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テクトロニクス・インコーポレイテッド

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 7568428 Sパラメータを求める方法及び試験測定システム 2024年10月16日
特許 7558642 ノイズ・フィルタ及びノイズ低減方法 2024年10月 1日
特許 7534079 多層回路基板 2024年 8月14日
特許 7516019 時間インタリーブ・デジタル・アナログ・コンバータ・システム及びそのための前置処理フィルタを校正する方法 2024年 7月16日
特許 7509365 試験測定装置を被試験デバイスに結合する装置、試験測定システム及び被試験デバイスの動作モードを設定する方法 2024年 7月 2日
特許 7504587 試験測定装置及び信号抽出方法 2024年 6月24日
特許 7504592 試験測定装置及び波形合成方法 2024年 6月24日
特許 7471240 試験測定装置及び試験測定装置の送信部 2024年 4月19日
特許 7427362 試験測定プローブ・カプラ及びその使用方法 2024年 2月 5日
特許 7426237 拡張現実に関連する試験測定装置、システム及び方法 2024年 2月 1日
特許 7425733 試験測定装置及び入力信号のジッタを求める方法 2024年 1月31日
特許 7420467 試験プローブ・チップ及び試験プローブ・チップを被試験デバイスに接着する方法 2024年 1月23日
特許 7409783 試験プローブ・チップ及び抵抗性要素 2024年 1月 9日

13 件中 1-13 件を表示

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7568428 7558642 7534079 7516019 7509365 7504587 7504592 7471240 7427362 7426237 7425733 7420467 7409783

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