【実施例】
【0041】
以下、実施例等に基づき本発明を詳細に説明するが、本発明は、かかる実施例等になんら限定されるものではない。
【0042】
[試験例1]
500ml容のセパラブル平底フラスコ中で、NH
4VO
3の0.15mol/lの硝酸(1mol/l)溶液25mlとBi(NO
3)
3・5H
2Oの0.15mol/lの硝酸(1mol/l)溶液25mlとを混合し、前駆体溶液を調製した。5cm×5cmのFTOガラス基板(AGCファブリック製;A−110U80、20Ω/sq)をガラス面を下にして上記の平底フラスコ内の底に1枚配置した。セパラブル平底フラスコに冷却管を取り付け、マイクロ波合成装置(EYELA;MWO−1000)に設置した。周波数2.45GHzのマイクロ波を300Wで10分間照射したところ、FTO層の上にBiVO
4層が積層した積層体が得られた。積層体を取り出し、純水で洗浄後、乾燥した。
【0043】
この積層体のBiVO
4層をSEM(JEOL;JAM−6700F)で観察した結果を
図1(a)に示す。BiVO
4の結晶は2種類あり、ラマンスペクトルの結果から、上層の大きい結晶はs−m相の結晶であり、その下の小さい結晶はz−t相の結晶であると帰属できた。また、s−m相の結晶は、正方形様の面を基板に対して平行にして密に存在していた。SEMの観察結果から、BiVO
4層を平面視したときにs−m相の結晶がFTOガラス基板に占める面積割合(s−m相被覆率)を求めたところ、90%であった。また、BiVO
4層を平面視したときにz−t相の結晶がFTOガラス基板に占める面積割合(z−t相被覆率)を求めたところ、1%であった。残りの9%は、FTO層が視認できる部分である。
この積層体の断面についてSEMで観察した結果を
図1(b)に示す。FTO層の上にBiVO
4のz−t相の結晶があり、その上にs−m相の結晶が存在していた。
【0044】
また、この積層体のBiVO
4層のX線回折パターンを
図2(a)に示す。s−m相に特徴的な2θ=31°近傍と、2θ=28°近傍の回折線が大きなピークとして現れていた。特に2θ=31°近傍の回折線のピーク値が大きいことから、010面の配向性が高いことがわかり、SEMで観察された正方形様の面は010面であることがわかった。
【0045】
[試験例2]
マイクロ波の照射を300Wで30分間とする他は、試験例1と同様にしてFTOガラス基板上にBiVO
4層を積層させた。得られた積層体のBiVO
4層をSEMで観察した結果を
図3(a)に示す。BiVO
4のs−m相の結晶が観察されたが、z−t相の結晶は観察されなかった。また、s−m相の結晶は、正方形様の面を基板に対して平行にして密に存在していた。試験例1と同様にしてs−m相被覆率を求めたところ、93%であった。
この積層体の断面についてSEMで観察した結果を
図3(b)に示す。FTO層の上にはBiVO
4のs−m相の結晶があるが、z−t相の結晶は観察されなかった。このように、試験例1に比べ、マイクロ波の照射時間を長くすると、s−m相の割合が多くなった。
【0046】
この積層体のBiVO
4層のX線回折パターンを
図2(b)に示す。s−m相に特徴的な2θ=31°近傍と、2θ=28°近傍の回折線が大きなピークとして現れており、2θ=31°近傍の回折線のピーク値が大きい様子は試験例1と同様であった。010面の配向性が高いことがわかった。
【0047】
[参考例1]
フラスコ中に、NH
4VO
3の0.15mol/lの硝酸(1mol/l)溶液25mlとBi(NO
3)
3・5H
2Oの0.15mol/lの硝酸(1mol/l)溶液25mlとを混合した。この溶液に尿素3gを加えて溶解させた。これをマイクロ波合成装置に設置し、周波数2.45GHzのマイクロ波を500Wで60分間照射したところ、溶液中にBiVO
