心軸は、第1方向に延長される第1軸であり、
前記第1ガイディングレンズの中心軸は、前記第1軸と第1距離を有して離隔される第2軸であり、
前記第2ガイディングレンズの中心軸は、前記第2軸と第2距離を有して離隔される第3軸であることを特徴とする質量分析器。
【請求項2】
前記第1ガイディングレンズの内部空間は、
前記第1ガイディングレンズの前面開口から前記第1方向に延長される第1空間と、
前記第1空間から前記第1方向に対して傾いた方向に延長される第2空間と、
前記第2空間から前記第1ガイディングレンズの背面開口に向かって前記第1方向に延長される第3空間を含むことを特徴とする請求項1に記載の質量分析器。
【請求項3】
前記第1空間の中心軸は、前記第1軸と一致し、
前記第2空間の中心軸は、前記第1軸に対して勾配を有し、前記第2軸と交差し、
前記第3空間の中心軸は、前記第3軸と一致することを特徴とする請求項2に記載の質量分析器。
【請求項4】
前記第1ガイディングレンズは、均一な開口幅を有する複数のイオンレンズを含むことを特徴とする請求項1に記載の質量分析器。
【請求項5】
前記第1ガイディングレンズは、前記抽出レンズ構造体と前記第2ガイディングレンズとの間の第1部分,及び前記第1部分と前記第2ガイディングレンズとの間で前記第1部分と一体に連結される第2部分を含み、
前記第1部分は、中空の柱形状をその中心軸を含む平面で切断したものと同一の形状を有し、
前記第2部分は、中空の柱形状を有し、
前記第2軸は、前記第2部分の内部空間の中心軸として定義されることを特徴とする請求項1に記載の質量分析器。
【請求項6】
前記第1部分の下部は、前記抽出レンズ構造体と前記第2部分との間の開き空間に向かって開かれることを特徴とする請求項5に記載の質量分析器。
【請求項7】
前記第2部分は、前記第2ガイディングレンズと接触することを特徴とする請求項5に記載の質量分析器。
【請求項8】
前記第2ガイディングレンズは、貫通ホールを有する板形状を有し、
前記第3軸は、前記貫通ホールの中心軸として定義されることを特徴とする請求項1に記載の質量分析器。
【請求項9】
前記第1距離及び前記第2距離の各々は、1mm乃至3mmであることを特徴とする請求項1に記載の質量分析器。
【請求項10】
前記第2距離は、前記第1距離より小さいことを特徴とする請求項9に記載の質量分析器。
【請求項11】
前記イオン化部及び前記イオンレンズ部の間のインターフェイス部と、
前記イオンレンズ部及び前記検出部の間の質量分離部と、をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の質量分析器。
【請求項12】
前記抽出レンズ構造体は、前記インターフェイス部に隣接する第1抽出レンズ、及び前記第1抽出レンズと前記第1ガイディングレンズとの間の第2抽出レンズを含み、
前記第1及び第2抽出レンズの各々は、中空のコーン形状を有することを特徴とする請求項11に記載の質量分析器。
【請求項13】
前記第1抽出レンズは、その側壁を貫通してその内側壁を露出させる少なくとも1つ以上の側面開口を有することを特徴とする請求項12に記載の質量分析器。
【請求項14】
前記試料導入部は、
液体状態の試料をエアロゾル(aerosol)状態に変更するように構成されるネブライザーと、
前記ネブライザーと連結され、温度制御を通じて相対的にサイズが小さいエアロゾルのみが前記イオン化部に移動できるようにエアロゾルの流れを制御するように構成されるスプレーチャンバーを含むことを特徴とする請求項1に記載の質量分析器。
【請求項15】
前記イオン化部は、
前記試料導入部の前記スプレーチャンバーと連結され、最も内側に配置される第1チューブと、
端部が前記イオンレンズ部に向かい、最も外側に配置される第3チューブと、
前記第1チューブ及び前記第3チューブの間に配置される第2チューブと、
前記第3チューブの外部を囲む螺旋形状を有する誘導コイルと、を含むことを特徴とする請求項14に記載の質量分析器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は質量分析器に関し、より具体的に第1中心軸を有する抽出レンズ構造体、前記第1中心軸と離隔された第2中心軸を有する第1ガイディングレンズ、及び前記第2中心軸と離隔された第3中心軸を有する第2ガイディングレンズを含む質量分析器に関する。
【背景技術】
【0002】
半導体製造現場で工程状態を確認するために様々なイオン又は元素の濃度、分布等を測定及び分析できる方法が要求されている。また、大気及び水質の汚染が加速化されることによって環境現場で汚染程度等を測定及び分析できる方法が要求されている。このような測定及び分析のために質量分析器(mass spectrometer)が使用される。
