特表 2017-537482 ＲＦフィルタのチューニングシステムおよびこれを用いたフィルタの製造方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公表特許公報(A)

(11)【公表番号】特表2017-537482(P2017-537482A)

(43)【公表日】2017年12月14日

(54)【発明の名称】ＲＦフィルタのチューニングシステムおよびこれを用いたフィルタの製造方法

(51)【国際特許分類】

   H01P 1/205 20060101AFI20171117BHJP

   H01P 7/04 20060101ALI20171117BHJP

【ＦＩ】

   H01P1/205 B

   H01P1/205 J

   H01P7/04

【審査請求】有

【予備審査請求】未請求

【全頁数】22

(21)【出願番号】特願2016-516511(P2016-516511)

(86)(22)【出願日】2016年3月4日

(85)【翻訳文提出日】2016年3月18日

(86)【国際出願番号】KR2016002191

(87)【国際公開番号】WO2017061675

(87)【国際公開日】20170413

(31)【優先権主張番号】10-2015-0139895

(32)【優先日】2015年10月5日

(33)【優先権主張国】KR

(81)【指定国】 AP(BW,GH,GM,KE,LR,LS,MW,MZ,NA,RW,SD,SL,ST,SZ,TZ,UG,ZM,ZW),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,RU,TJ,TM),EP(AL,AT,BE,BG,CH,CY,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,FR,GB,GR,HR,HU,IE,IS,IT,LT,LU,LV,MC,MK,MT,NL,NO,PL,PT,RO,RS,SE,SI,SK,SM,TR),OA(BF,BJ,CF,CG,CI,CM,GA,GN,GQ,GW,KM,ML,MR,NE,SN,TD,TG),AE,AG,AL,AM,AO,AT,AU,AZ,BA,BB,BG,BH,BN,BR,BW,BY,BZ,CA,CH,CL,CN,CO,CR,CU,CZ,DE,DK,DM,DO,DZ,EC,EE,EG,ES,FI,GB,GD,GE,GH,GM,GT,HN,HR,HU,ID,IL,IN,IR,IS,JP,KE,KG,KN,KP,KZ,LA,LC,LK,LR,LS,LU,LY,MA,MD,ME,MG,MK,MN,MW,MX,MY,MZ,NA,NG,NI,NO,NZ,OM,PA,PE,PG,PH,PL,PT,QA,RO,RS,RU,RW,SA,SC,SD,SE,SG,SK,SL,SM,ST,SV,SY,TH,TJ,TM,TN,TR,TT,TZ,UA,UG,US,UZ

(71)【出願人】

【識別番号】516083818

【氏名又は名称】ケイエムダブリュ インコーポレーテッド

【氏名又は名称原語表記】ＫＭＷ ＩＮＣ．

(74)【代理人】

【識別番号】100090398

【弁理士】

【氏名又は名称】大渕 美千栄

(74)【代理人】

【識別番号】100090387

【弁理士】

【氏名又は名称】布施 行夫

(72)【発明者】

【氏名】パク ナムシン

(72)【発明者】

【氏名】キム ジョンフェ

(72)【発明者】

【氏名】リー ドンヨン

(72)【発明者】

【氏名】ソ ガンヒ

(72)【発明者】

【氏名】ジョン ジョンユン

(72)【発明者】

【氏名】チョ サンファン

(72)【発明者】

【氏名】キム ドンチョン

(72)【発明者】

【氏名】キム サンユン

(72)【発明者】

【氏名】パク ヨンジン

(72)【発明者】

【氏名】キム オグォン

【テーマコード（参考）】

5J006

【Ｆターム（参考）】

5J006HC01

5J006HC22

5J006LA25

5J006LA27

5J006ND05

5J006NE11

(57)【要約】

ＲＦフィルタの自動チューニングシステム及びこれを用いたフィルタの製造方法を開示する。共振素子を有する複数の空洞と、それぞれの共振素子に対応する位置にチューニング領域を有するカバーを含むＲＦフィルタをチューニングするＲＦフィルタのチューニングシステムにおいて、前記ＲＦフィルタの空洞の共振特性を測定する測定装置と、前記共振特性に基づいて前記ＲＦフィルタのチューニング値を計算する制御装置、及び前記制御装置によって計算されたチューニング値に基づいて前記ＲＦフィルタをチューニングするチューニング装置を含み、前記チューニング装置は、前記ＲＦフィルタの前記カバーを打撃することで、共振値を調整して前記ＲＦフィルタをチューニングする打撃器を含むＲＦフィルタのチューニングシステムを提供する。
【選択図】図６

【特許請求の範囲】

【請求項1】

共振素子を有する複数の空洞と、それぞれの共振素子に対応する位置にチューニング領域を有するカバーを含むＲＦフィルタをチューニングするＲＦフィルタのチューニングシステムにおいて、
前記ＲＦフィルタの空洞の共振特性を測定する測定装置と、
前記共振特性に基づいて前記ＲＦフィルタのチューニング値を計算する制御装置、及び前記制御装置によって計算されたチューニング値に基づいて前記ＲＦフィルタをチューニングするチューニング装置を含み、
前記チューニング装置は、前記ＲＦフィルタの前記カバーの前記チューニング領域を打撃することで、共振値を調整して前記ＲＦフィルタをチューニングする打撃器を含む
ＲＦフィルタのチューニングシステム。

