特許6118799光透過性粒子測定方法及び光透過性粒子測定装置

発明の名称　光透過性粒子測定方法及び光透過性粒子測定装置

出願人　株式会社堀場製作所　（識別番号 155023）

　　　　特許公開件数ランキング 1370 位（15件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 553 位（42件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-6118799

公報発行日　2017年4月19

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-B9-6118799

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