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特開2016-123338マイクロＲＮＡにおけるメチル化修飾部位を計測する方法
発明の名称 マイクロＲＮＡにおけるメチル化修飾部位を計測する方法
出願人 いであ株式会社 （識別番号 591146239）
特許公開件数ランキング 13975 位（0件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 3906 位（1件）（共同出願を含む）
出願人 株式会社エバンス （識別番号 509061117）
特許公開件数ランキング 13975 位（0件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 11821 位（0件）（共同出願を含む）
出願人 国立大学法人大阪大学 （識別番号 504176911）
特許公開件数ランキング 336 位（78件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 247 位（58件）（共同出願を含む）
公報番号 特開-2016-123338
公報発行日 2016年7月11
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-A-2016-123338
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