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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公表特許公報(A)
(11)【公表番号】
(43)【公表日】2024-12-26
(54)【発明の名称】巻き取り紙位置追跡
(51)【国際特許分類】
G06T 7/00 20170101AFI20241219BHJP
G06T 7/70 20170101ALI20241219BHJP
G06T 7/60 20170101ALI20241219BHJP
B65H 26/02 20060101ALI20241219BHJP
【ＦＩ】
G06T7/00 610B
G06T7/70 A
G06T7/60 180B
B65H26/02
【審査請求】有
【予備審査請求】未請求
(21)【出願番号】P 2024534473
(86)(22)【出願日】2022-12-08
(85)【翻訳文提出日】2024-08-05
(86)【国際出願番号】 CA2022051791
(87)【国際公開番号】W WO2023102657
(87)【国際公開日】2023-06-15
(31)【優先権主張番号】63/287,675
(32)【優先日】2021-12-09
(33)【優先権主張国・地域又は機関】US
(81)【指定国・地域】
(71)【出願人】
【識別番号】524217344
【氏名又は名称】アイビーエス オーストリア ゲーエムベーハー
【氏名又は名称原語表記】ＩＢＳ ＡＵＳＴＲＩＡ ＧＭＢＨ
(74)【代理人】
【識別番号】100085660
【弁理士】
【氏名又は名称】鈴木 均
(74)【代理人】
【識別番号】100149892
【弁理士】
【氏名又は名称】小川 弥生
(74)【代理人】
【識別番号】100185672
【弁理士】
【氏名又は名称】池田 雅人
(72)【発明者】
【氏名】レウナネン，ユハ
(72)【発明者】
【氏名】ブリッジ，コリン ピーター
【テーマコード（参考）】
3F105
5L096
【Ｆターム（参考）】
3F105AA01
3F105BA35
3F105DA64
5L096AA06
5L096BA03
5L096CA05
5L096EA39
5L096FA09
5L096FA32
5L096FA52
5L096FA60
5L096FA64
5L096FA66
5L096FA67
5L096FA69
5L096GA08
5L096HA05
5L096MA07
(57)【要約】
巻き取り紙位置追跡を容易にする方法が開示される。方法は、第１の巻き取り紙処理段階において巻き取り紙上で検出された異常の位置を表す複数の第１段階異常位置の表現を受信することと、第２の巻き取り紙処理段階において巻き取り紙上で検出された異常の位置を表す複数の第２段階異常位置の表現を受信することと、複数の異なる候補位置オフセットの各々について、候補位置オフセットを複数の第１段階異常位置および複数の第２段階異常位置と比較して、候補位置オフセットに関連付けられる差分の表現を決定することと、差分の表現を候補位置オフセットと関連付けることと、差分の表現に少なくとも部分的に基づいて、候補位置オフセットから決定された位置オフセットを識別すること、とを含む。他の方法、システム、およびコンピュータ可読媒体が開示される。
【選択図】図１
【選択図】図１
【特許請求の範囲】
【請求項1】
巻き取り紙位置追跡を容易にするための方法であって、第１の巻き取り紙処理段階における巻き取り紙上で検出された異常の位置を表す複数の第１段階異常位置の表現を受信することと、
第２の巻き取り紙処理段階における前記巻き取り紙上で検出された異常の位置を表す複数の第２段階異常位置の表現を受信することと、
複数の異なる候補位置オフセットの各々について、
前記候補位置オフセットを前記複数の第１段階異常位置および前記複数の第２段階異常位置と比較して、前記候補位置オフセットに関連付けられる差分の表現を決定することと、
前記差分の前記表現を前記候補位置オフセットと関連付けることと、
前記差分の前記表現に少なくとも部分的に基づいて、前記候補位置オフセットから決定された位置オフセットを識別することと
を含む、方法。
【請求項2】
前記候補位置オフセットを前記複数の第１段階異常位置および前記複数の第２段階異常位置と比較することが、前記候補位置オフセットを前記複数の第１段階異常位置に適用して、複数のオフセットされた第１段階異常位置を決定することと、
前記複数のオフセットされた第１段階異常位置と前記複数の第２段階異常位置との間の前記差分を決定することと
を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項3】
前記差分を決定することが、前記複数のオフセットされた第１段階異常位置の各々についてそれぞれのオフセット差分を決定することを含む、請求項２に記載の方法。
【請求項4】
前記候補位置オフセットを適用することが、前記複数の第１段階異常位置の各々について、前記第１段階異常位置の位置に基づいて調整された少なくとも１つの候補オフセット距離を決定することと、前記少なくとも１つの候補オフセット距離を前記第１段階異常位置に加算することとを含む、請求項２または３に記載の方法。
【請求項5】
前記候補位置オフセットを前記複数の第１段階異常位置および前記複数の第２段階異常位置と比較することが、前記候補位置オフセットを前記複数の第２段階異常位置に適用して、複数のオフセットされた第２段階異常位置を決定することと、
前記複数のオフセットされた第２段階異常位置と前記複数の第１段階異常位置との間の前記差分を決定することと
を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項6】
前記差分を決定することが、前記複数のオフセットされた第２段階異常位置の各々についてそれぞれのオフセット差分を決定することを含む、請求項５に記載の方法。
【請求項7】
前記候補位置オフセットを適用することが、前記複数の第２段階異常位置の各々について、前記第２段階異常位置の位置に基づいて調整された少なくとも１つの候補オフセット距離を決定することと、前記少なくとも１つの候補オフセット距離を前記第２段階異常位置に加算することとを含む、請求項５または６に記載の方法。
【請求項8】
前記候補位置オフセットを前記複数の第１段階異常位置および前記複数の第２段階異常位置と比較することが、前記オフセット差分の各々について、前記オフセット差分および前記オフセット差分に関連付けられた異常重みに基づいてそれぞれの加重オフセット差分を決定することを含む、請求項３、４、６、および７のいずれか一項に記載の方法。
【請求項9】
前記オフセット差分の各々について、異常の重大度であって、前記重大度から前記関連付けられたオフセット差分が決定された前記重大度に基づいて、前記それぞれの関連付けられた異常重みを決定することを含む、請求項８に記載の方法。
【請求項10】
前記複数の第２段階異常位置の前記表現を受信することが、複数の候補第２段階異常位置の表現を受信することと、前記複数の候補第２段階異常位置のサブセットとして前記複数の第２段階異常位置を決定することとを含む、請求項１から９のいずれか一項に記載の方法。
【請求項11】
前記複数の第２段階異常位置を決定することが、前記複数の候補第２段階異常位置をランク付けすることと、１つまたは複数の最高ランクの候補第２段階異常位置として前記サブセットを選択することとを含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項12】
前記複数の候補第２段階異常位置をランク付けすることが、現在前記第２の巻き取り紙処理段階における前記巻き取り紙の位置に対する前記第２段階異常位置の近接度に少なくとも部分的に基づいて、前記複数の候補第２段階異常位置の各々をランク付けすることを含む、請求項１１に記載の方法。
【請求項13】
前記複数の候補第２段階異常位置をランク付けすることが、前記第２段階異常位置に関連付けられた異常の重大度に少なくとも部分的に基づいて、前記複数の候補第２段階異常位置の各々をランク付けすることを含む、請求項１１または１２に記載の方法。
【請求項14】
前記第２の巻き取り紙処理段階が、前記第１の巻き取り紙処理段階の下流にある、請求項１から１３に記載の方法。
【請求項15】
前記決定された位置オフセットを識別することが、前記差分の前記表現のうちの最小のものに関連付けられた前記複数の候補位置オフセットのうちの候補位置オフセットを識別することを含む、請求項１から１４のいずれか一項に記載の方法。
【請求項16】
前記複数の第１段階異常位置の前記表現を受信することが、前記第１の巻き取り紙処理段階における前記巻き取り紙の第１段階画像の１つまたは複数のセットを受信することと、
第１段階画像の前記１つまたは複数のセットに対する少なくとも１つの第１段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、前記複数の第１段階異常位置を決定することと
を含む、請求項１から１５のいずれか一項に記載の方法。
【請求項17】
第１段階画像の前記１つまたは複数のセットが、第１段階画像の第１のセットおよび第１段階画像の第２のセットを含み、前記少なくとも１つの第１段階異常識別感度が、第１の第１段階異常識別感度および第２の第１段階異常識別感度を含み、前記第２の第１段階異常識別感度が前記第１の第１段階異常識別感度とは異なり、
前記複数の第１段階異常位置を決定することが、
第１段階画像の前記第１のセットに対する前記第１の第１段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、第１段階異常位置の第１のセットを決定することと、
第１段階画像の前記第２のセットに対する前記第２の第１段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、第１段階異常位置の第２のセットを決定することと
を含む、請求項１６に記載の方法。
【請求項18】
前記第１および第２の第１段階異常識別感度の各々が、それぞれのピクセル位置に各々が関連付けられた複数の異常識別閾値を含む、請求項１７に記載の方法。
【請求項19】
前記第１の第１段階異常識別感度に関連付けられた少なくとも１つの異常密度を決定することと、前記第１の第１段階異常識別感度に関連付けられた前記少なくとも１つの異常密度および前記第１の第１段階異常識別感度に少なくとも部分的に基づいて、前記第２の第１段階異常識別感度を決定することとを含む、請求項１７または１８に記載の方法。
【請求項20】
前記少なくとも１つの異常密度を決定することが、前記複数の第１段階異常位置の前記第１のセットによって表された異常の数を決定することを含む、請求項１９に記載の方法。
【請求項21】
前記少なくとも１つの異常密度を決定することが、前記複数の第１段階異常位置の前記第１のセットによって表された異常に含まれる異常ピクセルの少なくとも１つの数を決定することを含む、請求項１９または２０に記載の方法。
【請求項22】
前記第１の第１段階異常識別感度に関連付けられた前記少なくとも１つの異常密度と所望の第１段階異常密度との間の少なくとも１つの差分を決定することを含み、前記第２の第１段階異常識別感度を決定することが、前記決定された少なくとも１つの差分に少なくとも部分的に基づいて、前記第２の第１段階異常識別感度を決定することを含む、請求項１９から２１のいずれか一項に記載の方法。
【請求項23】
前記複数の第２段階異常位置の前記表現を受信することが、前記第２の巻き取り紙処理段階における前記巻き取り紙の第２段階画像の１つまたは複数のセットを受信することと、
第２段階画像の前記１つまたは複数のセットに対する少なくとも１つの第２段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、前記複数の第２段階異常位置を決定することと
を含み、
第２段階画像の前記１つまたは複数のセットが、第２段階画像の第１のセットおよび第２段階画像の第２のセットを含み、
前記少なくとも１つの第２段階異常識別感度が、第１の第２段階異常識別感度および第２の第２段階異常識別感度を含み、
前記複数の第２段階異常位置を決定することが、
第２段階画像の前記第１のセットに対する前記第１の第２段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、第２段階異常位置の第１のセットを決定することと、
第２段階画像の前記第２のセットに対する前記第２の第２段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、第２段階異常位置の第２のセットを決定することと
を含み、
前記方法が、前記第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた少なくとも１つの異常密度を決定することと、前記第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた前記少なくとも１つの異常密度および前記第１の第２段階異常識別感度に少なくとも部分的に基づいて、前記第２の第２段階異常識別感度を決定することとを含み、
前記方法が、前記第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた前記少なくとも１つの異常密度と所望の第２段階異常密度との間の差分を決定することを含み、前記所望の第２段階異常密度が前記所望の第１段階異常密度の９０％未満であり、
前記第２の第２段階異常識別感度を決定することが、前記第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた前記少なくとも１つの異常密度と前記所望の第２段階異常密度との間の前記決定された差分に少なくとも部分的に基づいて、前記第２の第２段階異常識別感度を決定することを含む、
請求項２２に記載の方法。
【請求項24】
前記第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた前記少なくとも１つの異常密度を決定することが、前記複数の第２段階異常位置の前記第１のセットによって表された異常に含まれる異常ピクセルの数を決定することを含む、請求項２３に記載の方法。
【請求項25】
前記第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた前記少なくとも１つの異常密度を決定することが、前記複数の第２段階異常位置の前記第１のセットによって表された異常の数を決定することを含む、請求項２３または２４に記載の方法。
【請求項26】
前記第１および第２の第２段階異常識別感度の各々が、それぞれのピクセル位置に各々が関連付けられた複数の異常識別閾値を含む、請求項２３から２５のいずれか一項に記載の方法。
【請求項27】
前記複数の第２段階異常位置の前記表現を受信することが、前記第２の巻き取り紙処理段階における前記巻き取り紙の第２段階画像の１つまたは複数のセットを受信することと、
第２段階画像の前記１つまたは複数のセットに対する少なくとも１つの第２段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、前記複数の第２段階異常位置を決定することと
を含む、請求項１から２２のいずれか一項に記載の方法。
【請求項28】
第２段階画像の前記１つまたは複数のセットが、第２段階画像の第１のセットおよび第２段階画像の第２のセットを含み、前記少なくとも１つの第２段階異常識別感度が、第１の第２段階異常識別感度および第２の第２段階異常識別感度を含み、前記第２の第２段階異常識別感度が前記第１の第２段階異常識別感度とは異なり、
前記複数の第２段階異常位置を決定することが、
第２段階画像の前記第１のセットに対する前記第１の第２段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、第２段階異常位置の第１のセットを決定することと、
第２段階画像の前記第２のセットに対する前記第２の第２段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、第２段階異常位置の第２のセットを決定することと
を含む、請求項２７に記載の方法。
【請求項29】
前記第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた少なくとも１つの異常密度を決定することと、前記第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた前記少なくとも１つの異常密度および前記第１の第２段階異常識別感度に少なくとも部分的に基づいて、前記第２の第２段階異常識別感度を決定することとを含む、請求項２８に記載の方法。
【請求項30】
前記少なくとも１つの異常密度を決定することが、前記複数の第２段階異常位置の前記第１のセットによって表された異常の数を決定することを含む、請求項２９に記載の方法。
【請求項31】
前記少なくとも１つの異常密度を決定することが、前記複数の第２段階異常位置の前記第１のセットによって表された異常に含まれる異常ピクセルの少なくとも１つの数を決定することを含む、請求項２９または３０に記載の方法。
【請求項32】
前記第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた前記少なくとも１つの異常密度と所望の第２段階異常密度との間の少なくとも１つの差分を決定することを含み、前記第２の第２段階異常識別感度を決定することが、前記決定された少なくとも１つの差分に少なくとも部分的に基づいて、前記第２の第２段階異常識別感度を決定することを含む、請求項２９から３１のいずれか一項に記載の方法。
【請求項33】
前記第１および第２の第１段階異常識別感度の各々が、それぞれのピクセル位置に各々が関連付けられた複数の異常識別閾値を含む、請求項２８から３２のいずれか一項に記載の方法。
【請求項34】
前記第１の巻き取り紙処理段階における前記巻き取り紙の第１段階画像の較正セットを受信することと、第１段階画像の前記較正セットに対する第１段階較正異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、少なくとも１つの第１段階較正異常密度を決定することと、
前記第１段階較正異常識別感度および前記少なくとも１つの第１段階較正異常密度に少なくとも部分的に基づいて、較正ベースの第１段階異常識別感度を決定することと
を含む、請求項１から３３のいずれか一項に記載の方法。
【請求項35】
前記少なくとも１つの第１段階較正異常密度を決定することが、第１段階画像の前記較正セットに対する前記較正第１段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、異常位置の第１段階較正セットを決定することと、
異常位置の前記第１段階較正セットによって表された異常の数を決定することと
を含む、請求項３４に記載の方法。
【請求項36】
前記少なくとも１つの第１段階較正異常密度を決定することが、第１段階画像の前記較正セットに含まれる異常に含まれる異常ピクセルの数を決定することを含む、請求項３４または３５に記載の方法。
【請求項37】
前記第１段階較正異常識別感度および前記較正ベースの第１段階異常識別感度の各々が、それぞれのピクセル位置に各々が関連付けられた複数の異常識別閾値を含む、請求項３４から３６のいずれか一項に記載の方法。
【請求項38】
前記較正ベースの第１段階異常識別感度を決定することが、前記少なくとも１つの第１段階較正異常密度と所望の第１段階較正異常密度との間の少なくとも１つの差分を決定することと、前記決定された少なくとも１つの差分に少なくとも部分的に基づいて、前記較正ベースの第１段階異常識別感度を決定することとを含む、請求項３４から３７のいずれか一項に記載の方法。
【請求項39】
第１段階画像の前記第１のセットが、第１段階画像の前記較正セットのうちの少なくとも１つを含む、請求項３４から３８のいずれか一項に記載の方法。
【請求項40】
第１段階画像の前記第１のセットおよび第１段階画像の前記較正セットが同じ画像である、請求項３９に記載の方法。
【請求項41】
前記第１の巻き取り紙処理段階において前記巻き取り紙上で検出された欠陥の位置を表す１つまたは複数の検出された第１段階欠陥位置の表現を受信することと、前記第２の巻き取り紙処理段階における前記巻き取り紙の検知された第２段階位置の表現を受信することであって、前記検知された第２段階位置が、前記第２の巻き取り紙処理段階における前記巻き取り紙の現在位置を表す、受信することと、
前記決定された位置オフセット、前記巻き取り紙の前記検知された第２段階位置、および前記１つまたは複数の検出された第１段階欠陥位置に基づいて、前記欠陥のうちの少なくとも１つに対する前記検知された第２段階位置の欠陥近接度を決定することと、
前記決定された欠陥近接度が閾値基準を満たす場合、前記第２の巻き取り紙処理段階における処理が調整されるようにするために信号を生成することと
を含む、請求項１から４０のいずれか一項に記載の方法。
【請求項42】
前記欠陥近接度を決定することが、前記決定された位置オフセットを前記１つまたは複数の検出された第１段階欠陥位置に適用して、前記第２の巻き取り紙処理段階における前記巻き取り紙について予測された欠陥の位置を表す１つまたは複数の予測された第２段階欠陥位置を決定することと、前記１つまたは複数の予測された第２段階欠陥位置を前記検知された第２段階位置と比較することとを含む、請求項４１に記載の方法。
【請求項43】
前記欠陥近接度を決定することが、前記決定された位置オフセットを前記検知された第２段階位置に適用して、オフセットされた検知位置を決定することと、前記１つまたは複数の検出された第１段階欠陥位置を前記オフセットされた検知位置と比較することとを含む、請求項４１に記載の方法。
【請求項44】
巻き取り紙位置追跡を容易にするためのシステムであって、請求項１から４３のいずれか一項に記載の方法を実行するように構成された少なくとも１つのプロセッサを備える、システム。
【請求項45】
少なくとも１つのプロセッサによって実行されると、請求項１から４３のいずれか一項に記載の方法を前記少なくとも１つのプロセッサに実行させるコードを記憶している、非一時的コンピュータ可読媒体。
【発明の詳細な説明】
【関連出願の相互参照】
【0001】
本出願は、その全体が参照により本明細書に組み込まれる、２０２１年１２月９日に出願された「ＷＥＢ ＰＯＳＩＴＩＯＮ ＴＲＡＣＫＩＮＧ」と題する米国仮特許出願第６３／２８７，６７５号の利益を主張する。
【技術分野】
【0002】
本開示の実施形態は、位置追跡に関し、より詳細には、巻き取り紙位置追跡を容易にすることに関する。
【背景技術】
【0003】
製紙工場または板紙製造工場などにおける巻き取り紙位置追跡は、巻き取り紙処理にとって重要である。例えば、巻き取り機での巻き取り紙の巻き戻しおよび巻き直し中の正確な巻き取り紙位置追跡は、処理中の巻き取り紙の中の欠陥の識別および修理に役立つ場合がある。巻き取り紙位置追跡のためのいくつかの既知のシステムは、一定の間隔で巻き取り紙にコードを付加し、その後巻き取り紙上の位置を表すものとしてコードを読み取るインクまたはレーザマーカを使用することができる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
しかしながら、そのようなシステムは、面倒であり、費用がかかり、危険な場合があり、かつ／または継続的なメンテナンスを必要とする場合がある。
【課題を解決するための手段】
【0005】
様々な実施形態によれば、巻き取り紙位置追跡を容易にするための方法が提供され、方法は、第１の巻き取り紙処理段階における巻き取り紙上で検出された異常の位置を表す複数の第１段階異常位置の表現を受信することと、第２の巻き取り紙処理段階における巻き取り紙上で検出された異常の位置を表す複数の第２段階異常位置の表現を受信することと、複数の異なる候補位置オフセットの各々について、候補位置オフセットを複数の第１段階異常位置および複数の第２段階異常位置と比較して、候補位置オフセットに関連付けられる差分の表現を決定することと、差分の表現を候補位置オフセットと関連付けることとを含む。方法は、差分の表現に少なくとも部分的に基づいて、候補位置オフセットから決定された位置オフセットを識別することを含む。
候補位置オフセットを複数の第１段階異常位置および複数の第２段階異常位置と比較することは、候補位置オフセットを複数の第１段階異常位置に適用して、複数のオフセットされた第１段階異常位置を決定することと、複数のオフセットされた第１段階異常位置と複数の第２段階異常位置との間の差分を決定することとを含む場合がある。
差分を決定することは、複数のオフセットされた第１段階異常位置の各々についてそれぞれのオフセット差分を決定することを含む場合がある。
候補位置オフセットを複数の第１段階異常位置および複数の第２段階異常位置と比較することは、候補位置オフセットを複数の第１段階異常位置に適用して、複数のオフセットされた第１段階異常位置を決定することと、複数のオフセットされた第１段階異常位置と複数の第２段階異常位置との間の差分を決定することとを含む場合がある。
差分を決定することは、複数のオフセットされた第１段階異常位置の各々についてそれぞれのオフセット差分を決定することを含む場合がある。
【0006】
候補位置オフセットを適用することは、複数の第１段階異常位置の各々について、第１段階異常位置の位置に基づいて調整された少なくとも１つの候補オフセット距離を決定することと、少なくとも１つの候補オフセット距離を第１段階異常位置に加算することとを含む場合がある。
候補位置オフセットを複数の第１段階異常位置および複数の第２段階異常位置と比較することは、候補位置オフセットを複数の第２段階異常位置に適用して、複数のオフセットされた第２段階異常位置を決定することと、複数のオフセットされた第２段階異常位置と複数の第１段階異常位置との間の差分を決定することとを含む場合がある。
差分を決定することは、複数のオフセットされた第２段階異常位置の各々についてそれぞれのオフセット差分を決定することを含む場合がある。
候補位置オフセットを適用することは、複数の第２段階異常位置の各々について、第２段階異常位置の位置に基づいて調整された少なくとも１つの候補オフセット距離を決定することと、少なくとも１つの候補オフセット距離を第２段階異常位置に加算することを含む場合がある。
候補位置オフセットを複数の第１段階異常位置および複数の第２段階異常位置と比較することは、オフセット差分の各々について、オフセット差分およびオフセット差分に関連付けられた異常重みに基づいてそれぞれの加重オフセット差分を決定することを含む場合がある。
方法は、オフセット差分の各々について、関連付けられたオフセット差分が決定された異常の重大度に基づいて、それぞれの関連付けられた異常重みを決定することを含む場合がある。
候補位置オフセットを複数の第１段階異常位置および複数の第２段階異常位置と比較することは、候補位置オフセットを複数の第２段階異常位置に適用して、複数のオフセットされた第２段階異常位置を決定することと、複数のオフセットされた第２段階異常位置と複数の第１段階異常位置との間の差分を決定することとを含む場合がある。
差分を決定することは、複数のオフセットされた第２段階異常位置の各々についてそれぞれのオフセット差分を決定することを含む場合がある。
候補位置オフセットを適用することは、複数の第２段階異常位置の各々について、第２段階異常位置の位置に基づいて調整された少なくとも１つの候補オフセット距離を決定することと、少なくとも１つの候補オフセット距離を第２段階異常位置に加算することを含む場合がある。
候補位置オフセットを複数の第１段階異常位置および複数の第２段階異常位置と比較することは、オフセット差分の各々について、オフセット差分およびオフセット差分に関連付けられた異常重みに基づいてそれぞれの加重オフセット差分を決定することを含む場合がある。
方法は、オフセット差分の各々について、関連付けられたオフセット差分が決定された異常の重大度に基づいて、それぞれの関連付けられた異常重みを決定することを含む場合がある。
【0007】
複数の第２段階異常位置の表現を受信することは、複数の候補第２段階異常位置の表現を受信することと、複数の候補第２段階異常位置のサブセットとして複数の第２段階異常位置を決定することとを含む場合がある。
複数の第２段階異常位置を決定することは、複数の候補第２段階異常位置をランク付けすることと、１つまたは複数の最高ランクの候補第２段階異常位置としてサブセットを選択することとを含む場合がある。
複数の候補第２段階異常位置をランク付けすることは、現在第２の巻き取り紙処理段階における巻き取り紙の位置に対する第２段階異常位置の近接度に少なくとも部分的に基づいて、複数の候補第２段階異常位置の各々をランク付けすることを含む場合がある。
複数の候補第２段階異常位置をランク付けすることは、候補第２段階異常位置に関連付けられた異常の重大度に少なくとも部分的に基づいて、複数の候補第２段階異常位置の各々をランク付けすることを含む場合がある。
第２の巻き取り紙処理段階は、第１の巻き取り紙処理段階の下流にあり得る。
複数の第２段階異常位置を決定することは、複数の候補第２段階異常位置をランク付けすることと、１つまたは複数の最高ランクの候補第２段階異常位置としてサブセットを選択することとを含む場合がある。
複数の候補第２段階異常位置をランク付けすることは、現在第２の巻き取り紙処理段階における巻き取り紙の位置に対する第２段階異常位置の近接度に少なくとも部分的に基づいて、複数の候補第２段階異常位置の各々をランク付けすることを含む場合がある。
複数の候補第２段階異常位置をランク付けすることは、候補第２段階異常位置に関連付けられた異常の重大度に少なくとも部分的に基づいて、複数の候補第２段階異常位置の各々をランク付けすることを含む場合がある。
第２の巻き取り紙処理段階は、第１の巻き取り紙処理段階の下流にあり得る。
【0008】
決定された位置オフセットを識別することは、差分の表現のうちの最小のものに関連付けられた複数の候補位置オフセットのうちの候補位置オフセットを識別することを含む場合がある。
複数の第１段階異常位置の表現を受信することは、第１の巻き取り紙処理段階における巻き取り紙の第１段階画像の１つまたは複数のセットを受信することと、第１段階画像の１つまたは複数のセットに対する少なくとも１つの第１段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、複数の第１段階異常位置を決定することとを含む場合がある。
第１段階画像の１つまたは複数のセットは、第１段階画像の第１のセットおよび第１段階画像の第２のセットを含む場合があり、少なくとも１つの第１段階異常識別感度は、第１の第１段階異常識別感度および第２の第１段階異常識別感度を含む場合があり、第２の第１段階異常識別感度は第１の第１段階異常識別感度とは異なる。複数の第１段階異常位置を決定することは、第１段階画像の第１のセットに対する第１の第１段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、第１段階異常位置の第１のセットを決定することと、第１段階画像の第２のセットに対する第２の第１段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、第１段階異常位置の第２のセットを決定することとを含む場合がある。
第１および第２の第１段階異常識別感度の各々は、それぞれのピクセル位置に各々が関連付けられた複数の異常識別閾値を含む場合がある。
複数の第１段階異常位置の表現を受信することは、第１の巻き取り紙処理段階における巻き取り紙の第１段階画像の１つまたは複数のセットを受信することと、第１段階画像の１つまたは複数のセットに対する少なくとも１つの第１段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、複数の第１段階異常位置を決定することとを含む場合がある。
第１段階画像の１つまたは複数のセットは、第１段階画像の第１のセットおよび第１段階画像の第２のセットを含む場合があり、少なくとも１つの第１段階異常識別感度は、第１の第１段階異常識別感度および第２の第１段階異常識別感度を含む場合があり、第２の第１段階異常識別感度は第１の第１段階異常識別感度とは異なる。複数の第１段階異常位置を決定することは、第１段階画像の第１のセットに対する第１の第１段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、第１段階異常位置の第１のセットを決定することと、第１段階画像の第２のセットに対する第２の第１段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、第１段階異常位置の第２のセットを決定することとを含む場合がある。
第１および第２の第１段階異常識別感度の各々は、それぞれのピクセル位置に各々が関連付けられた複数の異常識別閾値を含む場合がある。
【0009】
方法は、第１の第１段階異常識別感度に関連付けられた少なくとも１つの異常密度を決定することと、第１の第１段階異常識別感度に関連付けられた少なくとも１つの異常密度および第１の第１段階異常識別感度に少なくとも部分的に基づいて、第２の第１段階異常識別感度を決定することとを含む場合がある。
少なくとも１つの異常密度を決定することは、複数の第１段階異常位置の第１のセットによって表された異常の数を決定することと、を含む場合がある。
少なくとも１つの異常密度を決定することは、複数の第１段階異常位置の第１のセットによって表された異常に含まれる異常ピクセルの少なくとも１つの数を決定することを含む場合がある。
方法は、第１の第１段階異常識別感度に関連付けられた少なくとも１つの異常密度と所望の第１段階異常密度との間の少なくとも１つの差分を決定することを含む場合があり、第２の第１段階異常識別感度を決定することは、決定された少なくとも１つの差分に少なくとも部分的に基づいて、第２の第１段階異常識別感度を決定することを含む場合がある。
少なくとも１つの異常密度を決定することは、複数の第１段階異常位置の第１のセットによって表された異常の数を決定することと、を含む場合がある。
少なくとも１つの異常密度を決定することは、複数の第１段階異常位置の第１のセットによって表された異常に含まれる異常ピクセルの少なくとも１つの数を決定することを含む場合がある。
方法は、第１の第１段階異常識別感度に関連付けられた少なくとも１つの異常密度と所望の第１段階異常密度との間の少なくとも１つの差分を決定することを含む場合があり、第２の第１段階異常識別感度を決定することは、決定された少なくとも１つの差分に少なくとも部分的に基づいて、第２の第１段階異常識別感度を決定することを含む場合がある。
【0010】
複数の第２段階異常位置の表現を受信することは、第２の巻き取り紙処理段階における巻き取り紙の第２段階画像の１つまたは複数のセットを受信することと、第２段階画像の１つまたは複数のセットに対する少なくとも１つの第２段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、複数の第２段階異常位置を決定することとを含む場合がある。第２段階画像の１つまたは複数のセットは、第２段階画像の第１のセットおよび第２段階画像の第２のセットを含み、少なくとも１つの第２段階異常識別感度は、第１の第２段階異常識別感度および第２の第２段階異常識別感度を含む場合がある。複数の第２段階異常位置を決定することは、第２段階画像の第１のセットに対する第１の第２段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、第２段階異常位置の第１のセットを決定することと、第２段階画像の第２のセットに対する第２の第２段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、第２段階異常位置の第２のセットを決定することとを含む場合がある。方法は、第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた少なくとも１つの異常密度を決定することと、第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた少なくとも１つの異常密度および第１の第２段階異常識別感度に少なくとも部分的に基づいて、第２の第２段階異常識別感度を決定することとを含む場合がある。方法は、第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた少なくとも１つの異常密度と所望の第２段階異常密度との間の差分を決定することを含む場合があり、所望の第２段階異常密度は、所望の第１段階異常密度の９０％未満である。第２の第２段階異常識別感度を決定することは、第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた少なくとも１つの異常密度と所望の第２段階異常識別感度との間の決定された差分に少なくとも部分的に基づいて、第２の第２段階異常識別感度を決定することを含む場合がある。
【0011】
第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた少なくとも１つの異常密度を決定することは、複数の第２段階異常位置の第１のセットによって表された異常に含まれる異常ピクセルの数を決定することを含む場合がある。
第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた少なくとも１つの異常密度を決定することは、複数の第２段階異常位置の第１のセットによって表された異常の数を決定することを含む場合がある。
第１および第２の第２段階異常識別感度の各々は、それぞれのピクセル位置に各々が関連付けられた複数の異常識別閾値を含む場合がある。
複数の第２段階異常位置の表現を受信することは、第２の巻き取り紙処理段階における巻き取り紙の第２段階画像の１つまたは複数のセットを受信することと、第２段階画像の１つまたは複数のセットに対する少なくとも１つの第２段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、複数の第２段階異常位置を決定することとを含む場合がある。
第２段階画像の１つまたは複数のセットは、第２段階画像の第１のセットおよび第２段階画像の第２のセットを含む場合があり、少なくとも１つの第２段階異常識別感度は、第１の第２段階異常識別感度および第２の第２段階異常識別感度を含む場合があり、第２の第２段階異常識別感度は第１の第２段階異常識別感度とは異なる。複数の第２段階異常位置を決定することは、第２段階画像の第１のセットに対する第１の第２段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、第２段階異常位置の第１のセットを決定することと、第２段階画像の第２のセットに対する第２の第２段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、第２段階異常位置の第２のセットを決定することとを含む場合がある。
第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた少なくとも１つの異常密度を決定することは、複数の第２段階異常位置の第１のセットによって表された異常の数を決定することを含む場合がある。
第１および第２の第２段階異常識別感度の各々は、それぞれのピクセル位置に各々が関連付けられた複数の異常識別閾値を含む場合がある。
複数の第２段階異常位置の表現を受信することは、第２の巻き取り紙処理段階における巻き取り紙の第２段階画像の１つまたは複数のセットを受信することと、第２段階画像の１つまたは複数のセットに対する少なくとも１つの第２段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、複数の第２段階異常位置を決定することとを含む場合がある。
第２段階画像の１つまたは複数のセットは、第２段階画像の第１のセットおよび第２段階画像の第２のセットを含む場合があり、少なくとも１つの第２段階異常識別感度は、第１の第２段階異常識別感度および第２の第２段階異常識別感度を含む場合があり、第２の第２段階異常識別感度は第１の第２段階異常識別感度とは異なる。複数の第２段階異常位置を決定することは、第２段階画像の第１のセットに対する第１の第２段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、第２段階異常位置の第１のセットを決定することと、第２段階画像の第２のセットに対する第２の第２段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、第２段階異常位置の第２のセットを決定することとを含む場合がある。
