特許5779867浮遊粒子の測定方法及びその装置

発明の名称　浮遊粒子の測定方法及びその装置

出願人　株式会社ＳＵＭＣＯ　（識別番号 302006854）

　　　　特許公開件数ランキング 660 位（37件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 365 位（72件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-5779867

公報発行日　2015年9月16

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-B9-5779867

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