特許 5812881 タンデム型質量分析装置及びその質量分析方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】5812881

(24)【登録日】2015年10月2日

(45)【発行日】2015年11月17日

(54)【発明の名称】タンデム型質量分析装置及びその質量分析方法

(51)【国際特許分類】

   H01J 49/42 20060101AFI20151029BHJP

   G01N 27/62 20060101ALI20151029BHJP

【ＦＩ】

   H01J49/42

   G01N27/62 V

【請求項の数】7

【全頁数】11

(21)【出願番号】特願2012-10805(P2012-10805)

(22)【出願日】2012年1月23日

(65)【公開番号】特開2013-149554(P2013-149554A)

(43)【公開日】2013年8月1日

【審査請求日】2014年7月4日

(73)【特許権者】

【識別番号】501387839

【氏名又は名称】株式会社日立ハイテクノロジーズ

(74)【代理人】

【識別番号】110000350

【氏名又は名称】ポレール特許業務法人

(72)【発明者】

【氏名】照井 康

(72)【発明者】

【氏名】吉岡 信二

(72)【発明者】

【氏名】安田 博幸

(72)【発明者】

【氏名】檜山 俊幸

【審査官】 遠藤 直恵

(56)【参考文献】

【文献】 特表２００９−５２３２３４（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特表２００９−５１８６３１（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特表２０１０−５０５２１８（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００５−１０６５３７（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００８−０５８２８１（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｈ０１Ｊ ４９／００−４９／４８

Ｇ０１Ｎ ２７／６２

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

測定試料に電荷を与えるイオン源と、前記イオン源で生成したイオンを装置内に導入するインターフェイスと、直流電圧と高周波電圧とを重畳して印加される第１の４重極電極部と第２の４重極電極部と第３の４重極電極部の少なくとも３つの４重極電極部を有し、前記第３の４重極電極部を通過したイオンを検出する検出器と、前記第１の４重極電極部と第２の４重極電極部と第３の４重極電極部に印加する直流電圧と高周波電圧とを制御する制御装置を備え、前記第１の４重極電極部で測定試料由来の目的イオンのみを通過させ、前記第２の前記４重極電極部で前記第１の４重極電極部を通過した測定試料由来のイオンを解離してフラグメントイオンを生成し、前記第３の４重極電極部で前記フラグメントイオンを質量に応じて通過させてなるタンデム型質量分析装置において、
前記制御装置に、測定試料特性を表示する表示装置と、特性の具体値を入力する入力装置と、測定試料特性に対応したＭＳＭＳ電圧データを収納した記憶部と、印加電圧設定回路を設け、前記表示装置に表示された測定試料特性の具体値を指定することにより、前記制御装置により前記第２の４重極電極部に印加するＭＳＭＳ電圧を算出して設定し、前記記憶部は、測定試料の分子種に対応したＭＳＭＳ電圧データを収納する分子種／電圧データベースと、分子量に対応したＭＳＭＳ電圧データを収納する分子量／電圧データベースと、結合状態に対応したＭＳＭＳ電圧データを収納する結合状態／電圧データベースを備えたことを特徴とするタンデム型質量分析装置。

【請求項2】

測定試料に電荷を与えるイオン源と、前記イオン源で生成したイオンを装置内に導入するインターフェイスと、直流電圧と高周波電圧とを重畳して印加される第１の４重極電極部と第２の４重極電極部と第３の４重極電極部の少なくとも３つの４重極電極部を有し、前記第３の４重極電極部を通過したイオンを検出する検出器と、前記第１の４重極電極部と第２の４重極電極部と第３の４重極電極部に印加する直流電圧と高周波電圧とを制御する制御装置を備え、前記第１の４重極電極部で測定試料由来の目的イオンのみを通過させ、前記第２の前記４重極電極部で前記第１の４重極電極部を通過した測定試料由来のイオンを解離してフラグメントイオンを生成し、前記第３の４重極電極部で前記フラグメントイオンを質量に応じて通過させてなるタンデム型質量分析装置において、
前記制御装置に、測定試料特性を表示する表示装置と、特性の具体値を入力する入力装置と、測定試料特性に対応したＭＳＭＳ電圧データを収納した記憶部と、印加電圧設定回路を設け、前記表示装置に表示された測定試料特性の具体値を指定することにより、前記制御装置により前記第２の４重極電極部に印加するＭＳＭＳ電圧を算出して設定し、前記表示装置に表示する入力画面は、特定の分子種について分子量に応じて変化するＭＳＭＳ電圧を表示するグラフを有し、任意のユーザー設定値を前記グラフ上に表示することを特徴とするタンデム型質量分析装置。

