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特許6035643バッテリーパックモニタリングシステム内のマイクロプロセッサに二進IDを割り当てるためのバッテリーパックモニタリングシステム及び方法
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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】6035643
(24)【登録日】2016年11月11日
(45)【発行日】2016年11月30日
(54)【発明の名称】バッテリーパックモニタリングシステム内のマイクロプロセッサに二進IDを割り当てるためのバッテリーパックモニタリングシステム及び方法
(51)【国際特許分類】
   G06F 1/28 20060101AFI20161121BHJP
【FI】
   G06F1/28 C
【請求項の数】10
【全頁数】14
(21)【出願番号】特願2015-528399(P2015-528399)
(86)(22)【出願日】2013年8月22日
(65)【公表番号】特表2015-526819(P2015-526819A)
(43)【公表日】2015年9月10日
(86)【国際出願番号】KR2013007550
(87)【国際公開番号】WO2014030944
(87)【国際公開日】20140227
【審査請求日】2015年4月17日
(31)【優先権主張番号】13/592,980
(32)【優先日】2012年8月23日
(33)【優先権主張国】US
(73)【特許権者】
【識別番号】500239823
【氏名又は名称】エルジー・ケム・リミテッド
(74)【代理人】
【識別番号】100110364
【弁理士】
【氏名又は名称】実広 信哉
(74)【代理人】
【識別番号】100122161
【弁理士】
【氏名又は名称】渡部 崇
(72)【発明者】
【氏名】リチャード・マコーミック
【審査官】 白石 圭吾
(56)【参考文献】
【文献】 特開2009−239429(JP,A)
【文献】 欧州特許出願公開第02408053(EP,A1)
【文献】 特開平10−021111(JP,A)
【文献】 特開2010−146991(JP,A)
【文献】 国際公開第2009/041091(WO,A1)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
G06F 1/26 − 1/32
H02J 7/00
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
バッテリーパックモニタリングシステムであって、
入力ポート、出力ポート、及び通信バスポートを有し、前記通信バスポートが通信バスに動作可能に接続された、マスターマイクロプロセッサと、
入力ポート、出力ポート、及び通信バスポートを有し、前記通信バスポートが前記通信バスに動作可能に接続された、第1マイクロプロセッサと、
入力ポート、出力ポート、及び通信バスポートを有し、前記通信バスポートが前記通信バスに動作可能に接続された、第2マイクロプロセッサと、
前記マスターマイクロプロセッサの出力ポートと前記第1マイクロプロセッサの入力ポートとの間に電気的に接続された、第1トランジスタ及び第1過電圧保護回路と、
前記第1マイクロプロセッサの出力ポートと前記第2マイクロプロセッサの入力ポートとの間に電気的に接続された、第2トランジスタ及び第2過電圧保護回路と
を含み、
前記第1トランジスタのゲートは、前記マスターマイクロプロセッサの出力ポートに電気的に接続され、
前記第1トランジスタのソースは、電気的に接地され、
前記第1過電圧保護回路は、
前記第1マイクロプロセッサの入力ポートと接地との間に電気的に接続され、前記第1マイクロプロセッサの入力ポートに印加される電圧の振幅を所定の電圧レベル未満に制限するツェナーダイオードと、
前記第1マイクロプロセッサの入力ポートと前記接地との間に電気的に接続されたキャパシタと、
前記第1マイクロプロセッサの入力ポートと前記第1トランジスタのドレインとの間に電気的に接続された抵抗と
を含み、
前記マスターマイクロプロセッサは、前記マスターマイクロプロセッサの出力ポートから第1ハイロジック電圧を出力して、前記第1マイクロプロセッサの入力ポートに第1ローロジック電圧が印加されるように構成され、
前記マスターマイクロプロセッサは、前記第1ハイロジック電圧を出力した後、第1二進IDを含むメッセージを前記マスターマイクロプロセッサの通信バスポートから前記通信バスを介して送信するようにさらに構成され、
前記第1マイクロプロセッサは、前記第1マイクロプロセッサの入力ポートに前記第1ローロジック電圧が印加されたとき、前記第1二進IDを前記第1マイクロプロセッサの通信バスポートで受信し、前記第1マイクロプロセッサの不揮発性メモリに前記第1二進IDを保存するように構成される、バッテリーパックモニタリングシステム。
【請求項2】
前記第1マイクロプロセッサが、前記第1マイクロプロセッサの不揮発性メモリに前記第1二進IDを保存した後、確認メッセージを前記第1マイクロプロセッサの通信バスポートから前記通信バスを介して前記マスターマイクロプロセッサの通信バスポートに送信するようにさらに構成される、請求項1に記載のバッテリーパックモニタリングシステム。
