特許第5798308号(P5798308)IP Force 特許公報掲載プロジェクト 2022.1.31 β版

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特許5798308光触媒の合成方法、光触媒電極および水素生成装置、並びに水素生成方法
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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】5798308
(24)【登録日】2015年8月28日
(45)【発行日】2015年10月21日
(54)【発明の名称】光触媒の合成方法、光触媒電極および水素生成装置、並びに水素生成方法
(51)【国際特許分類】
   B01J 35/02 20060101AFI20151001BHJP
   B01J 27/04 20060101ALI20151001BHJP
   B01J 37/04 20060101ALI20151001BHJP
   B01J 37/08 20060101ALI20151001BHJP
   C01B 3/04 20060101ALI20151001BHJP
   C25B 11/06 20060101ALI20151001BHJP
   C25B 1/04 20060101ALI20151001BHJP
【FI】
   B01J35/02 J
   B01J27/04 M
   B01J37/04 101
   B01J37/08
   C01B3/04 A
   C25B11/06 B
   C25B1/04
【請求項の数】5
【全頁数】14
(21)【出願番号】特願2010-202610(P2010-202610)
(22)【出願日】2010年9月10日
(65)【公開番号】特開2012-55843(P2012-55843A)
(43)【公開日】2012年3月22日
【審査請求日】2013年7月5日
【新規性喪失の例外の表示】特許法第30条第1項適用 社団法人 日本化学会、日本化学会第90春季年会(2010)講演予稿集II、2010年3月12日
(73)【特許権者】
【識別番号】000125370
【氏名又は名称】学校法人東京理科大学
(73)【特許権者】
【識別番号】000003207
【氏名又は名称】トヨタ自動車株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100078754
【弁理士】
【氏名又は名称】大井 正彦
(72)【発明者】
【氏名】工藤 昭彦
(72)【発明者】
【氏名】青山 哲士
(72)【発明者】
【氏名】中西 治通
【審査官】 壷内 信吾
(56)【参考文献】
【文献】 特開2005−199222(JP,A)
【文献】 特開2006−167652(JP,A)
【文献】 特開2004−008922(JP,A)
【文献】 特開2004−255355(JP,A)
【文献】 特開2007−269589(JP,A)
【文献】 TSUJI Issei et al.,Novel Stannite-type Complex Sulfide Photocatalysts AI2-Zn-AIV-S4(AI=Cu,Ag;AIV=Sn and Ge) for Hydrogen Evolution under Visible-Light Irradiation ,Chem. Mater.,2010年 2月23日,Vol.22,No.4,page.1402-1409
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
B01J21/00−38/74
JSTPlus/JMEDPlus/JST7580(JDreamIII)
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
Cu2 S、Ag2 S、ZnSおよびGeS2 を、それぞれ、モル比でx:(1−x):{(100+y)/100}:{(100+y)/100}の割合(ただし、xは0.7≦x≦0.8、yは10≦y≦20である。)となるよう混合して焼成することにより、下記組成式(1)で表される複合金属硫化物よりなる光触媒を合成することを特徴とする光触媒の合成方法
【化1】

〔上記組成式(1)において、xは0.7≦x≦0.8、yは10≦y≦20である。〕
【請求項2】
下記組成式(1)で表される複合金属硫化物よりなる光触媒を有し、p型半導体特性を示すことを特徴とする光触媒電極。
【化2】

〔上記組成式(1)において、xは0.7≦x≦0.8、yは10≦y≦20である。〕
【請求項3】
請求項2に記載の光触媒電極と対極とを有してなり、
前記光触媒電極と前記対極との間に水の理論分解電圧未満の外部バイアスを印加しながら前記光触媒電極に光を照射することにより、水が分解されて当該光触媒電極表面上に水素が生成されることを特徴とする水素生成装置。
【請求項4】
光触媒に照射される光が、可視光であることを特徴とする請求項3に記載の水素生成装置。
【請求項5】
請求項3または請求項4に記載の水素生成装置によって水素を生成することを特徴とする水素生成方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、光触媒の合成方法、光触媒電極および当該光触媒電極を用いた水素生成装置、並びに当該水素生成装置によって水素を生成する方法に関する。
