特許 5906577 測光装置およびカメラ

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】5906577

(24)【登録日】2016年4月1日

(45)【発行日】2016年4月20日

(54)【発明の名称】測光装置およびカメラ

(51)【国際特許分類】

   G03B 7/093 20060101AFI20160407BHJP

   G03B 7/08 20140101ALI20160407BHJP

   G03B 7/28 20060101ALI20160407BHJP

   H04N 5/235 20060101ALI20160407BHJP

【ＦＩ】

   G03B7/093

   G03B7/08

   G03B7/28

   H04N5/235

【請求項の数】8

【全頁数】13

(21)【出願番号】特願2011-82797(P2011-82797)

(22)【出願日】2011年4月4日

(65)【公開番号】特開2012-220528(P2012-220528A)

(43)【公開日】2012年11月12日

【審査請求日】2014年2月25日

(73)【特許権者】

【識別番号】000004112

【氏名又は名称】株式会社ニコン

(74)【代理人】

【識別番号】100084412

【弁理士】

【氏名又は名称】永井 冬紀

(74)【代理人】

【識別番号】100078189

【弁理士】

【氏名又は名称】渡辺 隆男

(72)【発明者】

【氏名】犬童 真成

【審査官】 高橋 雅明

(56)【参考文献】

【文献】 特開２００８−３００９５３（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平０６−０９５２００（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平０６−０９５２０１（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平０９−１６００８８（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００４−０７００９９（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平１０−１７０９７５（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｇ０３Ｂ ７／０９３

Ｇ０３Ｂ ７／０８

Ｇ０３Ｂ ７／２８

Ｈ０４Ｎ ５／２３５

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

受光素子からの出力信号を用いて測光する第１測光モードと、前記受光素子からの出力信号を用いて前記第１測光モードよりも暗い環境で測光するための第２測光モードとを設定可能な設定部と、
前記設定部が前記第１測光モード又は前記第２測光モードに設定されている場合において、前記出力信号の最大値が第１の値よりも大きいとき前記出力信号よりも後に前記受光素子から出力された信号を用いて測光演算を行い、前記設定部が前記第１測光モードに設定され前記出力信号の最大値が前記第１の値よりも小さい場合、前記出力信号の最大値が前記第１の値より小さい第２の値よりも大きく、前記出力信号の最小値が前記第２の値よりも小さい第３の値よりも小さいとき前記出力信号を用いて測光演算を行い、前記設定部が前記第２測光モードに設定され前記出力信号の最大値が前記第１の値よりも小さい場合、前記出力信号の最大値が前記第２の値より小さい第４の値よりも大きく、前記出力信号の最小値が前記第３の値よりも小さい第５の値よりも小さいとき前記出力信号を用いて測光演算を行う演算部とを含む測光装置。

【請求項2】

請求項１に記載された測光装置であって、
前記演算部は、前記設定部が前記第１測光モードに設定されている場合、前記出力信号の最大値が前記第２の値よりも小さいとき前記出力信号を用いて測光演算を行うことなく前記出力信号を用いて前記受光素子の蓄積時間を演算し、前記設定部が前記第２測光モードに設定されている場合、前記出力信号の最大値が前記第４の値よりも小さいとき前記出力信号を用いて測光演算を行うことなく前記出力信号を用いて前記受光素子の蓄積時間を演算する測光装置。

【請求項3】

請求項１又は請求項２に記載された測光装置であって、
前記第３の値は前記第４の値よりも小さい測光装置。

【請求項4】

請求項１乃至請求項３の何れか１項に記載された測光装置であって、
前記演算部は、前記設定部が前記第１測光モードに設定されている場合、前記出力信号の最大値が前記第２の値よりも小さいときに前記出力信号が有効ではないと判断し、前記設定部が前記第２測光モードに設定されている場合、前記出力信号の最大値が前記第４の値よりも小さいときに前記出力信号が有効ではないと判断する測光装置。

【請求項5】

請求項１〜４のいずれか一項に記載の測光装置において、
前記受光素子からの測光出力を所定の目標値に近づけるように次回の蓄積時間を演算する演算部をさらに備え、
前記演算部は、前記設定部が前記第２測光モードに設定されている場合には、前記設定部が前記第１測光モードに設定されている場合に比べて前記蓄積時間の上限を長く変更する測光装置。

