発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

前記従来の技術には、以下の課題が残されている。
すなわち、従来のＸ線透過検査装置では、異物のサイズや位置が予め分かっている標準試料を用いてＸ線源及びＸ線検出器の調整（キャリブレーション等）を行いたい場合、移動する試料に対向するようにＸ線源とＸ線検出器とが設置されているため、試料の代わりに標準試料を試料と同じ位置に設置した状態で、標準試料の検査を行う必要があった。また、標準試料の検査後に、試料を元の位置に設置し直す作業も必要であった。このため、試料と標準試料との交換作業が必要になり、検査作業を長く中断させなければならないという不都合があった。特に、帯状の試料を検査する場合に、ロールｔｏロールで連続して試料を流して検査を行うため、途中で検査を中断して試料を標準試料に取り替え、検査することが困難であった。 本発明は、前述の課題に鑑みてなされたもので、容易に標準試料による調整が可能なＸ線透過検査装置を提供することを目的とする。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明によれば、以下の効果を奏する。
すなわち、本発明に係るＸ線透過検査装置によれば、Ｘ線源及びＸ線検出器と、試料及び標準試料とを相対的に移動可能で、Ｘ線源及びＸ線検出器が試料に対向する配置状態から標準試料移動機構により移動される標準試料に対向する配置状態へ変更可能な配置変更機構を備えているので、試料と標準試料との交換作業が不要となり、複数又は長尺な試料の検査途中でも、試料を検査ラインから取り外す必要がなく、容易にキャリブレーション等の調整が可能になる。