【実施例】
【0039】
次に本願発明の効果を奏する実施態様を実施例として示す。また、そのまとめを表1及び表2に示す。
【0040】
【表1】
【0041】
【表2】
【0042】
1.試験サンプル作製
<実施例1>
以下の電解研磨処理、皮膜形成処理、硬化処理、不動態化処理を逐次行って、本願発明の試験サンプルを作製した(以下、「実施例1品」という。)。
(1)電解研磨処理
ステンレス鋼試験片、SSRT試験用(SUS304、φ4mm×20mm)及び水素透過防止性評価用(SUS316L、φ35mm、厚さ0.1mm)に電極(+)を取り付け、以下の処理条件で電解研磨を行い、研磨処理品を作製した。
[電解研磨処理条件]
・電解研磨液組成 リン酸70ml/L、硫酸20ml/L、エチレングリコール0.2ml/L
・処理温度 70℃
・処理時間 5min
・電流密度 10A/dm
2
【0043】
(2)表面粗さ計測
研磨処理品の算術平均粗さ(Ra)を表面粗さ測定機(テーラーホブソン製、フォームタリサーフPGI―PLS)計測した。表面粗さは、0.08μmであった。
【0044】
(3)皮膜形成処理
研磨処理品を以下の条件で皮膜形成処理(発色処理)を行い、皮膜形成品を作製した。
〔皮膜形成処理条件〕
・発色液組成 酸化クロム250g/L、硫酸500g/L、硫酸マンガン6.3g/L
・処理温度 80℃
・処理時間 8min
・発色電位速度 0.053mV/sec
【0045】
(4)硬化処理
皮膜形成品を以下の条件で硬化処理を行い、硬化処理品を作製した。
〔硬化処理条件〕
・硬化液組成 酸化クロム250g/L、リン酸2.5g/L
・処理温度 25℃
・処理時間 10min
・電流密度 0.5A/dm
2
【0046】
(5)不動態化処理
硬化処理品を以下の条件で不動態化処理を行い、不動態化処理品を作製した。
〔不動態化処理条件〕
・不動態化液組成 硝酸25vol%
・処理温度 50℃
・処理時間 60min
【0047】
<比較例1>
実施例記載の処理を行わないステンレス鋼試験片、SSRT試験用(SUS304、φ4mm×20mm)及び水素透過防止性評価用(SUS316L、φ35mm、厚さ0.1mm)を比較例1とした(以下、「比較例1品」という。)。
【0048】
<実施例2−1>
以下の電解研磨処理、皮膜形成処理、硬化処理、不動態化処理を逐次行って、本願発明の試験サンプル(水素透過防止性評価用(SUS316L、φ35mm、厚さ0.1mm))を作製した(以下、「実施例2−1品」という。)。
(1)電解研磨処理
ステンレス鋼試験片、水素透過防止性評価用(SUS316L、φ35mm、厚さ0.1mm)に電極(+)を取り付け、以下の処理条件で電解研磨を行い、研磨処理品を作製した。
[電解研磨処理条件]
・電解研磨液組成 リン酸70ml/L、硫酸20ml/L、エチレングリコール0.2ml/L
・処理温度 70℃
・処理時間 5min
・電流密度 10A/dm
2
【0049】
(2)皮膜形成処理
研磨処理品を以下の条件で皮膜形成処理(発色処理)を行い、皮膜形成品を作製した。
〔皮膜形成処理条件〕
・発色液組成 酸化クロム250g/L、硫酸500g/L、硫酸マンガン6.3g/L
・処理温度 65℃
・処理時間 20min
・発色電位速度 0.003mV/sec
【0050】
(3)硬化処理
皮膜形成品を以下の条件で硬化処理を行い、硬化処理品を作製した。
〔硬化処理条件〕
・硬化液組成 酸化クロム250g/L、リン酸2.5g/L
・処理温度 25℃
・処理時間 10min
・電流密度 0.5A/dm
2
【0051】
(4)不動態化処理
硬化処理品を以下の条件で不動態化処理を行い、不動態化処理品を作製した。
〔不動態化処理条件〕
・不動態化液組成 硝酸20vol%
・処理温度 50℃
・処理時間 60min
【0052】
<実施例2−2>
不動態化処理を以下の条件に変更したことを除き、<実施例2−1>と同じ条件で、本発明の試験サンプル(水素透過防止性評価用(SUS316L、φ35mm、厚さ0.1mm))を作製した(以下、「実施例2−2品」という。)。
〔不動態化処理条件〕
・不動態化液組成 硝酸25vol%
・処理温度 50℃
・処理時間 60min
【0053】
<実施例2−3>
皮膜形成処理を以下の条件に変更したことを除き、<実施例2−1>と同じ条件で、本発明の試験サンプル(水素透過防止性評価用(SUS316L、φ35mm、厚さ0.1mm))を作製した(以下、「実施例2−3品」という。)。
〔皮膜形成処理条件〕
・発色液組成 酸化クロム250g/L、硫酸500g/L、硫酸マンガン6.3g/L
・処理温度 65℃
・処理時間 35min
・発色電位速度 0.011mV/sec
【0054】
<実施例2−4>