【請求項3】
前記第1マイクロプロセッサが、前記第1二進IDを保存した後、前記第1マイクロプロセッサの出力ポートから第2ハイロジック電圧を出力して、前記第2マイクロプロセッサの入力ポートに第2ローロジック電圧が印加されるようにさらに構成され、
前記マスターマイクロプロセッサが、前記第1マイクロプロセッサから前記確認メッセージを受信した後、第2二進IDを含むメッセージを前記マスターマイクロプロセッサの通信バスポートから前記通信バスを介して送信するようにさらに構成され、
前記第2マイクロプロセッサが、前記第2マイクロプロセッサの入力ポートに前記第2ローロジック電圧が印加されたとき、前記第2マイクロプロセッサの通信バスポートで前記第2二進IDを受信し、前記第2二進IDを前記第2マイクロプロセッサの不揮発性メモリに保存するように構成される、請求項2に記載のバッテリーパックモニタリングシステム。
【請求項4】
前記第2マイクロプロセッサが、前記第2マイクロプロセッサの不揮発性メモリに前記第2二進IDを保存した後、確認メッセージを前記第2マイクロプロセッサの通信バスポートから前記通信バスを介して前記マスターマイクロプロセッサの通信バスポートに送信するようにさらに構成される、請求項3に記載のバッテリーパックモニタリングシステム。
【請求項5】
入力ポート、出力ポート、及び通信バスポートを有し、前記通信バスポートが前記通信バスに動作可能に接続された、第3マイクロプロセッサと、
前記第2マイクロプロセッサの出力ポートと前記第3マイクロプロセッサの入力ポートとの間に電気的に接続された、第3トランジスタ及び第3過電圧保護回路と
をさらに含み、
前記第2マイクロプロセッサが、前記第2マイクロプロセッサの入力ポートに第2ローロジック電圧が印加された後、前記第2マイクロプロセッサの出力ポートから第3ハイロジック電圧を出力して、前記第3マイクロプロセッサの入力ポートに第3ローロジック電圧が印加されるようにさらに構成され、
前記マスターマイクロプロセッサが、前記第2マイクロプロセッサから前記確認メッセージを受信した後、第3二進IDを含むメッセージを前記マスターマイクロプロセッサの通信バスポートから前記通信バスを介して送信するようにさらに構成され、
前記第3マイクロプロセッサは、前記第3マイクロプロセッサの入力ポートに前記第3ローロジック電圧が印加されたとき、前記第3マイクロプロセッサの通信バスポートで前記第3二進IDを受信し、前記第3二進IDを前記第3マイクロプロセッサの不揮発性メモリに保存するように構成される、請求項4に記載のバッテリーパックモニタリングシステム。
【請求項6】
前記第3マイクロプロセッサが、前記第3マイクロプロセッサの不揮発性メモリに前記第3二進IDを保存した後、確認メッセージを前記第3マイクロプロセッサの通信バスポートから前記通信バスを介して前記マスターマイクロプロセッサの通信バスポートに送信するようにさらに構成される、請求項5に記載のバッテリーパックモニタリングシステム。
【請求項7】
前記第3マイクロプロセッサが、前記第3マイクロプロセッサの入力ポートに第3ローロジック電圧が印加された後、前記第3マイクロプロセッサの出力ポートから第4ハイロジック電圧を出力して、前記マスターマイクロプロセッサの入力ポートに第4ローロジック電圧を印加するようにさらに構成される、請求項6に記載のバッテリーパックモニタリングシステム。
【請求項8】
前記マスターマイクロプロセッサが、測定命令及び前記第1二進IDを含む命令メッセージを前記マスターマイクロプロセッサの通信バスポートから前記通信バスを介して前記第1マイクロプロセッサの通信バスポートに送信するようにさらに構成され、
前記第1マイクロプロセッサが、前記命令メッセージの受信に応えて、バッテリーモジュールに関連する少なくとも1つの測定値を含む測定メッセージを前記第1マイクロプロセッサの通信バスポートから前記通信バスを介して前記マスターマイクロプロセッサの通信バスポートに送信するようにさらに構成される、請求項1に記載のバッテリーパックモニタリングシステム。
【請求項9】
バッテリーパックモニタリングシステム内のマイクロプロセッサに二進IDを割り当てる方法であって、
前記バッテリーパックモニタリングシステムは、
入力ポート、出力ポート、及び通信バスポートを有し、前記通信バスポートが通信バスに動作可能に接続された、マスターマイクロプロセッサと、
入力ポート、出力ポート、及び通信バスポートを有し、前記通信バスポートが前記通信バスに動作可能に接続された、第1マイクロプロセッサと、
入力ポート、出力ポート、及び通信バスポートを有し、前記通信バスポートが前記通信バスに動作可能に接続された、第2マイクロプロセッサと、
前記マスターマイクロプロセッサの出力ポートと前記第1マイクロプロセッサの入力ポートとの間に電気的に接続された、第1トランジスタ及び第1過電圧保護回路と、
前記第1マイクロプロセッサの出力ポートと前記第2マイクロプロセッサの入力ポートとの間に電気的に接続された、第2トランジスタ及び第2過電圧保護回路と
を含み、
前記第1トランジスタのゲートは、前記マスターマイクロプロセッサの出力ポートに電気的に接続され、