【請求項2】

前記チューニング装置の前記打撃器を前記ＲＦフィルタの上部にて移動させる移送ロボットを含む
請求項１に記載のＲＦフィルタのチューニングシステム。

【請求項3】

前記測定装置は、前記空洞間のカップリング特性を測定する機能を含み、
前記チューニング装置は、チューニングヘッドを含み、
前記チューニングヘッドは打撃器、及び
測定されたカップリングの特性に応じて必要な長さのネジを前記ＲＦフィルタの前記空洞間に締結する締結器をさらに含み、
前記移送ロボットは、前記チューニングヘッドを移動させる
請求項２に記載のＲＦフィルタのチューニングシステム。

【請求項4】

前記移送ロボットは地面に水平のＸ軸方向に前記チューニングヘッドを移送するＸ本体、及び
地面に水平で、Ｘ軸に垂直のＹ軸方向に前記Ｘ軸本体を移送するＹ本体を含み、
前記移送ロボットは、前記チューニングヘッドをＸ軸方向、Ｙ軸方向、またはＸ軸方向とＹ軸方向のいずれを移動させる
請求項３に記載のＲＦフィルタのチューニングシステム。

【請求項5】

前記移送ロボットは、前記チューニングヘッドを地面に垂直のＺ軸方向に移動するＺ軸本体をさらに含む
請求項４に記載のＲＦフィルタのチューニングシステム。

【請求項6】

前記Ｚ軸本体は、第1のＺ軸本体及び第2のＺ軸本体を含み、
前記打撃器は、第1のＺ軸本体と連結されてＺ軸方向に移動し、
前記締結器は、第2 Ｚ軸本体と連結されてＺ軸方向に移動する
請求項５に記載のＲＦフィルタのチューニングシステム。

【請求項7】

前記ＲＦフィルタのチューニングシステムは、ＲＦフィルタのカップリングチューニングで使用されるネジを制御装置によって計算された値に基づいて必要な長さにネジをカットするネジカッターをさらに含む
請求項３に記載のＲＦフィルタのチューニングシステム。

【請求項8】

前記ＲＦフィルタのチューニングシステムは、ＲＦフィルタの共振素子をショートさせるための導電性ショートピン、及び
前記ショートピンを保管するショートピンボックスをさらに含む
請求項４に記載のＲＦフィルタのチューニングシステム。

【請求項9】

前記測定装置は、ＲＦフィルタの動作特性を計測するために、前記ＲＦフィルタに連結する測定ピンをさらに含む
請求項８に記載のＲＦフィルタのチューニングシステム。

【請求項10】

前記チューニングヘッドはグリッパをさらに含み、
前記グリッパは、前記ショートピンまたは前記測定ピンを移動させる
請求項９に記載のＲＦフィルタのチューニングシステム。

【請求項11】

前記ショートピンの上部と前記測定ピンの上部は、前記グリッパが容易につかむことができると同一の形状と大きさの形で構成される
請求項９に記載のＲＦフィルタのチューニングシステム。

【請求項12】

ＲＦフィルタのチューニングシステムを用いて、共振素子を有する複数の空洞と、それぞれの共振素子に対応する位置にチューニング領域を有するカバーを含むＲＦフィルタをチューニングする方法でおいて、
チューニングする前記空洞の共振特性を測定する過程と、
チューニング装置の打撃器が前記チューニング領域を打撃する過程、及び
前記空洞から希望する共振特性を測定されると打撃を完了する過程を含むＲＦフィルタのチューニングシステムを用いてＲＦフィルタをチューニングする方法。

【請求項13】

前記測定過程の前に、
前記チューニングする空洞の周りの空洞を強制ショートする過程をさらに含む請求項１２に記載のＲＦフィルタのチューニングシステムを用いてＲＦフィルタをチューニングする方法。

【請求項14】

前記強制ショートする過程の前に、
前記チューニングする空洞に前記ＲＦフィルタのチューニングシステムを連結する過程をさらに含む請求項１３に記載のＲＦフィルタのチューニングシステムを用いてＲＦフィルタをチューニングする方法。

【請求項15】

前記ＲＦフィルタが含むすべての空洞に対して前記のすべての過程を進行する
請求項１４に記載のＲＦフィルタのチューニングシステムを用いてＲＦフィルタをチューニングする方法。

【請求項16】

前記測定過程の前に、
一対の空洞間の離間距離を測定する過程と、
前記一対の空洞間に締結されるべきネジの長さを計算する過程と、
ネジカッターがネジをカットする過程、及び
カットされた前記ネジを前記一対の空洞間に締結する過程を進行することをさらに含む
請求項１２に記載のＲＦフィルタのチューニングシステムを用いてＲＦフィルタをチューニングする方法。

【請求項17】

前記一対の空洞間の離間距離を測定する過程の前に、
前記一対の空洞の周りの空洞を強制ショートする過程をさらに含む
請求項１６に記載のＲＦフィルタのチューニングシステムを用いてＲＦフィルタをチューニングする方法。

【請求項18】

前記一対の空洞の周りの空洞を強制ショートする過程の前に、
前記一対の空洞に前記チューニングシステムを連結する過程をさらに含む
請求項１７に記載のＲＦフィルタのチューニングシステムを用いてＲＦフィルタをチューニングする方法。

