特許第6371611号(P6371611)IP Force 特許公報掲載プロジェクト 2022.1.31 β版

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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】6371611
(24)【登録日】2018年7月20日
(45)【発行日】2018年8月8日
(54)【発明の名称】インプラント及びその製造方法
(51)【国際特許分類】
   A61L 27/30 20060101AFI20180730BHJP
   A61L 27/40 20060101ALI20180730BHJP
   A61C 8/00 20060101ALI20180730BHJP
【FI】
   A61L27/30 100
   A61L27/40
   A61C8/00 Z
【請求項の数】7
【全頁数】12
(21)【出願番号】特願2014-139003(P2014-139003)
(22)【出願日】2014年7月4日
(65)【公開番号】特開2016-16018(P2016-16018A)
(43)【公開日】2016年2月1日
【審査請求日】2017年5月25日
(73)【特許権者】
【識別番号】391003668
【氏名又は名称】トーヨーエイテック株式会社
(73)【特許権者】
【識別番号】504136568
【氏名又は名称】国立大学法人広島大学
(74)【代理人】
【識別番号】110001427
【氏名又は名称】特許業務法人前田特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】二川 浩樹
(72)【発明者】
【氏名】峯 裕一
(72)【発明者】
【氏名】中谷 達行
(72)【発明者】
【氏名】岡本 圭司
(72)【発明者】
【氏名】原 伸太郎
【審査官】 菊池 美香
(56)【参考文献】
【文献】 特開2014−004166(JP,A)
【文献】 特開2003−310744(JP,A)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
A61L 27/30
A61C 8/00
A61L 27/40
CAplus/MEDLINE/EMBASE/BIOSIS(STN)
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
基材と、
前記基材の表面に形成された炭素質膜とを備え、
前記炭素質膜に含まれる水素の量は、12原子%以上、20原子%以下であり、
前記炭素質膜におけるsp2C−C結合炭素の全炭素に対する比率は、0.42以上、0.52以下であり、sp2C−H結合炭素の全炭素に対する比率は、0.20以上、0.30以下である、インプラント。
【請求項2】
前記炭素質膜におけるsp3C−C結合炭素の全炭素に対する比率は、0.13以上、0.26以下であり、sp3C−H結合炭素の全炭素に対する比率は、0.05以上、0.12以下である、請求項1に記載のインプラント。
【請求項3】
前記炭素質膜におけるsp2/sp3比は2以上、5以下である、請求項1又は2に記載のインプラント。
【請求項4】
前記炭素質膜におけるsp2C−C/sp3C−C比は2.0以上、6.5以下である、請求項1〜3のいずれか1項に記載のインプラント。
【請求項5】
前記基材は、チタン又はチタン合金からなることを特徴とする請求項1〜のいずれか1項に記載のインプラント。
【請求項6】
前記基材は、人工歯根、義歯、歯冠修復物、人工骨又は人工関節である請求項1〜のいずれか1項に記載のインプラント。
【請求項7】
基材の表面に誘導結合プラズマ支援マグネトロンスパッタ法により炭素質膜を形成する工程を備え、
前記炭素質膜を形成する工程において、スパッタリングガスをアルゴンと炭化水素との混合ガスとし、水素含有量が12原子%以上、20原子%以下で、sp2C−C結合炭素の全炭素に対する比率が、0.42以上、0.52以下であり、sp2C−H結合炭素の全炭素に対する比率が、0.20以上、0.30以下である炭素質膜を形成する、インプラントの製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、インプラント及びその製造方法に関し、特に、人工歯根及び義歯等の骨細胞との親和性が必要なインプラント及びその製造方法に関する。