【背景技術】
【0002】
地球規模でのエネルギー・環境問題の観点から、太陽光エネルギーを利用することができる科学技術の開発が切望されている。さらに、太陽光エネルギーを化学エネルギーに転換する、すなわち太陽光エネルギーを利用して燃料を製造する技術が注目されている。このようなソーラーフュエルを生成することができる方法として、半導体特性を有する光触媒電極を用いた水の分解がある。
光触媒電極の材料は非常に限られており、例えば、TiO2 (非特許文献1参照。)、SrTiO3 (チタン酸ストロンチウム)(非特許文献2〜4参照。)、KTaO3 (非特許文献5参照。)、WO3 (非特許文献6参照。)、Fe2 3 (非特許文献7参照。)などが挙げられる。
【0003】
しかしながら、TiO2 による光触媒電極を用いて水の分解を行う場合には、TiO2 のバンドギャップが3.0eVであるために紫外線しか利用することができず、光源として太陽を利用するときにその利用効率が極めて低いものとなる。さらに、外部バイアスの印加も不可欠である。また、SrTiO3 やKTaO3 による光触媒電極を用いて水の分解を行う場合には、外部バイアスの印加は要さないものの、やはりSrTiO3 やKTaO3 のバンドギャップが広いために紫外光しか利用することができない。
また、WO3 やFe2 3 による光触媒電極を用いて水の分解を行う場合には、WO3 やFe2 3 のバンドギャップが比較的狭いために可視光を利用することができるが、外部バイアスの印加は不可欠である。
そして、これらの光触媒電極の材料は、すべてn型半導体特性を示すものである。すなわち、水の分解において、これらの光触媒電極表面上に酸素が生成され、白金などの対極表面上に水素が生成される。
【0004】
これに対して、p型半導体特性を示す材料による光触媒電極においては、当該光触媒電極の表面において水素が生成され、対極において酸素が生成される。このような特性を利用して、例えばn型半導体特性を示す光触媒電極と組み合わせて用いて効率よく水の分解を行うなどのために、p型半導体特性を示す光触媒電極が求められている。このp型半導体特性を示す光触媒電極の開発は、水の分解の分野においてのみならず、エレクトロニクス、オプトエレクトロニクス、太陽電池などの分野においても、非常に重要な課題とされている。
p型半導体特性を示す光触媒電極の材料としては、CaFe2 4 が報告されている(非特許文献8参照。)が、それ以外の材料はほとんどないのが現状である。
【0005】
しかしながら、CaFe2 4 による光触媒電極を用いた場合も、やはり外部バイアスの印加が不可欠である。
【0006】
ところで、金属硫化物の粉末は、p型、n型のいずれの半導体特性を示すかに関わらず、光触媒として犠牲試薬の存在下で水素生成反応に高い活性を示すものの、その不安定さから、水を水素と酸素に分解することはできないとされているが、湿式電池を組むことによって水の分解に応用できる可能性が示されている(非特許文献9参照。)。
金属硫化物による光触媒を水の分解に用いるためには、当該金属硫化物による光触媒電極がp型半導体特性を有することが必要不可欠である。これは、p型半導体特性を有する光触媒電極においては、水の分解に際して水素が生成され、対極で酸素が生成されるためである。これに対して、n型半導体特性を有する金属硫化物による光触媒電極においては、自己腐食が生じて水を酸化して酸素を生成することができないため、水を水素と酸素に分解することができない。
本発明者らは、これまでに、可視光の照射下において水素生成反応に高い活性を示す金属硫化物を報告しており(非特許文献10参照。)、その中でも、カルコパイライト構造を有する複合金属硫化物であるCuGaS2 がp型半導体特性を示すことを見出し、さらに、CuにAgを部分的に置換することにより、光電気化学特性が向上することを明らかにしてきた(非特許文献11参照。)。
一方、スタンナイト構造を有する複合金属硫化物AI2−Zn−AIV−S4 (AI =Cu、Ag;AIV=Ge、Sn)(非特許文献12参照。)はカルコパイライト構造と類似した構造を有しており、この化合物群は、構成元素としてInを含まないことから、新規光機能材料として興味がもたれている。例えば、Cu2 ZnSnS4 は、太陽電池の材料として注目されている(特許文献1参照。)。
【0007】
上記に述べたように、水の分解を行うために、水の理論分解電圧である1.23V未満の外部バイアスの印加条件下において、かつ、可視光の照射下において水素を生成することができるp型半導体特性を有する光触媒電極が求められている。
然るに、CuGaS2 単体およびそのAg部分置換体は、可視光のすべての波長域の光を有効に利用する観点からは十分とは言えず、具体的には、その長波長領域の光を有効に利用できているとは言えない。
また、AI2−Zn−Sn−S4 (AI =Cu)は、その粉末が水素生成反応にある程度高い活性を示すが、更なる高い活性を示すものが求められている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0008】
【特許文献1】特開2007−269589号公報
【非特許文献】
【0009】
【非特許文献1】Fujishima, A.; Honda, K., Nature, 1972, 238, 37.
