特表 2025-500915 欠陥レベル分類モデルを構築するためのシステム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公表特許公報(A)

(11)【公表番号】

(43)【公表日】2025-01-15

(54)【発明の名称】欠陥レベル分類モデルを構築するためのシステム

(51)【国際特許分類】

   G09G 3/32 20160101AFI20250107BHJP

   H10H 20/00 20250101ALI20250107BHJP

   G09G 3/20 20060101ALI20250107BHJP

【ＦＩ】

G09G3/32 A

H01L33/00 K

G09G3/20 670Q

G09G3/20 670E

【審査請求】有

【予備審査請求】未請求

(21)【出願番号】P 2024536112

(86)(22)【出願日】2021-12-16

(85)【翻訳文提出日】2024-07-19

(86)【国際出願番号】 CN2021138835

(87)【国際公開番号】W WO2023108547

(87)【国際公開日】2023-06-22

(81)【指定国・地域】

(71)【出願人】

【識別番号】520510771

【氏名又は名称】ジェイド バード ディスプレイ（シャンハイ） リミテッド

(74)【代理人】

【識別番号】110002077

【氏名又は名称】園田・小林弁理士法人

(72)【発明者】

【氏名】シュイ， チェンチャオ

(72)【発明者】

【氏名】ユエ， ヤン

(72)【発明者】

【氏名】リ， チーミン

【テーマコード（参考）】

5C080

5C380

5F241

【Ｆターム（参考）】

5C080AA07

5C080BB05

5C080DD15

5C080EE29

5C080FF11

5C080HH13

5C080JJ07

5C380AA03

5C380AB06

5C380CF48

5C380DA06

5C380DA07

5C380GA05

5F241AA46

5F241FF06

(57)【要約】

マイクロＬＥＤ配列パネルの欠陥レベル分類モデルを構築する方法は、画素欠陥を分類するための欠陥分類規則を定義することと、マイクロＬＥＤ配列パネルの画素欠陥を検出することと、欠陥分類規則に従って、検出した画素欠陥の画素欠陥タイプを識別することと、欠陥レベル分類規則および識別した画素欠陥タイプに従ってマイクロＬＥＤ配列パネルの欠陥レベルを識別することとを含む。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

マイクロＬＥＤ配列パネルの欠陥レベル分類モデルを構築する方法であって、
画素欠陥を分類するための欠陥分類規則を定義するステップ０１と、
前記マイクロＬＥＤ配列パネルの画素欠陥を検出するステップ０２と、
前記欠陥分類規則に従って、検出した前記画素欠陥の画素欠陥タイプを識別するステップ０３と、
欠陥レベル分類規則および識別した前記画素欠陥タイプに従って前記マイクロＬＥＤ配列パネルの欠陥レベルを識別するステップ０４と
を含む、方法。

【請求項2】

前記欠陥分類規則に従って、画素欠陥タイプは少なくとも、画素点欠陥を含み、
前記画素点欠陥は、
ドット落ち閾値を下回る画素輝度を有するドット落ちと、
暗画素閾値を下回り、前記ドット落ち閾値よりも大きい画素輝度を有する暗画素と、
輝度閾値よりも大きい画素輝度を有する明るすぎる画素と、
前記暗画素閾値と前記輝度閾値との間の画素輝度を有する正常画素と
を含む、請求項１に記載の方法。

【請求項3】

前記欠陥分類規則に従って、前記画素欠陥タイプは局所欠陥をさらに含み、
前記局所欠陥は、１次元欠陥および２次元欠陥を含む、請求項２に記載の方法。

【請求項4】

前記１次元欠陥は、ドット落ち画素の数が第１の事前設定数を上回っている前記ドット落ちのラインと、前記暗画素の数が第２の事前設定数を上回っている前記暗画素のラインと、前記明るすぎる画素の数が第３の事前設定数を上回っている前記明るすぎる画素のラインとを含む、請求項３に記載の方法。

【請求項5】

前記１次元欠陥は、前記画素点欠陥の数が第４の事前設定数を上回っている前記画素点欠陥の不良ラインをさらに含む、請求項４に記載の方法。

【請求項6】

前記２次元欠陥は面欠陥を含み、前記面欠陥は、マイクロＬＥＤ画素配列の複数の行または複数の列において複数の画素点欠陥を含む、請求項４に記載の方法。

【請求項7】

前記２次元欠陥は、前記マイクロＬＥＤ配列パネルに含まれるマイクロＬＥＤ配列のある特定の領域におけるまたは領域全体における点欠陥密度を有する欠陥をさらに含む、請求項６に記載の方法。

