(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
【発明を実施するための形態】
【0018】
以下、本願発明の一実施形態に係る基板処理装置を図面に基づいて説明する。以下では、基板処理装置の一例として、CMP装置を説明するが、これには限られない。また、以下では、ロード/アンロードユニット2と、研磨ユニット3と、洗浄ユニット4と、を備
える基板処理装置について説明するが、これには限られない。
【0019】
まず、CMP装置の構成について説明し、その後にインターロック制御について説明する。
【0020】
<基板処理装置>
図1は本発明の一実施形態に係る基板処理装置の全体構成を示す平面図である。
図1に示すように、このCMP装置は、略矩形状のハウジング1を備えており、ハウジング1の内部は隔壁1a,1bによってロード/アンロードユニット2と研磨ユニット3と洗浄ユニット4とに区画されている。ロード/アンロードユニット2、研磨ユニット3、及び洗浄ユニット4は、それぞれ独立に組み立てられ、独立に排気される。また、洗浄ユニット4は、基板処理動作を制御する制御装置5を有している。制御装置5には、後述する動作制御部が含まれる。
【0021】
<ロード/アンロードユニット>
ロード/アンロードユニット2は、多数のウェハ(基板)をストックするウェハカセットが載置される2つ以上(本実施形態では4つ)のフロントロード部20を備えている。これらのフロントロード部20はハウジング1に隣接して配置され、基板処理装置の幅方向(長手方向と垂直な方向)に沿って配列されている。フロントロード部20には、オープンカセット、SMIF(Standard Manufacturing Interface)ポッド、またはFOUP(Front Opening Unified Pod)を搭載することができるようになっている。ここで、SMIF、FOUPは、内部にウェハカセットを収納し、隔壁で覆うことにより、外部空間とは独立した環境を保つことができる密閉容器である。
【0022】
また、ロード/アンロードユニット2には、フロントロード部20の並びに沿って走行機構21が敷設されており、この走行機構21上にウェハカセットの配列方向に沿って移動可能な2台の搬送ロボット(ローダー、搬送機構)22が設置されている。搬送ロボット22は走行機構21上を移動することによってフロントロード部20に搭載されたウェハカセットにアクセスできるようになっている。各搬送ロボット22は上下に2つのハンドを備えている。上側のハンドは、処理されたウェハをウェハカセットに戻すときに使用される。下側のハンドは、処理前のウェハをウェハカセットから取り出すときに使用される。このように、上下のハンドを使い分けることができるようになっている。さらに、搬送ロボット22の下側のハンドは、その軸心周りに回転することで、ウェハを反転させることができるように構成されている。
【0023】
ロード/アンロードユニット2は最もクリーンな状態を保つ必要がある領域であるため、ロード/アンロードユニット2の内部は、CMP装置外部、研磨ユニット3、及び洗浄ユニット4のいずれよりも高い圧力に常時維持されている。研磨ユニット3は研磨液としてスラリーを用いるため最もダーティな領域である。したがって、研磨ユニット3の内部には負圧が形成され、その圧力は洗浄ユニット4の内部圧力よりも低く維持されている。ロード/アンロードユニット2には、HEPAフィルタ、ULPAフィルタ、またはケミカルフィルタなどのクリーンエアフィルタを有するフィルタファンユニット(図示せず)が設けられており、このフィルタファンユニットからはパーティクルや有毒蒸気、有毒ガスが除去されたクリーンエアが常時吹き出している。
【0024】
<研磨ユニット>
研磨ユニット3は、ウェハの研磨(平坦化)が行われる領域であり、第1研磨ユニット3A、第2研磨ユニット3B、第3研磨ユニット3C、第4研磨ユニット3Dを備えている。これらの第1研磨ユニット3A、第2研磨ユニット3B、第3研磨ユニット3C、及び第4研磨ユニット3Dは、
図1に示すように、基板処理装置の長手方向に沿って配列さ
れている。
【0025】
