(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
ところで、ロードロック装置を備える処理システムでは、不純物が少ない環境下での処理が求められている。そのため、ロードロック装置では、不純物を抑制するために、高真空を実現することが求められている。このような高真空を迅速に実現するためには、大口径の排気ポートの設置が必要となる。しかしながら、上記従来の構成では、昇降ロッドがロードロック室の中央部に連結されているため、容器に大口径の排気ポートを設けることが困難であり、大口径の排気ポートを設置しようとすると、どうしてもロードロック装置自体が大型化してしまう。一方、複数の排気ポートを設置する構成では、構成が複雑化するといった問題が生じる。
【0005】
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、簡易な構成で迅速に高真空を実現できるロードロック装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明の一側面に係るロードロック装置は、大気雰囲気と真空室との間に設けられるロードロック装置であって、大気雰囲気及び真空室に連通する容器と、容器内に配置され、被処理体を保持すると共に、容器内を上下方向に移動可能に設けられた保持部と、保持部を上下方向に昇降させる昇降機構と、容器内を、容器の上部及び下部の少なくとも一方に設けられた開口部を介して真空引きする圧力調整機構と、を備え、昇降機構は、保持部に連結され、上下方向に沿って設けられる少なくとも2つの昇降軸部材と、昇降軸部材を昇降させる駆動部と、を備え、2つの昇降軸部材は、開口部を挟む位置に配置されている。
【0007】
このロードロック装置では、容器の上部及び下部の少なくとも一方に容器内と連通する開口部が設けられており、保持部を上下方向に昇降させる2つの昇降軸部材は、開口部を挟む位置に配置されている。このように、開口部を挟む位置に2つの昇降軸部材を配置することにより、容器に開口部を形成する領域を確保できるため、開口部の径を大きくすることができる。したがって、圧力調整機構により迅速に高真空が実現できる。また、従来の装置に上記の構成を適用できるため、装置の大型化や複雑化を回避できる。したがって、このロードロック装置では、簡易な構成で迅速に高真空を実現できる。
【0008】
一実施形態では、保持部は、被処理体を支持する支持部と、支持部が設けられる板状の基部と、を備え、圧力調整機構は、基部と容器とにより画成される空間を真空引きし、2つの昇降軸部材は、基部に連結されている構成とすることができる。このような構成では、基部と容器とにより画成される空間を圧力調整機構により真空引きして高真空とする。このとき、容器と基部とにより画成される空間の気密性を確保するためには、基部と容器とを密着させることが要求される。そのため、基部と容器とを密着させる力を昇降軸部材が基部に十分に伝達させるためには基部の剛性が必要となり、基部の厚みを大きくする必要がある。一実施形態では、昇降軸部材を基部に連結しているため、基部と容器とを密着させる力を昇降軸部材が基部に良好に伝達できる。したがって、基部の厚みを薄くすることができる。その結果、装置の小型化が図れる。
【0009】
一実施形態では、保持部は、容器内に上下に2つ設けられており、開口部は、容器の上部及び下部に設けられており、昇降機構は、2つの保持部のそれぞれに設けられており、圧力調整機構は、容器の上部及び下部に設けられた開口部のそれぞれに対応して設けられている構成とすることができる。このような構成では、例えば、大気雰囲気で一方の保持部に被処理体を収容している間に、他方の保持部により真空室に被処理体を供給できる。したがって、ロードロック装置において2つの並行した処理が可能となり、処理効率の向上が図れる。また、保持部を容器内に上下に設けることにより、装置の大型化を抑制できる。
【0010】
一実施形態では、駆動部は、2つの昇降軸部材のそれぞれに設けられている構成とすることができる。このような構成によれば、保持部を安定的に昇降させることが可能となる。
【0011】
一実施形態では、開口部の内径は、被処理体の外径と略同径とすることができる。このような構成によれば、迅速な高真空をより確実に実現できる。
