2011年
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称呼傾向マップ 先頭2音スタッツ チップパック リミテッド2011年の商標登録
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全区分 第1類 第2類 第3類 第4類 第5類 第6類 第7類 第8類 第9類 第10類 第11類 第12類 第13類 第14類 第15類 第16類 第17類 第18類 第19類 第20類 第21類 第22類 第23類 第24類 第25類 第26類 第27類 第28類 第29類 第30類 第31類 第32類 第33類 第34類 第35類 第36類 第37類 第38類 第39類 第40類 第41類 第42類 第43類 第44類 第45類
| 番号・日付 | 商標 | 称呼 | 区分 指定商品・指定役務 |
類似群コード |
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40類
他人のためのセミコンダクター・セミコンダクターチップ又は半導体デバイス・集積回路又はこれらの統合型パッケージ及び集積回路チップ又は集積回路デバイスの組立加工
セミコンダクター・セミコンダクターチップ又は半導体デバイス・集積回路又はこれらの統合型パッケージ及び集積回路チップ又は集積回路デバイスの組立加工に関する助言
42類
コンピュータソフトウェアの設計・作成又は保守
セミコンダクター・セミコンダクターチップ又は半導体デバイス・集積回路又はこれらの統合型パッケージ及び集積回路チップ又は集積回路デバイスに関する検査
セミコンダクター・セミコンダクターチップ又は半導体デバイス・集積回路又はこれらの統合型パッケージ及び集積回路チップ又は集積回路デバイスの検査に関する助言
他人のためのセミコンダクター・セミコンダクターチップ又は半導体デバイスを検査するための計測器の貸与
セミコンダクター・セミコンダクターチップ又は半導体デバイス・集積回路又はこれらの統合型パッケージ及び集積回路チップ又は集積回路デバイスのための検査装置の開発
続く…
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40C01(第40類) 40H99(第40類) 42N03(第42類) 42P01(第42類) 42P02(第42類) 続く | ||
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40類
他人のためのセミコンダクター・セミコンダクターチップ又は半導体デバイス・集積回路又はこれらの統合型パッケージ及び集積回路チップ又は集積回路デバイスの組立加工
セミコンダクター・セミコンダクターチップ又は半導体デバイス・集積回路又はこれらの統合型パッケージ及び集積回路チップ又は集積回路デバイスの組立加工に関する助言
42類
コンピュータソフトウェアの設計・作成又は保守
セミコンダクター・セミコンダクターチップ又は半導体デバイス・集積回路又はこれらの統合型パッケージ及び集積回路チップ又は集積回路デバイスに関する検査
セミコンダクター・セミコンダクターチップ又は半導体デバイス・集積回路又はこれらの統合型パッケージ及び集積回路チップ又は集積回路デバイスの検査に関する助言
他人のためのセミコンダクター・セミコンダクターチップ又は半導体デバイスを検査するための計測器の貸与
セミコンダクター・セミコンダクターチップ又は半導体デバイス・集積回路又はこれらの統合型パッケージ及び集積回路チップ又は集積回路デバイスのための検査装置の開発
続く…
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40C01(第40類) 40H99(第40類) 42N03(第42類) 42P01(第42類) 42P02(第42類) 続く |
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