特許 6204087 自動分析装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】6204087

(24)【登録日】2017年9月8日

(45)【発行日】2017年9月27日

(54)【発明の名称】自動分析装置

(51)【国際特許分類】

   G01N 35/10 20060101AFI20170914BHJP

【ＦＩ】

   G01N35/10 D

   G01N35/10 A

【請求項の数】8

【全頁数】16

(21)【出願番号】特願2013-137990(P2013-137990)

(22)【出願日】2013年7月1日

(65)【公開番号】特開2015-10985(P2015-10985A)

(43)【公開日】2015年1月19日

【審査請求日】2016年6月15日

(73)【特許権者】

【識別番号】501387839

【氏名又は名称】株式会社日立ハイテクノロジーズ

(74)【代理人】

【識別番号】110001829

【氏名又は名称】特許業務法人開知国際特許事務所

(74)【代理人】

【識別番号】100077816

【弁理士】

【氏名又は名称】春日 讓

(74)【代理人】

【識別番号】100156524

【弁理士】

【氏名又は名称】猪野木 雄一

(72)【発明者】

【氏名】八木 賢一

【審査官】 長谷 潮

(56)【参考文献】

【文献】 特開２００８−００２８９７（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１０−０２５８５８（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平１１−２７１３１８（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平０９−０１５２４８（ＪＰ，Ａ）

【文献】 国際公開第２０１１／０９１２４５（ＷＯ，Ａ１）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｇ０１Ｎ ３５／００−３５／１０

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

分析対象の試料を収容する試料容器と、
前記試料の分析に用いる試薬を収容する試薬容器と、
前記試料と前記試薬とを混合した反応液を収容する反応容器と、
前記試料容器の試料をサンプルプローブにより吸引して前記反応容器に吐出することにより分注する試料分注機構と、
前記試薬容器の試薬を前記反応容器に分注する試薬分注機構と、
前記反応容器の反応液に含まれる対象成分の分析を行う分析機構と、
圧力センサにより前記試料の吸引中の前記サンプルプローブ内の圧力変動を監視して前記試料分注機構のサンプルプローブの詰まりの発生を検出する吸引異常検出機構と、
前記吸引異常検出機構により前記試料分注機構のサンプルプローブの詰まりが検出された場合に、前記サンプルプローブの詰まりが検出された前記試料の吸引時と前記サンプルプローブの詰まりが検出された場合に行う詰まり除去洗浄の直後の前記試料の吸引時のそれぞれの吸引時点における前記サンプルプローブの前記試料容器内への下降量の差に基づいて算出される、前記試料分注機構のサンプルプローブの詰まりが検出された吸引時における前記試料の吸引量と、予め定めた試料の吸引予定量とに基づいて、前記吸引異常検出機構による詰まりの検出結果が誤検出であるかどうかを判定する誤検出判定部と
を備えたことを特徴とする自動分析装置。

【請求項2】

請求項１記載の自動分析装置において、
前記誤検出判定部により前記吸引異常検出機構による検出結果が誤検出であると判定された場合に、前記詰まり検出機構誤検出判定部により誤検出であると判定される契機となった前記試料分注機構の使用を停止する誤検出対応処理部を備えたことを特徴とする自動分析装置。

【請求項3】

請求項１記載の自動分析装置において、
前記誤検出判定部により前記吸引異常検出機構による検出結果が誤検出であると判定された場合に、前記詰まり検出機構誤検出判定部により誤検出であると判定される契機となった前記試料分注機構による前記試料の分注対象の分析項目を再度実施する誤検出対応処理部を備えたことを特徴とする自動分析装置。

【請求項4】

請求項１記載の自動分析装置において、
前記誤検出判定部により前記吸引異常検出機構による検出結果が誤検出であると判定された場合に、前記詰まり検出機構誤検出判定部により誤検出であると予め定めた回数連続で判定された場合に、誤検出であると判定される契機となった前記試料分注機構の使用を停止する誤検出対応処理部を備えたことを特徴とする自動分析装置。

【請求項5】

請求項４記載の自動分析装置において、
前記回数を設定する回数設定部を備えたことを特徴とする自動分析装置。

【請求項6】

請求項１記載の自動分析装置において、
前記誤検出判定部により前記吸引異常検出機構による検出結果が誤検出であると判定された場合に、予め定めた期間中に前記詰まり検出機構により前記試料分注機構のサンプルプローブの詰まりが検出された回数に対する前記詰まり検出機構誤検出判定部により誤検出であると判定した回数の比率が予め定めた閾値よりも大きくなった場合に、誤検出であると判定される契機となった前記試料分注機構の使用を停止する誤検出対応処理部を備えたことを特徴とする自動分析装置。