【請求項6】

請求項５に記載の測光装置において、
前記第３の値と前記第５の値との差は、前記蓄積時間の上限の長さに応じる測光装置。

【請求項7】

請求項５または６に記載の測光装置において、
前記第２の値と前記第４の値との差は、前記蓄積時間の上限の長さに応じる測光装置。

【請求項8】

請求項１〜７のいずれか一項に記載の測光装置を備えることを特徴とするカメラ。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、測光装置およびカメラに関する。

【背景技術】

【0002】

蓄積型の受光素子を用いる測光装置が知られている（特許文献１参照）。一般に、測光装置は受光素子からの出力信号値が所定レベルになるようにAGC（AUTO GAIN CONTROL）などで蓄積制御される。蓄積後の出力信号レベルが低くて測光演算に適さない場合は、蓄積時間を長く変更して蓄積動作をやり直す。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特開平９−１６００８８号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

しかしながら、極めて暗い環境において、更に、その暗い環境の中で被写体の輝度が変化する場合はAGCで蓄積時間を長くするだけでは不十分という問題があった。とくに、ＬＶ０以下で測光させたい場合に問題となりやすく、また、レリーズタイムラグが大きくなってしまう、という不具合もあった。

【課題を解決するための手段】

【0005】

本発明による測光装置は、受光素子からの出力信号を用いて測光する第１測光モードと、受光素子からの出力信号を用いて第１測光モードよりも暗い環境で測光するための第２測光モードとを設定可能な設定部と、設定部が第１測光モード又は第２測光モードに設定されている場合において、出力信号の最大値が第１の値よりも大きいとき出力信号よりも後に受光素子から出力された信号を用いて測光演算を行い、設定部が第１測光モードに設定され出力信号の最大値が第１の値よりも小さい場合、出力信号の最大値が第１の値より小さい第２の値よりも大きく、出力信号の最小値が第２の値よりも小さい第３の値よりも小さいとき出力信号を用いて測光演算を行い、設定部が第２測光モードに設定され出力信号の最大値が第１の値よりも小さい場合、出力信号の最大値が第２の値より小さい第４の値よりも大きく、出力信号の最小値が第３の値よりも小さい第５の値よりも小さいとき出力信号を用いて測光演算を行う演算部とを含む。
本発明によるカメラは、上記の測光装置を備える。

【発明の効果】

【0006】

本発明によれば、暗い環境でも好適な測光が可能な測光装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【0007】

【図1】本発明の一実施の形態による測光装置を搭載した一眼レフ電子カメラの要部構成を説明する図である。

【図2】電子カメラの測光部を説明するブロック図である。

【図3】撮影処理の流れを説明するフローチャートである。

【図4】マイクロコンピュータが行う測光処理の流れを説明するフローチャートである。

【図5】有効性判定処理の流れを説明するフローチャートである。

【発明を実施するための形態】

【0008】

以下、図面を参照して本発明を実施するための形態について説明する。図１は、本発明の一実施の形態による測光装置を搭載した一眼レフ電子カメラの要部構成を説明する図である。図１において、カメラ本体４に対して着脱可能な撮影レンズ１を構成する鏡筒が装着されている。

【0009】

被写体からの光は、撮影光学系２および絞り３を介してカメラ本体４へ入射される。カメラ本体４に入射した被写体光は、レリーズ前は図１に例示したミラーダウン状態にある半透過のクイックリターンミラー（以下メインミラーと呼ぶ）５で上方のファインダー部へ向けて折り曲げられ、スクリーン６へ向けて進行する。また、メインミラー５を透過した被写体光は、サブミラー１４によって下方へ折り曲げられ、焦点検出センサー１５へ導かれる。

【0010】

スクリーン６へ入射された被写体光束は、撮影光学系２によって拡散面６ａに結像する。スクリーン６を透過した光束はさらに、ファインダー光学系の光軸２２に沿ってペンタプリズム８へ入射される。ペンタプリズム８は、入射された被写体光をファインダーレンズ９へ導く。撮影者は、接眼部１０からファインダーレンズ９を通してファインダーによる被写体像を観察する。

【0011】

また、スクリーン６を通過した光束の一部は、ファインダー光学系の光軸２２から傾いた測光光学系光軸２３の方向へ進み、三角プリズム１１の反射面１１ａで上方へ折り曲げられる。この光束は不図示の測光絞りおよび測光レンズ１２を介して測光センサー１３の受光面に再結像する。