【請求項8】

前記欠陥分類規則は少なくとも、全体的輝度欠陥を含み、前記全体的輝度欠陥は以下の状態、すなわち、前記マイクロＬＥＤ配列パネルの発光領域の輝度が事前設定された全体的輝度閾値を下回る状態、または前記マイクロＬＥＤ配列パネル全体が制御不能であるもしくは駆動不能である状態を含む、請求項１に記載の方法。

【請求項9】

前記全体的輝度欠陥は制御不能画素をさらに含む、請求項８に記載の方法。

【請求項10】

前記制御不能画素は、常に明るい画素および駆動不能画素を含む、請求項９に記載の方法。

【請求項11】

前記マイクロＬＥＤ配列パネルの前記画素欠陥を検出するプロセスは、全体的輝度判定プロセス、および複数の画像を収集する複数画像収集プロセスを含む、請求項１に記載の方法。

【請求項12】

前記マイクロＬＥＤ配列パネルの前記画素欠陥を検出する前記プロセスは、前記複数の画像による正規化プロセスをさらに含む、請求項１１に記載の方法。

【請求項13】

前記マイクロＬＥＤ配列パネルの前記画素欠陥を検出する前記プロセスは、前記マイクロＬＥＤ配列パネルの全体的輝度が事前設定された全体的輝度閾値に達するまたはこれを超えるかどうかを判定することと、「いいえ」である場合、前記複数画像収集プロセスを実行することと、「はい」である場合、画素欠陥分類規則に従って前記画素欠陥タイプを識別することとをさらに含む、請求項１１に記載の方法。

【請求項14】

前記マイクロＬＥＤ配列パネルの前記欠陥レベルを識別することは、複数のマイクロＬＥＤ配列パネルのそれぞれのパネルの欠陥レベルを識別することと、前記複数のマイクロＬＥＤ配列パネルの欠陥レベル分布を取得することとをさらに含む、請求項１に記載の方法。

【請求項15】

前記欠陥レベル分類規則に従って、欠陥レベルは、
前記マイクロＬＥＤ配列パネルが全体的輝度欠陥を含む、または前記マイクロＬＥＤ配列パネルの画素点欠陥率が第１の閾値を上回るレベル１であって、前記画素点欠陥率は以下のようであり、すなわち、画素点欠陥の数／画素の総数である、レベル１を含む、請求項１に記載の方法。

【請求項16】

前記画素点欠陥率は、ドット落ち率、またはドット落ちと暗画素との比率である、請求項１５に記載の方法。

【請求項17】

欠陥レベルは、前記マイクロＬＥＤ配列パネルが第１の局所欠陥を含む、または前記マイクロＬＥＤ配列パネルの前記画素点欠陥率が第２の閾値を上回るレベル２をさらに含む、請求項１５に記載の方法。

【請求項18】

前記第１の局所欠陥は少なくとも、ある特定の領域におけるまたはＬＥＤ配列領域全体における第１の点欠陥密度を含む、請求項１７に記載の方法。

【請求項19】

欠陥レベルは、前記マイクロＬＥＤ配列パネルが第２の局所欠陥を含む、または前記マイクロＬＥＤ配列パネルの前記画素点欠陥率が第３の閾値を上回るレベル３であって、前記第１の局所欠陥の特性値は前記第２の局所欠陥の特性値を上回る、レベル３をさらに含む、請求項１７に記載の方法。

【請求項20】

前記第２の局所欠陥は少なくとも、ある特定の領域におけるまたはＬＥＤ配列領域全体における第２の点欠陥密度を含む、請求項１９に記載の方法。

【請求項21】

欠陥レベルは、前記マイクロＬＥＤ配列パネルの前記画素点欠陥率が第４の閾値を上回るレベル４をさらに含む、請求項１９に記載の方法。

【請求項22】

欠陥レベルは、前記マイクロＬＥＤ配列パネルの前記画素点欠陥率が第４の閾値を下回るレベル５であって、前記第１の閾値、前記第２の閾値、前記第３の閾値、および前記第４の閾値は、順次小さくなる、レベル５をさらに含む、請求項２１に記載の方法。