【請求項7】

請求項６記載の自動分析装置において、
前記閾値を設定する閾値設定部を備えたことを特徴とする自動分析装置。

【請求項8】

請求項２記載の自動分析装置において、
前記誤検出対応処理部は、使用を停止された前記試料分注機構により既知の粘度を有する基準試料の分注を行い、前記詰まり検出機構誤検出判定部により誤検出であると判定されなかった場合には、前記試料分注機構の使用を可能とすることを特徴とする自動分析装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、血漿や血清、尿などの生体試料の成分分析を行う自動分析装置および分析方法に関する。

【背景技術】

【0002】

自動分析装置では、種々の試料を分析対象としているため、試料の性情によっては、分析工程や分析結果に影響を与える場合がある。例えば、自動分析装置の分析対象の１種である血清は、フィブリン等の凝固物質を含んでいるため、その影響によって試料の分注を行うサンプルプローブに詰まりが生じ、指定量の試料（ここでは血清）を吸引できない場合がある。

【0003】

このような場合に対応する従来技術として、例えば、特許文献１（特開２０００−４６８４６号公報）には、吸引流路に設けた圧力センサにより吸引動作停止後における吸引流路内の圧力を検知し、検知した圧力に基づいて算出した変化率を所定の閾値と比較した結果によって、吸引流路の詰まりや吸引量不足などを検出する試料吸引装置が開示されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特開２０００−４６８４６号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

しかしながら、上記従来技術においては次のような問題があった。

【0006】

すなわち、圧力センサによって得られる吸引流路内の圧力に基づいてサンプルプローブの詰まりを検出する構成の場合、サンプルプローブの軽微な曲がりや吸引流路の状態の微小な変化によって圧力の検出精度に影響が生じ、吸引流路の詰まりや吸引量不足などの吸引異常の検出が正常に行われない恐れがある。つまり、吸引異常の検出が正常に行われない場合には、試料の吸引が正常に行われたにも関わらず、吸引異常が発生したと誤って検出してしまうことが考えられる。

【0007】

そして、詰まりなどの吸引異常を発生させた試料（この場合は、吸引異常を発生させたと誤検出された試料）には、他のサンプルプローブでの吸引異常の二次被害を防止するために、全ての分析依頼がキャンセルされるといった処置がとられる。この場合には、サンプルプローブによって正常に吸引される試料にも関わらず、一切の測定結果が得られないまま分析処理が終了し、再検査による分析結果取得のために多くの時間を要してしまう。

【0008】

本発明は上記に鑑みてなされたものであり、サンプルプローブの吸引異常を検出する吸引異常検出機能の異常を検出し、試料の正常な吸引を吸引異常とする誤判定の発生による分析効率の低下を抑制することができる自動分析装置を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0009】

上記目的を達成するために、本発明は、分析対象の試料を収容する試料容器と、前記試料の分析に用いる試薬を収容する試薬容器と、前記試料と前記試薬とを混合した反応液を収容する反応容器と、前記試料容器の試料を前記反応容器に分注する試料分注機構と、前記試薬容器の試薬を前記反応容器に分注する試薬分注機構と、前記反応容器の反応液に含まれる対象成分の分析を行う分析機構と、前記試料分注機構の詰まりの発生を検出する吸引異常検出機構と、前記吸引異常検出機構により前記試料分注機構の詰まりが検出された場合に、前記試料分注機構による前記試料の吸引量と、予め定めた試料の吸引予定量とに基づいて、前記吸引異常検出機構による詰まりの検出結果が誤検出であるかどうかを判定する誤検出判定部とを備えたものとする。

【発明の効果】

【0010】

本発明によれば、サンプルプローブの吸引異常を検出する吸引異常検出機能の異常を検出し、試料の正常な吸引を吸引異常とする誤判定の発生による分析効率の低下を抑制することができる。

【図面の簡単な説明】

【0011】

【図1】第１の実施の形態に係る自動分析装置を構成する複数の分析ユニットのうちの１つを抜き出して概略的に示す図である。

【図2】第１の実施の形態に係る自動分析装置の全体構成を概略的に示す図である。

【図3】全体管理コンピュータの全体構成を示す図である。

【図4】第１の実施の形態における試料吸引処理時の処理フローを示す図である。

【図5】第２の実施の形態における検知機能異常検出設定画面を示す図である。

【図6】第２の実施の形態における試料吸引処理時の処理フローを示す図である。

【図7】第３の実施の形態における検知機能異常検出設定画面を示す図である。

【図8】第３の実施の形態における試料吸引処理時の処理フローを示す図である。

【図9】第４の実施の形態における試料吸引処理時の処理フローを示す図である。

【図10】変形例におけるサンプルプローブ復帰処理の処理フローを示す図である。

【発明を実施するための形態】

【0012】

（１）第１の実施の形態
本発明の第１の施の形態を図面を参照しつつ説明する。

【0013】

（１−１）全体構成
図２は、本実施の形態に係る自動分析装置の全体構成を概略的に示す図であり、図１は自動分析装置を構成する複数の分析ユニットのうちの１つを抜き出して概略的に示す図である。