【0012】

レリーズ後は、メインミラー５が上方へ回動し、全ての被写体光は開駆動されたメカニカルシャッター１６を介して撮像素子１７へ導かれ、その撮像面上に被写体像を結像する。撮像素子１７は、撮像面上に結像されている被写体像を撮像し、被写体像の明るさに応じた光電変換信号を出力する。撮像が終了するとメカニカルシャッター１６が閉駆動され、メインミラー５がダウン位置へ戻る。

【0013】

上述した電子カメラにおいて、測光センサー１３は、画素に対応する複数の光電変換素子を備えたＣＭＯＳイメージセンサーなどによって構成される。光電変換素子は、光の強さに応じた信号電荷を蓄積する。測光センサー１３による蓄積信号は、測光演算の他にもＴＴＬ(through the lens)調光演算の他に、顔検出処理やシーン認識処理などにも用いられる。このため、測光センサー１３による蓄積信号に基づいて得られる画像から色情報が得られるように、測光センサー１３の受光面には画素位置に対応させてベイヤー配列されたカラーフィルタ１３ａが設けられている。

【0014】

＜測光部の構成＞
本実施形態は上記電子カメラの測光部に特徴を有するので、以下の説明は測光部を中心に行う。図２は、電子カメラの測光部を説明するブロック図である。測光部は、測光光学系１１，１２と、測光センサー１３と、Ａ／Ｄ変換部５１と、信号処理部５２と、マイクロコンピュータ５３とを有する。マイクロコンピュータ５３には、レリーズ釦５４が押下操作されたことを示すレリーズ操作信号や、モード設定部材５５から「低輝度撮影モード」への切替えまたは「通常モード」への切替えを指示する信号が入力される。「低輝度撮影モード」は、「通常モード」に比べて暗い環境（たとえば、ＬＶ０以下）で測光処理を行わせるモードである。

【0015】

本実施形態における測光モードには、たとえば、「分割測光モード」、「中央重点測光モード」、「スポット測光モード」がある。「分割測光モード」は、撮影画面を複数に分割して複数の輝度値を算出し、これら複数の輝度値に基づいて露出演算を行うモードである。「中央重点測光モード」は、撮影画面の中央部に重点をおいた輝度値に基づいて露出演算を行うモードである。「スポット測光モード」は、撮影画面のうち所定の狭い範囲の輝度値に基づいて露出演算を行うモードである。本実施形態では、マイクロコンピュータ５３が不図示の測光モード切替え操作部材からの操作信号に応じて測光モードを切替える他、「低輝度撮影モード」の場合には測光モード切替え操作部材からの操作信号にかかわらず自動的に「分割測光モード」へ切替える。

【0016】

マイクロコンピュータ５３は、測光に関する演算と測光センサー１３に対する蓄積動作の制御とを行う。蓄積動作の制御は、蓄積時間および増幅ゲインの少なくとも一方を変化させる。増幅ゲインは、測光センサー１３に設けられている不図示の増幅アンプのゲインのことをいう。

【0017】

測光光学系１１および１２を通過した測光用光束は、測光センサー１３上に被写体像を結像する。測光センサー１３は、カラーフィルタ１３ａ（図１）を通して受光した光電変換信号を出力する。カラーフィルタ１３ａは、たとえば、測光センサー１３の画素位置に配設されたＲ，Ｇ，Ｂ色のフィルタによって構成される。Ｒ色のフィルタを通して受光した画素からはＲ色成分の光に対応する光電変換信号が出力され、Ｇ色のフィルタを通して受光した画素からはＧ色成分の光に対応する光電変換信号が出力され、Ｂ色のフィルタを通して受光した画素からはＢ色成分の光に対応する光電変換信号が出力される。

【0018】

測光センサー１３には、マイクロコンピュータ５３に含まれる測光センサー制御部５３１から駆動用クロック信号、蓄積時間を制御する信号、および増幅ゲインを制御するゲイン制御信号がそれぞれ入力される。測光センサー１３は、蓄積した電荷信号をＡ／Ｄ変換部５１へ出力する。Ａ／Ｄ変換部５１は、入力された信号をＡ／Ｄ変換（アナログ信号→ディジタル信号へ変換）することにより、画素ごとに測光デジタル信号を得る。信号処理部５２は、測光デジタル信号に対してクランプ処理などを行う。クランプ処理は、測光センサー１３にあらかじめ設けられている遮光画素（オプティカルブラックと呼ばれる）からの出力データがいわゆる黒レベル（測光出力データの基準）となるようにクランプすることをいう。

