(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
第一方向に伸長する複数の第一分割予定ラインと該第一方向に直交する第二方向に伸長する複数の第二分割予定ラインとからなる分割予定ラインを備えたウェーハを該分割予定ラインに沿って分割して複数のチップを形成するウェーハの分割方法であって、
該第一分割予定ラインに沿ってチップの仕上げ厚みに至る第一の幅を有した第一溝をウェーハの表面側に形成する第一溝形成ステップと、
該第二分割予定ラインに沿ってチップの仕上げ厚みに至る該第一の幅より狭い第二の幅を有した第二溝をウェーハの表面側に形成する第二溝形成ステップと、
該第一溝形成ステップと該第二溝形成ステップとを実施した後、ウェーハの表面に保護テープを貼着する保護テープ貼着ステップと、
該保護テープ貼着ステップを実施した後、該保護テープを介してウェーハを保持テーブルで保持する保持ステップと、
該保持ステップを実施した後、回転する研削ホイールを所定の高さに位置付けるとともに該研削ホイールに対して該保持テーブルを相対的に平行移動させることでウェーハの外周から該研削ホイールでウェーハを研削して該仕上げ厚みへと薄化し該第一溝と該第二溝とをウェーハの裏面に露出させてウェーハを複数のチップへと分割する研削ステップと、を備え、
該研削ステップでは、ウェーハの該第一分割予定ラインが伸長する該第一方向が該保持テーブルの該研削ホイールに対する相対的な移動方向と直交するようウェーハを位置付けた状態で研削が実施されることを特徴とするウェーハの分割方法。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
ところで、上述したDBGプロセスでは、ウェーハを研削によって複数のチップへと分割するので、分割されたチップが研削の負荷で移動し、隣接するチップに接触してしまう恐れがある。研削中のチップ同士が接触すると、外周部分に加わる衝撃でチップは破損する。
【0006】
そのため、ストリートに形成する溝の幅を広めに設定し(例えば、50μm〜60μm程度)、隣接するチップ同士の間隔を広くすることで、分割されたチップ同士が研削中に接触する可能性を低く抑えている。しかしながら、この方法では、溝の幅に相当する広い領域が除去されてしまうので、必ずしもチップの取り数を十分に確保することができないという問題があった。
【0007】
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、研削による破損の可能性を低く抑えつつ、チップの取り数を十分に確保可能なウェーハの分割方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0008】
本発明によれば、第一方向に伸長する複数の第一分割予定ラインと該第一方向に直交する第二方向に伸長する複数の第二分割予定ラインとからなる分割予定ラインを備えたウェーハを該分割予定ラインに沿って分割して複数のチップを形成するウェーハの分割方法であって、該第一分割予定ラインに沿ってチップの仕上げ厚みに至る第一の幅を有した第一溝をウェーハの表面側に形成する第一溝形成ステップと、該第二分割予定ラインに沿ってチップの仕上げ厚みに至る該第一の幅より狭い第二の幅を有した第二溝をウェーハの表面側に形成する第二溝形成ステップと、該第一溝形成ステップと該第二溝形成ステップとを実施した後、ウェーハの表面に保護テープを貼着する保護テープ貼着ステップと、該保護テープ貼着ステップを実施した後、該保護テープを介してウェーハを保持テーブルで保持する保持ステップと、該保持ステップを実施した後、回転する研削ホイールを所定の高さに位置付けるとともに該研削ホイールに対して該保持テーブルを相対的に平行移動させることでウェーハの外周から該研削ホイールでウェーハを研削して該仕上げ厚みへと薄化し該第一溝と該第二溝とをウェーハの裏面に露出させてウェーハを複数のチップへと分割する研削ステップと、を備え、該研削ステップでは、ウェーハの該第
一分割予定ラインが伸長する該第
一方向が該保持テーブルの該研削ホイールに対する相対的な移動方向と
直交するようウェーハを位置付けた状態で研削が実施されることを特徴とするウェーハの分割方法が提供される。
【発明の効果】
【0009】
本発明のウェーハの分割方法は、第一分割予定ラインに沿って第一の幅の第一溝を形成する第一溝形成ステップと、第二分割予定ラインに沿って第一の幅より狭い第二の幅の第二溝を形成する第二溝形成ステップと、回転する研削ホイールとウェーハを保持した保持テーブルとを、第二分割予定ラインが伸長する第二方向と平行に移動させることでウェーハを研削する研削ステップと、を備えている。
【0010】
