特表2016-535281光学的異方性のパラメータを測定する方法と装置

発明の名称　光学的異方性のパラメータを測定する方法と装置

出願人　アクソメトリクス　インコーポレイテッド　（識別番号 507402370）

　　　　特許公開件数ランキング 13870 位（0件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 11686 位（0件）（共同出願を含む）

公報番号　特表-2016-535281

公報発行日　2016年11月10

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-T-2016-535281

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