【発明の効果】
【0012】
本発明によれば、簡易な構成で迅速に高真空を実現できる。
【発明を実施するための形態】
【0014】
以下、添付図面を参照して、本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、図面の説明において同一又は相当要素には同一符号を付し、重複する説明は省略する。
【0015】
図1は、一実施形態に係るロードロック装置を含む処理システムの構成を示す平面図である。
図1に示す処理システム100は、載置台102a〜102dと、収容容器104a〜104dと、ローダモジュール106と、ロードロック装置LL1,LL2と、プロセスモジュール108a〜108cと、トランスファーチャンバ110とを備えている。
【0016】
載置台102a〜102dは、ローダモジュール106の一縁に沿って配列されている。これら載置台102a〜102dの上には、収容容器104a〜104dがそれぞれ載置されている。収容容器104a〜104d内には、半導体ウェハW(被処理体)が収容されている。
【0017】
ローダモジュール106内には、搬送ロボット112が設けられている。搬送ロボット112は、収容容器104a〜104dの何れかに収容されている半導体ウェハWを取り出して、当該半導体ウェハWを、ロードロック装置LL1又はロードロック装置LL2に搬送する。
【0018】
ロードロック装置LL1及びロードロック装置LL2は、ローダモジュール106の別の一縁に沿って設けられており、予備減圧室を構成している。ロードロック装置LL1及びロードロック装置LL2は、ローダモジュール106(大気雰囲気)とトランスファーチャンバ110(真空室)との間に設けられており、トランスファーチャンバ110にゲートバルブG1(
図3参照)を介してそれぞれ接続されている。ロードロック装置LL1及びロードロック装置LL2は、ローダモジュール106にゲートバルブG2,G3(
図3参照)を介してそれぞれ接続されている。
【0019】
トランスファーチャンバ110は、減圧可能なチャンバであり、当該チャンバ内には別の搬送ロボット114が設けられている。トランスファーチャンバ110には、プロセスモジュール108a〜108cが対応のゲートバルブを介してそれぞれ接続されている。搬送ロボット114は、ロードロック装置LL1又はロードロック装置LL2から半導体ウェハWを取り出して、プロセスモジュール108a〜108cに順に搬送する。処理システム100のプロセスモジュール108a〜108cは、例えば、PVD(Physical Vapor Deposition)装置(スパッタリング装置)、CVD、エッチング装置等であり得る。
【0020】
続いて、ロードロック装置LL1,LL2について詳細に説明する。ロードロック装置L1とロードロック装置LL2とは、同様の構成を有している。本実施形態では、ロードロック装置LL1を一例に具体的に構成を説明する。
図2は、ロードロック装置の断面構成を示す図である。
図3は、ロードロック装置の断面構成を示す図である。
図4は、ロードロック装置を示す概略平面図である。
図5は、ロードロック装置の一部を拡大して示す図である。
図6は、ロードロック装置の一部を拡大して示す図である。
図2は、半導体ウェハWの搬送方向から見た断面図である。
図3は、半導体ウェハWの搬送方向に直交する方向から見た断面図である。
【0021】
図2〜
図4に示すように、ロードロック装置LL1は、チャンバ(容器)1と、第1保持部3と、第1昇降機構5と、第1圧力調整機構7と、第2保持部9と、第2昇降機構11と、第2圧力調整機構13とを備えている。ロードロック装置LL1の動作は、図示しない制御部により制御される。
【0022】
チャンバ1は、トランスファーチャンバ110に対応する圧力と大気雰囲気との間で圧力を変動可能に設けられている。チャンバ1は、例えばアルミニウム合金等から形成されている。
図3に示すように、チャンバ1の側壁部1aには、搬送ロボット112により半導体ウェハWが搬入出される搬入出口C1a,C1bと、搬送ロボット114により半導体ウェハWが搬入出される搬入出口C2とが設けられている。搬入出口C1a,C1bは、チャンバ1の上下(第1保持部3の最上部及び第2保持部9の最下部に対応する位置)にそれぞれ設けられており、ゲートバルブG2,G3を介してローダモジュール106に連通する。搬入出口C2は、チャンバ1の中央位置に設けられており、ゲートバルブG1を介してトランスファーチャンバ110に連通する。