【非特許文献2】Watanabe, T.; Fujishima, A.; Honda, K., Bull. Chem. Soc. Jpn., 1976, 49, 355.
【非特許文献3】Mavroides, J. G.; Kafalas, J. A.; Kolesar, D. F., Appl. Lett., 1976, 28, 241.
【非特許文献4】Wrighton, M. S.; Ellis, A. B.; Wolczanski, P. T.; Morse, D. L.; Abrahamson, H. B.; Ginley, D. S., J. Am. Chem. Soc., 1976, 98, 2774.
【非特許文献5】Ellis, A. B.; Kaiser, S. W.; Wrighton, M. S., J. Phys. Chem., 1976, 80, 1235.
【非特許文献6】Santato, C.; Ulmann, M.; Augustynski, J., J. Phys. Chem. B, 2001, 105, 936.
【非特許文献7】Duret, A.; Grtzel, M., J. Phys. Chem. B, 2005, 109, 17184.
【非特許文献8】Matsumoto, Y.; Omae, M.; Sugiyama, K.; Sato, E., J. Phys. Chem., 1987, 91, 577.
【非特許文献9】Nozik, A. J.; Memming, R. J. Chem. Phys., 1996, 100, 13061.
【非特許文献10】Kudo, A.; Miseki, Y. Chem. Soc. Rev., 2009, 38, 253.
【非特許文献11】筒井裕子,齋藤健二,工藤昭彦.「日本化学会第88春季年会」2008,1L3-29.
【非特許文献12】Tsuji, I.; Shimodaira, Y.; Kato, H.; Kobayashi, H.; Kudo, A. Chem. Mater. 2010, 22, 1402.
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0010】
本発明は、以上の事情に基づいてなされたものであって、その目的は、p型半導体特性を示す光触媒の合成方法を提供することにある。
本発明の他の目的は、p型半導体特性を示す光触媒電極を提供することにある。
本発明のさらに他の目的は、水の理論分解電圧すなわち1.23V未満の外部バイアスの印加条件下において光触媒電極表面上に水素が生成される水素生成装置、特に、可視光の照射下において水素が生成される水素生成装置を提供することにある。
本発明のまたさらに他の目的は、水の理論分解電圧すなわち1.23V未満の外部バイアスの印加条件下において水素を生成する水素生成方法、特に、可視光の照射下において水素を生成する水素生成方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0011】
本発明の光触媒の合成方法は、Cu2 S、Ag2 S、ZnSおよびGeS2 を、それぞれ、モル比でx:(1−x):{(100+y)/100}:{(100+y)/100}の割合(ただし、xは0.7≦x≦0.8、yは10≦y≦20である。)となるよう混合して焼成することにより、下記組成式(1)で表される複合金属硫化物よりなる光触媒を合成することを特徴とする
【化1】

〔上記組成式(1)において、xは0.7≦x≦0.8、yは10≦y≦20である。〕
【0013】
本発明の光触媒電極は、下記組成式(1)で表される複合金属硫化物よりなる光触媒を有し、p型半導体特性を示すことを特徴とする。
【0014】
【化1】
【0015】
〔上記組成式(1)において、xは0.7≦x≦0.8、yは10≦y≦20である。〕
【0017】
本発明の水素生成装置は、上記の光触媒電極と対極とを有してなり、
前記光触媒電極と前記対極との間に水の理論分解電圧未満の外部バイアスを印加しながら前記光触媒電極に光を照射することにより、水が分解されて当該光触媒電極表面上に水素が生成されることを特徴とする。
【0018】
本発明の水素生成装置においては、光触媒に照射される光が、可視光であることが好ましい。
【0019】
本発明の水素生成方法は、上記の水素生成装置によって水素を生成することを特徴とする。
【発明の効果】