【請求項19】

前記ＲＦフィルタが含む空洞のうち、２つずつつながっているすべての空洞に対して前記一対の空洞に前記チューニングシステムを連結する過程、ないし
カットされた前記ネジを前記一対の空洞間に締結する過程を進行する
請求項１８に記載のＲＦフィルタのチューニングシステムを用いてＲＦフィルタをチューニングする方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本実施例は、ＲＦフィルタの自動チューニングシステムとこれを利用したフィルタの製造方法に関する。

【背景技術】

【0002】

この部分に記述された内容は、単に本実施例の背景情報を提供するだけで、従来技術を構成するものではない。

【0003】

無線通信システムの主要部品の一つであるＲＦフィルタは、構造的特徴（加工や組立公差など）を補完するためにチューニングネジを使用し、熟練した作業者による手作業を経て製造された。

【0004】

しかし、このような手作業の工程は、かなりの熟練度を必要とし、個人の能力と人材の確保の可否に応じて生産量の急激な差が見られ、人件費の上昇によるコスト競争力の喪失につながってきた。

【0005】

また、すべての製品の品質がそれぞれ異なるということも手作業による生産工程の大きな問題点の一つであった。これらの労働集約的生産工程を自動化するために、多くの企業やエンジニアが研究開発をし、それによっていくつかの製品が公開されたものの、基本的にチューニングネジを適用する構造を有しており、成功した事例は遂げられていない。

【0006】

このような問題を根本的に解決するために、共振周波数調整用のチューニングネジのないベローフィルター（Bellow Filter）を開発して商品化し、これをチューニングするための自動チューニング装置も開発された。

【0007】

しかし、既存の自動チューニング装置は、フィルタの入力、または出力ポートで各共振素子の位相値を順次測定（1番目の共振器のチューニング時に2番目以降のすべての共振素子は電気的にショート（Short）させる）した後にチューニングし、次いでショートピンを除去してチューニングする方式で製作された。

【0008】

このとき、各共振素子間の継手調整用ネジは、決められた長さに合わせて予め手作業で組み立てがなされていなければならず、もし自動チューニングが完了した後に、フィルタ全体の特性が目標値に達していない場合は、熟練した作業者が2次チューニングをしなければならない問題があった。

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0009】

本実施例は、ＲＦフィルタの製作において特性調整に必要なチューニング工程と関連するすべての工程を自動化するＲＦフィルタの自動チューニングシステムを提供することに主な目的がある。

【課題を解決するための手段】

【0010】

本実施例の一側面によると、共振素子を有する複数の空洞と、それぞれの共振素子に対応する位置にチューニング領域を有するカバーを含むＲＦフィルタをチューニングするＲＦフィルタのチューニングシステムにおいて、前記ＲＦフィルタの空洞の共振特性を測定する測定装置と、前記共振特性に基づいて前記ＲＦフィルタのチューニング値を計算する
制御装置、及び前記制御装置によって計算されたチューニング値に基づいて前記ＲＦフィルタをチューニングするチューニング装置を含み、前記チューニング装置は、前記ＲＦフィルタの前記カバーを打撃することで、共振値を調整して前記ＲＦフィルタをチューニングする打撃器を含むＲＦフィルタのチューニングシステムを提供する。

【0011】

また、ＲＦフィルタのチューニングシステムを利用し、共振素子を有する複数の空洞と、それぞれの共振素子に対応する位置にチューニング領域を有するカバーを含むＲＦフィルタをチューニングする方法において、チューニングする前記空洞の共振特性を測定する過程と、チューニング装置の打撃器が前記チューニング領域を打撃する過程、及び前記空洞から希望する共振特性を測定されると打撃を完了する過程と、を含むＲＦフィルタのチューニングシステムを用いてＲＦフィルタをチューニングする方法を提供する。

【発明の効果】

【0012】

本実施例によると、ＲＦフィルタの製作において特性調整に必要なチューニング工程と関連するすべての工程を自動化する効果がある。

【0013】

また、本実施例によると、チューニング工程の自動化によりＲＦフィルタを大量、かつ迅速に生成することができるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【0014】

【図1】図１は、本発明の一実施形態に係るＲＦフィルタの分離斜視図である。

【0015】

【図2】図２の（ａ）は、図１のカバーのA-A’部分のカット面図である。

【0016】

図２の（ｂ）は、図２の（ａ）のチューニング領域にドットパターンが形成された状態を示す例示図である。

【0017】

【図3】図３は、本発明の一実施形態に係るＲＦフィルタの自動チューニングシステムのブロック図を示したものである。

【0018】

【図4】図４は、本発明の一実施形態に係るＲＦフィルタの自動チューニングシステムの概略図を示したものである。

【0019】

【図5】図５は、本発明の一実施形態に係るショートピンと測定ピンが使用されている例を示したものである。

【0020】

【図6】図６は、本発明の一実施形態に係るチューニング装置の斜視図を示したものである。

【0021】

【図7】図７は、本発明の一実施形態に係るチューニング装置のチューニングヘッドを図示したものである。

【0022】

【図8】図８は、本発明の一実施形態に係るＲＦフィルタの自動チューニングシステムを用いてチューニング方法を説明するための図である。

【0023】

【図9】図９は、本発明の一実施形態に係るＲＦフィルタの自動チューニングシステムを用いてＲＦフィルタをチューニングする方法の概略的なフローチャートである。

【0024】

【図10】図１０は、本発明の一実施形態に係るＲＦフィルタの空洞間のカップリング値をチューニングする過程についての詳細なフローチャートである。

【0025】

【図11】図１１は、本発明の一実施形態に係るＲＦフィルタの空洞の共振値をチューニングする過程についての詳細なフローチャートである。

【0026】

【図12】図１２の（ａ）は、本発明の一実施形態に係る図９に開示された複数の空洞を含むＲＦフィルタのそれぞれの共振素子毎に共振素子間のカップリング値をチューニングする手順を示すフローチャートである。