【0023】
チャンバ1の天井部(上部)1bには、第1開口部O1が形成されている。第1開口部O1は、
図4に示すように、略円形形状を呈しており、チャンバ1の天井部1bの略中央に位置している。第1開口部O1の直径Rは、半導体ウェハWの直径と略同径とされている。
【0024】
チャンバ1の底部(下部)1cには、第2開口部O2が形成されている。第2開口部O2は、略円形形状を呈しており、チャンバ1の底部1cの略中央に位置している。第2開口部O2の直径は、半導体ウェハWの直径と略同径とされている。
【0025】
チャンバ1の側壁部1aには、その内側に、第1及び第2段差部1d,1eが形成されている。第1及び第2段差部1d,1eは、チャンバ1内の全周にわたって形成されている。第1段差部1dと第2段差部1eとは、互いに対向する位置に設けられており、第1段差部1dはチャンバ1の天井部1b側に設けられており、第2段差部1eはチャンバ1の底部1c側に設けられている。
【0026】
第1保持部3は、チャンバ1内に配置され、半導体ウェハWを保持する。第1保持部3は、例えば5枚の半導体ウェハWを保持する。第1保持部3は、後述する第1昇降機構5により、チャンバ1内において上下方向に移動可能に設けられている。第1保持部3は、基部17と、支持部19とから構成されている。
【0027】
基部17は、板状の部材であり、平面視で略円形形状を呈している。基部17の周縁部には、チャンバ1の天井部1b側に開口する凹部18(
図5参照)が設けられている。凹部18には、シール部材20が配置されている。基部17の上面17aは、チャンバ1の第1段差部1dに当接する。基部17は、第1保持部3が最上部に位置するときに、第1段差部1dと当接する。シール部材20は、第1段差部1dと当接する位置に配置されている。これにより、第1保持部3(基部17)とチャンバ1とにより画成される空間S1は、気密が確保される。
【0028】
支持部19は、基部17に設けられている。支持部19は、基部17の中央側に向かって張り出す支持片19aを有している。半導体ウェハWは、支持片19a上に載置され、支持部19に支持される。支持部19は、第1保持部3が最上部に位置するときに、空間S1内に位置する。支持部19の上部には、カバー22が配置されている。
【0029】
第1昇降機構5は、第1保持部3を上下方向に昇降させる機構である。
図4に示すように、第1昇降機構5は、チャンバ1の第1開口部O1を挟んで、チャンバ1の縁部に、互いに対向する位置に配置されている。第1昇降機構5は、第1昇降部5aと、第2昇降部5bとから構成されている。第1昇降部5aと第2昇降部5bとは、同様の構成を有している。ここでは、第1昇降部5aを一例に具体的に構成を説明する。第1昇降部5aは、シャフト(昇降軸部材)24と、ベローズ26と、ナット28と、伝達軸30と、モータ32とを有している。ナット28、伝達軸30及びモータ32は、駆動部を構成している。
【0030】
シャフト24は、棒状の部材であり、雄ねじ24a(
図5参照)が形成されたねじ軸である。シャフト24は、チャンバ1の天井部1bに形成された貫通部K1に挿通されており、チャンバ1の外部及び内部にわたって設けられている。シャフト24は、第1保持部3の基部17に連結されている。シャフト24は、基部17の縁部において、凹部18よりも内側に連結されている。シャフト24と基部17との連結方法としては、例えば、基部17に貫通孔を形成し、この貫通穴にシャフト24を挿通してボルト(図示しない)により連結する。シャフト24の長さは、第1保持部3が搬入出C1aと搬入出口C2との高さ位置に移動できる長さに設定されている。
【0031】
シャフト24には、伝達軸30を介してモータ32が連結されている。シャフト24は、モータ32の回転に連動して回転する。第1昇降機構5では、シャフト24が回転することにより、第1保持部3を昇降する。モータ32は、制御部により動作が制御される。
【0032】