前記第1トランジスタのソースは、電気的に接地され、
前記第1過電圧保護回路は、
前記第1マイクロプロセッサの入力ポートと接地との間に電気的に接続され、前記第1マイクロプロセッサの入力ポートに印加される電圧の振幅を所定の電圧レベル未満に制限するツェナーダイオードと、
前記第1マイクロプロセッサの入力ポートと前記接地との間に電気的に接続されたキャパシタと、
前記第1マイクロプロセッサの入力ポートと前記第1トランジスタのドレインとの間に電気的に接続された抵抗と
を含み、
前記マスターマイクロプロセッサの出力ポートから第1ハイロジック電圧を出力して、前記第1マイクロプロセッサの入力ポートに第1ローロジック電圧が印加されるようにする段階と、
前記第1ハイロジック電圧を出力した後、第1二進IDを含むメッセージを前記マスターマイクロプロセッサの通信バスポートから前記通信バスを介して送信する段階と、
前記第1二進IDを前記第1マイクロプロセッサの通信バスポートで受信する段階と、
前記第1マイクロプロセッサの入力ポートに前記第1ローロジック電圧が印加されたとき、前記第1二進IDを前記第1マイクロプロセッサの不揮発性メモリに保存する段階と
を含む方法。
【請求項10】
測定命令及び前記第1二進IDを含む命令メッセージを前記マスターマイクロプロセッサの通信バスポートから前記通信バスを介して前記第1マイクロプロセッサの通信バスポートに送信する段階と、
前記命令メッセージの受信に応えて、バッテリーモジュールに関連する少なくとも1つの測定値を含む測定メッセージを前記第1マイクロプロセッサの通信バスポートから前記通信バスを介して前記マスターマイクロプロセッサの通信バスポートに送信する段階と
をさらに含む、請求項に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、バッテリーパックモニタリングシステム内のマイクロプロセッサに二進IDを割り当てるためのバッテリーパックモニタリングシステム及び方法に関する。
本出願は、2012年8月23日出願の米国特許出願第13/592,980号に基づく優先権を主張するものであり、当該米国出願の明細書及び図面に開示された内容は、すべて本出願に援用される。
【背景技術】
【0002】
本発明者は、バッテリーパックモニタリングシステム内のマイクロプロセッサに二進IDを割り当てるための向上したバッテリーパックモニタリングシステム及び方法の必要性を認識した。
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【0003】
本発明の一態様によれば、バッテリーパックモニタリングシステムが提供される。該バッテリーパックモニタリングシステムは、入力ポート、出力ポート、及び通信バスポートを有したマスターマイクロプロセッサを含む。前記マスターマイクロプロセッサの通信バスポートは、通信バスに動作可能に接続される。前記バッテリーパックモニタリングシステムは、入力ポート、出力ポート、及び通信バスポートを有した第1マイクロプロセッサをさらに含む。前記第1マイクロプロセッサの通信バスポートは、前記通信バスに動作可能に接続される。前記バッテリーパックモニタリングシステムは、入力ポート、出力ポート、及び通信バスポートを有した第2マイクロプロセッサをさらに含む。前記第2マイクロプロセッサの通信バスポートは、前記通信バスに動作可能に接続される。前記バッテリーパックモニタリングシステムは、前記マスターマイクロプロセッサの出力ポートと前記第1マイクロプロセッサの入力ポートとの間に電気的に接続された第1過電圧保護回路をさらに含む。前記バッテリーパックモニタリングシステムは、前記第1マイクロプロセッサの出力ポートと前記第2マイクロプロセッサの入力ポートとの間に電気的に接続された第2過電圧保護回路をさらに含む。前記マスターマイクロプロセッサは、前記マスターマイクロプロセッサの出力ポートから第1信号を出力して、前記第1マイクロプロセッサの入力ポートに第1ローロジック電圧(low logic voltage)が印加されるように構成される。前記マスターマイクロプロセッサは、さらに、前記第1信号を出力した後、第1二進IDを含むメッセージを前記マスターマイクロプロセッサの通信バスポートから前記通信バスを介して送信するように構成される。前記第1マイクロプロセッサは、前記第1マイクロプロセッサの入力ポートに第1ローロジック電圧が印加されたとき、前記第1二進IDを前記第1マイクロプロセッサの通信バスポートで受信し、前記第1マイクロプロセッサの不揮発性メモリに前記第1二進IDを保存するように構成される。
【0004】
