特開 2015-125096 フレキシブル回路基板の耐折り曲げ性試験装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】特開2015-125096(P2015-125096A)

(43)【公開日】2015年7月6日

(54)【発明の名称】フレキシブル回路基板の耐折り曲げ性試験装置

(51)【国際特許分類】

   G01N 3/34 20060101AFI20150609BHJP

   H05K 3/00 20060101ALI20150609BHJP

【ＦＩ】

   G01N3/34 C

   H05K3/00 V

【審査請求】未請求

【請求項の数】11

【出願形態】ＯＬ

【全頁数】26

(21)【出願番号】特願2013-271110(P2013-271110)

(22)【出願日】2013年12月27日

(71)【出願人】

【識別番号】000006644

【氏名又は名称】新日鉄住金化学株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100107559

【弁理士】

【氏名又は名称】星宮 勝美

(74)【代理人】

【識別番号】100115118

【弁理士】

【氏名又は名称】渡邊 和浩

(74)【代理人】

【識別番号】100166257

【弁理士】

【氏名又は名称】城澤 達哉

(72)【発明者】

【氏名】重松 桜子

(72)【発明者】

【氏名】大野 真

【テーマコード（参考）】

2G061

【Ｆターム（参考）】

2G061AA07

2G061AB05

2G061BA01

2G061BA15

2G061CA16

2G061CB01

2G061CB16

2G061CC01

2G061DA01

2G061EA10

2G061EB03

2G061EC01

(57)【要約】

【課題】二つ折りに折り曲げて使用され得るフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性の試験を、多様な態様で行うことができるようにする。
【解決手段】耐折り曲げ性試験装置は、フレキシブル回路基板を折り曲げる動作と、折り曲げられたフレキシブル回路基板を展開する動作とが可能な折り曲げ機構１０と、フレキシブル回路基板を挟み込む挟み込み機構２０と、折り曲げ機構１０の動作と挟み込み機構２０の動作とを組み合わせた一連の試験動作の内容の設定を可能にする動作設定部６０と、動作設定部６０によって設定された内容に従って折り曲げ機構１０と挟み込み機構２０を制御する動作制御部７０とを備えている。
【選択図】図６

【特許請求の範囲】

【請求項1】

折り曲げられるフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性の試験を行うためのフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性試験装置であって、
フレキシブル回路基板を折り曲げる動作と、折り曲げられた前記フレキシブル回路基板を展開する動作とが可能な折り曲げ機構と、
前記フレキシブル回路基板を挟み込む挟み込み機構と、
前記折り曲げ機構の動作と前記挟み込み機構の動作とを組み合わせた一連の試験動作の内容の設定を可能にする動作設定部と、
前記動作設定部によって設定された内容に従って前記折り曲げ機構と前記挟み込み機構を制御する動作制御部とを備え、
前記挟み込み機構は、前記フレキシブル回路基板が載置されるステージと、前記ステージの上方に配置されて上下動可能な接触子とを有し、
前記動作設定部は、前記ステージに載置された前記フレキシブル回路基板を前記折り曲げ機構によって折り曲げる折り曲げ動作と、折り曲げられた前記フレキシブル回路基板を前記折り曲げ機構によって展開する展開動作との組み合わせを、繰り返し実行される基本動作とし、前記折り曲げ動作の後で、折り曲げられた前記フレキシブル回路基板の折り曲げ部を前記ステージと接触子によって挟み込む第１の挟み込み動作と、前記展開動作の後で、前記フレキシブル回路基板のうち展開前に前記折り曲げ部であった部分を前記ステージと接触子によって挟み込む第２の挟み込み動作とを追加可能な動作とし、前記第１の挟み込み動作の追加の有無と、前記第２の挟み込み動作の追加の有無とを設定可能であることを特徴とするフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性試験装置。

【請求項2】

前記動作設定部は、更に、前記基本動作の繰り返し回数の上限値を設定可能であることを特徴とする請求項１記載のフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性試験装置。

【請求項3】

前記動作設定部は、更に、前記第１および第２の挟み込み動作時において前記フレキシブル回路基板に印加する荷重の大きさを設定可能であることを特徴とする請求項１または２記載のフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性試験装置。

【請求項4】

前記動作設定部は、更に、前記第１および第２の挟み込み動作時における前記ステージと接触子の間隔を設定可能であることを特徴とする請求項１ないし３のいずれかに記載のフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性試験装置。

【請求項5】

前記接触子は、前記フレキシブル回路基板の折り曲げ部の一部にのみ接触する大きさを有し、
前記第１の挟み込み動作では、前記折り曲げ部における前記接触子の接触位置を変化させることを特徴とする請求項１ないし４のいずれかに記載のフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性試験装置。

【請求項6】

前記動作設定部は、更に、前記折り曲げ部における前記接触子の接触位置の往復移動の回数を設定可能であることを特徴とする請求項５記載のフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性試験装置。

【請求項7】

前記第２の挟み込み動作では、前記フレキシブル回路基板のうち展開前に前記折り曲げ部であった部分における前記接触子の接触位置を変化させることを特徴とする請求項５または６記載のフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性試験装置。

【請求項8】

前記動作設定部は、更に、前記フレキシブル回路基板のうち展開前に前記折り曲げ部であった部分における前記接触子の接触位置の往復移動の回数を設定可能であることを特徴とする請求項７記載のフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性試験装置。

【請求項9】

前記折り曲げ機構は、前記フレキシブル回路基板において前記折り曲げ部となる部分を挟む２箇所のうちの一方を前記ステージに固定する固定部と、前記２箇所のうちの他方を支持する支持部と、所定の中心軸を中心として前記固定部に対して前記支持部を回転させる回転装置とを有し、
前記動作設定部は、更に、前記折り曲げ動作時に前記回転装置によって前記支持部を回転させる角度を設定可能であることを特徴とする請求項１ないし８のいずれかに記載のフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性試験装置。

【請求項10】

前記フレキシブル回路基板は、パターン化された導体よりなる配線部と、前記配線部を保持する保持部とを備え、
耐折り曲げ性試験装置は、更に、前記配線部の抵抗値を測定する抵抗測定器を備えたことを特徴とする請求項１ないし９のいずれかに記載のフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性試験装置。

【請求項11】

前記折り曲げ機構は、複数のフレキシブル回路基板を折り曲げる動作と、折り曲げられた複数のフレキシブル回路基板を展開する動作とが可能であり、
前記挟み込み機構は、複数のフレキシブル回路基板を挟み込むことが可能であることを特徴とする請求項１ないし１０のいずれかに記載のフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性試験装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、フレキシブル回路基板の耐折り曲げ性の試験を行うためのフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性試験装置に関する。

【背景技術】

【0002】

近年、携帯電話機、ノート型パーソナルコンピュータ、ハードディスク装置、光ピックアップ装置、プリンタ等の電子機器において、フレキシブル回路基板が広く利用されている。フレキシブル回路基板は、折り曲げて使用することができることから、電子機器において繰り返し折り曲げられる部分に使用されたり、配線の省スペース化のために折り曲げられた状態で電子機器内に収納されたりする。このようなフレキシブル回路基板には、高い耐屈曲性や高い耐折性が要求される。

【0003】

フレキシブル回路基板の耐屈曲性や耐折性を評価するための試験としては、ＩＰＣ規格による耐屈曲性試験（以下、ＩＰＣ試験と記す。）とＪＩＳ（日本工業規格）で規定されたＭＩＴ法による耐折性試験（以下、ＭＩＴ試験と記す。）が知られている。ＩＰＣ試験は、Ｕ字形状に屈曲させたフレキシブル回路基板の長手方向の一端部を固定し、他端部をフレキシブル回路基板の長手方向に往復運動させることによって行われる。ＭＩＴ試験は、引っ張り荷重を加えた状態のフレキシブル回路基板の折り曲げ動作を繰り返すことによって行われる。

【0004】

また、特許文献１には、ステージ上に載置されたフレキシブル回路基板を、フレキシブル回路基板中の所定の位置で折り曲げるステップと、ステージの上方において上下に移動可能な接触子によって、折り曲げられたフレキシブル回路基板の上記所定の位置の近傍に、予め設定された一定の荷重を印加するステップと、折り曲げられたフレキシブル回路基板を展開するステップと、展開されたフレキシブル回路基板の上記所定の位置の近傍に、上記接触子によって荷重を印加するステップを繰り返す試験装置および方法が記載されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0005】

【特許文献1】特開２００７−１０３８４３号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0006】

フレキシブル回路基板の使用態様の一つとしては、二つ折りに折り曲げられた状態で、所定の大きさのギャップ内に収納される態様がある。「二つ折り」という折り曲げ方は、「はぜ折り」または「１８０°折り曲げ」とも呼ばれる。以下、二つ折りに折り曲げられたフレキシブル回路基板の態様を、二つ折り態様と呼ぶ。この二つ折り態様では、フレキシブル回路基板の折り曲げ部分は一定の部分であり、この折り曲げ部分に大きな応力が生じる。

【0007】

二つ折り態様で使用されるフレキシブル回路基板の信頼性すなわち耐折り曲げ性を適切に評価するには、実際に使用されたときの態様に近い状態になるようにフレキシブル回路基板を折り曲げて試験を行う必要がある。