【0027】

図１２の（ｂ）は、本発明の一実施形態に係る図９に開示された複数の空洞を含むＲＦフィルタのそれぞれの空洞毎に空洞の共振値をチューニングする手順を示すフローチャートである。

【発明を実施するための形態】

【0028】

以下、本発明の一部の実施例を例示的な図面を通じて詳細に説明する。各図面の構成要素に参照符号を付加するにおいて同一の構成要素については、たとえ他の図面上に表示されても、可能な限り同一の符号を有するようにしていることに留意しなければならない。また、本実施例を説明するに当って、関連した公知の構成または機能についての具体的な説明が本実施形態の要旨を曖昧にしうると判断される場合には、その詳細な説明を省略する。

【0029】

本実施例の構成要素を説明するに当って、第１、第２、i）、ii）、ａ）、ｂ）などの符号を使用することができる。これらの符号は、その構成要素を他の構成要素と区別するために過ぎず、その符号によって、該当構成要素の本質や順番や順序などが限定されない。また、明細書においてある部分がある構成要素を「含む」または「備える」としたときに、これは明示的に反対する記載がない限り、他の構成要素を除外するのではなく、他の構成要素を含むことができることを意味する。

【0030】

以下、添付図面を参照して本発明に係るＲＦフィルタの自動チューニングシステム及びこれを利用したフィルタの製造方法について説明すると、次の通りである。

【0031】

図１は、本発明の一実施形態に係るＲＦフィルタの分離斜視図である。図２の（ａ）は、図１のカバーのA-A’部分のカット面図である。図２の（ｂ）は、図２の（ａ）のチューニング領域にドットパターンが形成された状態を示す例示図である。

【0032】

本実施形態に係るＲＦフィルタの自動チューニングシステム３００を説明するに当り、説明の便宜上、本システムに使用されるＲＦフィルタ１００をまず簡単にみてみる。図１に示すようにＲＦフィルタ１００は、導電性コンテナ１１０とカバー１２０を含む。

【0033】

導電性コンテナ１１０の内部は、隔壁によって分かれて複数の空洞１３０を構成し、空洞１３０の中心部には共振素子１４０を含み、空洞１３０を分ける隔壁は、隣接する空洞１３０間のカップリングを提供するためのカップリングウィンドウ１５０を含む。

【0034】

カバー１２０は、導電性コンテナ１１０の上部を覆うものであり、以下説明するチューニング装置３３０（図３及び図４を参照）でチューニングを行う部分であるチューニング領域１６０とのカップリングチューニングのための貫通孔１７０を含む。

【0035】

図２に示すようにチューニング領域１６０は、チューニング装置３３０によるチューニングを可能にするために、カバー１２０の他の部分に比べて薄肉に形成され、共振素子１４０に対応するカバー１２０の部分に位置する。

【0036】

【0037】

したがって、打撃器２１０によってチューニング領域１６０が打撃されると、チューニング領域１６０は、図２の（ｂ）に示すように、ドットパターンａを形成するようになる。

【0038】

チューニング領域１６０の中央には、ショートホール１８０をさらに含み、ショートホール１８０は、周波数のチューニング作業時に、各チューニング領域１６０に対応する共振素子１４０をショートさせるための導電性ショートピン５１０が注入される部分である。

【0039】

貫通穴１７０は、隣接する空洞１３０間のカップリングチューニングのための、カットされたネジ（図示せず）が入る部分であり、カップリングウィンドウ１５０が位置する部分の対応するカバー１２０の部分に位置する。

【0040】

ＲＦフィルタ１００は、周波数のチューニング作業時に、測定装置３１０（図３及び図４を参照）によってそれぞれの共振素子１４０の共振値を測定するための測定ポート１９０をさらに含むすることができる。測定ポート１９０は、ＲＦフィルタ１００のチューニング時に使用されているもので、それぞれの空洞１３０面に備えられ、それぞれの共振素子１４０と連結されている。

【0041】

また、ＲＦフィルタ１００は、送信回路または受信回路に接続するポート１９５ａと、アンテナに接続するポート１９５ｂと、を含むことができる。

【0042】

図３は、本発明の一実施形態に係るＲＦフィルタの自動チューニングシステムのブロック図を示す。図４は、本発明の一実施形態に係るＲＦフィルタの自動チューニングシステムの概略図を示したものである。図５は、本発明の一実施形態に係るショートピンと測定ピンが使用されている例を示したものである。以下では、図３〜図５に基づいてＲＦフィルタ自動チューニングシステム３００を説明する。

【0043】

図３及び図４に図示したように、本発明の実施形態に係るＲＦフィルタの自動チューニングシステム３００は、測定装置３１０、制御装置３２０、及びチューニング装置３３０を含む。チューニング作業時のＲＦフィルタ１００は、チューニング装置３３０の棚に置かれてチューニング過程が進行される。