【背景技術】
【0002】
現在、人工歯根等をはじめとする生体内に埋め込むインプラントの基材として、生体適合性、耐食性及び機械的強度に優れているという理由からチタン及びチタン合金が使用されている。しかし、チタン及びチタン合金からなる人工歯根を直接顎骨に固定した場合には、顎骨の骨組織再生の代謝バランスが崩れ、人工歯根のゆるみが生じたり、顎骨破壊が生じたりするおそれがあることが知られている。
【0003】
このような人工歯根の埋め込みが失敗する原因として、人工歯根の周囲において破骨細胞が誘導され、骨破壊が生じるインプラント周囲炎がある。インプラント周囲炎は、細菌感染等の微生物刺激及び過度の咬合力等の機械的刺激に起因する場合もあるが、人工歯根自体による破骨細胞の活性化によっても生じる。
【0004】
人工歯根による破骨細胞の活性化は、インプラント初期埋入時にも発生する。初期埋入時に出現した破骨細胞は、インプラントのオッセオインテグレーションを妨げ、インプラントが失敗に至る原因となる。
【0005】
このような破骨細胞の活性化は、チタン及びチタン合金が骨細胞と十分な親和性を有していないことにより生じると考えられる。骨細胞との親和性が不十分な材料の表面では、破骨前駆細胞から破骨細胞への分化が促進され、これにより骨破壊が生じてしまう。チタン及びチタン合金は比較的骨細胞との親和性が高い材料であることが知られている。しかし、親和性が十分とはいえず、埋め込み対象者の顎骨の状態及び口腔内の状態等によって人工歯根の埋め込みが失敗してしまう。
【0006】
人工歯根等のインプラントと骨細胞との親和性を向上させる方法としてダイヤモンド様薄膜(DLC膜)による被覆が試みられている(例えば、特許文献1を参照。)。DLC膜は、炭素を主成分とし、表面が平滑で不活性であるため生体との適合性に優れている。このため、骨細胞との親和性にも優れていると期待される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0007】
【特許文献1】特開2002−204825号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0008】
しかしながら、インプラントと骨細胞との親和性は、破骨細胞の誘導抑制だけでなく、骨芽細胞への分化の促進という観点からも検討する必要がある。破骨前駆細胞から破骨細胞への分化を抑制できたとしても、未熟骨芽細胞から骨芽細胞への分化が抑制されたり、骨芽細胞の増殖が阻害されたりすると、インプラントのオッセオインテグレーションは促進されない。DLC膜が骨芽細胞への分化にどのような影響を与えるかについては、未だ明確になっていない。
【0009】
本開示は、本願発明者らの検討により得られた骨芽細胞への分化にDLC膜が与える影響に関する知見に基づき、破骨細胞への誘導を抑制すると共に、骨芽細胞への分化を促進するインプラントを実現できるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0010】
インプラントの一態様は、基材と、基材の表面に形成された炭素質膜とを備え、炭素質膜に含まれる水素の量は、12原子%以上、20原子%以下である。
【0011】
インプラントの一態様において、炭素質膜におけるsp2/sp3比は2以上、5以下とすることができる。
【0012】
インプラントの一態様において、炭素質膜におけるsp2C−C/sp3C−C比は2.0以上、6.5以下とすることができる。
【0013】
インプラントの一態様において、チタン又はチタン合金とすることができる。
【0014】
インプラントの一態様において、基材は、人工歯根、義歯、歯冠修復物、人工骨又は人工関節とすることができる。
【0015】
インプラントの製造方法の一態様は、基材の表面に誘導結合プラズマ支援マグネトロンスパッタ法により炭素質膜を形成する工程を備え、炭素質膜を形成する工程において、スパッタリングガスをアルゴンと炭化水素との混合ガスとし、水素含有量が12原子%以上、20原子%以下の炭素質膜を形成する。