【0008】

ＩＰＣ試験とＭＩＴ試験は、いずれも、二つ折り態様とは異なる態様でフレキシブル回路基板を変形させて試験を行うため、二つ折り態様で使用されるフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性を適切に評価するのには適していない。すなわち、ＩＰＣ試験では、フレキシブル回路基板において、大きな応力が生じる屈曲部が一定の部分ではなく、前述の往復運動に伴って移動する。ＭＩＴ試験では、フレキシブル回路基板は、一定の部分を中心して一方向（片側）に対しては１８０°よりも小さい角度でしか曲げられない。そのため、ＭＩＴ試験は、フレキシブル回路基板に折り目を付けるような厳しい試験態様とは異なるものであった。

【0009】

このように、二つ折り態様で使用されるフレキシブル回路基板では、他の態様で使用されるフレキシブル回路基板に比べて、高い耐折り曲げ性が要求される。この要求に応じて、フレキシブル回路基板の耐折り曲げ性が向上してくると、ＩＰＣ試験やＭＩＴ試験によってフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性を評価しようとすると、長時間の測定が必要になる。

【0010】

特許文献１に記載された試験方法は、二つ折り態様でフレキシブル回路基板を折り曲げて試験を行うため、二つ折り態様で使用されるフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性を評価するのに適している。

【0011】

しかし、特許文献１に記載された試験装置では、印加する荷重の大きさを設定することはできるものの、フレキシブル回路基板の形状、剛性、用途等に応じた多様な試験を行うことができないという問題点があった。

【0012】

本発明はかかる問題点に鑑みてなされたもので、その目的は、二つ折りに折り曲げて使用され得るフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性の試験を、多様な態様で行うことができるようにしたフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性試験装置を提供することにある。

【課題を解決するための手段】

【0013】

本発明のフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性試験装置は、折り曲げられるフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性の試験を行うための装置である。本発明の試験装置は、フレキシブル回路基板を折り曲げる動作と、折り曲げられたフレキシブル回路基板を展開する動作とが可能な折り曲げ機構と、フレキシブル回路基板を挟み込む挟み込み機構と、折り曲げ機構の動作と挟み込み機構の動作とを組み合わせた一連の試験動作の内容の設定を可能にする動作設定部と、動作設定部によって設定された内容に従って折り曲げ機構と挟み込み機構を制御する動作制御部とを備えている。挟み込み機構は、フレキシブル回路基板が載置されるステージと、ステージの上方に配置されて上下動可能な接触子とを有している。

【0014】

動作設定部は、折り曲げ動作と展開動作との組み合わせを、繰り返し実行される基本動作とし、第１の挟み込み動作と第２の挟み込み動作とを追加可能な動作とし、第１の挟み込み動作の追加の有無と、第２の挟み込み動作の追加の有無とを設定可能である。折り曲げ動作は、ステージに載置されたフレキシブル回路基板を折り曲げ機構によって折り曲げる。展開動作は、折り曲げられたフレキシブル回路基板を折り曲げ機構によって展開する。第１の挟み込み動作は、折り曲げ動作の後で、折り曲げられたフレキシブル回路基板の折り曲げ部をステージと接触子によって挟み込む。第２の挟み込み動作は、展開動作の後で、フレキシブル回路基板のうち展開前に折り曲げ部であった部分をステージと接触子によって挟み込む。

【0015】

本発明の試験装置において、動作設定部は、更に、基本動作の繰り返し回数の上限値を設定可能であってもよい。

【0016】

また、本発明の試験装置において、動作設定部は、更に、第１および第２の挟み込み動作時においてフレキシブル回路基板に印加する荷重の大きさを設定可能であってもよい。

【0017】

また、本発明の試験装置において、動作設定部は、更に、第１および第２の挟み込み動作時におけるステージと接触子の間隔を設定可能であってもよい。

【0018】

また、本発明の試験装置において、接触子は、フレキシブル回路基板の折り曲げ部の一部にのみ接触する大きさを有していてもよい。この場合、第１の挟み込み動作では、折り曲げ部における接触子の接触位置を変化させてもよい。また、この場合、動作設定部は、更に、折り曲げ部における接触子の接触位置の往復移動の回数を設定可能であってもよい。

【0019】

接触子が、フレキシブル回路基板の折り曲げ部の一部にのみ接触する大きさを有している場合、第２の挟み込み動作では、フレキシブル回路基板のうち展開前に折り曲げ部であった部分における接触子の接触位置を変化させてもよい。この場合、動作設定部は、更に、フレキシブル回路基板のうち展開前に折り曲げ部であった部分における接触子の接触位置の往復移動の回数を設定可能であってもよい。

【0020】

また、本発明の試験装置において、折り曲げ機構は、フレキシブル回路基板において折り曲げ部となる部分を挟む２箇所のうちの一方をステージに固定する固定部と、２箇所のうちの他方を支持する支持部と、所定の中心軸を中心として固定部に対して支持部を回転させる回転装置とを有していてもよい。この場合、動作設定部は、更に、折り曲げ動作時に回転装置によって支持部を回転させる角度を設定可能であってもよい。

【0021】

また、フレキシブル回路基板は、パターン化された導体よりなる配線部と、配線部を保持する保持部とを備え、本発明の試験装置は、更に、配線部の抵抗値を測定する抵抗測定器を備えていてもよい。

【0022】

また、本発明の試験装置において、折り曲げ機構は、複数のフレキシブル回路基板を折り曲げる動作と、折り曲げられた複数のフレキシブル回路基板を展開する動作とが可能であってもよい。この場合、挟み込み機構は、複数のフレキシブル回路基板を挟み込むことが可能であってもよい。

【発明の効果】

【0023】

本発明のフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性試験装置では、動作設定部は、繰り返し実行される基本動作に対する第１の挟み込み動作の追加の有無と第２の挟み込み動作の追加の有無とを設定可能である。これにより、本発明によれば、二つ折りに折り曲げて使用され得るフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性の試験を、多様な態様で行うことが可能になるという効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【0024】

【図1】本発明の第１の実施の形態に係るフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性試験装置の正面図である。

【図2】図１に示した試験装置の一部を示す斜視図である。

【図3】図１に示した試験装置の一部を示す正面図である。

【図4】図１に示した試験装置の一部を示す側面図である。

【図5】図１に示した試験装置のステージを示す平面図である。

【図6】図１に示した試験装置の動作設定部および動作制御部の構成を示すブロック図である。

【図7】図１に示した試験装置の試験対象のフレキシブル回路基板の平面図である。

【図8】図７に示したフレキシブル回路基板の配線部を拡大して示す平面図である。

【図9】図７に示したフレキシブル回路基板の一部を示す断面図である。

【図10】本発明の第１の実施の形態におけるフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性試験方法を示すフローチャートである。

【図11】本発明の第１の実施の形態における動作設定手順を示すフローチャートである。

【図12】本発明の第１の実施の形態における動作設定部の設定入力部の表示画面の第１の状態を示す説明図である。

【図13】本発明の第１の実施の形態における動作設定部の設定入力部の表示画面の第２の状態を示す説明図である。

【図14】本発明の第１の実施の形態におけるフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性試験方法における一手順を示す説明図である。

【図15】図１４に示した手順に続く手順を示す説明図である。

【図16】図１５に示した手順に続く手順を示す説明図である。

【図17】図１６に示した手順に続く手順を示す説明図である。

【図18】図１７に示した手順に続く手順を示す説明図である。

【図19】本発明の第２の実施の形態に係るフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性試験装置のステージを示す平面図である。

【発明を実施するための形態】

【0025】

［第１の実施の形態］
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。始めに、図１ないし図５を参照して、本発明の第１の実施の形態に係るフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性試験装置（以下、単に、試験装置と記す。）の構成について説明する。図１は、本実施の形態に係る試験装置の正面図である。図２は、図１に示した試験装置の一部を示す斜視図である。図３は、図１に示した試験装置の一部を示す正面図である。図４は、図１に示した試験装置の一部を示す側面図である。図５は、図１に示した試験装置のステージを示す平面図である。

【0026】

本実施の形態に係る試験装置１は、折り曲げられるフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性の試験を行うための装置である。この試験装置１は、複数のフレキシブル回路基板に対して同時に試験を行うことが可能である。以下、主に、試験装置１が３つのフレキシブル回路基板に対して同時に試験を行う場合を例にとって説明する。図１ないし図４に示したように、試験装置１は、上面２ａを有するベース２と、このベース２の上面２ａの一部から上方に延びる支柱部３と、試験装置１の一部を収容する筐体４と、制御装置５とを備えている。なお、図２ないし図４では、筐体４の図示を省略している。

【0027】

ここで、Ｘ方向、Ｙ方向、Ｚ方向を以下のように定義する。Ｘ方向とＹ方向は、ベース２の上面２ａに平行で、且つ互いに直交する方向である。Ｘ方向は、図１および図３における左右方向である。Ｙ方向は、図４における左右方向である。Ｚ方向は、ベース２の上面２ａに垂直な方向である。支柱部３は、上方から見てＸ方向に長い形状を有し、ベース２の上面２ａにおけるＹ方向の中央部分から上方に延びている。

【0028】

試験装置１は、更に、折り曲げ機構１０と、挟み込み機構２０とを備えている。折り曲げ機構１０は、フレキシブル回路基板を折り曲げる動作と、折り曲げられたフレキシブル回路基板を展開する動作とが可能である。挟み込み機構２０は、フレキシブル回路基板を挟み込むものである。

【0029】

以下、折り曲げ機構１０および挟み込み機構２０について詳しく説明する。始めに、図２ないし図５を参照して、挟み込み機構２０について詳しく説明する。本実施の形態では特に、挟み込み機構２０は、複数のフレキシブル回路基板を挟み込むことが可能である。挟み込み機構２０は、フレキシブル回路基板が載置されるステージ２１と、ステージ２１の上方に配置されて、上下動可能な１つ以上の接触子２２とを有している。ステージ２１は、上面２１ａを有している。図５に示したように、ステージ２１は、Ｘ方向に長い形状を有している。ステージ２１は、複数（図５に示した例では４つ）のフレキシブル回路基板を載置することができる大きさを有している。