【請求項23】

前記ステップ０４は、欠陥レベルのうちの１つが、検出画素欠陥および前記画素欠陥タイプに一致することを判定されるまで、欠陥レベルに対して前記マイクロＬＥＤ配列パネルの前記検出画素欠陥および前記画素欠陥タイプを識別することをさらに含む、請求項１５に記載の方法。

【請求項24】

第１の点欠陥密度は、第２の点欠陥密度の４倍以上である、請求項１９に記載の方法。

【請求項25】

前記第１の閾値は５０％以下であり、前記第２の閾値は前記第１の閾値の１／５０～１／１０であり、前記第３の閾値は前記第２の閾値の１／２０～１／１０であり、第４の閾値は前記第２の閾値の１／２０～１／１０である、請求項１９に記載の方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本開示は、一般的に、発光ダイオードの技術分野に関し、より詳細には、マイクロ発光ダイオード（ＬＥＤ）配列パネルの欠陥レベル分類モデルを構築するためのシステムに関する。

【背景技術】

【0002】

面積が格段に小さく解像度が高いマイクロＬＥＤは、世界で人気が高くなっている。マイクロＬＥＤ配列パネルを使用して、カメラモジュール、投光モジュール、表示モジュール、およびＶＲ／ＡＲ光モジュールなどの様々な種類のデバイスを形成することができる。

【0003】

しかしながら、マイクロＬＥＤ配列パネルによって表示される発光領域および画像は以前よりもはるかに小さくなっているため、従来の方法によってマイクロＬＥＤ配列パネルの画素欠陥を検出し識別することは容易ではない。よって、操作者は、マイクロＬＥＤ配列パネルの様々なパターンを表示するグラフィカルユーザインターフェースを通してウエハ、チップ、およびマスクを精査することでパターン欠陥を識別する必要がある。

【0004】

残念ながら、マイクロＬＥＤ配列パネルの欠陥分類は以前に行われたことはなかった。マイクロＬＥＤ配列画素は寸法および空間が格段に小さいため、従来のＬＥＤ画素と比較して、ある特定の領域における画素の集積が非常に増えている。欠陥検出プロセスは精確ではなく時間がかかる。

【0005】

そのように、マイクロＬＥＤ配列の欠陥を分類し、欠陥タイプの分離を可能にし、および分類を監視して、欠陥検出精度を改善し処理時間を削減する方法を提供することは、有利であると思われる。

【0006】

上記の内容は、本願の技術的解決策の理解を助けるためだけに使用されるものであり、上記が先行技術であると認めることにはならない。

【発明の概要】

【0007】

上記の欠点を克服するために、本開示は、マイクロＬＥＤ配列パネルの欠陥レベル分類モデルを構築して、欠陥検出精度を改善するための方法を提供する。

【0008】

上記の目的を達成するために、本開示によるマイクロＬＥＤ配列パネルの欠陥レベル分類モデルを構築する方法は、
画素欠陥を分類するための欠陥分類規則を定義するステップ０１と、
マイクロＬＥＤ配列パネルの画素欠陥を検出するステップ０２と、
欠陥分類規則に従って、検出した画素欠陥の画素欠陥タイプを識別するステップ０３と、
欠陥レベル分類規則および識別した画素欠陥タイプに従って、マイクロＬＥＤ配列パネルの欠陥レベルを識別するステップ０４とを含む。

【0009】

いくつかの実施形態では、欠陥分類規則に従って、画素欠陥タイプは少なくとも、画素点欠陥を含み、
画素点欠陥は、
ドット落ち閾値を下回る画素輝度を有するドット落ちと、
暗画素閾値を下回り、ドット落ち閾値よりも大きい画素輝度を有する暗画素と、
輝度閾値よりも大きい画素輝度を有する明るすぎる画素と、
暗画素閾値と輝度閾値との間の画素輝度を有する正常画素とを含む。

【0010】

いくつかの実施形態では、欠陥分類規則に従って、画素欠陥タイプは、局所欠陥をさらに含み、
局所欠陥は１次元欠陥および２次元欠陥を含む。

【0011】

いくつかの実施形態では、１次元欠陥は、ドット落ち画素の数が第１の事前設定数を上回っているドット落ちのラインと、暗画素の数が第２の事前設定数を上回っている暗画素のラインと、明るすぎる画素の数が第３の事前設定数を上回っている明るすぎる画素のラインとを含む。