【0020】
本発明の光触媒電極によれば、当該光触媒電極が特定の組成を有する複合金属硫化物よりなる光触媒を有するものであるために、p型半導体特性を示し、これを水の分解の電極として適用することにより、当該光触媒電極上に水素を生成させることができる。
本発明の水素生成装置によれば、上記の光触媒電極を用いているために、当該光触媒電極の光触媒への光の照射下において、水の理論分解電圧である1.23V未満の外部バイアスの印加によって、水を分解して光触媒電極表面上に水素を生成させることができる。
【図面の簡単な説明】
【0021】
図1】本発明の光触媒電極の構成の一例を説明するための模式図である。
図2】本発明の水素生成装置の構成の一例を説明するための模式図である。
図3】3極式の水素生成装置の構造を説明するための模式図である。
図4】光触媒〔p〕〜〔r〕、〔a〕〜〔e〕の拡散反射スペクトルである。
図5】水素生成装置〔p〕〜〔r〕についてのCV曲線である。
図6】水素生成装置〔a〕〜〔e〕、〔p〕についてのCV曲線である。
図7】水素生成装置〔s〕、〔t〕、〔f〕、〔c〕および〔g〕についてのCV曲線である。
図8】水素生成装置〔c〕について、カソード光電流の波長依存性を示すグラフである。
図9】水素生成装置〔c〕についての定電位電解測定の結果を示すグラフである。
図10】水素生成装置〔c−2〕についての定電位電解測定の結果を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【0022】
以下、本発明について具体的に説明する。
【0023】
〔光触媒電極〕
本発明の光触媒電極は、上記組成式(1)で表される複合金属硫化物(以下、「特定の複合金属硫化物」ともいう。)よりなる光触媒(以下、「特定の光触媒」ともいう。)を有し、p型半導体特性を示すこと、すなわちカソード光電流が観測されることを特徴とするものである。
【0024】
上記組成式(1)において、xは0.5≦x≦1であり、yは5≦y≦30である。
xが上記の範囲にあることにより、光触媒電極が優れたp型半導体特性を示すものとなる。一方、xが0.5未満である場合は、光触媒電極が十分なp型半導体特性を示すものとならないおそれがある。
また、yが上記の範囲にあることにより、光触媒電極が優れたp型半導体特性を示すものとなる。この理由は定かではないが、y=0である量論比通りの複合金属硫化物に比べて不純物や欠陥の形成が抑制されるためであると推測される。一方、yが5未満である場合は、光触媒電極が不純物や欠陥を多量に含有するものとなって、優れたp型半導体特性を示さずに実用に適さないおそれがある。また、yが30より大きい場合は、複合金属硫化物の合成の際に原料であるZnSおよびGeS2 が固溶しきれずに残ってしまうことがある。
【0025】
特定の複合金属硫化物としては、0.7≦x≦0.8、かつ、10≦y≦20であるものが、優れたp型半導体特性を示すことから、好ましく、特に、x=0.75、かつ、y=15であるもの好ましい。
【0026】
このような特定の複合金属硫化物による特定の光触媒を有する光触媒電極としては、xの値が大きなものほど、すなわちCuの含有量が大きなものほど、大きなカソード光電流が得られる、すなわち、優れたp型半導体特性を示すものとなる。
【0027】
〔光触媒の合成方法〕
このような光触媒電極を形成する特定の光触媒を構成する特定の複合金属硫化物は、Cu2 S、Ag2 S、ZnS、GeS2 を、それぞれ、モル比でx:(1−x):{(100+y)/100}:{(100+y)/100}の割合となるよう混合して焼成する、いわゆる固相法により、合成される。
ただし、上記の比において、xは0.5≦x≦1、yは5≦y≦30である。
【0028】
具体的には、例えば、Cu源となるCu2 S、Ag源となるAg2 S、Zn源となるZnS、Ge源となるGeS2 を、上記の割合となるよう用いて、これらをめのう乳鉢で混合し、焼成処理することにより、粉末状の生成物として特定の光触媒を合成することができる。
焼成処理は、真空雰囲気、不活性ガス雰囲気などの雰囲気下で行われる。
焼成処理の温度は例えば400〜1000℃、焼成処理の時間は例えば5〜15時間とされることが好ましい。
【0029】