【0003】
質量分析器は、質量分析で化学作用剤等を識別又は分析する機器である。このような質量分析器は、物質の質量を質量対電荷の比(mass-to-charge ratio)で測定して試料の構成成分を分析する。質量分析器内では、様々な方法を使用して試料がイオン化されるが、。イオン化された試料は、電気場及び/又は磁気場を経て加速化される。即ち、イオン化された試料の一部又は全部は、電気場及び/又は磁気場等によって経路が曲がり、。検出器は、イオン化された試料を検出することができる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
本発明の目的は、分析対象イオンの透過率(transmission efficiency)が高くて、分解能(resolution)及び測定正確度が改善された質量分析器を提供することにある。本発明が解決しようとする課題は、上記の課題に制限されず、他の課題は以下の記載から該当技術分野で通常の知識を有する者に明確に理解されるであろう。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本発明による質量分析器は、試料導入部、前記試料導入部と連結され、前記試料導入部から導入された試料をイオン化させるように構成されるイオン化部、前記イオン化部に隣接する抽出レンズ構造体及び前記抽出レンズ構造体から抽出されたイオンビームをガイディングするように構成される第1及び第2ガイディングレンズを含むイオンレンズ部、及び前記イオンビームを検出するように構成される検出部を含み、前記抽出レンズ構造体の中心軸は第1方向に延長される第1軸であり、前記第1ガイディングレンズの中心軸は前記第1軸と第1距離を有して離隔される第2軸であり、前記第2ガイディングレンズの中心軸は前記第2軸と第2距離を有して離隔される第3軸であることを特徴とする。
【0006】
前記第1ガイディングレンズの内部空間は前記第1ガイディングレンズの前面開口から前記第1方向に延長される第1空間、前記第1空間から前記第1方向に対して傾いた方向に延長される第2空間、及び前記第2空間から前記第1ガイディングレンズの背面開口に向かって前記第1方向に延長される第3空間を含むことができる。
【0007】
前記第1空間の中心軸は前記第1軸と一致し、前記第2空間の中心軸は前記第1軸に対して勾配を有し、前記第2軸と交差し、前記第3空間の中心軸は前記第3軸と一致することができる。
【0008】
前記第1ガイディングレンズは均一な開口幅を有する複数のイオンレンズを含むことができる。
【0009】
前記第1ガイディングレンズは前記抽出レンズ構造体と前記第2ガイディングレンズとの間の第1部分、及び前記第1部分と前記第2ガイディングレンズとの間で前記第1部分と一体に連結される第2部分を含み、前記第1部分は中空の柱形状をその中心軸を含む平面で切断したような形状を有し、前記第2部分は中空の柱形状を有し、前記第2軸は前記第2部分の内部空間の中心軸として定義されることができる。
【0010】
前記第1部分の下部は前記抽出レンズ構造体と前記第2部分との間の開き空間に向かって開かれることができる。
【0011】
前記第2部分は前記第2ガイディングレンズと接触することができる。
【0012】
前記第2ガイディングレンズは貫通ホールを有する板形状を有し、前記第3軸は前記貫通ホールの中心軸として定義されることができる。
【0013】
前記第1距離及び前記第2距離の各々は1mm乃至3mmである。
【0014】
前記第2距離は前記第1距離より小さい。
【0015】
前記イオン化部及び前記イオンレンズ部の間のインターフェイス部、及び前記イオンレンズ部及び前記検出部の間の質量分離部をさらに含むことができる。
【0016】
前記抽出レンズ構造体は前記インターフェイス部に隣接する第1抽出レンズ、及び前記第1抽出レンズと前記第1ガイディングレンズとの間の第2抽出レンズを含み、前記第1及び第2抽出レンズの各々は中空のコーン形状を有することができる。
【0017】
前記第1抽出レンズはその側壁を貫通してその内側壁を露出させる少なくとも1つ以上の側面開口を有することができる。
【0018】
前記試料導入部は液体状態の試料をエアロゾル(aerosol)状態に変更するように構成されるネブライザー、及び前記ネブライザーと連結され、温度制御を通じて相対的にサイズが小さいエアロゾルのみが前記イオン化部に移動できるようにエアロゾルの流れを制御するように構成されるスプレーチャンバーを含むことができる。
