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テクトロニクス・インコーポレイテッド
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（
2023年：第678位 43件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第1406位 13件
（2023年：第1732位 11件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7568428 | Ｓパラメータを求める方法及び試験測定システム | 2024年10月16日 | |
| 特許 7558642 | ノイズ・フィルタ及びノイズ低減方法 | 2024年10月 1日 | |
| 特許 7534079 | 多層回路基板 | 2024年 8月14日 | |
| 特許 7516019 | 時間インタリーブ・デジタル・アナログ・コンバータ・システム及びそのための前置処理フィルタを校正する方法 | 2024年 7月16日 | |
| 特許 7509365 | 試験測定装置を被試験デバイスに結合する装置、試験測定システム及び被試験デバイスの動作モードを設定する方法 | 2024年 7月 2日 | |
| 特許 7504587 | 試験測定装置及び信号抽出方法 | 2024年 6月24日 | |
| 特許 7504592 | 試験測定装置及び波形合成方法 | 2024年 6月24日 | |
| 特許 7471240 | 試験測定装置及び試験測定装置の送信部 | 2024年 4月19日 | |
| 特許 7427362 | 試験測定プローブ・カプラ及びその使用方法 | 2024年 2月 5日 | |
| 特許 7426237 | 拡張現実に関連する試験測定装置、システム及び方法 | 2024年 2月 1日 | |
| 特許 7425733 | 試験測定装置及び入力信号のジッタを求める方法 | 2024年 1月31日 | |
| 特許 7420467 | 試験プローブ・チップ及び試験プローブ・チップを被試験デバイスに接着する方法 | 2024年 1月23日 | |
| 特許 7409783 | 試験プローブ・チップ及び抵抗性要素 | 2024年 1月 9日 |
13 件中 1-13 件を表示
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7568428 7558642 7534079 7516019 7509365 7504587 7504592 7471240 7427362 7426237 7425733 7420467 7409783
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12月4日(水) - 東京 港区
12月4日(水) -
12月4日(水) - 大阪 大阪市
12月5日(木) - 東京 港区
12月5日(木) -
12月5日(木) -
12月5日(木) - 大阪 大阪市
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12月6日(金) -
12月6日(金) - 愛知 豊橋市花田町
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12月2日(月) - 滋賀 草津市
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