【請求項3】

請求項１または２に記載されたタンデム型質量分析装置において、前記表示装置に表示し指定する測定試料特性を、測定試料の分子種、分子量または結合状態の少なくとも１つから選択したことを特徴とするタンデム型質量分析装置。

【請求項4】

請求項１乃至３のいずれかに記載されたタンデム型質量分析装置において、前記表示装
置に表示し指定する測定試料特性に、前記第２の４重極電極部に印加するＭＳＭＳ電圧を加えたことを特徴とするタンデム型質量分析装置。

【請求項5】

前請求項１乃至４のいずれかに記載されたタンデム型質量分析装置において、前記表示装置に表示する入力画面は、前記測定試料の分子種を選択するチェックボックス及び分子種を指定する指定ウィンドウと、分子量を選択するチェックボックス及び分子量を指定する指定ウィンドウと、結合状態を選択するチェックボックス及び結合状態を指定する指定ウィンドウと、前記第２の４重極電極部に印加するＭＳＭＳ電圧を選択するチェックボックス及びＭＳＭＳ電圧を指定する指定ウィンドウとを有することを特徴とするタンデム型質量分析装置。

【請求項6】

測定試料に電荷を与えるイオン源と、前記イオン源で生成したイオンを装置内に導入するインターフェイスと、直流電圧と高周波電圧とを重畳して印加される第１の４重極電極部と第２の４重極電極部と第３の４重極電極部の少なくとも３つの４重極電極部を有し、前記第３の４重極電極部を通過したイオンを検出する検出器と、前記第１の４重極電極部と第２の４重極電極部と第３の４重極電極部に印加する直流電圧と高周波電圧とを制御する制御装置を備え、前記第１の４重極電極部で測定試料由来の目的イオンのみを通過させ、前記第２の前記４重極電極部で前記第１の４重極電極部を通過した測定試料由来のイオンを解離してフラグメントイオンを生成し、前記第３の４重極電極部で前記フラグメントイオンを質量に応じて通過させてなるタンデム型質量分析装置の質量分析方法において、 前記制御装置の前記表示装置に、測定試料の分子種、分子量、結合状態、ＭＳＭＳ電圧の少なくとも１つからなる指定ウィンドウを表示し、
選択された指定ウィンドウに測定試料の分子種、分子量、結合状態、ＭＳＭＳ電圧の少なくとも１つの具体値を入力し、
入力された測定試料の分子種、分子量、結合状態、ＭＳＭＳ電圧の少なくとも１つの具体値に応じて前記タンデム型質量分析装置の前記第２の４重極電極部に印加するＭＳＭＳ電圧を算出して決定し、
始めに前記測定試料の分子種を指定し、次に前記測定試料の分子量を指定し、最後に前記測定試料の結合状態を指定することを特徴とするタンデム型質量分析装置の質量分析方法。

【請求項7】

請求項６に記載されたタンデム型質量分析装置の質量分析方法において、前記制御装置の前記記憶部は、分子種に対応したＭＳＭＳ電圧データを収納する分子種／電圧データベースと、分子量に対応したＭＳＭＳ電圧データを収納する分子量／電圧データベースと、結合状態に対応したＭＳＭＳ電圧データを収納する結合状態／電圧データベースの少なくとも１つを備えたことを特徴とするタンデム型質量分析装置の質量分析方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、タンデム型質量分析装置及びこれを用いた質量分析方法に関する。

【背景技術】

【0002】

質量分析装置は、大きく定量分析を主に行う装置と定性分析を主に行う装置に分かれる。定量分析を主に行う代表的な質量分析装置には、装置内に４重極質量分析計（Quadrupole Mass Spectrometer:ＱＭＳ）を有する４重極型質量分析装置がある。