【0019】
前記イオン化部は前記試料導入部の前記スプレーチャンバーと連結され、最も内側に配置される第1チューブ、端部が前記イオンレンズ部に向かい、最も外側に配置される第3チューブ、前記第1チューブ及び前記第3チューブの間に配置される第2チューブ、及び前記第3チューブの外部を囲む螺旋形状を有する誘導コイルを含むことができる。
【発明の効果】
【0020】
本発明による質量分析器は第1中心軸を有する抽出レンズ構造体、前記第1中心軸と離隔された第2中心軸を有する第1ガイディングレンズ、及び前記第2中心軸と離隔された第3中心軸を有する第2ガイディングレンズを含むイオンレンズ部によって分析対象イオンの透過率を高めることができる。したがって、本発明による質量分析器の分解能及び測定正確度が改善できる。
【図面の簡単な説明】
【0021】
【
図1】本発明の実施形態による質量分析器を説明するための概念図である。
【
図2】本発明の実施形態による質量分析器のイオンレンズ部を説明するための拡大図であって、
図1のA部分に対応する。
【
図3】本発明の実施形態による質量分析器のイオンレンズ部をより詳細に説明するための拡大図であって、
図2のB部分に対応する。
【
図4】本発明の一実施形態による質量分析器のイオンレンズ部内でのイオンビームの経路及び透過率を説明するためのシミュレーション図である。
【
図5】本発明の一実施形態による質量分析器のイオンレンズ部内でのイオンビームの経路及び透過率を説明するためのシミュレーション図である。
【
図6】本発明の他の一実施形態による質量分析器のイオンレンズ部を説明するための拡大図であって、
図1のA部分に対応する。
【
図7】本発明の他の一実施形態による質量分析器のイオンレンズ部内でのイオンビームの経路及び透過率を説明するためのシミュレーション図である。
【
図8】本発明の他の一実施形態による質量分析器のイオンレンズ部内でのイオンビームの経路及び透過率を説明するためのシミュレーション図である。
【発明を実施するための形態】
【0022】
本発明を実施するための最善の形状を示す図面は
図2である。本発明の構成及び効果を十分に理解するために、添付の図面を参照して本発明の好ましい実施形態を詳細に説明する。
【0023】
本発明は以下で開示される実施形態に限定されるものではなく、様々な形態で具現され、多様な修正及び変更を加えることができる。本実施形態を通じて、本発明の開示を完全にし、通常の知識を有する者が実施できるようにする。添付図面での構成要素は、説明の簡易化のために実際より拡大して示し、各構成要素の比率は誇張されるか、或いは縮小されることがある。本明細書で使用された用語は実施形態を説明するためのものであり、本発明を制限するものではない。また、本明細書で使用される用語は、定義されない限り、該当技術分野で通常の知識を有する者に公知の意味として解釈される。
【0024】
本明細書で、単数形は文句で特別に言及しない限り、複数形も含む。明細書で使用される‘含む(comprises)’及び/又は‘含んでいる(comprising)は言及された構成要素、段階、動作、及び/又は素子は1つ以上の他の構成要素、段階、動作、及び/又は素子の存在又は追加を排除しない。
【0025】
本明細書である層が他の層‘上に’にあると言及される場合に、それは他の層の上面に直接形成されるか、それらの間に第3の層が介在されてもよい。本明細書で第1、第2等の用語が多様な領域、層を記述するために使用されるが、これらの領域、層がこのような用語によって限定されてはならない。
【0026】
これらの用語は、単なる所定領域又は層を他の領域又は層と区別させるために使用されるだけである。したがって、いずれか一実施形態で第1部分として言及された部分が他の実施形態では第2部分として言及されることもある。ここに説明され、例示される実施形態は、その相補的な実施形態も含む。明細書の全体に亘って同一の参照番号で表示された部分は同一の構成要素を示す。
【0027】
以下、図面を参照して、本発明による質量分析器の実施形態を説明する。
【0028】
図1は本発明の実施形態による質量分析器を説明するための概念図である。
図1に示すように、本発明による質量分析器は試料導入部10、イオン化部20、インターフェイス部30、イオンレンズ部40、反応部50、質量分離部60、及び検出部70を含む。本発明による質量分析器は誘導結合プラズマ(inductively coupled plasma;ICP)を利用する質量分析器であると図示及び説明されるが、これは単なる例示的なものであり、本発明はこれに制限されなく、本発明による質量分析器は以下では図示及び説明するイオンレンズ部40を含む様々な方式の質量分析器であってもよい。