ベローズ26は、蛇腹構造の筒状部材であり、シャフト24を挿通して配置されている。ベローズ26は、伸縮性、気密性、ばね性を有しており、第1保持部3の昇降に応じて伸縮する。ベローズ26の上端部は、チャンバ1の天井面1Aに気密に接合されており、ベローズ26の下端部は、基部17の上面17aに気密に接合されている。
【0033】
ナット28は、その内面に図示しない雌ねじが形成されていると共に、ボールが設けられており、シャフト24に螺合されている。ナット28とシャフト24とは、ボールねじを構成している。ナット28は、チャンバ1の天井部1bにおいて、縁部に配置されている。
【0034】
第1圧力調整機構7は、ゲートバルブ34と、真空ポンプ36とを有している。ゲートバルブ34は、チャンバ1の上面1bsに配置されている。ゲートバルブ34は、チャンバ1の開口部O1を覆うように配置されている。ゲートバルブ34は、制御部により開閉が制御される。
【0035】
真空ポンプ36は、ゲートバルブ34上に設けられている。真空ポンプ36は、チャンバ1と第1保持部3とにより画成される空間S1を減圧する。真空ポンプ36は、例えば10
−7〜10
−8[Torr]の真空度を実現可能なポンプである。真空ポンプ36は、ゲートバルブ34が開放されると真空引きを行い、第1保持部3とチャンバ1とにより画成される空間S1を所定の真空度にする。第1圧力調整機構7は、空間S1を真空から大気雰囲気に戻す構成も有している。
【0036】
第2保持部9は、チャンバ1内に配置され、半導体ウェハWを保持する。第2保持部9は、例えば5枚の半導体ウェハWを保持する。第2保持部9は、後述する第2昇降機構11により、チャンバ1内において上下方向に移動可能に設けられている。第2保持部9は、基部42と、支持部44とから構成されている。
【0037】
基部42は、板状の部材であり、平面視で略円形形状を呈している。基部42の周縁部には、チャンバ1の底部1c側に開口する凹部41(
図6参照)が設けられている。凹部41には、シール部材43が配置されている。基部42の下面42aは、チャンバ1の第2段差部1eに当接する。基部42は、第2保持部9が最下部に位置するときに、第2段差部1eと当接する。シール部材43は、第2段差部1eと当接する位置に配置されている。これにより、第2保持部9(基部42)とチャンバ1とにより画成される空間S2は、気密が確保される。
【0038】
支持部44は、基部42に設けられている。支持部44は、基部42の中央側に向かって張り出す支持片44aを有している。半導体ウェハWは、支持片44a上に載置され、支持部44に支持される。支持部44は、第2保持部9が最下部に位置するときに、空間S2内に位置する。支持部44の下部には、カバー46が配置されている。
【0039】
第2昇降機構11は、第2保持部9を上下方向に昇降させる機構である。第2昇降機構11は、チャンバ1の第2開口部O2を挟んで、チャンバ1の縁部に、互いに対向する位置に配置されている。第2昇降機構11は、第1昇降部11aと、第2昇降部11bとから構成されている。第1昇降部11aと第2昇降部11bとは、同様の構成を有している。ここでは、第1昇降部11aを一例に具体的に構成を説明する。第1昇降部5aは、シャフト(昇降軸部材)48と、ベローズ50と、ナット52と、伝達軸54と、モータ56とを有している。ナット52、伝達軸54及びモータ56は、駆動部を構成している。
【0040】
シャフト48は、棒状の部材であり、雄ねじ48a(
図6参照)が形成されたねじ軸である。シャフト48は、チャンバ1の底部1cに形成された貫通部K2に挿通されており、チャンバ1の外部及び内部にわたって設けられている。シャフト48は、第2保持部9の基部42に連結されている。シャフト48は、基部42の縁部において、凹部41よりも内側に連結されている。シャフト48と基部42との連結方法としては、例えば、基部42に貫通孔を形成し、この貫通穴にシャフト48を挿通してボルト(図示しない)により連結する。シャフト48の長さは、第2保持部9が搬入出口C1bと搬入出口C2との高さ位置に移動できる長さに設定されている。
【0041】
シャフト48には、伝達軸54を介してモータ56が連結されている。シャフト48は、モータ56の回転に連動して回転する。第2昇降機構11では、シャフト48が回転することにより、第2保持部9を昇降する。モータ56は、制御部により動作が制御される。
