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テクトロニクス・インコーポレイテッド
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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第963位 23件
（
2024年：第630位 43件）
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第944位 20件
（
2024年：第1274位 16件）
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テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7776220 | 自動支援型回路検証方法 | 2025年11月26日 | |
| 特許 7773979 | データ・ストア・システム及びデータ・ストア方法 | 2025年11月20日 | |
| 特許 7744119 | 試験測定装置及び論理値軌道セグメント検出方法 | 2025年 9月25日 | |
| 特許 7744124 | 試験測定装置及びエラー検出方法 | 2025年 9月25日 | |
| 特許 7739341 | 画像データ生成システム及び波形分類方法 | 2025年 9月16日 | |
| 特許 7728174 | 試験装置、電気的マージン試験方法及びマージン・テスタ | 2025年 8月22日 | |
| 特許 7728255 | アクセサリ装置 | 2025年 8月22日 | |
| 特許 7728290 | 信号分類システム、信号分類方法及びデータ信号分類システム | 2025年 8月22日 | |
| 特許 7726624 | 試験測定装置及び波形合成方法 | 2025年 8月20日 | |
| 特許 7726631 | 温度管理システム及び温度管理方法 | 2025年 8月20日 | |
| 特許 7683849 | 試験測定システム及びタスク処理方法 | 2025年 5月27日 | |
| 特許 7672897 | 試験測定システム及び被試験デバイス分析方法 | 2025年 5月 8日 | |
| 特許 7665293 | 試験測定システム及び被試験デバイスの試験方法 | 2025年 4月21日 | |
| 特許 7642330 | 試験測定装置及び被試験デバイスの性能測定方法 | 2025年 3月10日 | |
| 特許 7640535 | 測定値とディープ・ラーニングを用いたシミュレーション修正 | 2025年 3月 5日 |
20 件中 1-15 件を表示
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7776220 7773979 7744119 7744124 7739341 7728174 7728255 7728290 7726624 7726631 7683849 7672897 7665293 7642330 7640535
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