【0003】

一方、定性分析を主に行う質量分析装置には飛行時間質量分析計（以下ＴＯＦ／ＭＳと記載）があり、測定イオンを真空中で飛行させ、イオンが検出器まで到達する時間を計測することにより質量分離を行う。ＴＯＦ／ＭＳは観測可能な質量幅が広く、また高分解能を持つ質量スペクトルが得やすいことから定性分析性能が高くなる。しかし、測定イオンを断続的に飛行させるため定量分析性能はＱＭＳと比較して劣る場合が多い。昨今は複数のＱＭＳとＴＯＦ／ＭＳを結合したハイブリッド型の質量分析装置が製品化されており、定性、定量分析の両方に対応している。

【0004】

４重極型質量分析装置に用いられる４重極型質量分析計はＱマスもしくはマスフィルタとも呼ばれ、４本の円柱状電極からなる。円柱状電極は横断面において円の中心を正方形の頂点に置いて組み合わされる。

【0005】

固定された円柱状電極の隣り合った電極に、それぞれに正負の直流と高周波交流電圧を重畳して印加すると、円柱状電極の中を電荷を持ったイオンが通過する際に振動しながら通過し、電圧、周波数に応じてある特定のイオンのみが安定な振動をして電極内を通過する。一方、それ以外のイオンは電極内を通過中に振動が大きくなり、電極に衝突、通過することができなくなる。この直流電圧と交流電圧の比を一定に保ちつつ高周波交流電圧を直線的に変化させる事で質量スペクトルを得る。また電極に交流電圧のみを印加した場合には前記のイオン選択性が無くなり、多くのイオンが電極内を通過可能となる。

【0006】

質量分析装置の分析方法のひとつに、タンデム質量分析法（以下ＭＳＭＳ分析と記載）がある。ＭＳＭＳ分析とは、複雑系測定試料からある特定イオンのみを選択することにより、ＳＮ比を向上させたり測定試料の構造解析が可能となるなど、質量分析装置において非常に重要な分析法である。ＭＳＭＳ分析はたとえば４重極質量分析計を複数組み合わせて用いることで実現可能となる。

【0007】

ＭＳＭＳ定量分析を行う質量分析装置には、装置内に３つの４重極質量分析計を有するトリプル４重極型質量分析装置（以下Ｔｒｉｐｌｅ ＱＭＳと記載）がある。Ｔｒｉｐｌｅ ＱＭＳは、測定試料の特定イオンを連続的に通過させることが可能であり定量分析性能が高くなる。Ｔｒｉｐｌｅ ＱＭＳでは、第１の４重極質量分析計によって測定試料由来の特定イオンのみを取り出し、第２の４重極質量分析計（高周波交流電圧のみを印加）によって取り出したイオンをガス等に衝突させることで解離させ、フラグメントイオンを生成させる。次いで生じたフラグメントイオンを第３の４重極質量分析計によって質量分離し、質量スペクトルを得る。

【0008】

従来、ＭＳＭＳ定量分析を行う質量分析装置には、特許文献１に示す質量分析装置が知られている。特許文献１では、三連四重極質量分析装置において３つの四重極ロッドセットＱ１、Ｑ２、Ｑ３を備え、第１ロッドセットＱ１は前駆イオンを第２ロッドセットＱ２に送り、第２ロッドセットＱ２に衝突ガスが供給され、第３ロッドセットＱ３でイオンをトラップしスキャンアウトして質量分析を行う。また、各ロッドセットへのＤＣ電圧、ＡＣ電圧を制御している。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0009】

【特許文献1】特開２００５−５２４２１１号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0010】

昨今の質量分析装置の利用目的は、従来の低分子試料の測定から、プロテオーム解析に代表されるような生体分子の構造解析や、血中薬物の濃度測定等が増えており、複雑系測定試料となっている。そのため前記のＭＳＭＳ分析は、質量分析装置の機能として特に重要視されるようになっている。利用目的の拡大から、質量分析装置で測定する試料種もアミノ酸、ペプチド、核酸、食品中の残留農薬、ポリフェノール、有機合成試料および医薬品の代謝物等々、多様化している。これらの測定試料をＭＳＭＳ分析する際、分析者はそれぞれのＭＳＭＳ分析の装置条件を検討し、測定試料に応じて適切な設定をする必要があった。

【0011】

ＭＳＭＳ分析時に必要となる装置条件に、第２の４重極質量分析計内に印加するＭＳＭＳ電圧や導入するガスの種類、ガスの量等がある。従来の質量分析装置では、ＭＳＭＳ電圧をユーザーが測定試料毎に設定しＭＳＭＳ分析を行っていた。しかしＭＳＭＳ電圧値は、ガスの種類や量によって異なってくる。またＭＳＭＳ電圧値は装置固有の値であるため、例えばＭＳＭＳ分析法の実現方法が異なったり、質量分析装置のメーカが異なると、同一の測定試料でもまったく違う電圧となる場合があった。