【0030】

また、ステージ２１は、ステージ本体２１１と、絶縁材料よりなる絶縁部２１２とを有している。ステージ本体２１１は、上面と、この上面で開口し、絶縁部２１２を収容する溝部とを有している。ステージ本体２１１の溝部は、Ｘ方向に延びている。絶縁部２１２は、ステージ本体２１１の溝部内に収容されている。また、絶縁部２１２は、上面を有している。ステージ２１の上面２１ａは、ステージ本体２１１の上面と絶縁部２１２の上面によって構成されている。

【0031】

図２ないし図５に示したように、挟み込み機構２０は、更に、プレート２３と、このプレート２３をＸ方向に移動可能な駆動装置２４と、プレート２３をＸ方向に案内する案内機構２５とを有している。駆動装置２４は、ボールねじ、ステッピングモータ等によって構成され、ベース２の上面２ａ上に配置されている。ステージ２１は、プレート２３に取り付けられている。従って、ステージ２１は、Ｘ方向に移動可能である。なお、プレート２３がＸ方向およびＹ方向に移動可能になるように駆動装置および案内機構を構成して、ステージ２１をＸ方向およびＹ方向に移動可能にしてもよいし、プレート２３がＸ方向、Ｙ方向およびＺ方向に移動可能になるように駆動装置および案内機構を構成して、ステージ２１をＸ方向、Ｙ方向およびＺ方向に移動可能にしてもよい。

【0032】

接触子２２の数は、試験装置１が同時に試験するフレキシブル回路基板の数に合わせてもよい。図２および図３には、特に、接触子２２の数が３つである例を示している。３つの接触子２２は、ステージ２１の上方においてＸ方向に並ぶように配置されている。以下、３つの接触子２２を互いに区別して表す場合には、図３における左から順に符号２２Ａ，２２Ｂ，２２Ｃを付して表す。

【0033】

挟み込み機構２０は、更に、３つの接触子２２Ａ，２２Ｂ，２２Ｃを支持する３つの接触子支持部２６Ａ，２６Ｂ，２６Ｃと、支柱部３の壁面に設置された３つの駆動装置２７Ａ，２７Ｂ，２７Ｃと、３つの荷重センサ２８Ａ，２８Ｂ，２８Ｃとを有している。接触子支持部２６Ａ，２６Ｂ，２６Ｃは、それぞれ駆動装置２７Ａ，２７Ｂ，２７Ｃに連結されている。

【0034】

荷重センサ２８Ａは、接触子支持部２６Ａの下端部に取り付けられ、接触子２２Ａは、この荷重センサ２８Ａの下端部に取り付けられている。荷重センサ２８Ｂは、接触子支持部２６Ｂの下端部に取り付けられ、接触子２２Ｂは、この荷重センサ２８Ｂの下端部に取り付けられている。荷重センサ２８Ｃは、接触子支持部２６Ｃの下端部に取り付けられ、接触子２２Ｃは、この荷重センサ２８Ｃの下端部に取り付けられている。

【0035】

駆動装置２７Ａ〜２７Ｃは、それぞれ、ボールねじ、ステッピングモータ等によって構成され、接触子支持部２６Ａ〜２６ＣをＺ方向に移動可能である。これにより、接触子２２Ａ〜２２Ｃは、Ｚ方向に移動可能である。荷重センサ２８Ａ〜２８Ｃは、それぞれ、接触子支持部２６Ａ〜２６Ｃに着脱自在になっていてもよい。荷重センサ２８Ａ〜２８Ｃは、それぞれ、接触子２２Ａ〜２２Ｃが、それに接触する物に対して加えるＺ軸方向の荷重を検出し、その荷重の検出値を電気信号として出力する。荷重センサ２８Ａ〜２８Ｃとしては、例えば、ピエゾ抵抗効果を利用した高感度、高精度、高レスポンスの半導体荷重センサを使用することができる。

【0036】

後で詳しく説明するが、接触子２２Ａ〜２２Ｃは、ステージ２１上に載置されたフレキシブル回路基板に接触する。接触子２２Ａ〜２２Ｃは、例えば、円柱状のローラでもよいし、ブロック形状の部材や、フレキシブル回路基板に接触する面が湾曲している形状の部材でもよい。接触子２２Ａ〜２２Ｃがローラの場合には、ローラの直径は、例えば２０〜２５ｍｍの範囲内である。

【0037】

本実施の形態では、１つのフレキシブル回路基板に対して、１組の接触子、接触子支持部、駆動装置および荷重センサが用意される。図１ないし図４に示した試験装置１では、複数のフレキシブル回路基板に対して同時に試験を行うことができるように、複数組の接触子、接触子支持部、駆動装置および荷重センサを設けることができるようになっている。図１ないし図３には、特に、３組の接触子、接触子支持部、駆動装置および荷重センサを設けた例を示している。

【0038】

次に、図２ないし図５を参照して、折り曲げ機構１０について詳しく説明する。本実施の形態では特に、折り曲げ機構１０は、複数のフレキシブル回路基板を折り曲げる動作と、折り曲げられた複数のフレキシブル回路基板を展開する動作とが可能である。折り曲げ機構１０は、１つ以上の固定部１１と、支持部１２と、回転装置１３とを有している。フレキシブル回路基板が折り曲げられる際には、フレキシブル回路基板の特定の位置を中心として、フレキシブル回路基板の一部が、フレキシブル回路基板の他の部分に対して回転させられる。固定部１１は、フレキシブル回路基板において折り曲げ部となる部分を挟む２箇所のうちの一方（以下、被固定部と言う。）をステージ２１に固定する。支持部１２は、上記２箇所のうちの他方（以下、被支持部と言う。）を支持する。なお、フレキシブル回路基板の折り曲げ部とは、フレキシブル回路基板のうちの、上記の特定の位置およびその近傍の部分であって、折り曲げられる前に比べて大きく変形している部分である。

【0039】

固定部１１は、例えば、ステージ２１の上面２１ａとの間にフレキシブル回路基板の被固定部を挟むことにより、フレキシブル回路基板をステージ２１に固定する。固定部１１の数は、試験装置１が同時に試験するフレキシブル回路基板の数に合わせてもよい。図２、図３および図５には、特に、固定部１１の数が３つである例を示している。３つの固定部１１は、ステージ２１の上面２１ａにおいてＸ方向に並ぶように配置されている。また、３つの固定部１１は、それぞれ、ステージ本体２１１の上面と絶縁部２１２の上面にまたがって配置されている。

【0040】

図５に示したように、支持部１２は、２つの脚部１２Ａ，１２Ｂと、１つの基板取り付け部１２Ｃとを有している。折り曲げ機構１０は、更に、２つの回転支持部１４Ａ，１４Ｂを有している。２つの回転支持部１４Ａ，１４Ｂは、互いにＸ方向に離れた位置においてプレート２３に取り付けられ、２つの脚部１２Ａ，１２Ｂのそれぞれの一端の近傍部分を回転可能に支持している。基板取り付け部１２Ｃは、２つの脚部１２Ａ，１２Ｂの他端の近傍部分同士を連結している。図５に示したように、基板取り付け部１２Ｃは、Ｘ方向に長い形状を有している。基板取り付け部１２Ｃは、複数（図５に示した例では４つ）のフレキシブル回路基板を支持することができる大きさを有している。

【0041】

回転装置１３は、所定の中心軸Ｃを中心として１つ以上の固定部１１に対して支持部１２を回転させるものである。図２および図４において、記号Ｒを付した曲線の矢印は、支持部１２が図２および図４に示した状態から回転する方向を示している。支持部１２は、ほぼ１８０度回転可能である。支持部１２の２つの脚部１２Ａ，１２Ｂは、支持部１２が回転した際にステージ２１に接触しないように、ステージ２１のＸ方向の外側に配置されている。

【0042】

回転装置１３は、プレート２３に取り付けられている。図５には、回転装置１３の構成の一例を示している。この例では、回転装置１３は、ステッピングモータ１３Ａと、連結機構１３Ｂと、タイミングプーリ１３Ｃ，１３Ｄと、タイミングベルト１３Ｅとを含んでいる。連結機構１３Ｂは、その一端部が支持部１２の脚部１２Ａに連結され、所定の中心軸Ｃを中心として回転する図示しない軸部を有している。タイミングプーリ１３Ｃは、ステッピングモータ１３Ａの回転軸に取り付けられている。タイミングプーリ１３Ｄは、連結機構１３Ｂの図示しない軸部の他端部に取り付けられている。タイミングベルト１３Ｅは、タイミングプーリ１３Ｃ，１３Ｄ間に掛け渡されている。

【0043】

フレキシブル回路基板の被支持部は、例えば粘着テープによって、支持部１２の基板取り付け部１２Ｃに固定される。このように基板取り付け部１２Ｃにフレキシブル回路基板の被支持部を固定し、支持部１２を回転させることにより、フレキシブル回路基板の被支持部も回転する。これにより、フレキシブル回路基板を折り曲げる動作と、折り曲げられたフレキシブル回路基板を展開する動作とが可能になる。特に、支持部１２をほぼ１８０度回転させた場合には、フレキシブル回路基板の被支持部もほぼ１８０度回転し、フレキシブル回路基板は二つ折りに折り曲げられる。なお、折り曲げられたフレキシブル回路基板を展開するというのは、フレキシブル回路基板を、折り曲げられる前の平坦な状態またはそれに近い状態に戻すことである。