4粉末が析出した。BiVO
4粉末を濾過し、水で洗浄後、乾燥した。この粉末を溶解アセチレン(溶媒:アセトン)と混合した後、水を加えてペースト状にした。これをFTOガラス基板のFTO層の上にスキージ法で塗布し、乾燥させた後、400℃で1時間焼成した。この基板のBiVO
4塗布面をSEMで観察した結果を
図4に示す。FTO層の上にはBiVO
4の結晶が乱雑に存在していた。ラマンスペクトルの結果から、この結晶はs−m相であることがわかった。
【0048】
この基板のBiVO
4塗布面のX線回折パターンを
図2(c)に示す。s−m相に特徴的な2θ=31°近傍と、2θ=28°近傍の回折線が大きなピークとして現れていたが、2θ=31°近傍の回折線のピーク値よりも2θ=28°近傍の回折線のピーク値が非常に大きく、010面の配向性がないことがわかった。
【0049】
[試験例3]
試験例1で得られた積層体を350℃で1時間焼成処理した。その後、試験例1と同様にしてs−m相被覆率、z−t相被覆率を求めたところ、s−m相被覆率が90%であり、z−t相被覆率が1%であった。
試験例1のBiVO
4層のX線回折パターンを
図5(a)に、試験例3のBiVO
4層のX線回折パターンを
図5(b)に示す。
【0050】
[試験例4]
試験例1で得られた積層体を400℃で1時間焼成処理した。その後、試験例1と同様にしてs−m相被覆率、z−t相被覆率を求めたところ、s−m相被覆率が90%であり、z−t相被覆率が1%であった。
試験例4のBiVO
4層のX線回折パターンを
図5(c)に示す。
【0051】
[試験例5]
試験例1で得られた積層体を450℃で1時間焼成処理した。その後、試験例1と同様にしてs−m相被覆率、z−t相被覆率を求めたところ、s−m相被覆率が90%であり、z−t相被覆率が1%であった。
試験例5のBiVO
4層のX線回折パターンを
図5(d)に示す。
【0052】
試験例1のBiVO
4層と、焼成処理を施した試験例3、4、5のBiVO
4層とを比較すると、2θ=31°近傍の回折線のピーク値と、2θ=28°近傍の回折線のピーク値との割合はほぼ同じであったので、BiVO
4層の010面の配向性にほとんど違いはないと考えられた。しかし、焼成処理を施すと、2θ=35°近傍の200面及び002面に帰属される回折線の分裂が明確になり、結晶性が高くなったことがわかった。
【0053】
[試験例6]
前駆体溶液に尿素を1g添加する他は、試験例1と同様にして積層体を得た。得られた積層体のBiVO
4層をSEMで観察した様子を
図6に示す。試験例1で得られたBiVO
4層と同様に、z−t相の結晶の上にs−m相の結晶が存在していた。s−m相の結晶は、正方形様の面を基板に対して平行にして存在していたが、試験例1で得られたBiVO
4層の場合に比べてその数は少なかった。試験例1と同様にしてs−m相被覆率、z−t相被覆率を求めたところ、s−m相被覆率が61%であり、z−t相被覆率が35%であった。
【0054】
試験例6のBiVO
4層のX線回折パターンを
図2(d)に示す。s−m相に特徴的な回折線とz−t相に特徴的な回折線との両方が現れており、試験例1のBiVO
4層よりも、z−t相を多く含むことが確認できた。s−m相の2θ=31°近傍の回折線のピーク値は、2θ=28°近傍の回折線のピーク値よりも高く、s−m相においては010面の配向性があることがわかった。
【0055】
[試験例7]
試験例6で得られた積層体を400℃で1時間焼成処理した。その後、試験例1と同様にしてs−m相被覆率、z−t相被覆率を求めたところ、s−m相被覆率が61%であり、z−t相被覆率が35%であった。
【0056】
[試験例8]