【0044】

測定装置３１０は、ＲＦフィルタ１００の動作特性を計測する。つまり、測定装置３１０は、ＲＦフィルタ１００に予め設定された周波数の入力信号を提供し、以降、ＲＦフィルタ１００からの入力信号に対応する出力信号の提供を受けてＲＦフィルタ１００の動作特性を計測する。

【0045】

測定装置３１０は、ＲＦフィルタ１００のポートに連結する測定ピン５２０をさらに含むことができ、測定ピン５２０と測定装置は、電気的に接続されることで、測定ピン５２０をＲＦフィルタ１００の測定ポート１９０に接続すると、ＲＦフィルタ１００の周波数特性を把握することができる。

【0046】

制御装置３２０は、測定装置３１０と連動し、測定装置３１０から計測されたＲＦフィルタ１００の動作特性を継続的にモニタリングする。制御装置３２０は、モニタリングの結果に基づいてＲＦフィルタ１００のフィルタリング特性が最適化されるか、もしくは基準値を満足するようになるまで、チューニング装置３３０の動作を制御する。

【0047】

制御装置３２０は、ＲＦフィルタ１００に備えられたチューニング領域１６０の大きさ
や厚さや形状などの差異に応じてそれぞれに適合する可変量を有するドットパターンａが形成されるように事前にプログラミングされている。

【0048】

また、制御装置３２０は、棚に置かれたＲＦフィルタ１００のカバー１２０の構成であるチューニング領域１６０、貫通孔１７０、及びショートホール１８０の位置に関する情報を格納しており、チューニングヘッド３４０及び移送ロボット３５０を含むチューニング装置３３０によって自動的にチューニングが行われるようにする。

【0049】

チューニング装置３３０は、制御装置３２０から受信した制御コマンドに応じて打撃器２１０を駆動させ、打撃器２１０によってＲＦフィルタ１００に備えられたチューニング領域１６０に機械的な衝撃を加えることで、図２の（ｂ）に示すようにチューニング領域１６０の床面に多数のドットパターンａを形成する。

【0050】

また、チューニング装置３３０は、ＲＦフィルタ１００をチューニングするための貫通孔１７０にネジ締結するか、測定ピン５２０またはショートピン５１０を移動させることができ、これは以下で説明する。

【0051】

ＲＦフィルタの自動チューニングシステム３００は、ネジカッター（図示せず）をさらに含むことができる。ネジカッター（図示せず）は、ＲＦフィルタ１００のカップリングチューニング作業において使用されているネジ（図示せず）を制御装置３２０によって計算された値に基づいて必要な長さにネジ（図示せず）をカットする役割を担う。

【0052】

したがって、ネジカッター（図示せず）は、制御装置３２０と連結されており、カットされたネジは、以下で説明する締結器７１０によってＲＦフィルタ１００の貫通孔１７０に締結される。

【0053】

また、ＲＦフィルタの自動チューニングシステム３００は、ショートピン５１０と、使用しないショートピンを入れておくショートピンボックス５３０をさらに含むことができる。ショートピン５１０は、ＲＦフィルタの共振素子１４０をショートさせるための導電性ピンであり、ＲＦフィルタ１００のカバー１２０のショートホール１８０に挿入すると、共振素子１４０とショートピン５１０が当接して共振素子１４０がＲＦフィルタ１００のカバー１２０にショートされる。

【0054】

ショートピン５１０の上部は、以下で説明するグリッパ７２０（図７参照）がつかむことができる大きさである。

【0055】

ショートピン５１０の下部５１５は、ショートホール１８０を通過できる厚さと共振素子１４０に当接できる長さを有し、ソートピン５１０の下部５１５は、ショートピン５１０の内部とバネで連結され、外部からの圧力が加わるとショートピンの下部５１５の一部がショートピン５１０の内部に入って長さが調整される。

【0056】

以上で説明したショートピンボックス５３０とネジカッター（図示せず）は、チューニング装置３３０が以下で説明する移送ロボット３５０を利用して移動できる範囲内に位置することになる。

【0057】

図６は、本発明の一実施形態に係るチューニング装置の斜視図を示したものである。図７は、本発明の一実施形態に係るチューニング装置のチューニングヘッドを図示したものである。以下では、図６及び図７に基づいて本実施形態に係るチューニング装置を説明する。

【0058】

チューニング装置３３０は、ＲＦフィルタ１００のカバー１２０をチューニングし、それぞれの共振素子１４０に合うようにチューニング領域１６０をチューニングする装置であり、移送ロボット３５０とチューニングヘッド３４０を含む。

【0059】

チューニングヘッド３４０は、ＲＦフィルタ１００をチューニングする装置であり、打撃器２１０、グリッパ７２０、７１０、及び変位センサ（図示せず）を含む。

【0060】

打撃器２１０は、ＲＦフィルタ１００のチューニング領域１６０に機械的衝撃を加えてチューニング領域１６０にドットパターンａを形成し、チューニング領域１６０とチューニング領域１６０下の共振素子１４０との間の距離を微細に狭めてＲＦフィルタ１００の周波数特性を調節する役割をする。