【0044】

図２および図５には、フレキシブル回路基板の一例を、二点鎖線で示している。この例では、フレキシブル回路基板４０は、一方向に長く、長手方向がＹ方向に向くようにステージ２１の上面２１ａ上に載置されている。また、フレキシブル回路基板４０は、Ｘ方向についての幅が異なる２つの部分を含んでいる。このうち、幅が相対的に大きい部分を幅広部４０Ａと呼び、幅が相対的に小さい部分を細幅部４０Ｂと呼ぶ。幅広部４０Ａの一部は、ステージ２１の絶縁部２１２の上に位置し、上面２１ａ上に固定されている。細幅部４０Ｂの一部は、支持部１２の基板取り付け部１２Ｃに固定されている。この場合、支持部１２を回転させると、基板取り付け部１２Ｃに固定された細幅部４０Ｂの一部が回転する。これにより、フレキシブル回路基板４０が折り曲げられる。なお、フレキシブル回路基板の形状は、図２および図５に示した例に限られず、任意である。例えば、フレキシブル回路基板は、Ｘ方向について一定の幅を有していてもよい。

【0045】

図２および図５に示した例では、同じ形状の３つのフレキシブル回路基板４０が示されている。３つのフレキシブル回路基板４０は、Ｘ方向に並ぶようにステージ２１に載置されている。本実施の形態では、３つのフレキシブル回路基板４０を折り曲げる動作と、折り曲げられた３つのフレキシブル回路基板を展開する動作は、同時に行われる。折り曲げられた３つのフレキシブル回路基板４０のそれぞれの折り曲げ部は、そのフレキシブル回路基板４０に対して用意された接触子２２のほぼ真下に位置する。試験の際には、接触子２２が下降してフレキシブル回路基板４０の折り曲げ部に接触する。後で詳しく説明するが、接触子２２がフレキシブル回路基板４０に接触するときには、フレキシブル回路基板４０に印加される荷重の大きさと、ステージ２１と接触子２２の間隔のうちの少なくとも一方を設定することが可能である。

【0046】

同様に、展開された３つのフレキシブル回路基板４０のそれぞれにおいて展開前に折り曲げ部であった部分は、そのフレキシブル回路基板４０に対して用意された接触子２２のほぼ真下に位置する。試験の際には、接触子２２が下降してフレキシブル回路基板４０のうち展開前に折り曲げ部であった部分に接触する。

【0047】

接触子２２は、フレキシブル回路基板４０の折り曲げ部の一部にのみ接触する大きさを有していてもよい。この場合、折り曲げ部における接触子２２の接触位置を変化させてもよい。折り曲げ部における接触子２２の接触位置を変化させることは、具体的には、駆動装置２４を駆動して、ステージ２１およびその上のフレキシブル回路基板４０をＸ方向に移動させることによって行われる。同様に、フレキシブル回路基板４０のうち展開前に折り曲げ部であった部分における接触子２２の接触位置を変化させてもよい。

【0048】

ここまで説明してきた試験装置１の構成要素は、ベース２および制御装置５を除いて、筐体４内に収容されている。

【0049】

試験装置１は、更に、動作設定部６０と、動作制御部７０とを備えている。動作設定部６０は、折り曲げ機構１０の動作と挟み込み機構２０の動作とを組み合わせた一連の試験動作の内容の設定を可能にする。動作制御部７０は、動作設定部６０によって設定された内容に従って折り曲げ機構１０と挟み込み機構２０を制御する。

【0050】

以下、図１および図６を参照して、動作設定部６０および動作制御部７０について詳しく説明する。図６は、動作設定部６０および動作制御部７０の構成を示すブロック図である。動作設定部６０は、設定制御部６１と、設定入力部６２と、パーソナルコンピュータ６３とを備えている。動作制御部７０は、折り曲げ機構１０の回転装置１３を制御する折り曲げ制御部７１と、挟み込み機構２０の駆動装置２４，２７Ａ〜２７Ｃを制御する挟み込み制御部７２と、シーケンス制御部７３とを備えている。

【0051】

設定入力部６２は、試験を行う際の各種の設定情報の入力や試験装置１の各種の動作の指示（動作の有無を含む）を行うためのものである。図１に示したように、本実施の形態では、設定入力部６２は、入力装置と、試験装置１の各種の動作の状態の情報等を表示する表示装置とを兼ねたタッチパネルであり、筐体４に設けられている。

【0052】

パーソナルコンピュータ６３は、設定入力部６２と同様に、設定情報の入力や試験装置１の各種の動作の指示を行うことができる。また、パーソナルコンピュータ６３は、動作制御部７０のシーケンス制御部７３と通信を行うことによって、試験結果を保存したり、試験結果の出力（表示を含む）を行ったりすることができる。なお、パーソナルコンピュータ６３は、動作設定部６０における必須の構成要素ではなく、設けられていなくてもよい。

【0053】

設定制御部６１は、ユーザーインタフェース制御部６１Ａと設定情報記憶部６１Ｂとを含んでいる。ユーザーインタフェース制御部６１Ａは、設定入力部６２、パーソナルコンピュータ６３および設定情報記憶部６１Ｂに接続されている。ユーザーインタフェース制御部６１Ａは、設定入力部６２およびパーソナルコンピュータ６３における情報の表示と、設定入力部６２およびパーソナルコンピュータ６３からの情報の入力を制御する。設定情報記憶部６１Ｂは、設定入力部６２およびパーソナルコンピュータ６３によって入力されてユーザーインタフェース制御部６１Ａが受け取った設定情報や試験装置１の各種の動作の指示を記憶する。設定制御部６１は、設定情報記憶部６１Ｂに記憶された情報に基づいて、一連の試験動作の内容の設定を行う。

【0054】

試験装置１は、更に、抵抗測定器７４を備えている。この抵抗測定器７４は、後で説明するフレキシブル回路基板４０の配線部の抵抗値を測定するものである。本実施の形態では、４つのフレキシブル回路基板４０のそれぞれの配線部の抵抗値を測定することが可能である。抵抗測定器７４は、シーケンス制御部７３に接続されている。また、挟み込み機構２０の３つの荷重センサ２８Ａ〜２８Ｃも、シーケンス制御部７３に接続されている。シーケンス制御部７３は、３つの荷重センサ２８Ａ〜２８Ｃと抵抗測定器７４の各出力信号を入力し、設定制御部６１によって設定された内容に従って、折り曲げ制御部７１と挟み込み制御部７２とを制御して、フレキシブル回路基板の耐折り曲げ性の試験を行う際の試験装置１の一連の動作を制御する。

【0055】

動作設定部６０の設定制御部６１と動作制御部７０は、例えば１つのマイクロコンピュータ３０によって実現される。この場合、設定制御部６１、折り曲げ制御部７１、挟み込み制御部７２およびシーケンス制御部７３は、物理的に別個の要素ではなく、ソフトウェアによって実現される。図３および図４に示した制御装置５は、マイクロコンピュータ３０と抵抗測定器７４とを含んでいる。

【0056】

次に、図７ないし図９を参照して、試験装置１の試験対象のフレキシブル回路基板４０の構成の一例について詳しく説明する。このフレキシブル回路基板４０は、試験用に作製されたものである。図７は、試験対象のフレキシブル回路基板４０の平面図である。図８は、図７に示したフレキシブル回路基板４０の配線部を拡大して示す平面図である。図９は、図７に示したフレキシブル回路基板４０の一部を示す断面図である。

【0057】

図７は、図２および図５と同様に、長手方向がＹ方向に向くようにステージ２１の上面２１ａ上に載置された状態のフレキシブル回路基板４０を示している。このフレキシブル回路基板４０は、前述の幅広部４０Ａと細幅部４０Ｂを含んでいる。また、フレキシブル回路基板４０は、パターン化された導体よりなる配線部４２と、配線部４２を保持する保持部４３とを備えている。

【0058】

図８に示した例では、配線部４２は、試料の長手方向（Ｙ方向）に延びる複数の直線状部分５１と、パターン化された導体の全体がミアンダ形状となるように、隣接する２つの直線状部分の端部同士を連結する複数の連結部分５２とを有している。

【0059】

図９は、Ｙ方向に垂直な断面を示している。この断面において、複数の直線状部分５１は、Ｘ方向に並んでいる。Ｘ方向についての直線状部分５１の幅を線幅ＬＷと定義し、隣接する２つの直線状部分５１の間隔を線間幅ＳＷと定義する。線幅ＬＷと線間幅ＳＷは、いずれも、例えば１０〜１０００μｍの範囲内であり、汎用的には５０〜５００μｍの範囲内である。

【0060】

図９に示したように、保持部４３は、例えば、ベース層５３と、このベース層５３の上面上に順に積層された接着層５４およびカバー層５５を含んでいる。配線部４２は、ベース層５３の上面上に配置され、接着層５４によって覆われている。ベース層５３、接着層５４およびカバー層５５は、いずれも、絶縁材料よりなり、柔軟性を有している。ベース層５３およびカバー層５５の材料としては、例えば絶縁性樹脂が用いられ、その中でも柔軟性および耐熱性が良好なポリイミド樹脂または液晶ポリマーを用いることが好ましい。接着層５４の材料としては、エポキシ系接着剤、アクリル系接着剤等の合成系接着剤が用いられる。配線部４２の材料としては、銅等の金属が用いられる。