【0019】

蓄積時間、ゲイン算出部５３２は、信号処理部５２から出力された測光出力データに基づいて、測光センサー１３の次回の蓄積のための蓄積時間および増幅ゲインをそれぞれ算出する。有効性判定部５３３は、信号処理部５２から出力された測光出力データの有効性を判定する。目標レベル、有効性判定レベル算出部５３４は、信号処理部５２から出力された測光出力データに基づいて、次回の蓄積によって得ようとする測光出力データの目標レベル、および次回の蓄積後の測光出力データの有効性判定に用いる判定レベルをそれぞれ算出する。測光センサー制御部５３１は、蓄積時間、ゲイン算出部５３２による算出結果、有効性判定部５３３による判定結果、および目標レベル、有効性判定レベル算出部５３４による算出結果に基づいて、上述した制御信号（駆動用クロック信号、蓄積時間制御信号、およびゲイン制御信号）を測光センサー１３へ送出する。

【0020】

上記構成により、測光センサー制御部５３１は、次回の電荷蓄積後の測光出力データの最大値を目標値Vagcに近づけるように、測光センサー１３の蓄積時間および増幅ゲインを決定し、決定した蓄積時間および増幅ゲインで次回蓄積を行うように測光センサー１３をフィードバック制御する。目標値Vagcは、ダイナミックレンジの上限レベルVovより低くした値とする。本説明では、測光センサー１３の出力値が線形性を有する範囲をダイナミックレンジと呼び、該ダイナミックレンジの上限を上限レベルVovとし、ダイナミックレンジの下限を下限レベルVunとする。

【0021】

上述した蓄積制御によって得られた測光出力データは測光演算のために使用される。Ｂｖ値算出、露出演算部５３５は、有効性判定部５３３によって有効と判定された測光出力データに基づいてＢｖ値を算出し、このＢｖ値に応じて所定の露出演算を行う。測光領域設定部５３６は、測光モードに応じて測光演算に用いる領域を設定する。この測光領域は、上記Ｂｖ値算出、露出演算部５３５が撮影画面の中で輝度値を算出する範囲に相当する。つまり、Ｂｖ値算出、露出演算部５３５は、測光領域設定部５３６で設定された領域に対応する画素からの測光出力データを用いて上記演算を行う。

【0022】

絞り制御部５６１およびシャッター制御部５６２は露出制御部５６を構成する。絞り制御部５６１は、Ｂｖ値算出、露出演算部５３５による露出演算結果に基づいて撮影時に絞り３を制御する。シャッター制御部５６２は、Ｂｖ値算出、露出演算部５３５による露出演算結果に基づいて撮影時にメカニカルシャッター１６を制御する。

【0023】

＜撮影処理＞
図３は、電子カメラの撮影制御回路（不図示）が行う撮影処理の流れを説明するフローチャートである。上記測光部は、撮影処理の中で測光処理（Ｓ１２）を行う。図３のステップＳ１１において、撮影制御回路は、レリーズ釦５４が半押し操作されたか否かを判定する。撮影制御回路は、半押し操作された場合にはステップＳ１１を肯定判定してステップＳ１２へ進み、半押し操作されない場合にはステップＳ１１を否定判定してステップＳ２１へ進む。

【0024】

ステップＳ１２において、撮影制御回路はマイクロコンピュータ５３へ指示を送り、測光処理を行わせてステップＳ１３へ進む。測光処理の詳細については後述する。ステップＳ１３において、撮影制御回路は、焦点検出センサー１５による検出信号を用いて公知のＡＦ処理を行い、ステップＳ１４へ進む。ステップＳ１４において、撮影制御回路は、レリーズ釦５４が全押し操作されたか否かを判定する。撮影制御回路は、全押し操作された場合にはステップＳ１４を肯定判定してステップＳ１５へ進み、全押し操作されない場合にはステップＳ１４を否定判定してステップＳ１１へ戻る。