不動態化処理を以下の条件に変更したことを除き、<実施例2−3>と同じ条件で、本発明の試験サンプル(SSRT試験用(SUS304、φ4mm×20mm)及び水素透過防止性評価用(SUS316L、φ35mm、厚さ0.1mm))を作製した(以下、「実施例2−4品」という。)。
〔不動態化処理条件〕
・不動態化液組成 硝酸25vol%
・処理温度 50℃
・処理時間 60min
【0055】
<実施例3−1>
以下の電解研磨処理、皮膜形成処理、硬化処理、不動態化処理を逐次行って、本願発明の試験サンプル(水素透過防止性評価用(SUS316L、φ35mm、厚さ0.1mm))を作製した(以下、「実施例3−1品」という。)。
(1)電解研磨処理
ステンレス鋼試験片、水素透過防止性評価用(SUS316L、φ35mm、厚さ0.1mm)に電極(+)を取り付け、以下の処理条件で電解研磨を行い、研磨処理品を作製した。
[電解研磨処理条件]
・電解研磨液組成 リン酸70ml/L、硫酸20ml/L、エチレングリコール0.2ml/L
・処理温度 70℃
・処理時間 5min
・電流密度 10A/dm
2
【0056】
(2)皮膜形成処理
研磨処理品を以下の条件で皮膜形成処理(発色処理)を行い、皮膜形成品を作製した。
〔皮膜形成処理条件〕
・発色液組成 酸化クロム250g/L、硫酸500g/L、硫酸マンガン6.3g/L
・処理温度 65℃
・処理時間 20min
・発色電位速度 0.003mV/sec
【0057】
(3)硬化処理
皮膜形成品を以下の条件で硬化処理を行い、硬化処理品を作製した。
〔硬化処理条件〕
・硬化液組成 酸化クロム250g/L、リン酸2.5g/L
・処理温度 25℃
・処理時間 10min
・電流密度 0.5A/dm
2
【0058】
(4)不動態化処理
硬化処理品を以下の条件で不動態化処理を行い、不動態化処理品を作製した。
〔不動態化処理条件〕
・不動態化液組成 硝酸20vol%、重クロム酸ナトリウム2.5wt%
・処理温度 25℃
・処理時間 10min
【0059】
<実施例3−2>
不動態化処理を以下の条件に変更したことを除き、<実施例3−1>と同じ条件で、本発明の試験サンプル(水素透過防止性評価用(SUS316L、φ35mm、厚さ0.1mm))を作製した(以下、「実施例3−2品」という。)。
〔不動態化処理条件〕
・不動態化液組成 硝酸25vol%、重クロム酸ナトリウム2.5wt%
・処理温度 25℃
・処理時間 10min
【0060】
<実施例3−3>
皮膜形成処理を以下の条件に変更したことを除き、<実施例3−1>と同じ条件で、本発明の試験サンプル(水素透過防止性評価用(SUS316L、φ35mm、厚さ0.1mm))を作製した(以下、「実施例3−3品」という。)。
〔皮膜形成処理条件〕
・発色液組成 酸化クロム250g/L、硫酸500g/L、硫酸マンガン6.3g/L
・処理温度 65℃
・処理時間 35min
・発色電位速度 0.011mV/sec
【0061】
<実施例3−4>
不動態化処理を以下の条件に変更したことを除き、<実施例3−3>と同じ条件で、本発明の試験サンプル(水素透過防止性評価用(SUS316L、φ35mm、厚さ0.1mm))を作製した(以下、「実施例3−4品」という。)。
〔不動態化処理条件〕
・不動態化液組成 硝酸25vol%、重クロム酸ナトリウム2.5wt%
・処理温度 25℃
・処理時間 10min
【0062】
<実施例4−1>
以下の電解研磨処理、不動態化処理を逐次行って、本願発明の試験サンプル(水素透過防止性評価用(SUS316L、φ35mm、厚さ0.1mm))を作製した(以下、「実施例4−1品」という。)。
(1)電解研磨処理
ステンレス鋼試験片、水素透過防止性評価用(SUS316L、φ35mm、厚さ0.1mm)に電極(+)を取り付け、以下の処理条件で電解研磨を行い、研磨処理品を作製した。
[電解研磨処理条件]
・電解研磨液組成 リン酸70ml/L、硫酸20ml/L、エチレングリコール0.2ml/L
・処理温度 70℃
・処理時間 5min
・電流密度 10A/dm
2
【0063】
〔不動態化処理条件〕
・不動態化液組成 硝酸20vol%
・処理温度 50℃
・処理時間 60min
【0064】
<実施例4−2>
不動態化処理を以下の条件に変更したことを除き、<実施例4−1>と同じ条件で、本発明の試験サンプル(水素透過防止性評価用(SUS316L、φ35mm、厚さ0.1mm))を作製した(以下、「実施例4−2品」という。)。
〔不動態化処理条件〕
・不動態化液組成 硝酸25vol%
・処理温度 50℃
・処理時間 60min
【0065】
<実施例5−1>
不動態化処理を以下の条件に変更したことを除き、<実施例4−1>と同じ条件で、本発明の試験サンプル(水素透過防止性評価用(SUS316L、φ35mm、厚さ0.1mm))を作製した(以下、「実施例5−1品」という。)。
