発明の名称 半導体ウェーハの評価方法
出願人 株式会社SUMCO (識別番号 302006854)
特許公開件数ランキング 880 位(9件)(共同出願を含む)
特許取得件数ランキング 425 位(20件)(共同出願を含む)
公報番号 特開-2021-193339
公報発行日 2021年12月23
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-A-2021-193339
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