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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第675位 29件
(2024年:第435位 71件)
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第384位 52件
(2024年:第402位 73件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 7740170 | ワイヤソーの測定装置及び測定方法 | 2025年 9月17日 | |
特許 7735853 | 半導体ウェーハの洗浄方法および半導体ウェーハの製造方法 | 2025年 9月 9日 | |
特許 7732480 | シリコン単結晶の製造方法、および、シリコン単結晶製造装置 | 2025年 9月 2日 | |
特許 7729256 | エピタキシャルシリコンウェーハ | 2025年 8月26日 | |
特許 7729292 | インゴットのVノッチ評価装置 | 2025年 8月26日 | |
特許 7726297 | 誘導加熱コイル及びこれを用いた単結晶製造装置 | 2025年 8月20日 | |
特許 7722350 | モニターウェーハの製造方法、および、モニターウェーハを用いる気相成長装置の異常判定方法 | 2025年 8月13日 | |
特許 7715094 | 半導体ウェーハの評価方法 | 2025年 7月30日 | |
特許 7713198 | 半導体試料の評価方法 | 2025年 7月25日 | |
特許 7711628 | シリコン単結晶の育成方法、シリコンウェーハの製造方法、および単結晶引き上げ装置 | 2025年 7月23日 | |
特許 7711637 | ウェーハの判定方法、判定プログラム、判定装置、ウェーハの製造方法及びウェーハ | 2025年 7月23日 | |
特許 7711657 | 半導体ウェーハの評価方法及び半導体ウェーハの製造方法 | 2025年 7月23日 | |
特許 7700724 | 梱包ユニットおよび輸送コンテナ | 2025年 7月 1日 | |
特許 7700751 | 半導体ウェーハの評価方法および半導体ウェーハの製造方法 | 2025年 7月 1日 | |
特許 7694145 | シリコン単結晶インゴットの評価方法、シリコンエピタキシャルウェーハの評価方法、シリコンエピタキシャルウェーハの製造方法およびシリコン鏡面ウェーハの評価方法 | 2025年 6月18日 |
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7740170 7735853 7732480 7729256 7729292 7726297 7722350 7715094 7713198 7711628 7711637 7711657 7700724 7700751 7694145
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実践!英文秘密保持契約・共同研究・共同開発契約・特許ライセンス契約 第1回(国際取引における英文契約の基礎理解と英文秘密保持契約の実践)
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