【0025】

ステップＳ１５において、撮影制御回路は不図示のシーケンス制御装置へ指示を送り、メインミラー５のアップ駆動を開始させてステップＳ１６へ進む。ステップＳ１６において、撮影制御回路は、撮像素子１７の初期化を行ってステップＳ１７へ進む。ステップＳ１７において、撮影制御回路は撮像素子１７に撮影用の電荷蓄積を所定時間行わせる。なお、測光処理結果を用いた露出演算で算出された制御露出とするように、絞り３の駆動およびメカニカルシャッター１６の駆動がシーケンス制御装置（不図示）を構成する露出制御部５６によって行われる。撮影制御回路は、撮像素子１７から蓄積信号の読出しを指示してステップＳ１８へ進む。

【0026】

ステップＳ１８において、撮影制御回路はシーケンス制御装置（不図示）へ指示を送り、メインミラー５のダウン駆動を開始させてステップＳ１９へ進む。ステップＳ１９において、撮影制御回路は、画像を構成する光電変換信号に対する所定の画像処理を行ってステップＳ２０へ進む。ステップＳ２０において、撮影制御回路は、画像処理後のデータを記録媒体（不図示）に記録して図３による撮影処理を終了する。

【0027】

ステップＳ１１を否定判定して進むステップＳ２１において、撮影制御回路はタイマー切れか否かを判定する。撮影制御回路は、無操作状態で所定時間が経過するとステップＳ２１を肯定判定し、図３による処理を終了する。一方、撮影制御回路は、所定時間が経過していない場合にはステップＳ２１を否定判定し、ステップＳ１１へ戻る。

【0028】

＜測光処理＞
図４は、マイクロコンピュータ５３が行う測光処理の流れを説明するフローチャートである。図４による測光処理は、図３のステップＳ１２に対応する。図４のステップＳ１０１において、マイクロコンピュータ５３は「低輝度撮影モード」か否かを判定する。マイクロコンピュータ５３は、モード設定部材５５から「低輝度撮影モード」への切替えを指示する信号が入力されている場合にステップＳ１０１を肯定判定し、「低輝度撮影モード」に設定してステップＳ１０２へ進む。マイクロコンピュータ５３は、モード設定部材５５から「低輝度撮影モード」への切替えを指示する信号が入力されていない場合にはステップＳ１０１を否定判定し、「通常モード」に設定してステップＳ１１１へ進む。

【0029】

ステップＳ１１１へ進む場合は「通常モード」（「低輝度撮影モード」でない）である。ステップＳ１１１において、マイクロコンピュータ５３は「低輝度撮影モード」において自動設定していた測光モードを元の測光モード（すなわち、不図示の測光モード切替え操作部材からの操作信号に対応する測光モード）へ戻してステップＳ１１２へ進む。ステップＳ１１２において、マイクロコンピュータ５３の目標レベル、有効性判定レベル算出部５３４は、有効性判定に用いる判定閾値として有効判定レベルVok、および上記下限レベルVunを以下のように設定してステップＳ１０４へ進む。有効判定レベルVokおよび下限レベルVunはそれぞれ、「通常モード」の場合にステップＳ１０７で行う有効性判定に用いる。

【0030】

本実施形態の測光装置は、たとえば、ＥＶ０において蓄積時間int＝１００msec、増幅ゲイン＝４倍で蓄積させた場合に、測光出力データが２５LSB（ただし、LSBは最下位ビット）となるように構成されているものとする。そして、「通常モード」における有効判定レベルVokを２００LSBとする。また、「通常モード」における下限レベルVunを１０LSBとする。下限レベルVunの値は、「通常モード」における最長蓄積時間（後述する蓄積時間上限値）で蓄積した場合の測光センサー１３の測光出力データが上述した線形特性を満たすように定めたものである。

【0031】

ステップＳ１０２へ進む場合は「低輝度撮影モード」である。ステップＳ１０２において、マイクロコンピュータ５３は「分割測光モード」に設定してステップＳ１０３へ進む。ステップＳ１０３において、マイクロコンピュータ５３の目標レベル、有効性判定レベル算出部５３４は、有効性判定に用いる判定閾値として有効判定レベルVokN、および下限レベルVunNを以下のように設定してステップＳ１０４へ進む。有効判定レベルVokNおよび下限レベルVunNはそれぞれ、「低輝度撮影モード」の場合にステップＳ１０７で行う有効性判定に用いる。