【0029】
試料導入部10はネブライザー11及びスプレーチャンバー12を含む。ネブライザー11は液体状態の試料をエアロゾル(aerosol)状態に変えてスプレーチャンバー12の内部に注入する。スプレーチャンバー12はネブライザー11と連結される。スプレーチャンバー12は試料の変動を低減し、後述するイオン化部20に移動する試料のサイズ及び量を一定にする。具体的に、スプレーチャンバー12は温度制御を通じて相対的にサイズが大きいエアロゾルを除去し、相対的にサイズが小さいエアロゾルのみがイオン化部20に移動できるようにエアロゾルの流れを制御する。実施形態によれば、少なくとも1つのガス供給管を通じてネブライザー11及び/又はスプレーチャンバー12にキャリヤーガス(carrier gas)が供給される。キャリヤーガスは試料がプラズマPに導入されるようにする。
【0030】
イオン化部20は試料導入部10と連結される。イオン化部20は、例えばプラズマトーチ(plasma torch)と指称される。イオン化部20は第1チューブ21、第2チューブ22、第3チューブ23、及び誘導コイル26を含む。第1チューブ21は試料導入部10のスプレーチャンバー12と連結されることができ、イオン化部20の最も内側に配置される。第3チューブ23はイオン化部20の最も外側に配置されることができ、第2チューブ22は第1チューブ21と第3チューブ23との間に配置される。
【0031】
第2チューブ22及び第3チューブ23は各々第1ガス供給管24及び第2ガス供給管25と連結される。第1乃至第3チューブ21、22、23は、各々第1方向D1に延長される中空の柱形状を有する。第1乃至第3チューブ21、22、23は、第1方向D1と直交する平面で切断した断面視において、中心軸が互いに一致する同心円形状を有する。第1乃至第3チューブ21、22、23は、例えば石英(Quartz)、アルミナ(Alumina)、プラチナ(Platinum)、又はサファイア(Sapphire)で形成される。
【0032】
第1チューブ21を通じて試料及びキャリヤーガスが移動することができ、第1ガス供給管24及び第2チューブ22を通じて補助ガス(auxiliary gas)が移動することができ、第2ガス供給管25及び第3チューブ23を通じて冷却ガス(coolant gas)が移動する。補助ガスはプラズマPとの接触によって第1及び第2チューブ21、22の端部が破損されることを防止又は最小化する。
【0033】
冷却ガスはプラズマPとの接触によって第3チューブ23の内壁が破損されることを防止又は最小化する。キャリヤーガス、補助ガス、及び冷却ガスは、例えばアルゴン(Ar)を含む。誘導コイル26は、例えば第3チューブ23の外部を少なくとも2回以上囲む螺旋形状を有する。誘導コイル26はイオン化部20の内部に時間的に変化する強い電磁気場を生成する。誘導コイル26によって生成された電磁気場は内部のガスを放電させてプラズマPを生成する。高温のプラズマPは試料導入部10から導入されたエアロゾル状態の試料をイオン化させる。
【0034】
実施形態によれば、イオン化部20は誘導コイル26と連結される高電力のRF電源及び誘導コイル26と第3チューブ23の外壁との間の遮蔽板をさらに含む。インターフェイス部30はイオン化部20で生成されたプラズマPからイオン化された試料をイオンビームの形態で抽出する。インターフェイス部30は第1方向D1にイオン化部20と隣接する。インターフェイス部30はチャンバーCHに連結される。インターフェイス部30はイオン化部20とチャンバーCHとの間に提供される。インターフェイス部30はイオンビームを抽出するサンプラーコーン(sampler cone)及びスキマーコーン(skimmer cone)を含む。サンプラーコーン及びスキマーコーンは、例えば第1方向D1に行くほど、第2方向D2への幅が大きくなる中空のコーン形状を有する。
【0035】
チャンバーCHの内部にイオンレンズ部40、反応部50、質量分離部60、及び検出部70が提供される。チャンバーCHの内部は真空状態に維持される。イオンレンズ部40、反応部50、質量分離部60、及び検出部70の中で少なくとも1つ以上は、例えばチャンバーCHの内部のサブチャンバー内に提供されることができ、サブチャンバーはチャンバーCHの内部と異なる真空状態に維持される。イオンレンズ部40、反応部50、質量分離部60、及び検出部70は、例えば第1方向D1に沿って配列されるが、本発明はこれに制限されない。
【0036】