このような光触媒電極は、具体的には、例えば、図1に示されるように、特定の光触媒を含有する触媒ペーストを、ITO透明電極25の導電面25Aにおける光触媒部形成領域(図示せず)上に塗布し、次いで、大気中にて焼成処理をして光触媒部21を形成した後、ITO透明電極25の導電面25Aにおける光触媒部21が形成されていない領域にGa−In合金を塗布してオーミック接触部26を形成し、そこに伸縮チューブ23で被覆した銅線24を銀ペーストで接着し、アラルダイト(登録商標)などのエポキシ系接着剤でITO透明電極25と銅線24とを接着し、最後に、光触媒部21が形成されていないITO透明電極25の露出部分をアラルダイト(登録商標)で覆うことにより、得ることができる。
焼成処理の温度は例えば100〜300℃、焼成処理の時間は例えば1〜5時間とされることが好ましい。
【0030】
〔水素生成装置〕
本発明の水素生成装置は、上記の光触媒電極と対極とを有してなり、光触媒電極と前記対極との間に水の理論分解電圧である1.23V未満の外部バイアスを印加すると共に、光触媒電極を形成する特定の光触媒に光を照射することにより、水が分解されて当該光触媒電極表面上に水素が生成されることを特徴とするものである。
【0031】
具体的には、図2に示されるように、セル10がイオン交換膜12によって区画されることにより形成されたカソード室13Aおよびアノード室13Bに、それぞれ、光触媒電極15および対極17が設けられると共に、当該光触媒電極15と対極17との間に、光触媒電極15を陰極、対極17を陽極として電圧を印加する直流電源よりなる電圧印加手段19が設けられてこれらの光触媒電極15および対極17が電気的に接続されて構成される。
【0032】
対極17としては、例えば白金よりなるものを挙げることができ、また、n型半導体特性を示す光触媒電極なども挙げることができる。
また、イオン交換膜12としては、例えば「Nafion(登録商標)R117」(DuPont社製)などを用いることができる。
また、電圧印加手段19としては、例えばポテンショスタット「HZ−5000」(北斗電工社製)などを用いることができる。
【0033】
このような水素生成装置は、セル10内に、光触媒電極15および対極17が共に浸漬されるよう、電解液Wとして水を充填すると共に、1.23V未満の外部バイアスを印加しながら、光触媒電極15を構成する特定の光触媒による光触媒部21に光Lを照射することによって、光触媒電極15が還元電極として作用して水が還元されてその表面上に水素が生成されると共に、対極17が酸化電極として作用して水が酸化されてその表面上に酸素が生成され、これにより、水の分解が行われる。
【0034】
特定の光触媒による光触媒部21に照射される光としては、紫外光、可視光、太陽光などが挙げられる。
可視光としては、例えば光源としてキセノンランプを用いて波長420nm以下の波長範囲の光をカットした光などが挙げられる。
特定の光触媒による光触媒部21に照射される光としては、省エネルギーの観点から、可視光、太陽光が好ましい。
【0035】
分解する水は、水の酸化還元反応以外の反応を起こさず、物理的、化学的に安定で、pHが中性付近であって、溶液の電気伝導性が良くなるために、K2 SO4 などを、0.05〜0.2モル/Lとなるよう溶解させたものであってもよい。
【0036】
以上のような水素生成装置によれば、p型半導体特性を示す特定の光触媒によって形成された光触媒電極15を用いているために、当該光触媒電極15の特定の光触媒への光の照射下において、水の理論分解電圧である1.23V未満の外部バイアスの印加によって、水を分解して光触媒電極15表面上に水素を生成させることができる。
【0037】
以上、本発明の実施形態について具体的に説明したが、本発明の実施形態は上記の例に限定されるものではなく、種々の変更を加えることができる。
【実施例】
【0038】
以下、本発明の具体的な実施例について説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
【0039】
〔光触媒の調製例a〜g、p〜t〕
特定の複合金属硫化物を、固相法によって合成した。
具体的には、Cu2 S(純度99%:高純度化学研究所社製)、Ag2 S(純度99.9%:レアメタリック社製)、ZnS(純度99.9%:高純度化学研究所社製)、GeS2 (純度99.9%:高純度化学研究所社製)を、それぞれ、x:(1−x):{(100+y1 )/100}:{(100+y2 )/100}(x、y1 、y2 の組み合わせは表1に従う。)となるよう用いて、これらをめのう乳鉢で混合した。次いで、この混合物を石英アンプルに真空封管後、550℃で10時間(x=1、y=15のものは650℃で10時間)で焼成することによって、粉末状の生成物〔a〕〜〔g〕、〔p〕〜〔t〕を得た。
