発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

前記したように、特許文献１に記載された検査方法は、活性層の発光不良に起因する色相又は光強度の良品との違いを検知することで、発光素子の良否を判定するものである。
これに対し、本願の発明者は、フォトルミネッセンス効果による活性層から放出される光に、本来の波長の光に加えて、これより短波長の光が混ざって観察されることがあり、発光色の色調が良品と異なるほかに、この短波長の光が観察された発光素子は、初期に十分な光強度を有していても、使用を続ける間に光強度が低下し、又は故障して発光しなくなる恐れがあることを見出した。ここで、本発明の検査方法が検出対象とする不良品の発光色の色相は、特許文献１に記載された検査方法が検出対象とする不良品の発光色の色相とは異なるものである。このため、特許文献１に記載の検査方法では、短波長の光が混ざって放出される発光素子を、不良品として適切に検出することができなかった。 本発明は、かかる問題に鑑みてなされたものであり、光照射によって励起された半導体発光素子から放出される蛍光の画像を解析して不良品を適切に検出する半導体発光素子の検査方法及びこの検査方法を工程として含む半導体発光素子の製造方法を提供することを課題とする。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明に係る半導体発光素子の検査方法によれば、活性層から本来の波長よりも短波長の蛍光を放出する半導体発光素子を不良品として判定するため、良品と色調が異なり、使用を続ける間に光強度が低下、又は故障して発光しなくなる恐れがある半導体発光素子を適切に判定することができる。
また、本発明に係る半導体発光素子の製造方法によれば、かかる検査方法による良否の判定結果に基づいて半導体発光素子を選別するため、不良品を適切に除外することができる。