前駆体溶液に尿素を3g添加する他は、試験例1と同様にして積層体を得た。得られた積層体のBiVO
4層をSEMで観察したところ、ほとんどz−t相の結晶で覆われた表面であることがわかった。試験例1と同様にしてs−m相被覆率、z−t相被覆率を求めたところ、s−m相被覆率が4%であり、z−t相被覆率が96%であった。
【0057】
試験例8のBiVO
4層のX線回折パターンを
図2(e)に示す。2θ=32°近傍、2θ=49°近傍のz−t相に特徴的な回折線のピーク値が大きくなっており、z−t相が多いことが確認できた。試験例8のBiVO
4層は、試験例6のBiVO
4層に比べ、z−t相が多くなっていたことから、前駆体溶液に添加する尿素の量が多いと、z−t相が形成しやすいことがわかった。
【0058】
[試験例9]
試験例8で得られた積層体を400℃で1時間焼成処理した。得られた積層体のBiVO
4層をSEMで観察した様子を
図7に示す。ほとんどz−t相の結晶で覆われた表面であることがわかった。試験例1と同様にしてs−m相被覆率、z−t相被覆率を求めたところ、s−m相被覆率が4%であり、z−t相被覆率が96%であった。
【0059】
[試験例10]
試験例9で得られた積層体を500℃で2時間焼成処理した。得られた積層体のBiVO
4層をSEMで観察した様子を
図8に示す。緻密なs−m相の結晶で覆われた表面であることがわかった。試験例1と同様にしてs−m相被覆率、z−t相被覆率を求めたところ、s−m相被覆率が99%であり、z−t相被覆率が0%であった。
このことから、試験例8のように、尿素を多く含む前駆体溶液中で形成されたBiVO
4層にはz−t相が多く含まれるため、焼成温度を高くしたり、焼成時間を長くしたりしないと、z−t相からs−m相への変換が困難であることがわかった。
【0060】
表1に各積層体の製造条件を示す。また、各積層体におけるs−m相被覆率、z−t相被覆率についても併せて表1に示す。
【0061】
【表1】
【0062】
[光電極としての評価1]
試験例1〜10、及び参考例1で得られた積層体について、それぞれ、積層体のBiVO
4層の一部を削り取り、FTOを露出させた。そこに銅線を銀ペーストで接着し、アラルダイトでFTO露出部分を覆い、BiVO
4電極を作成した。試験例1〜10で得られたBiVO
4層は、いずれも基板との密着性が良好であった。
【0063】
光電極としての評価は、3極式又は2極式の水素及び酸素生成装置で行った。イオン交換膜ナフィオン(登録商標)によってカソード室とアノード室に仕切られたH型セルに、電解液として0.025mol/lのリン酸緩衝液(KH
2PO
4/Na
2HPO
4、pH=7)を注入し、測定前にアルゴンガスで脱気した。2極式では、アノード室に、上記のBiVO
4電極を設置し、カソード室に白金黒からなる対極を設置した。3極式では、BiVO
4電極を設置したアノード室に、更に参照電極として飽和Ag/AgCl電極を設置した。これらの電極にポテンショスタットHZ−5000(北斗電工社製)を接続した。
【0064】
光源には、ソーラーシミュレーターPEC−L11(Peccell Technologies製;100mW/cm
2)を用い、疑似太陽光の照射を行った。可視光の照射を行う場合には、カットオフフィルターを用いて420nm以下の波長域の光を遮断して照射した。BiVO
4電極への光の照射は、ガラス基板側から行った。
【0065】
まず、3極式の装置において、BiVO
4電極を陽極、対極を陰極として電気的に接続し、掃引速度20mV/秒でサイクリックボルタンメトリー測定を行った。掃引中、光の照射を断続的に行い、電圧を徐々に上げ、その後徐々に下げて測定した。
【0066】
試験例3、7、9、及び参考例1で得られた積層体から作成したBiVO
