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公報発行日 2020年10月14
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【図1】干渉法により試験対象物の光学面の形状を求める本発明による測定装置の例示的な実施形態を示す。
【図2】図1に示す測定装置における試験対象物経路長と参照経路長との経路長差の分布の図を示す。
【図3】図1に示す測定装置の照明瞳面での本発明による強度分布の例示的な実施形態を示す。
【図4】図3に示す強度分布を用いて生成されたマルチフリンジインターフェログラムの強度曲線を示す。
【図5】図1に示す測定装置の照明瞳面での本発明による強度分布のさらに別の例示的な実施形態と、この強度分布を用いて生成されたマルチフリンジインターフェログラムの強度曲線とを示す。
【図6】図1に示す測定装置の照明瞳面での本発明による強度分布のさらに別の例示的な実施形態と、この強度分布を用いて生成されたマルチフリンジインターフェログラムの強度曲線とを示す。
【図7】図1に示す測定装置の照明瞳面での本発明による強度分布のさらに別の例示的な実施形態を示す。
【図8】図1に示す測定装置の照明瞳面での本発明による強度分布のさらに別の例示的な実施形態を示す。
【図9】図1に示す測定装置の照明瞳面での本発明による強度分布のさらに別の例示的な実施形態を示す。
【図10】図1に示す測定装置の照明瞳面での本発明による強度分布のさらに別の例示的な実施形態を示す。
【図11】図1に示す測定装置の照明モジュールの例示的な実施形態を示す。
【図12】図1に示す測定装置の照明モジュールのさらに別の例示的な実施形態を示す。
【図13】照明瞳面での強度分布及びそれを用いて生成されたマルチフリンジインターフェログラムの強度曲線の比較例を示す。
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