【0012】

いくつかの実施形態では、１次元欠陥は、画素点欠陥の数が第４の事前設定数を上回っている画素点欠陥の不良ラインをさらに含む。

【0013】

いくつかの実施形態では、２次元欠陥は面欠陥を含み、面欠陥は、マイクロＬＥＤ画素配列の複数の行または複数の列において複数の画素点欠陥を含む。

【0014】

いくつかの実施形態では、２次元欠陥は、マイクロＬＥＤ配列パネルに含まれるマイクロＬＥＤ配列のある特定の領域におけるまたは領域全体における点欠陥密度を有する欠陥をさらに含む。

【0015】

いくつかの実施形態では、欠陥分類規則は少なくとも、全体的輝度欠陥を含み、全体的輝度欠陥は以下の状態：マイクロＬＥＤ配列パネルの発光領域の輝度が事前設定された全体的輝度閾値を下回る状態、またはマイクロＬＥＤ配列パネル全体が制御不能であるもしくは駆動不能である状態を含む。

【0016】

いくつかの実施形態では、全体的輝度欠陥は制御不能画素をさらに含む。

【0017】

いくつかの実施形態では、制御不能画素は、常に明るい画素および駆動不能画素を含む。

【0018】

いくつかの実施形態では、マイクロＬＥＤ配列パネルの画素欠陥を検出するプロセスは、全体的輝度判定プロセス、および複数の画像を収集する複数画像収集プロセスを含む。

【0019】

いくつかの実施形態では、マイクロＬＥＤ配列パネルの画素欠陥を検出するプロセスは、複数の画像による正規化プロセスをさらに含む。

【0020】

いくつかの実施形態では、マイクロＬＥＤ配列パネルの画素欠陥を検出するプロセスは、マイクロＬＥＤ配列パネルの全体的輝度が事前設定された全体的輝度閾値に達するまたはこれを超えるかどうかを判定することと、「いいえ」である場合、複数画像収集プロセスを実行することと、「はい」である場合、画素欠陥分類規則に従って画素欠陥タイプを識別することとをさらに含む。

【0021】

いくつかの実施形態では、マイクロＬＥＤ配列パネルの欠陥レベルを識別することは、複数のマイクロＬＥＤ配列パネルのそれぞれのパネルの欠陥レベルを識別することと、複数のマイクロＬＥＤ配列パネルの欠陥レベル分布を取得することとをさらに含む。

【0022】

いくつかの実施形態では、欠陥レベル分類規則に従って、欠陥レベルは、
マイクロＬＥＤ配列パネルが全体的輝度欠陥を含む、またはマイクロＬＥＤ配列パネルの画素点欠陥率が第１の閾値を上回るレベル１であって、画素点欠陥率は以下のようであり：画素点欠陥の数／画素の総数である、レベル１と、
マイクロＬＥＤ配列パネルが第１の局所欠陥を含む、またはマイクロＬＥＤ配列パネルの画素点欠陥率が第２の閾値を上回る、レベル２と、
マイクロＬＥＤ配列パネルが第２の局所欠陥を含む、またはマイクロＬＥＤ配列パネルの画素点欠陥率が第３の閾値を上回るレベル３であって、第１の局所欠陥の特性値は第２の局所欠陥の特性値を上回る、レベル３と、
マイクロＬＥＤ配列パネルの画素点欠陥率が第４の閾値を上回るレベル４と、
マイクロＬＥＤ配列パネルの画素点欠陥率が第４の閾値を下回るレベル５であって、第１の閾値、第２の閾値、第３の閾値、第４の閾値、および第５閾値は、順次小さくなる、レベル５とを含む。

【0023】

いくつかの実施形態では、ステップ０４は、欠陥レベルのうちの１つが、検出画素欠陥および画素欠陥タイプに一致することを判定されるまで、欠陥レベルに対してマイクロＬＥＤ配列パネルの検出画素欠陥および画素欠陥タイプを含むことをさらに含む。

【0024】

いくつかの実施形態では、画素点欠陥率は、ドット落ち率、またはドット落ちと暗画素との比率であり、
第１の局所欠陥は少なくとも、ある特定の領域におけるまたはＬＥＤ配列領域全体における第１の点欠陥密度を含み、第２の局所欠陥は少なくとも、ある特定の領域におけるまたはＬＥＤ配列領域全体における第２の点欠陥密度を含む。