【0061】

ベース層５３の厚みは、例えば５〜１００μｍの範囲内であり、好ましくは９〜５０μｍの範囲内である。配線部４２の厚みは、例えば２〜５０μｍの範囲内であり、好ましくは９〜３５μｍの範囲内である。ベース層５３とカバー層５５との間における接着層５４の厚みは、配線部４２の厚み以上である。カバー層５５の厚みは、例えば３〜１００μｍの範囲内であり、好ましくは１０〜７５μｍの範囲内である。

【0062】

なお、フレキシブル回路基板４０は、カバー層５５を備えていなくてもよい。この場合には、接着層５４の代わりに、絶縁材料よりなり、柔軟性を有する絶縁層を設けてもよい。

【0063】

図７および図８に示したように、Ｘ方向の両端に位置する２つの直線部分５１は、他の直線部分５１よりもＹ方向に長く延びている。フレキシブル回路基板４０は、この２つの直線部分５１の端部に電気的に接続された端子４４，４５を備えている。フレキシブル回路基板４０は、端子４４，４５が絶縁部２１２の上に位置するように、ステージ２１の上面２１ａ上に載置される。抵抗測定器７４は、端子４４，４５に接続されて、配線部４２の抵抗値を測定する。

【0064】

また、図７に示したように、フレキシブル回路基板４０は、配線部４２のＸ方向の両側に配置された導体層４６，４７を備えている。この導体層４６，４７は、配線部４２と同じ材料によって形成され、ベース層５３の上に配置されている。導体層４６，４７は、試験用に作製されたフレキシブル回路基板４０の剛性等の性質が、電子機器に実際に使用されるフレキシブル回路基板に近いものとなるように設けられている。

【0065】

試験の際には、フレキシブル回路基板４０は、図７において記号Ａ−Ａを付した一点鎖線で示す位置を中心として、ベース層５３が外側になるように折り曲げられる。具体的には、フレキシブル回路基板４０のうち、一点鎖線よりも下側の大部分がステージ２１の上面２１ａ上に載置され、上端の近傍部分が折り曲げ機構１０によって回転させられることによって、フレキシブル回路基板４０が折り曲げられる。

【0066】

次に、本実施の形態におけるフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性試験方法（以下、単に、試験方法と記す。）について説明する。本実施の形態における試験方法は、折り曲げられるフレキシブル回路基板４０の耐折り曲げ性の試験を行う方法である。この試験方法は、折り曲げ手順と展開手順との組み合わせを基本手順とし、折り曲げ手順の後で行われる第１の挟み込み手順と展開手順の後で行われる第２の挟み込み手順とを追加可能な手順とし、基本手順と追加した手順とを組み合わせた一連の手順を繰り返し実行する。折り曲げ手順では、ステージ２１に載置されたフレキシブル回路基板４０を折り曲げる。展開手順では、折り曲げられたフレキシブル回路基板４０を展開する。第１の挟み込み手順では、折り曲げられたフレキシブル回路基板４０の折り曲げ部を、ステージ２１と接触子２２によって挟み込む。第２の挟み込み手順では、フレキシブル回路基板４０のうち展開前に折り曲げ部であった部分を、ステージ２１と接触子２２によって挟み込む。

【0067】

動作設定部６０は、上記試験方法における、折り曲げ機構１０の動作と挟み込み機構２０の動作とを組み合わせた一連の試験動作の内容を設定することが可能である。すなわち、動作設定部６０は、折り曲げ動作と展開動作との組み合わせを、繰り返し実行される基本動作とし、折り曲げ動作の後で行われる第１の挟み込み動作と展開動作の後で行われる第２の挟み込み動作を追加可能な動作とし、第１の挟み込み動作の追加の有無と、第２の挟み込み動作の追加の有無とを設定することが可能である。動作設定部６０は、更に、基本動作の繰り返し回数の上限値を設定することが可能である。

【0068】

折り曲げ動作では、ステージ２１に載置されたフレキシブル回路基板４０を、折り曲げ機構１０によって折り曲げる。展開動作では、折り曲げられたフレキシブル回路基板４０を、折り曲げ機構１０によって展開する。第１の挟み込み動作では、折り曲げられたフレキシブル回路基板４０の折り曲げ部を、ステージ２１と接触子２２によって挟み込む。第２の挟み込み動作では、フレキシブル回路基板４０のうち展開前に折り曲げ部であった部分を、ステージ２１と接触子２２によって挟み込む。動作制御部７０は、上記試験方法が実行されるように、動作設定部６０によって設定された内容に従って、折り曲げ機構１０と挟み込み機構２０を制御する。

【0069】

以下、図１０ないし図１８を参照して、本実施の形態における試験方法と試験装置１の動作について詳しく説明する。図１０は、本実施の形態における試験方法を示すフローチャートである。図１１は、本実施の形態における動作設定手順を示すフローチャートである。図１２は、設定入力部６２の表示画面の第１の状態を示す説明図である。図１３は、設定入力部６２の表示画面の第２の状態を示す説明図である。図１４ないし図１８は、本実施の形態における試験方法における一連の手順を示す説明図である。

【0070】

本実施の形態における試験方法では、まず、図１０におけるステップＳ１０１において、図６に示した動作設定部６０の設定入力部６２またはパーソナルコンピュータ６３によって、試験を行う際の各種の設定情報を入力し、一連の試験動作の内容を設定する。ステップＳ１０１の手順を、特に、動作設定手順と言う。

【0071】

以下、図１１ないし図１３を参照して、動作設定手順について詳しく説明する。ここでは、設定入力部６２は、入力装置と表示装置とを兼ねたタッチパネルであるものとする。以下、設定入力部６２をタッチパネル６２と記す。動作設定手順は、試験装置１の使用者の指示によって開始する。図１２には、動作設定手順を開始する前のタッチパネル６２の表示画面の状態である第１の状態の一例を示している。この表示画面において、「設定」と記載されたボタン８１が、動作設定手順の開始を指示するためのボタンである。

【0072】

動作設定手順では、まず、図１１におけるステップＳ２０１において、設定制御部６１の設定情報記憶部６１Ｂを、入力された設定情報を受け取り、その設定情報を記憶できる状態にする。以下、この状態を入力待機状態と言う。入力待機状態では、設定制御部６１のユーザーインタフェース制御部６１Ａは、タッチパネル６２を制御して、タッチパネル６２の表示画面を入力待機状態に変更する。これにより、タッチパネル６２を用いて、各種の設定情報を入力することが可能になる。図１３には、タッチパネル６２の表示画面の入力待機状態である第２の状態の一例を示している。この表示画面には、各種の設定情報を入力することができる複数の入力欄９１が表示されている。例えば、複数の入力欄９１のうちの１つをタッチすると、タッチパネル６２に、数値を入力するためのソフトウェアキーボードが表示される。そして、このソフトウェアキーボードを用いることによって、その入力欄９１に対応する設定情報を入力することができる。

【0073】

ここで、図１３を参照して、タッチパネル６２を用いて入力できる設定情報について説明する。「設定回数」の入力欄９１には、試験において実行する基本動作の繰り返し回数の上限値を入力することができる。「設定荷重」の入力欄９１には、第１および第２の挟み込み動作において接触子２２がフレキシブル回路基板４０に接触するときの、フレキシブル回路基板４０に印加する荷重の大きさを入力することができる。「設定距離」の入力欄９１には、第１および第２の挟み込み動作において接触子２２がフレキシブル回路基板４０に接触するときの、ステージ２１と接触子２２の間隔を入力することができる。「折曲角度」の入力欄９１には、折り曲げ動作における支持部１２を回転させる角度を入力することができる。「閉時サイクル」の入力欄９１には、第１の挟み込み動作において行われる、折り曲げ部における接触子２２の接触位置の往復移動の回数を入力することができる。「開時サイクル」の入力欄９１には、第２の挟み込み動作において行われる、フレキシブル回路基板４０のうち展開前に折り曲げ部であった部分における接触子２２の接触位置の往復移動の回数を入力することができる。接触子２２の接触位置の往復移動については、後で説明する。

【0074】

なお、フレキシブル回路基板４０に印加する荷重の大きさとステージ２１と接触子２２の間隔のうちの一方を設定してもよいし、両方を設定してもよい。両方を設定した場合、一方の設定が優先されるようにしてもよい。

【0075】

また、「閉時サイクル」の入力欄９１に０を入力すると、追加可能な動作である第１の挟み込み動作が追加されず、「閉時サイクル」の入力欄９１に１以上の数値を入力すると、追加可能な動作である第１の挟み込み動作が追加される。このようにして、第１の挟み込み動作の追加の有無を設定することができる。同様に、「開時サイクル」の入力欄９１に０を入力すると、追加可能な動作である第２の挟み込み動作が追加されず、「開時サイクル」の入力欄９１に１以上の数値を入力すると、追加可能な動作である第２の挟み込み動作が追加される。このようにして、第２の挟み込み動作の追加の有無を設定することができる。

【0076】

また、入力待機状態では、ユーザーインタフェース制御部６１Ａは、設定情報記憶部６１Ｂを、パーソナルコンピュータ６３から入力された設定情報を受け取ることが可能な状態にする。これにより、パーソナルコンピュータ６３を用いて、各種の設定情報を入力することが可能になる。なお、パーソナルコンピュータ６３を用いることにより、図１３に示したタッチパネル６２を用いて入力できる設定情報以外の設定情報を入力することができる。このような設定情報の１つには、試験中に、配線部４２が断線したと判断するときの配線部４２の抵抗値の設定値（以下、抵抗設定値と記す。）がある。