【発明の効果】
【0016】
本開示に係る炭素質薄膜及びその製造方法によれば、破骨細胞への誘導を抑制すると共に、骨芽細胞への分化を促進するインプラントを実現できる。
【図面の簡単な説明】
【0017】
図1】例示のインプラント用材料を示す断面図である。
図2】成膜装置の一例を示す図である。
図3】TRAPの発現強度を示すグラフである。
図4】カテプシンKの発現強度示すグラフである。
図5】タイプIコラーゲンの発現強度を示すグラフである。
図6】タイプIコラーゲンの発現強度と水素含有量との関係を示すグラフである。
図7】タイプIコラーゲンの発現強度とsp2C−C/sp3C−C比との関係を示すグラフである。
図8】タイプIコラーゲンの発現強度とsp2/sp3比との関係を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【0018】
本実施形態においてインプラントとは、人工歯根だけでなく、義歯、歯冠修復材料及び義歯修復材料等を含む。また、歯科用だけでなく、生体内に埋め込まれる、人工骨及び人工関節等の骨細胞と親和性が必要とされる器具を含む。
【0019】
炭素質膜とは、ダイヤモンド様膜(DLC膜)に代表されるsp2炭素−炭素結合(グラファイト結合)及びsp3炭素−炭素結合(ダイヤモンド結合)を含む膜である。DLC膜のようなアモルファス状態の膜であっても、ダイヤモンド膜のような結晶状態の膜であってもよい。
【0020】
図1は、本実施形態に係るインプラントの断面構成を示している。基材10の表面に膜厚が0.005μm〜3μm程度の炭素質膜20が形成されている。炭素質膜20は、水素を含むDLC膜である。また、sp2炭素−炭素(C−C)結合及びsp3炭素−炭素(C−C)結合、sp2炭素−水素(C−H)結合及びsp3炭素−水素(C−H)結合を含んでいる。
【0021】
炭素質膜20における水素含有量は、12原子%以上、好ましくは13原子%以上、20原子%以下、好ましくは18原子%以下である。炭素質膜20における水素濃度は、実施例において詳細に述べる高分解弾性反跳粒子検出(High Resolution-Elastic Recoil Detection Analysis、HR−ERDA)法により測定することができる。なお、原子%とは物質全体の原子数を100とした場合における当該元素の原子数を表す。
【0022】
炭素質膜20におけるsp2C−C/sp3C−C比は2.0以上、好ましくは2.5以上、6.5以下、好ましくは6以下である。炭素質膜20におけるsp2/sp3比は2以上、好ましくは2.4以上、5以下、好ましくは4以下である。sp2/sp3比は、sp2C−C成分とsp2C−H成分との和を、sp3C−C成分とsp3C−H成分との和で割った値である。
【0023】
炭素質膜20におけるsp2C−C結合炭素の全炭素に対する比率は、0.42以上、好ましくは0.45以上、0.52以下、好ましくは0.49以下とすることができる。炭素質膜20における全炭素に対するsp3C−C結合炭素の比率は、0.13以上、0.26以下とすることができる。炭素質膜20における全炭素に対するsp2C−H結合炭素の比率は0.20以上、0.30以下とすることができる。炭素質膜20における全炭素に対するsp3C−H結合炭素の比率は0.05以上、0.12以下とすることができる。
【0024】
sp2C−C成分、sp2C−H成分、sp3C−C成分、及びsp3C−H成分は、それぞれ、X線光電子分光(XPS)法により求めた炭素の1s(C1s)ピークをカーブフィッティング処理して求めることができる。詳細は実施例において説明する。
【0025】
インプラント用材料は、骨細胞との親和性が非常に重要である。骨細胞との親和性は、破骨前駆細胞から破骨細胞への誘導の抑制と、未熟骨芽細胞から骨芽細胞への分化の促進及び骨芽細胞の増殖の促進との両方の観点から評価する必要がある。
【0026】
