特表2016-533508半導体チップ検査装置

発明の名称　半導体チップ検査装置

出願人　エヌティーエス・カンパニー・リミテッド　（識別番号 516089290）

　　　　特許公開件数ランキング 8090 位（0件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 6699 位（0件）（共同出願を含む）

公報番号　特表-2016-533508

公報発行日　2016年10月27

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-T-2016-533508

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