【0040】
【表1】
【0041】
得られた粉末状の生成物〔a〕〜〔g〕、〔p〕〜〔t〕を、それぞれ、X線回折装置「MiniFlex」(Rigaku社製)を用いた粉末X線回折によってその結晶構造を調べたところ、いずれも、スタンナイト型構造に帰属する回折パターンを示すことから、ほぼ単一相が合成されていることが確認され、また、Agの含有割合の増加に伴って回折ピークが連続的に低角度側ヘシフトしたことから、CuおよびAgが均一の固相とされた固溶体の形成が確認された。
以下、粉末状の生成物〔a〕〜〔g〕、〔p〕〜〔t〕を光触媒〔a〕〜〔g〕、〔p〕〜〔t〕という。
【0042】
〔光触媒電極の作製例a〜g、p〜t〕
光触媒〔a〕〜〔g〕、〔p〕〜〔t〕を用いて、光触媒電極を作製した。
具体的には、光触媒〔a〕20mgに、アセチルアセトン50μLを加え、さらに純水100μLを加えて混合することにより触媒ペーストを調製し、図1に従って、この触媒ペーストを、適当な大きさに切断したITO透明電極(東京三容真空社製;7Ω/□)(25)の導電面(25A)のメンディングテープ(住友スリーエム社製;厚さ58μm)を枠状に貼り付けることによって区画した領域上に塗布した。次いで、大気中にて300℃で2時間焼成処理をして光触媒部(21)を形成した後、ITO透明電極(25)の導電面(25A)上の光触媒部(21)を形成されていない部分にGa−In合金を塗布してオーミック接触部(26)を形成し、そこに伸縮チューブ(23)で被覆した銅線(24)を銀ペースト(藤倉化成社製)で接着し、アラルダイト(登録商標)(昭和高分子社製)でITO透明電極(25)と銅線(24)を接着し、最後に、光触媒部(21)が形成されていないITO透明電極(25)の露出部分をアラルダイト(登録商標)で覆うことにより、光触媒電極〔a〕を得た。
光触媒〔a〕の代わりに光触媒〔b〕〜〔g〕、〔p〕〜〔t〕を用いたことの他は同様にして、光触媒電極〔b〕〜〔g〕、〔p〕〜〔t〕を得た。
【0043】
〔水素生成装置(3極式)の作製例a〜g、p〜t:実施例1〜3、参考例1〜4、比較例1〜5〕
得られた光触媒電極〔a〕〜〔g〕、〔p〕〜〔t〕を用いて、3極式の水素生成装置を作製した。
具体的には、図3に示されるように、イオン交換膜(12)「Nafion(登録商標)R117」(DuPont社製)によってカソード室(13A)とアノード室(13B)に仕切られた3電極型H型セル(10)に、電解液(W)として0.1モル/LのK2 SO4 (関東化学社製;純度99.0%)溶液を満たし、カソード室(13A)に光触媒電極〔a〕(15)を設置すると共に、アノード室(13B)に白金からなる対極(CE)(17)を設置し、さらに、光触媒電極〔a〕(15)を設置した室に参照極(14)として飽和Ag/AgCl電極(東亜ディーケーケー社製)を設置し、これらをそれぞれ電圧印加手段(19)であるポテンショスタット「HZ−5000」(北斗電工社製)に、光触媒電極〔a〕(15)を陰極、対極(17)を陽極として電気的に接続することにより、参考例1に係る水素生成装置〔a〕を作製した。
なお、白金からなる対極(17)は、詳細には、白金板に白金線をスポット溶接により接続し、さらに白金線と銅線を接続し、白金板以外の部分を熱伸縮チューブで覆ったものである。
光触媒電極〔a〕の代わりに光触媒電極〔b〕〜〔g〕、〔p〕〜〔t〕を用いたことの他は同様にして、それぞれ、実施例1〜3に係る水素生成装置〔b〕〜〔d〕、参考例2〜4に係る水素生成装置〔e〕〜〔g〕、比較例1〜5に係る水素生成装置〔p〕〜〔t〕を得た。

【0044】
〔水素生成装置(2極式)の作製例c−2:実施例3−2〕
光触媒電極〔c〕を用いて、2極式の水素生成装置を作製した。
具体的には、図2に従って、上記の水素生成装置(3極式)の作製例cにおいて、参照極を設けなかったことの他は同様にして、2極式の水素生成装置〔c−2〕を作製した。
【0045】
以下の測定実験において、光の照射は、下記のように行った。