【0014】

図１及び図２において、自動分析装置は、分析対象の試料を収容する複数の試料容器９１を保持する検体ラック９２を投入する検体ラック投入部１と、検体ラック１に保持された各試料容器９１に付された識別ＩＤ（図示せず）を読み取るＩＤ読取部２と、検体ラック投入部１に投入された各検体ラック９２を自動分析装置内の各所に搬送する搬送ライン３と、再検査の対象となった試料容器９１を保持する検体ラック９２を搬送する再検査用搬送ライン４と、搬送ライン３に沿って配置され、搬送ライン３により搬送される検体ラック９２をそれぞれ引込線５１，６１，７１，８１に引き込み、試料容器９１に収容された試料の分析を行う複数（例えば４つ）の分析ユニット５，６，７，８と、検体ラック９２を待機させる検体ラック待機部９と、自動分析装置での処理が終了した検体ラック９２を回収する検体ラック回収部１０と、自動分析装置全体の動作を制御する全体管理コンピュータ１１とから概略構成されている。分析ユニット５，６，７，８、検体ラック投入部１、および検体ラック回収部１０は、各分析ユニット内の必要な処理のための制御を行うコンピュータ１２，１３，１４，１５，１６，１７をそれぞれ備えている。

【0015】

なお、自動分析装置を構成する各分析ユニット５，６，７，８の種類は分析対象によって変更が可能であるが、本実施形態では全ての分析ユニット５，６，７，８が生化学分析ユニットである場合を例に説明する。分析ユニットとして用いられるものの他の構成としては、本実施の形態で説明する生化学分析ユニットの他に、例えば、電解質分析ユニットなどがあり、これらを生化学分析ユニットなどと組合せて自動分析装置を構成される場合もある。

【0016】

（１−２）分析ユニット５，６，７，８
分析ユニット５の構成について説明する。なお、他の分析ユニット６，７，８についても、分析ユニット５と同様の構成を有しており、詳細の説明については省略する。

【0017】

分析ユニット５は、筐体６２と、筐体６２に沿って配置された搬送ライン３からの引込線５１と、分析対象の試料を収容する試料容器９１を保持して引込線５１上を搬送される検体ラック９２と、試料の分析に用いる試薬を収容する複数の試薬容器４０を周方向に並べて配置する試薬ディスク４１，４２と、試料と試薬とを混合した反応液を収容する反応容器３５を周方向に並べて配置する反応ディスク３６と、試料容器９１の試料を反応容器３５に分注する試料分注機構（サンプルプローブ）９４，９５と、試薬ディスク４１，４２と反応ディスク３６とを跨いで配置されたレール２５，２６に沿って移動可能に設けられ、試薬容器４０の試薬を反応容器３５に分注する試薬分注機構（試薬プローブ）２０，２１，２２，２３と、反応容器３５に収容された反応液の攪拌を行う攪拌機構３０，３１と、光源５０から反応容器３５に照射されて反応液を透過した光を検出する検出光学装置４９と、使用済みの反応容器３５を洗浄する容器洗浄機構４５と、サンプルプローブ９４，９５、試薬プローブ２０，２１，２２，２３、および攪拌機構３０，３１の洗浄を行う洗浄ポート５４とを概略備えている。

【0018】

サンプルプローブ９４，９５は、図示しないサンプル用ポンプを有しており、このポンプによって試料容器９１に収容された試料の吸引および反応容器３５への吐出を行う。サンプルプローブ９４，９５には、内部（すなわち、サンプルプローブ９４，９５における試料の流路）の圧力を検出する圧力センサ９４ａ，９５ａがそれぞれ設けられており、検出結果は全体管理コンピュータ１１に送られる。

【0019】

ラック９２が引込線５１に引き込まれ、ラック９２に保持された試薬容器９１が試料吸引位置に配置されると、サンプルプローブ９４，９５（実際は、何れか一方）が試料容器９１中の試料に対して下降し、試料の液面に接触すると液面を検知して、下降動作を停止するように制御制御される。この状態で、サンプル用ポンプの動作によってサンプルプローブ９４，９５が予定量のサンプルを吸引した後、サンプルプローブ９４，９５は上死点まで上昇する。サンプルプローブ９４，９５が試料を吸引している間は、流路内の圧力変動を圧力センサ９４ａ９４ｂにて監視し、吸引中の圧力変動に異常があると判定した場合には、予定量吸引されていない可能性が高い為、この試料の分析結果にアラームを付加することによりオペレータに注意を促す。

