2011年
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商標取得件数推移
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称呼傾向マップ 先頭2音ＴＯＰＣＯＮ ＣＯＲＰＯＲＡＴＩＯＮ2011年の商標登録
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| 番号・日付 | 商標 | 称呼 | 区分 指定商品・指定役務 |
類似群コード |
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9類
半導体ウェハ分析検査装置
走査型電子顕微鏡
光学顕微鏡
干渉計
レーザ干渉計
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10B01(第9類) 10C01(第9類) 11C01(第9類) | ||
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9類
検眼機械器具に用いられるコンピュータプログラム
電子応用機械器具及びその部品
測定機械器具
理化学機械器具
10類
検眼機械器具
医療用機械器具
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10A01(第9類) 10C01(第9類) 11C01(第9類) 10D01(第10類) | ||
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9類
検眼機械器具に用いられるコンピュータプログラム
電子応用機械器具及びその部品
測定機械器具
理化学機械器具
10類
検眼機械器具
医療用機械器具
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10A01(第9類) 10C01(第9類) 11C01(第9類) 10D01(第10類) |
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