【0032】

本実施形態では、「低輝度撮影モード」における有効判定レベルVokNを、次式（１）により算出する。
VokN＝Vok−Vx （１）
ただし、Vokは「通常モード」における有効判定レベルである。Vxは所定値であり、「通常モード」および「低輝度撮影モード」の最長蓄積時間（後述する蓄積時間上限値）に応じて定める。本例では、Vx＝１５０LSBとする。

【0033】

また、本実施形態では、「低輝度撮影モード」における下限レベルVunNを、次式（２）により算出する。
VunN＝Vun−Vy （２）
ただし、Vunは「通常モード」における下限レベルである。Vyは所定値であり、「通常モード」および「低輝度撮影モード」の最長蓄積時間（後述する蓄積時間上限値）に応じて定める。本例では、Vy＝８LSBとする。

【0034】

ステップＳ１０４において、マイクロコンピュータ５３の測光センサー制御部５３１は、測光センサー１３に蓄積動作をさせてステップＳ１０５へ進む。ステップＳ１０５において、マイクロコンピュータ５３は、測光センサー１３から読出した測光出力データを信号処理部５２を介して入力してステップＳ１０６へ進む。

【0035】

ステップＳ１０６において、マイクロコンピュータ５３は、次回蓄積時間int'と、次回増幅ゲインとを算出してステップＳ１０７へ進む。次回の蓄積時間int'は、蓄積時間、ゲイン算出部５３２が次式（３）により算出する。なお、本説明では次回増幅ゲインを４倍とする。
int'＝int×Vagc／Vomax （３）
ただし、intは前回の蓄積時間である。Vagcは、次回の電荷蓄積後の測光出力データの最大値の目標値であり、たとえば７２０LSBとする。Vomaxは、前回の蓄積によって得た測光出力データの最大値である。たとえば、蓄積時間int＝１００msecでした前回の測光出力データの最大値Vomaxが６００LSBであった場合を例にすると、int'＝１００×７２０／６００＝１２０msecである。なお、初回の蓄積の場合は前回の条件や前回の測光出力データが存在しないので、所定の初期条件（たとえば、蓄積時間int＝１００msec、増幅ゲイン４倍）で行う。

【0036】

本実施形態の測光センサー制御部５３１は、測光センサー１３に対して設定する蓄積時間int'に蓄積時間の上限を定める。「通常モード」においては、蓄積時間上限値をたとえば１００msecとし、上式（３）によって１００msecを超える値が算出される場合でも蓄積時間int'の最長を１００msecに抑える。また、「低輝度撮影モード」においては、蓄積時間上限値をたとえば４００msecとし、上式（３）によって４００msecを超える値が算出される場合でも蓄積時間int'の最長を４００msecに抑える。

【0037】

ステップＳ１０７において、マイクロコンピュータ５３の有効性判定部５３３は、ステップＳ１０４の蓄積で得られた測光出力データの有効性判定処理を行ってステップＳ１０８へ進む。有効性判定処理の詳細については後述する。

【0038】

ステップＳ１０８において、マイクロコンピュータ５３は測光出力データが有効か否かを判定する。マイクロコンピュータ５３は、ステップＳ１０７において有効と判断している場合にステップＳ１０８を肯定判定してステップＳ１０９へ進む。マイクロコンピュータ５３は、ステップＳ１０７において有効と判断しなかった場合には、ステップＳ１０８を否定判定してステップＳ１０４へ戻る。ステップＳ１０４へ戻る場合は、ステップＳ１０４の蓄積で得られた測光出力データをＢｖ値算出（Ｓ１０９）に用いることなしに蓄積動作をやり直す。

【0039】

ステップＳ１０９において、マイクロコンピュータ５３のＢｖ値算出、露出演算部５３５は、上記有効と判断した測光出力データに基づいてＢｖ値を算出し、ステップＳ１１０へ進む。ステップＳ１１０において、マイクロコンピュータ５３のＢｖ値算出、露出演算部５３５は、上記Ｂｖ値に応じて所定の露出演算を行って図４による処理を終了する。

【0040】

＜有効性判定処理＞
図５は、マイクロコンピュータ５３の有効性判定部５３３が行う有効性判定処理の流れを説明するフローチャートである。図４におけるステップＳ１０７として有効性判定処理を行う有効性判定部５３３は、ステップＳ１０７１において、ステップＳ１０４の蓄積で得た測光出力データの最大値Vomaxおよび最小値Vominをそれぞれ算出してステップＳ１０７２へ進む。なお、最大値Vomaxは、上記ステップＳ１０６において使用した値と同じである。

