【課題を解決するための手段】
【0007】
本発明の概念は、次の通りである。
(1)入力信号を受け、デジタル信号を発生するアナログ・デジタル変換器と;上記デジタル信号からのデジタル・データをターゲット・イメージに変換し、コンピュータ・ビジョン技術を用いて上記ターゲット・イメージ内の描写された信号を認識するプロセッサとを具えた試験測定機器。
(2)上記プロセッサが上記デジタル・データを実時間で処理する概念1の試験測定機器。
(3)トリガ信号に応答して上記デジタル・データがメモリに蓄積された後に、上記プロセッサが上記デジタル・データを処理する概念1の試験測定機器。
(4)入力信号を受け、デジタル信号を発生するアナログ・デジタル変換器と;上記デジタル信号からのデジタル・データをターゲット・イメージに変換し、コンピュータ・ビジョン技術を用いて上記ターゲット・イメージ内に描写された信号を認識し、該信号が認識されたときにトリガ信号を発生するトリガ検出器と;上記トリガ信号に応答して上記デジタル信号からのデジタル・データを蓄積するメモリとを具えた試験測定機器。
(5)上記ターゲット・イメージ内の上記信号の場所が表示器上で識別される概念1の試験測定機器。
(6)上記ターゲット・イメージ内の上記信号の場所を用いて測定を行う概念1の試験測定機器。
(7)上記コンピュータ・ビジョン技術は、オブジェクト認識技術である概念1の試験測定機器。
(8)上記オブジェクト認識技術は、テンプレート・マッチングであり、上記プロセッサは、基準イメージに基づいて上記信号を認識する概念7の試験測定機器。
(9)上記コンピュータ・ビジョン技術は、イメージ処理技術である概念1の試験測定機器。
(10)上記ターゲット・イメージは、周波数スペクトラムを描写する概念1の試験測定機器。
(11)上記ターゲット・イメージは、スペクトログラムを描写する概念1の試験測定機器。
(12)上記ターゲット・イメージは、周波数対時間のグラフ、振幅又はパワー対時間のグラフ、位相対時間のグラフ、I/Q対時間のグラフ、アイ・ダイアグラム、コンスタレーション・ダイアグラム、コードグラム、相補的累積分布関数から成るグループから選択された視覚化を描写する概念1の試験測定機器。
(13)上記プロセッサは、上記ターゲット・イメージの部分が上記基準イメージに類似していると判断することにより、上記信号を認識する概念8の試験測定機器。
(14)上記プロセッサは、上記ターゲット・イメージの部分が上記基準イメージに類似していないと判断することにより、上記信号を認識する概念8の試験測定機器。
(15)上記プロセッサは、複数の基準イメージに基づいて上記信号を認識し、上記基準イメージの各々が上記信号の部分に対応する概念8の試験測定機器。
(16)上記プロセッサは、上記デジタル・データを複数のシーケンシャル・ターゲット・イメージに変換し、該複数のシーケンシャル・ターゲット・イメージ内の複数の信号を認識する概念8の試験測定機器。
(17)上記プロセッサは、上記基準イメージを上記現在のターゲット・イメージ又は以前のターゲット・イメージと交換することにより、上記基準イメージを周期的に更新する概念8の試験測定機器。
(18)蓄積された基準イメージのライブラリに基づいて上記プロセッサが上記基準イメージを判断する概念8の試験測定機器。
(19)上記プロセッサは、上記ターゲット・イメージの特定領域内の上記信号を検索する概念1の試験測定機器。
(20)上記プロセッサは、特定の振幅又はパワーを有する信号を検索する概念1の試験測定機器。
(21)上記試験測定機器器は、実時間スペクトラム・アナライザ、ベクトル信号アナライザ、掃引型スペクトラム・アナライザ及びオシロスコープから成るグループから選択された概念1の試験測定機器。
(22)上記ターゲット・イメージ内の上記信号の場所は、表示器上で識別される概念4の試験測定機器。
(23)上記ターゲット・イメージ内の上記信号の場所を用いて、測定を実行する概念4の試験測定機器。
(24)上記コンピュータ・ビジョン技術は、オブジェクト認識技術である概念4の試験測定機器。
(25)上記オブジェクト認識技術がテンプレート・マッチングであり、上記トリガ検出器が基準イメージに基づいて上記信号を認識する概念24の試験測定機器。
(26)上記コンピュータ・ビジョン技術がイメージ処理技術である概念4の試験測定機器。
(27)上記ターゲット・イメージが周波数スペクトラムを描写する概念4の試験測定機器。
(28)上記ターゲット・イメージがスペクトログラムを描画する概念4の試験測定機器。
(29)上記ターゲット・イメージは、周波数対時間のグラフ、振幅又はパワー対時間のグラフ、位相対時間のグラフ、I/Q対時間のグラフ、アイ・ダイアグラム、コンスタレーション・ダイアグラム、コードグラム、相補的累積分布関数から成るグループから選択された視覚化を描写する概念4の試験測定機器。
(30)上記トリガ検出器は、上記ターゲット・イメージの部分が上記基準イメージに類似していることを判断することにより、上記信号を認識する概念25の試験測定機器。
(31)上記トリガ検出器は、上記ターゲット・イメージの部分が上記基準イメージに類似していないことを判断することにより、上記信号を認識する概念25の試験測定機器。
(32)上記トリガ検出器が複数の基準イメージに基づいて上記信号を認識し、上記基準イメージの各々が上記信号の部分に対応する概念25の試験測定機器。
(33)上記トリガ検出器は、上記デジタル・データを複数のシーケンシャル・ターゲット・イメージに変換し、上記複数のシーケンシャル・ターゲット・イメージ内の複数の信号を認識する概念25の試験測定機器。
(34)上記トリガ検出器は、上記基準イメージを上記現在の又は以前のターゲット・イメージの部分と交換して、上記基準イメージを周期的に更新する概念25の試験測定機器。
(35)蓄積された基準イメージのライブラリに基づいて、上記トリガ検出器が上記基準イメージを決定する概念25の試験測定機器。
(36)上記トリガ検出器は、上記ターゲット・イメージの特定領域内の上記信号を検索する概念4の試験測定機器。
(37)上記トリガ検出器は、特定の振幅又はパワーを有する信号を検出する概念4の試験測定機器。
(38)上記試験測定機器器は、実時間スペクトラム・アナライザ、ベクトル信号アナライザ、掃引型スペクトラム・アナライザ及びオシロスコープから成るグループから選択された概念4の試験測定機器。