【0042】
ベローズ50は、蛇腹構造の筒状部材であり、シャフト48を挿通して配置されている。ベローズ50は、伸縮性、気密性、ばね性を有しており、第2保持部9の昇降に応じて伸縮する。ベローズ50の上端部は、基部42の下面42aに気密に接合されており、ベローズ50の下端部は、チャンバ1の底面1Bに気密に接合されている。
【0043】
ナット52は、その内面に図示しない雌ねじが形成されていると共に、ボールが設けられており、シャフト48に螺合されている。ナット52とシャフト48とは、ボールねじを構成している。ナット52は、チャンバ1の底部1cにおいて、縁部に配置されている。
【0044】
第2圧力調整機構13は、ゲートバルブ58と、真空ポンプ60とを有している。ゲートバルブ58は、チャンバ1の下面1csに配置されている。ゲートバルブ58は、チャンバ1の開口部O2を覆うように配置されている。ゲートバルブ58は、制御部により開閉が制御される。
【0045】
真空ポンプ60は、ゲートバルブ58上に設けられている。真空ポンプ60は、チャンバ1と第2保持部9とにより画成される空間S2を減圧する。真空ポンプ60は、例えば10
−7〜10
−8[Torr]の真空度を実現可能なポンプである。真空ポンプ60は、ゲートバルブ58が開放されると真空引きを行い、第2保持部9とチャンバ1とにより画成される空間S2を所定の真空度にする。第2圧力調整機構13は、空間S2を真空から大気雰囲気に戻す構成も有している。
【0046】
続いて、ロードロック装置LL1を含む処理システム100の動作の一例について説明する。処理システム100では、処理すべき所定枚数の半導体ウェハWが収容されたキャリアが収容容器104a〜104dに収容される。次に、搬送ロボット112は、例えば収容容器104dの前まで移動し、収容容器104d内の半導体ウェハWを取り出す。続いて、搬送ロボット112は、半導体ウェハWをロードロック装置LL1の前まで搬送する。
【0047】
上記の動作と並行して、ロードロック装置LL1では、ゲートバルブG2を開放し、大気雰囲気とチャンバ1とが連通する。このとき、ロードロック装置LL1では、第1保持部3が搬入出口C1aの高さ位置に待機している。搬送ロボット112は、ゲートバルブG2が開放されると、搬送してきた半導体ウェハWを第1保持部3に移載する。搬送ロボット112は、半導体ウェハWを例えば5枚移載する。
【0048】
続いて、ロードロック装置LL1では、ゲートバルブG2を閉鎖すると共に、第1圧力調整機構7のゲートバルブ34を開放し、真空ポンプ36により空間S1を所定の真空度とする。そして、ロードロック装置LL1では、第1昇降機構5が第1保持部3を搬入出口C2に対応する位置まで下降させる。
【0049】
続いて、ロードロック装置LL1では、第1保持部3が搬入出口C2に対応する高さ位置まで下降すると、ゲートバルブG1を開放する。これにより、ロードロック装置LL1の空間S1とトランスファーチャンバ110とが連通する。続いて、搬送ロボット114は、第1保持部3から半導体ウェハWを取り出し、例えばプロセスモジュール108bに半導体ウェハWを移載する。プロセスモジュール108bは、半導体ウェハWに所定の処理を施す。
【0050】
全ての半導体ウェハWが第1保持部3から取り出された後、ロードロック装置LL1では、第1昇降機構5が第1保持部3を上昇させて、第1保持部3が最上部に位置する(搬入出口C1aに位置する)。そして、ロードロック装置LL1では、第1圧力調整機構7が空間S1を大気圧雰囲気に戻す。ロードロック装置L1では、上記の動作を繰り返し実施する。
【0051】
また、プロセスモジュール108a〜108cにより半導体ウェハWの所定の処理が施されると、ロードロック装置LL1では、第2昇降機構11が第2保持部9を上昇させ、第2保持部9が搬入出口C2に対応する位置に待機する。そして、ロードロック装置LL1がゲートバルブG1を開放し、チャンバ1とトランスファーチャンバ110とが連通すると、搬送ロボット114は、処理された半導体ウェハWを第2保持部9に移載する。
【0052】
