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株式会社日立ハイテクサイエンス
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（
2023年：第1639位 14件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第1131位 17件
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2023年：第621位 41件）
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株式会社日立ハイテクサイエンスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7581158 | クロマトグラフのデータ処理装置、およびクロマトグラフ | 2024年11月12日 | |
| 特許 7578848 | 荷電粒子ビーム装置、及び荷電粒子ビーム装置の制御方法 | 2024年11月 6日 | |
| 特許 7562324 | Ｘ線分析装置 | 2024年10月 7日 | |
| 特許 7560260 | 液体クロマトグラフ、および液体クロマトグラフの制御方法 | 2024年10月 2日 | |
| 特許 7555807 | 赤外レーザ顕微鏡 | 2024年 9月25日 | |
| 特許 7554542 | 集束イオンビーム装置 | 2024年 9月20日 | |
| 特許 7547586 | アミノ酸の検出方法、およびクロマトグラフ | 2024年 9月 9日 | |
| 特許 7545001 | 顕微鏡システム及びこの顕微鏡システムを用いた試料の観察方法 | 2024年 9月 3日 | |
| 特許 7541845 | 液体クロマトグラフ装置 | 2024年 8月29日 | |
| 特許 7540099 | 荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビーム装置の調整方法 | 2024年 8月26日 | |
| 特許 7536475 | 液体クロマトグラフ装置 | 2024年 8月20日 | |
| 特許 7479810 | 液体金属イオン源及び集束イオンビーム装置 | 2024年 5月 9日 | |
| 特許 7444754 | プローブ顕微鏡およびプローブ顕微鏡の光軸調整方法 | 2024年 3月 6日 | |
| 特許 7437544 | クロマトグラフのデータ処理装置、データ処理方法、およびクロマトグラフ | 2024年 2月22日 | |
| 特許 7425231 | 試料片移設装置 | 2024年 1月30日 |
17 件中 1-15 件を表示
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7581158 7578848 7562324 7560260 7555807 7554542 7547586 7545001 7541845 7540099 7536475 7479810 7444754 7437544 7425231
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