【0077】

次に、ステップＳ２０２において、設定情報記憶部６１Ｂが、試験装置１の使用者が入力した設定情報を記憶する。次に、ステップＳ２０３において、設定情報記憶部６１Ｂに記憶された設定値に基づいて、設定制御部６１において、一連の試験動作の内容が設定される。この内容には、基本動作の繰り返し回数の上限値と、第１の挟み込み動作の追加の有無と、第２の挟み込み動作の追加の有無が含まれる。

【0078】

次に、ステップＳ２０４において、設定制御部６１は、設定した一連の試験動作の内容を確定するかどうか判断する。具体的には、試験装置１の使用者が、設定した一連の試験動作の内容を確定させる指示を出していないときには、設定制御部６１は、設定した一連の試験動作の内容を確定せずに（ステップＳ２０４におけるＮ）、ステップＳ２０２からステップＳ２０４を再度実行する。試験装置１の使用者が、設定した一連の試験動作を確定させる指示を出したときには、設定制御部６１は、設定した一連の試験動作の内容を確定し（ステップＳ２０４におけるＹ）、動作設定手順を終了する。図１３に示したタッチパネル６２の場合、「確定」と記載されたボタン９２が、設定した一連の試験動作の内容の確定を指示するためのボタンである。このボタン９２をタッチすることにより、タッチパネル６２の表示画面は、図１３に示した第２の状態から図１２に示した第１の状態に戻る。なお、図１３において「戻る」と記載されたボタン９３をタッチすると、設定した一連の試験動作の内容を確定せずに、タッチパネル６２の表示画面は、図１３に示した第２の状態から図１２に示した第１の状態に戻る。

【0079】

以上の動作設定手順（ステップＳ１０１）が終了したら、図１０におけるステップＳ１０２において、ステージ２１上にフレキシブル回路基板４０を載置していない状態で、Ｚ方向のゼロ点の設定を行う。なお、試験装置１の初期状態では、接触子２２は、予め設定された距離だけステージ２１の上面２１ａから離れた初期位置にある。ゼロ点の設定の動作は、試験装置１の使用者が、タッチパネル６２によってゼロ点の設定を指示し、この指示がシーケンス制御部７３に対して与えられることによって開始する。図１２に示したタッチパネル６２の場合、「原点」と記載されたボタン８２が、ゼロ点の設定を指示するためのボタンである。

【0080】

以下、接触子２２Ａ、駆動装置２７Ａおよび荷重センサ２８Ａを例にとって、ゼロ点の設定の動作について説明する。この動作では、まず、挟み込み制御部７２が駆動装置２７Ａを制御して、接触子２２Ａを所定の速度で下降させると共に、荷重センサ２８Ａの出力信号をシーケンス制御部７３が監視する。接触子２２Ａがステージ２１の上面２１ａに接触すると、荷重センサ２８Ａによって検出されるＺ方向の荷重が急激に増加する。これにより、シーケンス制御部７３は、接触子２２Ａがステージ２１の上面２１ａに接触した時点、すなわちステージ２１と接触子２２Ａの間隔がゼロになった時点における接触子２２ＡのＺ方向の位置を認識し、この接触子２２Ａの位置をゼロ点として設定する。これ以降、接触子２２Ａが任意の位置にあるときのステージ２１と接触子２２Ａの間隔は、ゼロ点を基準とした接触子２２Ａの位置として求められる。なお、接触子２２Ａの位置は、例えば、駆動装置２７Ａを構成するステッピングモータに対する制御信号から、挟み込み制御部７２が認識することができる。ゼロ点の設定後、接触子２２Ａは初期位置に戻される。接触子２２Ａが下降する際の接触子２２Ａの移動速度は、動作設定手順（ステップＳ１０１）において設定することができる。この移動速度は、ステージ２１の近傍では、例えば１〜１０ｍｍ／秒の範囲内であり、ステージ２１から離れた位置では、例えば１〜５０ｍｍ／秒の範囲内である。

【0081】

上記の接触子２２Ａ、駆動装置２７Ａおよび荷重センサ２８Ａについての説明は、接触子２２Ｂ，２２Ｃ、駆動装置２７Ｂ，２７Ｃおよび荷重センサ２８Ｂ，２８Ｃにも当てはまる。ゼロ点の設定の動作では、駆動装置２７Ａ〜２７Ｃを同時に制御して、接触子２２Ａ〜２２Ｃのゼロ点の位置を同時に設定してもよいし、駆動装置２７Ａ〜２７Ｃを１つずつ制御して、接触子２２Ａ〜２２Ｃのゼロ点の位置を１つずつ設定してもよい。なお、試験装置１が試験するフレキシブル回路基板４０の数が１つまたは２つの場合、使用しない接触子２２については、ゼロ点の位置を設定しなくてもよい。

【0082】

次に、ステップＳ１０３において、試験対象のフレキシブル回路基板４０（図１０では、試料と記す。）を取り付ける。具体的には、フレキシブル回路基板４０をステージ２１の上面２１ａ上に載置し、フレキシブル回路基板４０の被固定部を、固定部１１を用いて上面２１ａ上に固定し、フレキシブル回路基板４０の被支持部を、折り曲げ機構１０の支持部１２における基板取り付け部１２Ｃに固定する。また、抵抗測定器７４を、端子４４，４５に接続する。図１４は、ステップＳ１０３におけるステージ２１、支持部１２およびフレキシブル回路基板４０の状態を簡単に表している。なお、３つのフレキシブル回路基板４０の試験を同時に行う場合には、３つのフレキシブル回路基板４０を上述のように取り付ける。

【0083】

次に、試験装置１の使用者が、タッチパネル６２によって試験開始を指示し、この指示がシーケンス制御部７３に対して与えられることによって、実際の試験が開始する。図１２に示したタッチパネル６２の場合、「開始」と記載されたボタン８３が、試験開始を指示するためのボタンである。試験が開始されると、常時あるいは所定の時間間隔（例えば０．５秒間隔）をおいて、抵抗測定器７４が配線部４２の抵抗値を測定し、シーケンス制御部７３は、この抵抗測定器７４の出力信号、すなわち配線部４２の抵抗値を監視する。また、図１２に示したタッチパネル６２の場合、試験が開始されると、基本動作の繰り返し回数、荷重センサ２８Ａ〜２８Ｃによって検出される荷重の大きさ、ステージ２１と接触子２１の間隔が、それぞれ、タッチパネル６２における「動作回数」、「荷重」、「距離」の欄に表示される。

【0084】

試験では、ステップＳ１０４において、折り曲げ制御部７１が回転装置１３を制御することによって、折り曲げ機構１０によって、フレキシブル回路基板４０を折り曲げる。図１５は、ステップＳ１０４におけるステージ２１、支持部１２、フレキシブル回路基板４０および接触子２２の状態を簡単に表している。図１５において、符号４０Ｃは、フレキシブル回路基板４０の折り曲げ部を示し、符号２８は、荷重センサ２８Ａ〜２８Ｃのうちの任意の荷重センサを示している。ステップＳ１０４は、前記折り曲げ手順および折り曲げ動作に対応する。

【0085】

なお、前述のように、動作設定手順（ステップＳ１０１）において、折り曲げ動作における支持部１２を回転させる角度を設定することが可能である。この角度は、例えば１４０〜１８０度の範囲内で設定することが可能である。

【0086】

次に、ステップＳ１０５において、接触子２２を下降させて、フレキシブル回路基板４０の折り曲げ部４０Ｃに接触させる。このようにして、フレキシブル回路基板４０の折り曲げ部４０Ｃを、ステージ２１と接触子２２によって挟み込む。図１６は、ステップＳ１０５におけるステージ２１、支持部１２、フレキシブル回路基板４０および接触子２２の状態を簡単に表している。なお、試験装置１が試験するフレキシブル回路基板４０の数が３つの場合には、挟み込み制御部７２は、駆動装置２７Ａ〜２７Ｃを制御することによって、接触子２２Ａ〜２２Ｃを同時に下降させる。ステップＳ１０５は、前記第１の挟み込み手順および第１の挟み込み動作に対応する。

【0087】

前述のように、動作設定手順（ステップＳ１０１）では、接触子２２がフレキシブル回路基板４０に接触するときの、フレキシブル回路基板４０に印加する荷重の大きさとステージ２１と接触子２２の間隔を設定することができる。フレキシブル回路基板４０に印加する荷重の大きさを設定した場合には、予め設定された値になるように、折り曲げ部４０Ｃに、接触子２２を押し付ける。フレキシブル回路基板４０に印加する荷重の大きさは、例えば１００ｇ〜１０ｋｇの範囲内で設定することが可能である。

【0088】

また、ステージ２１と接触子２２の間隔を設定した場合には、図１６に示したステージ２１と接触子２２との間隔Ｇは、予め設定された値に調整される。なお、フレキシブル回路基板４０に印加する荷重の大きさとステージ２１と接触子２２の間隔の両方を設定した場合には、一方の設定、例えばステージ２１と接触子２２の間隔の設定が優先されるようにしてもよい。

【0089】

ここで、接触子２２が、フレキシブル回路基板４０の折り曲げ部４０Ｃの一部にのみ接触する大きさを有している場合におけるステップＳ１０５について、更に説明する。この場合、ステップＳ１０５では、折り曲げ部４０Ｃにおける接触子２２の接触位置を変化させる。