図1に示すように、第1研磨ユニット3Aは、研磨面を有する研磨パッド10が取り付けられた研磨テーブル30Aと、ウェハを保持しかつウェハを研磨テーブル30A上の研磨パッド10に押圧しながら研磨するためのトップリング31Aと、研磨パッド10に研磨液やドレッシング液(例えば、純水)を供給するための研磨液供給ノズル32Aと、研磨パッド10の研磨面のドレッシングを行うためのドレッサ33Aと、液体(例えば純水)と気体(例えば窒素ガス)の混合流体または液体(例えば純水)を霧状にして研磨面に噴射するアトマイザ34Aとを備えている。研磨テーブル30A、トップリング31A、研磨液供給ノズル32A、ドレッサ33A、及びアトマイザ34A、を含む、基板の研磨処理に用いられる各種の複数の部品は、ハウジング1の内部に収容されている。ハウジング1の、第1研磨ユニット3AとCMP装置外部とを仕切る部分には、扉35Aが設けられている。扉35Aは、開閉可能に形成されている。例えば、第1研磨ユニット3Aのメンテナンスの際に、作業員は、扉35Aを開くことによって、CMP装置外部から第1研磨ユニット3A内の各種の複数の部品へアクセスすることができる。
【0026】
第1研磨ユニット3Aと同様に、第2研磨ユニット3Bは、研磨パッド10が取り付けられた研磨テーブル30Bと、トップリング31Bと、研磨液供給ノズル32Bと、ドレッサ33Bと、アトマイザ34Bとを備えている。研磨テーブル30B、トップリング31B、研磨液供給ノズル32B、ドレッサ33B、及びアトマイザ34B、を含む、基板の研磨処理に用いられる各種の複数の部品は、ハウジング1の内部に収容されている。ハウジング1の、第2研磨ユニット3BとCMP装置外部とを仕切る部分には、扉35Bが設けられている。扉35Bは、開閉可能に形成されている。例えば、第2研磨ユニット3Bのメンテナンスの際に、作業員は、扉35Bを開くことによって、CMP装置外部から第2研磨ユニット3B内の各種の複数の部品へアクセスすることができる。
【0027】
第1研磨ユニット3Aと同様に、第3研磨ユニット3Cは、研磨パッド10が取り付けられた研磨テーブル30Cと、トップリング31Cと、研磨液供給ノズル32Cと、ドレッサ33Cと、アトマイザ34Cとを備えている。研磨テーブル30C、トップリング31C、研磨液供給ノズル32C、ドレッサ33C、及びアトマイザ34C、を含む、基板の研磨処理に用いられる各種の複数の部品は、ハウジング1の内部に収容されている。ハウジング1の、第3研磨ユニット3CとCMP装置外部とを仕切る部分には、扉35Cが設けられている。扉35Cは、開閉可能に形成されている。例えば、第3研磨ユニット3Cのメンテナンスの際に、作業員は、扉35Cを開くことによって、CMP装置外部から第3研磨ユニット3C内の各種の複数の部品へアクセスすることができる。
【0028】
第1研磨ユニット3Aと同様に、第4研磨ユニット3Dは、研磨パッド10が取り付けられた研磨テーブル30Dと、トップリング31Dと、研磨液供給ノズル32Dと、ドレッサ33Dと、アトマイザ34Dとを備えている。研磨テーブル30D、トップリング31D、研磨液供給ノズル32D、ドレッサ33D、及びアトマイザ34D、を含む、基板の研磨処理に用いられる各種の複数の部品は、ハウジング1の内部に収容されている。ハウジング1の、第4研磨ユニット3DとCMP装置外部とを仕切る部分には、扉35Dが設けられている。扉35Dは、開閉可能に形成されている。例えば、第4研磨ユニット3Dのメンテナンスの際に、作業員は、扉35Dを開くことによって、CMP装置外部から第4研磨ユニット3D内の各種の複数の部品へアクセスすることができる。
【0029】
第1研磨ユニット3A、第2研磨ユニット3B、第3研磨ユニット3C、及び第4研磨ユニット3Dは、互いに同一の構成を有しているので、以下、第1研磨ユニット31Aについて説明する。
【0030】
図2は、第1研磨ユニット3Aを模式的に示す斜視図である。トップリング31Aは、トップリングシャフト36に支持されている。研磨テーブル30Aの上面には研磨パッド10が貼付されており、この研磨パッド10の上面はウェハWを研磨する研磨面を構成する。なお、研磨パッド10に代えて固定砥粒を用いることもできる。トップリング31A及び研磨テーブル30Aは、矢印で示すように、その軸心周りに回転するように構成されている。ウェハWは、トップリング31Aの下面に真空吸着により保持される。研磨時には、研磨液供給ノズル32Aから研磨パッド10の研磨面に研磨液が供給され、研磨対象であるウェハWがトップリング31Aにより研磨面に押圧されて研磨される。
【0031】
次に、ウェハを搬送するための搬送機構について説明する。
図1に示すように、第1研磨ユニット3A及び第2研磨ユニット3Bに隣接して、第1リニアトランスポータ6が配置されている。この第1リニアトランスポータ6は、研磨ユニット3A,3Bが配列する方向に沿った4つの搬送位置(ロード/アンロードユニット側から順番に第1搬送位置TP1、第2搬送位置TP2、第3搬送位置TP3、第4搬送位置TP4とする)の間でウェハを搬送する機構である。
【0032】