本発明の別の態様によれば、バッテリーパックモニタリングシステム内のマイクロプロセッサに二進IDを割り当てる方法が提供される。前記バッテリーパックモニタリングシステムは、入力ポート、出力ポート、及び通信バスポートを有したマスターマイクロプロセッサを含む。前記マスターマイクロプロセッサの通信バスポートは、通信バスに動作可能に接続される。前記バッテリーパックモニタリングシステムは、入力ポート、出力ポート、及び通信バスポートを有した第1マイクロプロセッサをさらに含む。前記第1マイクロプロセッサの通信バスポートは、前記通信バスに動作可能に接続される。前記バッテリーパックモニタリングシステムは、入力ポート、出力ポート、及び通信バスポートを有した第2マイクロプロセッサをさらに含む。前記第2マイクロプロセッサの通信バスポートは、前記通信バスに動作可能に接続される。前記バッテリーパックモニタリングシステムは、前記マスターマイクロプロセッサの出力ポートと前記第1マイクロプロセッサの入力ポートとの間に電気的に接続された第1過電圧保護回路をさらに含む。前記バッテリーパックモニタリングシステムは、前記第1マイクロプロセッサの出力ポートと前記第2マイクロプロセッサの入力ポートとの間に電気的に接続された第2過電圧保護回路をさらに含む。前記方法は、前記マスターマイクロプロセッサの出力ポートから第1信号を出力して、前記第1マイクロプロセッサの入力ポートに第1ローロジック電圧が印加されるようにする段階を含む。前記方法は、さらに、前記第1信号を出力した後、第1二進IDを含むメッセージを前記マスターマイクロプロセッサの通信バスポートから前記通信バスを介して送信する段階を含む。前記方法は、さらに、前記第1二進IDを前記第1マイクロプロセッサの通信バスポートで受信する段階を含む。前記方法は、さらに、前記第1マイクロプロセッサの入力ポートに第1ローロジック電圧が印加されたとき、前記第1マイクロプロセッサの不揮発性メモリに前記第1二進IDを保存する段階を含む。
【図面の簡単な説明】
【0005】
図1】本発明の一実施形態によるバッテリーパックモニタリングシステムの構成図である。
図2】本発明の別の実施形態によって、図1に示されたバッテリーパックモニタリングシステムのマイクロプロセッサに二進IDを割り当てる方法のフロー図である。
図3】本発明の別の実施形態によって、図1に示されたバッテリーパックモニタリングシステムのマイクロプロセッサに二進IDを割り当てる方法のフロー図である。
図4】本発明の別の実施形態によって、図1に示されたバッテリーパックモニタリングシステムのマイクロプロセッサに二進IDを割り当てる方法のフロー図である。
図5】本発明の別の実施形態によって、図1に示されたバッテリーパックモニタリングシステムのマイクロプロセッサに二進IDを割り当てる方法のフロー図である。
【発明を実施するための形態】
【0006】
図1には、一実施形態によるバッテリーパック12のモニタリング動作パラメータのためのバッテリーパックモニタリングシステム10が示されている。前記バッテリーパックモニタリングシステム10は、バッテリーモジュール14,16,18を含む。前記バッテリーパックモニタリングシステム10は、マスターマイクロプロセッサ20、第1マイクロプロセッサ30、第2マイクロプロセッサ40、第3マイクロプロセッサ50、トランジスタ60、抵抗62,64、第1過電圧保護回路80、温度センサ90、電圧センサ92、トランジスタ160、抵抗162,164、第2過電圧保護回路180、温度センサ190、電圧センサ192、トランジスタ260、抵抗262,264、第3過電圧保護回路280、温度センサ290、電圧センサ292、トランジスタ360、抵抗362,364、及び第4過電圧保護回路380を含む。前記バッテリーパックモニタリングシステム10の長所は、前記システム10がシステム10内の各マイクロプロセッサから出力された信号及び前記マスターマイクロプロセッサ20からのそれぞれの二進IDを用いて、前記それぞれの二進IDで後続のマイクロプロセッサをプログラミングできるという点である。
【0007】
前記マスターマイクロプロセッサ20は、入力ポートIN1、出力ポートOUT1、通信バスポートCOM1、及び不揮発性メモリ22を含む。前記通信バスポートCOM1は、前記通信バス52に動作可能に接続される。前記マスターマイクロプロセッサ20は、第1、第2、及び第3二進IDをそれぞれ割り当てるために、メッセージを前記通信バスポートCOM1から前記通信バス52を介して前記第1、第2、及び第3マイクロプロセッサ30,40,50に伝送するように構成される。前記マスターマイクロプロセッサ20は、第1、第2、及び第3マイクロプロセッサ30,40,50のそれぞれとのさらなる通信に前記第1、第2、及び第3二進IDを用いる。
【0008】
前記トランジスタ60は、ゲートG1、ソースS1、ドレインD1、及び前記ドレインD1と前記ソースS1との間に電気的に接続されたダイオードを含む。前記ゲートG1は、前記マスターマイクロプロセッサ20の出力ポートOUT1に電気的に接続される。前記ソースS1は、電気的に接地される。前記ドレインD1は、前記抵抗62の一端に電気的に接続される。前記抵抗62は、前記ドレインD1とノード63との間に電気的に直列接続される。前記抵抗64は、前記電圧源Vccとノード63との間に電気的に接続される。前記第1過電圧保護回路80は、前記ノード63と前記第1マイクロプロセッサ30の入力ポートIN2との間に電気的に接続される。
【0009】
前記マスターマイクロプロセッサ20が前記出力ポートOUT1からハイロジック電圧(high logic voltage)を出力しないとき、前記トランジスタ60はターンオフされ、前記入力ポートIN2には前記電圧源Vccから出力されたハイロジック電圧が印加される。前記第1過電圧保護回路80は、前記入力ポートIN2に印加されるハイロジック電圧の振幅を所定の電圧レベル未満に制限する。前記第1過電圧保護回路80は、抵抗400、キャパシタ402、及びツェナーダイオード404を含む。前記抵抗400は、前記ノード63と前記第1マイクロプロセッサ30の入力ポートIN2との間に電気的に接続される。前記キャパシタ402は、前記入力ポートIN2と接地との間に接続される。前記ツェナーダイオード404は、前記入力ポートIN2に電気的に接続されたカソード及び前記接地に電気的に接続されたアノードを有し、前記入力ポートIN2に印加される電圧の振幅を所定の電圧レベルに制限する。
