(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公表特許公報(A)
(11)【公表番号】
(43)【公表日】2025-01-09
(54)【発明の名称】圧力制御を改善した流体レギュレータ
(51)【国際特許分類】
G05D 16/06 20060101AFI20241226BHJP
F16K 17/22 20060101ALI20241226BHJP
F16K 31/145 20060101ALI20241226BHJP
【FI】
G05D16/06 Z
F16K17/22
F16K31/145
【審査請求】有
【予備審査請求】未請求
(21)【出願番号】P 2024535926
(86)(22)【出願日】2021-12-16
(85)【翻訳文提出日】2024-08-09
(86)【国際出願番号】 US2021063911
(87)【国際公開番号】W WO2023113807
(87)【国際公開日】2023-06-22
(81)【指定国・地域】
(71)【出願人】
【識別番号】523325484
【氏名又は名称】ランディス・ギア・テクノロジー・インコーポレイテッド
【氏名又は名称原語表記】LANDIS+GYR TECHNOLOGY, INC.
(74)【代理人】
【識別番号】100145403
【氏名又は名称】山尾 憲人
(74)【代理人】
【識別番号】100132241
【氏名又は名称】岡部 博史
(74)【代理人】
【識別番号】100183265
【氏名又は名称】中谷 剣一
(72)【発明者】
【氏名】コックショット,アントニー
(72)【発明者】
【氏名】ワン,ピーター
【テーマコード(参考)】
3H056
3H060
5H316
【Fターム(参考)】
3H056AA02
3H056AA07
3H056BB47
3H056CA07
3H056DD04
3H060AA02
3H060BB01
3H060DC05
5H316BB05
5H316DD17
5H316EE02
5H316EE10
5H316GG01
5H316JJ01
5H316LL03
(57)【要約】
ガスのような流体用の流体レギュレータアセンブリは、ハウジングと、レギュレータと、を含む。ハウジングは、入口と、出口と、チャンバーと、を含む。レギュレータは、ハウジングと結合し、プラグ及びダイヤフラムを備える制御アセンブリと、制御要素と、を含む。プラグは、ハウジングを通る流体の流れを制御するように出口に対して移動可能であり、ダイヤフラムは、ダイヤフラムに作用する制御圧力に応じてプラグを制御する。制御要素は、ダイヤフラムに作用する制御圧力を制御するように、第1ポジションと第2ポジションとの間に配置され、第1ポジションにおいて、制御圧力は出口から下流の出口圧力であり、第2ポジションにおいて、制御圧力は出口から上流の少なくとも入口圧力である。
【特許請求の範囲】
【請求項1】
流体レギュレータアセンブリを用いて流体の流体圧力を制御する方法であって、
通常の状態において、
前記流体レギュレータアセンブリの入口で前記流体を入口流体圧力で受けるステップと、
前記流体が中間流体圧力になるように、第1制御機構を使用して、前記入口流体圧力を下げるステップと、
前記流体レギュレータアセンブリの出口で前記流体が出口流体圧力になるように、第2制御機構を使用して、前記中間流体圧力を下げるステップと、
を備え、
前記方法は、
前記第2制御機構による故障に応じて、前記第1制御機構により、前記流体が前記流体レギュレータアセンブリの出口で前記中間流体圧力になるように制御するステップと、
前記第1制御機構による故障に応じて、前記第2制御機構により、前記流体レギュレータアセンブリの前記出口を閉じるステップと、
をさらに備える方法。
【請求項2】
前記中間流体圧力が6kPaを超えることに基づいて、リリーフバルブを使用して、ハウジングから流体を排出するステップをさらに備える、
請求項1に記載の方法。
【請求項3】
前記流体を排出するステップは、前記中間流体圧力が7kPaを超えることに基づいて、前記流体を排出するステップを備える、
請求項2に記載の方法。
【請求項4】
前記中間流体圧力が7kPa未満、且つ、前記出口流体圧力が4kPa未満である、
請求項1に記載の方法。
【請求項5】
前記出口流体圧力は3kPa未満である、
請求項4に記載の方法。
【請求項6】
前記第2制御機構により前記出口を閉じるステップは、前記入口流体圧力の前記流体が、前記流体レギュレータアセンブリのバランスダイヤフラムに作用するように、制御要素を変形するステップを備える、
請求項1に記載の方法。
【請求項7】
流体レギュレータアセンブリからの流体を制御する方法であって、
ハウジング、前記ハウジング内にある第1制御機構、及び前記ハウジング内にある第2制御機構を備え、前記第1制御機構が、前記流体の流体圧力を、入口流体圧力から中間流体圧力まで下げるように構成され、前記第2制御機構が、前記流体の前記流体圧力を、前記中間流体圧力から出口流体圧力まで下げるように構成される前記流体レギュレータアセンブリを提供するステップと、
前記第2制御機構の故障に応じて、前記第1制御機構により、前記ハウジングの前記出口の前記流体圧力が中間流体圧力になるように前記流体を制御するステップと、
前記第2制御機構の故障に応じて、前記第2制御機構により、前記ハウジングの前記出口を閉じるステップと、
を備える方法。
【請求項8】
前記中間流体圧力が6kPaを超えることに基づいて、リリーフバルブを使用して、前記ハウジングから前記流体を排出するステップをさらに備える、
請求項7に記載の方法。
【請求項9】
前記流体を排出するステップは、前記中間流体圧力が7kPaを超えることに基づいて、前記流体を排出するステップを備える、
請求項8に記載の方法。
【請求項10】
前記中間流体圧力は7kPa未満であり、前記出口流体圧力は4kPa未満である、
請求項7に記載の方法。
【請求項11】
前記出口流体圧力は、3kPa未満である、
請求項10に記載の方法。
【請求項12】
前記第2制御機構は、変形可能な制御要素と、バランスダイヤフラムと、を備え、
前記変形可能な制御要素は、前記バランスダイヤフラムに作用する前記流体を制御するように構成される、
請求項7に記載の方法。
【請求項13】
前記第2制御機構により前記出口を閉じるステップは、前記入口流体圧力の前記流体が、前記流体レギュレータアセンブリのバランスダイヤフラムに作用するように、前記制御要素を変形するステップを備える、
請求項12に記載の方法。
【請求項14】
流体用の流体レギュレータアセンブリであって、
入口及び出口を備えるハウジングであり、前記入口の入口流体圧力を有する前記流体を受けるように構成される前記ハウジングと、
前記ハウジング内にあり、前記入口流体圧力を中間流体圧力に下げるように前記流体を制御するように構成された第1制御機構と、
前記ハウジング内にあり、前記中間流体圧力を出口流体圧力に下げるように前記流体を制御するように構成された第2制御機構と、
を備え、
前記第2制御機構の故障に応じて、前記第1制御機構は、前記出口の前記流体が前記中間流体圧力になるように、前記流体を制御するように構成され、
前記第1制御機構の故障に応じて、前記第2制御機構が前記出口を閉じるように構成される、
流体レギュレータアセンブリ。
【請求項15】
前記中間圧力が7kPa以下であり、前記出口流体圧力が4kPa未満である、
請求項14に記載の流体レギュレータアセンブリ。
【請求項16】
前記中間流体圧力が6kPaを超えることに基づいて、前記流体レギュレータアセンブリから前記流体を排出するように構成されたリリーフバルブをさらに備える、
請求項14に記載の流体レギュレータアセンブリ。
【請求項17】
前記リリーフバルブは、前記中間流体圧力が7kPaを超えることに基づいて、前記流体を排出するように構成される、
請求項16に記載の流体レギュレータアセンブリ。
【請求項18】
前記第2制御機構は、変形可能な制御要素と、バランスダイヤフラムと、を備え、
前記変形可能な制御要素は、前記バランスダイヤフラムに作用する前記流体を制御するように構成される、
請求項14に記載の流体レギュレータアセンブリ。
【請求項19】
前記変形可能な制御要素は、前記入口流体圧力の前記流体が前記バランスダイヤフラムに作用するように、前記第1制御機構の前記故障に応じて変形するように構成される、
請求項18に記載の流体レギュレータアセンブリ。
【請求項20】
前記ハウジングは、第1チャンバーと、第2チャンバーと、前記第1チャンバー及び前記第2チャンバーと接続する中間通路と、を備え、
前記第1制御機構は、前記第1チャンバー内にあり、第1プラグと、前記第1プラグに動作可能に結合された第1ダイヤフラムと、を備え、
前記第1ダイヤフラムは、前記第1プラグを配置するように構成され、