【0090】

以下、この動作を具体的に説明する。ここでは、フレキシブル回路基板４０が、図７に示したように配線部４２と導体層４６，４７とを備えているものとする。また、フレキシブル回路基板４０は、図７において記号Ａ−Ａを付した一点鎖線で示す位置を中心として、一点鎖線よりも上側の部分が回転させられることによって折り曲げられる。折り曲げられたフレキシブル回路基板４０の折り曲げ部４０Ｃは、一点鎖線で示す位置およびその近傍の部分である。この折り曲げ部４０Ｃには、配線部４２を横断する部分と、導体層４６を横断する部分と、導体層４７を横断する部分とが含まれる。

【0091】

接触子２２は、最初に、フレキシブル回路基板４０の折り曲げ部４０Ｃのうち、導体層４６を横断する部分に接触する。その後、挟み込み制御部７２が駆動装置２４を制御して、ステージ２１およびフレキシブル回路基板４０をＸ方向に移動させる。これにより、折り曲げ部４０Ｃにおける接触子２２の接触位置は、導体層４６を横断する部分から、配線部４２を横断する部分を経由して、導体層４７を横断する部分まで変化する。この動作の後、挟み込み制御部７２が駆動装置２４を制御して、ステージ２１およびフレキシブル回路基板４０を逆方向に移動させて、折り曲げ部４０Ｃにおける接触子２２の接触位置を、更に、導体層４７を横断する部分から、配線部４２を横断する部分を経由して、導体層４６を横断する部分まで変化させてもよい。また、このような折り曲げ部４０Ｃにおける接触子２２の接触位置の往復移動を複数回行ってもよい。

【0092】

動作設定手順（ステップＳ１０１）では、往復移動の回数を設定可能である。図１３に示したタッチパネル６２の場合、「閉時サイクル」の入力欄に、往復移動の回数を入力することができる。また、動作設定手順（ステップＳ１０１）では、Ｘ方向についての駆動装置２４の移動距離と、Ｘ方向についての駆動装置２４の移動速度を設定できるようにしてもよい。Ｘ方向についての駆動装置２４の移動距離は、例えば０〜３０ｍｍの範囲内である。移動距離が０ｍｍの場合には、折り曲げ部４０Ｃにおける接触子２２の接触位置は変化しない。Ｘ方向についての駆動装置２４の移動速度は、例えば１０〜１００ｍｍ／秒の範囲内である。

【0093】

また、往復移動の両端において、所定の時間だけステージ２１およびフレキシブル回路基板４０を静止させてもよい。また、このときの静止時間を動作設定手順（ステップＳ１０１）で設定できるようにしてもよい。この静止時間は、例えば０〜１０秒の範囲内である。静止時間が０秒の場合には、往復移動の両端において、ステージ２１およびフレキシブル回路基板４０は、静止せずに、移動方向が反転する。

【0094】

次に、ステップＳ１０６において、接触子２２を上昇させて、接触子２２を初期位置に復帰させる。なお、試験装置１が試験するフレキシブル回路基板４０の数が３つの場合には、挟み込み制御部７２は、駆動装置２７Ａ〜２７Ｃを制御することによって、接触子２２Ａ〜２２Ｃを同時に上昇させる。ステップＳ１０６の手順を、特に、第１の復帰手順という。また、ステップＳ１０６における動作を、特に、第１の復帰動作と言う。

【0095】

次に、ステップＳ１０７において、折り曲げ制御部７１が回転装置１３を制御することによって、折り曲げ機構１０によって、折り曲げられたフレキシブル回路基板４０を展開する。図１７は、ステップＳ１０６におけるステージ２１、支持部１２、フレキシブル回路基板４０および接触子２２の状態を簡単に表している。ステップＳ１０７は、前記展開手順および展開動作に対応する。

【0096】

次に、ステップＳ１０８において、接触子２２を下降させて、フレキシブル回路基板４０うち展開前に折り曲げ部４０Ｃであった部分に、接触子２２を接触させる。このようにして、フレキシブル回路基板４０のうち展開前に折り曲げ部４０Ｃであった部分を、ステージ２１と接触子２２によって挟み込む。図１８は、ステップＳ１０８におけるステージ２１、支持部１２、フレキシブル回路基板４０および接触子２２の状態を簡単に表している。なお、試験装置１が試験するフレキシブル回路基板４０の数が３つの場合には、挟み込み制御部７２は、駆動装置２７Ａ〜２７Ｃを制御することによって、接触子２２Ａ〜２２Ｃを同時に下降させる。ステップＳ１０８は、前記第２の挟み込み手順および第２の挟み込み動作に対応する。

【0097】

なお、ステップＳ１０５におけるフレキシブル回路基板４０に印加する荷重の大きさとステージ２１と接触子２２の間隔についての説明は、ステップＳ１０８にも当てはまる。また、接触子２２が、フレキシブル回路基板４０の折り曲げ部４０Ｃの一部にのみ接触する大きさを有している場合におけるステップＳ１０８の動作は、ステップＳ１０５と同様である。動作設定手順（ステップＳ１０１）では、フレキシブル回路基板４０のうち展開前に折り曲げ部４０Ｃであった部分における接触子２２の接触位置の往復移動の回数を設定可能である。図１３に示したタッチパネル６２の場合、「開時サイクル」の入力欄に、往復移動の回数を入力することができる。

【0098】

ステップＳ１０５で、フレキシブル回路基板４０の折り曲げ部４０Ｃを、ステージ２１と接触子２２によって挟み込んだ後では、ステップＳ１０７で、フレキシブル回路基板４０を展開しても、フレキシブル回路基板４０は、折り曲げられる前の平坦な状態に戻らない可能性がある。その場合でも、ステップＳ１０８を実行することによって、ステップＳ１０８を実行しない場合に比べて、展開後のフレキシブル回路基板４０を、折り曲げられる前の平坦な状態により近い状態に戻すことが可能になる。

【0099】

次に、ステップＳ１０９において、ステップＳ１０６と同様に、接触子２２を上昇させて、接触子２２を初期位置に復帰させる。なお、試験装置１が試験するフレキシブル回路基板４０の数が３つの場合には、挟み込み制御部７２は、駆動装置２７Ａ〜２７Ｃを制御することによって、接触子２２Ａ〜２２Ｃを同時に上昇させる。ステップＳ１０９の手順を、特に、第２の復帰手順という。また、ステップＳ１０６における動作を、特に、第２の復帰動作と言う。

【0100】

次に、ステップＳ１１０において、シーケンス制御部７３は、試験の終了条件に到達したかどうかを判断する。試験装置１が試験するフレキシブル回路基板４０が１つである場合には、試験の終了条件は、その１つのフレキシブル回路基板４０の配線部４２の抵抗値が抵抗設定値に達するか、基本動作の繰り返し回数が上限値に達することである。シーケンス制御部７３は、配線部４２の抵抗値が抵抗設定値に達するまでの基本動作の繰り返しの回数（以下、回数測定値と言う。）を記憶する。

【0101】

試験装置１が試験するフレキシブル回路基板４０が複数である場合には、試験の終了条件は、複数のフレキシブル回路基板４０のうちの所定数のフレキシブル回路基板４０の配線部４２の抵抗値が抵抗設定値に達するか、基本動作の繰り返し回数が上限値に達することである。上記の所定数は、動作設定手順（ステップＳ１０１）で設定できるようにしてもよい。上記の所定数を０に設定した場合には、基本動作の繰り返し回数が上限値に達することが、試験の終了条件となる。シーケンス制御部７３は、フレキシブル回路基板４０毎に回数測定値を記憶する。

【0102】

ステップＳ１１０において、試験の終了条件に到達していない場合（Ｎ）は、ステップＳ１０４に戻り、ステップＳ１０４からステップＳ１１０を再度実行する。ステップＳ１１０において、試験の終了条件に到達した場合（Ｙ）は、ステップＳ１１１で、試験の結果を出力して、試験を終了する。試験の結果は、シーケンス制御部７３が記憶しているフレキシブル回路基板４０毎の回数測定値を含む。この回数測定値は、フレキシブル回路基板４０の耐折り曲げ性の指標となる。すなわち、この回数測定値が大きいほど、フレキシブル回路基板４０の耐折り曲げ性が高いと言える。

【0103】

また、前述のように、動作設定手順（ステップＳ１０１）では、第１の挟み込み動作（ステップＳ１０５）の追加の有無と、第２の挟み込み動作（ステップＳ１０８）の追加の有無を設定することができる。ここまでは、第１および第２の挟み込み動作を追加した場合の例について説明してきた。第１の挟み込み動作を追加しないように設定した場合には、折り曲げ動作（ステップＳ１０４）の次に、展開動作（ステップＳ１０７）に進む。第２の挟み込み動作を追加しないように設定した場合には、展開動作（ステップＳ１０７）の次に、ステップＳ１１０に進む。

【0104】

以上説明したように、本実施の形態では、動作設定部６０は、繰り返し実行される基本動作に対する第１の挟み込み動作の追加の有無と第２の挟み込み動作の追加の有無とを設定可能である。動作設定部６０は、更に、基本動作の繰り返し回数の上限値を設定可能である。これらのことから、本実施の形態よれば、基本動作（折り曲げ動作および展開動作）と第１および第２の挟み込み動作の組み合わせを変えた複数の態様の試験を行うことが可能である。

【0105】

また、本実施の形態では、動作設定部６０は、更に、第１および第２の挟み込み動作時においてフレキシブル回路基板４０に印加する荷重の大きさや、第１および第２の挟み込み動作時におけるステージ２１と接触子２２の間隔を設定することが可能である。また、動作設定部６０は、更に、第１の挟み込み動作における折り曲げ部４０Ｃにおける接触子２２の接触位置の往復移動の回数や、第２の挟み込み動作におけるフレキシブル回路基板４０のうち展開前に折り曲げ部４０Ｃであった部分における接触子２２の接触位置の往復移動の回数を設定可能である。このように、本実施の形態によれば、接触子２２がフレキシブル回路基板４０に接触するときの条件を変えた複数の態様の試験を行うことが可能である。

