特表2016-536591不均質なサンプルの走査装置およびそのＸ線分析器のアプリケーション

発明の名称　不均質なサンプルの走査装置およびそのＸ線分析器のアプリケーション

出願人　エックス−レイ　オプティカル　システムズ　インコーポレーテッド　（識別番号 500577987）

　　　　特許公開件数ランキング 11441 位（0件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 9316 位（0件）（共同出願を含む）

公報番号　特表-2016-536591

公報発行日　2016年11月24

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-T-2016-536591

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