基材の表面に炭素質膜を形成し且つ炭素質膜に含まれる水素含有量を12原子%以上、20原子%以下とすることにより、破骨細胞への誘導の抑制と、骨芽細胞への分化の促進及び骨芽細胞の増殖の促進とを実現することができることを本願発明者らは見出した。
【0027】
炭素質膜の水素含有量を適切な値とすることにより、炭素質膜が吸着水を補足しやすくなり、骨芽細胞への分化の促進及び骨芽細胞の増殖の促進と、破骨細胞への誘導の抑制とが生じやすくなると考えられる。
【0028】
炭素質膜は、sp2C−C成分の比率を高くし、sp2C−C/sp3C−C比を2.0以上、6.5以下とすることができる。これにより、骨芽細胞への分化の促進及び骨芽細胞の増殖の促進と、破骨細胞への誘導の抑制という効果をより高くすることができる。また、sp2/sp3比が比較的高い炭素質膜を用いることにより、基材と炭素質膜との密着性が向上するという利点も得られる。
【0029】
本実施形態のインプラント用材料は基材の表面を炭素質膜によって覆うため、基材がどのような材質であっても優れた骨組織との親和性を示す。このため、基材は強度等の特性を満たしていればどのような材質であってもよい。例えば、チタン及びチタン合金等をはじめとする金属、樹脂又はセッラミック等を用いることができる。また、人工歯根をはじめ、義歯、人工骨及び人工関節等の骨細胞と親和性が必要とされる種々のインプラントに適用することが可能である。
【0030】
炭素質膜は、特に限定されず、化学気相堆積法(CVD法)、スパッタ法、プラズマイオン注入法、イオンプレーティング法、アークイオンプレーティング法、イオンビーム蒸着法及びレーザーアブレーション法等により形成することができる。中でも、スパッタ法が好ましく、誘導結合型放電プラズマ(ICP)支援パルスマグネトロンスパッタ法がより好ましい。スパッタ法の場合には、スパッタリング用のプロセスガスに炭化水素を加えることにより、水素を含む炭素質膜を成膜できる。炭化水素は特に限定されないが、沸点が低いものが好ましい。具体的には、メタン、エタン、プロパン、アセチレン、ベンゼン等を用いることができる。また、フッ素と水素とを含むフルオロカーボン等を用いることもできる。炭化水素の炭素と水素との構成比率を変えることにより、炭素質膜の水素含有量を容易に制御することができる。
【0031】
図2はICP支援パルスマグネトロンスパッタ装置の一例を示している。図2に示すように、チャンバ221の下部に磁石を内蔵したターゲット台211が設けられ、ターゲット台211の上にターゲット207が配置されている。チャンバ221の上方には、電気的に浮いた(フローティング)状態であり、バイアス電圧を印加できるワークホルダ210が設けられ、ワークホルダ210にはワーク208が保持されている。ターゲット台211の内部にはターゲット207の中心部と対応する位置に中心磁石201が配置され、ターゲット207の周囲と対応する位置には外周磁石202が等間隔で配設されている。中心磁石201はS極をターゲット207側にして配置されており、外周磁石202はN極をターゲット207側にして配置されている。
【0032】
チャンバ221の外壁の外側には、4つの外周磁石のそれぞれに対応して4つの第1外部磁石203及び4つの第2外部磁石204が重なるように配設されている。第1外部磁石203及び第2外部磁石204は、それぞれN極を中心磁石201側にして配置されている。第1外部磁石203及び第2外部磁石204はそれぞれ補助磁石として機能する。
【0033】
チャンバ221の内部には、補助電極として機能するコイル205が設けられている。これによりプロセスガスを効率良くプラズマ化することができる。コイル205は、スパイラル状に巻かれ、一端がマッチング回路212を介して高周波電源213と接続されている。図2においては、コイル205の他端はフリーでどこにも接続されてないが、アース又は高周波電源と接続されていてもよい。
【0034】
ターゲット台211には、ローパスフィルター214を介してスパッタ電源215が接続されている。ワークホルダ210には、ローパスフィルター216を介してバイアス電源218が接続されている。スパッタ電源215にはパルス電源を用いることができる。
【0035】