第2レギュレータは、前記第2チャンバー内にあり、第2プラグと、前記第2プラグに動作可能に結合された第2ダイヤフラムと、制御要素と、を備え、
前記第2ダイヤフラムは、前記第2プラグを配置するように構成され、
前記制御要素は、第2ダイヤフラムに作用する前記流体を、前記出口流体圧力の前記流体又は前記入口流体圧力の流体となるように制御するように構成される、
請求項14に記載の流体レギュレータアセンブリ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本出願は、ガスレギュレータのような流体レギュレータ、特にダイヤフラムを含む流体レギュレータに関する。
【背景技術】
【0002】
流体レギュレータは、入力圧力で流体を受け、所望の出力圧力で流体を供給するために提供されることが多く、所望の出力圧力は入力圧力よりも大幅に低くなる場合がある。例えば、ガス分配システムは、全体的な需要、機構、ガス源等のような様々な要因に応じてガスを供給する場合があり、ガスレギュレータは、システムのキャパシティよりも低い所定の圧力で供給されるガスを要求する炉、オーブン等のようなガス機器を有するエンドユーザに供給されるガスの圧力を下げることに活用される場合がある。
【0003】
従来の流体レギュレータは、流体レギュレータの故障の場合において、流体がエンドユーザへ流れることを最小限にし、又は抑制するための安全機能として、フルキャパシティリリーフバルブ又は過圧遮断(OPSO)デバイスのいずれかが含まれている。このようなデバイスは、エンドユーザを保護するが、それらはいくつかの問題がある。例えば、フルキャパシティリリーフバルブは大量のガスを環境に放出するため、爆発性のガス混合物の生成及び/又は温室効果ガスの大量放出を引き起こす可能性がある。OPSOデバイスは、誤作動を起こしやすく、不便であり、公共事業者に多大なメンテナンスコストを強いる原因となり得る。例えば、OPSOデバイスは、下流の流量が高いこと(例えば、複数のバルブが同時に開かれる、高流量バルブが開かれる、等)が原因で、誤作動を起こす可能性があり、圧力スパイクが発生し、OPSOデバイスが消費者へのガス供給を遮断することにつながる可能性がある。さらに、下流のバルブ又はシステムがOPSOデバイスを備えたレギュレータに近すぎる位置に設置された場合、及び/又は、日光及び/又は他の環境条件により、ガスを運ぶための導管が加熱された場合、OPSOデバイスは、誤作動を起こす可能性がある。
【発明の概要】
【0004】
この特許によりカバーされる実施形態は、この概要ではなく、以下の請求項によって定義される。この概要は、様々な実施形態のハイレベルの大要であり、以下の詳細な説明セクションにおいて、さらに説明される一部のコンセプトを紹介する。この概要は、請求された主題の主要な又は本質的な特徴を特定することを意図したものではなく、請求された主題の範囲を決定するように単独で使用されることも意図しない。主題は、この特許の明細書全体の適切な部分、一部又は全ての図面、及び各請求項を参照することにより理解されるべきである。
【0005】
特定の実施の形態にによれば、流体用の流体レギュレータアセンブリは、入口と、出口と、入口と出口との間にあり、入口及び出口と流体連通したチャンバーと、を備えたハウジングを含む。レギュレータは、ハウジングに結合され、プラグと、プラグに動作可能に結合されたダイヤグラムと、制御要素と、を備えた制御アセンブリを含む。プラグは、ハウジングを通る流体の流れを制御するために出口に対して移動可能であり、ダイヤフラムは、ダイヤフラムに作用する制御圧力に応じて、プラグを制御するように構成される。制御要素は、第1ポジションと第2ポジションとの間でダイヤフラムに作用する制御圧力を制御するために、第1ポジションと第2ポジションとの間で配置可能であり、第1ポジションにおいて、制御圧力は、出口から下流の出口圧力であり、第2ポジションにおいて、制御圧力は、少なくとも出口から上流の入口圧力である。
【0006】
いくつかの実施の形態によれば、流体用の流体レギュレータアセンブリは、入口と、出口と、入口と出口との間にあり、入口及び出口と流体連通しているチャンバーと、を備えるハウジングを含む。流体レギュレータアセンブリは、ハウジングに連結されたレギュレータも含む。レギュレータは、プラグと、プラグに動作可能に結合されたダイヤフラムと、制御要素と、を備えた制御アセンブリを含む。プラグは、ハウジングを通る流体の流れを制御するために出口に対して移動可能である。制御要素は、出口から上流の入口圧力に基づいて調整可能であり、入口圧力が所定の閾値圧力以下のとき、ダイヤフラムは、出口から下流の出口圧力に応じてプラグを制御し、入口圧力が所定の閾値圧力を超えるとき、ダイヤフラムは、入口圧力に応じてダイヤフラムを制御する。
【0007】
様々な実施形態によれば、流体用の流体レギュレータアセンブリは、第1チャンバー入口及び第1チャンバー出口を有し、且つ入口圧力で流体を受ける第1チャンバーを備えるハウジングを含む。また、ハウジングは、第2チャンバー入口及び第2チャンバー出口を備える第2チャンバーと、第1チャンバー出口と第2チャンバー入口とを接続する中間通路と、を含む。また、流体レギュレータアセンブリは、第1レギュレータと、第2レギュレータと、を含む。第1レギュレータは、第1プラグ及び第1プラグに動作可能に結合された第1ダイヤフラムを備える第1制御アセンブリを含む。第1プラグは、第1チャンバー出口を通る流体の流れを制御するために、第1チャンバー出口に対して移動可能であり、第1ダイヤフラムは、第1チャンバー内にあり、中間圧力に応じて、第1プラグを配置するように構成される。第2レギュレータは、第2プラグと、第2プラグに動作可能に結合された第2ダイヤグラムと、制御要素と、を備えた第2制御アセンブリを含む。第2プラグは、第2チャンバー出口を通る流体の流れを制御するために、第2チャンバー出口に対して移動可能であり、第2ダイヤフラムは、第2チャンバー内にあり、制御圧力に応じて第2プラグを配置するように構成される。制御要素は、中間圧力に応じて制御圧力を制御するように構成され、そのような制御圧力は、中間圧力又は第2チャンバー出口から下流の出口圧力である。
【0008】
特定の実施の形態によれば、流体用の流体レギュレータアセンブリは、入口、チャンバー及び出口を備えたハウジングを含む。また、流体レギュレータアセンブリは、チャンバー内に少なくとも部分的に設けられ、チャンバーを入口圧力の入口圧力領域と入口圧力よりも低い出口圧力の出口圧力領域とに分けるレギュレータを含む。レギュレータは、入口圧力から出口圧力まで流体を調整し、出口圧力に基づいて、チャンバーから出口を通る流体の流れを制御することができる。いくつかの実施形態において、レギュレータは、入口圧力が所定の閾値圧力を超えることに応じて、チャンバー内の入口圧力領域から出口圧力領域に至る流路を選択的に画定する。
【0009】
様々な実施の形態によれば、流体用の流体レギュレータアセンブリは、ハウジングと、第1レギュレータと、第2レギュレータと、を含む。ハウジングは、第1チャンバー入口及び第1チャンバー出口を備える第1チャンバーと、第2チャンバー入口及び第2チャンバー出口を備える第2チャンバーと、第1チャンバー出口と第2チャンバー入口とを流体連結する中間通路と、を含む。第1レギュレータは、少なくとも部分的に第1チャンバー内にあり、第1ダイヤフラム及び第1プラグを含む。第1ダイヤフラムは、第1チャンバーから第1チャンバー出口を通って中間通路に至る流体の流れを制御し、入口圧力から中間圧力に流体を調整するために、第1プラグを選択的に配置する。第2レギュレータは、少なくとも部分的に第2チャンバー内にあり、第2ダイヤフラム及び第2プラグを含む。第2ダイヤフラムは、第2チャンバーから第2チャンバー出口を通る流体の流れを制御し、中間圧力から出口圧力に流体を調整するために、第2プラグを選択的に配置する。いくつかの実施形態において、第2レギュレータは、第2チャンバー入口と第2チャンバー出口との間に、中間圧力が所定の閾値圧力を超えることに応じて、選択的に変形可能であるスイッチングダイヤフラムを含む。
【0010】
いくつかの実施の形態によれば、流体用の流体レギュレータアセンブリは、ハウジングと、第1レギュレータと、第2レギュレータと、を含む。ハウジングは、第1チャンバー入口及び第1チャンバー出口を備える第1チャンバーと、第2チャンバー入口及び第2チャンバー出口備える第2チャンバーと、を含む。いくつかの実施の形態において、第2チャンバー入口は、第1チャンバー出口と流体連通する。第1レギュレータは、第1チャンバー内にあり、第1チャンバーを、入口圧力の入口圧力領域と、入口圧力よりも低い中間圧力の中間圧力領域と、に分ける。様々な実施の形態において、第1レギュレータは、入口圧力から中間圧力に流体を調整し、中間圧力に基づいて、第1チャンバーの入口圧力領域から第2チャンバー入口に至る流体の流れを制御する。第2レギュレーターは、第2チャンバー内にあり、第2チャンバー入口を、中間圧力の中間圧力領域と、中間圧力よりも低い出口圧力の出口圧力領域と、に分ける。第2レギュレータは、中間圧力から出口圧力に流体を調整し、出口圧力に基づいて、第2チャンバーから第2チャンバー出口を通る流体の流れを制御する。いくつかの実施の形態において、第2レギュレータは、中間圧力が所定の閾値圧力を超えることに応じて、第2チャンバーの中間圧力領域から第2チャンバー内の出口圧力領域に至る流路を選択的に画定する。
