特許6641682光学フィルムの位相差の測定方法、光学フィルムの製造方法、光学フィルム位相差の測定装置、及び光学フィルムの製造装置

発明の名称　光学フィルムの位相差の測定方法、光学フィルムの製造方法、光学フィルム位相差の測定装置、及び光学フィルムの製造装置

出願人　日本ゼオン株式会社　（識別番号 229117）

　　　　特許公開件数ランキング 332 位（93件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 183 位（156件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-6641682

公報発行日　2020年2月5

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-B9-6641682

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