また、第3研磨ユニット3C及び第4研磨ユニット3Dに隣接して、第2リニアトランスポータ7が配置されている。この第2リニアトランスポータ7は、研磨ユニット3C,3Dが配列する方向に沿った3つの搬送位置(ロード/アンロードユニット側から順番に第5搬送位置TP5、第6搬送位置TP6、第7搬送位置TP7とする)の間でウェハを搬送する機構である。
【0033】
ウェハは、第1リニアトランスポータ6によって研磨ユニット3A,3Bに搬送される。第1研磨ユニット3Aのトップリング31Aは、トップリングヘッドのスイング動作により研磨位置と第2搬送位置TP2との間を移動する。したがって、トップリング31Aへのウェハの受け渡しは第2搬送位置TP2で行われる。同様に、第2研磨ユニット3Bのトップリング31Bは研磨位置と第3搬送位置TP3との間を移動し、トップリング31Bへのウェハの受け渡しは第3搬送位置TP3で行われる。第3研磨ユニット3Cのトップリング31Cは研磨位置と第6搬送位置TP6との間を移動し、トップリング31Cへのウェハの受け渡しは第6搬送位置TP6で行われる。第4研磨ユニット3Dのトップリング31Dは研磨位置と第7搬送位置TP7との間を移動し、トップリング31Dへのウェハの受け渡しは第7搬送位置TP7で行われる。
【0034】
第1搬送位置TP1には、搬送ロボット22からウェハを受け取るためのリフタ11が配置されている。ウェハはこのリフタ11を介して搬送ロボット22から第1リニアトランスポータ6に渡される。リフタ11と搬送ロボット22との間に位置して、シャッタ(図示せず)が隔壁1aに設けられており、ウェハの搬送時にはシャッタが開かれて搬送ロボット22からリフタ11にウェハが渡されるようになっている。また、第1リニアトランスポータ6と、第2リニアトランスポータ7と、洗浄ユニット4との間にはスイングトランスポータ12が配置されている。このスイングトランスポータ12は、第4搬送位置TP4と第5搬送位置TP5との間を移動可能なハンドを有しており、第1リニアトランスポータ6から第2リニアトランスポータ7へのウェハの受け渡しは、スイングトランスポータ12によって行われる。ウェハは、第2リニアトランスポータ7によって第3研磨ユニット3C及び/または第4研磨ユニット3Dに搬送される。また、研磨ユニット3で研磨されたウェハはスイングトランスポータ12を経由して洗浄ユニット4に搬送される。
【0035】
<洗浄ユニット>
図3(a)は洗浄ユニット4を示す平面図であり、
図3(b)は洗浄ユニット4を示す側面図である。
図3(a)及び
図3(b)に示すように、洗浄ユニット4は、第1洗浄室
190と、第1搬送室191と、第2洗浄室192と、第2搬送室193と、乾燥室194とに区画されている。第1洗浄室190内には、縦方向に沿って配列された上側一次洗浄モジュール201A及び下側一次洗浄モジュール201Bが配置されている。上側一次洗浄モジュール201Aは下側一次洗浄モジュール201Bの上方に配置されている。同様に、第2洗浄室192内には、縦方向に沿って配列された上側二次洗浄モジュール202A及び下側二次洗浄モジュール202Bが配置されている。上側二次洗浄モジュール202Aは下側二次洗浄モジュール202Bの上方に配置されている。一次及び二次洗浄モジュール201A,201B,202A,202Bは、洗浄液を用いてウェハを洗浄する洗浄機である。これらの一次及び二次洗浄モジュール201A,201B,202A,202Bは垂直方向に沿って配列されているので、フットプリント面積が小さいという利点が得られる。
【0036】
上側二次洗浄モジュール202Aと下側二次洗浄モジュール202Bとの間には、ウェハの仮置き台203が設けられている。乾燥室194内には、縦方向に沿って配列された上側乾燥モジュール205A及び下側乾燥モジュール205Bが配置されている。これら上側乾燥モジュール205A及び下側乾燥モジュール205Bは互いに隔離されている。上側乾燥モジュール205A及び下側乾燥モジュール205Bの上部には、清浄な空気を乾燥モジュール205A,205B内にそれぞれ供給するフィルタファンユニット207,207が設けられている。上側一次洗浄モジュール201A、下側一次洗浄モジュール201B、上側二次洗浄モジュール202A、下側二次洗浄モジュール202B、仮置き台203、上側乾燥モジュール205A、及び下側乾燥モジュール205Bは、図示しないフレームにボルトなどを介して固定されている。
【0037】
第1搬送室191には、上下動可能な第1搬送ロボット(搬送機構)209が配置され、第2搬送室193には、上下動可能な第2搬送ロボット210が配置されている。第1搬送ロボット209及び第2搬送ロボット210は、縦方向に延びる支持軸211,212にそれぞれ移動自在に支持されている。第1搬送ロボット209及び第2搬送ロボット210は、その内部にモータなどの駆動機構を有しており、支持軸211,212に沿って上下に移動自在となっている。第1搬送ロボット209は、搬送ロボット22と同様に、上下二段のハンドを有している。第1搬送ロボット209は、