イオンレンズ部40はインターフェイス部30と反応部50との間に提供される。実施形態によれば、イオンレンズ部40の少なくとも一部はインターフェイス部30と連結及び/又は重畳される。イオンレンズ部40は少なくとも1つ以上のレンズを含むことができ、1つ以上のレンズを通じてフォトン、中性粒子等を遮断し、分析対象になるイオン(以下、分析対象イオン)の経路を制御する。以下では
図2、
図3、及び
図6を参照してイオンレンズ部40の細部構成に対して詳細に説明する。
【0037】
反応部50はイオンレンズ部40と質量分離部60との間に提供される。反応部50は衝突/反応セル(collision/reaction cell)と指称される。実施形態によれば、少なくとも1つのガス供給管を通じて反応部50に衝突/反応ガスが供給される。衝突/反応ガスは反応部50の内部の様々なイオンと衝突することができ、妨害イオン(例えば、40Ar、40Ar16O、38ArH等)を非妨害種に変換させるか、或いは分析対象イオンを異なる質量を有するイオンに変換させる。
【0038】
質量分離部60は反応部50と検出部70との間に提供される。質量分離部60は、例えば四重極子(quadrupole)方式、二重集束磁気セクタ(double focusing magnetic sector)方式、又は飛行時間(time-of-flight)方式を利用することができ、イオンを質量対電荷比(m/z)に応じて分離する。図示されたものと異なり、イオンレンズ部40と反応部50との間に、その他の質量分離部60が追加的に設けられる。
【0039】
検出部70は質量分離部60の末端と隣接することができ、質量分離部60で分離された、分析対象イオンの質量スペクトルを検出する。検出部70は、例えばチャンネル電子増倍器(channel electron multiplier)、ファラデーカップ(Faraday cup)、又は離散ダイノード電子増倍器(discrete dynode electron multiplier)を利用する。
【0040】
図2は本発明の実施形態による質量分析器のイオンレンズ部を説明するための拡大図であって、
図1のA部分に対応される。
図3は本発明の実施形態による質量分析器のイオンレンズ部をより詳細に説明するための拡大図であって、
図2のB部分に対応される。
【0041】
図1及び
図2に示すように、本発明による質量分析器のイオンレンズ部40は抽出レンズ構造体ES、第1ガイディングレンズGL1、及び第2ガイディングレンズGL2を含む。抽出レンズ構造体ESは第1抽出レンズEL1及び第2抽出レンズEL2を含む。第1抽出レンズEL1、第2抽出レンズEL2、第1ガイディングレンズGL1、及び第2ガイディングレンズGL2は第1方向D1を沿って配列される。この時、抽出レンズEL1、EL2の数及びガイディングレンズGL1、GL2の数は単なる例示的なものであり、本発明はこれに制限されない。
【0042】
抽出レンズ構造体ESはインターフェイス部30に隣接するように配置される。第1抽出レンズEL1はインターフェイス部30と第2抽出レンズEL2との間に提供されることができ、第2抽出レンズEL2は第1抽出レンズEL1と第1ガイディングレンズGL1との間に提供される。第1及び第2抽出レンズEL1、EL2の各々は、例えば第1方向D1に行くほど、第2方向D2及び第3方向D3への幅が大きくなる中空のコーン形状を有する。
【0043】
抽出レンズ構造体ESの中心軸(即ち、第1及び第2抽出レンズEL1、EL2の各々の中心軸)は、第1方向D1に延長される第1軸AX1として定義される。第1抽出レンズEL1の中心軸は、第2抽出レンズEL2の中心軸と一致する。第1及び第2抽出レンズEL1、EL2の各々は第1軸AX1を中心に対称的な形状を有する。第1及び第2抽出レンズEL1、EL2の各々は、前面及び背面に開口を有する。本明細書で、前面は、イオン化部20及びインターフェイス部30に向かう方向(即ち、第1方向D1の反対方向)の面を意味し、背面は、反応部50に向かう方向(即ち、第1方向D1)の面を意味する。前面及び背面は、第1方向D1と直交し、第2方向D2及び第3方向D3と平行な面である。
【0044】
第1抽出レンズEL1はインターフェイス部30に向かう第1前面開口110、及び第1ガイディングレンズGL1に向かう第1背面開口130を有する。第1前面開口110の直径は第1背面開口130の直径より小さい。実施形態によれば、第1抽出レンズEL1はその側壁を貫通してその内側壁を露出させる少なくとも1つ以上の側面開口を有するが、本発明はこれに制限されない。
【0045】