【0011】
明細書に記載された記載された様々な実施は、必ずしも本明細書で明示的に開示されているわけではなく、以下の詳細な説明及び添付の図面を検討すれば当事者には明らかになる追加のシステム、方法、特徴及び利点が含まれてもよい。このようなシステム、方法、特徴及び利点は、本開示に含まれ、添付の特許請求項の範囲により保護されることが意図される。
【0012】
本明細書において、以下の添付図を参照するが、異なる図における同様の参照番号の使用は、同様又は類似の構成要素を示すことを意図する。
【図面の簡単な説明】
【0013】
【
図1】実施の形態に係る流体レギュレータアセンブリの斜視図
【
図3】
図1の流体レギュレータアセンブリのハウジングの断面図
【
図5】制御装置がクローズポジションにあり、
図4における範囲Aで切り取った
図1の流体レギュレータアセンブリの一部の断面図
【
図6】制御装置がオープンポジションにあり、
図4における範囲Aで切り取った
図1の流体レギュレータアセンブリの一部の断面図
【
図7】流体レギュレータアセンブリの様々な圧力領域を示す
図1の流体レギュレータアセンブリの断面図
【発明を実施するための形態】
【0014】
実施の形態の主題は、法定要件を満たすために具体的に明細書に記載されているが、この説明は、必ずしも特許請求の範囲を制限することを意図するものではない。請求された主題は、他の方法で具体化されてもよいし、異なる要素又はステップを含んでいてもよいし、他の既存又は将来技術と組み合わせて使用されてもよい。この説明は、各ステップの順序又は要素の配置が明示的に説明されている場合を除き、様々なステップ又は要素の間でいくつかの特定の順序又は配置を暗示されるものとして解釈されるべきではない数ある中で、「上」、「下」、「上部」、「下部」、「左」、「右」、「前」、「後」のような方向の参照は、特に、コンポーネント及び方向が参照している1つの図(又は複数の図)において、説明及び詳細が述べられるような方向を指すように意図するものである。図及び説明において、同様の符号は同様の要素を表すことを意図する。明細書で提供されるシステム及び方法は、ガス調整という文脈で説明されているが、他の実施形態において、必要に応じて、他の種類の流体を調整するように使用する場合があり、「ガス」への言及は、限定的であるとみなされるべきではない。
【0015】
本明細書において、ガスに限定されない流体を含む流体用の流体レギュレータについて説明する。特定の実施形態において、流体レギュレータアセンブリは、ハウジング内にある2つの制御機構を備えるハウジングを含む。通常の動作状況下において、ハウジング内にある第1制御機構は、入口流体圧力から中間流体圧力に流体圧力を下げ得、ハウジング内にある第2制御機構は、中間流体圧力から出口流体圧力に流体圧力を下げ得る。限定されない例として、第1制御機構は、入口流体圧力から7kPa以下の中間流体圧力の流体圧力を下げ得、第2制御機構は、4kPa未満、3kPa未満、約2.75kPaなどの家庭の通常の動作圧力まで流体圧力を下げることができる。様々な実施の形態において、第2制御機構が故障した場合、第1制御機構は、下流配管が中間流体圧力(例えば、限定的でない例では約7kPa)である最大流体圧力の流体を受けることを保障できる。特定の実施の形態において、第1制御機構が故障した場合、第2制御機構は、ハウジングの出口を閉じることが可能であり、これにより下流の消費者を流体圧力におけるスパイク(spike)から保護することができる。様々な実施の形態において、第2制御機構は、第2制御機構の制御要素が変形するため出口を閉じ、それにより、第2制御機構のバランスダイヤフラムがレギュレータの全入口圧力にさらされる。
【0016】
特定の実施の形態において、本明細書で提供される流体レギュレータアセンブリは、従来のレギュレータアセンブリと比較して、リリーフバルブをより高いポイントに設定可能になり得る。限定されない例として、本明細書で提供される流体レギュレータアセンブリは、リリーフバルブを7kPaの流体圧力に設定可能にし得る。リリーフバルブをより高い設定ポイントに設定可能であることは、流体レギュレータアセンブリが、要求に応じて一定レベルの安全性を確保しながら、レギュレータアセンブリからの温室効果ガスの排出量を最小限にすることを保障し得る。
【0017】
特定の実施の形態において、本明細書で開示されるの流体レギュレータアセンブリは、プラグを備えた少なくとも1つのレギュレータと、プラグに動作可能に接続されたダイヤフラムと、ダイヤフラムに作用する圧力を制御する流体レギュレータ内の制御要素と、を含む。特定の実施の形態において、制御要素は、ダイヤフラムに作用する圧力を、レギュレータの入口における入口圧力に基づいて、入口圧力又は出口圧力のいずれかに制御し得る。いくつかの実施の形態において、制御要素は、入口圧力に基づいて、入口圧力又は出口圧力がダイヤフラムに作用するように選択的に変形可能である。特定の実施の形態において、制御要素は、入口圧力が所定の閾値圧力を超えると、入口圧力をダイヤフラムに作用する圧力にし得、入口圧力が所定の閾値圧力以下になると、出口圧力をダイヤフラムに作用する圧力にし得る。いくつかの実施形態では、制御要素は、流体レギュレータ内のスイッチングダイヤフラムであり、それは、入口圧力又は出口圧力がダイヤフラムに作用するように、入口圧力に基づいて選択的に変形可能である。様々な態様において、制御要素は、入口圧力が所定の閾値圧力を超えることに応じて、流体レギュレータ内の2つの圧力領域間の内部流路を選択的に画定し得る。
【0018】
様々な実施の形態において、ダイヤフラムに作用する圧力を制御する制御要素は、ダイヤフラムの破裂を防ぐことができ、レギュレータを強制的に閉じることにより、消費者を保護することができる。制御要素は、OPSOデバイスのためのニーズをオプションで除き、その結果、流体レギュレータのリリーフ設定(つまり、レギュレータが環境に排気するポイント)を、従来のレギュレータと比較して高くすることができる。リリーフ設定を高くすると、流体の導管上に対する太陽の放射及びその他の環境加熱による誤作動など、誤作動を最小限にすることができ、温室効果ガスを削減することができる。さらに、OPSOデバイスは、出口圧力が超えると、ガス供給を遮断するが、制御要素を備えたレギュレータは上流のイベントに基づき、且つ下流で何が起こっているかとは無関係に保護を提供し、誤作動のリスクをさらに低減し得る。レギュレータの特定の他の態様は、向上した安全性をさらに提供し得る。限定されない例として、レギュレータのピストンは、レギュレータが故障した場合にレギュレータのオリフィスを塞ぐように構成し得る。様々な他の利益及び利点は、本明細書で説明される冷却システムにより実現し得るが、前述の説明は限定的であると見なされるべきではない。
【0019】
図1~
図7は、ガスなどの流体を調整するための様々な実施の形態に応じて流体レギュレータアセンブリ100の例を示している。流体レギュレータアセンブリ100は、流体の圧力が入口圧力から入口圧力未満の出口圧力まで低下するように流体を調整することができる。流体レギュレータアセンブリ100は、ハウジング102と、圧力制御を向上させるための制御要素126を備えた少なくとも1つのレギュレータと、を一般的に含む。示されている実施の形態において、以下で詳しく説明するように、流体レギュレータアセンブリ100は、第1レギュレータ104及び第2レギュレータ106の2つのレギュレータを含み、そのうち第2レギュレータ106は制御要素126を含む。
【0020】
図3~
図7を参照すると、様々な実施の形態において、ハウジング102は、ガス供給システムに接続された供給導管130などからの流体の供給を受けるためのハウジング入口108と、流体を使用する1つ以上のシステムを有する工場、レストラン、アパート等の下流のユーザに搬送導管132を経由して流体を搬送するためのハウジング出口110と、を含む。
図7に示すように、供給導管130及び/又は搬送導管132は流体レギュレータアセンブリ100の上流又は下流の流体の流れを制御するための、制御バルブ134及び/又は他のデバイスまたは機構を、オプションで含んでもよい。
【0021】