【0012】
第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた少なくとも１つの異常密度を決定することと、第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた少なくとも１つの異常密度および第１の第２段階異常識別感度に少なくとも部分的に基づいて、第２の第２段階異常識別感度を決定することと。
少なくとも１つの異常密度を決定することは、複数の第２段階異常位置の第１のセットによって表された異常の数を決定することを含む場合がある。
少なくとも１つの異常密度を決定することは、複数の第２段階異常位置の第１のセットによって表された異常に含まれる異常ピクセルの少なくとも１つの数を決定することを含む場合がある。
少なくとも１つの異常密度を決定することは、複数の第２段階異常位置の第１のセットによって表された異常の数を決定することを含む場合がある。
少なくとも１つの異常密度を決定することは、複数の第２段階異常位置の第１のセットによって表された異常に含まれる異常ピクセルの少なくとも１つの数を決定することを含む場合がある。
【0013】
方法は、第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた少なくとも１つの異常密度と所望の第２段階異常密度との間の少なくとも１つの差分を決定することを含む場合があり、第２の第２段階異常識別感度を決定することは、決定された少なくとも１つの差分に少なくとも部分的に基づいて、第２の第２段階異常識別感度を決定することを含む場合がある。
第１および第２の第１段階異常識別感度の各々は、それぞれのピクセル位置に各々が関連付けられた複数の異常識別閾値を含む場合がある。
方法は、第１の巻き取り紙処理段階における巻き取り紙の第１段階画像の較正セットを受信することと、第１段階画像の較正セットに対する第１段階較正異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、少なくとも１つの第１段階較正異常密度を決定することと、第１段階較正異常識別感度および少なくとも１つの第１段階較正異常密度に少なくとも部分的に基づいて、較正ベースの第１段階異常識別感度を決定することとを含む場合がある。
少なくとも１つの第１段階較正異常密度を決定することは、第１段階画像の較正セットに対する較正第１段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、異常位置の第１段階較正セットを決定することと、異常位置の第１段階較正セットによって表された異常の数を決定することとを含む場合がある。
第１および第２の第１段階異常識別感度の各々は、それぞれのピクセル位置に各々が関連付けられた複数の異常識別閾値を含む場合がある。
方法は、第１の巻き取り紙処理段階における巻き取り紙の第１段階画像の較正セットを受信することと、第１段階画像の較正セットに対する第１段階較正異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、少なくとも１つの第１段階較正異常密度を決定することと、第１段階較正異常識別感度および少なくとも１つの第１段階較正異常密度に少なくとも部分的に基づいて、較正ベースの第１段階異常識別感度を決定することとを含む場合がある。
少なくとも１つの第１段階較正異常密度を決定することは、第１段階画像の較正セットに対する較正第１段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、異常位置の第１段階較正セットを決定することと、異常位置の第１段階較正セットによって表された異常の数を決定することとを含む場合がある。
【0014】
少なくとも１つの第１段階較正異常密度を決定することは、第１段階画像の較正セットに含まれる異常に含まれる異常ピクセルの数を決定することを含む場合がある。
第１段階較正異常識別感度および較正ベースの第１段階異常識別感度の各々は、それぞれのピクセル位置に各々が関連付けられた複数の異常識別閾値を含む場合がある。
較正ベースの第１段階異常識別感度を決定することは、少なくとも１つの第１段階較正異常密度と所望の第１段階較正異常密度との間の少なくとも１つの差分を決定することと、決定された少なくとも１つの差分に少なくとも部分的に基づいて、較正ベースの第１段階異常識別感度を決定することとを含む場合がある。
第１段階画像の第１のセットは、第１段階画像の較正セットのうちの少なくとも１つを含む場合がある。
第１段階画像の第１のセットおよび第１段階画像の較正セットは、同じ画像であってもよい。
第１段階較正異常識別感度および較正ベースの第１段階異常識別感度の各々は、それぞれのピクセル位置に各々が関連付けられた複数の異常識別閾値を含む場合がある。
較正ベースの第１段階異常識別感度を決定することは、少なくとも１つの第１段階較正異常密度と所望の第１段階較正異常密度との間の少なくとも１つの差分を決定することと、決定された少なくとも１つの差分に少なくとも部分的に基づいて、較正ベースの第１段階異常識別感度を決定することとを含む場合がある。
第１段階画像の第１のセットは、第１段階画像の較正セットのうちの少なくとも１つを含む場合がある。
第１段階画像の第１のセットおよび第１段階画像の較正セットは、同じ画像であってもよい。
【0015】
方法は、第１の巻き取り紙処理段階における巻き取り紙上で検出された欠陥の位置を表す１つまたは複数の検出された第１段階欠陥位置の表現を受信することと、第２の巻き取り紙処理段階における巻き取り紙の検知された第２段階位置の表現を受信することであって、検知された第２段階位置が、第２の巻き取り紙処理段階における巻き取り紙の現在位置を表す、受信することと、決定された位置オフセット、巻き取り紙の検知された第２段階位置、および１つまたは複数の検出された第１段階欠陥位置に基づいて、欠陥のうちの少なくとも１つに対する検知された第２段階位置の欠陥近接度を決定することと、決定された欠陥近接度が閾値基準を満たす場合、第２の巻き取り紙処理段階における処理が調整されるようにするために信号を生成することとを含む場合がある。
欠陥近接度を決定することは、決定された位置オフセットを１つまたは複数の検出された第１段階欠陥位置に適用して、第２の巻き取り紙処理段階における巻き取り紙について予測された欠陥の位置を表す１つまたは複数の予測された第２段階欠陥位置を決定することと、１つまたは複数の予測された第２段階欠陥位置を検知された第２段階位置と比較することとを含む場合がある。
欠陥近接度を決定することは、決定された位置オフセットを検知された第２段階位置に適用して、オフセットされた検知位置を決定することと、１つまたは複数の検出された第１段階欠陥位置をオフセットされた検知位置と比較することとを含む場合がある。
欠陥近接度を決定することは、決定された位置オフセットを１つまたは複数の検出された第１段階欠陥位置に適用して、第２の巻き取り紙処理段階における巻き取り紙について予測された欠陥の位置を表す１つまたは複数の予測された第２段階欠陥位置を決定することと、１つまたは複数の予測された第２段階欠陥位置を検知された第２段階位置と比較することとを含む場合がある。
欠陥近接度を決定することは、決定された位置オフセットを検知された第２段階位置に適用して、オフセットされた検知位置を決定することと、１つまたは複数の検出された第１段階欠陥位置をオフセットされた検知位置と比較することとを含む場合がある。
【0016】
様々な実施形態によれば、巻き取り紙位置追跡を容易にするためのシステムが提供され、システムは、上記の方法のいずれかを実行するように構成された少なくとも１つのプロセッサを含む。
様々な実施形態によれば、少なくとも１つのプロセッサによって実行されると、上記の方法のいずれかを少なくとも１つのプロセッサに実行させるコードを記憶している非一時的コンピュータ可読媒体が提供される。
本開示の実施形態の他の態様および特徴は、本開示の特定の実施形態の以下の説明を添付の図面と併せて検討すると、当業者には明らかになるであろう。
様々な実施形態によれば、少なくとも１つのプロセッサによって実行されると、上記の方法のいずれかを少なくとも１つのプロセッサに実行させるコードを記憶している非一時的コンピュータ可読媒体が提供される。
本開示の実施形態の他の態様および特徴は、本開示の特定の実施形態の以下の説明を添付の図面と併せて検討すると、当業者には明らかになるであろう。
【図面の簡単な説明】
【0017】
【発明を実施するための形態】
【0018】
例えば製紙工場などの巻き取り紙処理施設での基本機能は、巻き取り紙の一部分が大きいリールに巻き取られ、続いて巻き戻される場合があり、巻き直され、顧客に配送される最終製品を表す場合がある小さいロールに切断される抄紙機での紙製造などの処理を含む場合がある。様々な実施形態では、抄紙機に設置された巻き取り紙検査システムは、穴および他の欠陥などの欠陥をそれらの巻き取り紙位置とともに検出することができ、それは、最終製品品質にとって、最大の穴および他の主要欠陥が巻き取り紙の巻き戻しと巻き直しとの間で除去または修正されることが重要であり得る。様々な実施形態では、これを容易にするために、以前に識別された欠陥が予測され得るように、リールの巻き取り紙位置が巻き戻しまたは変換中に追跡される場合がある。様々な実施形態では、巻き取り紙位置を正確に追跡することは、例えば、オペレータがリールから未知の量の製品（例えば、数十または数百メートル）を取り出す場合があることを含む、様々な理由で困難であり得る。
【0019】
図１を参照すると、様々な実施形態による、巻き取り紙位置追跡を容易にするためのシステム１００の概略図が提供される。システム１００は、第１の異常検出器１０４および第２の異常検出器１０６と通信している位置追跡器１０２を含む。いくつかの実施形態では、第１の異常検出器１０４および第２の異常検出器１０６は、それぞれ、第１の巻き取り紙処理段階１０５および第２の巻き取り紙処理段階１０７において巻き取り紙または巻き取り紙１０８の一部分における異常を検出または検知するように構成される場合がある。様々な実施形態では、巻き取り紙１０８は、第１の巻き取り紙処理段階１０５においてリールに巻き取られるよりも大きい巻き取り紙の一部分であり得る。様々な実施形態では、巻き取り紙１０８は、例示目的で、図１の第１の巻き取り紙処理段階１０５および第２の巻き取り紙処理段階１０７の両方に示されているが、巻き取り紙１０８は、最初に第１の巻き取り紙処理段階１０５にあってもよく、次いで、第１の巻き取り紙処理段階において処理が完了した後、巻き取り紙１０８は第２の巻き取り紙処理段階１０７に移動してもよいことが理解されよう。したがって、第２の巻き取り紙処理段階は、第１の巻き取り紙処理段階の下流にある場合がある。
いくつかの実施形態では、第１の巻き取り紙処理段階１０５および第２の巻き取り紙処理段階１０７で検知された異常は、各々巻き取り紙１０８の軽微な欠陥を表す場合があり、組み合わされて、それらは巻き取り紙１０８の固有の指紋または異常の位置もしくは場所のマップを表す場合がある。様々な実施形態では、第１の巻き取り紙処理段階１０５および第２の巻き取り紙処理段階１０７で指紋または異常位置マップを照合することは、第１の巻き取り紙処理段階で検知された位置に対する第２の巻き取り紙処理段階１０７における位置の追跡を容易にすることができる。
いくつかの実施形態では、第１の巻き取り紙処理段階１０５および第２の巻き取り紙処理段階１０７で検知された異常は、各々巻き取り紙１０８の軽微な欠陥を表す場合があり、組み合わされて、それらは巻き取り紙１０８の固有の指紋または異常の位置もしくは場所のマップを表す場合がある。様々な実施形態では、第１の巻き取り紙処理段階１０５および第２の巻き取り紙処理段階１０７で指紋または異常位置マップを照合することは、第１の巻き取り紙処理段階で検知された位置に対する第２の巻き取り紙処理段階１０７における位置の追跡を容易にすることができる。
【0020】
いくつかの実施形態では、第１の異常検出器１０４は、第１の巻き取り紙処理段階１０５として機能することができる、抄紙機での紙製造中に巻き取り紙がリールに巻かれている間に、巻き取り紙１０８を撮像するように構成された１つまたは複数の第１のカメラ１２０と通信することができる。様々な実施形態では、第１の異常検出器１０４は、第１の異常検出器の１つまたは複数の第１のカメラ１２０によって取得された画像の各々に関連付けられる機械方向巻き取り紙の位置または場所を検知するように構成された（例えば、ローラ位置を検知するように構成されたロータリエンコーダ、または回転計読取りなどの速度測定値を統合することによって位置を推定することができるデバイスなどの）第１の位置センサ１２２と通信することができる。様々な実施形態では、機械方向位置は、巻き取り紙１０８の長さに沿った位置を表すことができる。様々な実施形態では、機械方向位置は、一般に、第１の巻き取り紙処理段階１０５における巻き取り紙１０８の処理中に経時的に増加する場合がある。様々な実施形態では、増加する機械方向位置は、例えば、抄紙機でリールが完成し、かつ／または新しいリールに紙を巻き始めるときに、周期的にゼロにリセットされる場合がある。様々な実施形態では、リセット直前からの機械方向位置は、巻き取り紙１０８の全長の推定値として後で利用可能であり得るように記憶される場合がある。
【0021】
いくつかの実施形態では、第２の異常検出器１０６は、第２の巻き取り紙処理段階１０７として機能することができる巻き戻し中に、巻き取り紙１０８を撮像するように構成された１つまたは複数の第２のカメラ１２４と通信することができる。様々な実施形態では、第２の異常検出器１０６は、１つまたは複数の第２のカメラ１２４によって取得された画像の各々に関連付けられる機械方向巻き取り紙の位置または場所を検知するように構成された（例えば、第１の異常検出器１０４に含まれる第１の位置センサ１２２とほぼ同様であり得る）第２の位置センサ１２６と通信することができる。様々な実施形態では、位置追跡器１０２は、位置追跡器１０２が第２の巻き取り紙処理段階１０７における現在の巻き取り紙位置を追跡するように構成され得るように、第２の位置センサ１２６と通信することができる。
【0022】
いくつかの実施形態では、システム１００は、位置追跡器１０２と通信している巻き取り紙処理ドライバ１３０を含む場合がある。様々な実施形態では、巻き取り紙処理ドライバ１３０は、第２の巻き取り紙処理段階１０７における巻き取り紙１０８の処理速度または移動を制御するように構成される場合がある。いくつかの実施形態では、巻き取り紙処理ドライバ１３０は、例えば、プログラマブルロジックコントローラ（ＰＬＣ）を含む場合がある。
【0023】
様々な実施形態では、位置追跡器１０２は、第１の巻き取り紙処理段階１０５で検出された、例えば欠陥または主要欠陥などの特徴の位置が、第２の巻き取り紙処理段階１０７における特徴の予想位置に変換され得るように、巻き取り紙１０８の巻き取り紙位置追跡を容易にするように構成される場合がある。したがって、様々な実施形態では、位置追跡器１０２は、第１の巻き取り紙処理段階１０５におけるそれらの以前の検出に基づいて、第２の巻き取り紙処理段階１０７における処理中の今後の特徴の予測を容易にすることができ、この予測能力は、システム１００を使用する巻き取り紙１０８の改善された処理を容易にすることができる。様々な実施形態では、本明細書に記載された異常は多数であり、軽微な欠陥を表す場合があるが、本明細書に記載された欠陥はあまり一般的ではなく、製品品質の観点から、例えば最終的な紙ロールの等級付けなどに関連する場合がある特徴を表す場合がある。様々な実施形態では、本明細書に記載された欠陥は、欠陥の修理または除去を可能にするなどのために、処理が調整される必要があり得る特徴を表することができる欠陥を含む場合がある。
【0024】
図１を参照すると、様々な実施形態では、位置追跡器１０２は、第１の巻き取り紙処理段階１０５において巻き取り紙１０８上で検出された異常の位置を表す第１段階異常位置の表現を受信するように構成される場合がある。様々な実施形態では、位置追跡器１０２は、第１の異常検出器１０４から第１段階異常位置の表現を受信し、第１段階異常位置をメモリに記憶するように構成される場合がある。いくつかの実施形態では、異常は、第１の巻き取り紙処理段階１０５における巻き取り紙１０８の処理中に検知されている場合がある。
【0025】
いくつかの実施形態では、第１の異常検出器１０４は、１つまたは複数の第１のカメラ１２０から、第１の巻き取り紙処理段階１０５における巻き取り紙１０８の第１段階画像の１つまたは複数のセットを受信するように構成される場合がある。様々な実施形態では、第１の異常検出器１０４は、第１の位置センサ１２２から、受信された画像ごとのそれぞれの関連付けられた機械方向位置を受信するように構成される場合がある。様々な実施形態では、第１の異常検出器１０４は、画像内の異常を識別し、異常ごとの位置を決定するように構成される場合がある。様々な実施形態では、異常ごとの位置は、機械方向位置および交差方向位置を含む場合がある。様々な実施形態では、機械方向位置は、巻き取り紙１０８の長さに沿った位置を表すことができ、交差方向は、巻き取り紙１０８の幅を横断するかまたはそれに沿った位置を表すことができる。様々な実施形態では、機械方向および交差方向は、互いに垂直であり得る。様々な実施形態では、機械方向位置は、例えば、ピクセル位置をメートルなどの現実世界の単位に変換し、次いで合計することなどにより、画像内の異常のピクセル位置、および異常が検出された画像に関連付けられた機械方向位置に基づいて決定される場合がある。様々な実施形態では、交差方向位置は、画像内の異常位置のピクセル位置、ならびに（通常は水平な）ピクセル座標から（例えば、何らかの固定されたゼロ点から、および／もしくは巻き取り紙のエッジから測定された）現実世界の（例えば、メートルまたはミリメートルベースの）位置への較正されたマッピングに基づいて決定される場合がある。
【0026】
様々な実施形態では、位置追跡器１０２は、第２の巻き取り紙処理段階１０７において巻き取り紙１０８上で検出された異常の位置を表す第２段階異常位置の表現を受信するように構成される場合がある。様々な実施形態では、位置追跡器１０２は、第２の異常検出器１０６から第２段階異常位置の表現を受信し、第２段階異常位置をメモリに記憶するように構成される場合がある。いくつかの実施形態では、異常は、第２の巻き取り紙処理段階１０７における巻き取り紙１０８の処理中に検知されている場合がある。
【0027】
いくつかの実施形態では、第２の異常検出器１０６は、１つまたは複数の第２のカメラ１２４から、第２の巻き取り紙処理段階１０７における巻き取り紙１０８の第２段階画像の１つまたは複数のセットを受信し、第２の位置センサ１２６から、画像ごとの関連付けられた機械方向位置を受信するように構成される場合がある。様々な実施形態では、第２の異常検出器１０６は、概ね第１の巻き取り紙処理段階１０５に関して上述されたように、画像内の異常を識別し、異常ごとの位置を決定するように構成される場合がある。いくつかの実施形態では、巻き取り紙１０８の部分は、（第１の巻き取り紙処理段階１０５で巻き取られたリールの巻き戻しを伴うこの段階に起因して）第２の巻き取り紙処理段階１０７で逆の順序で分析されるが、機械方向位置は、第１の巻き取り紙処理段階１０５の撮像中に経時的に増加する場合があるので、異常は、第２の巻き取り紙処理段階で逆の順序で現れる場合があり、第２の巻き取り紙処理段階における機械方向位置は、撮像中に経時的に減少する場合がある。様々な実施形態では、第２の位置センサ１２６は、巻き取り紙１０８が第２の巻き取り紙処理段階で処理されるにつれて増加する機械方向位置を提供することができ、位置追跡器１０２は、例えば、第１の巻き取り紙処理段階１０５で事前に提供される場合があるか、または検知される場合がある、巻き取り紙１０８の全長の推定値から各増加する機械方向位置を減算することにより、対応する減少する機械方向位置を計算するように構成される場合がある。
【0028】
様々な実施形態では、位置追跡器１０２は、第１の巻き取り紙処理段階１０５および第２の巻き取り紙処理段階１０７からの異常位置の足跡またはマップを照合して、第２の巻き取り紙処理段階１０７における異常位置マップが第１の巻き取り紙処理段階１０５からの異常位置マップの一部のオフセットバージョンと位置合わせされるか、または一致するように、第１段階異常位置に適用され得る位置オフセットを決定するように構成される場合がある。
【0029】
様々な実施形態では、位置追跡器１０２は、複数の異なる候補位置オフセットの各々について、候補位置オフセットを第１段階異常位置および第２段階異常位置と比較して、候補位置オフセットに関連付けられる差分の表現を決定し、差分の表現を候補位置オフセットと関連付けるように構成される場合がある。例えば、いくつかの実施形態では、位置追跡器１０２は、第１段階異常位置に候補位置オフセットを適用して、オフセットされた第１段階異常位置を決定し、オフセットされた第１段階異常位置と第２段階異常位置との間の差分を決定し、差分の表現を候補位置オフセットと関連付けるように構成される場合がある。あるいは、いくつかの実施形態では、位置追跡器１０２は、第２段階異常位置に候補位置オフセットを適用して、複数のオフセットされた第２段階異常位置を決定し、オフセットされた第２段階異常位置と第１段階異常位置との間の差分を決定するように構成される場合がある。
【0030】
様々な実施形態では、異なる候補位置オフセットを試行し、結果としてのオフセットされた異常位置と第２段階異常位置との間の差分の表現をチェックすることは、正確に決定された位置オフセットに到達するための処理電力要件の低減を容易にすることができる。いくつかの実施形態では、差分は距離を含む場合がある。様々な実施形態では、例えば定量的な異常信号などの他の比較の代わりに、関連付けられた異常位置（それらが存在するか存在しないかのいずれか）を有するブール異常に適用された離散位置オフセットを比較することは、特定の光条件、光角度、カメラ角度、および第１の巻き取り紙処理段階１０５と第２の巻き取り紙処理段階１０７との間で変化する可能性がある他の要因にあまり依存しない追跡を容易にすることができる。様々な実施形態では、そのような要因を２つの処理段階の間でほぼ同様にするための努力の必要性が低減される可能性があることは有利であり得る。様々な実施形態では、関連付けられた異常位置を有するブール異常に適用された離散位置オフセットを比較することは、例えば、巻き取り紙１０８が紙である場合、第１の巻き取り紙処理段階１０５と第２の巻き取り紙処理段階１０７との間の紙の乾燥などの、材料の変化に依存するばらつきを少なくすることを容易にすることができる。
【0031】
いくつかの実施形態では、位置追跡器１０２は、コスト関数を使用して差分の表現を決定するように構成される場合がある。様々な実施形態では、位置追跡器１０２は、差分の表現に少なくとも部分的に基づいて、決定された位置オフセットを識別するように構成される場合がある。
いくつかの実施形態では、位置追跡器１０２は、差分の表現のうちの最小のものに関連付けられた複数の候補位置オフセットのうちの候補位置オフセットを識別するように構成される場合がある。様々な実施形態では、識別された候補位置オフセットは、位置追跡のための決定された位置オフセットとして使用するために最良のオフセットであり得る。様々な実施形態では、決定された位置オフセットは、第１の巻き取り紙処理段階１０５における位置追跡に対して、第２の巻き取り紙処理段階１０７における巻き取り紙の位置追跡を容易にするために使用される場合がある。例えば、いくつかの実施形態では、決定された位置オフセットは、第２の巻き取り紙処理段階１０７における巻き取り紙１０８上の位置への第１の巻き取り紙処理段階１０５における巻き取り紙１０８の位置のマッピング、および／またはその逆を容易にすることができる。いくつかの実施形態では、位置追跡器１０２は、第１の巻き取り紙処理段階１０５における巻き取り紙１０８上の特徴の位置に決定された位置オフセットを適用または加算して、第１の巻き取り紙処理段階１０５における特徴の位置を第２の巻き取り紙処理段階１０７におけるそれらの同じ特徴の位置に対応する更新された位置に変換するように構成される場合がある。様々な実施形態では、第１の巻き取り紙処理段階位置と第２の巻き取り紙処理段階位置との間で変換する能力は、第１の巻き取り紙処理段階で検出されたものを考慮して、第２の巻き取り紙処理段階１０７における巻き取り紙１０８の適応処理を容易にすることができる。
いくつかの実施形態では、位置追跡器１０２は、差分の表現のうちの最小のものに関連付けられた複数の候補位置オフセットのうちの候補位置オフセットを識別するように構成される場合がある。様々な実施形態では、識別された候補位置オフセットは、位置追跡のための決定された位置オフセットとして使用するために最良のオフセットであり得る。様々な実施形態では、決定された位置オフセットは、第１の巻き取り紙処理段階１０５における位置追跡に対して、第２の巻き取り紙処理段階１０７における巻き取り紙の位置追跡を容易にするために使用される場合がある。例えば、いくつかの実施形態では、決定された位置オフセットは、第２の巻き取り紙処理段階１０７における巻き取り紙１０８上の位置への第１の巻き取り紙処理段階１０５における巻き取り紙１０８の位置のマッピング、および／またはその逆を容易にすることができる。いくつかの実施形態では、位置追跡器１０２は、第１の巻き取り紙処理段階１０５における巻き取り紙１０８上の特徴の位置に決定された位置オフセットを適用または加算して、第１の巻き取り紙処理段階１０５における特徴の位置を第２の巻き取り紙処理段階１０７におけるそれらの同じ特徴の位置に対応する更新された位置に変換するように構成される場合がある。様々な実施形態では、第１の巻き取り紙処理段階位置と第２の巻き取り紙処理段階位置との間で変換する能力は、第１の巻き取り紙処理段階で検出されたものを考慮して、第２の巻き取り紙処理段階１０７における巻き取り紙１０８の適応処理を容易にすることができる。
【0032】
いくつかの実施形態では、位置追跡器１０２は、第１の巻き取り紙処理段階１０５において巻き取り紙１０８上で検出された欠陥の位置を表す１つまたは複数の検出された第１段階欠陥位置の表現を受信し、第２の巻き取り紙処理段階における巻き取り紙１０８の検知された第２段階位置の表現を受信するように構成される場合があり、検知された第２段階位置は、第２の巻き取り紙処理段階１０７における巻き取り紙１０８の現在位置を表す。様々な実施形態では、位置追跡器１０２は、決定された位置オフセット、巻き取り紙の検知された第２段階位置、および１つまたは複数の検出された第１段階欠陥位置に基づいて、欠陥のうちの少なくとも１つに対する検知された第２段階位置の欠陥近接度を決定し、決定された欠陥近接度が閾値基準を満たす場合、第２の巻き取り紙処理段階１０７における処理が調整されるようにするために信号を生成するように構成される場合がある。例えば、いくつかの実施形態では、閾値基準は閾値距離基準を含む場合があり、欠陥近接度が閾値距離未満である場合、欠陥近接度は閾値基準を満たすことができる。
【0033】
様々な実施形態では、欠陥は、そのために処理が調整される必要があり得る主要欠陥であり得る。いくつかの実施形態では、位置追跡器１０２は、決定された位置オフセットを１つまたは複数の検出された第１段階欠陥位置に適用して、第２の巻き取り紙処理段階にある巻き取り紙について予測された欠陥の位置を表す１つまたは複数の予測された第２段階欠陥位置を決定し、１つまたは複数の予測された第２段階欠陥位置を検知された第２段階位置と比較することにより、欠陥近接度を決定するように構成される場合がある。例えば、位置追跡器は、１つまたは複数の予測された第２段階欠陥位置のうちの最も近い次のものと検知された第２段階位置との間の差分または距離を決定することによって比較することができる。様々な実施形態では、位置追跡器１０２は、巻き取り紙１０８の検知された第２段階位置が予測された第２段階欠陥位置のうちの１つより前の閾値距離内にいるときに、図１に示された巻き取り紙処理ドライバ１３０を減速させるための信号を生成するように構成される場合がある。いくつかの実施形態では、位置追跡器１０２は、巻き取り紙処理ドライバ１３０に予測された欠陥位置の各々またはその前に停止させるための信号を生成するように構成される場合がある。様々な実施形態では、この減速および／または停止は、第２の巻き取り紙処理段階１０７における巻き取り紙１０８からの欠陥の修正および／または除去を容易にすることができる。
【0034】
追跡器－プロセッサ回路
ここで図２を参照すると、様々な実施形態による、図１に示されたシステム１００の位置追跡器１０２の概略図が示されている。図２を参照すると、位置追跡器１０２は、追跡器プロセッサ２００およびプログラムメモリ２０２を含むプロセッサ回路と、それらのすべてが追跡器プロセッサ２００と通信している記憶メモリ２０４および入力／出力（Ｉ／Ｏ）インターフェース２１２と、を含む。様々な実施形態では、本明細書に開示された追跡器プロセッサ２００および／または同様のプロセッサは、例えば、中央処理装置（ＣＰＵ）、グラフィックス処理装置（ＧＰＵ）、および／またはフィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ）などの１つまたは複数の処理装置を含む場合がある。いくつかの実施形態では、本明細書に記載された位置追跡器１０２の機能のいずれかまたはすべては、１つまたは複数のＦＰＧＡを使用して実装されもよい。
ここで図２を参照すると、様々な実施形態による、図１に示されたシステム１００の位置追跡器１０２の概略図が示されている。図２を参照すると、位置追跡器１０２は、追跡器プロセッサ２００およびプログラムメモリ２０２を含むプロセッサ回路と、それらのすべてが追跡器プロセッサ２００と通信している記憶メモリ２０４および入力／出力（Ｉ／Ｏ）インターフェース２１２と、を含む。様々な実施形態では、本明細書に開示された追跡器プロセッサ２００および／または同様のプロセッサは、例えば、中央処理装置（ＣＰＵ）、グラフィックス処理装置（ＧＰＵ）、および／またはフィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ）などの１つまたは複数の処理装置を含む場合がある。いくつかの実施形態では、本明細書に記載された位置追跡器１０２の機能のいずれかまたはすべては、１つまたは複数のＦＰＧＡを使用して実装されもよい。
【0035】
Ｉ／Ｏインターフェース２１２は、それぞれ、図１に示された第１の異常検出器１０４および第２の異常検出器１０６と通信するためのインターフェース２２０および２２２を含む。様々な実施形態では、Ｉ／Ｏインターフェース２１２は、図１に示された巻き取り紙処理ドライバ１３０と通信するためのインターフェース２２４と、第２の位置センサ１２６と通信するためのインターフェース２２６とを含む場合がある。いくつかの実施形態では、本明細書に開示されたＩ／Ｏインターフェース２１２および／または同様のインターフェースは、ローカルエリアネットワークもしくはインターネットなどのネットワークを介したネットワーク通信を容易にするためのインターフェース、ならびに／または、例えばポインタおよび／もしくはキーボードなどの１つもしくは複数のユーザインターフェースデバイスを介したユーザ入力を可能にするための１つもしくは複数のインターフェースを含む場合がある。いくつかの実施形態では、本明細書に開示されたインターフェースおよび／または同様のインターフェースのいずれかまたはすべては、ワイヤレスおよび／または有線の通信を容易にすることができる。いくつかの実施形態では、本明細書に開示されたインターフェースおよび／または同様のインターフェースの各々は、１つもしくは複数のインターフェースを含む場合があり、かつ／またはインターフェースのいくつかもしくはすべては、結合インターフェースもしくは単一インターフェースとして実装される場合がある。
【0036】
デバイスが情報を受信または送信するものとして本明細書に記載されるいくつかの実施形態では、デバイスは、デバイスのインターフェースを介して情報を表す信号を受信するか、または情報を表す信号を生成し、デバイスのインターフェースを介して他のデバイスに信号を送信することが理解されよう。
様々な機能を実行するように追跡器プロセッサ２００に指示するためのプロセッサ実行可能プログラムコードは、プログラムメモリ２０２に記憶される。図２を参照すると、プログラムメモリ２０２は、巻き取り紙位置追跡機能を容易にするように位置追跡器１０２に指示するためのコードのブロック２０６を含む。本明細書では、アプリケーションまたはモジュールなどの特定の符号化エンティティが特定の機能を実行すると述べることができる。本明細書では、アプリケーション、モジュール、または符号化エンティティが、例えば機能または方法の一部として行動を取るように記載されるとき、少なくとも１つのプロセッサ（例えば、追跡器プロセッサ２００）は、アプリケーションの一部を定義または形成するプログラマブルコードまたはプロセッサ実行可能コードもしくは命令によって行動を取るように指示されることが理解されよう。
様々な機能を実行するように追跡器プロセッサ２００に指示するためのプロセッサ実行可能プログラムコードは、プログラムメモリ２０２に記憶される。図２を参照すると、プログラムメモリ２０２は、巻き取り紙位置追跡機能を容易にするように位置追跡器１０２に指示するためのコードのブロック２０６を含む。本明細書では、アプリケーションまたはモジュールなどの特定の符号化エンティティが特定の機能を実行すると述べることができる。本明細書では、アプリケーション、モジュール、または符号化エンティティが、例えば機能または方法の一部として行動を取るように記載されるとき、少なくとも１つのプロセッサ（例えば、追跡器プロセッサ２００）は、アプリケーションの一部を定義または形成するプログラマブルコードまたはプロセッサ実行可能コードもしくは命令によって行動を取るように指示されることが理解されよう。
【0037】
記憶メモリ２０４は、第１段階異常位置データを記憶するための位置２４４と、第２段階異常位置データを記憶するための位置２５６と、候補位置オフセットデータを記憶するための位置２６４と、オフセットされた第１段階異常位置データを記憶するための位置２６８と、交差方向重みデータを記憶するための位置２７０と、決定された差分データを記憶するための位置２７２と、決定された位置オフセットデータを記憶するための位置２７４と、検出された欠陥位置データを記憶するための位置２７６と、検知された第２段階位置データを記憶するための位置２７８と、予測された欠陥位置データを記憶するための位置２８０と、欠陥近接度データを記憶するための位置２８２と、欠陥閾値データを記憶するための位置２８４とを含む複数の記憶位置を含む。様々な実施形態では、記憶位置は、記憶メモリ２０４内のデータベースに記憶されてもよい。
【0038】
様々な実施形態では、本明細書に開示されたコードのブロック２０６および／もしくは任意の同様のコードのブロックは、コードの単一ブロックに統合されてもよく、またはコードのブロック２０６の部分は、プログラムメモリ２０２内の１つもしくは複数の別個の位置に記憶されたコードの１つもしくは複数のブロックを含んでもよい。様々な実施形態では、位置２４４、２５６、２６４、および２６８～２８４ならびに／または本明細書に開示された任意の同様の位置のいずれかまたはすべては、統合されてもよく、かつ／または各々が記憶メモリ２０４内の１つもしくは複数の別個の位置を含んでもよい。
【0039】
本明細書に開示されたプログラムメモリ２０２および記憶メモリ２０４ならびに／または同様のメモリの各々は、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）、ソリッドステートドライブ（ＳＳＤ）、ネットワークドライブ、フラッシュメモリ、メモリスティックもしくはカード、任意の他の形態の非一時的コンピュータ可読メモリもしくは記憶媒体、および／またはそれらの組合せを含む、１つまたは複数のストレージデバイスとして実装されてもよい。いくつかの実施形態では、本明細書に開示されたプログラムメモリ２０２、記憶メモリ２０４、任意の同様のメモリ、および／またはその任意の部分は、例えば、位置追跡器１０２とは別個のデバイスに含まれ、Ｉ／Ｏインターフェース２１２を介して位置追跡器１０２と通信することができる。いくつかの実施形態では、本明細書に記載された追跡器プロセッサ２００および／または位置追跡器１０２および／または同様のプロセッサもしくはデバイスの機能は、複数のプロセッサおよび／または複数のデバイスを使用して実装されてもよい。
【0040】
第１の異常検出器－プロセッサ回路
ここで図３を参照すると、様々な実施形態による、図１に示されたシステム１００の第１の異常検出器１０４の概略図が示されている。図３を参照すると、第１の異常検出器１０４は、検出器プロセッサ１２０およびプログラムメモリ１２０２を含むプロセッサ回路と、それらのすべてが検出器プロセッサ１２００と通信している記憶メモリ１２０４および入力／出力（Ｉ／Ｏ）インターフェース１２１２と、を含む。様々な実施形態では、本明細書に開示された検出器プロセッサ１２００および／または同様のプロセッサは、例えば、中央処理装置（ＣＰＵ）、グラフィックス処理装置（ＧＰＵ）、および／またはフィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ）などの１つまたは複数の処理装置を含む場合がある。いくつかの実施形態では、本明細書に記載された第１の異常検出器１０４の機能のいずれかまたはすべては、１つまたは複数のＦＰＧＡを使用して実装されもよい。
ここで図３を参照すると、様々な実施形態による、図１に示されたシステム１００の第１の異常検出器１０４の概略図が示されている。図３を参照すると、第１の異常検出器１０４は、検出器プロセッサ１２０およびプログラムメモリ１２０２を含むプロセッサ回路と、それらのすべてが検出器プロセッサ１２００と通信している記憶メモリ１２０４および入力／出力（Ｉ／Ｏ）インターフェース１２１２と、を含む。様々な実施形態では、本明細書に開示された検出器プロセッサ１２００および／または同様のプロセッサは、例えば、中央処理装置（ＣＰＵ）、グラフィックス処理装置（ＧＰＵ）、および／またはフィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ）などの１つまたは複数の処理装置を含む場合がある。いくつかの実施形態では、本明細書に記載された第１の異常検出器１０４の機能のいずれかまたはすべては、１つまたは複数のＦＰＧＡを使用して実装されもよい。
【0041】
Ｉ／Ｏインターフェース１２１２は、図１に示された１つまたは複数の第１のカメラ１２０および第１の位置センサ１２２と通信するためのインターフェース１２２０および１２２２と、図１に示された位置追跡器１０２と通信するためのインターフェース１２２４とを含む。いくつかの実施形態では、本明細書に開示されたインターフェースおよび／または同様のインターフェースのいずれかまたはすべては、ワイヤレスおよび／または有線の通信を容易にすることができる。いくつかの実施形態では、本明細書に開示されたインターフェースおよび／または同様のインターフェースの各々は、１つもしくは複数のインターフェースを含む場合があり、かつ／またはインターフェースのいくつかもしくはすべては、結合インターフェースもしくは単一インターフェースとして実装される場合がある。
【0042】
様々な機能を実行するように検出器プロセッサ１２００に指示するためのプロセッサ実行可能プログラムコードは、プログラムメモリ１２０２に記憶される。図３を参照すると、プログラムメモリ１２０２は、巻き取り紙位置追跡機能のための異常検出を容易にするように第１の異常検出器１０４に指示するためのコードのブロック１２０６と、欠陥を検出するように第１の異常検出器１０４に指示するためのコードのブロック１２０８とを含む。
【0043】