第2抽出レンズEL2は第1抽出レンズEL1の第1前面開口110に向かう第2前面開口210、及び第1ガイディングレンズGL1に向かう第2背面開口230を有する。第2前面開口210の直径は第2背面開口230より小さい。第2前面開口210の直径は第1背面開口130の直径より小さい。
【0046】
第2抽出レンズEL2の少なくとも一部は第1抽出レンズEL1と第2方向D2に重畳される。いいかえると、第2抽出レンズEL2の少なくとも一部は第1抽出レンズEL1の内部に位置する。第1及び第2抽出レンズEL1、EL2に第1電圧印加部が各々連結される。実施形態によれば、第1電圧印加部は第1抽出レンズEL1の第1背面開口130及び第2抽出レンズEL2の第2背面開口230に各々隣接する。第1電圧印加部の各々に印加された電圧によって第1及び第2抽出レンズEL1、EL2はイオン化部20及びインターフェイス部30を通過したイオンビームを抽出する。
【0047】
第1及び第2ガイディングレンズGL1、GL2は反応部50に隣接するように配置される。第1ガイディングレンズGL1は抽出レンズ構造体ESと第2ガイディングレンズGL2との間に提供され、第2ガイディングレンズGL2は第1ガイディングレンズGL1と反応部50との間に提供される。実施形態によれば、第1ガイディングレンズGL1は抽出レンズ構造体ESの第2抽出レンズEL2と第1方向D1に互いに離隔される。第1及び第2ガイディングレンズGL1、GL2の各々は前面及び背面に開口を有する。
【0048】
第1ガイディングレンズGL1は第2抽出レンズEL2の第2背面開口230に向かう第3前面開口310、及び第2ガイディングレンズGL2に向かう第3背面開口330を有する。第3前面開口310の直径は第3背面開口330の直径と実質的に同一である。第3前面開口310から第3背面開口330につながる第1ガイディングレンズGL1の内部空間の中心軸は第1方向D1に延長され、第1軸AX1と第3方向D3に離隔される第2軸AX2として定義される。第2軸AX2と第3前面開口310の最高点との間の距離は第2軸AX2と第3背面開口330の最低点との間の距離と同一である。本明細書で、第1ガイディングレンズGL1の中心軸は第1ガイディングレンズGL1の内部空間の中心軸を意味する。第2軸AX2は第1軸AX1から第3方向D3に第1距離OAD1くらい離隔される。第1距離OAD1は、例えば約1mm乃至約3mmにできる。
【0049】
第1ガイディングレンズGL1の内部空間は第3前面開口310から第1方向D1に延長される第1空間GL1P1、第1空間GL1P1から第1方向D1に対して傾いた方向に延長される第2空間GL1P2、及び第2空間GL1P2から第3背面開口330に向かって第1方向D1に延長される第3空間GL1P3を含む。第1空間GL1P1の中心軸P1AXは第1軸AX1と一致する。第2空間GL1P2の中心軸P2AXは第1軸AX1に対して勾配を有する。第2空間GL1P2の中心軸P2AXは第2軸AX2と交差する。第3空間GL1P3の中心軸P3AXは第2空間GL1P2の中心軸P2AXに対して勾配を有することができ、第1空間GL1P1の中心軸P1AXと平行である。
【0050】
図3に示すように、第1ガイディングレンズGL1は均一な開口幅を有する複数のイオンレンズの集合と同一である。この時、第1空間GL1P1の中心軸P1AXは第1空間GL1P1の開口の中心を連結した線であり、第2空間GL1P2の中心軸P2AXは第2空間GL1P2の開口の中心を連結した線であり、第3空間GL1P3の中心軸P3AXは第3空間GL1P3の開口の中心を連結した線である。複数のイオンレンズの開口は第3前面開口310と第3背面開口330との間に配列される。この時、第1空間GL1P1の中心軸P1AX、第2空間GL1P2の中心軸P2AX、及び第3空間GL1P3の中心軸P3AXで電気場の強さは均一である。
【0051】
再び
図1及び
図2に示すように、第2ガイディングレンズGL2はその一領域を貫通する貫通ホール400を有する板形状を有する。板形状を有する第2ガイディングレンズGL2は貫通ホール400を通じて、第1ガイディングレンズGL1によって経路が曲がる分析対象イオンを損失なしで引き寄せる。貫通ホール400の中心軸は第3軸AX3として定義される。本明細書で、第2ガイディングレンズGL2の中心軸は貫通ホール400の中心軸を意味する。第3軸AX3は第1ガイディングレンズGL1の第3空間GL1P3の中心軸P3AXと一致する。第3軸AX3は第1軸AX1と平行である。第3軸AX3は第2軸AX2から第3方向D3に第2距離OAD2くらい離隔される。第2距離OAD2は、例えば約1mm乃至3mmである。実施形態によれば、第2距離OAD2は第1距離OAD1と異なる。例えば、第2距離OAD2は第1距離OAD1より小さいが、本発明はこれに制限されない。