特定の実施の形態において、ハウジング102は、ハウジング入口108とハウジング出口110との間に少なくとも1つのチャンバーを含むため、流体は、ハウジング入口108とハウジング出口110の間を移動するようにチャンバーを通過しなければならない。示された実施の形態において、ハウジング102は、ハウジング入口108とハウジング出口110との間に、第1チャンバー112及び第2チャンバー114の2つのチャンバーを含む。この実施の形態において、第1チャンバー112は、第1チャンバー入口113と、第1チャンバー出口115と、を含み、第2チャンバー114は、第2チャンバー入口117と、第2チャンバー出口119と、を含む。オプションとして、中間通路116は、第1チャンバー112と第2チャンバー114とを流体的に接続する。この実施の形態において、流体レギュレータアセンブリ100を介して流れる流体は、ハウジング入口108とハウジング出口110との間を移動するために、第1チャンバー入口113、第1チャンバー112、第1チャンバー出口115、中間通路116、第2チャンバー入口117、第2チャンバー114及び第2チャンバー出口119を通過しなければならない。
【0022】
特定の実施の形態において、
図4に示すように、例えば、第1カバー122は、第1チャンバー112を囲むようにハウジング102に結合され、第2カバー124は、第2チャンバー114を囲むようにハウジング102に結合される。様々な実施の形態において、第1カバー122及び/又は第2カバー124は、チャンバー112、114及び/又はチャンバー112、114内のレギュレータ104、106のコンポーネントに、必要に応じて、選択的にアクセスできるように、ハウジング102に取り外し可能に取り付けられる。オプションとして、
図1、2及び4に示すように、第1カバー122は、第1チャンバー112を選択的に排出させるための第1リリーフ機能127を含んでもよい。同様に、第2カバー124は、第2チャンバー114を選択的に排出させるための第2リリーフ機能128がオプションで含まれていてもよい。
【0023】
図4を参照して、レギュレータ104、106について詳細に説明する。前述のように、特定の実施の形態において、流体レギュレータアセンブリは2つのレギュレータを含む必要はなく、代わりに、制御要素126を備えた1つのレギュレータ及び/又は少なくとも1つに制御要素126を含んだ複数のレギュレータを含んでもよい。図示の実施の形態において、第1レギュレータ104は、第1チャンバー112から、第1チャンバー出口115を通り、中間通路116に至る流体の流れを調節するための第1制御アセンブリ136を含む。特定の実施の形態において、第1制御アセンブリ136は、検知された中間圧力に基づいて、入口圧力から入口圧力よりも低い中間圧力に流体を調整する。同様に、第2レギュレータ106は、第2チャンバー114から第2チャンバー出口119を通り、ハウジング出口110に至る流体の流れを調整するための第2制御アセンブリ138を含む。第1制御アセンブリ136と比較して、第2制御アセンブリ138は、第2チャンバー出口119の上流(例えば、第2チャンバー114及び/又は中間通路116内)の中間圧力に基づいて、又は、第2チャンバー出口119の下流の出口圧力に基づいて、第2制御アセンブリ138が流れを制御するかどうかを選択的に制御する制御要素126を含む。いくつかの実施の形態において、及び以下で詳細を説明するように、制御要素126は、中間圧力(又は第2レギュレータ106に供給された流体の圧力)が、所定の閾値圧力を超えること又は所定の閾値圧力以下であることに応じて、第2制御アセンブリ138を制御する。限定されない一例として、制御要素126は、所定の閾値圧力以下の中間圧力に基づいて、第2制御アセンブリ138を出口圧力に応じるように制御し、制御要素126は、中間圧力が所定の閾値圧力を超えることに基づいて、第2制御アセンブリ138を中間圧力に応じるように制御する。
【0024】
図4に示す実施の形態において、第1制御アセンブリ136は、プラグ140と、ダイヤフラム142と、ピストン(又はステム)144と、を含む。プラグ140は、第1チャンバー112から第1チャンバー出口115を通る流体の流れを選択的に塞ぎ又は可能にするための、様々な適切なデバイス又は機能であり得る。
図4に示す特定のプラグ140は、限定的であると考えられるべきではない。様々な実施の形態において、及び以下で詳細に述べるように、プラグ140はダイヤフラム142により、プラグ140が、オープンポジションとクローズポジションとの間で、第1チャンバー出口115に対して移動可能であるように配置可能である。オプションとして、プラグ140は、1つ又は複数のシール要素を含み、1つ又は複数のシール要素は、プラグ140がクローズポジションにあるとき、第1チャンバー出口115とのシールを選択的に形成する。いくつかの実施の形態において、及び
図4に示すように、プラグ140は、少なくとも部分的に第1チャンバー出口115内に配置され、及び/又は少なくとも部分的に第1チャンバー出口115の下流にある。しかし、他の実施の形態において、プラグ140は、第1チャンバー出口115を通る流れを選択的に塞ぎ又は可能にするように、第1チャンバー出口115に対して所望の位置に配置し得る。
【0025】
ピストン144は、ダイヤフラム142が、第1チャンバー出口115に対して、プラグ140を選択的に配置するように、プラグ140とダイヤフラム142とを動作可能に接続する。様々な実施の形態において、及び
図4に示すように、サポート146は、ピストン144を支持し、ピストン144は、サポート146に対して移動可能になり得る。いくつかの実施の形態において、サポート146は、第1チャンバー112を、第1圧力領域148と第2圧力領域150とに分けることができる。第1圧力領域148は、入口圧力の流体を含み、第2圧力領域150は、中間圧力の流体を含んでもよい。これらの実施の形態において、及び
図4に示すように、ピストン144は、オプションとして、プラグ140とともに、中間通路116から第2圧力領域150まで延びる通路151を画定するため、第2圧力領域150は、中間通路116と流体連通する。特定の実施の形態において、ピストン144はブロック形状又はプロファイルを備え、ピストン144が故障した場合に、ピストン144が第1チャンバー出口115をブロックし得る。
【0026】
ダイヤフラム142は、第1チャンバー112の第2圧力領域150内でサポートされてもよく、ダイヤフラム142が中間圧力の流体を検知して応じてもよい。ダイヤフラム142は、必要に応じて、様々な適切な柔軟なデバイス又は部材であってもよい。オプションとして、バネを含むがこれに限定されないバイアス部材152は、ダイヤフラム142にバイアス力を加え、ダイヤフラム142に作用する中間圧力をオフセットする。特定の実施の形態において、バイアス部材152は調整可能であり、バイアス部材152を調整することにより、所望のバランス圧力に設定可能である。
【0027】
第1レギュレータ104を使用し、入口圧力から中間圧力に調整する流体の制御の例を以下で説明する。一例では、減少した又は減少する中間圧力がダイヤフラム142により検知され(つまり、ダイヤフラム142に対して作用する中間圧力が減少する)、検知された中間圧力の低下により、ダイヤフラム142は
図4における右側に移動する。特に、ダイヤフラム142は、バイアス部材152により加えられるバイアス力と中間圧力との間のバランスを維持するために、右側に移動する。ダイヤフラム142の移動の結果、プラグ140が第1チャンバー出口115から遠ざかり(例えば、中間通路116のさらに奥側へ)、そして、第1チャンバー出口115を通る流体の流れを増やすために、第1チャンバー出口115を開き、中間圧力を上昇させる。逆に、増加した又は増加する中間圧力は、ダイヤフラム142により検知され、検知された中間圧力の増加により、ダイヤフラム142は
図4における左側に移動する。このような動きは、バイアス部材152により加えられるバイアス力と増加した中間圧力との間のバランスを維持する。この例において、ダイヤフラム142による移動の結果、プラグ140が第1チャンバー出口115に向かって移動し、第1チャンバー出口115を通る流体の流れを閉じ及び/又は制限し、中間圧力を低下させる。
【0028】
第1制御アセンブリ136と同様に、第2レギュレータ106の第2制御アセンブリ138は、プラグ154と、ダイヤフラム156と、ピストン158と、を含む。プラグ154は、第2チャンバー114から、第2チャンバー出口119を通る流体の流れを選択的に塞ぐ又は可能にするための様々な適切なデバイス又は機能であり得る。いくつかの実施の形態において、及び