基材の表面に形成する炭素質膜の厚さは特に限定されるものではないが、好ましくは0.005μm〜3μm、より好ましくは0.01μm〜1μmの範囲である。
【0036】
また、炭素質膜は基材の表面に直接形成することができるが、基材と炭素質薄膜とをより強固に密着させるために、基材と炭素質薄膜との間に中間層を設けてもよい。中間層の材質としては、基材の種類に応じて種々のものを用いることができるが、珪素(Si)と炭素(C)、チタン(Ti)と炭素(C)又はクロム(Cr)と炭素(C)からなるアモルファス膜等の公知のものを用いることができる。その厚さは特に限定されるものではないが、好ましくは0.005μm〜0.3μm、より好ましくは0.01μm〜0.1μmの範囲である。中間層は、例えば、スパッタ法、CVD法、プラズマCVD法、溶射法、イオンプレーティング法又はアークイオンプレーティング法等を用いて形成すればよい。中間層は炭素質膜と異なる方法で成膜してもよいが、同じ方法で成膜すれば、1つの成膜装置で中間層と炭素質膜とを連続して成膜することができる。
【0037】
炭素質膜は、炭素と水素以外にシリコン(Si)又はフッ素(F)等が添加されていてもよい。また、酸素又は窒素等の原子が導入されていてもよい。但し、炭素と水素以外の元素が含まれていない構成とすることができる。なお、ここでいう他の元素を含まない構成とは、意図せずに混入する不純物が含まれている構成を含む。
【0038】
以下に、本実施形態のインプラント用材料について実施例を用いてさらに詳細に説明する。
【0039】
<基材>
炭素質膜を形成する基材として、純チタン(JIS2種)からなる直径20mmのディスクを用いた。
【0040】
<スパッタ法>
図2に示すIPC支援パルスマグネトロンスパッタ装置を用いた。ターゲットは、グラファイトとした。補助電極に印加する高周波電力は20Wとし、周波数は13.56MHzとた。
【0041】
まず、基材の表面に10〜20nmの中間層を形成した。中間層は、シリコン含有DLC(Si−DLC)膜とした。中間層を成膜する際は、チャンバ内にテトラメチルシラン(Si(CH34)ガスを0.3Paとなるように導入した。ターゲットには−2kVの直流電圧を印加した。
【0042】
次に、炭素質膜としてDLC膜を成膜した。DLC膜を成膜する際は、チャンバ内にプロセスガスとしてアルゴン又はアルゴンと炭化水素との混合ガスを0.5Paとなるように導入した。混合ガスの場合、アルゴンと炭化水素との分圧は1/9とした。ターゲットには、200kHz又は350kHzの直流パルス電圧を印加した。基材には−100Vのバイアス電圧を印加した。成膜時間は60分とした。
【0043】
<CVD法>
プラズマCVD装置を用いた。まず、基材の表面に中間層を形成した。中間層はSi−DLC膜とした。中間層の形成にはSi(CH34を用いた。次に、DLC膜を形成した。プロセスガスにはベンゼン(C66)を用いた。成膜時のチャンバ内の圧力は0.2Paとし、基材のバイアス電圧は−2kVとした。フィラメント電力は300Wとした。
【0044】
<水素含有量の評価>
DLC膜中の水素含有量は、高分解能ラザフォード後方散乱分析装置(神戸製鋼所製HRBS-500)を用いた高分解弾性反跳粒子検出(HR−ERDA)法により行った。DLC膜の表面にN2+イオンを衝突させ、水素原子の散乱を半導体検出器により検出した。イオンは、1原子核当たりのエネルギーを240keVとし、試料面の法線に対して70°の角度で入射させた。検出の散乱角は30°とした。
【0045】
得られたデータに対して水素ピークにおける高エネルギー側のエッジの中点を基準として横軸のチャネルを反跳イオンのエネルギーに変換する処理及びシステムのバックグラウンドを差し引く処理を行った。処理後のデータについてシミュレーションフィッテングを行い、3nm〜5nmまでの範囲について水素のデプスプロファイルを求めた。さらに、DLC膜に含まれる全原子に対する水素原子の割合(原子%)に換算した。この際に試料の構成元素は炭素と水素のみであると仮定した。デプスプロファイルの横軸をnm単位に換算する際には、DLC膜の密度はグラファイトの密度(2.25g/cm3)であるとした。定量値は、スパッタリング法により形成した既知濃度のDLC膜を測定することにより校正した。また、最表面に炭化水素からなる汚染層の存在を仮定した。汚染層の密度はパラフィンの密度(0.89g/cm3)とした。