【0052】
第1及び第2ガイディングレンズGL1、GL2に第2電圧印加部が各々連結される。第2電圧印加部の各々に印加された電圧によって第1及び第2ガイディングレンズGL1、GL2は第1及び第2抽出レンズEL1、EL2を通過したイオンビームの経路を制御する。第2電圧印加部の各々の電圧はイオンのエネルギー別に最適の経路を決定するために調整される。
【0053】
具体的に、第1及び第2抽出レンズEL1、EL2を通過したイオンビームの中で、電荷を有するイオンは第2電圧印加部の各々に印加された電圧によって経路が曲がって第2ガイディングレンズGL2の貫通ホール400を通じて反応部50に向かうことができ、直進性を有するフォトン、中性粒子等は第1軸AX1に沿って第1方向D1に進行して第2ガイディングレンズGL2の背面開口を通過できず遮断される。本発明による質量分析器の第1及び第2ガイディングレンズGL1、GL2はフォトン、中性粒子、準安定イオン(metastable ion)等を遮断し、分析対象イオンの経路を制御する。したがって、本発明による質量分析器の測定正確度が改善される。
【0054】
図4及び
図5は本発明の一実施形態による質量分析器のイオンレンズ部内でのイオンビームの経路及び透過率を説明するためのシミュレーション図である。より具体的に、
図4は第1方向D1及び第3方向D3と平行な平面で切断した断面を示すシミュレーション図であり、
図5は第1方向D1及び第2方向D2と平行な平面で切断した断面を示すシミュレーション図である。この時、空間電荷効果による電流は約2μAであり、分析対象イオンを含むイオンビームIBは約40amu(atomic mass unit)乃至約238amuの質量範囲を有するように設定された。
【0055】
図4及び
図5でイオンレンズEL1、EL2、GL1、GL2を通過するイオンの透過率を測定するために後段に検出器Dを配置したが、本発明による質量分析器はこれに制限されず、イオンレンズEL1、EL2、GL1、GL2と検出器Dとの間には、反応部50(
図1参照)及び質量分離部60(
図1参照)が設けられる。
【0056】
図4及び
図5に示すように、シミュレーション上でイオンビームIBは100%の透過率で検出器Dに到達する。いいかえると、第1軸AX1を中心軸にする抽出レンズ構造体ES、第1軸AX1と離隔される第2軸AX2を中心軸にする第1ガイディングレンズGL1、及び第2軸AX2と離隔される第3軸AX3を中心軸にする第2ガイディングレンズGL2によって、イオンビームIBは完全に検出器Dに向かって進行する。第2ガイディングレンズGL2の前段で、イオンビームIBの第3方向D3への幅は第2ガイディングレンズGL2の貫通ホール400(
図2参照)の第3方向D3への幅より小さいか、或いは同一であり、イオンビームIBの第2方向D2への幅は第2ガイディングレンズGL2の貫通ホール400(
図2参照)の第2方向D2への幅より小さいか、或いは同一である。
【0057】
本発明による質量分析器は分析対象イオンの透過率を高めることによって、分解能及び測定正確度を改善する。
図6は本発明の他の一実施形態による質量分析器のイオンレンズ部を説明するための拡大図であって、
図1のA部分に対応される。以下では、説明の簡易化のために
図2及び
図3を参照して説明したことは省略し、相違点に対して詳細に説明する。
【0058】
図1及び
図6に示すように、第1ガイディングレンズGL1は、例えば第2抽出レンズEL2と第2ガイディングレンズGL2との間に設けられる第1部分GL1a、及び第2部分GL1bと一体に連結され、第1部分GL1aと第2ガイディングレンズGL2との間に設けられる第2部分GL1bを含む。第2部分GL1bは第1部分GL1aの背面に連結されて互いに一体をなす。第1部分GL1aは第2抽出レンズEL2と第1方向D1に互いに離隔される。第2部分GL1bは第2ガイディングレンズGL2と接触する。
【0059】
第1部分GL1aは中空の柱形状をその中心軸を含む平面で切断したような形状を有する。第2部分GL1bは中空の柱形状(例えば、中空の円柱形状)を有する。第1部分GL1aの下部は第2抽出レンズEL2と第2部分GL1bとの間の開き空間に向かって開かれることでき、第1部分GL1aの上部は外部から遮断される。本明細書で、下部は第3方向D3の反対方向に向かう部分を意味し、上部は第3方向D3に向かう部分を意味する。第2抽出レンズEL2と第2部分GL1bとの間に空き空間が設けられることによって、分析対象イオンの経路が安定化される。
【0060】