【0010】
前記マスターマイクロプロセッサ20が前記出力ポートOUT1からハイロジック電圧(例えば、5V)を出力するとき、前記トランジスタ60はターンオンされ、前記入力ポートIN2にはローロジック電圧(例えば、0.5Vdc未満)が印加される。前記入力ポートIN2にローロジック電圧が印加されたとき、前記第1マイクロプロセッサ30は、前記通信バスポートCOM2を介して受信したメッセージから二進IDを受信し保存するプログラミングモードに入る。
【0011】
前記第1マイクロプロセッサ30は、入力ポートIN2、出力ポートOUT2、通信バスポートCOM2、及び不揮発性メモリ32を含む。前記通信バスポートCOM2は、前記通信バス52に接続される。前記第1マイクロプロセッサ30は、前記マスターマイクロプロセッサ20から第1二進IDを受信し、前記第1二進IDを前記不揮発性メモリ32に保存するように構成される。これについて詳しくは後述する。前記第1マイクロプロセッサ30は、前記温度センサ90及び前記電圧センサ92に電気的に接続される。前記温度センサ90は、前記バッテリーモジュール14の温度レベルを示す温度信号を生成し、前記温度信号は、前記第1マイクロプロセッサ30によって受信される。前記電圧センサ92は、前記バッテリーモジュール14の出力電圧レベルを示す電圧信号を生成し、前記電圧信号は、前記第1マイクロプロセッサ30によって受信される。
【0012】
前記トランジスタ160は、ゲートG2、ソースS2、ドレインD2、及び前記ドレインD2と前記ソースS2との間に電気的に接続されたダイオードを含む。前記ゲートG2は、前記第1マイクロプロセッサ30の出力ポートOUT2に電気的に接続される。前記ソースS2は、電気的に接地される。前記ドレインD2は、前記抵抗162の一端に電気的に接続される。前記抵抗162は、前記ドレインD2とノード163との間に電気的に直列接続される。前記抵抗164は、前記電圧源Vccとノード163との間に電気的に接続される。前記第2過電圧保護回路180は、前記ノード163と前記第2マイクロプロセッサ40の入力ポートIN3との間に電気的に接続される。
【0013】
前記第1マイクロプロセッサ30が前記出力ポートOUT2からハイロジック電圧を出力しないとき、前記トランジスタ160はターンオフされ、前記入力ポートIN3には前記電圧源Vccから出力されたハイロジック電圧が印加される。前記第2過電圧保護回路180は、前記入力ポートIN3に印加されるハイロジック電圧の振幅を所定の電圧レベル未満に制限する。前記第2過電圧保護回路180は、抵抗420、キャパシタ422、及びツェナーダイオード424を含む。前記抵抗420は、前記ノード163と前記第2マイクロプロセッサ40の入力ポートIN3との間に電気的に接続される。前記キャパシタ422は、前記入力ポートIN3と接地との間に接続される。前記ツェナーダイオード424は、前記入力ポートIN3に電気的に接続されたカソード及び前記接地に電気的に接続されたアノードを有し、前記入力ポートIN3に印加される電圧の振幅を所定の電圧レベルに制限する。
【0014】
前記第1マイクロプロセッサ30が前記出力ポートOUT2からハイロジック電圧を出力するとき、前記トランジスタ160はターンオンされ、前記入力ポートIN3にはローロジック電圧が印加される。前記入力ポートIN3にローロジック電圧が印加されたとき、前記第2マイクロプロセッサ40は、前記通信バスポートCOM3を介して受信したメッセージから二進IDを受信し保存するプログラミングモードに入る。
【0015】
前記第2マイクロプロセッサ40は、入力ポートIN3、出力ポートOUT3、通信バスポートCOM3、及び不揮発性メモリ42を含む。前記通信バスポートCOM3は、前記通信バス52に接続される。前記第2マイクロプロセッサ40は、前記マスターマイクロプロセッサ20から第2二進IDを受信し、前記第2二進IDを前記不揮発性メモリ42に保存するように構成される。これについて詳しくは後述する。前記第2マイクロプロセッサ40は、前記温度センサ190及び前記電圧センサ192に電気的に接続される。前記温度センサ190は、前記バッテリーモジュール16の温度レベルを示す温度信号を生成し、前記温度信号は、前記第2マイクロプロセッサ40によって受信される。前記電圧センサ192は、前記バッテリーモジュール16の出力電圧レベルを示す電圧信号を生成し、前記電圧信号は、前記第2マイクロプロセッサ40によって受信される。
【0016】