【0041】

ステップＳ１０７２において、有効性判定部５３３は、最大値Vomaxが上限レベルVovより小か否かを判定する。有効性判定部５３３は、Vomax＜Vovが成立する場合にステップＳ１０７２を肯定判定してステップＳ１０７３へ進む。ステップＳ１０７３へ進む場合は、測光センサー１３の出力データがオーバーフローしていない場合である。有効性判定部５３３は、Vomax＜Vovが成立しない場合には、ステップＳ１０７２を否定判定して図５による処理を終了する。

【0042】

ステップＳ１０７３において、有効性判定部５３３は、最小値Vominが下限レベルVunより小か否かを判定する。有効性判定部５３３は、Vomin＜Vunが成立する場合にステップＳ１０７３を肯定判定してステップＳ１０７５へ進む。有効性判定部５３３は、Vomin＜Vunが成立しない場合には、ステップＳ１０７３を否定判定してステップＳ１０７４へ進む。ステップＳ１０７３を否定判定する場合は、測光センサー１３の出力データがアンダーフローしていない場合である。

【0043】

なお、「低輝度撮影モード」の場合に有効性判定処理を行う有効性判定部５３３は、ステップＳ１０７３において、最小値Vominが下限レベルVunNより小か否かを判定する。下限レベルVunNの値は、上述したように「通常モード」時の下限レベルVunより小さな値である。有効性判定部５３３は、Vomin＜VunNが成立する場合にステップＳ１０７３を肯定判定してステップＳ１０７５へ進む。有効性判定部５３３は、Vomin＜VunNが成立しない場合には、ステップＳ１０７３を否定判定してステップＳ１０７４へ進む。

【0044】

ステップＳ１０７５において、有効性判定部５３３は、最大値Vomaxが有効判定レベルVokより大か否かを判定する。Vokの値は上述した通りである。有効性判定部５３３は、Vomax＞Vokが成立する場合にステップＳ１０７５を肯定判定してステップＳ１０７４へ進む。ステップＳ１０７５を肯定判定する場合は、測光センサー１３の出力データにアンダーフローデータが含まれるものの、有効判定レベルVokより大のデータが存在する場合である。有効性判定部５３３は、Vomax＞Vokが成立しない場合には、ステップＳ１０７５を否定判定して図５による処理を終了する。

【0045】

なお、「低輝度撮影モード」の場合に有効性判定処理を行う有効性判定部５３３は、ステップＳ１０７５において、最大値Vomaxが有効判定レベルVokNより大か否かを判定する。有効判定レベルVokNの値は、上述したように「通常モード」時の有効判定レベルVokより小さな値である。有効性判定部５３３は、Vomax＞VokNが成立する場合にステップＳ１０７５を肯定判定してステップＳ１０７４へ進む。ステップＳ１０７５を肯定判定する場合は、測光センサー１３の出力データにアンダーフローデータが含まれるものの、有効判定レベルVokNより大のデータが存在する場合である。有効性判定部５３３は、Vomax＞VokNが成立しない場合には、ステップＳ１０７５を否定判定して図５による処理を終了する。

【0046】

以上説明した実施形態によれば、次の作用効果が得られる。
（１）電子カメラの測光装置は、蓄積型の測光センサー１３からの測光出力データをVagcに近づけるように次回の蓄積時間int'を演算する蓄積時間、ゲイン算出部５３２と、測光出力データと下限レベルおよび下限レベルより大きい有効判定レベルとの比較に基づいて測光出力データが有効か否かを判定する有効性判定部５３３と、有効性判定部５３３が否定判定した場合に測光出力データを用いて測光演算することなしに蓄積時間、ゲイン算出部５３２で演算された蓄積時間で測光センサー１３に次の蓄積をさせる測光センサー制御部５３１と、低輝度撮影モードにおいて、下限レベルを通常モードにおける値より小さく変更するように有効性判定部５３３を制御するマイクロコンピュータ５３と、を備えるようにした。これにより、たとえばＬＶ０以下のような暗い環境で適切に測光できる。