図3(a)の点線が示すように、その下側のハンドが上述した仮置き台180にアクセス可能な位置に配置されている。第1搬送ロボット209の下側のハンドが仮置き台180にアクセスするときには、隔壁1bに設けられているシャッタ(図示せず)が開くようになっている。
【0038】
第1搬送ロボット209は、仮置き台180、上側一次洗浄モジュール201A、下側一次洗浄モジュール201B、仮置き台203、上側二次洗浄モジュール202A、下側二次洗浄モジュール202Bの間でウェハWを搬送するように動作する。洗浄前のウェハ(スラリーが付着しているウェハ)を搬送するときは、第1搬送ロボット209は、下側のハンドを用い、洗浄後のウェハを搬送するときは上側のハンドを用いる。第2搬送ロボット210は、上側二次洗浄モジュール202A、下側二次洗浄モジュール202B、仮置き台203、上側乾燥モジュール205A、下側乾燥モジュール205Bの間でウェハWを搬送するように動作する。第2搬送ロボット210は、洗浄されたウェハのみを搬送するので、1つのハンドのみを備えている。
図1に示す搬送ロボット22は、その上側のハンドを用いて上側乾燥モジュール205Aまたは下側乾燥モジュール205Bからウェハを取り出し、そのウェハをウェハカセットに戻す。搬送ロボット22の上側ハンドが乾燥モジュール205A,205Bにアクセスするときには、隔壁1aに設けられているシャッタ(図示せず)が開くようになっている。
【0039】
<インターロック制御>
<第1実施形態>
次に、インターロック制御について説明する。なお、第1研磨ユニット3A、第2研磨ユニット3B、第3研磨ユニット3C、及び第4研磨ユニット3Dは、同一の構成であるので、代表して第1研磨ユニット3Aについて説明する。
【0040】
図4,
図5,
図6は、第1実施形態のインターロック制御について説明するための図である。
図4に示すように、CMP装置は、ハウジング(筐体)1の内部に設けられた複数の識別部材312A,314A,316Aと、ハウジング1の扉35Aのハウジング内部側に設けられた画像撮像部320Aと、を備える。画像撮像部320Aは、制御装置5内に設けられた動作制御部330に有線又は無線によって接続される。
【0041】
識別部材312A,314A,316Aは、ハウジング1の内部に設けられた、第1研磨ユニット3A内の研磨処理を行うための複数の部品(研磨テーブル30A、トップリング31A、研磨液供給ノズル32A、ドレッサ33A、及びアトマイザ34Aなど)とは異なる(識別可能な)ものである。識別部材312A,314A,316Aは、少なくとも扉35Aが閉じられた状態において、画像撮像部320Aの撮像領域350内に含まれ、画像撮像部320Aに向いた面に、例えば、数字、文字、バーコード、QRコード(登録商標)、及び図形、の少なくとも1つの識別子が形成されたものである。識別部材312A,314A,316Aの識別子は、第1研磨ユニット3A内の研磨処理を行うための複数の部品と識別可能なものであればどのような形状でもよい。
【0042】
なお、本実施形態では、ハウジング1の壁面に識別部材312A,314A,316Aが設けられる例を示したが、これには限られない。識別部材312A,314A,316Aは、第1研磨ユニット3A内の部品に取り付けることもできる。この場合においても、識別部材312A,314A,316Aは、少なくとも扉35Aが閉じられた状態において、画像撮像部320Aの撮像領域350内に含まれ、画像撮像部320Aに向いた面に、例えば、数字、文字、バーコード、QRコード(登録商標)、及び図形、の少なくとも1つの識別子が形成される。なお、第1研磨ユニット3A内の各部品は、一定の位置に固定されないものもある。例えば、トップリング31A、研磨液供給ノズル32A、又はドレッサ33Aなどは、旋回などによって適宜位置が変わる。位置が変わる部品に識別部材を設ける場合には、部品の位置が変わった場合でも識別部材を識別できるように、1つの部品の複数箇所に識別部材を設けることができる。
【0043】
画像撮像部320Aは、ハウジング1の扉35Aのハウジング内部側に設けられており、ハウジング内部を撮像可能になっている。画像撮像部320Aは、撮像領域350内に存在するものを撮像し、撮像した画像を動作制御部330へ送る。
【0044】