【0106】

基本動作と第１および第２の挟み込み動作の組み合わせや、接触子２２がフレキシブル回路基板４０に接触するときの条件は、例えば、フレキシブル回路基板４０の形状、剛性、用途等に応じて変更することができる。このように、本実施の形態によれば、二つ折りに折り曲げて使用され得るフレキシブル回路基板の耐折り曲げ性の試験を、多様な態様で行うことが可能になる。

【0107】

また、本実施の形態では、複数のフレキシブル回路基板に対して同時に試験を行うことが可能である。これにより、本実施の形態によれば、短時間でより多くのフレキシブル回路基板４０の試験を行うことが可能になる。

【0108】

［第２の実施の形態］
次に、図１９を参照して、本発明の第２の実施の形態について説明する。図１９は、本実施の形態に係る試験装置のステージと作動片を示す平面図である。本実施の形態では、挟み込み機構２０は、第１の実施の形態におけるステージ２１の代わりに、２つのステージ２１０Ａ，２１０Ｂを有している。ステージ２１０Ａ，２１０Ｂは、Ｘ方向に並ぶように配置され、プレート２３に取り付けられている。ステージ２１０Ａ，２１０Ｂの構成は、そのＸ方向の長さがステージ２１のＸ方向の長さよりも小さい点を除いて、ステージ２１と同じである。ステージ２１０Ａ，２１０Ｂは、それぞれ、１つのフレキシブル回路基板４０を載置することができる大きさを有している。図１９では、ステージ２１０Ａ，２１０Ｂのそれぞれの上面を、符号２１０Ａａ，２１０Ｂａを付して表している。ステージ２１０Ａの上面２１０Ａａとステージ２１０Ｂの上面２１０Ｂａには、固定部１１が１つずつ配置されている。

【0109】

また、本実施の形態では、折り曲げ機構１０は、第１の実施の形態における支持部１２の代わりに、支持部１２０を備えている。支持部１２０は、４つの脚部１２１Ａ，１２１Ｂ，１２１Ｃ，１２１Ｄと、２つの基板取り付け部１２２Ａ，１２２Ｂと、２つの連結部１２３Ａ，１２３Ｂとを有している。４つの脚部１２１Ａ，１２１Ｂ，１２１Ｃ，１２１Ｄは、Ｘ方向に並ぶように配置されている。また、２つの脚部１２１Ａ，１２１Ｂは、ステージ２１０ＡのＸ方向の外側に配置されている。２つの脚部１２１Ｃ，１２１Ｄは、ステージ２１０ＢのＸ方向の外側に配置されている。

【0110】

２つの連結部１２３Ａ，１２３Ｂは、所定の中心軸Ｃ上に、Ｘ方向に並ぶように配置されている。連結部１２３Ａは、２つの脚部１２１Ｂ，１２１Ｃの一端の近傍部分同士を連結している。連結部１２３Ｂの一端は、脚部１２１Ｄの一端の近傍部分に連結されている。連結部１２３Ｂの他端の近傍部分は、回転支持部１４Ｂによって回転可能に支持されている。

【0111】

脚部１２１Ａの一端の近傍部分は、回転支持部１４Ａによって回転可能に支持されている。回転装置１３の連結機構１３Ｂの図示しない軸部の一端部は、脚部１２１Ａに連結されている。基板取り付け部１２２Ａは、２つの脚部１２１Ａ，１２１Ｂの他端の近傍部分同士を連結している。基板取り付け部１２２Ｂは、２つの脚部１２１Ｃ，１２１Ｄの他端の近傍部分同士を連結している。図１９に示したように、基板取り付け部１２２Ａ，１２２Ｂは、それぞれ、Ｘ方向に長い形状を有している。基板取り付け部１２２Ａ，１２２Ｂは、それぞれ、１つのフレキシブル回路基板４０を支持することができる大きさを有している。

【0112】

回転装置１３は、所定の中心軸Ｃを中心として２つの固定部１１に対して支持部１２０を回転させる。支持部１２０は、ほぼ１８０度回転可能である。２つの脚部１２１Ａ，１２１Ｂは、支持部１２０が回転した際に、ステージ２１０Ａに接触しないように配置されている。同様に、２つの脚部１２１Ｃ，１２１Ｄは、支持部１２０が回転した際に、ステージ２１０Ｂに接触しないように配置されている。

【0113】

図１９には、２つのフレキシブル回路基板４０が示されている。フレキシブル回路基板４０の形状は、第１の実施の形態と同じである。２つのフレキシブル回路基板４０の一方は、長手方向がＹ方向に向くようにステージ２１０Ａの上面２１０Ａａ上に載置され、その幅広部４０Ａの一部は、上面２１０Ａａ上に固定され、その細幅部４０Ｂの一部は、基板取り付け部１２２Ａに固定されている。２つのフレキシブル回路基板４０の他方は、長手方向がＹ方向に向くようにステージ２１０Ｂの上面２１０Ｂａ上に載置され、その幅広部４０Ａの一部は、上面２１０Ｂａ上に固定され、その細幅部４０Ｂの一部は、基板取り付け部１２２Ｂに固定されている。この場合、支持部１２０を回転させると、基板取り付け部１２２Ａに固定された細幅部４０Ｂの一部と基板取り付け部１２２Ｂに固定された細幅部４０Ｂの一部が回転する。これにより、２つのフレキシブル回路基板４０が折り曲げられる。

【0114】

図示しないが、本実施の形態では、２組の接触子、接触子支持部、駆動装置および荷重センサが設けられている。

【0115】

次に、本実施の形態に係る試験装置１の動作について説明する。本実施の形態では、１回目の折り曲げ動作（図１０におけるステップＳ１０４、図１５）および１回目の第１の挟み込み動作（図１０におけるステップＳ１０５、図１６）までは、第１の実施の形態と同じである。本実施の形態では、次に、接触子２２（図１６参照）をわずかに上昇させる。以下、この動作を第１の接触子回避動作と言う。

【0116】

次に、挟み込み制御部７２（図６参照）が駆動装置２４を制御して、ステージ２１０Ａ，２１０Ｂおよび２つのフレキシブル回路基板４０をＸ方向、特に図１９における左方向に移動させて、支持部１２０の連結部１２３Ａ，１２３Ｂを、接触子２２の下に移動させる。以下、この動作をステージ回避動作と言う。次に、展開動作（図１０におけるステップＳ１０７、図１７）を実行する。第１の接触子回避動作では、ステージ回避動作および展開動作において、接触子２２が、支持部１２０の脚部１２１Ｂ，１２１Ｄおよび連結部１２３Ａ，１２３Ｂに接触しないような高さまで、接触子２２を上昇させる。

【0117】

次に、挟み込み制御部７２が駆動装置２４を制御して、ステージ２１０Ａ，２１０Ｂおよび２つのフレキシブル回路基板４０をＸ方向、特に図１９における右方向に移動させて、ステージ２１０Ａ，２１０Ｂを、ステージ回避動作を実行する前の元の位置に復帰させる。以下、この動作をステージ復帰動作と言う。次に、第２の挟み込み動作（図１０におけるステップＳ１０８、図１８）を実行する。

【0118】

次に、接触子２２をわずかに上昇させる。以下、この動作を、第２の接触子回避動作と言う。第２の接触子回避動作では、接触子２２を、第１の接触子回避動作と同じ高さの位置まで上昇させる。次に、図１０におけるステップ１１０を実行する。試験の終了条件に到達していない場合には、次に、ステージ回避動作を実行する。次に、２回目の折り曲げ動作を実行する。以下、試験の終了条件に到達するまで、これらの動作を繰り返し実行する。

【0119】

本実施の形態では、第１の実施の形態における第１および第２の復帰動作に比べて、第１および第２の接触子回避動作において接触子２２が上昇する距離を小さくすることができる。これにより、本実施の形態によれば、試験時間を短縮することが可能になる。

【0120】

本実施の形態におけるその他の構成、作用および効果は、第１の実施の形態と同様である。

【0121】

なお、本発明は、上記実施の形態に限定されず、種々の変更が可能である。例えば、接触子２２は、フレキシブル回路基板４０の折り曲げ部４０Ｃの全体に接触する大きさを有していてもよい。この場合には、ステップＳ１０５において、折り曲げ部４０Ｃにおける接触子２２の接触位置を変化させる動作と、ステップＳ１０８において、フレキシブル回路基板４０のうち展開前に折り曲げ部４０Ｃであった部分における接触子２２の接触位置を変化させる動作は不要になる。

【0122】

また、接触子２２がフレキシブル回路基板４０の折り曲げ部４０Ｃの一部にのみ接触する大きさを有している場合、フレキシブル回路基板４０を移動させずに、接触子２２を移動させて、折り曲げ部４０Ｃにおける接触子２２の接触位置を変化させてもよい。

【符号の説明】

【0123】

１…試験装置、１０…折り曲げ機構、１１…固定部、１２…支持部、１３…回転装置、２０…挟み込み機構、２１…ステージ、２２，２２Ａ，２２Ｂ，２２Ｃ…接触子、２４，２７Ａ，２７Ｂ，２７Ｃ…駆動装置、２８Ａ，２８Ｂ，２８Ｃ…荷重センサ、４０…フレキシブル回路基板、６０…動作設定部、７０…動作制御部、７４…抵抗測定器。

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】

【図15】

【図16】

【図17】

【図18】

【図19】