記憶メモリ１２０４は、第１段階画像データを記憶するための位置１２４０と、第１段階異常識別感度データを記憶するための位置１２４２と、第１段階異常位置データを記憶するための位置１２４４と、第１段階異常密度データを記憶するための位置１２４６と、所望の第１段階異常密度データを記憶するための位置１２４８と、第１段階異常密度差分データを記憶するための位置１２５０と、較正画像データを記憶するための位置１２８０と、較正異常識別感度データを記憶するための位置１２８２と、較正異常位置データを記憶するための位置１２８４と、較正異常密度データを記憶するための位置１２８６と、所望の較正異常密度データを記憶するための位置１２８８と、較正異常密度差分データを記憶するための位置１２９０とを含む複数の記憶位置を含む。様々な実施形態では、記憶位置は、記憶メモリ１２０４内のデータベースに記憶されてもよい。
【0044】
様々な実施形態では、本明細書に開示されたコードのブロック１２０６および／もしくはコードのブロック１２０８および／もしくは任意の同様のコードのブロックは、コードの単一ブロックに統合されてもよく、またはコードのブロック１２０６および／もしくはコードのブロック１２０８の部分は、プログラムメモリ１２０２内の１つもしくは複数の別個の位置に記憶されたコードの１つもしくは複数のブロックを含んでもよい。様々な実施形態では、本明細書に開示された位置１２４０～１２５０および１２８０～１２９０ならびに／または任意の同様の位置のいずれかまたはすべては、統合されてもよく、かつ／または各々が記憶メモリ１２０４内の１つもしくは複数の別個の位置を含んでもよい。
【0045】
本明細書に開示されたプログラムメモリ１２０２および記憶メモリ１２０４ならびに／または同様のメモリの各々は、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）、ソリッドステートドライブ（ＳＳＤ）、ネットワークドライブ、フラッシュメモリ、メモリスティックもしくはカード、任意の他の形態の非一時的コンピュータ可読メモリもしくは記憶媒体、および／またはそれらの組合せを含む、１つまたは複数のストレージデバイスとして実装されてもよい。いくつかの実施形態では、本明細書に開示されたプログラムメモリ１２０２、記憶メモリ１２０４、任意の同様のメモリ、および／またはその任意の部分は、例えば、第１の異常検出器１０４とは別個のデバイスに含まれ、Ｉ／Ｏインターフェース１２１２を介して第１の異常検出器１０４と通信することができる。いくつかの実施形態では、本明細書に記載された検出器プロセッサ１２００および／または第１の異常検出器１０４および／または同様のプロセッサもしくはデバイスの機能は、複数のプロセッサおよび／または複数のデバイスを使用して実装されてもよい。
【0046】
第２の異常検出器－プロセッサ回路
ここで図４を参照すると、様々な実施形態による、図１に示されたシステム１００の第２の異常検出器１０６の概略図が示されている。様々な実施形態では、第２の異常検出器１０６は、図３に示された第１の異常検出器１０４に含まれる要素とほぼ同様の要素を含む場合がある。図４を参照すると、第２の異常検出器１０６は、検出器プロセッサ１４０およびプログラムメモリ１４０２を含むプロセッサ回路と、それらのすべてが検出器プロセッサ１４００と通信している記憶メモリ１４０４および入力／出力（Ｉ／Ｏ）インターフェース１４１２と、を含む。
様々な実施形態では、本明細書に開示された検出器プロセッサ１４００および／または同様のプロセッサは、例えば、中央処理装置（ＣＰＵ）、グラフィックス処理装置（ＧＰＵ）、および／またはフィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ）などの１つまたは複数の処理装置を含む場合がある。いくつかの実施形態では、本明細書に記載された第２の異常検出器１０６の機能のいずれかまたはすべては、１つまたは複数のＦＰＧＡを使用して実装されもよい。
ここで図４を参照すると、様々な実施形態による、図１に示されたシステム１００の第２の異常検出器１０６の概略図が示されている。様々な実施形態では、第２の異常検出器１０６は、図３に示された第１の異常検出器１０４に含まれる要素とほぼ同様の要素を含む場合がある。図４を参照すると、第２の異常検出器１０６は、検出器プロセッサ１４０およびプログラムメモリ１４０２を含むプロセッサ回路と、それらのすべてが検出器プロセッサ１４００と通信している記憶メモリ１４０４および入力／出力（Ｉ／Ｏ）インターフェース１４１２と、を含む。
様々な実施形態では、本明細書に開示された検出器プロセッサ１４００および／または同様のプロセッサは、例えば、中央処理装置（ＣＰＵ）、グラフィックス処理装置（ＧＰＵ）、および／またはフィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ）などの１つまたは複数の処理装置を含む場合がある。いくつかの実施形態では、本明細書に記載された第２の異常検出器１０６の機能のいずれかまたはすべては、１つまたは複数のＦＰＧＡを使用して実装されもよい。
【0047】
Ｉ／Ｏインターフェース１４１２は、図１に示された１つまたは複数の第２のカメラ１２４および第２の位置センサ１２６と通信するためのインターフェース１４２０および１４２２と、図１に示された位置追跡器１０２と通信するためのインターフェース１４２４とを含む。いくつかの実施形態では、本明細書に開示されたインターフェースおよび／または同様のインターフェースのいずれかまたはすべては、ワイヤレスおよび／または有線の通信を容易にすることができる。いくつかの実施形態では、本明細書に開示されたインターフェースおよび／または同様のインターフェースの各々は、１つもしくは複数のインターフェースを含む場合があり、かつ／またはインターフェースのいくつかもしくはすべては、結合インターフェースもしくは単一インターフェースとして実装される場合がある。
【0048】
様々な機能を実行するように検出器プロセッサ１４００に指示するためのプロセッサ実行可能プログラムコードは、プログラムメモリ１４０２に記憶される。図４を参照すると、プログラムメモリ１４０２は、巻き取り紙位置追跡機能のための異常検出を容易にするように第２の異常検出器１０６に指示するためのコードのブロック１４０６を含む。
記憶メモリ１４０４は、第２段階画像データを記憶するための位置１４５２と、第２段階異常識別感度データを記憶するための位置１４５４と、第２段階異常位置データを記憶するための位置１４５６と、第２段階異常密度データを記憶するための位置１４５８と、所望の第２段階異常密度データを記憶するための位置１４６０と、第２段階異常密度差分データを記憶するための位置１４６２と、較正画像データを記憶するための位置１４８０と、較正異常識別感度データを記憶するための位置１４８２と、較正異常位置データを記憶するための位置１４８４と、較正異常密度データを記憶するための位置１４８６と、所望の較正異常密度データを記憶するための位置１４８８と、較正異常密度差分データを記憶するための位置１４９０とを含む複数の記憶位置を含む。様々な実施形態では、記憶位置は、記憶メモリ１４０４内のデータベースに記憶されてもよい。
記憶メモリ１４０４は、第２段階画像データを記憶するための位置１４５２と、第２段階異常識別感度データを記憶するための位置１４５４と、第２段階異常位置データを記憶するための位置１４５６と、第２段階異常密度データを記憶するための位置１４５８と、所望の第２段階異常密度データを記憶するための位置１４６０と、第２段階異常密度差分データを記憶するための位置１４６２と、較正画像データを記憶するための位置１４８０と、較正異常識別感度データを記憶するための位置１４８２と、較正異常位置データを記憶するための位置１４８４と、較正異常密度データを記憶するための位置１４８６と、所望の較正異常密度データを記憶するための位置１４８８と、較正異常密度差分データを記憶するための位置１４９０とを含む複数の記憶位置を含む。様々な実施形態では、記憶位置は、記憶メモリ１４０４内のデータベースに記憶されてもよい。
【0049】
様々な実施形態では、本明細書に開示されたコードのブロック１４０６および／もしくは任意の同様のコードのブロックは、コードの単一ブロックに統合されてもよく、またはコードのブロック１４０６の部分は、プログラムメモリ１４０２内の１つもしくは複数の別個の位置に記憶されたコードの１つもしくは複数のブロックを含んでもよい。様々な実施形態では、位置１４５２～１４６２および１４８０～１４９０ならびに／または本明細書に開示された任意の同様の位置のいずれかまたはすべては、統合されてもよく、かつ／または各々が記憶メモリ１４０４内の１つもしくは複数の別個の位置を含んでもよい。
【0050】
本明細書に開示されたプログラムメモリ１４０２および記憶メモリ１４０４ならびに／または同様のメモリの各々は、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）、ソリッドステートドライブ（ＳＳＤ）、ネットワークドライブ、フラッシュメモリ、メモリスティックもしくはカード、任意の他の形態の非一時的コンピュータ可読メモリもしくは記憶媒体、および／またはそれらの組合せを含む、１つまたは複数のストレージデバイスとして実装されてもよい。いくつかの実施形態では、本明細書に開示されたプログラムメモリ１４０２、記憶メモリ１４０４、任意の同様のメモリ、および／またはその任意の部分は、例えば、第２の異常検出器１０６とは別個のデバイスに含まれ、Ｉ／Ｏインターフェース１４１２を介して第２の異常検出器１０６と通信することができる。いくつかの実施形態では、本明細書に記載された検出器プロセッサ１４００および／または第２の異常検出器１０６および／または同様のプロセッサもしくはデバイスの機能は、複数のプロセッサおよび／または複数のデバイスを使用して実装されてもよい。
【0051】
動作
上述されたように、様々な実施形態では、図１および図２に示された位置追跡器１０２は、巻き取り紙位置追跡を容易にするように構成される場合がある。図５を参照すると、様々な実施形態による、巻き取り紙位置追跡を容易にするように、図２に示された追跡器プロセッサ２００に指示するためのコードのブロックを描写するフローチャートが全体的に４００に示されている。様々な実施形態では、フローチャート４００に含まれるコードのブロックは、図２に示されたプログラムメモリ２０２のコードのブロック２０６内で符号化される場合がある。
上述されたように、様々な実施形態では、図１および図２に示された位置追跡器１０２は、巻き取り紙位置追跡を容易にするように構成される場合がある。図５を参照すると、様々な実施形態による、巻き取り紙位置追跡を容易にするように、図２に示された追跡器プロセッサ２００に指示するためのコードのブロックを描写するフローチャートが全体的に４００に示されている。様々な実施形態では、フローチャート４００に含まれるコードのブロックは、図２に示されたプログラムメモリ２０２のコードのブロック２０６内で符号化される場合がある。
【0052】
図５を参照すると、フローチャート４００はブロック４０２から始まり、ブロック４０２は、第１の巻き取り紙処理段階における巻き取り紙上で検出された異常の位置を表す第１段階異常位置の表現を受信するように、プロセッサ２００に指示する。いくつかの実施形態では、ブロック４０２は、第１の異常検出器１０４から第１段階異常位置の表現を受信するように追跡器プロセッサ２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、第１の異常検出器１０４は、第１段階画像の１つまたは複数のセット、および画像の各々に関連付けられた機械方向位置情報を受信し、画像を分析して第１段階異常位置を決定するように構成される場合がある。いくつかの実施形態では、第１の異常検出器１０４は、第１段階異常位置の表現を位置追跡器１０２に送信するように構成される場合がある。
【0053】
図６を参照すると、様々な実施形態による、巻き取り紙位置追跡のための異常検出を容易にするように、図３に示された検出器プロセッサ１２００に指示するためのコードのブロックを描写するフローチャート５００が示されている。様々な実施形態では、フローチャート５００に含まれるコードのブロックは、図３に示されたプログラムメモリ１２０２のコードのブロック１２０６内で符号化される場合がある。
【0054】
図６を参照すると、フローチャート５００はブロック５０２から始まり、ブロック５０２は、第１の巻き取り紙処理段階１０５における巻き取り紙１０８の第１段階画像のセットを受信するように、検出器プロセッサ１２００に指示する。いくつかの実施形態では、ブロック５０２は、図３に示されたＩ／Ｏインターフェース１２１２のインターフェース１２２０を介して、図１に示されたシステム１００の１つまたは複数の第１のカメラ１２０から第１段階画像のセットを受信するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々な実施形態では、１つまたは複数の第１のカメラ１２０は、第１の巻き取り紙処理段階１０５における処理中に、巻き取り紙１０８の第１の機械方向長さを表す第１段階画像の第１のセットを含む、第１の巻き取り紙処理段階１０５における巻き取り紙１０８の第１段階画像を生成するように構成される場合があり、第１段階画像の第１のセットは図７の４６０に示された第１段階画像を含む。
【0055】
例えば、マトリクスカメラを使用するときなどのいくつかの実施形態では、第１段階画像は、巻き取り紙１０８を撮像する際の機械方向のギャップを回避するために、かつ／または何らかの異常が巻き取り紙と一緒に移動する欠陥であるか、もしくは例えば空中に浮遊している紙片であるかを見分けることができるなどの他の機能を容易にするために、いくつかの冗長または重複する画像領域を含む場合がある。
【0056】
様々な実施形態では、ブロック５０２は、１つまたは複数の第１のカメラ１２０から第１段階画像４６０を含む第１段階画像の第１のセットを受信し、図３に示された記憶メモリ１２０４の位置１２４０に第１段階画像の第１のセットを記憶するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック５０２は、第１段階画像の第１のセットに含まれる画像の各々について、図１に示された第１の位置センサ１２２から関連付けられた機械方向位置を受信し、記憶メモリ１２０４の位置１２４０に記憶された第１段階画像の第１のセットの各画像に関連して、関連付けられた機械方向位置を記憶するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。
【0057】
いくつかの実施形態では、ブロック５０２で受信された第１段階画像の第１のセットは、例えば巻き取り紙１０８の機械方向長さなどの巻き取り紙１０８の一部分を表すことができる。例えば、いくつかの実施形態では、第１段階画像の第１のセットは、巻き取り紙１０８の最初の１０００ｍを表す場合がある。
様々な実施形態では、巻き取り紙１０８を考慮すると、１セットの画像及びすなわち一度における一部分は、巻き取り紙１０８の長さに沿った部分ごとの異常識別感度の調整を容易にすることができる。様々な実施形態では、これは、巻き取り紙の長さに沿って巻き取り紙の特性をおそらく変化させ、かつ／または（例えば、汚れを蓄積するカメラハウジングなどの）撮像条件を経時的に変化させるにもかかわらず、巻き取り紙１０８の機械方向長さに沿った異常密度のより一貫した観察を容易にすることができる。様々な実施形態では、これは、以下に記載されるように、より良好な巻き取り紙追跡ならびに／または決定された位置オフセット記録のより一貫したおよび／もしくは正確な決定を容易にすることができる。
様々な実施形態では、巻き取り紙１０８を考慮すると、１セットの画像及びすなわち一度における一部分は、巻き取り紙１０８の長さに沿った部分ごとの異常識別感度の調整を容易にすることができる。様々な実施形態では、これは、巻き取り紙の長さに沿って巻き取り紙の特性をおそらく変化させ、かつ／または（例えば、汚れを蓄積するカメラハウジングなどの）撮像条件を経時的に変化させるにもかかわらず、巻き取り紙１０８の機械方向長さに沿った異常密度のより一貫した観察を容易にすることができる。様々な実施形態では、これは、以下に記載されるように、より良好な巻き取り紙追跡ならびに／または決定された位置オフセット記録のより一貫したおよび／もしくは正確な決定を容易にすることができる。
【0058】
図６を参照すると、ブロック５０４は、第１段階画像のセットに対する第１段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、第１段階異常位置のうちの少なくとも１つを決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示する。様々な実施形態では、ブロック５０４は、第１段階画像の第１のセットに対する第１の第１段階異常識別感度の適用に基づいて、第１段階異常位置の第１のセットを決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々な実施形態では、第１の第１段階異常識別感度は、異常識別閾値を含む場合があり、図３に示された記憶メモリ１２０４の位置１２４２に記憶される場合がある。いくつかの実施形態では、第１の第１段階異常識別閾値は、ユーザによって事前設定および選択され得る値に初期化されている場合がある。例えば、いくつかの実施形態では、第１の第１段階異常識別閾値は、１～１００の値に設定される場合がある。いくつかの実施形態では、位置１２４２に記憶された第１の第１段階異常識別閾値は、例えば２５であり得る。
【0059】
様々な実施形態では、ブロック５０４は、第１段階画像の第１のセットの各々におけるピクセルまたはピクセル位置ごとに異常性指標値を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができ、異常性指標値はピクセル位置に異常が存在する可能性があるかどうかを表す。いくつかの実施形態では、ブロック５０４は、記憶メモリ１２０４の位置１２４２に記憶された第１の第１段階異常識別閾値よりも大きい異常性指標値に関連付けられたピクセルグループを識別するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック５０４は、異常を表すように識別されたピクセルグループを決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック５０４は、識別されたピクセルグループの位置と、ピクセルグループが識別された画像についての機械方向位置との組合せを使用して異常ごとの位置を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。
【0060】
いくつかの実施形態では、ブロック５０４は、視野の移動平均として基準画像を維持するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、ブロック５０４は、指数平滑化または（例えば、Ｒｅｕｎａｎｅｎ，Ｊｕｈａ．（２０１５）．Ｆａｉｒ Ｅｘｐｏｎｅｎｔｉａｌ Ｓｍｏｏｔｈｉｎｇ ｗｉｔｈ Ｓｍａｌｌ Ａｌｐｈａ．１０．１３１４０／ＲＧ．２．１．２１８１．１９２３に記載された）スモールアルファによるフェア指数平滑化（ＦＥＳＳＡ）を使用するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック５０４は、画像ごとに、画像と基準画像との間の差分を計算するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。
【0061】
いくつかの実施形態では、ブロック５０４は、新しいピクセル値／基準ピクセル値－１＝（新しいピクセル値－基準ピクセル値）／基準ピクセル値として差分を計算するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、この計算を行う前に、ブロック５０４は、例えば、基準ピクセル値＝ｍａｘ（基準ピクセル値；ε）を設定することにより、基準ピクセル値を厳密に正であるように設定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができ、ここで、εは小さい数、例えば０．１である。様々な実施形態では、決定された差分の絶対値が異常性指標値として使用される場合がある。様々な実施形態では、基準ピクセル値で除算することにより、例えば、ケラレに対するロバスト性を改善することができる。
様々な実施形態では、ブロック５０４は、異常性指標値を第１の第１段階異常識別閾値と比較するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。異常性指標値が第１の第１段階異常識別閾値を超えるピクセルは、異常と見なされる場合がある。
様々な実施形態では、ブロック５０４は、異常性指標値を第１の第１段階異常識別閾値と比較するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。異常性指標値が第１の第１段階異常識別閾値を超えるピクセルは、異常と見なされる場合がある。
【0062】
様々な実施形態では、ブロック５０４は、第１の第１段階異常識別閾値を超える異常性指標値に関連付けられた近くのピクセルをグループ化するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック５０４は、異常ピクセルの各グループの中心、および／または境界ボックス、および／または境界を計算するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができ、各グループは異常の表現として機能する。様々な実施形態では、各中心は、第１段階異常位置の決定された第１のセットの第１段階異常位置として機能することができる。
様々な実施形態では、ブロック５０４は、境界ボックスの中心として、かつ／またはグループの一部であるピクセルの重心として中心を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック５０４は、重心計算において、個々のピクセルが第１の第１段階異常識別閾値レベルを超えた分だけ個々のピクセルを重み付けするように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。
様々な実施形態では、ブロック５０４は、境界ボックスの中心として、かつ／またはグループの一部であるピクセルの重心として中心を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック５０４は、重心計算において、個々のピクセルが第１の第１段階異常識別閾値レベルを超えた分だけ個々のピクセルを重み付けするように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。
【0063】
いくつかの実施形態では、ブロック５０４は、規則を使用して異常ピクセルの各グループを分類するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック５０４は、ピクセルの異常グループのサイズ、形状、およびピクセル値分布に少なくとも部分的に基づいて分類するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、そのようなクラス情報は、位置オフセットを決定し、第２の巻き取り紙処理段階１０７における位置を推定するために使用され得るコスト関数で使用される場合がある。
【0064】
様々な実施形態では、決定された異常位置の各々は、例えば、メートル単位の機械方向位置および交差方向位置を含む場合がある。様々な実施形態では、代替または追加の異常識別プロセスが使用される場合がある。
様々な実施形態では、ブロック５０４は、図８に示されたように、決定された第１段階異常位置の第１のセットを第１段階異常位置記録５４０に記憶し、図３に示された記憶メモリ１２０４の位置１２４４に第１段階異常位置記録５４０を記憶するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。図８を参照すると、第１段階異常位置記録５４０は、異常ごとの機械方向位置および交差方向位置を記憶するための異常位置フィールドを含む。例えば、図８を参照すると、図８には異常位置フィールドのすべてが示されているわけではないが、第１段階異常位置記録５４０は、第１の異常の機械方向位置および交差方向位置をそれぞれ記憶するための第１段階異常位置フィールド５４２および５４４と、第２の異常の機械方向位置および交差方向位置をそれぞれ記憶するための第２段階異常位置フィールド５４６および５４８と、第９３３の異常の機械方向位置および交差方向位置をそれぞれ記憶するための第９３３の異常位置フィールド５５０および５５２とを含む場合がある。
様々な実施形態では、ブロック５０４は、図８に示されたように、決定された第１段階異常位置の第１のセットを第１段階異常位置記録５４０に記憶し、図３に示された記憶メモリ１２０４の位置１２４４に第１段階異常位置記録５４０を記憶するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。図８を参照すると、第１段階異常位置記録５４０は、異常ごとの機械方向位置および交差方向位置を記憶するための異常位置フィールドを含む。例えば、図８を参照すると、図８には異常位置フィールドのすべてが示されているわけではないが、第１段階異常位置記録５４０は、第１の異常の機械方向位置および交差方向位置をそれぞれ記憶するための第１段階異常位置フィールド５４２および５４４と、第２の異常の機械方向位置および交差方向位置をそれぞれ記憶するための第２段階異常位置フィールド５４６および５４８と、第９３３の異常の機械方向位置および交差方向位置をそれぞれ記憶するための第９３３の異常位置フィールド５５０および５５２とを含む場合がある。
【0065】
いくつかの実施形態では、フローチャート５００および／またはブロック５０４は、第１段階異常位置の表現を位置追跡器１０２に送信するように、検出器プロセッサ１２００に指示するためのコードのブロックを含む場合がある。例えば、いくつかの実施形態では、フローチャート５００は、図８に示された第１段階異常位置記録５４０を表す信号が、図３に示されたＩ／Ｏインターフェース１２１２のインターフェース１２２４を介して位置追跡器１０２に送信されるようにするように、検出器プロセッサ１２００に指示するブロックを含む場合がある。
【0066】
図６を参照すると、いくつかの実施形態では、フローチャート５００は、第１段階画像の第２のセットに適用するための第２の第１段階異常識別感度を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる、ブロック５０６および５０８を含む場合がある。様々な実施形態では、第２の第１段階異常識別感度は、第１の第１段階異常識別感度とは異なる場合がある。図６を参照すると、ブロック５０６は、第１段階異常識別感度に関連付けられた少なくとも１つの異常密度を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示する。様々な実施形態では、ブロック５０６は、第１の第１段階異常識別感度に関連付けられた異常密度を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、異常密度は異常カウント密度であり得る。様々な実施形態では、異常カウント密度は、巻き取り紙１０８の長さ当たりの異常として、または巻き取り紙の面積当たりの異常として決定される場合がある。様々な実施形態では、ブロック５０６は、第１段階画像の第１のセットに含まれる最新画像のサンプリング機械方向近接度内でどれだけの数の異常が検出されているかをカウントすることによって異常密度を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。例えば、いくつかの実施形態では、サンプリング機械方向近接度は２０，０００メートルであり得る。したがって、様々な実施形態では、サンプリング機械方向近接度は、第１段階画像の第１のセットによって表された巻き取り紙１０８の部分の機械方向長さよりも大きい場合がある。
【0067】
様々な実施形態では、巻き取り紙１０８がサンプリング機械方向近接度未満で撮像されているとき、ブロック５０６は、受信された巻き取り紙１０８のすべての第１段階画像に基づいて異常密度を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。例えば、いくつかの実施形態では、第１段階画像の第１のセットは、検出器プロセッサ１２００によって受信された唯一の第１段階画像であり得、したがってブロック５０６は、第１段階画像の第１のセットに基づいて異常密度を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。
【0068】
様々な実施形態では、ブロック５０６は、第１段階異常位置の第１のセットによって表された異常の数を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。例えば、いくつかの実施形態では、ブロック５０６は、記憶メモリ１２０４の位置１２４４から第１段階異常位置記録５４０を読み取り、第１段階異常位置記録５４０によって表された位置の数を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。
サンプリング機械方向近接度が第１段階画像の第１のセットによって表された機械方向長さよりも大きく、位置１２４４がさらなる第１段階異常位置記録を記憶する様々な実施形態では、ブロック５０６は、第１段階異常位置記録５４０によって表された位置の数に、異常位置記録によって表された任意のさらなる位置の数を加算するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができ、位置は、第１段階画像の第１のセットの最新の（最大の機械方向位置）画像のサンプリング機械方向近接度内にある。
サンプリング機械方向近接度が第１段階画像の第１のセットによって表された機械方向長さよりも大きく、位置１２４４がさらなる第１段階異常位置記録を記憶する様々な実施形態では、ブロック５０６は、第１段階異常位置記録５４０によって表された位置の数に、異常位置記録によって表された任意のさらなる位置の数を加算するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができ、位置は、第１段階画像の第１のセットの最新の（最大の機械方向位置）画像のサンプリング機械方向近接度内にある。
【0069】
様々な実施形態では、ブロック５０６は、位置が考慮された第１段階画像によって表された機械方向長さで決定された数を除算することによって異常密度を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができ、機械方向長さは、いくつかの実施形態では、第１段階画像の第１のセットのみが分析されている場所など、例えば１０００ｍであり得る。いくつかの実施形態では、異常密度は、関連する機械方向長さにわたって統合された撮像された巻き取り紙１０８の幅などの対応する巻き取り紙領域で決定された数を除算することによって決定される場合がある。
様々な実施形態では、ブロック５０６は、記憶メモリ１２０４の位置１２４６に決定された異常密度を記憶するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。例えば、いくつかの実施形態では、ブロック５０６は、巻き取り紙１０８のメートル当たり０．９３３個の異常の第１の異常密度を記憶メモリ１２０４の位置１２４６に記憶するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。
様々な実施形態では、ブロック５０６は、記憶メモリ１２０４の位置１２４６に決定された異常密度を記憶するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。例えば、いくつかの実施形態では、ブロック５０６は、巻き取り紙１０８のメートル当たり０．９３３個の異常の第１の異常密度を記憶メモリ１２０４の位置１２４６に記憶するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。
【0070】
図６を参照すると、ブロック５０８は、決定された少なくとも１つの異常密度および第１段階異常識別感度に少なくとも部分的に基づいて、新しい第１段階異常識別感度を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示する。様々な実施形態では、ブロック５０８は、記憶メモリ１２０４の位置１２４２および１２４６から第１の第１段階異常識別感度および異常密度を読み取り、第１の第１段階異常識別感度および第１の異常密度に少なくとも部分的に基づいて、第２の第１段階異常識別感度を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック５０８は、第２の第１段階異常識別感度を記憶メモリ１２０４の位置１２４２に記憶するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。
【0071】
様々な実施形態では、ブロック５０８は、所望よりも少ない異常が第１の異常密度によって表された場合、第２の第１段階異常識別感度がより敏感（したがって、例えば、より低い閾値）であるように異常識別感度を調整するように、または所望よりも多い異常が第１の異常密度によって表された場合、第２の第１段階異常識別感度がより鈍感（したがって、例えば、より高い閾値）であるように異常識別感度を調整するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。
【0072】
図９を参照すると、様々な実施形態による、図６に示されたフローチャート５００のブロック５０８に含まれ得るコードのブロックを描写するフローチャート５８０が示されている。フローチャート５８０はブロック５８２から始まり、ブロック５８２は、異常密度と所望の第１段階異常密度との間の差分を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示する。いくつかの実施形態では、所望の第１段階異常密度は、前もって設定され、記憶メモリ１２０４の位置１２４８に記憶されている場合がある。いくつかの実施形態では、所望の第１段階異常密度は、機械方向長さに対する所望の異常密度に基づいて設定される場合があり、それは、位置追跡器１０２を使用して巻き取り紙位置追跡を容易にすることができる。例えば、いくつかの実施形態では、所望の第１段階異常密度は、機械方向長さのメートル当たり１．０００個の異常であり得る。様々な実施形態では、所望の第１段階異常密度は、ユーザによって前もって設定されている場合があり、かつ／または例えば、早く追跡を開始するのに十分な異常が検出されるが、同時に、例えば処理能力の問題を引き起こす可能性があるほど多くの異常が検出されないように調整される場合がある。
【0073】
図９を参照すると、様々な実施形態では、ブロック５８２は、記憶メモリ１２０４の位置１２４６に記憶された異常密度から記憶メモリの位置１２４８に記憶された所望の第１段階異常密度を減算して差分を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができ、ブロック５８２は、記憶メモリ１２０４の位置１２５０に差分を記憶するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。
図９に戻って参照すると、フローチャート５８０のブロック５８４は、ブロック５８２で決定された差分に少なくとも部分的に基づいて、新しい第１段階異常感度を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、ブロック５８４は、所望よりも少ない異常が発見された場合に感度をより敏感になるように調整し、所望よりも多い異常が発見された場合に感度をより敏感でなくなるように調整するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。
図９に戻って参照すると、フローチャート５８０のブロック５８４は、ブロック５８２で決定された差分に少なくとも部分的に基づいて、新しい第１段階異常感度を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、ブロック５８４は、所望よりも少ない異常が発見された場合に感度をより敏感になるように調整し、所望よりも多い異常が発見された場合に感度をより敏感でなくなるように調整するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。
【0074】
様々な実施形態では、フローチャート５８０のブロック５８４は、ブロック５８２で決定された差分に少なくとも部分的に基づいて、第２の第１段階異常感度を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々な実施形態では、第１および第２の第１段階異常識別感度は、第１および第２の第１段階異常閾値を含む場合があり、ブロック５８４は、以下の式：
を使用して第２の第１段階異常閾値を決定するように検出器プロセッサ１２００に指示することができ、ここで、Ｔ１２は第２の第１段階異常閾値であり、Ｔ１１は第１の第１段階異常閾値であり、ａ１は倍率であり、Ｄ１は、ブロック５８２で決定され、図３に示された記憶メモリ１２０４の位置１２５０に記憶された差分を、記憶メモリ１２０４の位置１２４８からの所望の第１段階異常密度で除算することによって決定された相対差分である。いくつかの実施形態では、ａ１は、例えば、第１段階画像の第１のセットが巻き取り紙１０８の機械方向長さで１０００ｍを表すときに、０．０００１などの小さい数に設定される場合がある。
様々な実施形態では、ブロック５８４は、第２の第１段階異常識別感度として上記の式を使用して決定された値を図３に示された記憶メモリ１２０４の位置１２４２に記憶するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。
を使用して第２の第１段階異常閾値を決定するように検出器プロセッサ１２００に指示することができ、ここで、Ｔ１２は第２の第１段階異常閾値であり、Ｔ１１は第１の第１段階異常閾値であり、ａ１は倍率であり、Ｄ１は、ブロック５８２で決定され、図３に示された記憶メモリ１２０４の位置１２５０に記憶された差分を、記憶メモリ１２０４の位置１２４８からの所望の第１段階異常密度で除算することによって決定された相対差分である。いくつかの実施形態では、ａ１は、例えば、第１段階画像の第１のセットが巻き取り紙１０８の機械方向長さで１０００ｍを表すときに、０．０００１などの小さい数に設定される場合がある。
様々な実施形態では、ブロック５８４は、第２の第１段階異常識別感度として上記の式を使用して決定された値を図３に示された記憶メモリ１２０４の位置１２４２に記憶するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。
【0075】
図６を参照すると、様々な実施形態では、ブロック５０８が完了した後、検出器プロセッサ１２００はブロック５０２に戻る場合があり、第１段階画像のさらなるセットが受信される場合がある。例えば、様々な実施形態では、ブロック５０２の次の実行において、第１段階画像の第２のセットが受信される場合がある。様々な実施形態では、ブロック５０４は、記憶メモリ１２０４の位置１２４２に記憶された第２の第１段階異常識別感度を第１段階画像の第２のセットに適用することによって実行される場合がある。様々な実施形態では、図８に示された第１段階異常位置記録５４０とほぼ同様のフォーマットを有する第２の第１段階異常位置記録が生成され、記憶メモリ１２０４の位置１２４４に記憶される場合がある。様々な実施形態では、ブロック５０６および５０８は、第３の第１段階異常識別感度を決定するために実行される場合がある。
【0076】
様々な実施形態では、ブロック５０２～５０８は、巻き取り紙１０８のそれぞれの部分を表す第１段階画像の各セットに対して実行される場合がある。様々な実施形態では、フローチャート５００の実行が完了した後、異常位置を表す１つまたは複数の第１段階異常位置記録は、記憶メモリ１２０４の位置１２４４に記憶される場合がある。