【0025】

いくつかの実施形態では、第１の点欠陥密度は、第２の点欠陥密度の４倍以上である。

【0026】

いくつかの実施形態では、第１の閾値は５０％以下であり、第２の閾値は第１の閾値の１／５０～１／１０であり、第３の閾値は第２の閾値の１／２０～１／１０であり、第４の閾値は第２の閾値の１／２０～１／１０である。

【0027】

以下の詳細な説明および添付の図面によって、本開示の多くの他の利点および特徴についてさらに理解されるであろう。

【図面の簡単な説明】

【0028】

【図1】本開示の一実施形態によるマイクロＬＥＤ配列パネルの欠陥レベル分類モデルを構築する方法を示すフローチャートである。

【図2】本開示の一実施形態による欠陥レベルを示す概略的なリストを示す図である。

【発明を実施するための形態】

【0029】

ここで、本開示をさらに理解してもらうために好ましい本実施形態を詳細に参照する。論じられる特定の実施形態および添付の図面は単に、本開示を作成および使用する特定のやり方を示しているに過ぎず、本開示の範囲または添付の特許請求の範囲を限定するものではない。

【0030】

本開示では、マイクロＬＥＤ配列パネルの欠陥を検出する方法が開示される。マイクロＬＥＤ配列パネルは、ディスプレイの分野、プロジェクタの分野、および走査ファイルなどにおいて適用可能である。ここでのマイクロＬＥＤは、無機ＬＥＤまたは有機ＬＥＤであり得る。例えば、マイクロＬＥＤパネルの寸法は約５ｍｍ×５ｍｍである。マイクロＬＥＤ配列パネルは、マイクロＬＥＤ配列、およびマイクロＬＥＤ配列の背面に形成されるＩＣバックプレーンを含む。ここでの「背面」は発光方向の反対方向を指すことに留意されたい。マイクロＬＥＤ配列は、１６００×１２００、６８０×４８０、および１９２０×１０８０などの任意の画素行列であり得る。マイクロＬＥＤ配列パネル００の発光領域は、３ｍｍ＊５ｍｍなど、非常に小さい。発光領域はマイクロＬＥＤ配列の領域であることに留意されたい。マイクロＬＥＤの直径は、２００ｎｍ～２μｍの範囲にある。ＩＣバックプレーンは、マイクロＬＥＤ配列の裏面に形成され、マイクロＬＥＤ配列と電気的に接続される。ＩＣバックプレーンは、対応するマイクロＬＥＤが光を発するように制御するために信号線を介して外側から画像データなどの信号を取得する。ＩＣバックプレーンでは、一般的に、８ビットのデジタル／アナログ変換器（ＤＡＣ）を用いる。８ビットのＤＡＣは、２５６の現象レベルを有し、それぞれのレベルは１つのグレーレベルに対応し、すなわち、８ビットのＤＡＣは２５６の異なるグレーレベルを提供し得る。２５６のグレーレベルのうちのいずれか１つがマイクロＬＥＤに対して適用され得るため、０～２５５の範囲のグレーレベルが１画素ずつ表示され得る。オプションとして、マイクロＬＥＤの輝度値は、ＩＣバックプレーンによって取得された信号の電圧振幅または電流振幅によって制御可能であり、グレーレベルは、信号の時間間隔、例えばパルス幅によって示され得る。

【0031】

図１を参照すると、ここで、マイクロＬＥＤ配列パネルの欠陥レベル分類モデルを構築する方法であって、
画素欠陥を分類するための欠陥分類規則を定義するステップ０１を含む、方法が開示される。

【0032】

ここで、欠陥分類規則では、画素欠陥を複数の画素欠陥タイプに分類する。画素欠陥タイプは少なくとも、画素点欠陥を含み、画素点欠陥は、ドット落ち閾値を下回る画素輝度を有するドット落ちと、暗画素閾値を下回り、ドット落ち閾値よりも大きい画素輝度を有する暗画素と、輝度閾値よりも大きい画素輝度を有する明るすぎる画素と、暗画素閾値と輝度閾値との間の画素輝度を有する正常画素とを含む。

