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テクトロニクス・インコーポレイテッド
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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第768位 8件
（
2024年：第630位 43件）
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第781位 7件
（
2024年：第1274位 16件）
（ランキング更新日：2025年4月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7642330 | 試験測定装置及び被試験デバイスの性能測定方法 | 2025年 3月10日 | |
| 特許 7640535 | 測定値とディープ・ラーニングを用いたシミュレーション修正 | 2025年 3月 5日 | |
| 特許 7628496 | 複数の試験測定装置を同期させるシステム及び方法 | 2025年 2月10日 | |
| 特許 7621058 | 信号生成装置及び広帯域アナログ信号生成方法 | 2025年 1月24日 | |
| 特許 7621253 | 計器データをキャプチャする方法、通信デバイス及び試験測定システム | 2025年 1月24日 | |
| 特許 7610348 | 時間インターリーブ・デジタル・アナログ・コンバータ・システム及び時間インターリーブ・デジタル・アナログ・コンバータ校正方法 | 2025年 1月 8日 | |
| 特許 7610513 | ダイナミック・アプリケーション・ビルダーを使用した分離分散型測定分析システム | 2025年 1月 8日 |
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7642330 7640535 7628496 7621058 7621253 7610348 7610513
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