【0012】

特許文献１の質量分析装置は、ＭＳＭＳ電圧のＤＣ電圧を所定範囲でステップ状に上昇させ、その制御をソフトウェアプログラム又は所定線図に従って制御する。しかし、ユーザーが指定できるのは衝突エネルギーの拡がりのみで、設定の自由度がないという問題があった。

【課題を解決するための手段】

【0013】

本発明は、測定試料に電荷を与えるイオン源と、イオン源で生成したイオンを装置内に導入するインターフェイスと、直流電圧と高周波電圧とを重畳して印加される第１の４重極電極部と第２の４重極電極部と第３の４重極電極部の少なくとも３つの４重極電極部を有し、第３の４重極電極部を通過したイオンを検出する検出器と、第１の４重極電極部と第２の４重極電極部と第３の４重極電極部に印加する直流電圧と高周波電圧とを制御する制御装置を備え、第１の４重極電極部で測定試料由来の目的イオンのみを通過させ、第２の４重極電極部で第１の４重極電極部を通過した測定試料由来のイオンを解離してフラグメントイオンを生成し、第３の４重極電極部でフラグメントイオンを質量に応じて通過させてなるタンデム型質量分析装置において、制御装置に、測定試料特性を表示する表示装置と、特性の具体値を入力する入力装置と、測定試料特性に対応したＭＳＭＳ電圧データを収納した記憶部と、印加電圧設定回路を設け、表示装置に表示された測定試料特性の具体値を指定することにより、制御装置により第２の４重極電極部に印加するＭＳＭＳ電圧を算出し設定することを特徴とする。

【0014】

また、タンデム型質量分析装置において、記憶部は、測定試料の分子種に対応したＭＳＭＳ電圧データを収納する分子種／電圧データベースと、分子量に対応したＭＳＭＳ電圧データを収納する分子量／電圧データベースと、結合状態に対応したＭＳＭＳ電圧データを収納する結合状態／電圧データベースを備えたことを特徴とする。

【0015】

また、タンデム型質量分析装置において、表示装置に表示し指定する測定試料特性を測定試料の分子種、分子量または結合状態の少なくとも１つから選択したことを特徴とする。

【0016】

また、タンデム型質量分析装置において、表示装置に表示し指定する測定試料特性に、第２の４重極電極部に印加するＭＳＭＳ電圧を加えたことを特徴とする。

【0017】

また、タンデム型質量分析装置において、表示装置に表示する入力画面は、測定試料の分子種を選択するチェックボックス及び分子種を指定する指定ウィンドウと、分子量を選択するチェックボックス及び分子量を指定する指定ウィンドウと、結合状態を選択するチェックボックス及び結合状態を指定する指定ウィンドウと、第２の４重極電極部に印加するＭＳＭＳ電圧を選択するチェックボックス及びＭＳＭＳ電圧を指定する指定ウィンドウとを有することを特徴とする。

【0018】

また、タンデム型質量分析装置において、表示装置に表示する入力画面は、特定の分子種について分子量に応じて変化するＭＳＭＳ電圧を表示するグラフを有し、任意のユーザー設定値をグラフ上に表示することを特徴とする。

【0019】

さらに、測定試料に電荷を与えるイオン源と、イオン源で生成したイオンを装置内に導入するインターフェイスと、直流電圧と高周波電圧とを重畳して印加される第１の４重極電極部と第２の４重極電極部と第３の４重極電極部の少なくとも３つの４重極電極部を有し、第３の４重極電極部を通過したイオンを検出する検出器と、第１の４重極電極部と第２の４重極電極部と第３の４重極電極部に印加する直流電圧と高周波電圧とを制御する制御装置を備え、第１の４重極電極部で測定試料由来の目的イオンのみを通過させ、第２の４重極電極部で第１の４重極電極部を通過した測定試料由来のイオンを解離してフラグメントイオンを生成し、第３の４重極電極部でフラグメントイオンを質量に応じて通過させてなるタンデム型質量分析装置の質量分析方法において、制御装置の表示装置に、測定試料の分子種、分子量、結合状態、ＭＳＭＳ電圧の少なくとも１つからなる指定ウィンドウを表示し、選択された指定ウィンドウに測定試料の分子種、分子量、結合状態、ＭＳＭＳ電圧の少なくとも１つの具体値を入力し、入力された測定試料の分子種、分子量、結合状態、ＭＳＭＳ電圧の少なくとも１つの具体値に応じてタンデム型質量分析装置の第２の４重極電極部に印加するＭＳＭＳ電圧を算出し決定することを特徴とする。