4電極を用い、擬似太陽光を照射してサイクリックボルタンメトリー測定を行ったところ、
図9のような電流−電位曲線が得られた。また、可視光を照射してサイクリックボルタンメトリー測定を行ったところ、
図10のような電流−電位曲線が得られた。
【0067】
試験例3の積層体から作成したBiVO
4電極では、擬似太陽光及び可視光のいずれを照射した場合も、高い応答電流が得られた。試験例3の積層体は、ガラス基板上のFTO層の上にBiVO
4のz−t相が少量存在し、その上に更に010面の配向性の高い厚いs−m相が存在する構造をとっている。このことから、010面の配向性の高いs−m相のBiVO
4層が、光電極用の膜として優れた働きをすることがわかった。
【0068】
試験例7の積層体から作成したBiVO
4電極でも、高い応答電流が得られたが、擬似太陽光を照射した場合に比べ、可視光を照射した場合の光応答性が劣っていた。試験例7の積層体は、ガラス基板上のFTO層の上にz−t相のBiVO
4層が存在し、その上に更にs−m相のBiVO
4結晶が点在する構造をとっている。このため、ガラス基板側から可視光を照射すると、可視光に吸収を持たないz−t相に遮られ、s−m相の結晶へ到達する光量が減少し、応答電流が低下した。
【0069】
一方、ほとんどz−t相で覆われたBiVO
4層を有する試験例9の積層体から作成したBiVO
4電極では、光応答性が非常に劣っていた。このことから、光電極用の膜として利用可能なBiVO
4層はs−m相であることがわかった。
【0070】
しかし、BiVO
4粉末を塗布して作成した参考例1のBiVO
4電極は、s−m相を有していても光応答性がなかった。したがって、本発明の方法によって得られる、基板上に直接形成させたs−m相が光電極用の膜として有効であることがわかった。
【0071】
図11には、試験例9、10で得られた積層体から作成したBiVO
4電極を用い、疑似太陽光を照射してサイクリックボルタンメトリー測定を行ったときの電流−電圧曲線を示す。試験例10の積層体は、焼成処理によりz−t相からs−m相に変換したBiVO
4層を有する。s−m相を有する試験例10の積層体から作成したBiVO
4電極は、高い光応答性を示しており、基板上に直接形成させたs−m相が光電極用の膜として有効であることが確認できた。
【0072】
図12には、試験例1、3〜5で得られた積層体から作成したBiVO
4電極を用い、疑似太陽光を照射したときの電流−電圧曲線を示す。積層体製造時に焼成処理を施した試験例3〜5の積層体から作成したBiVO
4電極では、焼成処理を施さなかった試験例1の積層体から作成したBiVO
4電極の場合よりも応答電流が大きかった。試験例1のBiVO
4層の表面はほとんどs−m相で覆われていたため、試験例3〜5において焼成条件を変えても、応答電流値には大きな差が生じなかった。
【0073】
次に、2極式の装置において、試験例3、7で得られた積層体から作成したBiVO
4電極を陽極、対極を陰極として電気的に接続し、掃引速度20mV/秒でサイクリックボルタンメトリー測定を行った。掃引中、擬似太陽光の照射を断続的に行い、電圧を徐々に上げ、その後徐々に下げて測定した。結果を
図13に示す。対極に対して、水の理論分解電圧である1.23Vより小さい電圧を印加しても、水の光電気分解に由来する光電流が観察され、これらのBiVO
4電極が光エネルギー変換に有用であることを確認できた。
【0074】
[試験例11]
マイクロ波の照射を300Wで3分間とする他は、試験例1と同様にして積層体を得た後、得られた積層体を300℃で1時間焼成処理した。得られた積層体についてSEMで観察した結果を
図14に示す。FTO層の上にBiVO
