特許 6800535 ブロックゲージ用治具及び押し出し器具

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】6800535

(24)【登録日】2020年11月27日

(45)【発行日】2020年12月16日

(54)【発明の名称】ブロックゲージ用治具及び押し出し器具

(51)【国際特許分類】

   G01B 3/32 20060101AFI20201207BHJP

【ＦＩ】

   G01B3/32

【請求項の数】3

【全頁数】11

(21)【出願番号】特願2017-55910(P2017-55910)

(22)【出願日】2017年3月22日

(65)【公開番号】特開2018-159579(P2018-159579A)

(43)【公開日】2018年10月11日

【審査請求日】2020年1月9日

(73)【特許権者】

【識別番号】000134051

【氏名又は名称】株式会社ディスコ

(74)【代理人】

【識別番号】100075384

【弁理士】

【氏名又は名称】松本 昂

(74)【代理人】

【識別番号】100172281

【弁理士】

【氏名又は名称】岡本 知広

(74)【代理人】

【識別番号】100206553

【弁理士】

【氏名又は名称】笠原 崇廣

(72)【発明者】

【氏名】片山 靖教

(72)【発明者】

【氏名】蔦永 裕行

【審査官】 續山 浩二

(56)【参考文献】

【文献】 実開昭４９−１０３４５７（ＪＰ，Ｕ）

【文献】 特開２００１−０１２９４０（ＪＰ，Ａ）

【文献】 米国特許第０６０１４８８６（ＵＳ，Ａ）

【文献】 実開昭５６−９２８０１（ＪＰ，Ｕ）

【文献】 特開２０１６−１３８８６０（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１０−８５３０３（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１４−１７４１１１（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｇ０１Ｂ ３／３２

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

測長器具の校正に用いられるブロックゲージの被測定箇所を規定するブロックゲージ用治具であって、
該ブロックゲージ用治具は、ブロックゲージを収容する筐体と、該筐体に設けられ該筐体に対してブロックゲージを出し入れ可能にする開口部と、該筐体に収容された該ブロックゲージの被測定箇所を規定するように該筐体の一部が切り欠かれて形成された一対の切り欠き部と、を備え、
該測長器具の校正に用いられる該ブロックゲージの一対の面が該一対の切り欠き部からそれぞれ露出することを特徴とするブロックゲージ用治具。

【請求項2】

該ブロックゲージに印字されている長さ表示文字を露出する窓部をさらに備えることを特徴とする請求項１記載のブロックゲージ用治具。

【請求項3】

請求項１及び請求項２に記載された該ブロックゲージ用治具に収容されたブロックゲージを押し出す押し出し器具であって、
基台と、該基台から突出した突起と、を備え、
該突起は、該ブロックゲージ用治具の該開口部に対向する面に形成された挿通穴に突き通されることで該ブロックゲージ用治具に収容された該ブロックゲージを該ブロックゲージ用治具から押し出す機能を有することを特徴とする押し出し器具。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、デジタルマイクロメータ等の測長器具を校正する際に用いられるブロックゲージの被測定箇所を規定する治具及び該治具に収容されたブロックゲージを押し出す押し出し器具に関する。

【背景技術】

【0002】

機械加工された部品等の寸法を測定する測長器具として、製造現場では広くデジタルマイクロメータ（特許文献１参照）が使用される。該デジタルマイクロメータは、使用される場所の温度等の測定環境、経時変化によって誤差が生じる場合がある。そのため、測定作業の前に該デジタルマイクロメータの校正を実施する必要がある。

【0003】

ここで、校正とは、該デジタルマイクロメータの表示する寸法と、長さの標準となる物の長さと、の差を測定することをいう。該デジタルマイクロメータの校正には、長さの標準となるブロックゲージが用いられる。高い精度で長さが規定された該ブロックゲージを該デジタルマイクロメータで測定することで該デジタルマイクロメータを校正し、必要に応じてデジタルマイクロメータが真の値を表示するようにデジタルマイクロメータを調整できる。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】実開昭５５−１７４１０１号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

ブロックゲージをデジタルマイクロメータで測定して該デジタルマイクロメータを校正する作業は、一般的に該デジタルマイクロメータを使用する作業者や校正担当者等の特定の校正作業者により日常的に実施される。該校正作業者は、校正を毎回同様に実施しようとするため、ブロックゲージの特定の箇所にはマイクロゲージのアンビル及びスピンドルが繰り返し当てられやすい。すると、ブロックゲージの該特定の部分が偏って摩耗してしまう。