第1ガイディングレンズGL1の第2部分GL1bの内部空間の中心軸は第1方向D1に延長され、第1軸AX1と第3方向D3に離隔される第2軸AX2として定義される。第1ガイディングレンズGL1の第1部分GL1aは第2軸AX2と第3方向D3に離隔されるが、これは単なる例示的なものであり、本発明はこれに制限されなく、第1部分GL1aは第2軸AX2より下に延長されることもできる。本明細書で、第1ガイディングレンズGL1の中心軸は第1ガイディングレンズGL1の第2部分GL1bの内部空間の中心軸を意味する。第2軸AX2は第1軸AX1から第3方向D3に第1距離OAD1くらい離隔される。第2軸AX2は第2ガイディングレンズGL2の貫通ホール400の中心軸である第3軸AX3から第3方向D3に第2距離OAD2くらい離隔される。第1距離OAD1及び第2距離OAD2の各々は、例えば約1mm乃至約3mmである。
【0061】
図7及び
図8は本発明の他の一実施形態による質量分析器のイオンレンズ部内でのイオンビームの経路及び透過率を説明するためのシミュレーション図である。
図7は第1方向D1及び第3方向D3と平行な平面で切断した断面を示すシミュレーション図であり、
図8は第1方向D1及び第2方向D2と平行な平面で切断した断面を示すシミュレーション図である。この時、空間電荷効果による電流は約2μAであり、分析対象イオンを含むイオンビームIBは約40amu(atomic mass unit)乃至約238amuの質量範囲を有するように設定された。
【0062】
図7及び
図8でイオンレンズEL1、EL2、GL1、GL2を通過するイオンの透過率を測定するために後段に検出器Dを配置したことを説明したが、本発明による質量分析器はこれに制限されなく、イオンレンズEL1、EL2、GL1、GL2と検出器Dとの間には反応部50(
図1参照)及び質量分離部60(
図1参照)が設けられる。
【0063】
図7及び
図8に示すように、シミュレーション上でイオンビームIBは約82.5%の透過率で検出器Dに到達する。いいかえると、第1軸AX1を中心軸とする抽出レンズ構造体ES、第1軸AX1と離隔される第2軸AX2を中心軸とする第1ガイディングレンズGL1、及び第2軸AX2と離隔される第3軸AX3を中心軸とする第2ガイディングレンズGL2によって、イオンビームIBは高い透過率で検出器Dに向かって進行する。第2ガイディングレンズGL2の前段で、イオンビームIBの第3方向D3への幅は第2ガイディングレンズGL2の貫通ホール400(
図2参照)の第3方向D3への幅より小さいか、或いは同一であり、イオンビームIBの第2方向D2への幅は第2ガイディングレンズGL2の貫通ホール400(
図2参照)の第2方向D2への幅より小さいか、或いは同一である。本発明による質量分析器は分析対象イオンの透過率を高めることによって、分解能及び測定正確度を改善できる。
【0064】
以上、図面を参照して本発明の実施形態を説明したが、本発明が属する技術分野で通常の知識を有する者は、技術的思想や必須の特徴を変更せずに、他の具体的な実施形態を構築できる。したがって、上記の実施形態はすべての面で例示的なものであり、限定的ではない。
【産業上の利用可能性】
【0065】
本発明の質量分析器は、第1中心軸を有する抽出レンズ構造体、前記第1中心軸と離隔された第2中心軸を有する第1ガイディングレンズ、及び前記第2中心軸と離隔された第3中心軸を有する第2ガイディングレンズを含む質量分析器として利用可能である。
【符号の説明】
【0066】
10 試料導入部
11 ネブライザー
12 スプレーチャンバー
20 イオン化部
21 第1チューブ
22 第2チューブ
23 第3チューブ
24 第1ガス供給管
25 第2ガス供給管
26 誘導コイル
30 インターフェイス部
40 イオンレンズ部
50 反応部
60 質量分離部
70 検出部
110 第1前面開口
130 第1背面開口
210 第2前面開口
230 第2背面開口
310 第3前面開口
330 第3背面開口
400 貫通ホール
AX1 第1軸
AX2 第2軸
AX3 第3軸
CH チャンバー
D 検出器
ES 抽出レンズ構造体
EL1 イオンレンズ、第1抽出レンズ
EL2 イオンレンズ、第2抽出レンズ
GL1 第1ガイディングレンズ
GL1a 第1部分
GL1b 第2部分
GL1P1 第1空間
GL1P2 第2空間
GL1P3 第3空間
GL2 第2ガイディングレンズ
IB イオンビーム
OAD1 第1距離
OAD2 第2距離
P プラズマ
P1AX 第1空間の中心軸
P2AX 第2空間の中心軸
P3AX 第3空間の中心軸
【国際調査報告】