【0046】
<炭素組成の評価>
DLC膜の炭素組成は、X線光電子分光法により測定した。測定には、日本電子製のXPS装置JPS9010を用いた。XPS測定の条件は、試料に対する検出角度を90度とし、X線源にはAlを用い、X線照射エネルギーを100Wとした。1回の測定時間は0.2msとし、1つの試料について32回測定を行った。炭素中を進む光電子の非弾性平均自由工程を考慮すると、表面から9nmまでの範囲について測定されると考えられる。さらに、光電子は表面から深くなるにつれて脱出しにくくなり、光電子の検出は表面から深くなるほど減衰する。従って、今回測定された情報の50%は表面からおよそ1.5nmまでの最表層の情報で占められていると考えられる。
【0047】
得られた炭素1sスペクトルをカーブフィッティングによりsp2C−C結合成分、sp3C−C結合成分、sp2C−H結合成分、sp3C−H結合成分に分割し、ピーク面積を求めた。各成分のピーク面積を炭素1sの総ピーク面積で割った値を、各成分の存在比とした。sp2C−C結合成分の存在比と、sp2C−H結合成分の存在比との和をsp2成分存在比とし、sp3C−C結合成分の存在比と、sp3C−H結合成分の存在比との和をsp3成分存在比とした。sp2成分存在比をsp3成分存在比で割った値を、sp2/sp3比とした。
【0048】
カーブフィッティングの際には、sp2C−C結合のピーク位置を284.2eV〜284.3eV、sp3C−C結合のピーク位置を283.7eV〜283.8eV、sp2C−H結合のピーク位置をp285.3eV〜285.4eV、sp3C−H結合のピーク位置を284.7eV〜284.8eVとした。
【0049】
<適合性の評価>
−骨破壊細胞分化の評価−
直径20mmのウェル内において試料と破骨前駆細胞とを破骨細胞分化誘導因子(Receptor Activator of NF-kB Ligand:RANKL)の存在下において接触させ、細胞培養した。破骨前駆細胞は、RANKLの存在により破骨細胞へと分化することが確立されているセルラインRAW264.7細胞 (TIB-71, ATCC)を用いた。細胞は1ウェル当たり5×104個播種した。培養培地には10%ウシ胎仔血清(FBS)、1.5g/Lの炭酸ナトリウム及び50ng/mLのRANKL(PeproTech社製:sRANKL)を添加したα変法イーグル培地(α−MEM)を用いた。培養温度は37℃とし、5%二酸化炭素雰囲気で培養した。
【0050】
細胞を3日間培養した後、分化関連遺伝子である酒石酸抵抗性酸性ホスファターゼ(Trap)及びカテプシンK(cathepsin K)の発現を定量RT−PCR法を用いて定量することにより、破骨細胞への分化を評価した。βアクチンを内部標準遺伝子として用いて相対定量した。
【0051】
−骨芽細胞分化の評価−
直径20mmのウェル内において試料とマウス骨芽細胞様細胞株MC3T3−E1細胞(以下、MC3T3−E1細胞という。)とを接触させて培養した。細胞は1ウェル当たり5×104個播種した。培養培地には10%ウシ胎仔血清(FBS)、L−グルタミン、混合抗生物質(Invitrogen社製)及び50μg/mlのアスコルビン酸を添加したα変法イーグル培地(α−MEM)を用いた。培養温度は37℃とし、5%二酸化炭素雰囲気で培養した。
【0052】
細胞を3日、7日及び14日間培養した後、骨分化マーカー遺伝子であるタイプIコラーゲン(CoI−I)の発現について評価した。具体的には、培養したMC3T3−E1細胞からTRIzol試薬(Invitrogen社製)を用いてRNAを抽出した後、ReverTra Ace reverse transcriptase(東洋紡社製)を用いてcDNAを作成した。作成したcDNAを、定量RT−PCR(Rela-time Quantitative Reverse Transcriptase-Polymerase Chain Reaction)法により評価した。βアクチンを内部標準遺伝子として用いて相対定量した。