前記トランジスタ260は、ゲートG3、ソースS3、ドレインD3、及び前記ドレインD3と前記ソースS3との間に電気的に接続されたダイオードを含む。前記ゲートG3は、前記第2マイクロプロセッサ40の出力ポートOUT3に電気的に接続される。前記ソースS3は、電気的に接地される。前記ドレインD3は、前記抵抗262の一端に電気的に接続される。前記抵抗262は、前記ドレインD3とノード263との間に電気的に直列接続される。前記抵抗264は、前記電圧源Vccとノード263との間に電気的に接続される。前記第3過電圧保護回路280は、前記ノード263と前記第3マイクロプロセッサ50の入力ポートIN4との間に電気的に接続される。
【0017】
前記第2マイクロプロセッサ40が前記出力ポートOUT3からハイロジック電圧を出力しないとき、前記トランジスタ260はターンオフされ、前記入力ポートIN4には前記電圧源Vccから出力されたハイロジック電圧が印加される。前記第3過電圧保護回路280は、前記入力ポートIN4に印加されるハイロジック電圧の振幅を所定の電圧レベル未満に制限する。前記第3過電圧保護回路280は、抵抗440、キャパシタ442、及びツェナーダイオード444を含む。前記抵抗440は、前記ノード263と前記第3マイクロプロセッサ50の入力ポートIN4との間に電気的に接続される。前記キャパシタ442は、前記入力ポートIN4と接地との間に接続される。前記ツェナーダイオード444は、前記入力ポートIN4に電気的に接続されたカソード及び前記接地に電気的に接続されたアノードを有し、前記入力ポートIN4に印加される電圧の振幅を所定の電圧レベルに制限する。
【0018】
前記第2マイクロプロセッサ40が前記出力ポートOUT3からハイロジック電圧を出力するとき、前記トランジスタ260はターンオンされ、前記入力ポートIN4にはローロジック電圧が印加される。前記入力ポートIN4にローロジック電圧が印加されたとき、前記第3マイクロプロセッサ50は、前記通信バスポートCOM4を介して受信したメッセージから二進IDを受信し保存するプログラミングモードに入る。
【0019】
前記第3マイクロプロセッサ50は、入力ポートIN4、出力ポートOUT4、通信バスポートCOM4、及び不揮発性メモリ51を含む。前記通信バスポートCOM4は、前記通信バス52に接続される。前記第3マイクロプロセッサ50は、前記マスターマイクロプロセッサ20から第3二進IDを受信し、前記第3二進IDを前記不揮発性メモリ51に保存するように構成される。これについて詳しくは後述する。前記第3マイクロプロセッサ50は、前記温度センサ290及び前記電圧センサ292に電気的に接続される。前記温度センサ290は、前記バッテリーモジュール18の温度レベルを示す温度信号を生成し、前記温度信号は、前記第3マイクロプロセッサ50によって受信される。前記電圧センサ292は、前記バッテリーモジュール18の出力電圧レベルを示す電圧信号を生成し、前記電圧信号は、前記第3マイクロプロセッサ50によって受信される。
【0020】
前記トランジスタ360は、ゲートG4、ソースS4、ドレインD4、及び前記ドレインD4と前記ソースS4との間に電気的に接続されたダイオードを含む。前記ゲートG4は、前記第3マイクロプロセッサ50の出力ポートOUT4に電気的に接続される。前記ソースS4は、電気的に接地される。前記ドレインD4は、前記抵抗362の一端に電気的に接続される。前記抵抗362は、前記ドレインD4とノード363との間に電気的に直列接続される。前記抵抗364は、前記電圧源Vccとノード363との間に電気的に接続される。前記第4過電圧保護回路380は、前記ノード363と前記マスターマイクロプロセッサ20の入力ポートIN1との間に電気的に接続される。
【0021】
前記第3マイクロプロセッサ50が前記出力ポートOUT4からハイロジック電圧を出力しないとき、前記トランジスタ360はターンオフされ、前記入力ポートIN1は前記電圧源Vccから出力されたハイロジック電圧が印加される。前記第4過電圧保護回路380は、前記入力ポートIN1に印加されるハイロジック電圧の振幅を所定の電圧レベル未満に制限する。前記第4過電圧保護回路380は、抵抗460、キャパシタ462、及びツェナーダイオード464を含む。前記抵抗460は、前記ノード363と前記マスターマイクロプロセッサ20の入力ポートIN1との間に電気的に接続される。前記キャパシタ462は、前記入力ポートIN1と接地との間に接続される。前記ツェナーダイオード464は、前記入力ポートIN1に電気的に接続されたカソード及び前記接地に電気的に接続されたアノードを有し、前記入力ポートIN1に印加される電圧の振幅を所定の電圧レベルに制限する。
【0022】
前記第3マイクロプロセッサ50が前記出力ポートOUT4からハイロジック電圧を出力するとき、前記トランジスタ360はターンオンされ、前記入力ポートIN1にはローロジック電圧が印加される。前記入力ポートIN1にローロジック電圧が印加されたとき、前記マスターマイクロプロセッサ20は、前記通信バスポートCOM4を介して二進IDを送信することを中断する。
【0023】
以下、図1ないし図5を参照し、本発明の別の実施形態によって、バッテリーパックモニタリングシステム10内のマイクロプロセッサに二進IDを割り当てる方法のフロー図を詳しく説明する。
【0024】