【0061】

打撃器２１０は、チューニング領域１６０を打撃する装置として、チューニング領域１６０を微細に打撃してＲＦフィルタ１００をチューニングするためのピン（Pin）形状に構成されており、上部は以下で説明するＺ軸本体６３０と連結されており、打撃器２１０がＺ軸方向（地面と垂直方向）に移動したり、チューニング領域１６０を打撃することができるようになる。

【0062】

グリッパ７２０は、ＲＦフィルタ１００のチューニングの過程において使用されるショートピン５１０をショートさせなければならない共振素子１４０の上のショートホール１８０に移動させたり、測定装置３１０の測定ピン５２０を、該当ポートの位置に移動させる場合に、ショートピン５１０または測定ピン５２０の上部を保持して移動させる役割をする。

【0063】

したがって、グリッパ７２０は、トング部分を含んでおり、ショートピン５１０や測定ピン５２０の上部を掴み取ることができる。このときに使用されるショートピン５１０や測定ピン５２０の上部は、グリッパ７２０が容易につかむことができる同一の形態及び大きさにすることが望ましい。

【0064】

締結器７１０は、ＲＦフィルタ１００の空洞１３０間のカップリングチューニング過程においてネジカッター（図示せず）によってカットされたネジをネジカッター（図示せず）からＲＦフィルタ１００の貫通孔１７０に移して貫通孔１７０に締結する役割をする。

【0065】

変位センサ（図示せず）は、チューニングヘッド３４０の現在位置を制御装置３２０に送信して制御装置３２０がチューニングヘッド３４０をＲＦフィルタ１００の上部の望む位置に移動できるようにする。

【0066】

また、変位センサ（図示せず）は、変位センサ（図示せず）から打撃器２１０、グリッパ７２０、及び締結器７１０が離れている距離を考慮し、打撃器２１０、グリッパ７２０、及び締結器７１０のチューニングヘット３４０の構成のうち、いずれかの構成が駆動するときに、ＲＦフィルタ１００の上部の正確な位置においてチューニング作業を実行できるようにする。

【0067】

移送ロボット３５０は、チューニングヘッド３４０と連結され、ＲＦフィルタ１００のカバー１２０のチューニング領域１６０に適合する数及び形状のドットパターンａを形成できるようにしたり、ショートピンをショートホール１８０に移送したり、カットされたネジを貫通孔１７０に締結するのために該当場所にチューニングヘッド３４０を移動させたりする装置である。

【0068】

移送ロボット３５０は、チューニングヘッド３４０がＲＦフィルタ１００が置かれた棚
の上にＲＦフィルタ１００の上部面及び地面と水平に動くようにする。

【0069】

移送ロボット３５０は、チューニングヘッド３４０が地面に水平のＸ軸方向と、地面に水平で、Ｘ軸に垂直のＹ軸方向に移動できるようにＸ本体６１０とＹ本体６２０を含む。
Ｙ軸本体６２０は、Ｙ軸方向に長く固定されたバー（Bar）形状の装置である。

【0070】

Ｘ軸本体６１０は、Ｘ軸方向に長く続くデバイスであり、Ｘ軸本体６１０の下部は、Ｙ軸本体６２０の上部に連結されてＸ軸本体６１０がＹ軸本体（620 ）に沿ってＹ軸方向を移動する。

【0071】

Ｘ軸本体６１０の上部または側面にはチューニングヘッド３４０が接続されており、チューニングヘッド３４０は、Ｘ軸本体に沿ってＸ軸方向を移動する。その結果、チューニングヘッド３４０は、移送ロボット３５０によってＲＦフィルタ１００をチューニングするためにＲＦフィルタ１００の上部の望む場所にＸ軸及びＹ軸方向に自在に移動できるようになる。

【0072】

チューニングヘッド３４０が移送ロボット３５０によってＸ軸方向、Ｙ軸方向、またはＸ軸方向とＹ軸方向のすべてを動く場合には、打撃器２１０、グリッパ７２０、または締結器７１０のようなチューニングヘッド３４０の一部構成がＲＦフィルタ１００の上部に触れてチューニングヘッド３４０のＸ、Ｙ方向の動きを妨げないようにＲＦフィルタ１００の上部と一定距離以上の間隔を維持する。

【0073】

移送ロボット３５０は、Ｚ軸本体６３０をさらに含むことができる。 Ｚ軸本体６３０は、チューニングヘッド３４０がＺ軸方向に移動できるように、Ｚ軸方向に長く延びた装置である。

【0074】

ただ、Ｚ軸本体６３０は、チューニングヘッド３４０の打撃器２１０、グリッパ７２０、及び締結器７１０毎に別個のＺ軸本体６３０を備えることが可能である。つまり、チューニング作業において打撃器２１０は、第1のＺ軸本体６４０に沿って移動し、締結器７１０は、第2のＺ軸本体６５０に沿って移動し、グリッパ７２０は、第3 Ｚ軸本体６６０に沿って移動し、それぞれが個別に移動するようになる。

【0075】

したがって、打撃器２１０、グリッパ７２０、あるいは締結器７１０のチューニングヘッド３４０の構成のうち、いずれかの構成がチューニング作業を実行する場合には、チューニング作業に必要な構成のみがＺ軸方向にフィルターに向かって降りてきてタスクを実行することが可能になる。

【0076】

チューニングヘッド３４０は、移送ロボット３５０によって自在に移動してＲＦフィルタ１００をチューニングでき、前記で説明した移送ロボット３５０は、一つの例示に過ぎないので、チューニングヘッド３４０を移動させることができる装置として、通常の技術者が容易に導き出すことができる範囲で他の形態への変形使用が可能である。