【0033】

さらに、欠陥分類規則に従って、画素欠陥タイプは局所欠陥をさらに含み、局所欠陥は、１次元欠陥および２次元欠陥を含む。１次元欠陥は、ドット落ち画素の数が第１の事前設定数を上回っているドット落ちのラインと、暗画素の数が第２の事前設定数を上回っている暗画素のラインと、明るすぎる画素の数が第３の事前設定数を上回っている明るすぎる画素のラインとを含む。１次元欠陥は、画素点欠陥の数が第４の事前設定数を上回っている画素点欠陥の不良ラインをさらに含み得る。２次元欠陥は面欠陥を含み、面欠陥はマイクロＬＥＤ画素配列の複数の行または複数の列において複数の画素点欠陥を含む面欠陥を含む。第１の事前設定数、第２の事前設定数、第３の事前設定数、および第４の事前設定数は実際のプロセスに従って判定され得、本明細書において限定されないことに留意されたい。さらに、２次元欠陥は、マイクロＬＥＤ配列パネルに含まれるマイクロＬＥＤ配列のある特定の領域におけるまたは領域全体における点欠陥密度を有する欠陥をさらに含み得る。

【0034】

さらに、欠陥分類規則に従って、画素欠陥タイプは、全体的輝度欠陥をさらに含み、全体的輝度欠陥は、マイクロＬＥＤ配列パネルの発光領域の輝度が事前設定された全体的輝度閾値を下回ること、またはマイクロＬＥＤ配列パネル全体が制御不能であるまたは駆動不能であること、または少なくとも１つの画素が制御不能画素であることを含む。この場合、制御不能画素は、一定輝度の画素および駆動不能画素を含む。

【0035】

ステップ０２では、マイクロＬＥＤ配列パネルの画素欠陥を検出する。

【0036】

ここでは、マイクロＬＥＤ配列パネルの画素欠陥を検出するプロセスは、全体的輝度判定プロセスおよび複数画像収集プロセスを含む。ここで、マイクロＬＥＤ配列パネルの画素欠陥を検出する前に、方法は、マイクロＬＥＤ配列パネルに全体的輝度欠陥が生じるかどうかを判定し、「いいえ」の場合、欠陥検出プロセスのステップ０２を実行することをさらに含む。全体的輝度欠陥は人間の目またはコンピュータ認識システムによって認識可能であることに留意されたい。ここで、事前設定された全体的輝度閾値は、実際の応用に左右され得、本明細書において限定されない。全体的輝度欠陥がマイクロＬＥＤ配列パネルに生じる場合、ステップ０２の欠陥検出プロセスは実行されることはなく、ステップ０３が実行される。さらに、全体的輝度判定プロセスは、マイクロＬＥＤ配列パネルの全体的輝度が事前設定された全体的輝度閾値に達するまたはこれを超えるかどうかを判定することと、「いいえ」である場合、複数画像収集プロセスを実行することと、「はい」である場合、画素欠陥分類規則に従って画素欠陥タイプを識別するステップ０３を実行することとを含む。

【0037】

複数画像収集プロセスは、毎回異なるＬＥＤパターンをオンにすることによってマイクロＬＥＤ配列の複数のパターン画像を収集することを含む。ここで、パターン画像の数は２または２以上であり得る。各パターン画像におけるＬＥＤは１回またはそれ以上オンにされ得ることに留意されたい。それぞれのパターン画像において、少なくとも１つまたは複数のＬＥＤは、オンにされた隣接ＬＥＤ間でオフにされる。画像収集プロセスの後に、複数の画像に従って正規化プロセスがさらに実行される。正規化プロセスは当業者には理解可能であり、このことはここでは説明されない。マイクロＬＥＤ配列の複数のパターン画像を収集後、１つまたは複数の画素欠陥がパターン画像に従って検出され得る。

【0038】

ステップ０３では、欠陥分類規則に従って画素欠陥のタイプを識別し、
ステップ０４では、欠陥レベル分類規則に従ってマイクロＬＥＤ配列パネルの欠陥レベルを識別する。

【0039】

ここで、ステップ０４は、複数のマイクロＬＥＤ配列パネルのそれぞれのパネルにおける欠陥レベルを識別し、次いで、複数のマイクロＬＥＤ配列パネルの欠陥レベル分布を取得することをさらに含む。