【0006】

摩耗が大きくなると摩耗が生じた部分はもはや校正に用いるには不向きとなる。しかし、該ブロックゲージの他の部分を使用すれば十分に校正は可能である。それにも関わらず、該校正作業者は校正の条件を維持しようとして摩耗が生じた部分を使用してしまう。そのため、該校正作業者に正しく校正作業を実施させるためには新しいブロックゲージを使用させなければならず、不経済である。

【0007】

本発明はかかる問題に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、ブロックゲージを用いた校正時にブロックゲージの被測定箇所を規定し、ブロックゲージの寿命を向上させることができるブロックゲージ用治具を提供することである。

【課題を解決するための手段】

【0008】

本発明の一態様によれば、測長器具の校正に用いられるブロックゲージの被測定箇所を規定するブロックゲージ用治具であって、該ブロックゲージ用治具は、ブロックゲージを収容する筐体と、該筐体に設けられ該筐体に対してブロックゲージを出し入れ可能にする開口部と、該筐体に収容された該ブロックゲージの被測定箇所を規定するように該筐体の一部が切り欠かれて形成された一対の切り欠き部と、を備え、該測長器具の校正に用いられる該ブロックゲージの一対の面が該一対の切り欠き部からそれぞれ露出することを特徴とするブロックゲージ用治具が提供される。

【0009】

本発明の一態様において、該ブロックゲージ用治具は、該ブロックゲージに印字されている長さ表示文字を露出する窓部をさらに備えていてもよい。また、該ブロックゲージ用治具に収容されたブロックゲージを押し出す押し出し器具であって、基台と、該基台から突出した突起と、を備え、該突起は、該ブロックゲージ用治具の該開口部に対向する面に形成された挿通穴に突き通されることで該ブロックゲージ用治具に収容された該ブロックゲージを該ブロックゲージ用治具から押し出す機能を有することを特徴とする押し出し器具もまた本発明の一態様である。

【発明の効果】

【0010】

本発明の一態様に係るブロックゲージ用治具は、ブロックゲージを収容できる筐体を有する。該筐体には該ブロックゲージを出し入れできる開口部と、該ブロックゲージの測定箇所を規定する一対の切り欠き部と、が形成されている。該開口部を通じて該ブロックゲージ用治具に収容された該ブロックゲージは、一部が該一対の切り欠き部から露出する。

【0011】

デジタルマイクロメータ等の測長器具を校正する際は、ブロックゲージの該一対の切り欠き部に露出した部分にアンビル及びスピンドルを当てて測定する。このとき、該ブロックゲージの露出しない部分はデジタルマイクロメータの校正には使用できない。すなわち、該ブロックゲージ用治具は、デジタルマイクロメータの校正のためのブロックゲージの測定において、測定箇所を規定する。そのため、校正作業者の意思に依らずに測定箇所が制御される。

【0012】

該ブロックゲージ用治具に収容されたブロックゲージを用いたデジタルマイクロメータの校正を所定の回数行った後は、例えば、該ブロックゲージを該ブロックゲージ用治具から取り出し、他のブロックゲージ用治具に収容する。ここで、該他のブロックゲージ用治具の切り欠き部を、元のブロックゲージ用治具の切り欠き部の形成位置とは異なる位置に形成する。すると、該ブロックゲージのデジタルマイクロメータの校正に使用される箇所を変えることができる。

【0013】

このように、該ブロックゲージ用治具を用いると、校正作業者の意図に依らず該ブロックゲージのデジタルマイクロメータの校正に使用される箇所を規定できるため、ブロックゲージの摩耗していない部分を校正に使用させることができる。そのため、ブロックゲージの特定の箇所のみが摩耗したこと理由にブロックゲージを取り換える必要がなくなるため、ブロックゲージの寿命を延ばすことができる。

【0014】

したがって、本発明の一態様により、ブロックゲージを用いた校正時にブロックゲージの測定箇所を規定し、ブロックゲージの寿命を向上させることができるブロックゲージ用治具が提供される。