図１を参照すると、様々な実施形態では、フローチャート５００は、第１の巻き取り紙処理段階１０５における巻き取り紙１０８の処理中に実行される場合がある。図５に戻って参照すると、様々な実施形態では、ブロック４０２は、Ｉ／Ｏインターフェース２１２のインターフェース２２０を介して、第１の異常検出器１０４から記憶メモリ１２０４の位置１２４４に記憶された第１段階異常位置記録の表現を受信し、記憶メモリ２０４の位置２４４に第１段階異常位置記録を記憶するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。
様々な実施形態では、第１の巻き取り紙処理段階における処理が完了した後、巻き取り紙１０８は第２の巻き取り紙処理段階１０７に移動する場合があり、巻き取り紙１０８はそこでさらに処理される場合がある。様々な実施形態では、第２の巻き取り紙処理段階１０７における巻き取り紙の処理の後または間に、図５に示されたフローチャートのブロック４０４が実行される場合がある。
図１を参照すると、様々な実施形態では、フローチャート５００は、第１の巻き取り紙処理段階１０５における巻き取り紙１０８の処理中に実行される場合がある。図５に戻って参照すると、様々な実施形態では、ブロック４０２は、Ｉ／Ｏインターフェース２１２のインターフェース２２０を介して、第１の異常検出器１０４から記憶メモリ１２０４の位置１２４４に記憶された第１段階異常位置記録の表現を受信し、記憶メモリ２０４の位置２４４に第１段階異常位置記録を記憶するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。
様々な実施形態では、第１の巻き取り紙処理段階における処理が完了した後、巻き取り紙１０８は第２の巻き取り紙処理段階１０７に移動する場合があり、巻き取り紙１０８はそこでさらに処理される場合がある。様々な実施形態では、第２の巻き取り紙処理段階１０７における巻き取り紙の処理の後または間に、図５に示されたフローチャートのブロック４０４が実行される場合がある。
【0077】
図５を参照すると、様々な実施形態では、フローチャート４００はブロック４０４に進み、ブロック４０４は、図１に示された第２の巻き取り紙処理段階１０７において巻き取り紙１０８上で検出された異常の位置を表す第２段階異常位置の表現を受信するように、追跡器プロセッサ２００に指示する。様々な実施形態では、ブロック４０４は、図２に示されたＩ／Ｏインターフェース２１２のインターフェース２２２を介して、第２の異常検出器１０６から第２段階異常位置の表現を受信するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。
様々な実施形態では、第２の異常検出器１０６は、第１の異常検出器１０４とほぼ同様に構成される場合がある。図１０を参照すると、様々な実施形態による、巻き取り紙位置追跡のための異常検出を容易にするように、図４に示された検出器プロセッサ１４００に指示するためのコードのブロックを描写するフローチャート５９０が示されている。様々な実施形態では、フローチャート５９０に含まれるコードのブロックは、図４に示されたプログラムメモリ１４０２のコードのブロック１４０６内で符号化される場合がある。様々な実施形態では、フローチャート５９０は、図６に示されたフローチャート５００に含まれるものとほぼ同様のコードのブロックを含む場合がある。
様々な実施形態では、第２の異常検出器１０６は、第１の異常検出器１０４とほぼ同様に構成される場合がある。図１０を参照すると、様々な実施形態による、巻き取り紙位置追跡のための異常検出を容易にするように、図４に示された検出器プロセッサ１４００に指示するためのコードのブロックを描写するフローチャート５９０が示されている。様々な実施形態では、フローチャート５９０に含まれるコードのブロックは、図４に示されたプログラムメモリ１４０２のコードのブロック１４０６内で符号化される場合がある。様々な実施形態では、フローチャート５９０は、図６に示されたフローチャート５００に含まれるものとほぼ同様のコードのブロックを含む場合がある。
【0078】
いくつかの実施形態では、ブロック４０４は、巻き取り紙１０８の最小長さがブロック４０４で受信された第２段階異常位置によって表されると、ブロック４０６を実行するように追跡器プロセッサ２００に指示することができる。例えば、最小長さは約５０ｍであり得る。いくつかの実施形態では、ブロック４０４は、第２段階異常位置の最小数が受信されると、ブロック４０６を実行するように追跡器プロセッサ２００に指示することができる。例えば、いくつかの実施形態では、第２段階異常位置の最小数は５０であり得る。
【0079】
図１０を参照すると、フローチャート５９０はブロック５９２から始まり、ブロック５９２は、第２の巻き取り紙処理段階１０７における巻き取り紙１０８の第２段階画像のセットを受信するように、検出器プロセッサ１４００に指示する。様々な実施形態では、ブロック５９２は、図１に示された１つまたは複数の第２のカメラ１２４から、第２の巻き取り紙処理段階１０７における巻き取り紙１０８の第２段階画像の第１のセットを受信するように、検出器プロセッサ１４００に指示することができ、第２段階画像の第１のセットは図１１に示された第２の画像６００を含む。様々な実施形態では、ブロック５９２は、図１に示された第２の位置センサ１２６からの第２段階画像の各々に関連付けられた機械方向位置を受信するように、検出器プロセッサ１４００に指示することができる。
【0080】
様々な実施形態では、ブロック５９２は、第２段階画像の第１のセットを記憶メモリ１４０４の位置１４５２に記憶するように、検出器プロセッサ１４００に指示することができる。様々な実施形態では、第２段階画像の第１のセットは、巻き取り紙１０８の最近撮像された閾値距離の画像を含む場合がある。例えば、いくつかの実施形態では、ブロック５９２は、巻き取り紙１０８の最新１０００ｍの画像を受信し、第２段階画像の第１のセットとして記憶メモリ１４０４の位置１４５２に記憶するように、検出器プロセッサ１４００に指示することができる。
【0081】
図１０を参照すると、ブロック５９４は、第２段階画像のセットに対する第２段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、第２段階異常位置のうちの少なくとも１つを決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示する。様々な実施形態では、ブロック５９４は、第２段階画像の第１のセットに対する第１の第２段階異常識別感度の適用に基づいて、第２段階異常位置の第１のセットを決定するように、検出器プロセッサ１４００に指示することができる。いくつかの実施形態では、第１の第２段階異常識別感度は、位置１４５４に記憶される場合があり、例えば２５であり得る。
【0082】
様々な実施形態では、ブロック５９２および５９４は、ブロック５９２で受信された第２段階画像ごとに、第２段階画像の全セットが受信されるのを待つことなく、画像が第２段階異常位置について分析されるように、同時に実行される場合がある。様々な実施形態では、画像をセットに分離することにより、巻き取り紙１０８に対する様々な第２段階異常識別感度の適用を容易にすることができ、各感度は画像の異なるセットに使用される。
【0083】
様々な実施形態では、位置追跡器１０２は、いつでも第２段階異常位置の表現を要求および／もしくは受信することができる場合があり、かつ／またはコードのブロックは、決定された第２段階異常位置を、それらが決定されるにつれて位置追跡器１０２に連続的に送信するために、検出器プロセッサ１４００によって実行される場合がある。例えば、いくつかの実施形態では、ブロック５９４は、第２段階異常位置記録が決定されるか、または新しい異常位置で更新されたときに、第２段階異常位置記録を表す信号が、図４に示されたＩ／Ｏインターフェース１４１２のインターフェース１４２４を介して位置追跡器１０２に送信されるようにするように、検出器プロセッサ１４００に指示するためのコードのブロックを含む場合がある。したがって、様々な実施形態では、位置追跡器１０２は、フローチャート５９０のブロック５９２で第２段階画像の完全なセットが受信される前に、第２段階異常位置を連続的に受信することができる。
【0084】
様々な実施形態では、ブロック５９４は、図１２に示されたように、決定された第２段階異常位置の第１のセットを第２段階異常位置記録６２０に記憶し、図４に示された記憶メモリ１４０４の位置１４５６に第２段階異常位置記録６２０を記憶するように、検出器プロセッサ１４００に指示することができる。図１２を参照すると、第２段階異常位置記録６２０は、異常ごとの機械方向位置および交差方向位置を記憶するための異常位置フィールドを含む。例えば、図１２を参照すると、第２段階異常位置記録６２０は、第１の異常の増加する機械方向位置および交差方向位置をそれぞれ記憶するための第１の第２段階異常位置フィールド６２２および６２４と、第２の異常の増加する機械方向位置および交差方向位置をそれぞれ記憶するための第２の第２段階異常位置フィールド６２６および６２８と、第１００２の異常の増加する機械方向位置および交差方向位置をそれぞれ記憶するための第１００２の異常位置フィールド６３２および６３４とを含む場合がある。
【0085】
図１１を参照すると、いくつかの実施形態では、フローチャート５９０は、第２段階画像の第２のセットに適用するための第２の第２段階異常識別感度を決定するように、検出器プロセッサ１４００に指示することができる、ブロック５９６および５９８を含む場合がある。様々な実施形態では、第２の第２段階異常識別感度は、第１の第２段階異常識別感度とは異なる場合がある。様々な実施形態では、ブロック５９６は、第２段階異常識別感度に関連付けられた異常密度を決定するように、検出器プロセッサ１４００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック５９６は、第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた異常密度を決定するように、検出器プロセッサ１４００に指示することができる。いくつかの実施形態では、異常密度は異常カウント密度であり得る。様々な実施形態では、ブロック５９６は、第２段階画像の第１のセットに含まれる最新画像のサンプリング機械方向近接度内でどれだけの数の異常が検出されているかをカウントするように、検出器プロセッサ１４００に指示することができる。例えば、いくつかの実施形態では、サンプリング機械方向近接度は１０，０００ｍであり得る。いくつかの実施形態では、第２の巻き取り紙処理段階１０７の場合のサンプリング機械方向近接度は、第１の巻き取り紙処理段階１０５の場合のサンプリング機械方向近接度よりも小さい場合がある。様々な実施形態では、これは、第１の巻き取り紙処理段階１０５から受け取ったリールが異なる順序および／または逆に処理され得る第２の巻き取り紙処理段階１０７における改善された追跡を容易にすることができ、そのため、例えば、抄紙機のグレード変更などの第１の巻き取り紙処理段階１０５において比較的緩やかおよび／または滑らかに見える可能性がある変更は、第２の巻き取り紙処理段階１０７において急激に現れる可能性がある。
【0086】
様々な実施形態では、ブロック５９６は、第２段階異常位置の第１のセットによって表された異常の数を決定するように、検出器プロセッサ１４００に指示することができる。例えば、いくつかの実施形態では、ブロック５９６は、記憶メモリ１４０４の位置１４５６から第２段階異常位置記録６２０を読み取り、第２段階異常位置記録６２０によって表された位置の数を決定するように、検出器プロセッサ１４００に指示することができる。
サンプリング機械方向近接度が第２段階異常位置の第１のセットによって表された機械方向長さよりも大きく、位置１４５６がさらなる第２段階異常位置記録を記憶する様々な実施形態では、ブロック５９６は、第２段階異常位置記録６２０によって表された位置の数に、異常位置記録によって表された任意のさらなる位置の数を加算するように、検出器プロセッサ１４００に指示することができ、位置は、第２段階画像の第１のセットの最新の（最大の増加する機械方向位置）画像のサンプリング機械方向近接度内にある。
サンプリング機械方向近接度が第２段階異常位置の第１のセットによって表された機械方向長さよりも大きく、位置１４５６がさらなる第２段階異常位置記録を記憶する様々な実施形態では、ブロック５９６は、第２段階異常位置記録６２０によって表された位置の数に、異常位置記録によって表された任意のさらなる位置の数を加算するように、検出器プロセッサ１４００に指示することができ、位置は、第２段階画像の第１のセットの最新の（最大の増加する機械方向位置）画像のサンプリング機械方向近接度内にある。
【0087】
様々な実施形態では、ブロック５９６は、位置が考慮された第２段階画像によって表された機械方向長さで決定された数を除算することによって異常密度を決定するように、検出器プロセッサ１４００に指示することができ、それは、いくつかの実施形態では、第２段階画像の第１のセットのみが分析されている場所、例えば１０００ｍなどであり得る。様々な実施形態では、ブロック５９６は、決定された異常密度を記憶メモリ１４０４の位置１４５８に記憶するように、検出器プロセッサ１４００に指示することができる。例えば、いくつかの実施形態では、ブロック５９６は、メートル当たり１．００２個の異常の異常密度を記憶メモリ１４０４の位置１４５８に記憶するように、検出器プロセッサ１４００に指示することができる。
【0088】
図１０を参照すると、様々な実施形態では、ブロック５９８は、決定された異常密度および第１の第２段階異常識別感度に少なくとも部分的に基づいて、第２の第２段階異常識別感度を決定するように、検出器プロセッサ１４００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック５９８は、図６に示されたフローチャート５００のブロック５０８ならびに／または図９に示されたフローチャート５８０のブロック５８２および５８４とほぼ同様のコードを含む場合がある。様々な実施形態では、ブロック５９８は、記憶メモリ１４０４の位置１４５８に記憶された異常密度と、記憶メモリ１４０４の位置１４６０に記憶された所望の第２段階異常密度との間の差分を決定するように、検出器プロセッサ１４００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック５９８は、決定された差分を記憶メモリ１４０４の位置１４６２に記憶するように、検出器プロセッサ１４００に指示することができる。
【0089】
様々な実施形態では、誤った異常が予想される場合がある。いくつかの実施形態では、巻き取り紙１０８の特性ではなく、誤った異常がカメラ画像内の暗いスポットとして現れる場合がある。例えば、様々な実施形態では、巻き取り紙１０８と１つまたは複数の第１のカメラ１２０との間の空中に浮遊している紙片が存在する場合がある。いくつかの実施形態では、誤った異常の予想割合は、第２の巻き取り紙処理段階１０７よりも第１の巻き取り紙処理段階１０５の方が高い場合がある。したがって、ほぼ同様の量の真の異常（すなわち、巻き取り紙１０８における実際の異常）を検出しようと試みるために、様々な実施形態では、所望の第２段階異常密度は、所望の第１段階異常密度よりも小さい場合がある。例えば、いくつかの実施形態では、所望の第２段階異常密度は、所望の第１段階異常密度の９０％未満であり得る。様々な実施形態では、所望の第２段階異常密度が所望の第１段階異常密度の９０％未満であることは、第２の巻き取り紙処理段階１０７における誤った異常の予想割合が低いにもかかわらず、照合および／または追跡を容易にすることができる。いくつかの実施形態では、例えば、所望の第２段階異常密度は、メートル当たり約０．８００個の異常であり得、所望の第１段階異常密度は、メートル当たり約１．０００個の異常であり得る。
【0090】
様々な実施形態では、ブロック５９８は、以下の式：
を使用して第２の第２段階異常閾値を決定するように検出器プロセッサ１４００に指示することができ、ここで、Ｔ２２は第２の第２段階異常閾値であり、Ｔ２１は第１の第２段階異常閾値であり、ａ２は倍率であり、Ｄ２は、図４に示された記憶メモリ１４０４の位置１４６２に記憶された差分を、記憶メモリ１４０４の位置１４６０からの所望の異常密度で除算することによって決定された相対差分である。いくつかの実施形態では、ａ２は、例えば、第２段階画像の第１のセットが巻き取り紙１０８の機械方向長さで１０００ｍを表すときに、０．０００１などの小さい数に設定される場合がある。
を使用して第２の第２段階異常閾値を決定するように検出器プロセッサ１４００に指示することができ、ここで、Ｔ２２は第２の第２段階異常閾値であり、Ｔ２１は第１の第２段階異常閾値であり、ａ２は倍率であり、Ｄ２は、図４に示された記憶メモリ１４０４の位置１４６２に記憶された差分を、記憶メモリ１４０４の位置１４６０からの所望の異常密度で除算することによって決定された相対差分である。いくつかの実施形態では、ａ２は、例えば、第２段階画像の第１のセットが巻き取り紙１０８の機械方向長さで１０００ｍを表すときに、０．０００１などの小さい数に設定される場合がある。
【0091】
様々な実施形態では、ブロック５９８は、第２の第２段階異常識別感度として上記の式を使用して決定された値を図４に示された記憶メモリ１４０４の位置１４５４に記憶するように、検出器プロセッサ１４００に指示することができる。図１０を参照すると、様々な実施形態では、ブロック５９８が完了した後、検出器プロセッサ１４００はブロック５９２に戻る場合があり、第２段階画像の第２のセットが受信される場合があり、ブロック５９４～５９８が第２段階画像の第２のセットに対して実行される場合があり、第１段階画像の第２のセットに第２の第２段階異常識別感度を適用する。様々な実施形態では、さらなる第２段階異常位置記録が生成され、記憶メモリ１２０４の位置１４５６に記憶される場合がある。様々な実施形態では、ブロック５９２～５９８は、第２の巻き取り紙処理段階１０７における巻き取り紙の処理中に繰り返しまたは連続的に実行される場合がある。
【0092】
様々な実施形態では、ブロック４０４は、図２に示されたＩ／Ｏインターフェース２１２のインターフェース２２２を介して、記憶メモリ１４０４の位置１４５６に記憶された第２段階異常位置記録の表現を第２の異常検出器１０６から受信するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック４０４は、図２に示された記憶メモリ２０４の位置２５６に異常位置を表す１つまたは複数の第２段階異常位置記録の表現を記憶するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、ブロック４０４は、最後に検出された異常のみが考慮されるように、記憶された第２段階異常位置記録を更新するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。例えば、いくつかの実施形態では、ブロック４０４は、最新の２０００個の異常位置記録の中にない異常位置記録を除去するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。
【0093】
いくつかの実施形態では、ブロック４０４は、第２の異常検出器１０６から、図１２に示された第２段階異常位置記録６２０の表現を受信するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、ブロック４０４は、図１３に示されたように、更新または改訂された第２段階異常位置記録６４０を生成し、図２に示された記憶メモリ２０４の位置２５６に記憶するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。図１３を参照すると、様々な実施形態では、ブロック４０４は、図１２に示された第２段階異常位置記録６２０の位置フィールド６２２から取得された増加する機械方向を記憶するための第１の増加する機械方向位置フィールド６４２と、増加する機械方向位置に基づく場合がある減少する機械方向位置を記憶するための第１の減少する機械方向位置フィールド６４４とを含めるように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、ブロック４０４は、図１２に示された第２段階異常位置記録６２０に含まれる増加する機械方向位置ごとに減少する機械方向位置を決定し、図１３に示された第２段階異常位置記録６４０に決定された減少する機械方向を含めるように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。
【0094】
様々な実施形態では、ブロック４０４は、巻き取り紙１０８の全長から関連付けられた増加する機械方向位置を減算することによって各減少する機械方向位置を決定するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、巻き取り紙１０８の全長は、前もって提供され、記憶メモリ２０４に記憶されている場合がある。いくつかの実施形態では、巻き取り紙１０８の全長は、図１に示された第１の位置センサ１２２および／または第１の異常検出器１０４によって検知または決定されている場合があり、ブロック４０４は、巻き取り紙１０８の検知された全長の表現を受信し、巻き取り紙１０８の検知された全長を記憶メモリ２０４に記憶するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。例えば、いくつかの実施形態では、巻き取り紙１０８の記憶された全長は１０５，３３６．４７ｍであり得、ブロック４０４は、１０５，３３６．４７ｍから関連付けられた増加する機械方向位置を減算することによって各減少する機械方向位置を決定するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。
【0095】
様々な実施形態では、第２段階異常位置記録６４０は、図１２に示された第２段階異常位置記録６２０の位置フィールド６２４から取得された第１の交差方向位置を記憶するための交差方向位置フィールド６４６を含む、それぞれの交差方向位置フィールドを含む場合がある。
様々な実施形態では、図１３に示された第２段階異常位置記録６４０の減少する機械方向位置フィールドおよび関連付けられた交差方向位置フィールドに記憶された位置は、第２の巻き取り紙処理段階１０７において巻き取り紙１０８上で検出された異常の位置を表す第２段階異常位置として機能することができる。
様々な実施形態では、図１３に示された第２段階異常位置記録６４０の減少する機械方向位置フィールドおよび関連付けられた交差方向位置フィールドに記憶された位置は、第２の巻き取り紙処理段階１０７において巻き取り紙１０８上で検出された異常の位置を表す第２段階異常位置として機能することができる。
【0096】
図５に戻って参照すると、様々な実施形態では、ブロック４０４は、巻き取り紙１０８が図１に示された第２の巻き取り紙処理段階１０７において処理される間、継続的に実行される場合がある。しかしながら、様々な実施形態では、ブロック４０４が実行されている間またはその後に、追跡器プロセッサ２００は、ブロック４０６を実行するように指示される場合がある。様々な実施形態では、ブロック４０６は、候補位置オフセットを対象候補位置オフセットと見なすように、追跡器プロセッサ２００に指示する。いくつかの実施形態では、ブロック４０６は、グリッド探索技法を利用することによって使用される候補位置オフセットを決定するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、ブロック４０６は、機械方向オフセットおよび交差方向オフセットの第１のグリッドを確立するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。例えば、いくつかの実施形態では、－１００～１０００メートルの機械方向オフセットが考慮される場合がある。機械方向のグリッドステップサイズは、例えば０．５ｍである可能性がある。交差方向では、例えば、－０．５ｍ～＋０．５ｍのオフセットが考慮される場合がある。交際方向のグリッドステップサイズは、例えば０．１ｍであり得る。様々な実施形態では、ブロック４０６は、第１のグリッドからの可能なオフセットペアから第１の候補位置オフセットを選択することによって対象候補位置オフセットを設定するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。
【0097】
様々な実施形態では、ブロック４０６は、図２に示された記憶メモリ２０４の位置２６４に対象候補位置オフセット記録の中の対象候補位置オフセットを記憶するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック４０６は、記憶メモリ２０４の位置２６４に図１４に示された対象候補位置オフセット記録６６０を記憶するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。図１４を参照すると、対象候補位置オフセット記録６６０は、機械方向および交差方向のそれぞれの候補位置オフセットを記憶するための機械方向オフセットフィールド６６２および交差方向オフセットフィールド６６４を含む。
【0098】
次いで、ブロック４０７は、対象候補位置オフセットを第１段階異常位置および第２段階異常位置と比較して、候補位置オフセットと関連付けられる差分の表現を決定するように、追跡器プロセッサ２００に指示する。いくつかの実施形態では、差分の表現は、対象候補位置オフセットが、図１に示された第１の巻き取り紙処理段階１０５における巻き取り紙１０８の位置または場所を、第２の巻き取り紙処理段階１０７における巻き取り紙１０８の同じ位置または場所にどれだけ良好にマッピングすることができるかを表すことができる。いくつかの実施形態では、差分の表現は、対象候補位置オフセットが第１段階異常位置を第２段階異常位置にどれだけ良好に変換することができるかを表すことができる。例えば、いくつかの実施形態では、ブロック４０７は、第１段階異常位置に候補位置オフセットを適用または加算して、オフセットされた第１段階異常位置を決定し、オフセットされた第１段階異常位置と第２段階異常位置との間の差分を決定するように、追跡器プロセッサ２００に指示するためのコードを含む場合があり、そのため、ブロック４０７は図１５に示されたコードのブロック４０８および４１０を含む場合がある。
【0099】
図１５を参照すると、ブロック４０８は、対象候補位置オフセットを第１段階異常位置に適用して、複数のオフセットされた第１段階異常位置を決定するように、追跡器プロセッサ２００に指示する。いくつかの実施形態では、ブロック４０８は、記憶メモリ２０４の位置２４４からの（例えば、図８に示された第１段階異常位置記録５４０を含む）１つまたは複数の第１段階異常位置記録、および記憶メモリ２０４の位置２６４からの（図１４に示された）対象候補位置オフセット記録６６０を読み取るように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。ブロック４０８は、機械方向オフセットフィールド６６２からのオフセットを、第１段階異常位置記録に含まれる機械方向位置フィールドの各々に加算するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。ブロック４０８は、交差方向オフセットフィールド６６４からのオフセットを、第１段階異常位置記録に含まれる交差方向位置フィールドの各々に加算するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。ブロック４０８は、図２に示された記憶メモリ２０４の位置２６８に（図１６の７００に示された）オフセットされた第１段階異常位置記録の結果を記憶するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。
【0100】
図１５を参照すると、ブロック４１０は、オフセットされた第１段階異常位置と第２段階異常位置との間の差分を決定するように、追跡器プロセッサ２００に指示する。いくつかの実施形態では、ブロック４１０は、図２に示された記憶メモリ２０４の位置２５６からの（図１３に示された第２段階異常位置記録６４０を含む）１つまたは複数の第２段階異常位置記録を読み取り、図２に示された記憶メモリ２０４の位置２６８からの（図１６の７００に示された）オフセット第１段階異常位置記録を読み取るように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。
【0101】
様々な実施形態では、ブロック４１０は、第２段階異常位置記録６４０内の（減少する機械方向位置を使用する）各位置をオフセットされた第１段階異常位置記録７００内の位置と一致させ、一致した位置の各々の間のそれぞれの差分を決定するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、位置は、第２段階異常位置記録６４０内の減少する機械方向位置ごとに、最も近いオフセットされた第１段階異常位置記録７００内の位置を決定し、それを一致した位置として使用することによって一致する場合がある。様々な実施形態では、第２段階異常ごとに最も近いオフセットされた第１段階異常を識別することは、例えば、四分木またはＦＬＡＮＮ（Ｍｕｊａ，Ｍａｒｉｕｓ ａｎｄ Ｌｏｗｅ，Ｄａｖｉｄ Ｇ．（２０１９）．Ｆａｓｔ Ａｐｐｒｏｘｉｍａｔｅ Ｎｅａｒｅｓｔ Ｎｅｉｇｈｂｏｒｓ ｗｉｔｈ Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ａｌｇｏｒｉｔｈｍ Ｃｏｎｆｉｇｕｒａｔｉｏｎ．Ｉｎ Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｃｏｎｆｅｒｅｎｃｅ ｏｎ Ｃｏｍｐｕｔｅｒ Ｖｉｓｉｏｎ Ｔｈｅｏｒｙ ａｎｄ Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎｓ（ＶＩＳＡＰＰ’０９）参照）を使用して、効率的に実施される場合がある。
いくつかの実施形態では、ブロック４１０は、一致した位置のペアごとに加重二乗距離を決定するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができ、加重二乗距離は以下の
のように定義され、ここで、ΔＭＤは一致した位置についての機械方向値の差分であり、ＷＣＤは交差方向重みであり、ΔＣＤは一致した位置についての交差方向値の差分である。いくつかの実施形態では、ＷＣＤは例えば１０に設定される場合がある。様々な実施形態では、ＷＣＤとして使用される値は前もって設定され、記憶メモリの位置２７０に記憶されている場合があり、ブロック４１０は、図２に示された記憶メモリ２０４の位置２７０からＷＣＤを取り出すように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、交差方向位置が比較的正確に測定されている可能性があるので、交差方向値の差分を比較的大きく重み付けすることが有利であり、したがって、それらに比較的大きい重みを与えることにより、例えば、改善された追跡を容易にすることができる。
いくつかの実施形態では、ブロック４１０は、一致した位置のペアごとに加重二乗距離を決定するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができ、加重二乗距離は以下の
のように定義され、ここで、ΔＭＤは一致した位置についての機械方向値の差分であり、ＷＣＤは交差方向重みであり、ΔＣＤは一致した位置についての交差方向値の差分である。いくつかの実施形態では、ＷＣＤは例えば１０に設定される場合がある。様々な実施形態では、ＷＣＤとして使用される値は前もって設定され、記憶メモリの位置２７０に記憶されている場合があり、ブロック４１０は、図２に示された記憶メモリ２０４の位置２７０からＷＣＤを取り出すように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、交差方向位置が比較的正確に測定されている可能性があるので、交差方向値の差分を比較的大きく重み付けすることが有利であり、したがって、それらに比較的大きい重みを与えることにより、例えば、改善された追跡を容易にすることができる。
【0102】
様々な実施形態では、ブロック４１０は、記憶メモリ２０４の位置２７２に図１７に示された候補位置オフセット差分記録７２０内の加重二乗距離を記憶するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。図１７を参照すると、様々な実施形態では、候補位置オフセット差分記録は、一致した位置の各々について決定された加重二乗距離を記憶するための差分フィールド（例えば、差分フィールド７２２、７２４、７２６、および７２８）を含む場合がある。いくつかの実施形態では、ブロック４１０は、差分フィールドに記憶された値の昇順で候補位置オフセット差分記録７２０をソートするように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。
【0103】
図５に戻って参照すると、様々な実施形態では、ブロック４１２は、差分の表現を候補位置オフセットと関連付けるように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック４１２は、候補位置オフセット差分記録７２０に記憶された差分のうちの最小のものを集約または合計することによって差分の表現を決定するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、ブロック４１２は、例えば、決定された差分の代表サブセットを合計するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、代表サブセットは、最小値である差分の割合であり得る。例えば、いくつかの実施形態では、割合は１０％であり得る。いくつかの実施形態では、代表サブセットに含まれる差分の数は、割合の最大値および最小の数であり得、それは、例えば２０などの値に前もって決定され設定される場合がある。
【0104】
様々な実施形態では、合計は差分の表現として機能することができる。ブロック４１２は、図１８に示されたように、差分の決定された表現を記憶する代表差分フィールド６７０を含むように、図２に示された記憶メモリ２０４の位置２６４内の（図１４の６６０に示された）対象候補位置オフセット記録を更新するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。
様々な実施形態では、ブロック４１２が実行された後、追跡器プロセッサ２００は、図５に示されたフローチャート４００のブロック４０６に戻って、新しい候補位置オフセットを対象候補位置オフセットと見なし、新しい候補位置オフセットでブロック４０６、４０７、および４１２を繰り返すように指示される場合がある。様々な実施形態では、ブロック４０６は、上述された第１のグリッドから新しい候補位置オフセットを識別するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。
様々な実施形態では、ブロック４１２が実行された後、追跡器プロセッサ２００は、図５に示されたフローチャート４００のブロック４０６に戻って、新しい候補位置オフセットを対象候補位置オフセットと見なし、新しい候補位置オフセットでブロック４０６、４０７、および４１２を繰り返すように指示される場合がある。様々な実施形態では、ブロック４０６は、上述された第１のグリッドから新しい候補位置オフセットを識別するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。
【0105】
様々な実施形態では、新しい候補位置オフセットに対してブロック４０７および４１２を実行した後、図２に示された記憶メモリ２０４の位置２６４に、図１９に示されたさらなる候補位置オフセット記録７４０が記憶される場合がある。
様々な実施形態では、ブロック４０６、４０７、および４１２は、さらなる候補位置オフセットに対して繰り返される場合がある。いくつかの実施形態では、第１のグリッド内のすべてのグリッド位置が考慮されると、追跡器プロセッサ２００は、ブロック４１４に進むように指示される場合がある。様々な実施形態では、これは、図２に示された記憶メモリ２０４の位置２６４に記憶されている図１８に示された候補位置オフセット記録６６０とほぼ同僚のフォーマットを有する多くの候補位置オフセット記録をもたらす場合がある。例えば、いくつかの実施形態では、記憶メモリ２０４の位置２６４に記憶された２２，０１１個の候補位置オフセット記録が存在する場合がある。
様々な実施形態では、ブロック４０６、４０７、および４１２は、さらなる候補位置オフセットに対して繰り返される場合がある。いくつかの実施形態では、第１のグリッド内のすべてのグリッド位置が考慮されると、追跡器プロセッサ２００は、ブロック４１４に進むように指示される場合がある。様々な実施形態では、これは、図２に示された記憶メモリ２０４の位置２６４に記憶されている図１８に示された候補位置オフセット記録６６０とほぼ同僚のフォーマットを有する多くの候補位置オフセット記録をもたらす場合がある。例えば、いくつかの実施形態では、記憶メモリ２０４の位置２６４に記憶された２２，０１１個の候補位置オフセット記録が存在する場合がある。
【0106】
図５を参照すると、様々な実施形態では、ブロック４０６、４０７、および４１２が実行され、２つ以上の候補位置オフセット記録が記憶メモリ２０４の位置２６４に記憶された後、追跡器プロセッサ２００はブロック４１４に進むことができる。ブロック４１４は、差分の表現に少なくとも部分的に基づいて、候補位置オフセットから決定された位置オフセットを識別するように、追跡器プロセッサ２００に指示する。
いくつかの実施形態では、ブロック４１４は、差分の表現のうちの最小または極小のものに関連付けられた複数の候補位置オフセットのうちの候補位置オフセットを識別することにより、決定された位置オフセットを識別するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック４１４は、図２に示された記憶メモリ２０４の位置２６４に記録された候補位置オフセット記録から、異なるフィールドに記憶された最小値を有する候補位置オフセット記録を識別するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック４１４は、図２０に示されたように、識別された候補位置オフセット記録を決定された位置オフセット記録７８０として記憶し、図２に示された記憶メモリ２０４の位置２７４に決定された位置オフセット記録７８０を記憶するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。
いくつかの実施形態では、ブロック４１４は、差分の表現のうちの最小または極小のものに関連付けられた複数の候補位置オフセットのうちの候補位置オフセットを識別することにより、決定された位置オフセットを識別するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック４１４は、図２に示された記憶メモリ２０４の位置２６４に記録された候補位置オフセット記録から、異なるフィールドに記憶された最小値を有する候補位置オフセット記録を識別するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック４１４は、図２０に示されたように、識別された候補位置オフセット記録を決定された位置オフセット記録７８０として記憶し、図２に示された記憶メモリ２０４の位置２７４に決定された位置オフセット記録７８０を記憶するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。
【0107】
図２０を参照すると、様々な実施形態では、決定された位置オフセット記録７８０は、機械方向オフセットフィールド７８２、交差方向オフセットフィールド７８４、および代表差分フィールド７８６を含む場合がある。様々な実施形態では、機械方向オフセットフィールド７８２に記憶された機械方向オフセット、および交差方向オフセットフィールド７８４に記憶された交差方向オフセットは、処理中に第２の巻き取り紙処理段階１０７における異常の位置を特定するために使用される場合がある。
【0108】