【0040】

図２を参照すると、欠陥レベル分類規則に従って、本明細書に開示されるマイクロＬＥＤ配列パネルは、複数のあり得る欠陥レベルのうちの１つを有し得る。欠陥レベルは、マイクロＬＥＤ配列パネルが全体的輝度欠陥を含む、またはマイクロＬＥＤ配列パネルの画素点欠陥率が第１の閾値を上回るレベル１であって、画素点欠陥率は画素点欠陥数と総画素数との比率として定義される、レベル１と、マイクロＬＥＤ配列パネルが第１の局所欠陥を含む、またはマイクロＬＥＤ配列パネルの画素点欠陥率が第２の閾値を上回る、レベル２と、マイクロＬＥＤ配列パネルが第２の局所欠陥を含む、またはマイクロＬＥＤ配列パネルの画素点欠陥率が第３の閾値を上回るレベル３であって、第１の局所欠陥の特性値（例えば、密度）は第２の局所欠陥の特性値（例えば、密度）を上回る、レベル３と、マイクロＬＥＤ配列パネルの画素点欠陥率が第４の閾値を上回るレベル４と、マイクロＬＥＤ配列パネルの画素点欠陥率が第４の閾値を下回るレベル５であって、第１の閾値、第２の閾値、第３の閾値、および第４の閾値は、順次小さくなる、レベル５とを含む。画素点欠陥率は、ドット落ち率、またはドット落ちと暗画素との比率である。この場合、ドット落ち率はドット落ち数／総画素数に等しく、ドット落ちと暗画素との比率は、（ドット落ち数＋暗画素数）／総画素数に等しい。

【0041】

マイクロＬＥＤ配列パネルにおける欠陥レベルを識別することは、レベル１～レベル５のうちの１つが、検出された画素欠陥および画素欠陥タイプに一致することを判定されるまで、レベル１～レベル５に対してマイクロＬＥＤ配列パネルの検出された画素欠陥および画素欠陥タイプを比較することをさらに含む。好ましくは、第１の閾値は５０％以下、好ましくは２０～３０％であり、第２の閾値は第１の閾値の１／５０～１／１０であり、第３の閾値は第２の閾値の１／２０～１／１０であり、第３の閾値は第２の閾値の１／２０～１／１０であり、第４の閾値は第２の閾値の１／２０～１／１０である。例えば、レベル１は、マイクロＬＥＤ配列パネルが全体的輝度欠陥を含むこと、またはマイクロＬＥＤ配列パネルの画素点欠陥率が２０％を上回ることを示し、この場合、画素点欠陥率は、画素点欠陥数と総画素数との比率であり、レベル２は、マイクロＬＥＤ配列パネルが第１の局所欠陥を含むこと、またはマイクロＬＥＤ配列パネルの画素点欠陥率が１％を上回ることを示し、レベル３は、マイクロＬＥＤ配列パネルが第２の局所欠陥を含むこと、または画素点欠陥率が０．１％を上回ること、さらに、レベル３において、ドット落ち率が０．１％以上であること、または欠陥密度が０．４％を上回ること、またはドット落ちと暗画素との比率が１．２％以上であることを示し、この場合、第１の局所欠陥の数は第２の局所欠陥の数を上回り、レベル４は、マイクロＬＥＤ配列パネルの画素点欠陥率が０．０１％を上回ることを示し、レベル５は、マイクロＬＥＤ配列パネルの画素点欠陥率が０．０１％未満であることを示す。

【0042】

第１の局所欠陥は少なくとも、ある特定の領域におけるまたはＬＥＤ配列領域全体における第１の点欠陥密度を含むことに留意されたい。第２の局所欠陥は少なくとも、ある特定の領域におけるまたはＬＥＤ配列領域全体における第２の点欠陥密度を含む。第１の点欠陥密度は、第２の点欠陥密度の４倍以上である。好ましくは、第１の点欠陥密度は０．４％以上であり、第２の点欠陥密度は０．１％以上である。

【0043】

マイクロＬＥＤ配列パネルは、前述の欠陥を除くその他の欠陥を含む場合、マイクロＬＥＤ配列パネルの欠陥レベルはレベル３に分類されることになることに留意されたい。マイクロＬＥＤ配列パネルが上述したレベル１～５において述べられた欠陥を含む場合、欠陥は対応するレベルに分類されることになる。

【0044】

上記の説明は本開示の実施形態に過ぎず、本開示はこれらに限定されない。本開示の概念および原理から逸脱することなくなされた修正、等化の置換、および改善は、本開示の保護範囲内にあるものとする。

【図1】

【図2】

【国際調査報告】