【0020】

さらに、タンデム型質量分析装置の質量分析方法において、始めに測定試料の分子種を指定し、次に測定試料の分子量を指定し、最後に測定試料の結合状態を指定することを特徴とする。

【0021】

さらに、タンデム型質量分析装置の質量分析方法において、制御装置の記憶部は、分子種に対応したＭＳＭＳ電圧データを収納する分子種／電圧データベースと、分子量に対応したＭＳＭＳ電圧データを収納する分子量／電圧データベースと、結合状態に対応したＭＳＭＳ電圧データを収納する結合状態／電圧データベースの少なくとも１つを備えたことを特徴とする。

【発明の効果】

【0022】

本発明は、イオン源と、インターフェイスと、直流電圧と高周波電圧とを重畳して印加される少なくとも３つの４重極電極部を有し、第３の４重極電極部を通過したイオンを検出する検出器と、第１の４重極電極部と第２の４重極電極部と第３の４重極電極部に印加する直流電圧と高周波電圧とを制御する制御装置を備え、第１の４重極電極部で測定試料由来の目的イオンのみを通過させ、第２の４重極電極部でフラグメントイオンを生成し、第３の４重極電極部でフラグメントイオンを質量に応じて通過させるタンデム型質量分析装置において、制御装置に、測定試料特性を表示する表示装置と、特性の具体値を入力する入力装置と、測定試料特性に対応したＭＳＭＳ電圧データを収納した記憶部と、印加電圧設定回路を設け、表示装置に表示された測定試料特性の具体値を指定することにより、制御装置により第２の４重極電極部に印加するＭＳＭＳ電圧を算出し設定して、ユーザーが任意且つ容易に測定試料を指定する様に構成したことによって、ＭＳＭＳ分析時の質量分析装置の条件設定が従来より大幅に簡略化され、使い勝手の良い質量分析装置および質量分析方法を実現することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【0023】

【図1】本発明の実施例におけるトリプル４重極型質量分析装置を示す模式図。

【図2】本発明の実施例における、質量分析装置制御装置の構成を示すブロック図。

【図3】本発明の実施例における、ＭＳＭＳ質量分析方法を示すフロー図。

【図4】本発明の実施例における、ＭＳＭＳ条件を設定する画面を示す説明図。

【図5】本発明における、分子種毎の分子量とＭＳＭＳ電圧をしめすグラフ。

【発明を実施するための形態】

【0024】

以下に本発明を実施例と図面について説明する。

【実施例】

【0025】

図１に示す質量分析装置ＭＳにおいて、液体クロマトグラフ等のポンプより供給された測定試料を、イオン源１００にてイオン化する。イオン源は大気圧下であり質量分析装置は真空雰囲気で動作する事から、大気と真空雰囲気間のインターフェイス２００を通して、イオン１１０を質量分析装置内に導入する。質量分析装置ＭＳは、４重極質量分析計からなる３つの４重極電極部４００、４１０、４２０を持ち、各４重極電極部は各々４重極電極３００、３１０、３２０を有する。

【0026】

ＴｒｉｐｌｅＱＭＳによるＭＳＭＳ分析は種々の方法があるが、代表的な測定法を以下に示す。

【0027】

イオン源から発生するイオンは様々な質量を持っているが、第１の４重極電極部４００で測定試料の由来の目的イオンのみを選択通過させる。第２の４重極電極部４１０には、目的イオンを解離させるためのコリジョンガス８００（窒素ガスやアルゴンガス等）が供給源から、ガスライン８１０を通して導入されている。第２の４重極電極部４１０の４重極電極３１０は、通常は交流電圧のみを印加し質量選択性を無くし、第１の４重極電極部４００を通過してきた目的イオンとガスを衝突させる事でフラグメントイオンを生成する。ＭＳＭＳ条件のうち、ＭＳＭＳ電圧は、この第２の４重極電極部４１０に印加する電位差である。ＭＳＭＳ分析時、第２の４重極電極３１０には直流電圧を印加しても良い。