【0077】

図８は、本発明の一実施形態に係るＲＦフィルタの自動チューニングシステムを用いてのチューニング方法を説明するための図である。図９は、本発明の一実施形態に係るＲＦフィルタの自動チューニングシステムを用いてＲＦフィルタをチューニングする方法の概略的なフローチャートである。図１０は、本発明の一実施形態によるＲＦフィルタの空洞間のカップリング値をチューニングする過程についての詳細なフローチャートである。

【0078】

図１１は、本発明の一実施形態に係るＲＦフィルタの空洞の共振値をチューニングする過程についての詳細なフローチャートである。図１２は、本発明の一実施形態に係る図９
に開示された複数の空洞を含むＲＦフィルタのそれぞれの共振素子毎に共振素子間のカップリング値をチューニングする手順を示すフローチャートと、複数個の空洞を含むＲＦフィルタのそれぞれの空洞毎に空洞の共振値をチューニングする手順を示すフローチャートである。

【0079】

以下、図８〜図１２に基づいて、本実施形態に係るＲＦフィルタの自動チューニングシステムを利用したＲＦフィルタのチューニング方法を説明する。

【0080】

図８に示された3つの共振素子Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３と3つの共振素子のそれぞれに連結された3つの測定ポートＰ１、Ｐ２、Ｐ３を含む概略的なＲＦフィルタ１００に基づいてＲＦフィルタ１００をチューニングする過程を説明する。

【0081】

図９に図示されたようにＲＦフィルタ１００をチューニングする方法は大きく、空洞１３０と空洞１３０との間のカップリング値をチューニングする過程Ｓ１０００と、それぞれの空洞１３０の共振値をチューニングする過程Ｓ２０００を通じてＲＦフィルタが全体的にチューニングされる。

【0082】

図１０に示すように空洞１３０間のカップリング値をチューニングする過程Ｓ１０００は、カップリングの値を調整する一対の空洞１３０以外の空洞をショートさせ、該当空洞１３０間のカップリング値を求め、それに合ったネジを貫通孔１７０に締結する方式で進行する。

【0083】

カップリングウィンドウ１５０につながった2つの空洞１３０に測定装置を連結する過程Ｓ１１００を進行することで、一対の空洞１３０間のカップリング値をチューニングする過程が開始される。

【0084】

本実施例によると、測定装置３１０に接続された測定ピン５２０を測定しようとする一対の空洞Ｃ１、Ｃ２に連結された第1ポートＰ１と第2ポートＰ２に連結する。第1空洞Ｃ１と第2の空洞Ｃ２との間に必要なカップリング値を測定装置で求めるためである。

【0085】

測定装置３１０と連結された空洞１３０の周りの空洞を強制ショートする過程Ｓ１２００に進行する。

【0086】

本実施例によると、第2の空洞Ｃ２の周りに位置する第3空洞Ｃ３を強制ショートすることになる。カバー１２０の第3空洞Ｃ３に対応するショートホール１８０にショートピン５１０を注入し、第3空洞Ｃ３から発生する信号を隔離する。第1空洞Ｃ１と第2の空洞Ｃ２との間のカップリング値を測定するのに不要な変数を削除するためである。

【0087】

測定装置３１０と連結された空洞１３０間の離間距離を測定する過程Ｓ１３００に進行する。

【0088】

本実施例によると、第1ポートＰ１と第2ポートＰ２を通じて、第1空洞Ｃ１と第2の空洞Ｃ２の共振離間距離（coupling）を測定する。第1空洞Ｃ１と第2の空洞Ｃ２との間にカップリングウィンドウ１５０があり、測定が可能である。

【0089】

制御装置３２０は、測定装置３１０が連結された空洞１３０と空洞１３０との間の貫通孔１７０に締結されるべきネジの長さを計算する過程Ｓ１４００に進行する。

【0090】

本実施例によると、確認された共振離間距離を基準に、第1空洞Ｃ１と第2の空洞Ｃ２との間に締結されるべきネジの長さを計算する。制御装置３２０に格納された値と測定装置
３１０によって計算された値を比較して必要なネジの長さを計算する。

【0091】

ネジカッター（図示せず）は、ネジをカットする過程Ｓ１５００に進行する。制御装置３２０によって計算された値に基づいて、ネジカッターはネジが必要な長さを有するようにネジをカットする。

【0092】

締結器７１０は、カットされたネジを測定装置３１０が連結された空洞１３０と空洞１３０との間の貫通孔１７０に締結する過程Ｓ１６００に進行する。

【0093】

本実施例によると、第1空洞Ｃ１と第2の空洞Ｃ２との間の貫通孔１７０にカットされたネジを締結する。ネジカッター（図示せず）によってカットされたネジを貫通孔１７０に締結することで、第1空洞Ｃ１と第2の空洞Ｃ２との間のカップリング値の離間誤差が補正される。

【0094】

図１２の（ａ）に図示されたように、前記の過程Ｓ１１００〜Ｓ１６００において、残りの空洞間のカップリング値をチューニングする過程を進行することになる。図８に図示された実施例によると、この後にＲ２とＲ３との間のカップリング値を調整することになる。ただし、図８に図示されたのと異なり、より多くの空洞１３０、共振素子１４０、及びカップリングウィンドウ１６０を含むＲＦフィルタ１００の場合は、カップリングウィンドウ１６０につながったそれぞれの空洞１３０によるカップリング値をすべて求める。