・可視光の照射:300Wのキセノンランプ(ILC technology社製)からの光を、熱による寄与を抑えるために近赤外吸収フィルター「CCF−50S−500C」(シグマ光機社製)によって近赤外光を吸収させ、カットオフフィルター(HOYA社製)によって420nm以下の波長域の光を遮断し、球面平凸レンズ「SLSQ−60−150P」(シグマ光機社製)によって集光した光を、照射した。
・光の照射は、いずれも、光触媒電極の光触媒の塗布面と反対の面に光が入射するように行った。
・光の照射を断続的に行う場合、そのライトオンとライトオフの切り替えは、モーターに半円型のステンレス板を取り付けた自作のチョッパーによって行った。
また、測定実験の前処理として、電解液中の溶存酸素を除く目的で撹拌子によって撹拌しながら15分間窒素を用いてバブリングを行った。
【0046】
<Zn/Ge含有量による光吸収特性の変化>
(y1 ,y2 )=(0,0)、(15,0),(0,15),(5,5)、(10,10)、(15,15)、(20,20)、(30,30)である光触媒〔p〕〜〔r〕、〔a〕〜〔e〕について、それぞれ、紫外−可視−近赤外拡散反射スペクトル(DRS)を、紫外可視近赤外分光光度計「UbestV−570」(Jasco社製)を用いて拡散反射スペクトルを測定した。結果を図4に示す。なお、得られた拡散反射スペクトルは、Kubelka−Munk法によって吸収モードに変換して示した。
なお、図4において、(p)〜(r)、(a)〜(e)は、それぞれ、光触媒〔p〕〜〔r〕および〔a〕〜〔e〕についての拡散反射スペクトルを示す。
【0047】
図4の結果から、量論比((y1 ,y2 )=(0,0))、Znのみ過剰((y1 ,y2 )=(15,0))またはGeのみ過剰((y1 ,y2 )=(0,15))で合成された光触媒〔p〕〜〔r〕においては、波長600〜900nmに不純物や欠陥による吸収が確認された。つまり、これらにおいては優れたp型半導体特性を示さないものと思われる。一方、ZnおよびGeの両方を過剰((y1 ,y2 )=(5,5)〜(30,30))にして合成された光触媒〔a〕〜〔e〕においては、不純物や欠陥による吸収がなく、単一の吸収端が観察されることから、優れたp型半導体特性を示すものと思われる。そして、ZnおよびGeの過剰量について、ZnおよびGeの両方を量論比より15%以上過剰((y1 ,y2 )=(15,15)〜(30,30))にして合成された光触媒〔c〕〜〔e〕において、極めてシャープな立ち上がりの単一の吸収端が観察されることから、極めて優れたp型半導体特性を示すものと思われる。
【0048】
<Zn/Ge含有量による半導体特性の変化>
(y1 ,y2 )=(0,0)、(15,0),(0,15),(5,5)、(10,10)、(15,15)、(20,20)、(30,30)である水素生成装置〔p〕〜〔r〕および〔a〕〜〔e〕をそれぞれ用い、可視光を照射しながら掃引速度20mV/sでCV測定を行った。具体的には、ライトオンとライトオフを繰り返しながら0Vからスタートして、貴側に0.4Vまで掃引し、次に卑側に−1Vまで掃引し、再び貴側に0Vまで掃引した。結果を図5および図6に示す。
なお、図5および図6において、(p)〜(r)、(a)〜(e)は、それぞれ、水素生成装置〔p〕〜〔r〕および〔a〕〜〔e〕についてのCV曲線を示す。
【0049】
図5および図6の結果から、ZnおよびGeの両方を量論比より15%以上過剰((y1 ,y2 )=(15,15))にして合成された光触媒〔c〕において、最も大きなカソード光電流が得られることが確認され、当該光触媒〔c〕が最も優れたp型半導体特性を示すことが明らかとなった。
【0050】
<Cu/Ag含有量による半導体特性の変化>
(y1 ,y2 )=(15,15)であって、x=0、0.25、0.5、0.75、1である水素生成装置〔s〕、〔t〕、〔f〕、〔c〕および〔g〕をそれぞれ用い、可視光を照射しながら掃引速度20mV/sでCV測定を行った。結果を図7に示す。
なお、図7において、(s)、(t)、(f)、(c)、(g)は、それぞれ、水素生成装置〔s〕、〔t〕、〔f〕、〔c〕、〔g〕についてのCV曲線を示す。
【0051】
図7の結果から、x=1、すなわちAgを含有しない光触媒〔g〕に係る水素生成装置〔g〕においては、+0.3V付近から立ち上がる大きなカソード光電流と、貴側の領域における大きなアノード暗電流が観察され、当該水素生成装置〔g〕における光触媒〔g〕が、p型半導体特性を有していることが明らかとなった。このアノード暗電流は、自己酸化反応によるものであると考えられる。