図4に示すように、プラグ154の少なくとも1つの特性は、プラグ140と異なる場合がある。しかし、他の実施の形態において、プラグ154はプラグ140と実質的に同様である場合がある。プラグ154は、プラグ154が、オープンポジションとクローズポジションとの間で、第2チャンバー出口119に対して移動可能であるように、ダイヤフラム156により配置可能である。特定のケースにおいて、プラグ154は、1つ又は複数のシール要素をオプションとして含み、1つ又は複数のシール要素は、プラグ154がクローズポジションにあるとき、第2チャンバー出口119とシールを選択的に形成する。
【0029】
ピストン158は、ダイヤフラム156が、第2チャンバー出口119に対してプラグ154を選択的に配置するように、プラグ154とダイヤフラム156とを動作可能に接続する。様々な実施の形態において、及び
図4に示すように、サポート160は、ピストン158を支持し、ピストン158はサポート160に対して移動可能になり得る。サポート146と比較して、サポート160は、通路170(
図4参照)を画定し、通路170は、制御要素126により、選択的に開閉される。いくつかの実施の形態において、サポート160は、制御要素126と連動し、第2チャンバー114を、第1圧力領域162と第2圧力領域164とに分けることができる。第1圧力領域162は、中間圧力の流体を含んでもよく、第2圧力領域164は、出口圧力の流体を含んでもよい。このように、第1圧力領域162は、中間圧力領域であってもよく、第2圧力領域164は、出口圧力領域であってもよい。
【0030】
特定の実施の形態において、及び
図4に示すように、ピストン158は、オプションとしてプラグ154を備え、第2チャンバー出口119の下流から第2圧力領域164まで延びる通路166を画定する。そのような例において、第2圧力領域164は、ピストン158を介して、第2チャンバー出口119の下流のハウジング102と流体連通し、出口圧力の流体をピストン158を介して、第2圧力領域164に供給可能である。ピストン144と同様に、ピストン158は、ブロック形状又はプロファイルをオプションとして含み、ピストン158が故障したときに、ピストン158が第2チャンバー出口119を選択的にブロックし得る。
【0031】
ダイヤフラム156は、第2チャンバー114の第2圧力領域164内で支持されてもよく、必要に応じて、様々な適切な柔軟なデバイスおよび部材であってもよい。オプションとして、バネを含むがこれに限定されないバイアス部材168は、ダイヤフラム156にバイアス力を加え、ダイヤフラム156に作用する圧力をオフセットする。特定の実施の形態において、バイアス部材168は調整可能であり、バイアス部材168を調整することにより、所望のバランス圧力に設定可能である。以下で詳細に説明するように、ダイヤフラム156は、制御要素126に対して、中間圧力又は出口圧力に基づいて、プラグ154を選択的に配置し得る。
【0032】
第2レギュレータ106の制御要素126は、制御要素126とサポート160とが、少なくとも部分的に第2チャンバー114を第1圧力領域162と第2圧力領域164とに分けるように、サポート160上で支持される。前述のように、特定の実施の形態において、制御要素126は、第1(又はクローズ)ポジション(例えば、
図5参照)と第2(又はオープン)ポジション(例えば
図6参照)との間で、サポート160に対して移動可能であり、制御要素126が、通路170を選択的に開閉し、第1圧力領域162から第2圧力領域164に至る流路領域171を選択的に画定する。いくつかのケースにおける第1ポジションにおいて、第1圧力領域162は、第2チャンバー114内で第2圧力領域164へ流体的に接続されず(例えば、圧力領域162、164は部分的に分けられる)、第2ポジションにおいて、第1圧力領域162は、第2チャンバー114内で第2圧力領域164へ流体的に接続される(例えば、圧力領域162、164は部分的に分けられる)。
【0033】
いくつかの実施の形態において、制御要素126は、第1ポジションと第2ポジションの間で、第1圧力領域162内の中間圧力に基づいて移動可能であり、制御要素126は、中間圧力を検知して応じるための様々な適切なデバイス又は機構であり得る。示された実施の形態において、制御要素126は、柔軟な材料を含むスイッチングダイヤフラムであり、スイッチングダイヤフラムは、第1ポジションから第2ポジションへ、制御要素126を移動するように選択的に変形可能であってもよい。他の実施の形態において、他の適切な機構又はデバイスは、必要に応じて、制御要素126として使用してもよい。
【0034】
図5に最もよく示されているように、特定の実施の形態における、第1ポジションにおいて、制御要素126は、通路170を塞ぎ、流路は、圧力領域162、164の間で画定されない。これらの実施の形態において、ダイヤフラム156は、出口圧力に基づいてプラグ154のポジションを制御する。一例として、出口圧力の流体は、第2チャンバー出口119の下流の領域から、ピストン158を介して第2圧力領域164に流れ、出口圧力の流体は、ダイヤフラム156に作用し、プラグ154を位置決めする。
図4は、第1ポジションにおいて、制御要素126も示している。
【0035】
図6に最もよく示されているように、第2ポジションにおいて、制御要素126は、流路領域171が圧力領域162、164の間で画定されるように、通路170を開き、流体は、第2圧力領域164から、流路領域171を通って、第1圧力領域162へ流れ得る。制御要素126の第2ポジションにおいて、ダイヤフラム156は、中間圧力又は第2チャンバー出口119の下流の圧力に基づいて、プラグ154のポジションを制御する。
【0036】
様々な実施の形態において、制御要素126は、検知された中間圧力が所定の閾値圧力を超えたことに基づいて、第1ポジションから第2ポジションへ移動可能である。所定の閾値圧力は、必要に応じて、様々な圧力であってもよい。いくつかの実施の形態において、所定の閾値圧力は、消費者が保護される安全圧力又は他の圧力よりも大きくてもよい。1つの限定されない例として、所定の閾値圧力は、約6.5kPaから約15kPa、約6.5kPaから約10kPa、約6.5kPaから約7.0kPaなどであってもよい。しかし、他の実施の形態において、所定の閾値圧力は、必要に応じて、様々な他の圧力に設定されてもよい。
【0037】
第2レギュレータ106を使用する流量制御の限定されない例を、以下に詳細に説明する。第1の例において、制御要素126は、中間圧力が所定の閾値圧力以下であることを検知し、第1ポジションに留まることができる。この例及び中間圧力が所定の閾値圧力以下である間、第2レギュレータ106は、第1レギュレータ104と同様に機能する。例えば、減少した又は減少する出口圧力(第2チャンバー出口119の下流)がダイヤフラム156により検知され、検知された中間圧力の減少により、ダイヤフラム156は、
図4において下方に移動し得る。特に、ダイヤフラム156は、バイアス部材168により加えられたバイアス力と出口圧力の間のバランスを維持するために下方に移動する。ダイヤフラム156の移動の結果、プラグ154が第2チャンバー出口119から離れるように移動し、第2チャンバー出口119が開き、第2チャンバー出口119を通る流体の流れが増加し、出口圧力が増加する。逆に、中間圧力が所定の閾値圧力以下である間、増加した又は増加する出口圧力は、ダイヤフラム156により検知され、検知された出口圧力の増加により、ダイヤフラム156は、
図4において上方に移動する。このような移動は、バイアス部材168により加えられるバイアス力と増加した出口圧力との間のバランスを維持する。このようなダイヤフラム156による移動の結果、プラグ154が第2チャンバー出口119に向かって移動し、第2チャンバー出口119を通る流体の流れを閉じ、及び/又は制限し、出口圧力を低下させる。
【0038】
第2の例において、制御要素126は、中間圧力が所定の閾値圧力を超えたことを検知し、第2ポジションに移動し、例えば、
図6に示すように、流路領域171が圧力領域162、164の間で画定されるようにする。この例において、及び中間圧力が所定の閾値圧力を超えている間、中間圧力は、出口圧力ではなく、ダイヤフラム156に作用し、ダイヤフラム156は、バイアス部材168により加えられるバイアス力及び中間圧力をバランスさせる。
【0039】