【0095】

前記の方法でＲＦフィルタ１００内のカップリングウィンドウ１６０につながったそれぞれの空洞１３０内の共振素子１４０によるカップリング値をすべて求め、カットされたネジを貫通孔１７０に締結すると共振素子１４０間のカップリング値をチューニングする過程が完了する。

【0096】

ＲＦフィルタ１００内のすべての空洞１３０間のカップリングチューニング過程Ｓ１０００が完了すると、それぞれの空洞１３０の共振値をチューニングする過程Ｓ２０００が進行される。

【0097】

図１１に示すように、チューニングする空洞１３０に測定装置３１０を連結する過程Ｓ２１００を進行する。

【0098】

製品に内部信号を検出するためのものとして、本実施例によると、第1空洞Ｃ１の共振値を測定するために、第1空洞Ｃ１に接続された第1ポートＰ１に測定装置３１０の測定ピン５２０を連結する。

【0099】

チューニングする空洞１３０の周りの空洞を強制ショートする過程Ｓ２２００に進行する。

【0100】

本実施例によると、第1空洞Ｃ１の周りの第2および第3の空洞Ｃ２、Ｃ３を強制ショートするために第2および第3の空洞Ｃ２、Ｃ３の上部に位置するショートホール１８０にショートピン５１０を注入し、ショートピン５１０が、第2および第3の空洞Ｃ２、Ｃ３内の第2および第3の共振素子Ｒ２、Ｒ３と接するようにしてＲＦフィルタの第2及び第3の空洞Ｃ２、Ｃ３を強制ショートする。

【0101】

第1空洞Ｃ１の共振値を測定するために不要な変数を削除するためである。

【0102】

チューニングする空洞１３０の共振位置を確認する過程Ｓ２３００に進行する。

【0103】

本実施例によると、第1ポートＰ１と連結された測定装置３１０で第1空洞Ｃ１の共振位置を確認する。第1空洞Ｃ１の該当チューニング領域１６０に必要なチューニング値を計算するためである。

【0104】

チューニング装置３３０の打撃器２１０がＲＦフィルタ１００のチューニング領域１６０を打撃する過程Ｓ２４００に進行する。

【0105】

本実施例によると、制御装置３２０は、確認された共振位置を計算してチューニング装置３３０の打撃器２１０を用いて第1空洞Ｃ１の上部に位置するＲＦフィルタ１００カバーのチューニング領域１６０を打撃する。

【0106】

図２の（ｂ）に示すように打撃器２１０がチューニング領域１６０を打撃してドットパターンａを形成する打撃過程が進行し、第1共振素子Ｒ１とチューニング領域１６０との間の距離を調節する。

【0107】

【0108】

制御装置３２０は、打撃器２１０の打撃で測定装置３１０が連結された共振素子１４０から望む共振値が測定されると打撃を完了する過程Ｓ２５００に進行する。

【0109】

本実施例によると、ＲＦフィルタ１００のチューニング領域１６０にドットパターンａが形成され、第1空洞Ｃ１から望まれる共振値が測定装置３１０から測定されたと該当チューニング領域１６０における打撃を完了する。これにより、第1空洞Ｃ１に対するチューニングが完了する。

【0110】

図１２の（ｂ）に示すように、第1空洞Ｃ１の共振値チューニングが完了すると、前記の方法Ｓ２１００〜２５００で、残りの空洞Ｃ２、Ｃ３に対しても共振値をチューニングする過程Ｓ２０００に進行する。

【0111】

ただし、図８に示された場合と異なり、より多くの空洞１３０を含むＲＦフィルタ１００の場合は、すべての空洞１３０のそれぞれに応じた共振値をすべて求める。前記の方法で、すべての空洞１３０の共振値チューニングが完了すると、ＲＦフィルタ１００全体に対するチューニングが完了する。

【0112】

本実施例は、本発明の技術思想を限定するためのものではなく説明するためのものであり、従って、本実施例により、本発明の権利範囲が限定されるものではない。本発明の保護範囲は、特許請求の範囲によって解釈されるべきであり、それと同等か、均等であると認められるすべての技術思想は、本発明の権利範囲に含まれるものと解釈されるべきである。

【符号の説明】

【0113】

100：ＲＦフィルタ 110：導電性コンテナ

【0114】

120：カバー 140：共振素子

【0115】

160：チューニング領域 210：打撃器

【0116】

300：ＲＦフィルタの自動チューニングシステム 310：測定装置

【0117】

320：制御装置 330：チューニング装置

【0118】

340：チューニングヘッド 350：移送ロボット

【0119】

710：締結器 720：グリップ

【0120】

【0121】

CROSS-REFERENCE TO RELATED APPLICATION

【0122】

本特許出願は、2015年10月05日韓国に出願した特許出願番号第10-2015-0139895号について、米国特許法119（ａ）条（35 USC§119（ａ））に基づいて優先権を主張し、そのすべての内容は、参考文献として本特許出願に併合される。さらに、本特許出願は、米国以外の国に対しても前記と同じ理由で優先権を主張し、そのすべての内容は、参考文献として本特許出願に併合される。

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【国際調査報告】