【0028】

生成したフラグメントイオンは、第２の４重極電極部４１０を通過し、第３の４重極電極部４２０に入る。第３の４重極電極３２０に、目的のフラグメントイオンを通過させる高周波電圧と直流電圧を印加すると、目的のフラグメントイオンのみが第３の４重極電極部４２０を通過する。通過した目的とするフラグメントイオンを検出器５００で検出する。ＡＭＰ、ＡＤ変換器等を実装した回路基板６００から、データ処理部７００へデータが送られることで、ＭＳＭＳ分析が行われる。１０は上記各構成要素を制御する制御装置である。

【0029】

図２に、制御装置１０の構成を示す。ユーザーは表示装置２を見ながら、入力装置３によって測定試料の分子種、分子量、結合状態の少なくとも１つを選択する。これに従い、選択回路４が分子種/電圧データベース５、分子量/電圧データベース６、結合状態/電圧データベース７のいずれかのデータベースから、所定の対応するＭＳＭＳ電圧を読み出して印加電圧設定回路８に出力する。印加電圧設定回路８は指定されたＭＳＭＳ電圧の値を電圧発生器９に指示して、ＭＳＭＳ電圧として出力させる。出力されたＭＳＭＳ電圧は、図１の第２の４重極電極部４１０に入力され、フラグメントイオンが形成される。

【0030】

ユーザーは表示装置２を見ながら、ＭＳＭＳ電圧の値を入力して直接指定しても良い。

【0031】

制御装置１０は、代表的には、キーボード等の入力装置とディスプレイ等の表示装置、記憶装置を有するコンピュータと、コンピュータ上で実行される質量分析用プログラムから構成される。これらは専用のハードロジック回路から構成しても良い。

【0032】

図３は、本発明実施例におけるＭＳＭＳ質量分析方法を示すフロー図である。図３において、始めに、図２の表示装置２に測定試料設定画面を表示させる。

【0033】

ユーザーがＳ２０で分子種を選択すると、Ｓ２１で分子種/電圧データベースが自動的に選択され、さらに、ユーザーがＳ２２で特定の分子種を指定すると、Ｓ２３でこれに対応するＭＳＭＳ電圧が自動的に設定され、Ｓ６０でＭＳＭＳ電圧が出力され、Ｓ７０で第２の質量分析計に印加され、フラグメントイオンが生成する。

【0034】

また、ユーザーがＳ３０で分子量を選択すると、Ｓ３１で分子量/電圧データベースが自動的に選択され、さらに、ユーザーがＳ３２で特定の分子量を指定すると、Ｓ３３でこれに対応するＭＳＭＳ電圧が自動的に設定され、Ｓ６０でＭＳＭＳ電圧が出力され、Ｓ７０で第２の質量分析計に印加され、フラグメントイオンが生成する。

【0035】

さらに、ユーザーがＳ４０で分子量を選択すると、Ｓ４１で結合状態/電圧データベースが自動的に選択され、さらに、ユーザーがＳ４２で特定の結合状態を指定すると、Ｓ４３でこれに対応するＭＳＭＳ電圧が自動的に設定され、Ｓ６０でＭＳＭＳ電圧が出力され、Ｓ７０で第２の質量分析計に印加され、フラグメントイオンが生成する。

【0036】

さらに、ユーザーがＳ５０で最終的ＭＳＭＳ電圧を指定すると、直ちにＳ６０でＭＳＭＳ電圧が出力され、Ｓ７０で第２の質量分析計に印加され、フラグメントイオンが生成する。

【0037】

図３では、分子種、分子量、結合状態からなる測定試料特性の、いずれか１つを選択する場合のフロー図を示したが、この他に、上記測定試料特性の任意の２つまたは３つ全てを組み合わせる場合のフロー図もあり、測定試料特性の実施順序を選択することもできる。

【0038】

図４に、表示装置２に表示される、第２の４重極電極部４１０に印加するＭＳＭＳ電圧を設定するための、測定試料設定用の入力画面１０００を示す。図４では、測定試料設定として、チェックボックス１０１０で分子種を選択しプルダウンメニューからなる指定ウィンドウ１０１１で特定の分子種を入力する。また、チェックボックス１０２０で分子量を選択し、指定ウィンドウ１０２１で特定の分子量を入力する。また、チェックボックス１０３０で結合状態を選択し、指定ウィンドウ１０３１で特定の結合状態を入力する。