いくつかの実施形態では、図５に示されたフローチャート４００のブロック４１４が完了した後、追跡器プロセッサ２００は、ブロック４０６に戻り、決定された位置オフセットの近くのさらなる候補位置オフセットを考慮するように指示される場合がある。様々な実施形態では、ブロック４０６、４０７、および４１２は、決定された位置オフセットの近くの第２のより高密度のグリッドで繰り返される場合があり、新しく決定された位置オフセットは、ブロック４１４がもう一度実行されると見つかる場合がある。いくつかの実施形態では、より小さいグリッドステップサイズを有するさらに高密度のグリッドが使用される場合があり、図２１に示されたように、より正確に決定された位置オフセット記録７９０は、記憶メモリ２０４の位置２７４に記憶される場合がある。
【0109】
様々な実施形態では、ブロック４１４が実行された後、第２段階異常位置のさらなる表現が位置追跡器１０２によって受信される場合があり、ブロック４０４～４１４は、巻き取り紙１０８が図１に示された第２の巻き取り紙処理段階１０７で処理されるにつれて、決定された位置オフセット記録を更新するために繰り返し実行される場合がある。
【0110】
図２２を参照すると、様々な実施形態では、図５に示されたフローチャート４００の実行後または実行中に実行され得るコードのブロックを描写するフローチャート８２０が示されている。様々な実施形態では、フローチャート８２０に含まれるコードのブロックは、図２に示されたプログラムメモリ２０２のコードのブロック２０６に含まれる場合がある。いくつかの実施形態では、フローチャート８２０は、巻き取り紙１０８が図１に示された第２の巻き取り紙処理段階１０７で処理されるにつれて連続的に実行される場合がある。
【0111】
図２２を参照すると、フローチャート８２０はブロック８２２から始まり、ブロック８２２は、第１の巻き取り紙処理段階１０５において巻き取り紙１０８上で検出された欠陥の位置を表す検出された第１段階欠陥位置の表現を受信するように、追跡器プロセッサ２００に指示する。様々な実施形態では、検出された第１段階欠陥位置の表現は、１つまたは複数の第１のカメラ１２０からの画像の形態で、または欠陥検出器から受信された欠陥位置記録の表現で生じる場合がある。
【0112】
いくつかの実施形態では、第１の異常検出器１０４は欠陥検出器として機能することができ、第１段階欠陥位置を追跡器プロセッサ２００に送信する前に、位置１２４０に記憶された第１段階画像を分析して第１段階欠陥位置を決定することができる。例えば、いくつかの実施形態では、第１の異常検出器１０４は、欠陥を検出するように検出器プロセッサ１２００に指示するための図３に示されたコードのブロック１２０８を含む場合がある。様々な実施形態では、コードのブロック１２０８は、図６に示されたフローチャート５００に含まれる要素とほぼ同様であるが、より高い閾値および／またはより低い検出感度につながる他の検出パラメータを有するコードを含む場合があり、その結果、製品品質の観点から関連する欠陥および／または第２の巻き取り紙処理段階１０７における処理が調整される必要があり得る欠陥のみまたは主要な欠陥が欠陥として識別される。
【0113】
様々な実施形態では、コードのブロック１２０８は、図７に示された第１段階画像４６０および画像ごとに関連付けられた機械方向位置を含む第１段階画像を受信し、画像および機械方向位置情報から検出された欠陥位置を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、第１段階画像は、記憶メモリ１２０４の位置１２４０に記憶される場合がある。
【0114】
様々な実施形態では、ブロック１２０８は、第１段階画像に欠陥検出プロセスを適用して欠陥を識別するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。例えば、いくつかの実施形態では、ブロック１２０８は、第１段階画像の第１のセット内のピクセルごとに欠陥指標値を決定し、欠陥閾値よりも大きい欠陥指標値に関連付けられたピクセルのグループを識別するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々な実施形態では、欠陥指標値は、異常性指標値と同様に決定される場合があり、欠陥閾値は、図６に示されたフローチャート５００のブロック５０４において異常を識別するために使用される閾値よりも大きい可能性があるので、異常と比較してより少ない欠陥が識別される場合がある。様々な実施形態では、例えば、欠陥が欠陥として識別されるために欠陥の最小サイズが必要とされる欠陥検出プロセスなど、欠陥を見つけるための代替プロセスおよび／または追加基準が使用される場合がある。いくつかの実施形態では、ブロック１２０８は、少なくとも１つの検出された欠陥位置記録を生成し、検出された欠陥位置記録を表す信号が図３に示された第１の異常検出器１０４のインターフェース１２２４を介して位置追跡器１０２に送信されるようにするように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。
【0115】
様々な実施形態では、ブロック８２２は、図２に示されたＩ／Ｏインターフェース２１２のインターフェース２２０を介して、第１の異常検出器１０４から少なくとも１つの検出された第１段階欠陥位置記録の表現を受信し、図２に示された記憶メモリ２０４の位置２７６に検出された第１段階欠陥位置記録を記憶するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。図２３を参照すると、図２に示された記憶メモリ２０４の位置２７６に記憶され得る例示的な検出された第１段階欠陥位置記録８６０が示されている。
【0116】
図２２に戻って参照すると、ブロック８２４は、第２の巻き取り紙処理段階における巻き取り紙の検知された第２段階位置の表現を受信するように追跡器プロセッサ２００に指示し、検知された第２段階位置は、図１に示された第２の巻き取り紙処理段階１０７における巻き取り紙１０８の現在位置を表す。様々な実施形態では、検知された第２段階位置は、第２の巻き取り紙処理段階１０７で処理されている巻き取り紙１０８の現在または近い現在の位置を表すことができる。様々な実施形態では、ブロック８２４は、図１に示された第２の位置センサ１２６から、図２に示されたインターフェース２２６を介して、例えば、メートル単位で検知された第２段階位置を表す値を含む場合がある、検知された第２段階位置の表現を受信するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック８２４は、検知された第２段階位置を図２に示された記憶メモリ２０４の位置２７８に記憶する前に、図５に示されたフローチャート４００のブロック４０４に関して本明細書に記載されたように、受信された検知された第２段階位置から増加する機械方向位置を減少する機械方向位置に変換するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。
【0117】
図２２を参照すると、ブロック８２６は、決定された位置オフセット、巻き取り紙の検知された第２段階位置、および１つまたは複数の検出された第１段階欠陥位置に基づいて、欠陥のうちの少なくとも１つに対する検知された第２段階位置の欠陥近接度を決定するように、追跡器プロセッサ２００に指示する。いくつかの実施形態では、欠陥近接度は、第２の巻き取り紙処理段階１０７で現在処理されている巻き取り紙１０８の位置が巻き取り紙１０８内の予測される欠陥にどれだけ近いかを表すことができる。
【0118】
いくつかの実施形態では、ブロック８２６は、決定された位置オフセットを１つまたは複数の検出された第１段階欠陥位置に適用して、第２の巻き取り紙処理段階１０７における巻き取り紙１０８について予測された欠陥の位置を表す１つまたは複数の予測された第２段階欠陥位置を決定するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。次いで、ブロック８２６は、１つまたは複数の予測された第２段階欠陥位置を検知された第２段階位置と比較するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。
【0119】
様々な実施形態では、ブロック８２６は、位置２７４からの図２１に示された決定された位置オフセット記録７９０および図２に示された記憶メモリ２０４の位置２７６からの図２３に示された検出された第１段階欠陥位置記録８６０を読み取って、決定された位置オフセット記録７９０の機械方向オフセットフィールドからの値を、検出された第１段階欠陥位置記録８６０内の各機械方向位置フィールドに加算し、いくつかの実施形態では、決定された位置オフセット記録７９０の交差方向オフセットフィールドからの値を、検出された第１段階欠陥位置記録８６０内の各交差方向位置フィールドに加算するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック８２６は、図２４に示された予測された第２段階欠陥位置記録９００として、結果を図２に示された記憶メモリ２０４の位置２８０に記憶するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。
【0120】
様々な実施形態では、ブロック８２６は、図２４に示された予測された欠陥位置記録９００によって表された予測された第２段階欠陥位置のうちの１つを、図２に示された記憶メモリ２０４の位置２７８に記憶された検知された第２段階位置に最も近い欠陥位置として識別するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック８２６は、識別された位置が検知された第２段階位置よりも低い機械方向位置を有することを要求することにより、最も近い欠陥位置を最も近い将来の欠陥位置として識別するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。ブロック８２６は、検知された第２段階位置と識別された最も近い欠陥位置との間の差分または距離であると欠陥近接度を決定するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、ブロック８２６は、機械方向位置のみに基づいて欠陥近接度を決定するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができるので、ブロック８２６は、検知された第２段階位置と識別された最も近い欠陥位置との間の機械方向差分または機械方向距離として欠陥近接度を決定するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック８２６は、図２に示された記憶メモリ２０４の位置２８２に決定された欠陥近接度を記憶するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。
【0121】
図２２に戻って参照すると、様々な実施形態では、ブロック８２８は、決定された欠陥近接度が閾値基準を満たす場合、図１に示された第２の巻き取り紙処理段階１０７における処理が調整されるようにするために信号を生成するように、追跡器プロセッサ２００に指指示する。例えば、いくつかの実施形態では、ブロック８２８は、欠陥近接度が閾値距離よりも大きいかどうかを判定することにより、欠陥近接度が閾値基準を満たすかどうかを判定するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができ、それは、いくつかの実施形態では、記憶メモリ２０４の位置２８４に提供または生成および記憶されている場合がある。様々な実施形態では、ブロック８２８は、第２の巻き取り紙処理段階１０７における処理が予測された欠陥位置の各々で調整されるようにするために信号を生成するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック８２８は、欠陥近接度が閾値距離未満である場合、巻き取り紙処理ドライバを減速させるために、インターフェース２２４を介して巻き取り紙処理ドライバ１３０に制御信号を送信するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。様々な実施形態では、これは、現在の第２の巻き取り紙処理段階の位置が、図２４に示された予測された欠陥位置記録９００内で識別された位置のいずれかよりも前に閾値距離内に入るときに、巻き取り紙１０８の減速を容易にすることができる。いくつかの実施形態では、追跡器プロセッサ２００は、ブロック８２４、８２６、および８２８からのコードを連続的および／または繰り返し実行して、現在の第２の巻き取り紙処理段階の位置をチェックし、（例えば、決定された位置オフセットが更新された場合）図２４に示された予測された欠陥位置記録９００を更新し、欠陥近接度を更新し、欠陥近接度が閾値距離未満であるかどうかをチェックすることができる。いくつかの実施形態では、ブロック８２４～８２８からのコードは、第２の巻き取り紙処理段階１０７における処理中に連続的に実行される場合がある。いくつかの実施形態では、閾値距離は２５００ｍであり得、ブロック８２８は、例えば、現在の第２の巻き取り紙処理段階が予測された欠陥位置記録内で識別された次の位置の２５００ｍ以内にあるときに、巻き取り紙処理ドライバ１３０に減速を開始させるように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。
【0122】
様々な実施形態では、閾値距離または近接度は、巻き取り紙１０８が移動している速度に依存する場合がある。例えば、いくつかの実施形態では、ブロック８２８は、第２の位置センサ１２６から巻き取り紙１０８の現在の速度を受信し、現在の速度に基づいて閾値距離を決定するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。例えば、運動方程式から、閾値距離はｖ２／２ａとして決定されてもよく、ここで、ａは所望の減速率であり、ｖは巻き取り紙１０８が移動している現在の速度である。スリッタ巻き取り機の場合、典型的な値は、例えば、ａ＝０．５ｍ／ｓ２およびｖ＝３０ｍ／ｓであり得る。しかしながら、実際の用途では、減速度はゼロから０．５ｍ／ｓ２まで、またはその逆に急激に変化させることはできず、代わりに、それは滑らかに上昇および下降する必要があり得る。したがって、いくつかの実施形態では、２つの追加項ｂ＋ｃが閾値距離に加えられる場合がある。様々な実施形態では、ｂおよびｃは、所望の（一定の）加速度ａおよび所望の加加速度ｊに依存する場合があり、加えてｂはまた、初期速度ｖおよび初期加速度に依存する場合がある。例えば、初期加速度がゼロであり、ｂ＝ｖ＊４ｓであり、ｃ＝２ｍであると仮定すると、定速１８００ｍ／分から減速を開始するとき、閾値距離はｂ＋ｖ２／２ａ＋ｃ＝１２０ｍ＋９００ｍ＋２ｍ＝１０２２ｍであり得、ここで、１２０ｍは減速度の増加に対応し、９００ｍは一定の減速期間に対応し、２ｍは減速度の減少に対応する。したがって、様々な実施形態では、巻き取り紙１０８が現時点においてより速く移動しているほど、巻き取り紙処理ドライバ１３０は、巻き取り紙１０８を適時に停止するために巻き取り紙の減速を開始する必要があり得る。いくつかの実施形態では、初期速度が一定でない場合に閾値距離を計算する必要があり得る。様々なそのような実施形態では、閾値距離は、現在の速度に加えて、巻き取り紙１０８の現在の加速度または減速度にも依存する場合がある。したがって、様々な実施形態では、追跡器プロセッサ２００は、例えば、受信された現在の速度値から現在の加速度または減速度を推定するように構成される場合がある。様々な実施形態では、現在の加速度が高いほど、巻き取り紙処理ドライバ１３０は、巻き取り紙１０８を適時に停止するために巻き取り紙の減速をより早く開始する必要があり得る。同様に、巻き取り紙がすでに減速している場合、様々な実施形態では、閾値距離は、初期速度が一定である状況と比較して短かい場合がある。
【0123】
様々な実施形態では、巻き取り紙処理ドライバ１３０を減速させる追跡器プロセッサ２００は、巻き取り紙１０８からの欠陥の修正および／または除去を容易にすることができる。いくつかの実施形態では、図１に示された巻き取り紙処理ドライバ１３０は、通常、約２０００ｍ／分以上で動作することができ、追跡器プロセッサ２００は、ドライバに約５ｍ／分まで減速させて、例えば、巻き取り紙１０８を完全に停止させることなく欠陥の修正または除去が行われることを可能にするように構成される場合がある。様々なそのような実施形態では、ブロック８２８は、目標が、予測された欠陥位置の３メートル前などの予測された欠陥位置より前に低い徐行速度に到達することであるように、閾値距離に一定の値を加算するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。様々な実施形態では、これは、高速処理と、第２の巻き取り紙処理段階１０７における巻き取り紙１０８の欠陥を除去または修復する能力の両方を容易にすることができる。
【0124】
様々な実施形態では、追跡器プロセッサ２００は、オペレータまたは機械が欠陥を修正または除去するのに好都合であり得る位置に欠陥があると予測されるときはいつでも、ドライバ１３０に巻き取り紙１０８の移動を完全に停止させるための信号を生成するように構成される場合がある。いくつかの実施形態では、追跡器プロセッサ２００は、予測された欠陥に関連付けられたクラスに応じて、ドライバ１３０を完全に停止させるか、または減速させるだけにするように構成される場合がある。
【0125】
いくつかの実施形態では、巻き取り紙１０８から欠陥が除去されると、これは巻き取り紙１０８の部分を除去または変更することを含む場合があり、したがって、以前に考慮された第２段階画像および関連する決定された位置オフセットは、もはや適用可能または正確ではない可能性がある。したがって、様々な実施形態では、図２２に示されたフローチャート８２０は、検出された欠陥位置が通過したことを現在の巻き取り紙位置が示した後に、位置オフセットを決定する際に考慮するための位置２５６に記憶された第２段階異常位置を更新するように、追跡器プロセッサ２００に指示するコードのブロックを含む場合がある。例えば、ブロックは、検出された欠陥位置が通過した後の位置を表す第２段階異常位置のみを含むように、位置２５６に記憶された第２段階異常位置を更新するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、例えば、ブロックは、予測された欠陥位置記録９００から予測された欠陥位置が渡されるときはいつでも、記憶メモリ２０４の位置２５６からすべての第２段階異常位置記録を除去するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。
【0126】
較正
様々な実施形態では、第１段階異常識別感度および／または第２段階異常識別感度は、代替および／または追加のプロセスを使用して決定および／または更新される場合がある。いくつかの実施形態では、異常識別感度は、以前に識別された異常の分析の間ではなく、スタンドアロン較正プロセスによって設定される場合がある。いくつかの実施形態では、較正プロセスは、決定される位置オフセットを決定するために後で使用されないはずの異常位置を識別することを含む場合がある。
いくつかの実施形態では、例えば、第１の第１段階異常識別感度は、第１段階画像の第１のセット自体および／または巻き取り紙１０８の隣接部分の画像の分析を含む場合があるスタンドアロン較正プロセスを使用して最初に決定または設定される場合がある。
様々な実施形態では、第１段階異常識別感度および／または第２段階異常識別感度は、代替および／または追加のプロセスを使用して決定および／または更新される場合がある。いくつかの実施形態では、異常識別感度は、以前に識別された異常の分析の間ではなく、スタンドアロン較正プロセスによって設定される場合がある。いくつかの実施形態では、較正プロセスは、決定される位置オフセットを決定するために後で使用されないはずの異常位置を識別することを含む場合がある。
いくつかの実施形態では、例えば、第１の第１段階異常識別感度は、第１段階画像の第１のセット自体および／または巻き取り紙１０８の隣接部分の画像の分析を含む場合があるスタンドアロン較正プロセスを使用して最初に決定または設定される場合がある。
【0127】
ここで図２５を参照すると、様々な実施形態による、図６に示されたフローチャート５００の実行より前に検出器プロセッサ１２００によって実行され得るコードのブロックを描写するフローチャート９４０が示されている。例えば、いくつかの実施形態では、フローチャート９４０に含まれるブロックは、図６に示されたフローチャート５００が実行される前に第１の第１段階異常識別感度を決定するために、図６に示されたフローチャート５００のブロック５０２の実行より前に実行される場合がある。
【0128】
図２４を参照すると、フローチャートはブロック９４２から始まり、ブロック９４２は、図１に示された第１の巻き取り紙処理段階１０５において巻き取り紙１０８の第１段階画像の較正セットを受信するように、検出器プロセッサ１２００に指示する。いくつかの実施形態では、第１段階画像の第１のセットは、第１段階画像の較正セットのうちの少なくとも１つを含む場合がある。いくつかの実施形態では、第１段階画像の第１のセットは、第１段階画像の較正セットを含む場合がある。いくつかの実施形態では、第１段階画像の較正セットおよび第１段階画像の第１のセットは、同じ画像のセットであってもよい。
【0129】
様々な実施形態では、第１段階画像の較正セットとして第１段階画像の第１のセットを使用して、第１の第１段階異常識別感度として機能する較正ベースの第１段階異常識別感度を決定することは、第１段階画像の第１のセットの所望の異常密度が実現可能であるように優れた較正を容易にすることができる。いくつかの実施形態では、第１段階画像の較正セットは、第１段階画像の第１のセットによって表された部分に隣接する巻き取り紙１０８の少なくとも一部分を表す画像を含む場合がある。
いくつかの実施形態では、ブロック９４２は、図６に示されたフローチャート５００のブロック５０２とほぼ同様のコードを含む場合があり、第１段階画像の較正セットおよび各画像に関連付けられた機械方向位置を受信するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック９４２は、第１段階画像の較正セットおよび関連付けられた位置を図３に示された記憶メモリ１２０４の位置１２８０に記憶するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。
いくつかの実施形態では、ブロック９４２は、図６に示されたフローチャート５００のブロック５０２とほぼ同様のコードを含む場合があり、第１段階画像の較正セットおよび各画像に関連付けられた機械方向位置を受信するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック９４２は、第１段階画像の較正セットおよび関連付けられた位置を図３に示された記憶メモリ１２０４の位置１２８０に記憶するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。
【0130】
図２５を参照すると、ブロック９４４は、第１段階画像の較正セットに対する第１段階較正異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、第１段階較正異常密度を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示する。
様々な実施形態では、ブロック９４４は、図６に示されたフローチャート５００のブロック５０４および５０６に含まれるコードとほぼ同様のコードを含む場合がある。様々な実施形態では、ブロック９４４は、第１段階画像の較正セットに対する較正第１段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、異常位置の第１段階較正セットを決定し、異常位置の第１段階較正セットによって表された異常の数を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。
様々な実施形態では、ブロック９４４は、図６に示されたフローチャート５００のブロック５０４および５０６に含まれるコードとほぼ同様のコードを含む場合がある。様々な実施形態では、ブロック９４４は、第１段階画像の較正セットに対する較正第１段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、異常位置の第１段階較正セットを決定し、異常位置の第１段階較正セットによって表された異常の数を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。
【0131】
いくつか実施形態では、第１段階較正異常識別感度は、前もって初期化されており、図３に示された記憶メモリ１２０４の位置１２８２に記憶される場合がある第１段階較正異常識別閾値を含む場合があり。いくつかの実施形態では、例えば、第１段階較正異常識別感度は、２５に設定された異常識別閾値を含む場合があり、ブロック９４４は、異常を表すものとして２５よりも大きい異常性指標値を有するピクセルの任意のグループを識別するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック９４４は、図２６に示されたように、第１段階較正異常位置記録９８０を生成し、図３に示された記憶メモリ１２０４の位置１２８４に第１段階較正異常位置記録９８０を記憶するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック９４４は、第１段階較正異常位置記録９８０にどれだけの数の位置が記憶されているかをカウントして異常の数を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック９４４は、異常の数を第１段階画像の較正セットによって表された巻き取り紙１０８の部分の機械方向長さで除算することによって第１段階較正異常密度を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック９４４は、決定された第１段階較正異常密度を記憶メモリ１２０４の位置１２８６に記憶するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。
【0132】
図２５を参照すると、ブロック９４６は、第１段階較正異常識別感度および第１段階較正異常密度に少なくとも部分的に基づいて、較正ベースの第１段階異常識別感度を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示する。いくつかの実施形態では、較正ベースの第１段階異常識別感度は、図６に示されたフローチャート５００に関して上述された第１の第１段階異常識別感度として後で使用される場合がある。様々な実施形態では、ブロック９４６は、図６に示されたフローチャート５００のブロック５０８ならびに図９に示されたフローチャート５８０のブロック５８２および５８４とほぼ同様のコードを含む場合がある。様々な実施形態では、ブロック９４６は、第１段階較正密度と所望の第１段階較正密度との間の差分を決定し、決定された差分に少なくとも部分的に基づいて第１段階較正異常識別感度を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々な実施形態では、所望の第１段階較正密度は、記憶メモリ１２０４の位置１２８８に前もって記憶されている場合がある。様々な実施形態では、ブロック９４６は、決定された差分を記憶メモリ１２０４の位置１２９０に記憶するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。
【0133】
いくつかの実施形態では、較正ベースの第１段階異常識別感度は、較正ベースの第１段階異常閾値を含む場合がある。様々な実施形態では、ブロック９４６は、以下の式：
を使用して較正ベースの第１段階異常閾値を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができ、ここで、Ｔ１１は較正ベースの第１段階異常閾値であり、Ｔ１Ｃは第１段階較正異常閾値であり、ａＣは倍率であり、ＤＣは、図３に示された記憶メモリ１２０４の位置１２９０に記憶された差分を、記憶メモリ１２０４の位置１２８８からの所望の異常密度で除算することによって決定された相対差分である。いくつかの実施形態では、ａＣは、例えば、第１段階画像の較正セットが巻き取り紙１０８の機械方向長さで１０００ｍを表すときに、０．０００１などの小さい数に設定される場合がある。
を使用して較正ベースの第１段階異常閾値を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができ、ここで、Ｔ１１は較正ベースの第１段階異常閾値であり、Ｔ１Ｃは第１段階較正異常閾値であり、ａＣは倍率であり、ＤＣは、図３に示された記憶メモリ１２０４の位置１２９０に記憶された差分を、記憶メモリ１２０４の位置１２８８からの所望の異常密度で除算することによって決定された相対差分である。いくつかの実施形態では、ａＣは、例えば、第１段階画像の較正セットが巻き取り紙１０８の機械方向長さで１０００ｍを表すときに、０．０００１などの小さい数に設定される場合がある。
【0134】
様々な実施形態では、ブロック９４６は、第１の第１段階異常識別感度として上記の式を使用して決定された値を図３に示された記憶メモリ１２０４の位置１２４２に記憶するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック９４６が完了した後、検出器プロセッサ１２００は、図６に示されたフローチャート５００を実行することができる。
様々な実施形態では、図４に示された第２の異常検出器１０６は、図１０に示されたフローチャート５９０を実行する前にフローチャート９４０に含まれるコードとほぼ同様のコードを実行するように構成される場合があり、その結果、第１の第２段階異常識別感度向けの初期設定が決定され、記憶メモリ１４０４の位置１４５４に記憶される。
様々な実施形態では、図４に示された第２の異常検出器１０６は、図１０に示されたフローチャート５９０を実行する前にフローチャート９４０に含まれるコードとほぼ同様のコードを実行するように構成される場合があり、その結果、第１の第２段階異常識別感度向けの初期設定が決定され、記憶メモリ１４０４の位置１４５４に記憶される。
【0135】
様々な実施形態
いくつかの実施形態では、図１に示されたシステム１００またはシステム１００とほぼ同様のシステムは、様々な代替または追加の実施形態に従って実装される場合がある。
例えば、図２７を参照すると、様々な実施形態による、巻き取り紙位置追跡を容易にするためのシステム２１００の概略図が提供される。様々な実施形態では、システム２１００は、図１に示されたシステム１００に含まれる要素と同様のいくつかの要素を含む場合がある。システム２１００は、第１の異常検出器２１０４および第２の異常検出器２１０６と通信している位置追跡器２１０２を含む。いくつかの実施形態では、第１の異常検出器２１０４および第２の異常検出器２１０６は、それぞれ、第１の巻き取り紙処理段階２１０５および第２の巻き取り紙処理段階２１０７において巻き取り紙または巻き取り紙２１０８の一部分における異常を検出または検知するように構成される場合がある。
いくつかの実施形態では、図１に示されたシステム１００またはシステム１００とほぼ同様のシステムは、様々な代替または追加の実施形態に従って実装される場合がある。
例えば、図２７を参照すると、様々な実施形態による、巻き取り紙位置追跡を容易にするためのシステム２１００の概略図が提供される。様々な実施形態では、システム２１００は、図１に示されたシステム１００に含まれる要素と同様のいくつかの要素を含む場合がある。システム２１００は、第１の異常検出器２１０４および第２の異常検出器２１０６と通信している位置追跡器２１０２を含む。いくつかの実施形態では、第１の異常検出器２１０４および第２の異常検出器２１０６は、それぞれ、第１の巻き取り紙処理段階２１０５および第２の巻き取り紙処理段階２１０７において巻き取り紙または巻き取り紙２１０８の一部分における異常を検出または検知するように構成される場合がある。
【0136】
いくつかの実施形態では、第１の異常検出器２１０４は、１つまたは複数の第１のカメラ２１２０、および１つまたは複数の第１のカメラ２１２０によって取得された画像の各々に関連付けられる機械方向巻き取り紙の位置または場所を検知するように構成された第１の位置センサ２１２２と通信することができる。いくつかの実施形態では、第２の異常検出器２１０６は、１つまたは複数の第２のカメラ２１２４、および１つまたは複数の第２のカメラ２１２４によって取得された画像の各々に関連付けられる機械方向巻き取り紙の位置または場所を検知するように構成された第２の位置センサ２１２６と通信することができる。様々な実施形態では、位置追跡器２１０２は、位置追跡器２１０２が第２の巻き取り紙処理段階２１０７における現在の巻き取り紙位置を追跡するように構成され得るように、第２の位置センサ２１２６と通信することができる。いくつかの実施形態では、システム２１００は、位置追跡器２１０２と通信している巻き取り紙処理ドライバ２１３０を含む場合がある。
【0137】
様々な実施形態では、位置追跡器２１０２、第１の異常検出器２１０４、第２の異常検出器２１０６、第１の巻き取り紙処理段階２１０５および第２の巻き取り紙処理段階２１０７、巻き取り紙２１０８、カメラ２１２０および２１２４、ならびに第１の位置センサ２１２２および第２の位置センサ２１２６、ならびに巻き取り紙処理ドライバ２１３０は、図１に示され、本明細書に記載された位置追跡器１０２、第１の異常検出器１０４、第２の異常検出器１０６、第１の巻き取り紙処理段階１０５および第２の巻き取り紙処理段階１０７、巻き取り紙１０８、カメラ１２０および１２４、ならびに第１の位置センサ１２２および第２の位置センサ１２６、ならびに巻き取り紙処理ドライバ１３０に含まれるいくつかの要素とほぼ同様のいくつかの要素および／または機能を含む場合がある。
【0138】
図２８、図２９、および図３０を参照すると、様々な実施形態による、図２７に示されたシステム２１００の位置追跡器２１０２、第１の異常検出器２１０４、および第２の異常検出器２１０６の概略図が示されている。様々な実施形態では、図２８、図２９、および図３０に示された位置追跡器２１０２、第１の異常検出器２１０４、および第２の異常検出器２１０６は、図２、図３、および図４に示され、本明細書に記載された位置追跡器１０２、第１の異常検出器１０４、および第２の異常検出器１０６に含まれる要素とほぼ同様の要素を含む場合がある。
【0139】
図２８を参照すると、位置追跡器２１０２は、追跡器プロセッサ２２００およびプログラムメモリ２２０２を含むプロセッサ回路と、それらのすべてが追跡器プロセッサ２２００と通信している、記憶メモリ２２０４および入力／出力（Ｉ／Ｏ）インターフェース２２１２と、を含む。
Ｉ／Ｏインターフェース２１２は、それぞれ、図２７に示された第１の異常検出器２１０４および第２の異常検出器２１０６と通信するためのインターフェース２２２０および２２２２を含む。様々な実施形態では、Ｉ／Ｏインターフェース２２１２は、図２７に示された巻き取り紙処理ドライバ２１３０と通信するためのインターフェース２２２４と、第２の位置センサ２１２６と通信するためのインターフェース２２２６とを含む場合がある。
Ｉ／Ｏインターフェース２１２は、それぞれ、図２７に示された第１の異常検出器２１０４および第２の異常検出器２１０６と通信するためのインターフェース２２２０および２２２２を含む。様々な実施形態では、Ｉ／Ｏインターフェース２２１２は、図２７に示された巻き取り紙処理ドライバ２１３０と通信するためのインターフェース２２２４と、第２の位置センサ２１２６と通信するためのインターフェース２２２６とを含む場合がある。
【0140】
様々な機能を実行するように追跡器プロセッサ２２００に指示するためのプロセッサ実行可能プログラムコードは、プログラムメモリ２２０２に記憶される。図２を参照すると、プログラムメモリ２２０２は、巻き取り紙位置追跡機能を容易にするように位置追跡器２１０２に指示するためのコードのブロック２２０６を含む。
記憶メモリ２２０４は、第１段階異常位置データを記憶するための位置２２４４と、第２段階異常位置データを記憶するための位置２２５６と、候補位置オフセットデータを記憶するための位置２２６４と、オフセットされた第１段階異常位置データを記憶するための位置２２６８と、交差方向重みデータを記憶するための位置２２７０と、決定された差分データを記憶するための位置２２７２と、決定された位置オフセットデータを記憶するための位置２２７４と、検出された欠陥位置データを記憶するための位置２２７６と、検知された第２段階位置データを記憶するための位置２２７８と、オフセットされ検知された第２段階位置データを記憶するための位置２２８０と、欠陥近接度データを記憶するための位置２２８２と、欠陥閾値データを記憶するための位置２２８４とを含む複数の記憶位置を含む。様々な実施形態では、記憶位置は、記憶メモリ２２０４内のデータベースに記憶されてもよい。
記憶メモリ２２０４は、第１段階異常位置データを記憶するための位置２２４４と、第２段階異常位置データを記憶するための位置２２５６と、候補位置オフセットデータを記憶するための位置２２６４と、オフセットされた第１段階異常位置データを記憶するための位置２２６８と、交差方向重みデータを記憶するための位置２２７０と、決定された差分データを記憶するための位置２２７２と、決定された位置オフセットデータを記憶するための位置２２７４と、検出された欠陥位置データを記憶するための位置２２７６と、検知された第２段階位置データを記憶するための位置２２７８と、オフセットされ検知された第２段階位置データを記憶するための位置２２８０と、欠陥近接度データを記憶するための位置２２８２と、欠陥閾値データを記憶するための位置２２８４とを含む複数の記憶位置を含む。様々な実施形態では、記憶位置は、記憶メモリ２２０４内のデータベースに記憶されてもよい。
【0141】
ここで図２９を参照すると、様々な実施形態による、図２７に示されたシステム２１００の第１の異常検出器２１０４の概略図が示されている。図２９を参照すると、第１の異常検出器２１０４は、検出器プロセッサ３２００およびプログラムメモリ３２０２を含むプロセッサ回路と、それらのすべてが検出器プロセッサ３２００と通信している、記憶メモリ３２０４および入力／出力（Ｉ／Ｏ）インターフェース３２１２と、を含む。
Ｉ／Ｏインターフェース３２１２は、図２７に示された１つまたは複数の第１のカメラ２１２０および第１の位置センサ２１２２と通信するためのインターフェース３２２０および３２２２と、図２７に示された位置追跡器２１０２と通信するためのインターフェース１２２４とを含む。
Ｉ／Ｏインターフェース３２１２は、図２７に示された１つまたは複数の第１のカメラ２１２０および第１の位置センサ２１２２と通信するためのインターフェース３２２０および３２２２と、図２７に示された位置追跡器２１０２と通信するためのインターフェース１２２４とを含む。
【0142】
様々な機能を実行するように検出器プロセッサ３２００に指示するためのプロセッサ実行可能プログラムコードは、プログラムメモリ３２０２に記憶される。図３を参照すると、プログラムメモリ３２０２は、巻き取り紙位置追跡機能のための異常検出を容易にするように第１の異常検出器２１０４に指示するためのコードのブロック３２０６と、欠陥を検出するように第１の異常検出器２１０４に指示するためのコードのブロック３２０８とを含む。
記憶メモリ３２０４は、第１段階画像データを記憶するための位置３２４０と、第１段階異常識別感度データを記憶するための位置３２４２と、第１段階異常ピクセルデータを記憶するための位置３２４３と、第１段階異常位置データを記憶するための位置３２４４と、第１段階異常密度データを記憶するための位置３２４６と、所望の第１段階異常密度データを記憶するための位置３２４８と、第１段階異常密度差分データを記憶するための位置３２５０と、較正画像データを記憶するための位置３２８０と、較正異常識別感度データを記憶するための位置３２８２と、較正異常位置データを記憶するための位置３２８４と、較正異常密度データを記憶するための位置３２８６と、所望の較正異常密度データを記憶するための位置３２８８と、較正異常密度差分データを記憶するための位置３２９０とを含む複数の記憶位置を含む。様々な実施形態では、記憶位置は、記憶メモリ３２０４内のデータベースに記憶されてもよい。