研削ホイールに対して保持テーブルを相対的に平行移動させるいわゆるクリープフィードでは、研削ホイールと保持テーブルとの移動方向に沿って研削の負荷がかかり易くなる。そこで、本発明では、この負荷がかかり易い方向に幅の広い溝を形成してチップ同士の接触の可能性を低く抑えると共に、負荷がかかり難い方向に幅の狭い溝を形成してチップの取り数を確保している。
【0011】
すなわち、第一方向に伸長する幅の広い第一溝と、第一方向と直交する第二方向に伸長する幅の狭い第二溝とを形成し、研削ホイール及び保持テーブルの移動方向を、第一溝の幅方向である第二方向に一致させている。これにより、チップ同士の接触による破損の可能性を低く抑えつつ、チップの取り数を十分に確保できる。
【発明を実施するための形態】
【0013】
以下、添付図面を参照して、本発明の実施の形態について説明する。本実施の形態に係るウェーハの分割方法は、第一溝形成ステップ(
図2参照)、第二溝形成ステップ(
図3参照)、保護テープ貼着ステップ(
図4参照)、保持ステップ(
図5参照)、研削ステップ(
図6参照)を含む。
【0014】
第一溝形成ステップでは、ウェーハの表面側において第一方向に伸びる第一ストリート(第一分割予定ライン)に沿って、チップの仕上げ厚みよりも深く幅の広い第一溝を形成する。第二溝形成ステップでは、ウェーハの表面側において第一方向と直交する第二方向に伸びる第二ストリート(第二分割予定ライン)に沿って、チップの仕上げ厚みよりも深く幅の狭い第二溝を形成する。
【0015】
保護テープ貼着ステップでは、ウェーハの表面側に保護テープを貼着する。保持ステップでは、表面に貼着された保護テープを介してウェーハを保持テーブルで保持する。研削ステップでは、研削ホイールに対して保持テーブルを相対的に平行移動させて、ウェーハを仕上げ厚みまで薄く加工すると共に、複数のチップへと分割する。以下、本実施の形態に係るウェーハの分割方法について詳述する。
【0016】
本実施の形態のウェーハの分割方法では、まず、ウェーハの表面側に、チップの仕上げ厚みよりも深く幅の広い第一溝を形成する第一溝形成ステップを実施する。
図1は、ウェーハの構成例を模式的に示す斜視図であり、
図2は、第一溝形成ステップを模式的に示す一部断面側面図である。
【0017】
図1に示すように、ウェーハ11は、例えば、円盤状の外形を有する半導体ウェーハであり、その表面11aは、中央のデバイス領域13と、デバイス領域13を囲む外周余剰領域15とに分けられている。
【0018】
デバイス領域13は、ウェーハ11の第一方向D1に伸びる複数の第一ストリート(第一分割予定ライン)17aと、第一方向D1と直交する第二方向D2に伸びる複数の第二ストリート(第二分割予定ライン)17bとで、さらに複数の領域に区画されており、各領域にはIC等のデバイス19が形成されている。ウェーハ11の外周面11cは面取り加工されており、その断面形状は円弧状である(
図2参照)。
【0019】
図2に示すように、第一溝形成ステップでは、まず、上述したウェーハ11の裏面11b側を切削装置2のチャックテーブル(不図示)に吸引保持させ、その後、表面11a側の第一ストリート17aに切削装置2の第一切削ブレード4aを位置合わせする。なお、本実施の形態では、幅の広い第一切削ブレード4aと、幅の狭い第二切削ブレード4b(
図3参照)とを備える切削装置2を使用する。
【0020】
第一切削ブレード4aは、水平方向に伸びる回転軸の周りに回転可能な第一スピンドル6aの一端側に装着されている。第一スピンドル6aの他端側にはモータ(不図示)が連結されており、第一スピンドル6aに装着された第一切削ブレード4aは、このモータの回転力によって回転する。
【0021】
位置合わせの後には、第一切削ブレード4aを回転させてウェーハ11に切り込ませると共に、チャックテーブルと第一切削ブレード4aとを加工対象の第一ストリート17aに沿う方向(第一方向D1)に相対移動(加工送り)させる。その結果、ウェーハ11の表面11a側には、加工対象の第一ストリート17aに沿う第一溝21aが形成される。
【0022】
ここで、第一切削ブレード4aの切り込み深さは、分割によって形成されるチップの仕上げ厚みより深く設定する。つまり、この第一溝形成ステップでは、チップの仕上げ厚みに至る深さの第一溝21aが形成される。
【0023】
また、第一溝21aは、後述する研削ステップにおいて、分割されたチップ同士が接触しない程度の広い幅(第一の幅)に形成される。具体的には、例えば、50μm〜60μm程度の幅の第一溝21aを形成することが好ましい。本実施の形態では、このような第一溝21aを形成できる程度に幅の広い第一切削ブレード4aが使用される。
【0024】