〔不動態化処理条件〕
・不動態化液組成 硝酸20vol%、重クロム酸ナトリウム2.5wt%
・処理温度 25℃
・処理時間 10min
【0066】
<実施例5−2>
不動態化処理を以下の条件に変更したことを除き、<実施例5−1>と同じ条件で、本発明の試験サンプル(水素透過防止性評価用(SUS316L、φ35mm、厚さ0.1mm))を作製した(以下、「実施例5−1品」という。)。
〔不動態化処理条件〕
・不動態化液組成 硝酸25vol%、重クロム酸ナトリウム2.5wt%
・処理温度 25℃
・処理時間 10min
【0067】
2.水素バリア機能評価
(1)SSRT試験
実施例1品、実施例2−4品、実施例4−2品、実施例5−2品及び比較例1品について、水素脆化評価を行うためにSSRT試験(1.1MPa水素下及び1.1MPa窒素下)により断面絞り(%)を測定した。ここで、断面絞りとは、くびれ破断した箇所の断面積の原断面積に対する比率をいう。
1.1MPa水素下での断面絞りは、実施例1品と実施例2−4品はいずれも77%、実施例4−2品は74%、実施例5−2品は76%、比較例1品は63%であった。
水素脆性の尺度は断面絞りの相対値(水素下での断面絞りを不活性ガス下での断面絞りで除した値)で示される。実施例品は、いずれも1.0であり、水素による脆化は認められなかった。
〔試験条件〕
・歪み速度 4.17×10
-5/sec
・試験温度 16℃
【0068】
(2)破断面SEM観察
SSRT試験に供した実施例品と比較例品2について破断面をSEM観察した。
図2は、実施例1品のSSRT試験(1.1MPa水素雰囲気下,1.1MPa窒素雰囲気下)後の破断面SEM写真である((a):破断面の全体写真、(b):破断面中央部拡大写真、(c):破断面表層部拡大写真)。
図3は、比較例1品のSSRT試験(1.1MPa水素雰囲気下)後の破断面SEM写真である((a):破断面の全体写真、(b):破断面中央部拡大写真、(c):破断面表層部拡大写真)。
実施例1品の破断面の全体写真(a)は、いずれも均一なくびれがあり、破断面の拡大写真(b)、(c)も延性的なディンプル破断面であり、水素脆化による形態的差異は認められなかった。
一方、比較例1品の破断面の全体写真(a)では、破断面のくびれは均一でなく、表面から水素脆化の影響による亀裂の進展が認められる。また、破断面の拡大写真(c)には、亀裂の起点のある脆性的な粒内破断面が認められる。これらは、水素脆化による形態的差異である。
図4は、実施例4−2品のSSRT試験(1.1MPa水素雰囲気下,1.1MPa窒素雰囲気下)後の破断面SEM写真である((a):破断面の全体写真、(b):破断面中央部拡大写真、(c):破断面表層部拡大写真)。
図5は、実施例5−2品のSSRT試験(1.1MPa水素雰囲気下,1.1MPa窒素雰囲気下)後の破断面SEM写真である((a):破断面の全体写真、(b):破断面中央部拡大写真、(c):破断面表層部拡大写真)。
実施例4−2品及び実施例5−2品のいずれも実施例1品と同様に破断面の全体写真(a)は、いずれも均一なくびれがあり、破断面の拡大写真(b)、(c)も延性的なディンプル破断面であり、水素脆化による形態的差異は認められなかった。
【0069】
(3)水素透過防止性評価
実施例品(実施例1〜実施例5−2)、比較例1品について、JIS K7126−1(差圧法)に準じた差圧式のガスクロ法で、高温水素透過試験を行い、水素透過率比(実施例品/比較例1品)を求めた。
実施例1品は、温度条件(300℃、400℃、500℃)のいずれにおいても、水素透過率比は1以下であり、水素バリア性が高いことが認められる。
他の実施例品(実施例2−1〜実施例5−2)のいずれも、温度条件(300℃)水素透過率比は1以下であり、水素バリア性が高いことが認められる。
〔試験条件〕
・試験用サンプル(φ35mm,厚さ0.1mm)
・差圧 400kPa
・温度 300℃、400℃、500℃
【0070】
(4)耐孔食性評価(孔食電位)
実施例品(実施例1〜実施例5−2)、比較例1品についてJIS G0577(2014年、ステンレス鋼の孔食電位測定方法)に準拠する方法で測定した。結果は表2に示すとおりである。実施例品の孔食電位はいずれも比較例1品(0.30V,SCE)に比べて有意に高い。
また電解研磨処理と不動態化処理の実施品(実施例4−1〜実施例5−2)では、孔食電位と水素透過防止性との相関が認められ、孔食電位測定により、水素透過防止性を予測できることが示唆される。水素透過防止性評価は測定に時間を要することから、孔食電位測定が基準以上(例えば、1.0V,SCE)とすることで、水素透過防止性の高い(水素バリア性の優れる)製品を製造できる。