段階600において、ユーザは、(i)入力ポートIN1、出力ポートOUT1、及び通信バスポートCOM1を有し、前記通信バスポートCOM1が前記通信バス52に動作可能に接続された、マスターマイクロプロセッサ20と、(ii)入力ポートIN2、出力ポートOUT2、及び通信バスポートCOM2を有し、前記通信バスポートCOM2が前記通信バス52に動作可能に接続された、第1マイクロプロセッサ30と、(iii)入力ポートIN3、出力ポートOUT3、及び通信バスポートCOM3を有し、前記通信バスポートCOM3が前記通信バス52に動作可能に接続された、第2マイクロプロセッサ40と、(iv)入力ポートIN4、出力ポートOUT4、及び通信バスポートCOM4を有し、前記通信バスポートCOM4が前記通信バス52に動作可能に接続された、第3マイクロプロセッサ50と、(v)前記マスターマイクロプロセッサ20の出力ポートOUT1と前記第1マイクロプロセッサ30の入力ポートIN2との間に電気的に接続された第1過電圧保護回路80と、(vi)前記第1マイクロプロセッサ30の出力ポートOUT2と前記第2マイクロプロセッサ40の入力ポートIN3との間に電気的に接続された第2過電圧保護回路180と、(vii)前記第2マイクロプロセッサ40の出力ポートOUT3と前記第3マイクロプロセッサ50の入力ポートIN4との間に電気的に接続された第3過電圧保護回路280と、(viii)前記第3マイクロプロセッサ50の出力ポートOUT4と前記マスターマイクロプロセッサ20の入力ポートIN1との間に電気的に接続された第4過電圧保護回路380とを含むバッテリーパックモニタリングシステム10を提供する。
【0025】
段階602において、前記マスターマイクロプロセッサ20は、前記マスターマイクロプロセッサの出力ポートOUT1から第1信号を出力して、前記第1マイクロプロセッサ30の入力ポートIN2に第1ローロジック電圧が印加されるようにする。
段階604において、前記マスターマイクロプロセッサ20は、前記第1信号を出力した後、第1二進IDを含む第1メッセージを前記マスターマイクロプロセッサの通信バスポートCOM1から前記通信バス52を介して送信する。
【0026】
段階606において、前記第1マイクロプロセッサ30の入力ポートIN2に第1ローロジック電圧が印加されたとき、前記第1マイクロプロセッサ30は、前記第1マイクロプロセッサの通信バスポートCOM2で前記第1二進IDを受信し、前記第1二進IDを前記第1マイクロプロセッサ30の不揮発性メモリ32に保存する。
段階620において、前記第1二進IDを前記第1マイクロプロセッサ30の不揮発性メモリ32に保存した後、前記第1マイクロプロセッサ30は、第1確認メッセージを前記第1マイクロプロセッサの通信バスポートCOM2から前記通信バス52を介して前記マスターマイクロプロセッサ20の通信バスポートCOM1に送信する。
段階622において、前記マスターマイクロプロセッサ20は、前記第1マイクロプロセッサ30からの前記第1確認メッセージの受信に応えて、前記マスターマイクロプロセッサ20の不揮発性メモリ22内のネットワークIDテーブルに前記第1二進IDを保存する。
【0027】
段階624において、前記第1マイクロプロセッサ30の入力ポートIN2に前記第1ローロジック電圧が印加された後、前記第1マイクロプロセッサ30は、前記第1マイクロプロセッサの出力ポートOUT2から第2信号を出力して、前記第2マイクロプロセッサ40の入力ポートIN3に第2ローロジック電圧が印加されるようにする。
段階626において、前記マスターマイクロプロセッサ20は、前記第1マイクロプロセッサ30から前記第1確認メッセージを受信した後、第2二進IDを含む第2メッセージを前記マスターマイクロプロセッサの通信バスポートCOM1から前記通信バス52を介して送信する。
【0028】
段階628において、前記第2マイクロプロセッサ40の入力ポートIN3に第2ローロジック電圧が印加されたとき、前記第2マイクロプロセッサ40は、前記第2マイクロプロセッサの通信バスポートCOM3で前記第2二進IDを受信し、前記第2二進IDを前記第2マイクロプロセッサ40の不揮発性メモリ42に保存する。
段階630において、前記第2二進IDを前記第2マイクロプロセッサ40の不揮発性メモリ42に保存した後、前記第2マイクロプロセッサ40は、第2確認メッセージを前記第2マイクロプロセッサの通信バスポートCOM3から前記通信バス52を介して前記マスターマイクロプロセッサ20の通信バスポートCOM1に送信する。
段階640において、前記マスターマイクロプロセッサ20は、前記第2マイクロプロセッサ40からの前記第2確認メッセージの受信に応えて、前記マスターマイクロプロセッサ20の不揮発性メモリ22内のネットワークIDテーブルに前記第2二進IDを保存する。
【0029】
段階642において、前記第2マイクロプロセッサ40の入力ポートIN3に前記第2ローロジック電圧が印加された後、前記第2マイクロプロセッサ40は、前記第2マイクロプロセッサの出力ポートOUT3から第3信号を出力して、前記第3マイクロプロセッサ50の入力ポートIN4に第3ローロジック電圧が印加されるようにする。
段階644において、前記マスターマイクロプロセッサ20は、前記第2マイクロプロセッサ40から前記第2確認メッセージを受信した後、第3二進IDを含む第3メッセージを前記マスターマイクロプロセッサの通信バスポートCOM1から前記通信バス52を介して送信する。
【0030】