図7は、流体レギュレータアセンブリ100の通常動作中の流体レギュレータアセンブリ100内の様々な圧力領域を示す。この実施の形態において、密集した大きなドットのパターン501は、流体が入口圧力の領域を示し、密集した太いドットのパターン503は、流体が中間圧力の領域を示し、密集した小さなドットのパターン505は、流体が出口圧力の領域を示す。通常動作中、第1レギュレータ104は、流体の圧力を、入口圧力から入口圧力よりも低い中間圧力に下げ、第2レギュレータ106は、流体圧力を中間圧力から、中間圧力よりも低い出口圧力に下げる。1つの限定されない例において、入口圧力は、20kPaよりも高くてもよく、例えば、20kPaから約800kPaであるが、他の実施の形態において、入口圧力は、必要に応じて、様々な他の入口圧力であってもよい。限定されない例において、中間圧力は、4.0~7.0kPa、例えば、4.0~6.5kPaであってもよく、他の実施の形態において、中間圧力は、必要に応じて、入口圧力よりも低い様々な他の中間圧力であってもよい。限定されない例において、出口圧力は、1.0kPa~3.0kPa、例えば、2.0~3.0kPa、例えば、1.1~1.5kPaであってもよく、他の実施の形態において、出口圧力は、必要に応じて、入口圧力よりも低い様々な他の出口圧力であってもよい。
【0040】
前述のように、第2レギュレータ106の制御デバイス126は、中間圧力が所定の閾値以下のとき、ダイヤフラム156が出口圧力に基づいて、プラグ154を移動するように、第2レギュレータ106を制御し得る。中間圧力が所定の閾値を超えると、制御要素126は、中間圧力がダイヤフラム156に作用するように、且つダイヤフラム156が中間圧力に基づいてプラグ154を移動するように、通路170を変形及び/又は開放する。
【0041】
流体レギュレータアセンブリ100を使用する流体の制御は、以下の例において、説明する。この例において説明される特定の圧力の値は、限定的であると考えられるべきではない。この例において、通常動作中、流体レギュレータアセンブリは、ハウジング入口108において、且つ20~500kPaの入口圧力で流体を受ける。第1レギュレータ104は、第1チャンバー出口115を通る流体の流れを制御する(例えば、ダイヤフラム142は、中間圧力に基づいてプラグ140を移動し、この結果、第1チャンバー出口115を通る流体の流れを制御する)ために、ダイヤフラム142に作用する中間圧力により制御される。第1レギュレータ106によるこのような制御は、入口圧力から、4.0~6.5kPaの中間圧力に圧力を低下させる。中間圧力の流体は、第2レギュレータ106へ供給される。第2レギュレータ106の制御要素126は、所定の閾値圧力が6.5kPaになるように設定されてもよい。中間圧力が4.0~6.5kPa(又は所定の閾値圧力以下)である、この初期段階において、制御要素126は、第1ポジションに留まり、第2レギュレータ106は、第2チャンバー出口119を通る流体の流れを制御する(例えば、ダイヤフラム156は、出口圧力に基づいてプラグ154を移動し、この結果、第2チャンバー出口119を通る流体の流れを制御する)ために、ダイヤフラム156に作用する出口圧力により制御される。このような制御により、圧力を、中間圧力から、1.1~3.0kPaの出口圧力、例えば、1.1~1.5kPaの出口圧力に低下させる。動作中、流体レギュレータアセンブリ100では、第1レギュレータ104が故障し、入口圧力を20~500kPaから4.0~6.5kPaに下げるように調整することができなくなることが発生する場合がある。例えば、故障した第1レギュレータ104は、入口圧力を、12~17kPaの増加された中間圧力に下げるように調整される場合がある。この例において、制御要素126は、増加された中間圧力(12~17kPa)が所定の閾値圧力(6.5kPa)よりも大きいことを検知し、それにより、制御要素126が変形及び/又は通路170を開放し、増加した中間圧力の流体がダイヤフラム156に作用する。この例において、ダイヤフラム156に作用する圧力の突然の変化(つまり、通常の状態において1.1~3.0kPaであるのに対して、増加した中間圧力の12~17kPa)は、ダイヤフラム156がプラグ154を移動させ、第2チャンバー出口119を閉じることで発生する。
【0042】
制御要素126による前述の制御は、ダイヤフラム156の破裂を防ぎ、流体圧力における急激な上昇からユーザを保護することができる。制御要素126によるこの制御は、OPSOデバイスのニーズを排除することもできる。特定の実施形態において、制御要素126は、リリーフ機能127、128を介した排出を従来のレギュレータと比較して、高い圧力に設定させることもでき、これは、従来のレギュレータと比較して、環境に排出される温室効果ガスを減らすことできる。
【0043】
以下において、実施例のコレクションが提供され、本明細書において説明されたコンセプトに従った様々な実施例の追加説明を提供する「例」として明示的に列挙された少なくともいくつかを含む。これらの例は、相互に排他的、網羅的、又は制限的であることを意図するものではなく、そして、開示はこれらの例に限定されるものではなく、むしろ発行された請求項及びこれらの同等物の範囲内ですべての可能な修正及び変更を包含する。
【0044】
例1。流体用の流体レギュレータアセンブリであって、流体レギュレータアセンブリは、入口、出口、及び入口と出口の間にあり、入口と出口と流体連通しているチャンバを含むハウジングと、ハウジングに結合され、制御アセンブリを備えるレギュレータと、を備える。制御アセンブリは、プラグと、プラグに動作可能に結合されるダイヤフラムと、制御要素と、を備える。プラグは、ハウジングを通る流体の流れを制御するために出口に対して移動可能である。ダイヤフラムは、ダイヤフラムに作用する制御圧力に応じて、プラグを制御するように構成される。制御要素は、ダイヤフラムに作用する制御圧力を制御するために、第1ポジションと第2ポジションとの間で配置可能である。第1ポジションにおいて、制御圧力は、出口の下流の出口圧力である。第2ポジションにおいて、制御圧力は、出口の上流の少なくとも入口圧力である。
【0045】
例2。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、制御要素は、所定の閾値圧力を超える入口圧力に応じて、第1ポジションから第2ポジションに移動可能である。
【0046】
例3。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、所定の閾値圧力は7.0kPaよりも大きい。
【0047】
例4。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、制御要素は、チャンバー内のスイッチングダイヤフラムである。ダイヤフラムは、第1ポジションと第2ポジションとの間で配置可能であるように、チャンバー内で変形可能である。
【0048】
例5。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、レギュレータは、ダイヤフラム及びプラグを接続するピストンと、チャンバー内のサポートであり、ピストンがサポートに応じて移動可能であるように、チャンバー内のピストンを支持するサポートであって、チャンバー内で制御要素を支持するサポートと、ダイヤフラムにバイアスするバイアス部材と、をさらに備える。
【0049】
例6。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、第1ポジションにおいて、制御要素はチャンバを入口圧力の入口圧力領域と出口圧力の出口圧力領域とに分ける。出口圧力は、入口圧力よりも低い。出口を通って、出口圧力領域に至る流路が画定される。
【0050】
例7。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、レギュレータは、ダイヤフラム及びプラグを接続するピストンをさらに備える。ピストンは、少なくとも部分的に出口内に延びる。ピストンは、出口を通り、ピストンを通り、チャンバーの出口圧力領域内に至る流路が画定される通路を備える。
【0051】
例8。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、第2ポジションにおいて、制御要素は、チャンバー内で入口圧力領域から出口圧力領域に至る流路が画定されるように、変形される。
【0052】
例9。流体用の流体レギュレータアセンブリにおいて、流体レギュレータアセンブリは、入口、出口、及び入口と出口との間にあり、入口及び出口と流体連通したチャンバーを備えるハウジングと、ハウジングに結合され、制御アセンブリを含むレギュレータと、を備える。制御アセンブリは、プラグと、プラグに動作可能に結合されたダイヤフラムと、制御要素と、を備える。プラグは、ハウジングを通る流体の流れを制御するように出口に対して移動可能である。制御要素は、出口の上流の入口圧力に基づいて調整可能であり、入口圧力が所定の閾値圧力以下のとき、ダイヤフラムは出口の下流の出口圧力に応じてプラグを制御し、入口圧力が所定の閾値圧力を超えているとき、ダイヤフラムは、入口圧力に応じてプラグを制御する。
【0053】