また、x=0.5、0.75、すなわちCuが多く含有された光触媒〔f〕、〔c〕に係るものにおいては、十分に大きなカソード光電流が観察されたことから、優れたp型半導体特性を示すことが明らかとなり、しかも、そのCuの含有量が増加するほど、大きなカソード光電流が得られる、すなわちより優れたp型半導体特性が得られることが判明した。さらに、これらのCuおよびAgを共に含む固溶体においては、Agを含有しないものに比べてアノード暗電流が抑制されており、このことから、これらのCuおよびAgを共に含む固溶体は、Agを含有しないものに比べて自己酸化に対し安定であることが明らかとなった。
一方、x=0、すなわちCuを含有しない光触媒〔s〕に係るものにおいては、カソード光電流とアノード光電流の双方が観察され、当該光触媒〔s〕が真性半導体特性を示すことが明らかとなった。
また、x=0.25、すなわちCuを含有するが極微量である光触媒〔t〕に係るものにおいては、わずかなアノード光電流およびカソード光電流が得られたことから、十分なp型半導体特性を示さないことが判明した。
【0052】
<カソード光電流の波長依存性>
(y1 ,y2 )=(15,15)であって、x=0.75である水素生成装置〔c〕について、それぞれ400nm、420nm、440nm、500nm、520nm、540nm、560nm、580nm、600nm、620nm、640nm以下の波長域の光を遮断するカットオフフィルターを介して可視光を照射すると共に参照極との間に−1.0Vの電位差を与えながら定電位電解測定(A1)を行った。また、まったく光を照射しない状態において定電位電解測定(A2)を行った。そして、(A1)で測定されるカソード電流値から(A2)で測定されるカソード電流値を引いた値を算出した。結果を図8に示す。なお、図8においては、光触媒〔c〕についての拡散反射スペクトルを共に示した。
【0053】
図8の結果から、カソード光電流が観察される波長と拡散反射スペクトルのピークの立ち上がりがほぼ一致したことから、得られたカソード光電流が、バンドギャップ励起によるものであることが明らかとなった。
【0054】
<光の照射時間に対するカソード光電流量の変化>
(y1 ,y2 )=(15,15)であって、x=0.75である光触媒〔c〕を用い、10時間にわたって、参照極との間に−1Vの電位差を与えると共に、可視光を照射しながら(光照射面積2.0cm2 )定電位電解測定を行うと共に水素の生成量の測定を行った。水素の生成量の定量は、オンラインガスクロマトグラフにて行った。
水素の生成量は10時間で4.2μmolであった。
また、光をまったく照射しない状態において定電位電解測定を行った。
定電位電解測定の結果を図9に示す。図9において、c(ライトオン)が可視光を照射しながら測定した定電位電解測定の結果であり、c(ライトオフ)が光をまったく照射しない状態で測定した定電位電解測定の結果である。
【0055】
図9の結果から、長時間にわたって比較的安定的にカソード光電流が得られることが確認された。また、理論値(8.3μmol)よりも低い値ではあったが、水素の生成が確認されたことから、得られたカソード光電流が、水の還元反応によるものであることが判明した。
【0056】
<水の理論分解電圧よりも小さい外部バイアスの印加条件下におけるカソード光電流量>
(y1 ,y2 )=(15,15)であって、x=0.75である光触媒〔c〕による2極式の水素生成装置〔c−2〕を用い、対極との間に、−1.1Vの外部バイアスを印加すると共に可視光を照射しながら(光照射面積1.7cm2 )定電位電解測定を行った。結果を図10に示す。
【0057】
図10の結果から、水の理論分解電圧(1.23V)よりも小さい外部バイアスの印加条件下において、比較的安定的にカソード光電流が得られることが確認された。このことから、この光触媒〔c〕による水素生成装置〔c−2〕が水の分解のための光エネルギー変換系として機能することが明らかとなった。
【符号の説明】
【0058】
10 セル
12 イオン交換膜
13A カソード室
13B アノード室
14 参照極
15 光触媒電極
17 対極
19 電圧印加手段
21 光触媒部
23 伸縮チューブ
24 銅線
25 ITO透明電極
25A 導電面
26 オーミック接触部
W 電解液
L 光

図1
図2
図3
図4
図5
図6
図7
図8
図9
図10