【0020】

サンプルプローブ９４，９５により吸引された試料は、反応ディスク３６の反応容器３５に吐出される。検体が吐出された反応容器３５は、反応ディスク３６の回転により、第１の試薬分注位置に移動され、試薬ディスク４１，４２の試薬容器４０から、試薬プローブ２０，２１，２２，２３により第１の試薬が分注される。第１の試薬が分注された反応容器３５は、攪拌位置に移動されて攪拌装置３１，３２により攪拌が行われる。続いて、第２の試薬の添加が必要な場合は、攪拌みの反応容器３５は、第２の試薬分注位置に移動され、試薬ディスク４１，４２に保持されている試薬容器４０から、試薬プローブ２０，２１，２２，２３により第２の試薬が分注される。第２の試薬が分注された反応容器３５は、攪拌位置に移動されて攪拌装置３１，３２により攪拌が行われる。そして、反応液が入った反応容器３５は、測定位置に移動され、そこで、検出光学装置４９により、反応液の多波長吸光度測定が行われ、分析項目の分析結果が得られる。

【0021】

（１−３）全体管理コンピュータ１１
図３は、全体管理コンピュータの全体構成を示す図である。

【0022】

図３において、全体管理用コンピュータ１１は、各種設定や分析条件、分析結果などを記憶する記憶部１１ａと、各種演算処理を行う演算部１１ｂと、圧力センサ９４ａ，９５ａからの検出結果に基づいて、試料分注機構（サンプルプローブ）９４，９５の詰まりの発生を検出する吸引異常検出部１１ｃと、吸引異常検出部１１ｃによりサンプルプローブ９４，９５の詰まりが検出された場合に、サンプルプローブ９４，９５による試料の吸引量と、予め定めた試料の吸引予定量とに基づいて、吸引異常検出部による詰まりの検出結果が誤検出であるかどうかを判定する誤検出判定部１１ｄと、誤検出判定部１１ｄでの判定結果に基づいて各種処理を行う誤検出対応処理部１１ｅと、各種設定を行うための表示部１９と、各種操作を行うための操作部１８とを備えている。

【0023】

（１−４）試料吸引処理
図４は、サンプルプローブによる試料吸引処理時の処理フローを示す図である。ここでは、サンプルプローブ９４における試料吸引処理時について説明する。

【0024】

図４において、全体管理コンピュータ１１は、サンプルプローブ９４を試料容器９１内に下降させ（ステップＳ４０１）、サンプルプローブ９４が図示しない液面検知機構により液面を検知して停止したときの下降量（Ａ）を記憶する（ステップＳ４０２）。続いて、試料の吸引を開始し（ステップＳ４０３）、この試料の吸引によってサンプルプローブ９４の詰まりが検出されたかどうかを判定する（ステップＳ４０４）。ステップＳ４０４での判定結果がＮＯの場合には、吸引処理を終了する。また、ステップＳ４０４での判定結果がＹＥＳの場合には、サンプルプローブ９４の詰まりを除去するための詰まり除去洗浄動作を行い（ステップＳ４０５）、同一試料の別分析項目の分析を行うために、再度、サンプルプローブ９４を試料容器９１内に下降させ（ステップＳ４０６）、サンプルプローブ９４が図示しない液面検知機構により液面を検知して停止したときの下降量（Ｂ）を記憶する（ステップＳ４０７）。続いて、サンプルプローブ９４の詰まりを検出した時の試料吸引量を以下式にて算出する（ステップＳ４０８）。試料吸引量は下記の（式１）により算出される。

【0025】

試料吸引量＝（下降量（Ｂ）−下降量（Ａ））×試料容器断面積・・・（式１）
なお、試料容器断面積は、予め記憶部１１ａ等に記憶されている。

【0026】

ここで、試料吸引量が予め定めた範囲内であるかどうかを判定し（ステップＳ４０９）、判定結果がＮＯの場合には、正常に詰まりを検出したと判断して吸引処理を終了する。また、ステップＳ４０９での判定結果がＹＥＳの場合には、詰まり検出が誤検出であったと判定し、サンプルプローブ９４を使用不可とし（ステップＳ４１０）、処理を終了する。

【0027】

（１−５）効果
本実施の形態における効果を説明する。

【0028】

例えば、圧力センサによって得られる吸引流路内の圧力に基づいてサンプルプローブの詰まりを検出する構成の場合、サンプルプローブの軽微な曲がりや吸引流路の状態の微小な変化によって圧力の検出精度に影響が生じ、吸引流路の詰まりや吸引量不足などの吸引異常の検出が正常に行われない恐れがある。つまり、吸引異常の検出が正常に行われない場合には、試料の吸引が正常に行われたにも関わらず、吸引異常が発生したと誤って検出してしまうことが考えられる。そして、詰まりなどの吸引異常を発生させた試料（この場合は、吸引異常を発生させたと誤検出された試料）には、他のサンプルプローブでの吸引異常の二次被害を防止するために、全ての分析依頼がキャンセルされるといった処置がとられる。この場合には、サンプルプローブによって正常に吸引される試料にも関わらず、一切の測定結果が得られないまま分析処理が終了し、再検査による分析結果取得のために多くの時間を要してしまう。