記憶メモリ３２０４は、第１段階画像データを記憶するための位置３２４０と、第１段階異常識別感度データを記憶するための位置３２４２と、第１段階異常ピクセルデータを記憶するための位置３２４３と、第１段階異常位置データを記憶するための位置３２４４と、第１段階異常密度データを記憶するための位置３２４６と、所望の第１段階異常密度データを記憶するための位置３２４８と、第１段階異常密度差分データを記憶するための位置３２５０と、較正画像データを記憶するための位置３２８０と、較正異常識別感度データを記憶するための位置３２８２と、較正異常位置データを記憶するための位置３２８４と、較正異常密度データを記憶するための位置３２８６と、所望の較正異常密度データを記憶するための位置３２８８と、較正異常密度差分データを記憶するための位置３２９０とを含む複数の記憶位置を含む。様々な実施形態では、記憶位置は、記憶メモリ３２０４内のデータベースに記憶されてもよい。
【0143】
ここで図３０を参照すると、様々な実施形態による、図２７に示されたシステム２１００の第２の異常検出器２１０６の概略図が示されている。様々な実施形態では、第２の異常検出器２１０６は、図２９に示された第１の異常検出器２１０４に含まれる要素とほぼ同様の要素を含む場合がある。図３０を参照すると、第２の異常検出器２１０６は、検出器プロセッサ３４００およびプログラムメモリ３４０２を含むプロセッサ回路と、それらのすべてが検出器プロセッサ３４００と通信している、記憶メモリ３４０４および入力／出力（Ｉ／Ｏ）インターフェース３４１２と、を含む。
Ｉ／Ｏインターフェース３４１２は、図２７に示された１つまたは複数の第２のカメラ２１２４および第２の位置センサ２１２６と通信するためのインターフェース３４２０および３４２２と、図２７に示された位置追跡器２１０２と通信するためのインターフェース３４２４とを含む。
Ｉ／Ｏインターフェース３４１２は、図２７に示された１つまたは複数の第２のカメラ２１２４および第２の位置センサ２１２６と通信するためのインターフェース３４２０および３４２２と、図２７に示された位置追跡器２１０２と通信するためのインターフェース３４２４とを含む。
【0144】
様々な機能を実行するように検出器プロセッサ３４００に指示するためのプロセッサ実行可能プログラムコードは、プログラムメモリ３４０２に記憶される。図３０を参照すると、プログラムメモリ３４０２は、巻き取り紙位置追跡機能のための異常検出を容易にするように第２の異常検出器２１０６に指示するためのコードのブロック３４０６を含む。
記憶メモリ３４０４は、第２段階画像データを記憶するための位置３４５２と、第２段階異常識別感度データを記憶するための位置３４５４と、第２段階異常ピクセルデータを記憶するための位置３４５５と、第２段階異常位置データを記憶するための位置３４５６と、第２段階異常密度データを記憶するための位置３４５８と、所望の第２段階異常密度データを記憶するための位置３４６０と、第２段階異常密度差分データを記憶するための位置３４６２と、較正画像データを記憶するための位置３４８０と、較正異常識別感度データを記憶するための位置３４８２と、較正異常位置データを記憶するための位置３４８４と、較正異常密度データを記憶するための位置３４８６と、所望の較正異常密度データを記憶するための位置３４８８と、較正異常密度差分データを記憶するための位置３４９０とを含む複数の記憶位置を含む。様々な実施形態では、記憶位置は、記憶メモリ３４０４内のデータベースに記憶されてもよい。
記憶メモリ３４０４は、第２段階画像データを記憶するための位置３４５２と、第２段階異常識別感度データを記憶するための位置３４５４と、第２段階異常ピクセルデータを記憶するための位置３４５５と、第２段階異常位置データを記憶するための位置３４５６と、第２段階異常密度データを記憶するための位置３４５８と、所望の第２段階異常密度データを記憶するための位置３４６０と、第２段階異常密度差分データを記憶するための位置３４６２と、較正画像データを記憶するための位置３４８０と、較正異常識別感度データを記憶するための位置３４８２と、較正異常位置データを記憶するための位置３４８４と、較正異常密度データを記憶するための位置３４８６と、所望の較正異常密度データを記憶するための位置３４８８と、較正異常密度差分データを記憶するための位置３４９０とを含む複数の記憶位置を含む。様々な実施形態では、記憶位置は、記憶メモリ３４０４内のデータベースに記憶されてもよい。
【0145】
図３１を参照すると、様々な実施形態による、巻き取り紙位置追跡を容易にするように、図２８に示された位置追跡器２１０２の追跡器プロセッサ２２００に指示するためのコードのブロックを描写するフローチャートが全体的に２４００に示されている。様々な実施形態では、フローチャート２４００に含まれるコードのブロックは、図２８に示された位置追跡器２１０２のプログラムメモリ２２０２のコードのブロック２２０６内で符号化される場合がある。
図３１を参照すると、フローチャート２４００はブロック２４０２から始まり、ブロック２４０２は、第１の巻き取り紙処理段階における巻き取り紙上で検出された異常の位置を表す第１段階異常位置の表現を受信するように、プロセッサ２２００に指示する。いくつかの実施形態では、ブロック２４０２は、図５に示されたフローチャート４００のブロック４０２とほぼ同様であり得る。
図３１を参照すると、フローチャート２４００はブロック２４０２から始まり、ブロック２４０２は、第１の巻き取り紙処理段階における巻き取り紙上で検出された異常の位置を表す第１段階異常位置の表現を受信するように、プロセッサ２２００に指示する。いくつかの実施形態では、ブロック２４０２は、図５に示されたフローチャート４００のブロック４０２とほぼ同様であり得る。
【0146】
図３２を参照すると、様々な実施形態による、巻き取り紙位置追跡のための異常検出を容易にするように、図２９に示された第１の異常検出器２１０４の検出器プロセッサ３２００に指示するためのコードのブロックを描写するフローチャート２５００が示されている。様々な実施形態では、フローチャート２５００に含まれるコードのブロックは、図２９に示された第１の異常検出器２１０４のプログラムメモリ３２０２のコードのブロック３２０６内で符号化される場合がある。
図３２を参照すると、フローチャート２５００はブロック２５０２から始まり、ブロック２５０２は、第１の巻き取り紙処理段階２１０５において巻き取り紙２１０８の第１段階画像のセットを受信するように、検出器プロセッサ３２００に指示する。様々な実施形態では、ブロック２５０２は、図６に示されたフローチャート５００のブロック５０２とほぼ同様であり得る。
図３２を参照すると、フローチャート２５００はブロック２５０２から始まり、ブロック２５０２は、第１の巻き取り紙処理段階２１０５において巻き取り紙２１０８の第１段階画像のセットを受信するように、検出器プロセッサ３２００に指示する。様々な実施形態では、ブロック２５０２は、図６に示されたフローチャート５００のブロック５０２とほぼ同様であり得る。
【0147】
様々な実施形態では、ブロック２５０２は、図２９に示されたＩ／Ｏインターフェース３２１２のインターフェース３２２０を介して、図２７に示されたシステム２１００の１つまたは複数の第１のカメラ２１２０から第１段階画像の第１のセットを受信し、図２９に示された記憶メモリ３２０４の位置３２４０に第１段階画像の第１のセットを記憶するように、検出器プロセッサ３２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック２５０２は、第１段階画像の第１のセットに含まれる画像の各々について、図２７に示された第１の位置センサ２１２２から関連付けられた機械方向位置を受信し、記憶メモリ３２０４の位置３２４０に記憶された第１段階画像の第１のセットの各画像に関連して、関連付けられた機械方向位置を記憶するように、検出器プロセッサ３２００に指示することができる。
【0148】
図３２を参照すると、ブロック２５０４は、第１段階画像のセットに対する第１段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に、第１段階異常位置のうちの少なくとも１つを決定するように、検出器プロセッサ３２００に指示する。様々な実施形態では、ブロック２５０４は、第１段階画像の第１のセットに対する第１段階異常識別感度の適用に基づいて、第１段階異常位置の第１のセットを決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。
様々な実施形態では、第１の第１段階異常識別感度は、それぞれのピクセル位置に各々が関連付けられた複数の異常識別閾値を含む場合がある。いくつかの実施形態では、それぞれのピクセル位置に各々が関連付けられた異なる異常識別閾値を使用することにより、異常の誤った識別の減少、および／もしくは真であるが比較的弱い異常のより高感度の検出を容易にし、かつ／またはカメラセンサ全体および／もしくは交差方向の検出された異常のほぼより均一な分布をもたらすことができ、それは、より良好な照合および／または追跡をさらに容易にすることができる。いくつかの実施形態では、異常識別閾値は、図２９に示された第１の異常検出器２１０４の記憶メモリ３２０４の位置３２４２に記憶される場合がある。例えば、いくつかの実施形態では、第１段階画像は１６００ｘ８００のピクセルを含む場合があり、第１の第１段階異常識別感度は、それぞれのピクセルに各々が関連付けられた１２８００００個の異常識別閾値を含む場合がある。
様々な実施形態では、第１の第１段階異常識別感度は、それぞれのピクセル位置に各々が関連付けられた複数の異常識別閾値を含む場合がある。いくつかの実施形態では、それぞれのピクセル位置に各々が関連付けられた異なる異常識別閾値を使用することにより、異常の誤った識別の減少、および／もしくは真であるが比較的弱い異常のより高感度の検出を容易にし、かつ／またはカメラセンサ全体および／もしくは交差方向の検出された異常のほぼより均一な分布をもたらすことができ、それは、より良好な照合および／または追跡をさらに容易にすることができる。いくつかの実施形態では、異常識別閾値は、図２９に示された第１の異常検出器２１０４の記憶メモリ３２０４の位置３２４２に記憶される場合がある。例えば、いくつかの実施形態では、第１段階画像は１６００ｘ８００のピクセルを含む場合があり、第１の第１段階異常識別感度は、それぞれのピクセルに各々が関連付けられた１２８００００個の異常識別閾値を含む場合がある。
【0149】
いくつかの実施形態では、第１の第１段階異常識別感度は、例えば、図３３に示された第１段階異常閾値記録３６００を含む場合があり、第１段階異常閾値記録は、図２９に示された第１の異常検出器２１０４の記憶メモリ３２０４の位置３２４２に記憶される場合がある。図３３を参照すると、第１の第１段階異常識別感度は、それぞれのピクセル位置に各々が関連付けられたそれぞれの閾値を記憶する閾値フィールド３６０２～３６１２を含む。
いくつかの実施形態では、異常識別閾値は、ユーザによって事前設定および選択され得る値に初期化されている場合がある。例えば、いくつかの実施形態では、閾値は各々１～１００の値に設定される場合がある。いくつかの実施形態では、位置１２４２に記憶された閾値は、例えば、各々最初に２５に設定される場合がある。
いくつかの実施形態では、異常識別閾値は、ユーザによって事前設定および選択され得る値に初期化されている場合がある。例えば、いくつかの実施形態では、閾値は各々１～１００の値に設定される場合がある。いくつかの実施形態では、位置１２４２に記憶された閾値は、例えば、各々最初に２５に設定される場合がある。
【0150】
様々な実施形態では、ブロック２５０４は、図６に示され、本明細書に記載されたフローチャート５００のブロック５０４を参照して記載されたのとほぼ同様に、ピクセルごとの異常性指標値を決定するように、検出器プロセッサ３２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック２５０４は、ピクセルごとの異常性指標値を、そのピクセルに関連付けられた第１段階異常閾値記録３６００からの第１段階異常識別閾値と比較するように、検出器プロセッサ３２００に指示することができる。異常性指標値が関連付けられた第１段階異常識別閾値を超えるピクセルは、異常と識別されるか、または異常と見なされる場合がある。いくつかの実施形態では、ブロック２５０４は、関連付けられた第１段階異常識別閾値を超える異常性指標値を有するピクセルの閾値異常距離内の任意のピクセルを異常と見なすように、検出器プロセッサ３２００に指示することができる。画像の特定の部分が（例えば、製品の真の異常、および／または照明条件によって引き起こされた偽の異常のために）より高い異常密度を時々表す場合があるいくつかの実施形態では、これは、例えば、検出器プロセッサ３２００が第１段階異常閾値記録３６００をより良好に適合させるのを助けることができ、その結果、第１段階異常密度記録３６４０は、過度の遅延なしに、異なるピクセルにわたって全体的により均一になるか、またはそうでない場合目的によりよく適合される場合がある。例えば、いくつかの実施形態では、閾値異常距離はピクセルの幅であり得、関連付けられた第１段階異常識別閾値を超える異常性指標値を有するピクセルに隣接する８つのピクセルのすべては、異常と識別される場合がある。
【0151】
様々な実施形態では、ブロック２５０４は、位置３２４０に記憶された第１段階画像ごとに、各異常ピクセルの識別情報を記憶する第１段階異常ピクセル識別子を記憶メモリ３２０３の位置３２４３に記憶するように、検出器プロセッサに指示することができる。例えば、いくつかの実施形態では、第１段階異常ピクセル識別子の各々はバイナリ画像を含む場合があり、ブロック２５０４は、位置３２４０に記憶された第１段階画像の各々についてのバイナリ画像を記憶するように検出器プロセッサに指示することができ、バイナリ画像は、各ピクセル位置に関連して非ゼロ値またはゼロ値を記憶し、例えば１または２５５などの非ゼロ値は、そのピクセル位置に関連付けられたピクセルを異常ピクセルとして識別し、０などのゼロ値は、そのピクセル位置を有するピクセルを非異常ピクセルとして識別する。
【0152】
いくつかの実施形態では、異常識別感度および／またはカメラピクセルごとの閾値は、第２の異常検出器１０６の感度が、第２の巻き取り紙処理段階１０７のライン速度が低いときはいつでも自動的に低下され得るように、自動的に調整される場合がある。いくつかの実施形態では、感度は、ライン速度が事前構成された閾値速度をどれだけ下回るかに比例して減少する（またはライン速度が事前構成された閾値を下回らない場合は修正されずに残る）場合がある。製紙業界の巻き取り機などの様々な実施形態では、この感度抑圧は、例えば巻き戻しが最初に開始されたときに、誤った異常の検出を防止するのに役立つことができる。いくつかの実施形態では、巻き取り紙または同様の製品の張力が低いとき、同様の理由で感度が同様に低下する可能性がある。
【0153】
様々な実施形態では、図３２に示されたフローチャート２５００のブロック２５０４は、図６に示されたフローチャート５００のブロック５０４に関して本明細書に記載されたのとほぼ同様に、識別された異常ピクセルおよびそれらの関連付けられた位置に基づいて異常位置を決定するように、検出器プロセッサ３２００に指示することができる。ブロック２５０４は、決定された第１段階異常位置の第１のセットを図２９に示された記憶メモリ３２０４の位置３２４４の第１段階異常位置記録に記憶するように、検出器プロセッサ３２００に指示することができる。
【0154】
いくつかの実施形態では、フローチャート２５００および／またはブロック２５０４は、第１段階異常位置の表現を図２８に示された位置追跡器２１０２に送信するように、検出器プロセッサ３２００に指示するためのコードのブロックを含む場合がある。例えば、いくつかの実施形態では、フローチャート２５００は、第１段階異常位置記録を表す信号が、図２９に示されたＩ／Ｏインターフェース３２１２のインターフェース３２２４を介して位置追跡器２１０２に送信されるようにするように、検出器プロセッサ３２００に指示するブロックを含む場合がある。
【0155】
図３２を参照すると、いくつかの実施形態では、フローチャート２５００は、第１段階画像の第２のセットに適用するための第２の第１段階異常識別感度を決定するように、検出器プロセッサ３２００に指示することができる、ブロック２５０６および２５０８を含む場合がある。様々な実施形態では、第２の第１段階異常識別感度は、第１の第１段階異常識別感度とは異なる場合がある。
図３２を参照すると、ブロック２５０６は、第１段階異常識別感度に関連付けられた少なくとも１つの異常密度を決定するように、検出器プロセッサ３２００に指示する。様々な実施形態では、ブロック２５０６は、それぞれのピクセル位置に各々が関連付けられた複数の異常密度を決定することを除き、図６に示されたフローチャート５００のブロック５０６についてほぼ本明細書に記載されたように進むように、検出器プロセッサ３２００に指示することができる。様々な実施形態では、異常密度は異常ピクセル密度であり得る。様々な実施形態では、異常密度は、例えば、巻き取り紙２１０８の長さ当たりの識別された異常ピクセルの数としてピクセル位置ごとに決定される場合がある。様々な実施形態では、ブロック２５０６は、第１段階画像の第１のセットに含まれる最新画像のサンプリング機械方向近接度内のピクセル位置でどれだけの数の異常が検出されているかをカウントすることによって各異常密度を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。ブロック２５０６は、記憶メモリ３２０４の位置３２４３に記憶された第１段階異常ピクセル識別子に基づいて異常密度を決定するように、検出器プロセッサ３２００に指示することができる。
図３２を参照すると、ブロック２５０６は、第１段階異常識別感度に関連付けられた少なくとも１つの異常密度を決定するように、検出器プロセッサ３２００に指示する。様々な実施形態では、ブロック２５０６は、それぞれのピクセル位置に各々が関連付けられた複数の異常密度を決定することを除き、図６に示されたフローチャート５００のブロック５０６についてほぼ本明細書に記載されたように進むように、検出器プロセッサ３２００に指示することができる。様々な実施形態では、異常密度は異常ピクセル密度であり得る。様々な実施形態では、異常密度は、例えば、巻き取り紙２１０８の長さ当たりの識別された異常ピクセルの数としてピクセル位置ごとに決定される場合がある。様々な実施形態では、ブロック２５０６は、第１段階画像の第１のセットに含まれる最新画像のサンプリング機械方向近接度内のピクセル位置でどれだけの数の異常が検出されているかをカウントすることによって各異常密度を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。ブロック２５０６は、記憶メモリ３２０４の位置３２４３に記憶された第１段階異常ピクセル識別子に基づいて異常密度を決定するように、検出器プロセッサ３２００に指示することができる。
【0156】
様々な実施形態では、ブロック２５０６は、図３４に示された第１段階異常密度記録３６４０に異常密度を記憶するように、検出器プロセッサ３２００に指示することができ、ブロック２５０６は、記憶メモリ３２０４の位置３２４６に第１段階異常密度記録３６４０を記憶するように、検出器プロセッサ３２００に指示することができる。
図３２を参照すると、ブロック２５０８は、決定された少なくとも１つの異常密度および第１段階異常識別感度に少なくとも部分的に基づいて、新しい第１段階異常識別感度を決定するように、検出器プロセッサ３２００に指示する。様々な実施形態では、ブロック２５０８は、それぞれのピクセル位置に各々が関連付けられた複数の新しい第１段階異常閾値を決定するようにブロック２５０８が検出器プロセッサ３２００に指示することができることを除き、図６に示されたフローチャート５００のブロック５０８に含まれるコードとほぼ同様のコードを含む場合がある。
図３２を参照すると、ブロック２５０８は、決定された少なくとも１つの異常密度および第１段階異常識別感度に少なくとも部分的に基づいて、新しい第１段階異常識別感度を決定するように、検出器プロセッサ３２００に指示する。様々な実施形態では、ブロック２５０８は、それぞれのピクセル位置に各々が関連付けられた複数の新しい第１段階異常閾値を決定するようにブロック２５０８が検出器プロセッサ３２００に指示することができることを除き、図６に示されたフローチャート５００のブロック５０８に含まれるコードとほぼ同様のコードを含む場合がある。
【0157】
様々な実施形態では、ブロック２５０８は、図３３に示された第１段階異常閾値記録３６００および図３４に示された第１段階異常密度記録３６４０を、図２９に示された記憶メモリ３２０４の位置３２４２および３２４６から読み取り、第１段階異常閾値記録３６００および第１段階異常密度記録３６４０に少なくとも部分的に基づいて、図３５に示された第２の第１段階異常閾値記録３６８０を決定するように、検出器プロセッサ３２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック２５０８は、第２の第１段階異常識別感度として第２の第１段階異常閾値記録３６８０を記憶メモリ３２０４の位置３２４２に記憶するように、検出器プロセッサ３２００に指示することができる。
【0158】
様々な実施形態では、ブロック２５０８は、図３５に示された第２の第１段階異常閾値記録３６８０に含まれる各第１段階異常閾値を決定するために、図９に示されたフローチャート５８０のブロックとほぼ同様のコードを含む場合がある。様々な実施形態では、ブロック２５０８は、ピクセル位置ごとに、図３４に示され、記憶メモリ３２０４の位置３２４８に記憶された第１段階異常密度記録３６４０の異常密度フィールド値から、図２９に示された記憶メモリ３２０４の位置３２４８に記憶された所望の第１段階異常密度を減算して差分を決定するように、検出器プロセッサ３２００に指示することができ、ブロック２５０８は、記憶メモリ３２０４の位置３２５０に差分を記憶するように、検出器プロセッサ３２００に指示することができる。
【0159】
いくつかの実施形態では、所望の第１段階異常密度は、前もって設定され、記憶メモリ１２０４の位置３２４８に記憶されている場合がある。いくつかの実施形態では、所望の第１段階異常密度は、機械方向長さに対する所望の異常密度に基づいて設定される場合があり、それは、位置追跡器２１０２を使用して巻き取り紙位置追跡を容易にすることができる。例えば、いくつかの実施形態では、所望の第１段階異常密度は、機械方向長さのメートル当たり０．００００１個の異常ピクセルであり得る。様々な実施形態では、所望の第１段階異常密度は、ユーザによって前もって設定されている場合があり、かつ／または例えば、早く追跡を開始するのに十分な異常が検出されるが、同時に、それらの多くが例えば第２の巻き取り紙処理段階１０７において誤った、および／もしくはそうでない場合検出可能でないほど多くの異常が検出されないように調整される場合がある。
【0160】
いくつかの実施形態では、ブロック２５０８は、以下の式：
を使用して、第２の第１段階異常閾値として機能することができる新しい第１段階異常閾値の各々を決定するように、検出器プロセッサ３２００に指示することができ、ここで、Ｔ１２は第２の第１段階異常閾値であり、Ｔ１１は第１の第１段階異常閾値であり、ａ１は倍率であり、Ｄ１は、決定され、図２９に示された記憶メモリ３２０４の位置３２５０に記憶された差分を、記憶メモリ１２０４の位置３２４８からの所望の第１段階異常密度で除算することによって決定された相対差分である。いくつかの実施形態では、ａ１は、例えば、第１段階画像の第１のセットが巻き取り紙２１０８の機械方向長さで１０００ｍを表すときに、０．０００１などの小さい数に設定される場合がある。
様々な実施形態では、ブロック２５０８は、図３５に示された第２の第１段階異常閾値記録３６８０の第１段階異常閾値フィールドに、上記の式を使用して決定された値の各々を記憶し、図２９に示された記憶メモリ３２０４の位置３２４２に第２の第１段階異常閾値記録３６８０を記憶するように、検出器プロセッサ３２００に指示することができる。
を使用して、第２の第１段階異常閾値として機能することができる新しい第１段階異常閾値の各々を決定するように、検出器プロセッサ３２００に指示することができ、ここで、Ｔ１２は第２の第１段階異常閾値であり、Ｔ１１は第１の第１段階異常閾値であり、ａ１は倍率であり、Ｄ１は、決定され、図２９に示された記憶メモリ３２０４の位置３２５０に記憶された差分を、記憶メモリ１２０４の位置３２４８からの所望の第１段階異常密度で除算することによって決定された相対差分である。いくつかの実施形態では、ａ１は、例えば、第１段階画像の第１のセットが巻き取り紙２１０８の機械方向長さで１０００ｍを表すときに、０．０００１などの小さい数に設定される場合がある。
様々な実施形態では、ブロック２５０８は、図３５に示された第２の第１段階異常閾値記録３６８０の第１段階異常閾値フィールドに、上記の式を使用して決定された値の各々を記憶し、図２９に示された記憶メモリ３２０４の位置３２４２に第２の第１段階異常閾値記録３６８０を記憶するように、検出器プロセッサ３２００に指示することができる。
【0161】
図３２を参照すると、様々な実施形態では、ブロック２５０８が完了した後、検出器プロセッサ３２００はブロック２５０２に戻る場合があり、第１段階画像のさらなるセットが受信される場合がある。様々な実施形態では、ブロック２５０４は、図３５に示された第２の第１段階異常閾値記録３６８０を含み、記憶メモリ３２０４の位置３２４２に記憶された第２の第１段階異常識別感度を、第１段階画像の第２のセットに適用することによって実行される場合がある。
様々な実施形態では、図３２に示されたフローチャート２５００のブロック２５０２～２５０８は、巻き取り紙２１０８のそれぞれの部分を表す第１段階画像のセットごとに実行される場合がある。様々な実施形態では、フローチャート２５００の実行が完了した後、異常位置を表す１つまたは複数の第１段階異常位置記録は、記憶メモリ３２０４の位置３２４４に記憶される場合がある。
様々な実施形態では、図３２に示されたフローチャート２５００のブロック２５０２～２５０８は、巻き取り紙２１０８のそれぞれの部分を表す第１段階画像のセットごとに実行される場合がある。様々な実施形態では、フローチャート２５００の実行が完了した後、異常位置を表す１つまたは複数の第１段階異常位置記録は、記憶メモリ３２０４の位置３２４４に記憶される場合がある。
【0162】
図２７を参照すると、様々な実施形態では、図３２に示されたフローチャート２５００は、第１の巻き取り紙処理段階２１０５における巻き取り紙２１０８の処理中に実行される場合がある。図３１に戻って参照すると、様々な実施形態では、ブロック２４０２は、図２８に示されたＩ／Ｏインターフェース２２１２のインターフェース２２２０を介して、第１の異常検出器２１０４から記憶メモリ３２０４の位置３２４４に記憶された第１段階異常位置記録の表現を受信し、記憶メモリ２２０４の位置２２４４に第１段階異常位置記録を記憶するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。
【0163】
様々な実施形態では、第１の巻き取り紙処理段階における処理が完了した後、巻き取り紙２１０８は第２の巻き取り紙処理段階２１０７に移動する場合があり、巻き取り紙２１０８はそこでさらに処理される場合がある。様々な実施形態では、第２の巻き取り紙処理段階２１０７における巻き取り紙の処理の後またはその間に、図３１に示されたフローチャートのブロック２４０４が実行される場合がある。
図３１を参照すると、様々な実施形態では、フローチャート２４００はブロック２４０４に進み、ブロック２４０４は、図２７に示された第２の巻き取り紙処理段階２１０７において巻き取り紙２１０８上で検出された異常の位置を表す第２段階異常位置の表現を受信するように、追跡器プロセッサ２２００に指示する。様々な実施形態では、ブロック２４０４は、図２８に示されたＩ／Ｏインターフェース２２１２のインターフェース２２２２を介して、第２の異常検出器２１０６から第２段階異常位置の表現を受信するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。
図３１を参照すると、様々な実施形態では、フローチャート２４００はブロック２４０４に進み、ブロック２４０４は、図２７に示された第２の巻き取り紙処理段階２１０７において巻き取り紙２１０８上で検出された異常の位置を表す第２段階異常位置の表現を受信するように、追跡器プロセッサ２２００に指示する。様々な実施形態では、ブロック２４０４は、図２８に示されたＩ／Ｏインターフェース２２１２のインターフェース２２２２を介して、第２の異常検出器２１０６から第２段階異常位置の表現を受信するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。
【0164】
様々な実施形態では、第２の異常検出器２１０６は、第１の異常検出器２１０４とほぼ同様に構成される場合がある。図３６を参照すると、様々な実施形態による、巻き取り紙位置追跡のための異常検出を容易にするように、図３０に示された検出器プロセッサ３４００に指示するためのコードのブロック２５９２、２５９４、２５９６、および２５９８を描写するフローチャート２５９０が示されている。様々な実施形態では、フローチャート２５９０に含まれるコードのブロックは、図３０に示されたプログラムメモリ３４０２のコードのブロック３４０６内で符号化される場合がある。様々な実施形態では、フローチャート２５９０は、図３２に示されたフローチャート２５００に関して本明細書に記載されたものとほぼ同様のピクセル固有の閾値を適用するように適合されていることを除き、図１０に示されたフローチャート５９０に含まれるものとほぼ同様のコードのブロックを含む場合がある。
【0165】
いくつかの実施形態では、誤った異常の予想割合は、第２の巻き取り紙処理段階２１０７よりも第１の巻き取り紙処理段階２１０５の方が高い場合がある。したがって、様々な実施形態では、所望の第２段階異常密度は、所望の第１段階異常密度よりも小さい場合がある。例えば、いくつかの実施形態では、所望の第２段階異常密度は、所望の第１段階異常密度の９０％未満であり得る。例えば、いくつかの実施形態では、所望の第２段階異常密度は、メートル当たり約０．０００００８個の異常であり得、所望の第１段階異常密度は、メートル当たり約０．００００１個の異常であり得る。
【0166】
いくつかの実施形態では、フローチャート２５９０は、複数の第２段階異常位置の各々について異常重大度を決定するように、図３０に示された検出器プロセッサ３４００に指示するための図３７に示されたコードのブロック２６１０を含む場合がある。いくつかの実施形態では、ブロック２６１０は、図３６に示されたフローチャート２５９０のコードのブロック２５９４に含まれるか、またはコードのブロック２５９４と同時に実行される場合がある。
様々な実施形態では、異常重大度は異常強度値を含む場合があり、ブロック２６１０は、異常の一部であるピクセルの異常性指標値の総計値として強度値を決定するように、検出器プロセッサ３４００に指示することができる。例えば、いくつかの実施形態では、強度値は、異常の一部であるピクセルの異常性指標値の合計として決定される場合がある。あるいは、いくつかの実施形態では、強度値は、異常の一部であるピクセルにわたる最大異常性指標値として決定される場合がある。
様々な実施形態では、異常重大度は異常強度値を含む場合があり、ブロック２６１０は、異常の一部であるピクセルの異常性指標値の総計値として強度値を決定するように、検出器プロセッサ３４００に指示することができる。例えば、いくつかの実施形態では、強度値は、異常の一部であるピクセルの異常性指標値の合計として決定される場合がある。あるいは、いくつかの実施形態では、強度値は、異常の一部であるピクセルにわたる最大異常性指標値として決定される場合がある。
【0167】
様々な実施形態では、ブロック２６１０は、図３８に示された第２段階異常位置重大度記録２６２０を生成し、図３０に示された記憶メモリ３４０４の位置３４５６に記憶するように、検出器プロセッサ３４００に指示することができる。様々な実施形態では、第２段階異常位置重大度記録２６２０は、第１の異常の増加する機械方向位置および交差方向位置をそれぞれ記憶するための第１の第２段階異常位置フィールド２６２２および２６２４と、第１の異常ならびに第２段階異常位置フィールド２６２２および２６２４に関連付けられた異常重大度を記憶するための第１の異常重大度フィールド２６２６とを含む。様々な実施形態では、第２段階異常位置重大度記録２６２０は、さらなる第２段階異常位置フィールドおよび関連付けられた異常重大度フィールドを含む。
【0168】
図３１に戻って参照すると、ブロック２４０４は、図２７に示された第２の巻き取り紙処理段階２１０７において巻き取り紙２１０８上で検出された異常の位置を表す第２段階異常位置の表現を受信するように、追跡器プロセッサ２２００に指示する。いくつかの実施形態では、ブロック２４０４は、第２段階異常位置の各々に関連付けられたそれぞれの異常重大度を受信するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、ブロック２４０４は、図２８に示されたインターフェース２２２２を介して、第２の異常検出器２１０６から図３８に示された第２段階異常位置重大度記録２６２０の表現を受信し、図２８に示された記憶メモリ２２０４の位置２２５６に第２段階異常位置重大度記録２６２０を記憶するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、ブロック２４０４は、図５に示されたフローチャート４００のブロック４０４および図１３に示された第２段階異常位置記録６４０に関して概ね本明細書に記載されたように、図３８に示された第２段階異常位置重大度記録２６２０に基づいて減少する機械方向フィールドを含む、図３９に示された更新された第２段階異常位置重大度記録２６４０を生成し、位置２２５６に記憶するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。
【0169】
いくつかの実施形態では、最初に図３１に示されたフローチャート２４００のブロック２４０４で受信され、図３９に示された第２段階異常位置重大度記録２６４０に記憶された第２段階異常位置は、候補第２段階異常位置として機能することができ、フローチャート２４００は、受信された候補第２段階異常位置のうちの少なくとも１つを無視するように、追跡器プロセッサ２２００に指示するためのコードのブロックを含む場合がある。例えば、様々な実施形態では、図３１に示されたフローチャート２４００のブロック２４０４は、図４０に示されたコードのブロック２６６２および２６６４を含む場合がある。様々な実施形態では、受信された候補第２段階異常位置のうちの少なくとも１つを無視することにより、より高速かつ／またはより正確なオフセット決定などの改善を容易にすることができる。
【0170】
図４０を参照すると、様々な実施形態では、ブロック２６６２は、複数の候補第２段階異常位置の表現を受信するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、ブロック２６６２は、図２８に示されたインターフェース２２２２を介して、第２の異常検出器２１０６から図３８に示された第２段階異常位置重大度記録２６２０の表現を受信し、図３９に示された第２段階異常位置重大度記録２６４０を生成し、図２８に示された記憶メモリ２２０４の位置２２５６に記憶するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。
引き続き図４０を参照すると、ブロック２６６４は、複数の候補第２段階異常位置のサブセットとして複数の第２段階異常位置を決定するように、追跡器プロセッサ２２００に指示する。様々な実施形態では、ブロック２６６４は、複数の候補第２段階異常位置をランク付けし、１つまたは複数の最高ランクの候補第２段階異常位置としてサブセットを選択するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、候補第２段階異常位置をランク付けし、次いでランク付けに基づいてサブセットを選択することにより、後でより迅速かつ／またはより正確なオフセット決定を容易にすることができる。
引き続き図４０を参照すると、ブロック２６６４は、複数の候補第２段階異常位置のサブセットとして複数の第２段階異常位置を決定するように、追跡器プロセッサ２２００に指示する。様々な実施形態では、ブロック２６６４は、複数の候補第２段階異常位置をランク付けし、１つまたは複数の最高ランクの候補第２段階異常位置としてサブセットを選択するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、候補第２段階異常位置をランク付けし、次いでランク付けに基づいてサブセットを選択することにより、後でより迅速かつ／またはより正確なオフセット決定を容易にすることができる。
【0171】
いくつかの実施形態では、ブロック２６６４は、現在第２の巻き取り紙処理段階における巻き取り紙の位置に対する第２段階異常位置の近接度に少なくとも部分的に基づいて、複数の候補第２段階異常位置の各々をランク付けするように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、図２７に示された巻き取り紙２１０８が第１の巻き取り紙処理段階２１０５と比較して第２の巻き取り紙処理段階２１０７でどの程度オフセットされたかを判定するときに、より最近に検出された異常位置が考慮するためにより重要であり得るので、これはより迅速かつ／またはより正確なオフセット判定を容易にすることができる。
いくつかの実施形態では、ブロック２６６４は、候補第２段階異常位置に関連付けられた異常の重大度に少なくとも部分的に基づいて、複数の候補第２段階異常位置の各々をランク付けするように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、これは、より重要またはより大きい異常がより正確に検知され、したがってオフセットを決定するときに考慮するためにより重要であり得るので、より高速および／またはより正確なオフセット決定を容易にすることができる。
いくつかの実施形態では、ブロック２６６４は、候補第２段階異常位置に関連付けられた異常の重大度に少なくとも部分的に基づいて、複数の候補第２段階異常位置の各々をランク付けするように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、これは、より重要またはより大きい異常がより正確に検知され、したがってオフセットを決定するときに考慮するためにより重要であり得るので、より高速および／またはより正確なオフセット決定を容易にすることができる。
【0172】
いくつかの実施形態では、ブロック２６６４は、候補第２段階異常位置の各々との関連付けについて異常重要度スコアを決定するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。例えば、いくつかの実施形態では、ブロック２６６４は、以下の
のように異常重要度スコアを決定するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができ、ここで、Ｉａは異常重要度スコアであり、Ｓａは異常に関連付けられた異常重大度であり、Ｄａは（例えば、第２段階異常位置重大度記録から、または巻き取り紙１０８の決定された全長から減少する機械方向位置を減算することによって決定された）第２段階異常位置の増加する機械方向位置である。様々な実施形態では、より高く増加する機械方向位置は、現在第２の巻き取り紙処理段階における巻き取り紙２１０８の位置により近接している異常に対応する場合がある。
のように異常重要度スコアを決定するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができ、ここで、Ｉａは異常重要度スコアであり、Ｓａは異常に関連付けられた異常重大度であり、Ｄａは（例えば、第２段階異常位置重大度記録から、または巻き取り紙１０８の決定された全長から減少する機械方向位置を減算することによって決定された）第２段階異常位置の増加する機械方向位置である。様々な実施形態では、より高く増加する機械方向位置は、現在第２の巻き取り紙処理段階における巻き取り紙２１０８の位置により近接している異常に対応する場合がある。