【0047】

一般に、暗い環境では蓄積型の測光センサー１３からの測光出力データが小さくなる。夜間などの低輝度撮影を行うモードにおいて測光出力データが有効か否かを判定する際の比較に用いる下限レベルを小さく変更することで、通常モードにおいては測光演算し得なかった低レベルの測光出力データを低輝度撮影モードでは測光演算に用いる可能性が高まる。このように、暗い環境で適切に測光することができる。

【0048】

（２）上記（１）の測光装置において、マイクロコンピュータ５３はさらに、低輝度撮影モードにおいて、有効判定レベルを通常モードにおける値より小さく変更するように有効性判定部５３３を制御するようにしたので、たとえばＬＶ０以下のような暗い環境で適切に測光することができる。夜間などの低輝度撮影を行うモードにおいて測光出力データが有効か否かを判定する際の比較に用いる有効判定レベルを小さく変更することで、測光センサの出力が線形性を保っているにもかかわらず、通常モードにおいては測光演算し得なかった低レベルの測光出力データを低輝度撮影モードでは測光演算に用いる可能性が高まる。また、これにより、レリーズタイムラグが小さくなる可能性も高まる。このように、暗い環境で適切に測光することができる。

【0049】

具体的に例示すると、ある時点での次回蓄積時間算出int’が３００msecだったとする。３００msecで測光センサー１３の蓄積を開始する直前に被写体の輝度が暗くなってＬＶ−１となり、その状態で蓄積した場合の測光出力データの最大値Vomaxが８０LSB、最小値Vominが４LSBであったとする。
この場合、「通常モード」用の有効判定レベルVok（たとえば２００LSB）、下限レベルVun（たとえば１０LSB）を使用すると、Vomin＜Vun、Vomax＜Vokとなるため、有効とは判定されない。しかしながら、「低輝度モード」用の有効判定レベルVokN（たとえば５０LSB、下限レベルVunN（たとえば２LSB）を使用することで、Vomin＞VunN、Vomax＞VokNとなるので有効と判定される。
有効と判定されない場合は、当該測光出力データを捨ててステップＳ１０４へ戻って測光用センサー１３の蓄積をやり直すところ、上述したように制御することで有効判定が得られればデータを捨てないで済むから、時間の無駄にならない。よって、レリーズタイムラグを少なく抑えることが出来る。

【0050】

（３）上記（１）または（２）の測光装置において、有効性判定部５３３は、測光出力データの最小値が下限レベルより大きい場合、または測光出力データの最大値が有効判定レベルより大きい場合に有効を判定するので、信頼性が見込める測光出力データの場合にのみ測光演算する結果、無駄な演算を省いて適切な測光データが得られる。
また、これにより、レリーズタイムラグが小さくなる可能性も高まる。

【0051】

（４）上記（１）〜（３）の測光装置において、マイクロコンピュータ５３はさらに、低輝度撮影モードにおいて蓄積時間の上限を通常モードにおける上限より長く変更するように蓄積時間、ゲイン算出部５３２を制御するようにしたので、通常モードにおける蓄積時間の上限と同等にする場合に比べて、暗い環境での測光出力データのレベルを高めることができる。

【0052】

（５）上記（４）の測光装置において、マイクロコンピュータ５３は、蓄積時間の上限の長さに応じて下限レベルを小さく変更するので、測光出力データが有効か否かを判定する際の比較を適切に行うことができる。

【0053】

（６）上記（４）または（５）の測光装置において、マイクロコンピュータ５３は、蓄積時間の上限の長さに応じて有効判定レベルを小さく変更するので、測光出力データが有効か否かを判定する際の比較を適切に行うことができる。

【0054】

以上の説明はあくまで一例であり、たとえば、上述した測光装置を備えるカメラであれば電子カメラでもフィルムカメラでもよく、一眼レフタイプと異なるカメラに適用しても構わない。

【0055】

以上の説明はあくまで一例であり、上記の実施形態の構成に何ら限定されるものではない。

【符号の説明】

【0056】

２…撮影光学系
４…カメラ本体
５…メインミラー
８…ペンタプリズム
１１，１２…測光光学系
１３…測光センサー
５１…Ａ／Ｄ変換部
５２…信号処理部
５３…マイクロコンピュータ
５４…レリーズ釦
５５…モード設定部材
５３１…測光センサー制御部
５３２…蓄積時間、ゲイン算出部
５３３…有効性判定部
５３４…目標レベル、有効性判定レベル算出部
５３５…Ｂｖ値算出、露出演算部
５３６…測光領域設定部

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】