【0029】

これに対して、本実施の形態においては、試料分注機構の詰まりの発生を検出する吸引異常検出機構と、吸引異常検出機構により試料分注機構の詰まりが検出された場合に、試料分注機構による試料の吸引量と、予め定めた試料の吸引予定量とに基づいて、吸引異常検出機構による詰まりの検出結果が誤検出であるかどうかを判定する誤検出判定部とを備えて攻勢したので、サンプルプローブの吸引異常を検出する吸引異常検出機能の異常を検出し、試料の正常な吸引を吸引異常とする誤判定の発生による分析効率の低下を抑制することができる。

【0030】

すなわち、本実施の形態においては、詰まり検知異常を検出した時点から該当サンプルプローブを使用不可にする事から、詰まり検知機能の異常を最も厳しくチェックすることができ、正常な試料を詰まる可能性がある試料あると誤って判定する可能性が最も低くなる。したがって、同一のサンプルプローブにて詰まり検知機能の異常が発生した以降に分析する試料は他の分析ユニット、もしくは同一分析ユニットの他のサンプルプローブを用いて分析処理を継続する事で、詰まり検知機能の異常を他の正常サンプルにて発生させる事を防止することができ、分析結果報告の遅延を抑制することができる。

【0031】

なお、本実施の形態では、詰まり検出した時のサンプルプローブ下降時にサンプルプローブが液面を検知して停止した位置と次の項目のサンプルプローブ下降時にサンプルプローブが液面を検知して停止した位置の差から詰まり検出時の試料吸引量を算出するように構成したが、これに限られない。例えば、試料吸引位置付近に試料容器９１の液面高さを検出可能なカメラを設置し、詰まり検出時の液面下降量を計測し、液面下降量と試料容器断面積から試料吸引量を算出する構成としてもよい。また、詰まり検出時のサンプルプローブ下降時にサンプルプローブが液面を検知して停止した位置と、サンプル吸引後のサンプルプローブ上昇時にサンプルプローブが液面から離脱した位置とを確認し、そのプローブ位置情報の差とサンプル容器断面積から試料吸引量を算出してもよい。

【0032】

（２）第２の実施の形態
本発明の第２の実施の形態を図面を参照しつつ説明する。

【0033】

本実施の形態は、サンプルプローブの詰まり検出の誤検出が予め設定した回数に達した場合に、該当するサンプルプローブを使用不可とするものである。

【0034】

（２−１）詰まり検知機能異常検出設定画面５０１
図５は、本実施の形態において表示部に表示される詰まり検知機能異常検出設定画面を示す図である。

【0035】

詰まり検知機能異常検出設定画面５０１は、詰まり検出の誤検出の回数を設定する画面であり、設定回数を入力する回数入力部５０２と、入力した回数を設定値として確定するＯＫボタン５０３と、入力した回数を無効とするＣａｎｃｅｌボタン５０４とを備えている。

【0036】

（２−２）試料吸引処理
図６は、本実施の形態におけるサンプルプローブによる試料吸引処理時の処理フローを示す図である。ここでは、サンプルプローブ９４における試料吸引処理時について説明する。

【0037】

図６において、全体管理コンピュータ１１は、サンプルプローブ９４を試料容器９１内に下降させ（ステップＳ６０１）、サンプルプローブ９４が図示しない液面検知機構により液面を検知して停止したときの下降量（Ａ）を記憶する（ステップＳ６０２）。続いて、試料の吸引を開始し（ステップＳ６０３）、この試料の吸引によってサンプルプローブ９４の詰まりが検出されたかどうかを判定する（ステップＳ６０４）。ステップＳ６０４での判定結果がＮＯの場合には、吸引処理を終了する。また、ステップＳ６０４での判定結果がＹＥＳの場合には、サンプルプローブ９４の詰まりを除去するための詰まり除去洗浄動作を行い（ステップＳ６０５）、同一試料の別分析項目の分析を行うために、再度、サンプルプローブ９４を試料容器９１内に下降させ（ステップＳ６０６）、サンプルプローブ９４が図示しない液面検知機構により液面を検知して停止したときの下降量（Ｂ）を記憶する（ステップＳ６０７）。続いて、サンプルプローブ９４の詰まりを検出した時の試料吸引量を以下式にて算出する（ステップＳ６０８）。試料吸引量は下記の（式１）により算出される。

