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山一電機株式会社商標一覧

2024年11月13日更新

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商標ランキング2012年 111位(2件)  前年 位(件)
総区分数2区分1商標あたりの平均区分数1区分
類似群コード最頻出10B01... (出現率100%)区分組み合わせ最頻出区分組み合せマップ
指定商品・指定役務総数641商標あたりの平均数32
称呼パターン 称呼傾向マップ(先頭末尾) 先頭2音 組み合わせ 1位イー (出現率50%)
1位ホー (出現率50%)
称呼傾向マップ(先頭末尾) 先頭末尾音 組み合せ 1位イト (出現率50%)
1位イル (出現率50%)
1位ホク (出現率50%)
1位ホト (出現率50%)

山一電機株式会社2012年の商標登録

2件
直近の商標登録(2024年11月13日発行公報):商標登録 0件 総区分数 0 指定商品・指定役務数 0詳細
番号・日付 商標 称呼 区分
指定商品・指定役務
類似群コード
登録5485898
登録日:2012年4月13日
商標ランキング 出願から8ヵ月
出願日:2011年8月12日
商願2011-58194
商標登録5485898
ホークコンタクト
ホーク
9類
半導体検査工程における半導体特定部位の電気的特性を測定するためのプローブピン 半導体検査工程における半導体特定部位の電気的特性を測定するためのプローブ(接触部分をコイルばねによって弾性付勢しているもの) ICソケット 半導体検査用探針 半導体検査用プローブカード 続く…
10B01(第9類) 10C01(第9類) 11A01(第9類) 11A04(第9類) 11A05(第9類) 続く
登録5485897
登録日:2012年4月13日
商標ランキング 出願から8ヵ月
出願日:2011年8月12日
商願2011-58193
商標登録5485897
イーグルコンタクト
イーグル
9類
半導体検査工程における半導体特定部位の電気的特性を測定するためのプローブピン 半導体検査工程における半導体特定部位の電気的特性を測定するためのプローブ(接触部分をコイルばねによって弾性付勢しているもの) ICソケット 半導体検査用探針 半導体検査用プローブカード 続く…
10B01(第9類) 10C01(第9類) 11A01(第9類) 11A04(第9類) 11A05(第9類) 続く

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