例10。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、レギュレータは、ダイヤフラム及びプラグを接続するピストンであり、ピストンの故障に応じて、出口を塞ぐように構成されるピストンと、チャンバー内のサポートと、をさらに備える。サポートは、ピストンがサポートに対して移動可能であるように、チャンバー内のピストンを支持する。サポートは、チャンバー内の制御要素を支持する。
【0054】
例11。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、制御要素は、入口圧力が所定の閾値圧力以下であることに応じて、チャンバーを入口圧力の入口圧力領域と出口圧力の出口圧力領域とに分ける。ダイヤフラムは、出口圧力領域内にある。出口圧力は、入口圧力よりも低い。出口を通り、出口圧力領域に至る流路が画定される。
【0055】
例12。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、レギュレータは、ダイヤフラム及びプラグを接続するピストンをさらに備える。ピストンは、少なくとも部分的に出口へと延びる。ピストンは、出口から、ピストンを通り、チャンバーの出口圧力領域への流路が画定されるような通路を備える。
【0056】
例13。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、制御要素は、チャンバー内のスイッチングダイヤフラムである。ダイヤフラムは、ピストンが出口圧力又は入口圧力に応じて制御されるように、チャンバー内で変形可能である。
【0057】
例14。流体用の流体レギュレータアセンブリにおいて、流体レギュレータアセンブリは、入口圧力で流体を受けるように構成される第1チャンバー入口及び第1チャンバー出口を備える第1チャンバー、第2チャンバー入口及び第2チャンバー出口を備える第2チャンバー、及び第1チャンバー出口と第2チャンバー入口とを接続する中間通路を備えるハウジングと、第1プラグ及び第1プラグに動作可能に接続された第1ダイヤフラムを備える第1制御アセンブリであって、第1プラグが、第1チャンバー出口を通る流体の流れを制御するために、第1チャンバー出口に対して移動可能であり、第1ダイヤフラムが、第1チャンバー内にあり、中間圧力に応じて、第1プラグを配置するように構成される第1制御アセンブリを備える第1レギュレータと、第2プラグ、第2プラグと動作可能に接続された第2ダイヤフラム及び制御要素を備える第2制御アセンブリであって、第2プラグが、第2チャンバー出口を通る流体の流れを制御するために、第2チャンバー出口に対して移動可能であり、第2ダイヤフラムが、第2チャンバー内にあり、制御圧力に応じて第2プラグを配置するように構成され、制御要素が、制御圧力が中間圧力又は第2チャンバー出口の下流の出口圧力になるように、中間圧力に応じて制御圧力を制御するように構成される第2制御アセンブリを備える第2レギュレータと、を備える。
【0058】
例15。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、制御要素は、中間圧力が所定の閾値圧力を超えることに応じて、中間圧力又は出口圧力として制御圧力を制御するように構成される。所定の閾値圧力以下において、制御要素は、出口圧力が制御圧力となるように、第2レギュレータを制御する。所定の閾値圧力超過において、制御要素は、中間圧力が制御圧力であるように、第2レギュレータを制御する。
【0059】
例16。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、制御要素は、第2チャンバー内のスイッチングダイヤフラムである。スイッチングダイヤフラムは、中間圧力に応じて、第2プラグが中間圧力又は出口圧力に応じて配置されるように、選択的に変形可能である。
【0060】
例17。いくつかの前述又は以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、制御要素は、中間圧力が所定の閾値圧力以下であることに応じて、第2チャンバーを、中間圧力領域と出口圧力領域とに分ける。中間圧力領域は、中間圧力のところであり、出口圧領域は、出口圧力のところである。第2ダイヤフラムは、出口圧力領域内にある。出口圧力は、中間圧力よりも低い。第2チャンバー出口から、及び中間圧力領域に至る流路が画定される。
【0061】
例18。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、第2レギュレータは、第2ダイヤフラムと第2プラグとを接続するピストンをさらに備える。ピストンは、少なくとも部分的に第2チャンバー出口に延びる。ピストンは、出口から、ピストンを通って、チャンバーの出口圧力内へ至る流路が画定されるような通路を備える。
【0062】
例19。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、第1レギュレータは、第1ダイヤフラムと第1プラグとを接続するピストンと、第1チャンバー内のサポートと、をさらに備える。サポートは、ピストンがサポートに対して移動可能であるように、第1チャンバー内のピストンを支持する。サポートは、第1チャンバーを、入口圧力の入口圧力領域と中間圧力の中間圧力領域とに分ける。第1ダイヤフラムは、中間圧力領域内にある。
【0063】
例20。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、ピストンは、少なくとも部分的に中間通路内へ延びる。ピストンは、第1チャンバーの中間圧力領域と中間通路とを流体的に接続する通路を画定する。
【0064】
例21。流体用の流体レギュレータアセンブリにおいて、流体レギュレータアセンブリは、入口、チャンバー及び出口を備え、チャンバーが、入口と出口とを流体連通するハウジングと、少なくとも部分的にチャンバー内にあり、チャンバーを入口圧力の入口圧力領域と入口圧力よりも低い出口圧力の出口圧力領域とに分けるレギュレータと、を備える。レギュレータは、入口圧力から出口圧力に流体を調整し、チャンバーから出口を通る流体の流れを出口圧力に基づいて制御するように構成される。レギュレータは、中間圧力が所定の閾値圧力を超えることに応じて、入口圧力領域から出口圧力領域に至るチャンバー内の流路を画定するように構成される。
【0065】
例22。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、レギュレータは、出口圧力領域内にあるダイヤフラムと、ダイヤフラムに対してバイアス力を加えるバイアス部材と、ダイヤフラムと動作可能に接続するプラグと、を備える。ダイヤフラムは、入口圧力から出口圧力に流体を調整し、出口圧力とバイアス力のバランシングにより、チャンバーから出口を通る流体の流路を調整するように構成される。ダイヤフラムによるバランシングは、出口に対してプラグを配置する。
【0066】
例23。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、レギュレータは、チャンバー内にあり、出口圧力領域から入口圧力領域を分けるスイッチングダイヤフラムをさらに備える。スイッチングダイヤフラムは、入口圧力領域から出口圧力領域に至る流路を、レギュレータにより選択的に画定するように、選択的に変形可能である。
【0067】
例24。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、レギュレータは、サポートと、サポートにより支持され、サポートに対して移動可能なピストンと、をさらに備える。プラグは、ピストンを介してダイヤフラムに動作可能に接続される。ピストンは、ピストンの故障に応じて、出口を塞ぐように構成される。
【0068】
例25。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、レギュレータは、サポートと、サポートにより支持され、サポートに対して移動可能であるピストンと、ピストンに接続され、サポートに対してピストンを配置するように構成された第1ダイヤフラムと、サポートに接続され、出口圧力領域から入口圧力領域を分ける第2ダイヤフラムと、をさらに備える。第2ダイヤフラムは、入口圧力が所定の閾値圧力を超えることに応じて、選択的に変形可能である。第2ダイヤフラムの変形は、入口圧力領域から出口圧力領域に至るチャンバー内の流路を画定する。
【0069】
例26。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、所定の閾値圧力は、7.0kPaである。
【0070】