段階646において、前記第3マイクロプロセッサ50の入力ポートIN4に第3ローロジック電圧が印加されたとき、前記第3マイクロプロセッサ50は、前記第3マイクロプロセッサの通信バスポートCOM4で前記第3二進IDを受信し、前記第3二進IDを前記第3マイクロプロセッサ50の不揮発性メモリ51に保存する。
段階648において、前記第3二進IDを前記第3マイクロプロセッサ50の不揮発性メモリ51に保存した後、前記第3マイクロプロセッサ50は、第3確認メッセージを前記第3マイクロプロセッサの通信バスポートCOM4から前記通信バス52を介して前記マスターマイクロプロセッサ20の通信バスポートCOM1に送信する。
段階650において、前記マスターマイクロプロセッサ20は、前記第3マイクロプロセッサ50からの前記第3確認メッセージの受信に応えて、前記マスターマイクロプロセッサ20の不揮発性メモリ22内のネットワークIDテーブルに前記第3二進IDを保存する。
【0031】
段階660において、前記第3マイクロプロセッサ50の不揮発性メモリ51に前記第3二進IDを保存した後、前記第3マイクロプロセッサ50は、前記第3マイクロプロセッサの出力ポートOUT4から第4信号を出力して、前記マスターマイクロプロセッサ20の入力ポートIN1に第4ローロジック電圧が印加されるようにする。
段階662において、前記マスターマイクロプロセッサ20は、前記マスターマイクロプロセッサ20の不揮発性メモリ22内のネットワークIDテーブルから第1二進IDを検索する。
段階664において、前記マスターマイクロプロセッサ20は、測定命令及び前記第1二進IDを含む命令メッセージを前記マスターマイクロプロセッサの通信バスポートCOM1から前記通信バス52を介して前記第1マイクロプロセッサ30の通信バスポートCOM2に送信する。
【0032】
段階666において、前記第1マイクロプロセッサ30は、前記命令メッセージ内の前記第1二進IDが前記第1マイクロプロセッサ30の不揮発性メモリ32に保存された二進IDと同じであるか否かを判断し、「はい」であれば、段階668に移行し、「いいえ」であれば、割当方法は終了する。
段階668において、前記第1マイクロプロセッサ30は、前記命令メッセージの受信に応えて、前記バッテリーモジュール14に関連する少なくとも1つの測定値を含む測定メッセージを前記第1マイクロプロセッサの通信バスポートCOM2から前記通信バス52を介して前記マスターマイクロプロセッサ20の通信バスポートCOM1に送信する。
段階670において、前記マスターマイクロプロセッサ20は、前記バッテリーモジュール14に関連する少なくとも1つの測定値を前記マスターマイクロプロセッサ20の不揮発性メモリ22に保存する。段階670の後、割当方法は終了する。
【0033】
前記バッテリーパックモニタリングシステム10及び前記システム内のマイクロプロセッサに二進IDを割り当てる方法は、他のシステム及び方法に比べて著しい利点を提供する。特に、前記バッテリーパックモニタリングシステム10及び前記割当方法は、前記システム10内のそれぞれのマイクロプロセッサから出力された信号及び前記マスターマイクロプロセッサ20からのそれぞれの二進IDを用いて、前記それぞれの二進IDで後続のマイクロプロセッサをプログラミングできる技術的効果を提供する。
【0034】
上述された方法はその少なくとも一部が、前記方法を行うためにコンピュータが実行可能な命令の形態で具現され、コンピュータ可読媒体の形態で実現され得る。前記コンピュータ可読媒体は、ハードドライブ、RAM、フラッシュメモリ、その他当業者に知られたコンピュータ可読媒体を一つまたはそれ以上含むことができる。前記コンピュータが実行可能な命令は、一つまたはそれ以上のコンピュータ又はマイクロプロセッサに読み込まれて実行され、一つまたはそれ以上のコンピュータ又はマイクロプロセッサは前記方法を実施する装置になる。
【0035】
以上のように、本発明を限定された実施形態によって説明したが、本発明は、これに限定されるものではなく、このような本発明の技術的思想を逸脱しない範囲内で、当業界の通常の知識を有する者にとっては、他の多くの変形、変更、置換、又は均等な構成が可能であろう。本発明の様々な実施形態が記載されているが、実施形態の一部のみを含んでいるものと理解されるべきである。したがって、本発明が前述の説明によって限定されると解釈されてはならない。
【符号の説明】
【0036】
10 バッテリーパックモニタリングシステム
12 バッテリーパック
14,16,18 バッテリーモジュール
20 マスターマイクロプロセッサ
22,32,42,51 不揮発性メモリ
30 第1マイクロプロセッサ
40 第2マイクロプロセッサ
50 第3マイクロプロセッサ
52 通信バス
60,160,260,360 トランジスタ
62,64,162,164,262,264,362,364,400,420,440,460 抵抗
63,163,263,363 ノード
80 第1過電圧保護回路
90,190,290 温度センサ
92,192,292 電圧センサ
180 第2過電圧保護回路
280 第3過電圧保護回路
380 第4過電圧保護回路
402,422,442,462 キャパシタ
404,424,444,464 ツェナーダイオード
図1
図2
図3
図4
図5