動作制御部330は、画像撮像部320Aによって撮像された画像に、複数の識別部材312A,314A,316Aが含まれるか否かを判定する。具体的には、識別部材312A,314A,316Aに形成されている識別子は、あらかじめ制御装置5内の記憶部に記憶されている。動作制御部330は、識別部材312A,314A,316Aに形成されている識別子の画像を制御装置5内の記憶部から読み出す。動作制御部330は、画像撮像部320Aによって撮像された画像内に、読み出した画像(識別子)が含まれているか否かを、パターンマッチングなどの画像処理によって判定する。例えば、上記のように第1研磨ユニット3A内の部品の位置が変わる場合には、部品の位置のバリエーションごとに、識別子の画像を制御装置5内に記憶することができる。また、基板上に露出した銅などの金属の酸化を抑制するために、第1研磨ユニット3A内を遮光する場合がある。この場合、第1研磨ユニット3A内は真っ暗になる。このような場合には、識別部材(識別子)は、真っ暗な状態においても画像撮像部320Aによって撮像可能な部材を用いることができる。また、画像撮像部320Aは、例えば暗視カメラなどのように、真っ暗な状態においても識別部材(識別子)を撮像可能なカメラとすることができる。
【0045】
動作制御部330は、画像撮像部320Aによって撮像された画像に、複数の識別部材312A,314A,316Aが含まれると判定した場合には、第1研磨ユニット3A内の複数の部品の動作を許可する。すなわち、上記判定を行ったときにインターロック処理が行われた状態であるならインターロック処理を解除し、インターロック処理が行われていない状態であるならその状態を維持する。
【0046】
一方、動作制御部330は、画像撮像部320Aによって撮像された画像に、複数の識別部材312A,314A,316Aが含まれないと判定した場合には、第1研磨ユニット3A内の複数の部品の動作を停止させる。すなわち、上記判定を行ったときにインターロック処理が行われた状態であるならその状態を維持し、インターロック処理が解除された状態であるならインターロック処理を行う。
【0047】
図4の例では、扉35Aが閉じられている。したがって、画像撮像部320Aは、識別部材312A,314A,316Aのすべてを撮像することができる。この場合、動作制御部330は、画像撮像部320Aによって撮像された画像に、複数の識別部材312A,314A,316Aが含まれると判定し、第1研磨ユニット3A内の複数の部品の動作を許可する。
【0048】
一方、
図5の例では、扉35Aが開かれている。したがって、識別部材312Aは、撮像領域350に含まれず、また、識別部材316Aは、扉35Aの影に隠れる。よって、画像撮像部320Aは、識別部材312A及び識別部材316Aを撮像することができない。この場合、動作制御部330は、画像撮像部320Aによって撮像された画像に、複数の識別部材312A,314A,316Aが含まれないと判定し、第1研磨ユニット3A内の複数の部品の動作を停止させる。
【0049】
また、
図6の例では、扉35Aは閉じられているが、研磨テーブル30Aの上に異物390が存在している。したがって、画像撮像部320Aは、識別部材314Aを撮像することができない。この場合、動作制御部330は、画像撮像部320Aによって撮像された画像に、複数の識別部材312A,314A,316Aが含まれないと判定し、第1研磨ユニット3A内の複数の部品の動作を停止させる。したがって、扉35Aが閉じられており、かつ、研磨ユニット3A内に異物390(例えば作業員など)が存在していない、安全な状況でのみ研磨ユニット3Aを動作させることができる。
【0050】
次に、第1実施形態におけるCMP装置の処理フローについて説明する。
図7は、第1実施形態のCMP装置のフローチャートである。
【0051】
図7に示すように、動作制御部330は、記憶部から識別子を読み出す(ステップS101)。続いて、動作制御部330は、画像撮像部320Aによって撮像された画像を画像撮像部320Aから受信する(ステップS102)。
【0052】
続いて、動作制御部330は、画像撮像部320Aによって撮像された画像と、読み出した識別子とのパターンマッチングを行う(ステップS103)。続いて、動作制御部330は、パターンマッチングの結果、すべての(第1実施形態では3つの)識別子を認識できたか否かを判定する(ステップS104)。言い換えれば、動作制御部330は、撮像された画像にすべての識別子が含まれているか否かを判定する。
【0053】
動作制御部330は、すべての(第1実施形態では3つの)識別子を認識できたと判定した場合には(ステップS104,Yes)、インターロック処理が解除されていればその状態を維持し、インターロック処理が行われていればインターロック処理を解除する(
ステップS105)。言い換えれば、動作制御部330は、第1研磨ユニット3A内の複数の部品の動作を許容する。
【0054】