加工対象の第一ストリート17aに沿う第一溝21aを形成した後には、第一切削ブレード4aを上昇させると共に、チャックテーブルと第一切削ブレード4aとを加工対象の第一ストリート17aに対して直交する方向(第二方向D2)に相対移動(割り出し送り)させる。これにより、第一切削ブレード4aは、隣接する第一ストリート17aに位置合わせされる。
【0025】
位置合わせの後には、隣接する第一ストリート17aに沿って同様の第一溝21aを形成する。この動作を繰り返し、第一方向D1に伸びる全ての第一ストリート17aに沿って第一溝21aが形成されると、第一溝形成ステップは終了する。
【0026】
第一溝形成ステップの後には、ウェーハ11の表面11a側に、チップの仕上げ厚みよりも深く幅の狭い第二溝を形成する第二溝形成ステップを実施する。
図3は、第二溝形成ステップを模式的に示す一部断面側面図である。
【0027】
第二溝形成ステップでは、ウェーハ11を吸引保持するチャックテーブルを90°回転させると共に、表面11a側の第二ストリート17bに切削装置2の第二切削ブレード4bを位置合わせする。
【0028】
第二切削ブレード4bは、第一切削ブレード4aと同様の駆動機構で駆動される。すなわち、第二切削ブレード4bは、モータ(不図示)と連結された第二スピンドル6bの一端側に装着されている。
【0029】
位置合わせの後には、第二切削ブレード4bを回転させてウェーハ11に切り込ませると共に、チャックテーブルと第二切削ブレード4bとを加工対象の第二ストリート17bに沿う方向(第二方向D2)に相対移動(加工送り)させる。その結果、ウェーハ11の表面11a側には、加工対象の第二ストリート17bに沿う第二溝21bが形成される。
【0030】
ここで、第二切削ブレード4aの切り込み深さは、分割によって形成されるチップの仕上げ厚みより深く設定する。つまり、この第二溝形成ステップでは、チップの仕上げ厚みに至る深さの第二溝21bが形成される。
【0031】
また、第二溝21bは、上述した第一溝21aより狭い幅(第二の幅)で形成される。具体的には、例えば、5μm〜30μm程度の幅の第二溝21bを形成することが好ましい。これにより、第二溝21bの幅方向である第一方向D1において、第二方向D2より多くのデバイス19を形成し、チップの取り数を確保できるようになる。本実施の形態では、この第二溝21bを形成できる程度に幅の狭い第二切削ブレード4bが使用される。
【0032】
加工対象の第二ストリート17bに沿う第二溝21bを形成した後には、第二切削ブレード4bを上昇させると共に、チャックテーブルと第二切削ブレード4bとを加工対象の第二ストリート17bに対して直交する方向(第一方向D1)に相対移動(割り出し送り)させる。これにより、第二切削ブレード4bは、隣接する第二ストリート17bに位置合わせされる。
【0033】
位置合わせの後には、隣接する第二ストリート17bに沿って同様の第二溝21bを形成する。この動作を繰り返し、第二方向D2に伸びる全ての第二ストリート17bに沿って第二溝21bが形成されると、第二溝形成ステップは終了する。
【0034】
第一溝形成ステップ及び第二溝形成ステップの後には、ウェーハ11の表面11aに、デバイス19を保護するための保護テープを貼着する保護テープ貼着ステップを実施する。
図4は、保護テープ貼着ステップを模式的に示す斜視図である。
【0035】
保護テープ貼着ステップでは、まず、ウェーハ11の表面11a側と保護テープ23の表面23a側とを対向させるように、ウェーハ11の上方に保護テープ23を位置付ける。そして、保護テープ23を下降させて、ウェーハ11の表面11aに保護テープ23の表面23aを密着させる。
【0036】
保護テープ23は、例えば、ポリオレフィンやポリ塩化ビニル等からなる樹脂製のフィルムであり、表面23a側にはゴム系やアクリル系の接着剤でなる接着層が形成されている。そのため、ウェーハ11の表面11aに保護テープ23の表面23aを密着させると、保護テープ23はウェーハ11に貼着される。
【0037】
保護テープ貼着ステップの後には、研削装置の保持テーブルにウェーハ11を吸引保持させる保持ステップを実施する。
図5は、保持ステップを模式的に示す斜視図である。
図5に示すように、研削装置8は、ウェーハ11を吸引保持する保持テーブル10を備えている。保持テーブル10の下方には、移動機構(不図示)が設けられており、保持テーブル10は、この移動機構で水平方向に移動する。
【0038】
保持テーブル10の表面は、ウェーハ11を吸引保持する保持面10aとなっている。この保持面10aには、保持テーブル10の内部に形成された流路(不図示)を通じて吸引源(不図示)の負圧が作用し、ウェーハ11を吸引する吸引力が発生する。
【0039】
