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テクトロニクス・インコーポレイテッド

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テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7728174	試験装置、電気的マージン試験方法及びマージン・テスタ	2025年 8月22日
特許 7728255	アクセサリ装置	2025年 8月22日
特許 7728290	信号分類システム、信号分類方法及びデータ信号分類システム	2025年 8月22日
特許 7726624	試験測定装置及び波形合成方法	2025年 8月20日
特許 7726631	温度管理システム及び温度管理方法	2025年 8月20日
特許 7683849	試験測定システム及びタスク処理方法	2025年 5月27日
特許 7672897	試験測定システム及び被試験デバイス分析方法	2025年 5月 8日
特許 7665293	試験測定システム及び被試験デバイスの試験方法	2025年 4月21日
特許 7642330	試験測定装置及び被試験デバイスの性能測定方法	2025年 3月10日
特許 7640535	測定値とディープ・ラーニングを用いたシミュレーション修正	2025年 3月 5日
特許 7628496	複数の試験測定装置を同期させるシステム及び方法	2025年 2月10日
特許 7621058	信号生成装置及び広帯域アナログ信号生成方法	2025年 1月24日
特許 7621253	計器データをキャプチャする方法、通信デバイス及び試験測定システム	2025年 1月24日
特許 7610348	時間インターリーブ・デジタル・アナログ・コンバータ・システム及び時間インターリーブ・デジタル・アナログ・コンバータ校正方法	2025年 1月 8日
特許 7610513	ダイナミック・アプリケーション・ビルダーを使用した分離分散型測定分析システム	2025年 1月 8日

15 件中 1-15 件を表示

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7728174 7728255 7728290 7726624 7726631 7683849 7672897 7665293 7642330 7640535 7628496 7621058 7621253 7610348 7610513

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