4のz−t相の結晶があり、その上にs−m相の結晶が存在していた。試験例1と同様にしてs−m相被覆率、z−t相被覆率を求めたところ、s−m相被覆率が54%であり、z−t相被覆率が44%であった。
【0075】
試験例11のBiVO
4層のX線回折パターンを
図15(a)に示す。s−m相に特徴的な回折線とz−t相に特徴的な回折線との両方が現れていることが確認できた。
【0076】
[試験例12]
マイクロ波の照射を300Wで1分間とする他は、試験例1と同様にしてFTOガラス基板上に第1のBiVO
4層を積層させた。なお、第1のBiVO
4層の結晶相はz−t相であった。
一方、0.2mol/lのNH
4VO
3と0.2mol/lのBi(NO
3)
3とを含む硝酸(3mol/l)水溶液である前駆体塗布溶液を調製した。この前駆体塗布溶液を第1のBiVO
4層が形成されたFTOガラス基板に3μl/cm
2滴下した後、室温で乾燥し、塗布膜を形成した。その後、基板を400℃で1時間焼成したところ、第1のBiVO
4層の上に第2のBiVO
4層が積層した積層体が得られた。
【0077】
得られた積層体の断面についてSEMで観察した結果を
図16に示す。FTO層の上に第1のBiVO
4層を構成するz−t相の結晶があり、その上に第2のBiVO
4層を構成するs−m相の緻密な結晶が存在していた。試験例1と同様にしてs−m相被覆率、z−t相被覆率を求めたところ、s−m相被覆率が100%であり、z−t相被覆率が0%であった。
【0078】
試験例12のBiVO
4層のX線回折パターンを
図15(b)に示す。s−m相に特徴的な回折線とz−t相に特徴的な回折線との両方が現れていることが確認できた。
【0079】
[参考例2]
第1のBiVO
4層を形成しない他は、試験例12と同様にして積層体を得た。得られた積層体の断面についてSEMで観察した結果を
図17に示す。FTO層の上にBiVO
4のs−m相の緻密な結晶が存在していた。試験例1と同様にしてs−m相被覆率、z−t相被覆率を求めたところ、s−m相被覆率が100%であり、z−t相被覆率が0%であった。
【0080】
参考例2のBiVO
4層のX線回折パターンを
図15(c)に示す。s−m相に特徴的な回折線は確認できたものの、z−t相に特徴的な回折線は確認できなかった。
【0081】
[光電極としての評価2]
試験例11、12、及び参考例2で得られた積層体について、上記[光電極としての評価1]と同様にしてBiVO
4電極を作成した。そして、3極式の装置において、BiVO
4電極を陽極、対極を陰極として電気的に接続し、掃引速度20mV/秒でサイクリックボルタンメトリー測定を行った。掃引中、光の照射を断続的に行い、電圧を徐々に下げて測定した。
【0082】
試験例11、12、及び参考例2で得られた積層体から作成したBiVO
4電極を用い、擬似太陽光を照射してサイクリックボルタンメトリー測定を行ったところ、
図18のような電流−電位曲線が得られた。
【0083】
試験例11、12の積層体はいずれもz−t相及びs−m相を含むが、試験例12の積層体から作製したBiVO
4電極の方が高い光応答性を示した。これは、試験例11の積層体は、FTO層の上にz−t相のBiVO
4層が存在し、その上に更にs−m相のBiVO
4結晶が点在する構造をとっているのに対し、試験例12の積層体では、FTO層の上にz−t相のBiVO
4層が存在し、その上に緻密なs−m相のBiVO
4層が存在するためと考えられる。
【0084】
参考例2の積層体は、FTO層の上に緻密なs−m相のBiVO
4層が形成されているが、試験例11、12よりも応答電流が低下した。この結果から、マイクロ波支援化学浴析出法により、基板上にBiVO
4層を形成する工程を含むことが重要であることがわかった。