【0038】

試料吸引量＝（下降量（Ｂ）−下降量（Ａ））×試料容器断面積・・・（式１）
なお、試料容器断面積は、予め記憶部１１ａ等に記憶されている。

【0039】

ここで、試料吸引量が予め定めた範囲内であるかどうかを判定し（ステップＳ６０９）、判定結果がＮＯの場合には、正常に詰まりを検出したと判断して、連続詰まり検知異常回数（誤検出回数）を０（ゼロ）にリセットし（ステップＳ６１０）、吸引処理を終了する。また、ステップＳ６０９での判定結果がＹＥＳの場合には、詰まり検出が誤検出であったと判定して、連続詰まり検知異常回数を１回増やし（ステップＳ６１１）、連続詰まり検知異常回数が、詰まり検知機能異常検出設定画面５０１で設定した回数の閾値以上かどうかを判定し（ステップＳ６１２）、判定結果がＹＥＳである場合には、詰まり検出が誤検出であったと判定し、サンプルプローブ９４を使用不可とし（ステップＳ６１３）、判定結果が判定結果がＮＯである場合には、正常につまりを検出したと判断して、吸引処理を終了する。

【0040】

その他の構成については第１の実施の形態と同様である。

【0041】

（２−３）効果
以上のように構成した本実施の形態においても、第１の実施の形態と同様の効果を得ることができる。

【0042】

また、第１の実施の形態においては、詰まり検知の異常のチェックを最も厳しく行うが、サンプルと詰まり検知機能のどちらに異常があるか不明確なケースにおいても詰まり検知機能の異常として検出することが考えられるため、本実施の形態においては、詰まり検知異常が連続して一定回数検出された場合に、該当サンプルプローブ９４を使用不可にするよう構成した。これにより、複数回数連続して詰まり検知機能の異常が検出された場合に、詰まり検出がサンプルの異常である確率は低いと判断できる。すなわち、本実施の形態は、故障等により突発的に詰まり検知に異常が発生したケースを安定して検出する事ができる。

【0043】

（３）第３の実施の形態
本発明の第３の実施の形態を図面を参照しつつ説明する。

【0044】

本実施の形態は、サンプルプローブの詰まり検出の誤検出の頻度が予め設定した閾値に達した場合に、該当するサンプルプローブを使用不可とするものである。

【0045】

（３−１）詰まり検知機能異常検出設定画面７０１
図７は、本実施の形態において表示部に表示される詰まり検知機能異常検出設定画面を示す図である。

【0046】

詰まり検知機能異常検出設定画面７０１は、詰まり検出の誤検出の頻度に関する閾値を設定する画面であり、発生頻度を入力する頻度入力部７０２と、発生頻度の算出対象とする期間を入力する期間入力部７０３と、入力した値を設定値として確定するＯＫボタン７０４と、入力した値を無効とするＣａｎｃｅｌボタン７０５とを備えている。

【0047】

（３−２）試料吸引処理
図８は、本実施の形態におけるサンプルプローブによる試料吸引処理時の処理フローを示す図である。ここでは、サンプルプローブ９４における試料吸引処理時について説明する。

【0048】

図８において、全体管理コンピュータ１１は、サンプルプローブ９４を試料容器９１内に下降させ（ステップＳ８０１）、サンプルプローブ９４が図示しない液面検知機構により液面を検知して停止したときの下降量（Ａ）を記憶する（ステップＳ８０２）。続いて、試料の吸引を開始し（ステップＳ８０３）、この試料の吸引によってサンプルプローブ９４の詰まりが検出されたかどうかを判定する（ステップＳ８０４）。ステップＳ８０４での判定結果がＮＯの場合には、吸引処理を終了する。また、ステップＳ８０４での判定結果がＹＥＳの場合には、サンプルプローブ９４の詰まりを除去するための詰まり除去洗浄動作を行い（ステップＳ８０５）、同一試料の別分析項目の分析を行うために、再度、サンプルプローブ９４を試料容器９１内に下降させ（ステップＳ８０６）、サンプルプローブ９４が図示しない液面検知機構により液面を検知して停止したときの下降量（Ｂ）を記憶する（ステップＳ８０７）。続いて、サンプルプローブ９４の詰まりを検出した時の試料吸引量を以下式にて算出する（ステップＳ８０８）。試料吸引量は下記の（式１）により算出される。