保持面10aに保護テープ23の裏面23bを接触させて、吸引源の負圧を作用させると、ウェーハ11は、裏面11bが上方に露出するように、保護テープ23を介して保持テーブル10に吸引保持される。
【0040】
また、ウェーハ11は、第二方向D2と保持テーブル10の移動方向とが平行になるように、保持テーブル10に吸引保持される。すなわち、第一溝21aの幅方向と保持テーブル10の移動方向とが平行になる。
【0041】
保持ステップの後には、ウェーハ11の裏面11bを研削して複数のチップへと分割する研削ステップを実施する。
図6(A)は、研削ステップを模式的に示す斜視図であり、
図6(B)は、研削ステップを模式的に示す一部断面側面図である。
【0042】
図6に示すように、保持テーブル10の上方には研削機構12が配置されている。研削機構12は、鉛直方向に延びる回転軸の周りに回転するスピンドル14を備えている。スピンドル14は、昇降機構(不図示)で昇降される。
【0043】
スピンドル14の下端側には、円盤状のホイールマウント16が固定されており、このホイールマウント16には、研削ホイール18が装着されている。研削ホイール18は、アルミニウム、ステンレス等の金属材料で形成されたホイール基台18aを備えている。ホイール基台18aの円環状の下面には、全周にわたって複数の研削砥石18bが固定されている。
【0044】
この研削ステップでは、まず、保持テーブル10を研削ホイール18と重ならない初期位置に位置付けると共に、スピンドル14を回転させつつ所定の高さまで下降させる。スピンドル14の下降量は、研削ホイール18(研削砥石18b)の下端部分の高さが、保持テーブル10に保持されたウェーハ11の裏面11bの高さより低くなるように制御される。
【0045】
この状態で、ウェーハ11の裏面11b側に研削ホイール18を接触させるように保持テーブル10を水平方向に移動させると、ウェーハ11は外周部分から徐々に研削されて仕上げ厚みへと加工される。これにより、裏面11b側に第一溝21a及び第二溝21bが露出して、ウェーハ11は複数のチップへと分割される。
【0046】
なお、ウェーハ11を一度の研削で仕上げ厚みまで薄く加工できない場合には、研削ホイール18を異なる高さに位置付けて、再度の研削を実施しても良い。また、研削の回数は任意に変更できる。保持テーブル10の移動速度、研削ホイール18の回転速度、研削ホイール18の高さ等の研削条件は、ウェーハ11を適切に研削できる範囲に設定される。
【0047】
上述のように、研削ホイール18に対して保持テーブル10を平行移動させるいわゆるクリープフィードでは、保持テーブル10の移動方向Dに沿って研削の負荷がかかり易くなる。つまり、保持テーブル10の移動方向Dにおいては、分割されたチップが移動して、隣接するチップに接触し易くなる。
【0048】
そこで、本実施の形態に係るウェーハの分割方法では、研削の負荷がかかり易い方向に幅の広い第一溝21aを形成することでチップ同士の接触の可能性を低く抑えると共に、研削の負荷がかかり難い方向に幅の狭い第二溝21bを形成してチップの取り数を確保している。
【0049】
すなわち、ウェーハ11の表面11a側に、第一方向D1に伸長する幅の広い第一溝21aと、第一方向D1に直交する第二方向D2に伸長する幅の狭い第二溝21bを形成し、保持テーブル10の移動方向Dを、第一溝21aの幅方向である第二方向D2に一致させている。これにより、チップ同士の接触による破損の可能性を低く抑えつつ、チップの取り数を十分に確保できる。
【0050】
なお、本発明は上記実施の形態の記載に限定されず、種々変更して実施可能である。例えば、上記実施の形態では、第一溝形成工程の後に第二溝形成工程を実施しているが、第一溝形成工程より先に第二溝形成工程を実施しても良い。
【0051】
また、上記実施の形態では、研削ステップにおいて保持テーブル10を水平方向に移動させているが、研削ホイール18を水平方向に移動させても良い。もちろん、保持テーブル10及び研削ホイール18を共に移動させても良い。すなわち、研削ホイール18に対して保持テーブル10を相対的に平行移動させることができれば良い。
【0052】
また、上記実施の形態では、幅の広い第一切削ブレード4aと、幅の狭い第二切削ブレード4bとを備える切削装置2を使用して、第一溝形成工程及び第二溝形成工程を実施しているが、幅の広い第一切削ブレードを備える切削装置で第一溝形成工程を実施し、幅の狭い第二切削ブレードを備える別の切削装置で第二溝形成工程を実施しても良い。
【0053】
その他、上記実施の形態に係る構成、方法などは、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施できる。