例27。流体用の流体レギュレータアセンブリにおいて、流体レギュレータアセンブリは、第1チャンバー入口及び第1チャンバー出口を備える第1チャンバー、第2チャンバー入口及び第2チャンバー出口を備える第2チャンバー、及び第1チャンバー出口と第2チャンバー入口とを流体連通する中間通路を備えるハウジングと、少なくとも部分的に第1チャンバー内にあり、第1チャンバーから第1チャンバー出口を通る中間通路に至る流体の流れを制御し、入口圧力から中間圧力に調整するために、第1プラグを選択的に配置するように構成される第1ダイヤフラム、及び第1プラグを備える第1レギュレータと、少なくとも部分的に第2チャンバー内にあり、第2ダイヤフラム及び第2プラグを備える第2レギュレータと、を備える。第2ダイヤフラムは、第2チャンバーから第2チャンバー出口を通る流体の流れを制御し、入口圧力から出口圧力へ流体を調整するために、第2プラグを選択的に配置するように構成される。第2レギュレータは、第2チャンバー入口と第2チャンバー出口との間にスイッチングダイヤフラムをさらに備え、中間圧力が所定の閾値圧力を超えることに応じて選択的に変形可能である。
【0071】
例28。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、第1レギュレータは、第1ダイヤフラムに対して、第1バイアス力を加える第1バイアス部材をさらに備える。第1ダイヤフラムは、第1チャンバーから第1チャンバー出口を通って中間通路に至る流体の流れを制御し、中間圧力と第1バイアス力のバランシングにより、入口圧力から中間圧力に流体を調整するために、第1プラグを配置するように構成される。第1ダイヤフラムによるバランシングは、第1チャンバー出口に対して第1プラグを配置する。第2レギュレータは、第2ダイヤフラムに対して、第2バイアス力を加える第2バイアス部材をさらに備える。第2ダイヤフラムは、第2チャンバーから第2チャンバー出口を通る流体の流れを制御し、出口圧力と第2バイアス力のバランシングにより、中間圧力から出口圧力へ流体を調整する第2プラグを配置するように構成される。第2ダイヤフラムによるバランシングは、第2チャンバー出口に対して第2プラグを配置する。
【0072】
例29。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、第1バイアス部材又は第2バイアス部材のうちの少なくとも1つは、第1バイアス力又は第2バイアス力のうちの少なくとも1つが調整可能であるように、調整可能である。
【0073】
例30。いくつかの前述又は以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、所定の閾値圧力は、6.5kPaよりも大きい。
【0074】
例31。いくつかの前述又は以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、第2レギュレータは、サポートと、サポートにより支持され、サポートに対して移動可能なピストンと、をさらに備える。第2プラグは、ピストンを介して第2ダイヤフラムに動作可能に接続される。ピストンは、ピストンの故障に応じて、第2チャンバー出口を塞ぐように構成される。
【0075】
例32。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、第1レギュレータは、第1チャンバーを、入口圧力の入口圧力領域と入口圧力よりも低い中間圧力の中間圧力領域とに分ける。第1ダイヤフラムは、第1チャンバーの中間圧力領域内にある。第1レギュレータは、中間通路と第1チャンバーの中間圧力領域とを流体連通する通路を備える。第2レギュレータのスイッチングダイヤフラムは、第2チャンバーを中間圧力の中間圧力領域と中間圧力領域よりも低い出口圧力の出口圧力領域とに分ける。第2ダイヤフラムは、出口圧力領域内にある。第2レギュレータは、第2チャンバーと第2チャンバーの出口圧力領域とを流体連通する通路を備える。
【0076】
例33。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、入口圧力は、20kPaよりも大きい。中間圧力は、4.0kPa以上6.5kPa以下である。出口圧力は、4.0kPaよりも小さい。
【0077】
例34。流体用の流体レギュレータアセンブリにおいて、流体レギュレータアセンブリは、第1チャンバー入口及び第1チャンバー出口を備える第1チャンバー、第2チャンバー入口及び第2チャンバー出口を備える第2チャンバーを備え、第2チャンバー入口が第1チャンバー出口と流体連通している第1チャンバーと、第1チャンバー内にあり、第1チャンバーを入口圧力の入口圧力領域と入口圧力よりも低い中間圧力の中間圧力領域とに分けるように構成される第1レギュレータであり、入口圧力から中間圧力まで流体を調整し、第1チャンバーの入口圧力領域から第2チャンバー入口に至る流体の流れを、中間圧力領域に基づいて中間圧力に基づいて制御するように構成される第1レギュレータと、第2チャンバー内にあり、第2チャンバーを中間圧力の中間圧力領域と、中間圧力よりも低い出口圧力の出口圧力領域とに分ける第2レギュレータと、を備えるハウジングを備える。第2レギュレータは、中間圧力から出口圧力まで流体を調整し、第2チャンバーから第2チャンバー出口を通る流体の流れを、出口圧力に基づいて制御するように構成される。第2レギュレータは、第2チャンバーの中間圧力領域から第2チャンバー内の出口圧力領域に至る流路を、中間圧力が所定の閾値圧力を超えることに応じて画定するように構成される。
【0078】
例35。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、第2レギュレータは、出口圧力領域内にあるダイヤフラムと、ダイヤフラムに対してバイアス力を加えるバイアス部材と、ダイヤフラムと動作可能に接続するプラグと、を備える。ダイヤフラムは、中間圧力から出口圧力まで調整し、チャンバーから第2チャンバー出口を通る流体の流れを、出口圧力とバイアス力とのバランシングにより制御するように構成される。ダイヤフラムによるバランシングは、第2チャンバー出口に対して、プラグを配置する。
【0079】
例36。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、第2レギュレータは、第2チャンバー内にあり、出口圧力領域から中間圧力を分けるスイッチングダイヤフラムをさらに備える。スイッチングダイヤフラムは、入口圧力領域から出口圧力領域に至る流路が第2レギュレータにより選択的に画定されるように、選択的に変形可能である。
【0080】
例37。いくつかの前述又は以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、第2レギュレータは、サポートと、サポートにより支持され、サポートに対して移動可能であるピストンと、をさらに備える。プラグは、ピストンを介してダイヤフラムに動作可能に接続される。ピストンは、ピストンの故障に応じて、第2チャンバー出口を塞ぐように構成される。
【0081】
例38。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、第2レギュレータは、サポートと、サポートにより支持され、サポートに対して移動可能であるピストンと、ピストンに接続され、サポートに対してピストンを配置するように構成される第1ダイヤフラムと、サポートに接続され、出口圧力領域から中間圧力領域を分ける第2ダイヤフラムと、をさらに備える。第2ダイヤフラムは、中間圧力が所定の閾値圧力を超えることに応じて選択的に変形可能である。第2ダイヤフラムの変形は、チャンバー内の入口圧力領域から出口圧力領域に至る流路を画定する。
【0082】
例39。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、入口圧力は20kPaよりも大きい。中間圧力は、4.0kPa以上6.5kPa以下である。出口圧力は4.0kPaよりも低い。
【0083】
例40。前述若しくは以降の例又は例の組み合わせの流体レギュレータアセンブリにおいて、所定の閾値圧力は、7.0kPaである。
【0084】
前述した態様は、単に可能な実施の例であり、本開示の原理を明確に理解するように単に提示されたものである。本開示の精神及び原理から実質的に逸脱ことなく、上記の実施の形態に、多くの変更及び修正をすることができる。このような変更及び修正の全ては、本開示の範囲内にある明細書に含まれることが意図されており、個々の様態又は要素又はステップの組み合わせに対するすべての可能なクレームは、本開示によりサポートされることが意図されている。さらに、明細書及び以下のクレームにおいて特定の用語が使用されているが、それらは、一般的かつ説明的な意味でのみ使用されており、開示された実施の形態又は以下のクレームを制限するために使用されているわけではない。
【国際調査報告】