【0173】
様々な実施形態では、ブロック２６６４は、候補第２段階異常位置をそれらの異常重要度スコアに従ってランク付けするように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができ、ブロック２６６４は、第２段階異常位置重大度記録２６４０とほぼ同様であるが、候補第２段階異常位置のサブセットを含むフィールドを有する新しい第２段階異常位置重大度記録を生成するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。例えば、いくつかの実施形態では、ブロック２６６４は、異常重要度スコアに基づいて、閾値数の候補第２段階異常位置のみを含めるように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。例えば、いくつかの実施形態では、上位閾値数は、異常重要度スコアに基づいてランク付けされた上位５００の異常位置であり得る。いくつかの実施形態では、上位閾値数は２０００であってもよい。
様々な実施形態では、ブロック２６６４は、図２８に示された記憶メモリ２２０４の位置２２５６内の更新された第２段階異常位置重大度記録に第２段階異常位置の決定されたサブセットを記憶するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。
様々な実施形態では、ブロック２６６４は、図２８に示された記憶メモリ２２０４の位置２２５６内の更新された第２段階異常位置重大度記録に第２段階異常位置の決定されたサブセットを記憶するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。
【0174】
図３１を参照すると、様々な実施形態では、ブロック２４０４は、巻き取り紙２１０８が図２７に示された第２の巻き取り紙処理段階２１０７で処理される間、継続的に実行される場合がある。いくつかの実施形態では、ブロック２６６２および２６６４は、例えば、第２段階異常位置の各表現が受信された後などに、繰り返し実行される場合がある。
様々な実施形態では、ブロック２４０４が実行されている間またはその後に、追跡器プロセッサ２２００は、候補位置オフセットを試験して位置オフセットを決定するように指示される場合がある。したがって、様々な実施形態では、ブロック２４０４が実行されている間またはその後に、追跡器プロセッサ２２００は、ブロック２４０６に進むように指示される場合がある。様々な実施形態では、ブロック２４０６は、候補位置オフセットを対象候補位置オフセットと見なすように、追跡器プロセッサ２００に指示する。いくつかの実施形態では、ブロック２４０６は、図２に示されたフローチャート４００のブロック４０６に含まれる要素とほぼ同様のいくつかの要素を含む場合がある。
様々な実施形態では、ブロック２４０４が実行されている間またはその後に、追跡器プロセッサ２２００は、候補位置オフセットを試験して位置オフセットを決定するように指示される場合がある。したがって、様々な実施形態では、ブロック２４０４が実行されている間またはその後に、追跡器プロセッサ２２００は、ブロック２４０６に進むように指示される場合がある。様々な実施形態では、ブロック２４０６は、候補位置オフセットを対象候補位置オフセットと見なすように、追跡器プロセッサ２００に指示する。いくつかの実施形態では、ブロック２４０６は、図２に示されたフローチャート４００のブロック４０６に含まれる要素とほぼ同様のいくつかの要素を含む場合がある。
【0175】
いくつかの実施形態では、図２７に示された巻き取り紙２１０８は、第１の巻き取り紙処理段階２１０５と第２の巻き取り紙処理段階２１０７との間で伸張、収縮、および／またはそうでなければ変形する場合がある。代替または追加として、第１の位置センサ２１２２および第２の位置センサ２１２６は、互いに対して適切に較正されていない可能性があり、かつ／または別の要因が、第１の巻き取り紙処理段階２１０５と第２の巻き取り紙処理段階２１０７との間で知覚される伸張、収縮、および／もしくは変形を引き起こす可能性がある。したがって、いくつかの実施形態では、対象候補位置オフセットは、第１の巻き取り紙処理段階２１０５と第２の巻き取り紙処理段階２１０７との間の任意の真のおよび／または知覚された伸張、収縮、および／または変形を相殺するための少なくとも一つの候補倍率を含む場合がある。
【0176】
図４２を参照すると、様々な実施形態による、位置２２６４に記憶され得る対象候補位置オフセット記録２７００が示されている。いくつかの実施形態では、対象候補位置オフセット記録２７００は、機械方向および交差方向のそれぞれの候補位置オフセットを記憶するための機械方向オフセットフィールド２７０２および交差方向オフセットフィールド２７０４を含む。いくつかの実施形態では、対象候補位置オフセット記録２７００は、機械方向における巻き取り紙２１０８の知覚された伸張、収縮、および／または変形を相殺するために使用される倍率を記憶するための機械方向倍率フィールド２７０６を含む。いくつかの実施形態では、対象候補位置オフセット記録２７００は、交差方向における巻き取り紙２１０８の知覚された伸張、収縮、および／または変形を相殺するために使用される倍率を記憶するための交差方向倍率フィールド２７０８を含む。様々な実施形態では、倍率は、機械方向オフセットおよび／または交差方向オフセットを、第２段階異常位置に加算される前に、それが加算される第２段階異常位置の位置に応じて、スケーリングまたは調整するために使用される場合がある。
【0177】
次いで、ブロック２４０７は、対象候補位置オフセットを第１段階異常位置および第２段階異常位置と比較して、候補位置オフセットと関連付けられる差分の表現を決定するように、追跡器プロセッサ２２００に指示する。いくつかの実施形態では、ブロック２４０７は、第２段階異常位置に候補位置オフセットを適用して、オフセットされた第２段階異常位置を決定し、オフセットされた第２段階異常位置と第１段階異常位置との間の差分を決定するように、追跡器プロセッサ２００に指示するためのコードを含む場合があり、その結果、ブロック２４０７は図４１に示されたコードのブロック２４０８および２４１０を含む場合がある。様々な実施形態では、図４１に示されたブロック２４０８および２４１０は、例えば、ブロック２４０８および２４１０がスケーリングを相殺することができ、候補オフセットをチェックするときに第１段階異常位置の代わりに第２段階異常位置に候補位置オフセットを適用するように追跡器プロセッサ２２００に指示することができることを含むいくつかの違いを除き、図１５に示されたフローチャート４００のブロック４０８および４１０とほぼ同様であり得る。
【0178】
様々な実施形態では、他の回避方法、すなわち第１段階異常ごとに対応する第２段階異常を決定することによるのではなく、第２段階異常位置記録内の位置ごとに、最も近い（オフセットされた）第１段階異常位置記録内の位置を決定することにより、異常位置を一致させることが有利であり得る。いくつかの実施形態では、これは、第１段階異常に対して対応する第２段階異常が見つからない可能性が、逆の場合（すなわち、第２段階異常に対して対応する第１段階異常が見つからないこと）よりも高い場合があるからであり得る。例えば、第１の巻き取り紙処理段階２１０５における抄紙機のドライエンドには、第２の巻き取り紙処理段階２１０７において巻き取り機に一般的に存在するよりも多くの紙片が空中に浮遊する場合がある。いくつかの実施形態では、四分木またはＦＬＡＮＮベースの探索または同様の方法を使用して、他の回避方法ではなく、第２段階異常位置記録内の位置ごとに、最も近い（オフセットされた）第１段階異常位置記録内の位置を決定することにより、異常位置を一致させることが有利であり得る。
【0179】
図４１を参照すると、様々な実施形態では、ブロック２４０８は、対象候補位置オフセットを第２段階異常位置に適用して、複数のオフセットされた第２段階異常位置を決定するように、追跡器プロセッサ２２００に指示する。
様々な実施形態では、ブロック２４０８は、複数の第２段階異常位置の各々について、第２段階異常位置の位置に基づいて調整された少なくとも１つの候補オフセット距離を決定し、少なくとも１つの候補オフセット距離を第２段階異常位置に加算するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。例えば、いくつかの実施形態では、ブロック２４０８は、以下の
のように、第２段階異常位置の各々について、機械方向オフセット距離を決定するように追跡器プロセッサ２２００に指示することができ、ここで、ＭＤｄは機械方向オフセット距離であり、ＭＤＯは図４２に示された機械方向オフセットフィールド２７０２からの機械方向オフセットであり、Ｓｆは図４２に示された機械方向倍率フィールド２７０６からの機械方向倍率であり、ＭＤＳは第２段階異常位置として機能する減少する機械方向位置である。
様々な実施形態では、ブロック２４０８は、複数の第２段階異常位置の各々について、第２段階異常位置の位置に基づいて調整された少なくとも１つの候補オフセット距離を決定し、少なくとも１つの候補オフセット距離を第２段階異常位置に加算するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。例えば、いくつかの実施形態では、ブロック２４０８は、以下の
のように、第２段階異常位置の各々について、機械方向オフセット距離を決定するように追跡器プロセッサ２２００に指示することができ、ここで、ＭＤｄは機械方向オフセット距離であり、ＭＤＯは図４２に示された機械方向オフセットフィールド２７０２からの機械方向オフセットであり、Ｓｆは図４２に示された機械方向倍率フィールド２７０６からの機械方向倍率であり、ＭＤＳは第２段階異常位置として機能する減少する機械方向位置である。
【0180】
様々な実施形態では、ブロック２４０８は、ほぼ同様に交差方向オフセット距離を決定するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。
様々な実施形態では、ブロック２４０８は、それぞれの機械方向オフセット距離および交差方向オフセット距離を決定し、図２８に示された記憶メモリ２２０４の位置２２５６に記憶された第２段階異常位置記録の第２段階異常位置の各々に加算するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック２４０８は、記憶メモリ２２０４の位置２２６８に図４３に示された結果としてのオフセットされた第２段階異常位置記録２７４０を記憶するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。
様々な実施形態では、ブロック２４０８は、それぞれの機械方向オフセット距離および交差方向オフセット距離を決定し、図２８に示された記憶メモリ２２０４の位置２２５６に記憶された第２段階異常位置記録の第２段階異常位置の各々に加算するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック２４０８は、記憶メモリ２２０４の位置２２６８に図４３に示された結果としてのオフセットされた第２段階異常位置記録２７４０を記憶するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。
【0181】
図４１を参照すると、ブロック２４１０は、オフセットされた第２段階異常位置と第１段階異常位置との間の差分を決定するように、追跡器プロセッサ２２００に指示する。様々な実施形態では、ブロック２４１０は、図１５に示されたフローチャート４００のブロック４１０に含まれるコードとほぼ同様のコードを含む場合がある。
いくつかの実施形態では、ブロック２４１０は、オフセットされた第２段階異常位置の各々についてそれぞれのオフセット差分を決定するように、追跡器プロセッサ２２００追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。例えば、いくつかの実施形態では、ブロック２４１０は、図２８に示された記憶メモリ２２０４の位置２２４４に記憶された第１段階異常位置記録からの一致した位置に対してオフセットされた第２段階異常位置記録２７４０内の各オフセットされた第２段階異常位置の間の差分を決定するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。
様々な実施形態では、ブロック２４１０は、図２８に示された記憶メモリ２２０４の位置２２７２に図４４に示された候補位置オフセット差分記録２７６０内の結果を記憶するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。
いくつかの実施形態では、ブロック２４１０は、オフセットされた第２段階異常位置の各々についてそれぞれのオフセット差分を決定するように、追跡器プロセッサ２２００追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。例えば、いくつかの実施形態では、ブロック２４１０は、図２８に示された記憶メモリ２２０４の位置２２４４に記憶された第１段階異常位置記録からの一致した位置に対してオフセットされた第２段階異常位置記録２７４０内の各オフセットされた第２段階異常位置の間の差分を決定するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。
様々な実施形態では、ブロック２４１０は、図２８に示された記憶メモリ２２０４の位置２２７２に図４４に示された候補位置オフセット差分記録２７６０内の結果を記憶するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。
【0182】
図３１を参照すると、様々な実施形態では、ブロック２４１２は、差分の表現を候補位置オフセットと関連付けるように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、ブロック２４１２は、コスト関数を使用して差分の表現を決定するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。
いくつかの実施形態では、ブロック２４１２は、オフセット差分の各々について、オフセット差分およびオフセット差分に関連付けられた異常重みに基づいて、それぞれの加重オフセット差分を決定するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、ブロック２４１２は、関連付けられたオフセット差分が決定された異常の重大度に基づいてそれぞれの異常重みを決定するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、これは、より重要または重大な異常の一致を強調することにより、決定された位置オフセットのより正確なおよび／または一貫した識別を容易にすることができる。
いくつかの実施形態では、ブロック２４１２は、オフセット差分の各々について、オフセット差分およびオフセット差分に関連付けられた異常重みに基づいて、それぞれの加重オフセット差分を決定するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、ブロック２４１２は、関連付けられたオフセット差分が決定された異常の重大度に基づいてそれぞれの異常重みを決定するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、これは、より重要または重大な異常の一致を強調することにより、決定された位置オフセットのより正確なおよび／または一貫した識別を容易にすることができる。
【0183】
いくつかの実施形態では、ブロック２４１２は、オフセット差分が決定された第２段階異常位置に関連付けられた異常の重大度を異常重みとして使用するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック２４１２は、候補位置オフセット差分記録２７６０からの各オフセット差分に、オフセット差分が決定された第２段階異常位置に関連付けられた異常重大度を乗算することにより、図４５に示された加重候補位置オフセット差分記録２７８０を生成するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。
様々な実施形態では、ブロック２４１２は、記憶メモリ２２０４の位置２２７２に加重候補位置オフセット差分記録２７８０を記憶するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。
様々な実施形態では、ブロック２４１２は、記憶メモリ２２０４の位置２２７２に加重候補位置オフセット差分記録２７８０を記憶するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。
【0184】
様々な実施形態では、ブロック２４１２は、図４５に示された加重候補位置オフセット差分記録２７８０から加重候補位置オフセット差分の代表サブセットを識別し、代表サブセットに基づいて差分の表現を決定するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、これは、第１段階異常において対応する一致をもたない第２段階異常から生じる差分の無視を容易にすることができ、それは候補位置オフセットをランク付けするための差分のより良い表現をもたらすことができる。
【0185】
様々な実施形態では、ブロック２４１２は、加重差分が導出された非加重差分に基づいて、加重候補位置オフセット差分の代表サブセットを識別するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。例えば、いくつかの実施形態では、ブロック２４１２は、候補位置オフセット差分記録２７６０を使用して代表サブセットを識別するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、ブロック２４１２は、図４４に示された候補位置オフセット差分記録２７６０に記憶された非加重差分のうちの最小の１つから導出された加重差分として代表サブセットを識別するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、代表サブセットは、決定された加重差分の割合であり得る。例えば、いくつかの実施形態では、割合は１０％であり得る。いくつかの実施形態では、代表サブセットに含まれる差分の数は、割合の最大値および最小の数であり得、それは、例えば２０などの値に前もって決定され設定される場合がある。
【0186】
いくつかの実施形態では、ブロック２４１２は、加重候補位置オフセット差分の合計サブセットをスケーリングするように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。様々な実施形態では、これは、異なる候補位置オフセットについて決定された合計サブセットの比較を容易にすることができる。様々な実施形態では、これは、異なる候補位置オフセットの比較をさらに容易にすることができる。例えば、いくつかの実施形態では、ブロック２４１２は、加重候補位置オフセット差分の代表サブセットの合計を、代表サブセットに含まれる第２段階異常の総計または合計された重みによって除算するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。様々な実施形態では、これは、巻き取り紙２１０８における最も有用なランドマークであり得る最も重大な第２段階異常を無視する好ましい解決策を減少させる場合がある。いくつかの実施形態では、ブロック２４１２は、結果または商に、すべての考慮された第２段階異常の総重量を乗算するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。様々な実施形態では、結果としての値は差分の表現として作用される場合がある。
【0187】
様々な実施形態では、ブロック２４１２は、図４６に示されたように、差分の決定された表現を記憶する代表差分フィールド２７１０を含むように、図２８に示された記憶メモリ２２０４の位置２２６４内の対象候補位置オフセット記録２７００を更新するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。
様々な実施形態では、ブロック２４１２が実行された後、追跡器プロセッサ２２００は、図３１に示されたフローチャート２４００のブロック２４０６に戻って、新しい候補位置オフセットを対象候補位置オフセットと見なし、新しい候補位置オフセットでブロック２４０６、２４０７、および２４１２を繰り返すように指示される場合がある。様々な実施形態では、ブロック２４０６は、ＭＤオフセット、ＣＤオフセット、ＭＤ倍率、およびＣＤ倍率の異なる値を含む多次元グリッドから新しい候補位置オフセットを識別するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、ＭＤオフセットおよびＣＤオフセットは、図５に示されたフローチャート４００に関して本明細書に記載された通りであり得る。いくつかの実施形態では、０．９９６～１．００２のＭＤ倍率が考慮される場合がある。ＭＤ倍率のグリッドステップサイズは、例えば、０．００２であり得る。同様に、例えば、０．９８～１．０２のＣＤ倍率が考慮される場合がある。ＣＤ倍率のグリッドステップサイズは、例えば、０．０２であり得る。
様々な実施形態では、ブロック２４１２が実行された後、追跡器プロセッサ２２００は、図３１に示されたフローチャート２４００のブロック２４０６に戻って、新しい候補位置オフセットを対象候補位置オフセットと見なし、新しい候補位置オフセットでブロック２４０６、２４０７、および２４１２を繰り返すように指示される場合がある。様々な実施形態では、ブロック２４０６は、ＭＤオフセット、ＣＤオフセット、ＭＤ倍率、およびＣＤ倍率の異なる値を含む多次元グリッドから新しい候補位置オフセットを識別するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、ＭＤオフセットおよびＣＤオフセットは、図５に示されたフローチャート４００に関して本明細書に記載された通りであり得る。いくつかの実施形態では、０．９９６～１．００２のＭＤ倍率が考慮される場合がある。ＭＤ倍率のグリッドステップサイズは、例えば、０．００２であり得る。同様に、例えば、０．９８～１．０２のＣＤ倍率が考慮される場合がある。ＣＤ倍率のグリッドステップサイズは、例えば、０．０２であり得る。
【0188】
いくつかの実施形態では、考慮される倍率は、図２７に示された第１の巻き取り紙処理段階２１０５と第２の巻き取り紙処理段階２１０７との間で平均的な伸張または収縮が予想され得るので、１．０００を中心としない場合がある。代替または追加として、特にＭＤ倍率の場合、第１の位置センサ２１２２および第２の位置センサ２１２６は互いに対して適切に較正されていない可能性があると予想される場合があるが、代わりに、一方のセンサは、平均して、同じ物理距離に対して他方よりも比較的長い値を測定すると予想される場合がある。
【0189】
様々な実施形態では、図３１に示されたフローチャート２４００のブロック２４０６、２４０７、および２４１２は、さらなる候補位置オフセットに対して繰り返される場合がある。いくつかの実施形態では、第１のグリッド内のすべてのグリッド位置が考慮されると、追跡器プロセッサ２２００は、ブロック２４１４に進むように指示される場合がある。いくつかの実施形態では、第１のグリッドが考慮された後、ブロック２４０６、２４０７、および２４１２は、
の範囲であり得る異なるオフセットによって第１のグリッドからオフセットされ得る少なくとも１つのさらなるグリッドについて繰り返される場合があり、ここで、ｇｄは対応する探索次元ｄ内のグリッドステップサイズである。様々な実施形態では、これは、異なるオフセットグリッドを使用して効果的に連続的な探索動作を容易にすることができ、それは探索空間全体を漸近的にカバーするのに役立つことができる。
の範囲であり得る異なるオフセットによって第１のグリッドからオフセットされ得る少なくとも１つのさらなるグリッドについて繰り返される場合があり、ここで、ｇｄは対応する探索次元ｄ内のグリッドステップサイズである。様々な実施形態では、これは、異なるオフセットグリッドを使用して効果的に連続的な探索動作を容易にすることができ、それは探索空間全体を漸近的にカバーするのに役立つことができる。
【0190】
様々な実施形態では、第１のグリッドは全く考慮されない場合があるが、代わりにブロック２４０６、２４０７、および２４１２は、各探索次元ｄ内の
の範囲であり得る異なるオフセットによって第１のグリッドからオフセットされ得る少なくとも１つのさらなるグリッドについてのみ実行される場合がある。
の範囲であり得る異なるオフセットによって第１のグリッドからオフセットされ得る少なくとも１つのさらなるグリッドについてのみ実行される場合がある。
【0191】
いくつかの実施形態では、第１のグリッドと各さらなるグリッドとの間の各次元ｄ内のオフセットは、適用されている各グリッドの各次元ｄについて別々に生成された
のランダム値であり得る。様々な実施形態では、オフセットは確定的に生成される場合がある。例えば、いくつかの実施形態では、例えば、四分木が構築され得る方法などと同様に、探索範囲
の再帰的な細分割から連続オフセットが選択される場合がある。
のランダム値であり得る。様々な実施形態では、オフセットは確定的に生成される場合がある。例えば、いくつかの実施形態では、例えば、四分木が構築され得る方法などと同様に、探索範囲
の再帰的な細分割から連続オフセットが選択される場合がある。
【0192】
探索動作ごとに異なってオフセットされたグリッドを使用することができる様々な実施形態では、異なる探索間で最良の（＝最低コストの）解決策（例えば、代表差分フィールド内で最低値を有する決定された位置オフセットレコード）が維持される場合があり、その結果、代表差分フィールド内でより低い値を有するより良い解決策が新しい探索の結果として見つからない場合、以前に見つかった最良の解決策が使用され続ける場合がある。
様々な実施形態では、ブロック２４０６、２４０７、および２４１２の繰り返される実行は、図２８に示された記憶メモリ２２０４の位置２２６４に記憶されている図４６に示された候補位置オフセット記録２７００とほぼ同僚のフォーマットを有する多くの候補位置オフセット記録をもたらすことができる。
様々な実施形態では、ブロック２４０６、２４０７、および２４１２の繰り返される実行は、図２８に示された記憶メモリ２２０４の位置２２６４に記憶されている図４６に示された候補位置オフセット記録２７００とほぼ同僚のフォーマットを有する多くの候補位置オフセット記録をもたらすことができる。
【0193】
図３１を参照すると、様々な実施形態では、ブロック２４０６、２４０７、および２４１２が実行され、２つ以上の候補位置オフセット記録が記憶メモリ２２０４の位置２２６４に記憶された後、追跡器プロセッサ２２００はブロック２４１４に進むことができる。ブロック２４１４は、差分の表現に少なくとも部分的に基づいて、候補位置オフセットから決定された位置オフセットを識別するように、追跡器プロセッサ２２００に指示する。
いくつかの実施形態では、ブロック２４１４は、図５に示されたフローチャート４００のブロック４１４とほぼ同様であり得、差分の表現のうちの最小または極小のものに関連付けられた複数の候補位置オフセットのうちの候補位置オフセットを識別することによって決定された位置オフセットを識別するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。
いくつかの実施形態では、ブロック２４１４は、図５に示されたフローチャート４００のブロック４１４とほぼ同様であり得、差分の表現のうちの最小または極小のものに関連付けられた複数の候補位置オフセットのうちの候補位置オフセットを識別することによって決定された位置オフセットを識別するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。
【0194】
様々な実施形態では、ブロック２４１４は、図４７に示された決定された位置オフセット記録２８２０として識別された候補位置オフセット記録を、図２８に示された記憶メモリ２２０４の位置２２７４に記憶するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。
いくつかの実施形態では、図３１に示されたフローチャート２４００のブロック２４１４が完了した後、追跡器プロセッサ２２００は、ブロック２４０６に戻り、図５に示されたフローチャート４００に関して本明細書に記載された決定された位置オフセットの近くのさらなる候補位置オフセットを考慮するように指示される場合がある。
いくつかの実施形態では、図３１に示されたフローチャート２４００のブロック２４１４が完了した後、追跡器プロセッサ２２００は、ブロック２４０６に戻り、図５に示されたフローチャート４００に関して本明細書に記載された決定された位置オフセットの近くのさらなる候補位置オフセットを考慮するように指示される場合がある。
【0195】
図４８を参照すると、様々な実施形態では、図３１に示されたフローチャート２４００の実行後または実行中に実行され得るコードのブロックを描写するフローチャート３８２０が示されている。様々な実施形態では、フローチャート３８２０に含まれるコードのブロックは、図２２に示されたフローチャート８２０に含まれる要素とほぼ同様のいくつかの要素を含む場合がある。様々な実施形態では、図４８に示されたコードのブロックは、図２８に示されたプログラムメモリ２２０２のコードのブロック２２０６に含まれる場合がある。いくつかの実施形態では、ブロックは、巻き取り紙２１０８が図１に示された第２の巻き取り紙処理段階２１０７で処理されるにつれて連続的に実行される場合がある。
【0196】
図４８を参照すると、フローチャート３８２０はブロック３８２２から始まり、ブロック３８２２は、第１の巻き取り紙処理段階２１０５において巻き取り紙２１０８上で検出された欠陥の位置を表す検出された第１段階欠陥位置の表現を受信するように、追跡器プロセッサ２２００に指示する。様々な実施形態では、ブロック３８２２は、図２２に示されたフローチャート８２０のブロック８２２とほぼ同様であり得、ブロック３８２２は、図２８に示されたＩ／Ｏインターフェース２２１２のインターフェース２２２０を介して、第１の異常検出器２１０４から少なくとも１つの検出された第１段階欠陥位置記録の表現を受信し、図２８に示された記憶メモリ２２０４の位置２２７６に検出された第１段階欠陥位置記録を記憶するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、第１の異常検出器２１０４は、欠陥検出器として機能することができ、例えば、図２９に示された第１の異常検出器２１０４のインターフェース３２２４を介して追跡器プロセッサ２２００に欠陥位置の表現を送信する前に、位置３２４０に記憶された第１段階画像を分析して欠陥位置を決定することができる。
【0197】
図４８に戻って参照すると、ブロック３８２４は、第２の巻き取り紙処理段階２１０７における巻き取り紙の検知された第２段階位置の表現を受信するように追跡器プロセッサ２２００に指示し、検知された第２段階位置は、図２７に示された第２の巻き取り紙処理段階２１０７における巻き取り紙２１０８の現在位置を表す。様々な実施形態では、ブロック３８２４は、本明細書に記載され、図２２に示されたブロック８２４とほぼ同様であり得る。様々な実施形態では、ブロック３８２４は、図２８に示されたインターフェース２２２６を介して、図２７に示された第２の位置センサ２１２６から検知された第２段階位置の表現を受信するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック３８２４は、検知された第２段階位置を図２に示された記憶メモリ２２０４の位置２２７８に記憶する前に、受信された検知された第２段階位置から増加する機械方向位置を減少する機械方向位置に変換するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。
【0198】
図４８を参照すると、ブロック３８２６は、決定された位置オフセット、巻き取り紙の検知された第２段階位置、および１つまたは複数の検出された第１段階欠陥位置に基づいて、欠陥のうちの少なくとも１つに対する検知された第２段階位置の欠陥近接度を決定するように、追跡器プロセッサ２２００に指示する。いくつかの実施形態では、欠陥近接度は、第２の巻き取り紙処理段階２１０７で現在処理されている巻き取り紙２１０８の位置が巻き取り紙２１０８の予測される欠陥にどれだけ近いかを表すことができる。
【0199】
いくつかの実施形態では、ブロック３８２６は、決定された位置オフセットを検知された第２段階位置に適用して、オフセットされた検知位置を決定し、１つまたは複数の検出された第１段階欠陥位置をオフセットされた検知位置と比較することによって欠陥近接度を決定するように、追跡器プロセッサ２００に指示する。様々な実施形態では、ブロック３８２６は、図２８に示された記憶メモリ２２０４の位置２２７４から図４７に示された決定された位置オフセット記録２８２０を読み取り、図４１に示されたフローチャート２４００のブロック２４０８に関して本明細書に記載された機械方向オフセット距離を決定するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック３８２８は、決定された機械方向オフセット距離を、記憶メモリ２２０４の位置２２７８からの検知された第２段階位置に加算または適用するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック３８２６は、図２８に示された記憶メモリ２２０４の位置２２８０に結果をオフセットされた検知位置として記憶するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。
【0200】
様々な実施形態では、ブロック３８２６は、図２８に示された記憶メモリ２２０４の位置２２７６に記憶された第１段階欠陥位置のうちの１つを、図２に示された記憶メモリ２２０４の位置２２８０に記憶されたオフセットされた検知位置に最も近い欠陥位置として識別するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック３８２６は、識別された位置がオフセットされた検知位置よりも低い機械方向位置を有することを要求することにより、最も近い欠陥位置を最も近い将来の欠陥位置として識別するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。ブロック３８２６は、オフセットされた検知位置と識別された最も近い第１段階欠陥位置との間の差分または距離であるように欠陥近接度を決定するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、ブロック３８２６は、オフセットされた検知位置と識別された最も近い第１段階欠陥位置との間の機会方向差分または機会方向距離として欠陥近接度を決定するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック３８２６は、図２８に示された記憶メモリ２２０４の位置２２８２に決定された欠陥近接度を記憶するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。
【0201】
図４８に戻って参照すると、様々な実施形態では、ブロック３８２８は、決定された欠陥近接度が閾値基準を満たす場合、図２７に示された第２の巻き取り紙処理段階２１０７における処理が調整されるようにするために信号を生成するように、追跡器プロセッサ２２００に指指示する。様々な実施形態では、ブロック３８２８、本明細書に記載され、図２２に示されたブロック８２８とほぼ同様であり得る。いくつかの実施形態では、記憶メモリ２２０４の位置２２８４に記憶された閾値距離は２５００ｍであり得、ブロック３８２８は、例えば欠陥近接度が２５００ｍ未満であり、現在の第２の巻き取り紙処理段階が位置２２７６に記憶された第１段階欠陥位置記録内で識別された次の欠陥位置の２５００ｍ以内にあるときに、図２７に示された巻き取り紙処理ドライバ２１３０に減速を開始させるために、図２８に示されたインターフェース２２２４を介して信号を生成するように追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。
【0202】
様々な実施形態では、図２２に示されたフローチャート８００のブロック８２８に関して本明細書に記載されたように、閾値距離は、例えば、巻き取り紙２１０８が移動している速度を含む様々な要因に依存する場合がある。
様々な実施形態では、第１の異常検出器２１０４および第２の異常検出器２１０６は、図２５に示されたフローチャート９４０に関して記載された較正とほぼ同様の較正を実行するように構成されるが、図３２および図３６に示されたフローチャート２５００および／または２５９０に関して本明細書に記載された要素／原理のいずれかまたはすべてを使用するように修正される場合がある。例えば、いくつかの実施形態では、図２５に示されたフローチャート９４０は、フローチャート２５００に関して本明細書に記載されたようにそれぞれのピクセル位置に各々が関連付けられたピクセル固有の異常識別閾値を適用するためのコードを含む場合がある。
様々な実施形態では、第１の異常検出器２１０４および第２の異常検出器２１０６は、図２５に示されたフローチャート９４０に関して記載された較正とほぼ同様の較正を実行するように構成されるが、図３２および図３６に示されたフローチャート２５００および／または２５９０に関して本明細書に記載された要素／原理のいずれかまたはすべてを使用するように修正される場合がある。例えば、いくつかの実施形態では、図２５に示されたフローチャート９４０は、フローチャート２５００に関して本明細書に記載されたようにそれぞれのピクセル位置に各々が関連付けられたピクセル固有の異常識別閾値を適用するためのコードを含む場合がある。
【0203】
様々な実施形態では、図１に示されたシステム１００および／または図２７に示されたシステム２１００とほぼ同様に機能するシステムは、位置追跡器、第１の異常検出器、および／または第２の異常検出器の機能を組み合わせた単一のデバイスを含む場合がある。様々な実施形態では、図１に示されたシステム１００および／または図２７に示されたシステム２１００とほぼ同様に機能するシステムは、位置追跡器、第１の異常検出器、および／または第２の異常検出器のうちの１つによって実行される本明細書に記載された機能の異なる部分を実行するように構成された複数の別々のデバイスを含む場合がある。
【0204】
様々な実施形態では、図１に示されたシステム１００および／または図２７に示されたシステム２１００とほぼ同様のシステムは、第１の異常検出器とは別個の、第１の巻き取り紙処理段階で欠陥検出および／または欠陥位置の決定を実行するように構成された１つまたは複数の欠陥検出器を含む場合がある。例えば、いくつかの実施形態では、欠陥検出器は、欠陥位置を検出し、欠陥位置記録の表現を位置追跡器に送信するように構成される場合があり、位置追跡器は、図２２に示されたフローチャート８２０に含まれるブロックと同様のブロックを実行するように構成される。いくつかの実施形態では、例えば画像前処理などの、異常検出と欠陥検出の両方に必要な機能を組み合わせることが有益であり得る。
【0205】
様々な実施形態では、図１５のブロック４１０および／もしくは図４１のブロック２４１０で決定された一致した位置の間の差分、ならびに／またはブロック４１２もしくはブロック２４１２で決定されたそれらの表現は、例えば代替コスト関数を使用することなどにより、別の差分および／または差分の表現を使用して決定される場合がある。
様々な実施形態では、普通でないと予想される機械方向オフセットおよび交差方向オフセットは、比較的多くのペナルティを科される可能性がある。例えば、いくつかの実施形態では、（場合によっては、例えば別の巻き取り機で）巻き戻しが開始される前に、リールの表面から非常に大量の紙が除去されることが可能であり得るが、可能性は低い。いくつかの実施形態では、そのような状況を検出可能にすることが有益であり得るが、（大きさがより小さいオフセットを識別するために必要とされるよりも）比較的多くの証拠がある場合にのみである。