一方、動作制御部330は、少なくとも1つの識別子を認識できなかったと判定した場合には(ステップS104,No)、インターロック処理が行われていればその状態を維持し、インターロック処理が解除された状態であればインターロック処理を行う(ステップS106)。言い換えれば、動作制御部330は、第1研磨ユニット3A内の複数の部品の動作を停止させる。
【0055】
ステップS105、又は、ステップS106の後、動作制御部330は、インターロック制御を終了すべきか否かを判定する(ステップS107)。動作制御部330は、インターロック制御を終了すべきではないと判定したら(ステップS107,No)、ステップS102へ戻って制御を繰り返す。
【0056】
一方、動作制御部330は、インターロック制御を終了すべきと判定したら(ステップS107,Yes)、インターロック制御を終了する。
【0057】
以上、第1実施形態によれば、インターロック制御の精度を向上させることができる。すなわち、従来技術は、成膜処理室の上蓋の開閉を撮像し、撮像された画像から上蓋の画像と背景画像を除いた差分画像を求める。また、従来技術は、差分画像に像が残っていなければ異物は存在せず、差分画像に像が残っていれば異物が存在すると判断する。また、従来技術は、差分画像に基づいて異物が検出されたら、インターロック処理を行う。従来技術によれば、差分画像を求めるための画像処理に大きな演算負荷がかかる。また、従来技術によれば、画像処理の過程で発生するノイズ等の影響によって、差分画像に像が残っているか否かを精度よく判断できない場合があり、その結果、インターロック制御の精度が悪化するおそれがある。
【0058】
これに対して本実施形態は、識別部材312A,314A,316Aに形成されている識別子は、あらかじめ制御装置5内の記憶部に記憶されている。動作制御部330は、識別子の画像を制御装置5内の記憶部から読み出す。動作制御部330は、画像撮像部320Aによって撮像された画像内に、読み出した画像(識別子)が含まれているか否かを、パターンマッチングなどの画像処理によって判定する。したがって、本実施形態では、差分画像を求める必要がないので、画像処理の演算負荷が軽減される。また、本実施形態では、撮像された画像内に識別子が含まれているか否かをパターンマッチングなどの画像処理によって判定するので、画像処理の過程で多少ノイズ等が発生したとしても、精度よく撮像された画像内に識別子が含まれているか否かを判定することができる。その結果、インターロック制御の精度を向上させることができる。
【0059】
<第2実施形態>
次に、第2実施形態について説明する。第2実施形態は、第1実施形態に加えて、さらにインターロック制御の内容を追加したものである。第1実施形態と重複する内容については説明を省略する。
【0060】
図8は、第2実施形態のインターロック制御について説明するための図である。
図8に示すように、CMP装置は、画像撮像部320Aとは異なる他の画像撮像部420を備える。
【0061】
他の画像撮像部420は、可搬性を有し、扉35Aが開かれた状態でハウジング1内部を撮像可能なものである。他の画像撮像部420は、例えば、タブレット端末機器410に搭載された画像撮像部とすることができる。ただし、他の画像撮像部420は、これに
限られず、扉35Aが開かれた状態でハウジング1内部の識別部材312A,314A,316A(識別子)を撮像可能であればよい。他の画像撮像部420は、制御装置5内に設けられた動作制御部330に有線又は無線によって接続される。
【0062】
第1実施形態で説明したように、扉35Aが開かれると、画像撮像部320Aは、識別部材312A,314A,316Aの少なくとも1つを撮像することができない。この場合、動作制御部330は、画像撮像部320Aによって撮像された画像に、複数の識別部材312A,314A,316Aが含まれないと判定し、第1研磨ユニット3A内の複数の部品の動作を停止させる。
【0063】
動作制御部330は、第1研磨ユニット3A内の複数の部品の動作を停止させている状態において、他の画像撮像部420によって撮像された画像に複数の識別部材が含まれる場合に、複数の部品の動作を許可する。
【0064】
図8の例では、扉35Aが開かれ、インターロック処理が行われている状態で、タブレット端末機器410を所持した作業員が他の画像撮像部420を用いてハウジング1内部を撮像している状態を示している。
図8に示すように、他の画像撮像部420は、識別部材312A,314A,316Aのすべてを撮像する。この場合、動作制御部330は、他の画像撮像部420によって撮像された画像に、複数の識別部材312A,314A,316Aが含まれると判定し、第1研磨ユニット3A内の複数の部品の動作を許可する。言い換えると、動作制御部330は、インターロック処理を解除する。
