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株式会社SUMCO

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  2025年 特許取得件数ランキング    第384位 52件 上昇2024年:第402位 73件)

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 7740170 ワイヤソーの測定装置及び測定方法 2025年 9月17日
特許 7735853 半導体ウェーハの洗浄方法および半導体ウェーハの製造方法 2025年 9月 9日
特許 7732480 シリコン単結晶の製造方法、および、シリコン単結晶製造装置 2025年 9月 2日
特許 7729256 エピタキシャルシリコンウェーハ 2025年 8月26日
特許 7729292 インゴットのVノッチ評価装置 2025年 8月26日
特許 7726297 誘導加熱コイル及びこれを用いた単結晶製造装置 2025年 8月20日
特許 7722350 モニターウェーハの製造方法、および、モニターウェーハを用いる気相成長装置の異常判定方法 2025年 8月13日
特許 7715094 半導体ウェーハの評価方法 2025年 7月30日
特許 7713198 半導体試料の評価方法 2025年 7月25日
特許 7711628 シリコン単結晶の育成方法、シリコンウェーハの製造方法、および単結晶引き上げ装置 2025年 7月23日
特許 7711637 ウェーハの判定方法、判定プログラム、判定装置、ウェーハの製造方法及びウェーハ 2025年 7月23日
特許 7711657 半導体ウェーハの評価方法及び半導体ウェーハの製造方法 2025年 7月23日
特許 7700724 梱包ユニットおよび輸送コンテナ 2025年 7月 1日
特許 7700751 半導体ウェーハの評価方法および半導体ウェーハの製造方法 2025年 7月 1日
特許 7694145 シリコン単結晶インゴットの評価方法、シリコンエピタキシャルウェーハの評価方法、シリコンエピタキシャルウェーハの製造方法およびシリコン鏡面ウェーハの評価方法 2025年 6月18日

52 件中 1-15 件を表示

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7740170 7735853 7732480 7729256 7729292 7726297 7722350 7715094 7713198 7711628 7711637 7711657 7700724 7700751 7694145

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