【0053】
(実施例1)
スパッタ法により基材の表面にDLC膜を成膜した。プロセスはアルゴンと炭化水素との混合ガスとした。炭化水素はメタン(CH4)とした。スパッタ電源にはパルス電源を用いパルス周波数は200kHzとした。水素含有量は17.8原子%であった。
【0054】
(実施例2)
プロセスガスに用いる炭化水素をアセチレン(C24)とした他は実施例1と同様にしてDLC膜を成膜した。水素含有量は13.5原子%であった。
【0055】
(比較例1)
DLC膜を成膜していない基材を比較例1とした。
【0056】
(比較例2)
CVD法により基材の表面にDLC膜を成膜した。水素含有量は20.9原子%であった。
【0057】
(比較例3)
プロセスガスをアルゴンガスとし、パルス周波数を350Hzとした他は実施例1と同様にしてDLC膜を成膜した。水素含有量は1.1原子%であった。
【0058】
(比較例4)
プロセスガスをアルゴンガスとした他は実施例1と同様にしてDLC膜を成膜した。水素含有量は0.8原子%であった。
【0059】
表1に各実施例及び比較例の製造条件、水素含有量及び炭素組成をまとめて示す。プラズマCVDにより成膜した比較例2は水素含有量が高く、成膜時に炭化水素を供給していない比較例3及び4は水素含有量が低くなっている。また、水素含有量が高くなるほど、sp2/sp3存在比が大きくなった。
【0060】
【表1】
【0061】
図3及び図4は、それぞれ破骨細胞分化マーカーであるTRAP及びカテプシンK遺伝子の発現を示している。縦軸は比較例1の値を1として規格化している。DLC膜を形成した実施例1及び2並びに比較例2〜4は、DLC膜を形成していない比較例1と比べ、TRAP及びカテプシンKの発現が抑えられている。
【0062】
図5は、骨分化マーカーであるタイプIコラーゲンの発現を示している。縦軸は培養3日目の比較例1の値を1として規格化している。培養7日目までは、各実施例及び比較例の間でタイプIコラーゲンの発現に大きな差は認められない。しかし、培養14日目には、水素含有量が高いDLC膜を形成した実施例1(発現強度8.5)及び2(発現強度6.1)並びに比較例2(発現強度4.5)において、DLC膜を形成していない比較例1よりもタイプIコラーゲンの発現が高くなったのに対し、水素含有量が低いDLC膜を形成した比較例3(発現強度2.0)及び4(発現強度0.5)においては、比較例1(発現強度3.5)よりもタイプIコラーゲンの発現が低くなった。特に、タイプIコラーゲンの発現は、実施例1及び2において特に高くなった。
【0063】
図6は、DLC膜の水素含有量と、タイプIコラーゲンの発現との関係を示している。水素含有量が12原子%以上、20原子%以下の範囲において、培養14日目のタイプIコラーゲンの発現強度は6を越えている。
【0064】
図7は、DLC膜のsp2C−C/sp3C−C比と、タイプIコラーゲンの発現との関係を示している。sp2C−C/sp3C−C比を2.0以上、6.5以下の範囲において、培養14日目のタイプIコラーゲンの発現強度は6を越えている。
【0065】
図8は、DLC膜のsp2/sp3比と、タイプIコラーゲンの発現との関係を示している。sp2/sp3比が2以上、5以下の範囲において、培養14日目のタイプIコラーゲンの発現強度は6を越えている。
【産業上の利用可能性】
【0066】
本発明に係るインプラント用材料及びその製造方法は、破骨細胞への誘導を抑制すると共に、骨芽細胞への分化を促進するインプラント用材料を実現でき、特に、人工歯根及び義歯等の骨細胞との親和性が必要な歯科用材料及びその製造方法等として有用である。
【符号の説明】
【0067】
10 基材
20 炭素質膜
201 中心磁石
202 外周磁石
203 第1外部磁石
204 第2外部磁石
205 コイル
207 ターゲット
208 ワーク
210 ワークホルダ
211 ターゲット台
212 マッチング回路
213 高周波電源
214 ローパスフィルター
215 スパッタ電源
216 ローパスフィルター
218 バイアス電源
221 チャンバ
図1
図2
図3
図4
図5
図6
図7
図8