【0065】
次に、第2実施形態におけるCMP装置の処理フローについて説明する。
図9は、第2実施形態のCMP装置のフローチャートである。
図9に示すように、動作制御部330は、記憶部から識別子を読み出す(ステップS201)。続いて、動作制御部330は、画像撮像部320Aによって撮像された画像を画像撮像部320Aから受信する(ステップS202)。
【0066】
続いて、動作制御部330は、画像撮像部320Aによって撮像された画像と、読み出した識別子とのパターンマッチングを行う(ステップS203)。続いて、動作制御部330は、パターンマッチングの結果、すべての(第2実施形態では3つの)識別子を認識できたか否かを判定する(ステップS204)。言い換えれば、動作制御部330は、撮像された画像にすべての識別子が含まれているか否かを判定する。
【0067】
動作制御部330は、すべての(第1実施形態では3つの)識別子を認識できたと判定した場合には(ステップS204,Yes)、インターロック処理が解除されていればその状態を維持し、インターロック処理が行われていればインターロック処理を解除する(ステップS205)。言い換えれば、動作制御部330は、第1研磨ユニット3A内の複数の部品の動作を許容する。
【0068】
一方、動作制御部330は、少なくとも1つの識別子を認識できなかったと判定した場合には(ステップS204,No)、インターロック処理が行われていればその状態を維持し、インターロック処理が解除された状態であればインターロック処理を行う(ステップS206)。言い換えれば、動作制御部330は、第1研磨ユニット3A内の複数の部品の動作を停止させる。
【0069】
続いて、インターロック処理が行われている状態で、動作制御部330は、他の画像撮像部420によって撮像された画像を他の画像撮像部420から受信する(ステップS207)。
【0070】
続いて、動作制御部330は、他の画像撮像部420によって撮像された画像と、読み出した識別子とのパターンマッチングを行う(ステップS208)。続いて、動作制御部330は、パターンマッチングの結果、すべての(第2実施形態では3つの)識別子を認識できたか否かを判定する(ステップS209)。言い換えれば、動作制御部330は、撮像された画像にすべての識別子が含まれているか否かを判定する。
【0071】
動作制御部330は、少なくとも1つの識別子を認識できなかったと判定した場合には(ステップS209,No)、ステップS207に戻って制御を繰り返す。
【0072】
一方、動作制御部330は、すべての(第2実施形態では3つの)識別子を認識できたと判定した場合には(ステップS209,Yes)、インターロック処理を解除する(ステップS210)。言い換えれば、動作制御部330は、第1研磨ユニット3A内の複数の部品の動作を許容する。
【0073】
ステップS205、又は、ステップS210の後、動作制御部330は、インターロック制御を終了すべきか否かを判定する(ステップS211)。動作制御部330は、インターロック制御を終了すべきではないと判定したら(ステップS211,No)、ステップS202へ戻って制御を繰り返す。
【0074】
一方、動作制御部330は、インターロック制御を終了すべきと判定したら(ステップS211,Yes)、インターロック制御を終了する。
【0075】
以上、第2実施形態によれば、第1実施形態と同様に、インターロック制御の精度を向上させることができる。これに加えて、第2実施形態によれば、扉が開かれている場合であっても、研磨ユニット3の内部が正常な状態(例えば、作業員などが研磨ユニット3の内部に入っていない状態)であれば、インターロックを解除させて、研磨ユニット3内の複数の部品の動作を許容することができる。その結果、例えば、扉を開いた状態で、研磨ユニット3の内部を目視しながら、複数の部品の動作状態を監視することができる。
【0076】
<第3実施形態>
次に、第3実施形態について説明する。第3実施形態は、第1及び第2実施形態に加えて、さらにタブレット端末機器による研磨ユニットの操作態様(操作権限の管理)を追加したものである。第1及び第2実施形態と重複する内容については説明を省略する。
【0077】
図10は、第3実施形態のCMP装置について説明する図である。
図10に示すように、CMP装置は、研磨ユニット3内の複数の部品を操作するための複数の操作画像が表示される表示部510を備える。表示部510は、例えば、第1研磨ユニット3A内の複数の部品を操作するための操作画像520と、第2研磨ユニット3B内に複数の部品を操作するための操作画像530と、を備える。作業員は、操作画像520及び操作画像530を介して第1研磨ユニット3A及び第2研磨ユニット3Bを操作することができる。表示部510は、有線又は無線によって動作制御部330と接続される。