様々な実施形態では、普通でないと予想される機械方向オフセットおよび交差方向オフセットは、比較的多くのペナルティを科される可能性がある。例えば、いくつかの実施形態では、（場合によっては、例えば別の巻き取り機で）巻き戻しが開始される前に、リールの表面から非常に大量の紙が除去されることが可能であり得るが、可能性は低い。いくつかの実施形態では、そのような状況を検出可能にすることが有益であり得るが、（大きさがより小さいオフセットを識別するために必要とされるよりも）比較的多くの証拠がある場合にのみである。
【0206】
様々な実施形態では、図５に示されたフローチャート４００および／または図３１に示されたフローチャート２４００は、決定された位置オフセットが限度外である（例えば、発見された機械方向オフセットまたは交差方向オフセットまたは倍率のうちの１つが物理的に現実的ではない）場合に、決定された位置オフセットが無効と見なされ得るように限度を設定するように、追跡器プロセッサ２００または２２００に指示するためのコードのブロックを含む場合がある。様々な実施形態では、コードのブロックは、同期が失われている場合があることを示すためにユーザおよび／または巻き取り紙処理ドライバに送信される警告を生成するように、追跡器プロセッサ２００または２２００に指示することができる。様々な実施形態では、巻き取り紙処理ドライバは、例えば、そのような状況において処理を調整しないように構成されている場合がある。いくつかの実施形態では、それに応じて、巻き取り紙処理ドライバは自動処理を停止し、代わりに、例えば有効な決定された位置オフセットが再び見つかるまで、ユーザが第２の巻き取り紙処理段階に手動で関与し制御することを促し、かつ／または要求することができる。
【0207】
いくつかの実施形態では、図５に示されたフローチャート４００のブロック４１４および／または図３１に示されたフローチャート２４００のブロック２４１４が完了した後、追跡器プロセッサ２００または２２００は、ブロック４０６または２４０６に戻り、決定された位置オフセットの近くのさらなる候補位置オフセットを考慮するように指示される場合がある。様々な実施形態では、ブロック４０６、４０７、および４１２、ならびに／またはブロック２４０６、２４０７、および２４１２は、決定された位置オフセットの近くのさらなるより高密度のグリッドで繰り返される場合があり、新しい、決定された位置オフセットは、ブロック４１４および／または２４１４がもう一度実行されると見つかる場合がある。いくつかの実施形態では、さらなるより高密度のグリッドが使用される場合がある。
【0208】
いくつかの実施形態では、図４０に示されたブロック２６６４は、これまで見てきた巻き戻し長さ全体をＭ個の等間隔の（機械方向の）領域または長さに分割し、次いで、サブセットについて各領域または長さから等しい数の異常を選択するように、追跡器プロセッサ２２００に指示することができる。いくつかの実施形態では、所望のサブセットサイズがＭで割り切れないとき、各領域からの異常の数は等しくない可能性があるが、代わりに、包含のために考慮される次の異常が比較的重大である領域からさらに１つの異常が存在する可能性がある。いくつかの実施形態では、ある領域に異常が存在しない場合、対応する数の異常が他の領域から選択される場合がある。例えば、２キロメートルの巻き取り紙２１０８がこれまで巻き戻されており、所望の領域数が２０である場合、２キロメートルは１００メートルの区画に均等に分割される場合がある。例えば、５００個の異常が選択されることが望ましい場合、各１００メートル区画からの２５個の最も重大な異常がサブセットについて選択される場合がある。
【0209】
いくつかの実施形態では、観察された全幅を同様にＫ個の等間隔の（横方向の）領域に分割し、次いでＭ個の等間隔の（縦方向の）領域について上記で概説されたのとほぼ同様に進めることが有益であり得る。これは、異常の長い「ストリーク」が特定の交差方向位置で発生している可能性がある場合に有用であり得る。いくつかの実施形態では、全領域はＭＫ個の領域に分割される場合があり、その結果、異常のバーストとストリークの両方によって引き起こされる（異常位置マップの照合に対する）影響を緩和することができる。
いくつかの実施形態では、図５に示されたフローチャート４００のブロック４１４および／または図３１に示されたフローチャート２４００のブロック２４１４が完了した後、追跡器プロセッサ２００または２２００は、決定された位置オフセットにおけるパラメータに関してコスト関数または差分関数の勾配を計算するように指示される場合がある。様々な実施形態では、追跡器プロセッサ２００または２２００は、勾配降下ステップを行う、すなわち、決定された位置オフセットのベクトル和マイナス例えば０．０１などの小さいスカラ定数によって乗算された勾配として、新しく決定された位置オフセットを見つけるように指示される場合がある。様々な実施形態では、追跡器プロセッサは、次いで、新しく決定された位置オフセットにおけるコスト関数の勾配を計算し、新しい勾配降下ステップを行うように指示される場合がある。様々な実施形態では、勾配降下ステップは、例えば、事前較正された数のステップについて、かつ／またはいくつかの収束基準が満たされるまで繰り返される場合がある。いくつかの実施形態では、勾配降下ステップは、例えば、１００ステップの間繰り返される場合がある。
いくつかの実施形態では、図５に示されたフローチャート４００のブロック４１４および／または図３１に示されたフローチャート２４００のブロック２４１４が完了した後、追跡器プロセッサ２００または２２００は、決定された位置オフセットにおけるパラメータに関してコスト関数または差分関数の勾配を計算するように指示される場合がある。様々な実施形態では、追跡器プロセッサ２００または２２００は、勾配降下ステップを行う、すなわち、決定された位置オフセットのベクトル和マイナス例えば０．０１などの小さいスカラ定数によって乗算された勾配として、新しく決定された位置オフセットを見つけるように指示される場合がある。様々な実施形態では、追跡器プロセッサは、次いで、新しく決定された位置オフセットにおけるコスト関数の勾配を計算し、新しい勾配降下ステップを行うように指示される場合がある。様々な実施形態では、勾配降下ステップは、例えば、事前較正された数のステップについて、かつ／またはいくつかの収束基準が満たされるまで繰り返される場合がある。いくつかの実施形態では、勾配降下ステップは、例えば、１００ステップの間繰り返される場合がある。
【0210】
様々な実施形態では、新しく決定された位置オフセットを見つけるために上述された勾配降下法を使用する代わりに、またはそれに加えて、追跡器プロセッサ２００または２２００は、代替のおよび／またはより複雑な方法を使用して最適化を実行するように構成される場合がある。例えば、様々な実施形態では、最適化方法は、コスト関数に関する二次情報を使用することができる。いくつかの実施形態では、追跡器プロセッサ２００または２２００は、例えば、Ｂｒｏｙｄｅｎ－Ｆｌｅｔｃｈｅｒ－Ｇｏｌｄｆａｒｂ－Ｓｈａｎｎｏ最適化アルゴリズムを使用してコスト関数の最小値を見つけることによって新しく決定された位置オフセットを確立するように構成される場合がある。
【0211】
様々な実施形態では、例えば、第１の決定された位置オフセットを取得するために第１のプロセスが使用され、より良好に決定された位置オフセットに近づくために第１の決定された位置オフセットの近くにさらなるプロセスが適用される場合などに、候補位置オフセットを選択する上記の方法の様々な組合せが使用される場合がある。
本明細書に開示された様々な実施形態では、第１および第２の異常検出器は、第１段階画像および第２段階画像の各々に関連付けられた機械方向位置または位置情報を受信することができ、受信された機械方向位置は、画像ごとの異常位置を決定するために使用される場合があるが、いくつかの実施形態では、異常ごとの機械方向位置または位置情報は、画像自体から導出される場合がある。いくつかの実施形態では、異常の位置が巻き取り紙の画像から導出され得るとき、図１および図２７に示すシステム１００または２１００から専用の位置センサが省略される場合がある。
本明細書に開示された様々な実施形態では、第１および第２の異常検出器は、第１段階画像および第２段階画像の各々に関連付けられた機械方向位置または位置情報を受信することができ、受信された機械方向位置は、画像ごとの異常位置を決定するために使用される場合があるが、いくつかの実施形態では、異常ごとの機械方向位置または位置情報は、画像自体から導出される場合がある。いくつかの実施形態では、異常の位置が巻き取り紙の画像から導出され得るとき、図１および図２７に示すシステム１００または２１００から専用の位置センサが省略される場合がある。
【0212】
いくつかの実施形態では、第１段階異常識別感度および／または第２段階異常識別感度は、変わらずに保持される場合がある。したがって、様々な実施形態では、図６に示されたフローチャート５００のブロック５０６および５０８は省略される場合があり、かつ／または図１０に示されたフローチャート５９０のブロック５９６および５９８は省略される場合がある。様々な実施形態では、図３２に示されたフローチャート２５００のブロック２５０６および２５０８は省略される場合があり、かつ／または図３６に示されたフローチャート２５９０のブロック２５９６および２５９８は省略される場合がある。
【0213】
様々な実施形態では、第１段階異常位置および第２段階異常位置は、交換可能に切り替えおよび／または処理される場合がある。例えば、いくつかの実施形態では、図５に示されたフローチャート４００のブロック４０８は、第２段階異常位置に候補位置オフセットを適用して、オフセットされた第２段階異常位置を決定するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができ、ブロック４１０は、オフセットされた第２段階異常位置と第１段階異常位置との間の差分を決定するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。様々な実施形態では、図２７に示されたシステム２１００において同様の切り替えが行われる場合がある。
様々な実施形態では、図５に示すフローチャート４００のブロック４０４ならびに４０６、４０７、４１２、および４１４、または図３１に示されたフローチャート２４００のブロック２４０４ならびに２４０６、２４０７、２４１２、および２４１４は、巻き取り紙が処理され、さらに第２段階異常位置が受信されるにつれて連続的に実行される場合があり、その結果、記憶メモリ２０４または２２０４の位置２５６または２２５６に記憶された第２段階異常位置記録が連続的に追加および／または更新され、決定された位置オフセット記録を含む結果データが連続的に更新される。
様々な実施形態では、図５に示すフローチャート４００のブロック４０４ならびに４０６、４０７、４１２、および４１４、または図３１に示されたフローチャート２４００のブロック２４０４ならびに２４０６、２４０７、２４１２、および２４１４は、巻き取り紙が処理され、さらに第２段階異常位置が受信されるにつれて連続的に実行される場合があり、その結果、記憶メモリ２０４または２２０４の位置２５６または２２５６に記憶された第２段階異常位置記録が連続的に追加および／または更新され、決定された位置オフセット記録を含む結果データが連続的に更新される。
【0214】
様々な実施形態では、位置追跡器１０２もしくは２１０２、または位置追跡器１０２もしくは２１０２とほぼ同様の追跡器は、紙製品を製造する製紙工場以外の現場での巻き取り紙追跡を容易にするためのシステムに含まれる場合がある。例えば、様々な実施形態では、位置追跡器１０２または２１０２は、板紙抄紙機、１つもしくは複数の巻き取り機、および／または１つもしくは複数の巻き戻し機の間の液体包装用板紙製造の追跡を容易にすることができる。様々な実施形態では、位置追跡器１０２または２１０２は、ティシュペーパーマシンと１つまたは複数の変換ラインとの間のティシュペーパー製品の追跡を容易にすることができる。いくつかの実施形態では、位置追跡器１０２または２１０２は、異なる処理段階の間の鋼コイルまたは他の金属コイルの追跡を容易にすることができる。様々な実施形態では、巻き取り紙１０８および／または巻き取り紙２１０８は、本明細書に記載された照合および／または追跡を容易にするために、異常として識別可能であり得るわずかな欠陥および／または他のランドマークを含む場合がある、紙巻き取り紙、板巻き取り紙、ティシュペーパー巻き取り紙、ラミネート巻き取り紙、ガラス繊維マット、金属ストリップ、および／または別の製品を含む場合がある。
【0215】
様々な実施形態では、決定された位置オフセット記録の機械方向オフセットフィールドに記憶された機械方向オフセットは、処理中に第２の巻き取り紙処理段階において予測される欠陥位置を決定するために交差方向を考慮せずに使用される場合がある。様々な実施形態では、これは、計算要件を低減することができ、依然として満足な結果を提供することができる。様々なそのような実施形態では、候補位置オフセットは、機械方向倍率を含むが、交差方向倍率は含まない場合がある。
いくつかの実施形態では、図１に示されたシステム１００および／または図２７に示されたシステム２１００は、第２の巻き取り紙処理段階またはその近くで巻き取り紙の位置を検知するためのさらなる位置センサを含む場合がある。様々な実施形態では、図２２に示されたフローチャート８２０のブロック８２６は、さらなる位置センサから巻き取り紙１０８の現在位置を受信するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。
いくつかの実施形態では、図１に示されたシステム１００および／または図２７に示されたシステム２１００は、第２の巻き取り紙処理段階またはその近くで巻き取り紙の位置を検知するためのさらなる位置センサを含む場合がある。様々な実施形態では、図２２に示されたフローチャート８２０のブロック８２６は、さらなる位置センサから巻き取り紙１０８の現在位置を受信するように、追跡器プロセッサ２００に指示することができる。
【0216】
いくつかの実施形態では、図６に示されたフローチャート５００のブロック５０４または図３２に示されたフローチャート２５００のブロック２５０４は、新しいピクセル値－基準ピクセル値として差分を計算するように、検出器プロセッサ１２００または３２００に指示することができる。様々な実施形態では、決定された差分の絶対値が異常性指標値として使用される場合がある。
様々な実施形態では、異常の数に基づく異常密度の代わりに、図６に示されたフローチャート５００のブロック５０６は、第１の第１段階異常識別感度に関連付けられた異常ピクセル密度を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々な実施形態では、図６に示されたフローチャート５００のブロック５０６は、複数の第１段階異常位置の第１のセットによって表された異常に含まれる異常ピクセルの数を判決定することによって少なくとも１つの異常密度を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック５０６は、巻き取り紙１０８の長さ当たりの異常ピクセルとして、または巻き取り紙の面積当たりの異常ピクセルとして異常ピクセル密度を決定するように検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々なそのような実施形態では、ブロック５０８は、所望よりも少ない異常ピクセルが異常ピクセル密度によって表される場合、異常識別閾値がより敏感であるように異常識別感度を調整するように、または所望よりも多い異常ピクセルが異常ピクセル密度によって表される場合、異常識別感度がより鈍感（したがって、例えば、より高い閾値）であるように異常識別感度を調整するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。例えば、いくつかの実施形態では、所望の異常ピクセル密度は、０．００００１ピクセル／メートル＊１６００＊８００＝１２．８ピクセル／メートルであり得る。様々な実施形態では、ブロック５９６は、第１の第１段階異常識別感度について上述された方法とほぼ同様の方法で第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた異常ピクセル密度を決定するように、検出器プロセッサ１４００に指示することができる。
様々な実施形態では、異常の数に基づく異常密度の代わりに、図６に示されたフローチャート５００のブロック５０６は、第１の第１段階異常識別感度に関連付けられた異常ピクセル密度を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々な実施形態では、図６に示されたフローチャート５００のブロック５０６は、複数の第１段階異常位置の第１のセットによって表された異常に含まれる異常ピクセルの数を判決定することによって少なくとも１つの異常密度を決定するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々な実施形態では、ブロック５０６は、巻き取り紙１０８の長さ当たりの異常ピクセルとして、または巻き取り紙の面積当たりの異常ピクセルとして異常ピクセル密度を決定するように検出器プロセッサ１２００に指示することができる。様々なそのような実施形態では、ブロック５０８は、所望よりも少ない異常ピクセルが異常ピクセル密度によって表される場合、異常識別閾値がより敏感であるように異常識別感度を調整するように、または所望よりも多い異常ピクセルが異常ピクセル密度によって表される場合、異常識別感度がより鈍感（したがって、例えば、より高い閾値）であるように異常識別感度を調整するように、検出器プロセッサ１２００に指示することができる。例えば、いくつかの実施形態では、所望の異常ピクセル密度は、０．００００１ピクセル／メートル＊１６００＊８００＝１２．８ピクセル／メートルであり得る。様々な実施形態では、ブロック５９６は、第１の第１段階異常識別感度について上述された方法とほぼ同様の方法で第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた異常ピクセル密度を決定するように、検出器プロセッサ１４００に指示することができる。
【0217】
様々な実施形態では、所望の異常密度を与えているはずの新しい感度または閾値を振り返って効率的に計算することが可能であり得る。様々な実施形態では、異常識別感度は、例えば指数平滑化、すなわちＦＥＳＳＡを使用して、それに応じて更新することができる。
様々な実施形態では、図１および図２７に示されたシステム１００および２１００の原理および／または特徴もしくは要素は、例示目的で本明細書に記載され、システム間で交換可能であり得る。様々な実施形態では、システム２１００の原理および／または特徴もしくは要素のいずれかまたはすべては、システム１００に組み込まれる場合があり、逆もまた同様である。
様々な実施形態では、図１および図２７に示されたシステム１００および２１００の原理および／または特徴もしくは要素は、例示目的で本明細書に記載され、システム間で交換可能であり得る。様々な実施形態では、システム２１００の原理および／または特徴もしくは要素のいずれかまたはすべては、システム１００に組み込まれる場合があり、逆もまた同様である。
【0218】
様々な実施形態では、図２５に示されたフローチャート９４０または図２５に示されたフローチャート９４０とほぼ同様のコードは、図６に示されたフローチャート５００、図１０に示されたフローチャート５９０、図３２に示されたフローチャート２５００、および／または図３６に示されたフローチャート２５９０に関して本明細書に記載された機能を組み込むように修正される場合がある。様々な実施形態では、図２５に示されたフローチャート９４０または図２５に示されたフローチャート９４０とほぼ同様のコードは、図６に示されたフローチャート５００、図１０に示されたフローチャート５９０、図３２に示されたフローチャート２５００、および／または図３６に示されたフローチャート２５９０に関して本明細書に記載された方法のいずれかまたはすべてにおいて修正される場合がある。
【0219】
いくつかの実施形態では、カメラのいずれかまたはすべては、１つまたは複数のラインスキャンカメラを含む場合がある。様々なそのような実施形態では、対応する画像は、例えば、２０４８×１個のピクセルを含む場合がある。
本開示の特定の実施形態が記載および例示されているが、そのような実施形態は、本開示の例示にすぎず、添付の特許請求の範囲に従って解釈されるように本開示を限定するものではないと考えられるべきである。
本開示の特定の実施形態が記載および例示されているが、そのような実施形態は、本開示の例示にすぎず、添付の特許請求の範囲に従って解釈されるように本開示を限定するものではないと考えられるべきである。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【図19】
【図20】
【図21】
【図22】
【図23】
【図24】
【図25】
【図26】
【図27】
【図28】
【図29】
【図30】
【図31】
【図32】
【図33】
【図34】
【図35】
【図36】
【図37】
【図38】
【図39】
【図40】
【図41】
【図42】
【図43】
【図44】
【図45】
【図46】
【図47】
【図48】
【手続補正書】
【提出日】2024-12-10
【手続補正1】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項1】
巻き取り紙位置追跡を容易にするための方法であって、第１の巻き取り紙処理段階において巻き取り紙上で検出された異常の位置を表す複数の第１段階異常位置の表現を受信することと、
第２の巻き取り紙処理段階において前記巻き取り紙上で検出された異常の位置を表す複数の第２段階異常位置の表現を受信することと、
複数の異なる候補位置オフセットの各々について、
前記候補位置オフセットを前記複数の第１段階異常位置および前記複数の第２段階異常位置と比較して、前記候補位置オフセットに関連付けられる差分の表現を決定することと、
前記差分の前記表現を前記候補位置オフセットと関連付けることと、
前記差分の前記表現に少なくとも部分的に基づいて、前記候補位置オフセットから決定された位置オフセットを識別することと
を含む、方法。
【請求項2】
前記候補位置オフセットを前記複数の第１段階異常位置および前記複数の第２段階異常位置と比較することが、前記候補位置オフセットを前記複数の第１段階異常位置に適用して、複数のオフセットされた第１段階異常位置を決定することと、
前記複数のオフセットされた第１段階異常位置と前記複数の第２段階異常位置との間の前記差分を決定することと
を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項3】
前記差分を決定することが、前記複数のオフセットされた第１段階異常位置の各々についてそれぞれのオフセット差分を決定することを含む、請求項２に記載の方法。
【請求項4】
前記候補位置オフセットを適用することが、前記複数の第１段階異常位置の各々について、前記第１段階異常位置の位置に基づいて調整された少なくとも１つの候補オフセット距離を決定することと、前記少なくとも１つの候補オフセット距離を前記第１段階異常位置に加算することとを含む、請求項２に記載の方法。
【請求項5】
前記候補位置オフセットを前記複数の第１段階異常位置および前記複数の第２段階異常位置と比較することが、前記候補位置オフセットを前記複数の第２段階異常位置に適用して、複数のオフセットされた第２段階異常位置を決定することと、
前記複数のオフセットされた第２段階異常位置と前記複数の第１段階異常位置との間の前記差分を決定することと
を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項6】
前記差分を決定することが、前記複数のオフセットされた第２段階異常位置の各々についてそれぞれのオフセット差分を決定することを含む、請求項５に記載の方法。
【請求項7】
前記候補位置オフセットを適用することが、前記複数の第２段階異常位置の各々について、前記第２段階異常位置の位置に基づいて調整された少なくとも１つの候補オフセット距離を決定することと、前記少なくとも１つの候補オフセット距離を前記第２段階異常位置に加算することとを含む、請求項５に記載の方法。
【請求項8】
前記候補位置オフセットを前記複数の第１段階異常位置および前記複数の第２段階異常位置と比較することが、前記オフセット差分の各々について、前記オフセット差分および前記オフセット差分に関連付けられた異常重みに基づいてそれぞれの加重オフセット差分を決定することを含む、請求項３に記載の方法。
【請求項9】
前記オフセット差分の各々について、前記関連付けられたオフセット差分が決定された異常の重大度に基づいて、前記それぞれの関連付けられた異常重みを決定することを含む、請求項８に記載の方法。
【請求項10】
前記複数の第２段階異常位置の前記表現を受信することが、複数の候補第２段階異常位置の表現を受信することと、前記複数の候補第２段階異常位置のサブセットとして前記複数の第２段階異常位置を決定することとを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項11】
前記複数の第２段階異常位置を決定することが、前記複数の候補第２段階異常位置をランク付けすることと、１つまたは複数の最高ランクの候補第２段階異常位置として前記サブセットを選択することとを含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項12】
前記複数の候補第２段階異常位置をランク付けすることが、現在前記第２の巻き取り紙処理段階における前記巻き取り紙の位置に対する前記第２段階異常位置の近接度に少なくとも部分的に基づいて、前記複数の候補第２段階異常位置の各々をランク付けすることを含む、請求項１１に記載の方法。
【請求項13】
前記複数の候補第２段階異常位置をランク付けすることが、前記第２段階異常位置に関連付けられた異常の重大度に少なくとも部分的に基づいて、前記複数の候補第２段階異常位置の各々をランク付けすることを含む、請求項１１に記載の方法。
【請求項14】
前記第２の巻き取り紙処理段階が、前記第１の巻き取り紙処理段階の下流にある、請求項１に記載の方法。
【請求項15】
前記決定された位置オフセットを識別することが、前記差分の前記表現のうちの最小のものに関連付けられた前記複数の候補位置オフセットのうちの候補位置オフセットを識別することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項16】
前記複数の第１段階異常位置の前記表現を受信することが、前記第１の巻き取り紙処理段階における前記巻き取り紙の第１段階画像の１つまたは複数のセットを受信することと、
第１段階画像の前記１つまたは複数のセットに対する少なくとも１つの第１段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、前記複数の第１段階異常位置を決定することと
を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項17】
第１段階画像の前記１つまたは複数のセットが、第１段階画像の第１のセットおよび第１段階画像の第２のセットを含み、前記少なくとも１つの第１段階異常識別感度が、第１の第１段階異常識別感度および第２の第１段階異常識別感度を含み、前記第２の第１段階異常識別感度が前記第１の第１段階異常識別感度とは異なり、
前記複数の第１段階異常位置を決定することが、
第１段階画像の前記第１のセットに対する前記第１の第１段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、第１段階異常位置の第１のセットを決定することと、
第１段階画像の前記第２のセットに対する前記第２の第１段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、第１段階異常位置の第２のセットを決定することと
を含む、請求項１６に記載の方法。
【請求項18】
前記第１および第２の第１段階異常識別感度の各々が、それぞれのピクセル位置に各々が関連付けられた複数の異常識別閾値を含む、請求項１７に記載の方法。
【請求項19】
前記第１の第１段階異常識別感度に関連付けられた少なくとも１つの異常密度を決定することと、前記第１の第１段階異常識別感度に関連付けられた前記少なくとも１つの異常密度および前記第１の第１段階異常識別感度に少なくとも部分的に基づいて、前記第２の第１段階異常識別感度を決定することとを含む、請求項１７に記載の方法。
【請求項20】
前記少なくとも１つの異常密度を決定することが、前記複数の第１段階異常位置の前記第１のセットによって表された異常の数を決定することを含む、請求項１９に記載の方法。
【請求項21】
前記少なくとも１つの異常密度を決定することが、前記複数の第１段階異常位置の前記第１のセットによって表された異常に含まれる異常ピクセルの少なくとも１つの数を決定することを含む、請求項１９に記載の方法。
【請求項22】
前記第１の第１段階異常識別感度に関連付けられた前記少なくとも１つの異常密度と所望の第１段階異常密度との間の少なくとも１つの差分を決定することを含み、前記第２の第１段階異常識別感度を決定することが、前記決定された少なくとも１つの差分に少なくとも部分的に基づいて、前記第２の第１段階異常識別感度を決定することを含む、請求項１９に記載の方法。
【請求項23】
前記複数の第２段階異常位置の前記表現を受信することが、前記第２の巻き取り紙処理段階における前記巻き取り紙の第２段階画像の１つまたは複数のセットを受信することと、
第２段階画像の前記１つまたは複数のセットに対する少なくとも１つの第２段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、前記複数の第２段階異常位置を決定することと
を含み、
第２段階画像の前記１つまたは複数のセットが、第２段階画像の第１のセットおよび第２段階画像の第２のセットを含み、
前記少なくとも１つの第２段階異常識別感度が、第１の第２段階異常識別感度および第２の第２段階異常識別感度を含み、
前記複数の第２段階異常位置を決定することが、
第２段階画像の前記第１のセットに対する前記第１の第２段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、第２段階異常位置の第１のセットを決定することと、
第２段階画像の前記第２のセットに対する前記第２の第２段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、第２段階異常位置の第２のセットを決定することと
を含み、
前記方法が、前記第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた少なくとも１つの異常密度を決定することと、前記第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた前記少なくとも１つの異常密度および前記第１の第２段階異常識別感度に少なくとも部分的に基づいて、前記第２の第２段階異常識別感度を決定することとを含み、
前記方法が、前記第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた前記少なくとも１つの異常密度と所望の第２段階異常密度との間の差分を決定することを含み、前記所望の第２段階異常密度が前記所望の第１段階異常密度の９０％未満であり、
前記第２の第２段階異常識別感度を決定することが、前記第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた前記少なくとも１つの異常密度と前記所望の第２段階異常密度との間の前記決定された差分に少なくとも部分的に基づいて、前記第２の第２段階異常識別感度を決定することを含む、
請求項２２に記載の方法。
【請求項24】
前記第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた前記少なくとも１つの異常密度を決定することが、前記複数の第２段階異常位置の前記第１のセットによって表された異常に含まれる異常ピクセルの数を決定することを含む、請求項２３に記載の方法。
【請求項25】
前記第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた前記少なくとも１つの異常密度を決定することが、前記複数の第２段階異常位置の前記第１のセットによって表された異常の数を決定することを含む、請求項２３に記載の方法。
【請求項26】
前記第１および第２の第２段階異常識別感度の各々が、それぞれのピクセル位置に各々が関連付けられた複数の異常識別閾値を含む、請求項２３に記載の方法。
【請求項27】
前記複数の第２段階異常位置の前記表現を受信することが、前記第２の巻き取り紙処理段階における前記巻き取り紙の第２段階画像の１つまたは複数のセットを受信することと、
第２段階画像の前記１つまたは複数のセットに対する少なくとも１つの第２段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、前記複数の第２段階異常位置を決定することと
を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項28】
第２段階画像の前記１つまたは複数のセットが、第２段階画像の第１のセットおよび第２段階画像の第２のセットを含み、前記少なくとも１つの第２段階異常識別感度が、第１の第２段階異常識別感度および第２の第２段階異常識別感度を含み、前記第２の第２段階異常識別感度が前記第１の第２段階異常識別感度とは異なり、
前記複数の第２段階異常位置を決定することが、
第２段階画像の前記第１のセットに対する前記第１の第２段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、第２段階異常位置の第１のセットを決定することと、
第２段階画像の前記第２のセットに対する前記第２の第２段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、第２段階異常位置の第２のセットを決定することと
を含む、請求項２７に記載の方法。
【請求項29】
前記第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた少なくとも１つの異常密度を決定することと、前記第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた前記少なくとも１つの異常密度および前記第１の第２段階異常識別感度に少なくとも部分的に基づいて、前記第２の第２段階異常識別感度を決定することとを含む、請求項２８に記載の方法。
【請求項30】
前記少なくとも１つの異常密度を決定することが、前記複数の第２段階異常位置の前記第１のセットによって表された異常の数を決定することを含む、請求項２９に記載の方法。
【請求項31】
前記少なくとも１つの異常密度を決定することが、前記複数の第２段階異常位置の前記第１のセットによって表された異常に含まれる異常ピクセルの少なくとも１つの数を決定することを含む、請求項２９に記載の方法。
【請求項32】
前記第１の第２段階異常識別感度に関連付けられた前記少なくとも１つの異常密度と所望の第２段階異常密度との間の少なくとも１つの差分を決定することを含み、前記第２の第２段階異常識別感度を決定することが、前記決定された少なくとも１つの差分に少なくとも部分的に基づいて、前記第２の第２段階異常識別感度を決定することを含む、請求項２９に記載の方法。
【請求項33】
前記第１および第２の第１段階異常識別感度の各々が、それぞれのピクセル位置に各々が関連付けられた複数の異常識別閾値を含む、請求項２８に記載の方法。
【請求項34】
前記第１の巻き取り紙処理段階における前記巻き取り紙の第１段階画像の較正セットを受信することと、第１段階画像の前記較正セットに対する第１段階較正異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、少なくとも１つの第１段階較正異常密度を決定することと、
前記第１段階較正異常識別感度および前記少なくとも１つの第１段階較正異常密度に少なくとも部分的に基づいて、較正ベースの第１段階異常識別感度を決定することと
を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項35】
前記少なくとも１つの第１段階較正異常密度を決定することが、第１段階画像の前記較正セットに対する前記較正第１段階異常識別感度の適用に少なくとも部分的に基づいて、異常位置の第１段階較正セットを決定することと、
異常位置の前記第１段階較正セットによって表された異常の数を決定することと
を含む、請求項３４に記載の方法。
【請求項36】
前記少なくとも１つの第１段階較正異常密度を決定することが、第１段階画像の前記較正セットに含まれる異常に含まれる異常ピクセルの数を決定することを含む、請求項３４に記載の方法。
【請求項37】
前記第１段階較正異常識別感度および前記較正ベースの第１段階異常識別感度の各々が、それぞれのピクセル位置に各々が関連付けられた複数の異常識別閾値を含む、請求項３４に記載の方法。
【請求項38】
前記較正ベースの第１段階異常識別感度を決定することが、前記少なくとも１つの第１段階較正異常密度と所望の第１段階較正異常密度との間の少なくとも１つの差分を決定することと、前記決定された少なくとも１つの差分に少なくとも部分的に基づいて、前記較正ベースの第１段階異常識別感度を決定することとを含む、請求項３４に記載の方法。
【請求項39】
第１段階画像の前記第１のセットが、第１段階画像の前記較正セットのうちの少なくとも１つを含む、請求項３４に記載の方法。
【請求項40】
第１段階画像の前記第１のセットおよび第１段階画像の前記較正セットが同じ画像である、請求項３９に記載の方法。
【請求項41】
前記第１の巻き取り紙処理段階において前記巻き取り紙上で検出された欠陥の位置を表す１つまたは複数の検出された第１段階欠陥位置の表現を受信することと、前記第２の巻き取り紙処理段階における前記巻き取り紙の検知された第２段階位置の表現を受信することであって、前記検知された第２段階位置が、前記第２の巻き取り紙処理段階における前記巻き取り紙の現在位置を表す、受信することと、
前記決定された位置オフセット、前記巻き取り紙の前記検知された第２段階位置、および前記１つまたは複数の検出された第１段階欠陥位置に基づいて、前記欠陥のうちの少なくとも１つに対する前記検知された第２段階位置の欠陥近接度を決定することと、
前記決定された欠陥近接度が閾値基準を満たす場合、前記第２の巻き取り紙処理段階における処理が調整されるようにするために信号を生成することと
を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項42】
前記欠陥近接度を決定することが、前記決定された位置オフセットを前記１つまたは複数の検出された第１段階欠陥位置に適用して、前記第２の巻き取り紙処理段階における前記巻き取り紙について予測された欠陥の位置を表す１つまたは複数の予測された第２段階欠陥位置を決定することと、前記１つまたは複数の予測された第２段階欠陥位置を前記検知された第２段階位置と比較することとを含む、請求項４１に記載の方法。
【請求項43】
前記欠陥近接度を決定することが、前記決定された位置オフセットを前記検知された第２段階位置に適用して、オフセットされた検知位置を決定することと、前記１つまたは複数の検出された第１段階欠陥位置を前記オフセットされた検知位置と比較することとを含む、請求項４１に記載の方法。
【請求項44】
巻き取り紙位置追跡を容易にするためのシステムであって、請求項１から４３のいずれか一項に記載の方法を実行するように構成された少なくとも１つのプロセッサを備える、システム。
【請求項45】
少なくとも１つのプロセッサによって実行されると、請求項１から４３のいずれか一項に記載の方法を前記少なくとも１つのプロセッサに実行させるコードを記憶している、非一時的コンピュータ可読媒体。
【国際調査報告】