搬送ロボット114による半導体ウェハWの移載が完了すると、ロードロック装置LL1では、第2昇降機構11により第2保持部9が下降され、第2保持部9が最下部に位置する(搬入出口C1bに位置する)と、第2圧力調整機構13により空間S2が大気雰囲気に戻され、その後ゲートバルブG3を開放する。これにより、チャンバ1と大気雰囲気(ローダモジュール106)とが連通する。そして、搬送ロボット112は、第2保持部9から半導体ウェハWを取り出し、例えば収容容器104aに搬送する。
【0053】
以上説明したように、本実施形態では、チャンバ1の天井部1b及び底部1cにチャバ1内と連通する第1及び第2開口部O1,O2が設けられており、第1保持部3及び第2保持部9を上下方向に昇降させる2つのシャフト24,48のそれぞれは、第1開口部O1及び第2開口部O2を挟む位置に配置されている。
【0054】
このように、ロードロック装置LL1,LL2では、第1開口部O1及び第2開口部O2を挟む位置に2つのシャフト24,48のそれぞれを配置することにより、チャンバ1に第1及び第2開口部O1,O2を形成する領域を確保できるため、第1及び第2開口部O1,O2の径を大きくすることができる。したがって、第1及び第2圧力調整機構7,13により迅速に高真空が実現できる。また、従来の装置に上記の構成を適用できるため、装置の大型化や複雑化を回避できる。したがって、ロードロック装置LL1,LL2では、簡易な構成で迅速に高真空を実現できる。
【0055】
また、本実施形態では、基部17,42にシャフト24,48がそれぞれ連結(接合)されている。基部17,42とチャンバ1とにより画成される空間S1,S2を真空引きする構成では、チャンバ1と基部17,42とにより画成される空間S1,S2の気密性を確保する必要がある。気密性を確保するためには、基部17,42とチャンバ1とを密着させることが要求されるため、基部17,42とチャンバ1とを密着させる力をシャフト24,48が基部17,42に十分に伝達させることが必要となる。そのため、基部17,42の剛性が必要となり、基部17,42の厚みを大きくする必要がある。本実施形態では、シャフト24,48を基部17,42にそれぞれ連結しているため、基部17,42とチャンバ1とを密着させる力をシャフト24,48が基部17,42に良好に伝達できる。したがって、基部17,42の厚みを薄くすることができる。その結果、装置の小型化が図れる。
【0056】
また、ロードロック装置LL1,LL2では、第1保持部3と第2保持部9とを備えている。このような構成では、例えば、大気雰囲気で第1保持部3に半導体ウェハWを収容している間に、第2保持部9によりトランスファーチャバ110に半導体ウェハWを供給できる。したがって、ロードロック装置LL1,LL2において2つの並行した処理が可能となり、処理効率の向上が図れる。
【0057】
本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。例えば、第1保持部3の構成は、
図7に示す構成であってもよい。
図7は、他の実施形態に係るロードロック装置の保持部の断面構成を示す図である。
図7に示すように、第1保持部3Aは、平面視において略円形形状を呈する基部62と、基部62上に立設される立設部64と、立設部64に設けられる支持部65とを有している。基部62の周縁部には、凹部62aが形成されている。凹部62aには、シール部材20が配置されている。立設部64の上部には、カバー66が設けられている。
【0058】
第1保持部3Aにおいて、シャフト24は、立設部64に連結されていてもよいし、立設部64を貫通し基部62に連結されていてもよい。基部62とチャンバ1との密着性の観点からは、シャフト24が基部62に連結される構成が好ましい。
【0059】
また、上記実施形態では、第1開口部O1及び第2開口部O2をチャンバ1の天井部1b及び底部1cの中央部に設けているが、第1及び第2開口部O1,O2は、天井部1b及び底部1cの中央部からオフセットされた位置に設けられていてもよい。
【0060】
また、上記実施形態に加えて、第1保持部3及び第2保持部9には、半導体ウェハWを加熱及び冷却する機構が設けられていてもよい。
【0061】
また、上記実施形態では、ロードロック装置LL1及びロードロック装置LL2がトランスファーチャンバ110にゲートバルブG1を介してそれぞれ接続されている構成を一例に説明したが、ゲートバルブG1は設けられなくてもよい。