【0049】

試料吸引量＝（下降量（Ｂ）−下降量（Ａ））×試料容器断面積・・・（式１）
なお、試料容器断面積は、予め記憶部１１ａ等に記憶されている。

【0050】

ここで、試料吸引量が予め定めた範囲内であるかどうかを判定し（ステップＳ８０９）、判定結果がＮＯの場合には、詰まり検知日時を記憶部１１ａに記憶し（ステップＳ８１０）、正常に詰まりを検出したと判断して、吸引処理を終了する。また、ステップＳ８０９での判定結果がＹＥＳの場合には、詰まり検出が誤検出であったと判定して、詰まり検知異常の発生日時を記憶部１１ａに記憶し（ステップＳ８１１）、発生頻度を算出する（ステップＳ８１２）。発生頻度は下記の（式２）により算出される。

【0051】

発生頻度＝Ｃ×１００／（Ｃ＋Ｄ）・・・（式２）
Ｃ：指定期間内の詰まり検知異常発生回数
Ｄ：指定期間内の詰まり検知検出回数
なお、指定期間内の詰まり検知異常発生回数及び詰まり検知検出回数は、記憶部１１ａに記憶された詰まり検知日時及び詰まり検知異常の発生日時から計算される。

【0052】

続いて、発生頻度が詰まり検知機能異常検出設定画面７０１で設定した頻度の閾値以上かどうかを判定し（ステップＳ８１３）、判定結果がＹＥＳである場合には、詰まり検出が誤検出であったと判定し、サンプルプローブ９４を使用不可とし（ステップＳ８１４）、判定結果が判定結果がＮＯである場合には、正常につまりを検出したと判断して、吸引処理を終了する。

【0053】

その他の構成については第１の実施の形態と同様である。

【0054】

（３−３）効果
以上のように構成した本実施の形態においても、第１の実施の形態と同様の効果を得ることができる。

【0055】

また、本実施の形態においては、一定期間内の詰まり検知異常の検出頻度から該当サンプル分注機構を使用不可にするよう構成したので、サンプルプローブの異常や詰まり検知センサー（圧力センサ）等の経年劣化により、不連続で詰まり検知機能の異常が発生しかつその頻度が除々に増加しているような場合においても、詰まり検出の誤検出の判定を効率よく行うことができる。

【0056】

（４）第４の実施の形態
本発明の第４の実施の形態を図面を参照しつつ説明する。

【0057】

本実施の形態は、サンプルプローブの詰まり検出の誤検出と判定した場合に、該当する試料の再検査を実施するように構成したものである。

【0058】

（４−１）試料吸引処理
図９は、本実施の形態におけるサンプルプローブによる試料吸引処理時の処理フローを示す図である。ここでは、サンプルプローブ９４における試料吸引処理時について説明する。

【0059】

図９において、全体管理コンピュータ１１は、サンプルプローブ９４を試料容器９１内に下降させ（ステップＳ９０１）、サンプルプローブ９４が図示しない液面検知機構により液面を検知して停止したときの下降量（Ａ）を記憶する（ステップＳ９０２）。続いて、試料の吸引を開始し（ステップＳ９０３）、この試料の吸引によってサンプルプローブ９４の詰まりが検出されたかどうかを判定する（ステップＳ９０４）。ステップＳ９０４での判定結果がＮＯの場合には、吸引処理を終了する。また、ステップＳ９０４での判定結果がＹＥＳの場合には、サンプルプローブ９４の詰まりを除去するための詰まり除去洗浄動作を行い（ステップＳ９０５）、同一試料の別分析項目の分析を行うために、再度、サンプルプローブ９４を試料容器９１内に下降させ（ステップＳ９０６）、サンプルプローブ９４が図示しない液面検知機構により液面を検知して停止したときの下降量（Ｂ）を記憶する（ステップＳ９０７）。続いて、サンプルプローブ９４の詰まりを検出した時の試料吸引量を以下式にて算出する（ステップＳ９０８）。試料吸引量は下記の（式１）により算出される。

【0060】

試料吸引量＝（下降量（Ｂ）−下降量（Ａ））×試料容器断面積・・・（式１）
なお、試料容器断面積は、予め記憶部１１ａ等に記憶されている。

【0061】

ここで、試料吸引量が予め定めた範囲内であるかどうかを判定し（ステップＳ９０９）、判定結果がＮＯの場合には、正常につまりを検出したと判断して、吸引処理を終了する。また、ステップＳ９０９での判定結果がＹＥＳの場合には、詰まり検出が誤検出であったと判定して、当該試料の同一項目の再分析の実施を指示するフラグを立て（ステップＳ９１０）、吸引処理を終了する。

【0062】

その他の構成については第１の実施の形態と同様である。

【0063】

（４−２）効果
以上のように構成した本実施の形態においても、第１の実施の形態と同様の効果を得ることができる。

【0064】

また、本実施の形態においては、誤った詰まり検知（誤検出）においても分析不可とせず、再度同一項目を分析すると共に、当該試料についても異常が無いとして取り扱う事で、この試料を他の分析ユニットにおいても分析可能として分析を継続することができる為、測定結果が出力されない事による再分析の必要がなくなり、結果報告の遅れを防止する事ができる。なお、同一項目を同一分析ユニットの別サンプルプローブにて分析する構成としてもよい。