【0039】

さらに、従来例と同じく、チェックボックス１０４０及び指定ウィンドウ１０４１で任意のＭＳＭＳ電圧を直接設定することも可能としている。

【0040】

分子種には、例えばＰｅｐｔｉｄｅやＳｍａｌｌ ｍｏｌｅｃｕｌａｒ、Ｓｕｇａｒ ｃｈａｉｎ、Ａｇｒｉｃｕｌｔｕｒａｌ ｃｈｅｍｉｃａｌ等が選択可能である。この分子種のみを選択項目とすると、それぞれの分子種（具体値）に応じて、事前にデータベースに保存されたデータである代表的な定電圧がＭＳＭＳ条件として設定される。

【0041】

分子量は、予め知られている測定試料のおおよその分子量の具体値をユーザーが入力する。分子量の大きさとＭＳＭＳ電圧の関係は、通常は分子量が大きければ電圧も高くなる正の相関関係にあり、ＭＳＭＳ電圧は、事前に作成された分子量−ＭＳＭＳ条件の電圧のグラフに従い設定される。

【0042】

結合状態は、測定試料の目的イオンにおける、例えば二重結合、硫黄結合、リン酸結合等の解離させたい部位の結合状態をユーザーが入力する。化学結合の種類によって結合エネルギーが一意に決定されるため、予め作成した結合エネルギーに対応する定電圧がＭＳＭＳ電圧として設定される。従来と同様に直接ＭＳＭＳ電圧を設定する事も可能である。

【0043】

実際のＭＳＭＳ分析においては、始めに分子種を決定し、次に分子量を決定し、さらにこれら分子種と分子量が決定された測定試料の結合状態を決定すると、ターゲットが的確に絞り込まれるため、最も適切に効率よく測定試料のＭＳＭＳ分析を行うことができる。

【0044】

図５は、表示装置２に表示された、分子種毎に分子量に対応してＭＳＭＳ電圧を決定する入力画面に示されたグラフである。

【0045】

図５において、通常分子量が大きければＭＳＭＳ電圧も高くなる傾向にあり、また分子種が異なるとＭＳＭＳ電圧は大きく異なる事から、事前に準備したデータに基づいて分子種毎に電圧設定グラフが作成される。図５では、分子種１では、最小分子量時Ｖ１ｓ（Ｖ）、最大分子量時Ｖ１ｅ（Ｖ）の電圧が設定される。また、分子種２では、最小分子量時Ｖ２ｓ（Ｖ）、最大分子量時Ｖ２ｅ（Ｖ）の電圧が設定される。

【0046】

上記の方式ではおおよそのＭＳＭＳ電圧設定が可能となるが、すでにデータが十分に得られた分子種の場合には、ユーザーが分子量とＭＳＭＳ電圧を入力する事によって、新たに設定カーブを作成する事も可能である。ユーザー設定カーブを作成する事により、ＭＳＭＳ電圧が最適化されＭＳＭＳ測定時の測定感度が向上する。

【符号の説明】

【0047】

２・・・表示装置
３・・・入力装置
４・・・選択回路
５・・・分子種／電圧データベース
６・・・分子量／電圧データベース
７・・・結合状態／電圧データベース
８・・・印加電圧設定回路
９・・・電圧発生器
１０・・・制御装置
１００ ・・・イオン源
１１０ ・・・イオン源にて生成したイオンの流れ
２００ ・・・インターフェイス
３００ ・・・第１の４重極電極
３１０ ・・・第２の４重極電極
３２０ ・・・第３の４重極電極
４００ ・・・第１の４重極電極部
４１０ ・・・第２の４重極電極部
４２０ ・・・第３の４重極電極部
５００ ・・・検出器
６００ ・・・ＡＭＰ、ＡＤ変換、ＰＣ通信等の回路部
７００ ・・・ＰＣ等のデータ処理部
８００ ・・・ＭＳＭＳ分析用コリジョンガス
８１０ ・・・ＭＳＭＳ分析用ガスライン
１０００・・・ＭＳＭＳ分析条件を設定するための測定試料設定画面

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】