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株式会社日立ハイテクサイエンス

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 ■ 2026年 出願公開件数ランキング    第1515位 11件 (上昇2025年:第2221位 9件)

 ■ 2026年 特許取得件数ランキング    第1541位 9件 (下降2025年:第1286位 15件)

(ランキング更新日:2026年10月9日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 7928911 偏光画像取得装置及び偏光画像取得装置付き熱分析装置 2026年10月 2日
特許 7929177 試料観察システム 2026年10月 2日
特許 7925768 X線分析装置 2026年 9月28日
特許 7925792 X線透過検査装置及びX線透過検査方法 2026年 9月28日
特許 7921857 前処理装置、分析装置、および制御方法 2026年 9月15日
特許 7922264 荷電粒子ビーム装置、及び荷電粒子ビーム装置の制御方法 2026年 9月15日
特許 7850209 液体クロマトグラフ、および液体クロマトグラフの制御方法 2026年 4月22日
特許 7829343 アミノ酸分析方法及び液体クロマトグラフ装置 2026年 3月13日
特許 7797324 分光分析システム及び分光分析方法 2026年 1月13日

9 件中 1-9 件を表示

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7928911 7929177 7925768 7925792 7921857 7922264 7850209 7829343 7797324

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