【0065】

（５）第１〜第４の実施の形態の変形例
本発明の第１〜第４の実施の形態の変形例を図面を参照しつつ説明する。

【0066】

本実施の形態は、第１〜第４の実施の形態において、詰まり検知異常（誤検出）により使用不可となったサンプルプローブを使用可能な状態に復帰させるものである。

【0067】

（５−１）サンプルプローブ復帰処理
図１０は、本実施の形態におけるサンプルプローブ復帰処理の処理フローを示す図である。ここでは、詰まり検知異常にて使用不可となった分析ユニット５のサンプルプローブ９４を復帰させる場合について説明する。

【0068】

図１０において、全体管理コンピュータ１１は、既知の粘度を持つ複数の試料（基準試料）を収容した試料容器９０１を保持した検体ラック９２を分析システムに投入する（ステップＳ１１）。検体ラック９２が認識されると詰まり検知異常にて使用不可となっているサンプルプローブ９４を有する分析モジュール５に搬送される（ステップＳ１２）。ラック９２が分析ユニット５に搬送されると、続いて、詰まり検知異常が発生したサンプルプローブ９４にて試料容器９１に収容された既知の粘度を持つ基準試料の吸引処理を開始し（ステップＳ１３）、詰まり検知機能にて詰まり判定を行い（ステップＳ１４）、詰まり判定結果が正しいかどうかを判定する（ステップＳ１５）。ここで、吸引処理では既知の粘度の試料を吸引している為、ラック９２上の試料容器９１の試料は、詰まりが発生するように設定された試料であるか、詰まりが発生しないように設定された試料であるかは明らかであるので、詰まり判定結果が正しいかどうかの判定は容易に行うことができる。

【0069】

ステップＳ１５での判定結果がＹＥＳの場合には、次の基準試料があるかどうかを判定し（ステップＳ１６）、判定結果がＹＥＳの場合には、次の基準試料を吸引処理の対象として設定し、ステップＳ１３の処理を行う。

【0070】

また、ステップＳ１５での判定結果ＮＯの場合には、詰まり検知機能に異常が生じていると判断して、当該サンプルプローブ９４を使用不可のままとし（ステップＳ１８）、処理を終了する。

【0071】

また、ステップＳ１６での判定結果がＹＥＳの場合には、用意された全ての基準試料に対して正しい詰まり検出がなされ、詰まり検知機能には異常が無いと判断して、当該サンプルプローブ９４を使用可能とし（ステップＳ１９）、処理を終了する。

【0072】

その他の構成については第１〜第４の実施の形態のそれぞれと同様である。

【0073】

（５−２）効果
以上のように構成した本変形例においても、第１〜第４の実施の形態のそれぞれと同様の効果を得ることができる。

【0074】

また、本変形例においては、オペレーション中に詰まり検知異常により使用不可と判断したサンプルプローブに対して詰まり検知機能チェックを行い、異常無き場合には該当サンプルプローブを使用可能にする事で、処理能力の低下を最小限にする事を可能とする。なお、本変形例においては、詰まり検知異常において使用不可のサンプルプローブに対してのみ詰まり検知機能チェックを実施したが、詰まり検知機能チェック用のラック９１が分析システムに投入された場合に、全てのサンプルプローブに対して詰まり検知機能チェックを実施する事で、各サンプルプローブの詰まり検知機能の信頼性を確保する事が可能である。

【符号の説明】

【0075】

１ 検体ラック投入部
２ ＩＤ読取部
３ 搬送ライン
４ 再検査用搬送ライン
５，６，７，８ 分析ユニット
９ 検体ラック待機部
１０ 検体ラック回収部
１１ 全体管理コンピュータ
１１ａ 記憶部
１１ｂ 演算部
１１ｃ 吸引異常検出部
１１ｄ 誤検出判定部
１１ｅ 誤検出対応処理部
１２，１３，１４，１５，１６，１７ コンピュータ
１８ 操作部
１９ 表示部
２０，２１，２２，２３ 試薬分注機構（試薬プローブ）
２５，２６ レール
３０，３１ 攪拌機構
３５ 反応容器
３６ 反応ディスク
４０ 試薬容器
４１，４２ 試薬ディスク
４９ 検出光学装置
５０ 光源
５１，６１，７１，８１ 引込線
５４ 洗浄ポート
６２ 筐体
９１ 試料容器
９２ 検体ラック
９４，９５ 試料分注機構（サンプルプローブ）
９４ａ，９５ａ 圧力センサ

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】