【0078】
一方、CMP装置は、他の画像撮像部420が搭載されたタブレット端末機器410は、表示部510に表示される複数の操作画像520,530のうちの一部の操作画像530が表示される他の表示部430を備える。タブレット端末機器410は、有線又は無線によって動作制御部330と接続される。
【0079】
動作制御部330は、他の表示部430に操作画像530が表示されている際には、他の表示部430に表示されている操作画像530を介して入力された操作指示を有効とし、表示部510に表示されている操作画像530を介して入力された操作指示を無効とす
る、ことができる。
【0080】
第3実施形態によれば、第1実施形態と同様に、インターロック制御の精度を向上させることができる。また、第2実施形態によれば、扉を開いた状態で、研磨ユニット3の内部を目視しながら、インターロック処理を解除させて複数の部品を動作させ、複数の部品の動作状態を監視することができる。これに加えて、第3実施形態によれば、他の表示部430に操作画像530が表示されている際には、他の表示部430に表示されている操作画像530を介して入力された操作指示を有効とするので、研磨ユニット3の内部を目視しながら、タブレット端末機器410を用いて研磨ユニット3の複数の部品を操作することができる。さらに、第3実施形態によれば、他の表示部430に操作画像530が表示されている際には、表示部510に表示されている操作画像530を介して入力された操作指示を無効とし、操作権限が管理される。その結果、例えば、作業員が扉を開いて研磨ユニット3の内部にいるときに不意に研磨ユニット3が動作するようなことを防止することができる。
【0081】
なお、本実施形態では、タブレット端末機器410を用いて第2研磨ユニット3Bの操作を行う例を示したが、これには限られない。例えば、第1研磨ユニット3Aの操作を行う場合には、他の表示部430に操作画像520を表示させ、タブレット端末機器410を介した第1研磨ユニット3Aの操作を有効にし、表示部510を介した第1研磨ユニット3Aの操作を無効にすることができる。また、研磨ユニット3以外の他のユニットについても同様にタブレット端末機器410を介して操作可能にすることができる。
以上説明したように、本発明は以下の形態を有する。
[形態1]
基板を処理するために用いられる複数の部品と、
前記複数の部品を収容する筐体と、
前記筐体内部に設けられた、前記複数の部品とは異なる複数の識別部材と、
前記筐体の扉の筐体内部側に設けられた画像撮像部と、
前記画像撮像部によって撮像された画像に前記複数の識別部材の少なくとも一部が含まれない場合に、前記複数の部品の動作を停止させる動作制御部と、
を備えることを特徴とする基板処理装置。
[形態2]
形態1に記載の基板処理装置において、さらに、
前記画像撮像部とは異なる他の画像撮像部を備え、
前記動作制御部は、前記複数の部品の動作を停止させている状態において、前記他の画像撮像部によって撮像された画像に前記複数の識別部材が含まれる場合に、前記複数の部品の動作を許可する、
ことを特徴とする基板処理装置。
[形態3]
形態1又は2に記載の基板処理装置において、
前記他の画像撮像部は、可搬性を有し、前記扉が開かれた状態で前記筐体内部を撮像可能な画像撮像部である、
ことを特徴とする基板処理装置。
[形態4]
形態3に記載の基板処理装置において、さらに、
前記複数の部品を操作するための操作画像が表示される表示部を備え、
前記他の画像撮像部が搭載された機器は、前記表示部に表示される操作画像が表示される他の表示部を備え、
前記動作制御部は、前記他の表示部に前記操作画像が表示されている際には、前記他の表示部に表示されている前記操作画像を介して入力された操作指示を有効とし、前記表示部に表示されている前記操作画像を介して入力された操作指示を無効とする、
ことを特徴とする基板処理装置。
[形態5]
形態1〜4のいずれか1項に記載の基板処理装置において、
前記識別部材は、前記扉が閉じられた状態において、前記画像撮像部の撮像領域内に含まれ、前記画像撮像部に向いた面に、数字、文字、バーコード、QRコード(登録商標)、及び図形、の少なくとも1つの識別子が形成される、
ことを特徴とする基板処理装置。
[形態6]
形態5に記載の基板処理装置において、
前記動作制御部は、記憶部から前記識別子を読み出し、前記画像撮像部によって撮像された画像と、前記読み出した識別子とのパターンマッチングを行うことによって、前記画像撮像部によって撮像された画像に前記複数の識別部材が含まれるか否かを判定する、
ことを特徴とする基板処理装置。