【図面の簡単な説明】

【0015】

【図1】ブロックゲージ用治具及びブロックゲージを模式的に示す斜視図である。

【図2】ブロックゲージを収容したブロックゲージ用治具を模式的に示す斜視図である。

【図3】ブロックゲージ用治具に収容されたブロックゲージを用いたデジタルマイクロメータの校正作業を説明する上面図である。

【図4】ブロックゲージ用治具の一例を模式的に示す斜視図である。

【図5】図５（Ａ）は、ブロックゲージを収容したブロックゲージ用治具を底部を上方に向けた状態で模式的に示す斜視図であり、図５（Ｂ）は、押し出し器具を模式的に示す斜視図である。

【図6】押し出し器具を用いたブロックゲージ用治具からのブロックゲージの取り出しを模式的に示す斜視図である。

【発明を実施するための形態】

【0016】

本発明に係る実施形態について説明する。まず、本実施形態に係るブロックゲージ用治具に収容されるブロックゲージについて図１を用いて説明する。図１には、該ブロックゲージ１が模式的に示されている。

【0017】

該ブロックゲージ１は、デジタルマイクロメータ等の測長器具の校正のために用いられる。該ブロックゲージ１は略直方体状に形成されており、該直方体を構成する１組の向かい合う平行な面が測長器具の校正に使用される。該１組の向かい合う平行な面間は極めて高い精度で互いに特定の距離となるように仕上げられており、該平行な面間の距離が長さの基準となる。ブロックゲージ１の側面には、該ブロックゲージ１が提供する基準の長さの値を示す長さ表示３が印字されている。

【0018】

ブロックゲージ１は長さの基準となるため、セラミック等の硬質で温度変化に対して体積変化の小さい材料が用いられる。しかし、該ブロックゲージ１を用いてデジタルマイクロメータを繰り返し校正していくと、該デジタルマイクロメータのアンビルまたはスピンドルが当たることでブロックゲージ１が摩耗して、該平行な面間の距離が変化してしまう。そのため、ある程度ブロックゲージ１が摩耗したときは該ブロックゲージ１の使用を終了して新しいブロックゲージ１を使用する必要がある。

【0019】

なお、ブロックゲージ１を用いた校正作業は、一般的には、デジタルマイクロメータを使用する作業者、または、校正担当者等の校正作業者が、該デジタルマイクロメータを用いた計測作業の前または途中に実施する。校正作業者は、計測を安定的に実施したいため、該校正作業を毎回同様に実施しようとする。すると、ブロックゲージ１の特定の箇所が校正作業に繰り返し使用されやすく、その箇所に偏って摩耗しやすくなる。

【0020】

摩耗の生じていない部分はその後の校正作業に使用可能であるにも関わらず、校正作業者は引き続き摩耗した部分を使用してしまうため、ブロックゲージ１の交換をする必要がある。校正に使用できる部分を残しながらブロックゲージ１を交換するのはブロックゲージの寿命を早めることになり不経済である。

【0021】

そこで、ブロックゲージ１を本実施形態に係るブロックゲージ用治具に収容して校正作業に使用する。次に、該ブロックゲージ用治具について説明する。図１には、該ブロックゲージ用治具２が模式的に示されている。

【0022】

ブロックゲージ用治具２の筐体は、略直方体状の中空構造となっており、該筐体の大きさは、該ブロックゲージ１の大きさに合わせて形成される。すなわち、該筐体は、該ブロックゲージ１を収容できる形状及び大きさに形成される。ブロックゲージ１の出し入れ時にブロックゲージ１に傷や摩耗等の損傷を生じさせないように、該筐体には、例えば、アクリル樹脂やフッ素樹脂等の材料が用いられる。そして、例えば、射出成形や３Ｄプリント等の方法で形成される。

【0023】

該ブロックゲージ用治具２の筐体には、ブロックゲージ１を出し入れ可能にする該筐体の一面にわたって形成される開口部４が形成されている。該開口部４は、例えば、該ブロックゲージ用治具２の筐体の上面に形成され、上方から該開口部４を通じてブロックゲージを該ブロックゲージ用治具２に収容できる。

【0024】

また、該ブロックゲージ用治具２の筐体には、該ブロックゲージ１の測定箇所を規定する一対の切り欠き部６が形成されている。該一対の切り欠き部６は、該切り欠き部を通してデジタルマイクロメータのアンビルまたはスピンドルを該ブロックゲージ用治具に収容されたブロックゲージ１に当てることができる大きさに形成される。

【0025】

図２に、ブロックゲージ１を収容したブロックゲージ用治具２を模式的に示す斜視図を示す。図２に示す通り、該ブロックゲージ用治具２の側面には、ブロックゲージ１の長さ表示３に対応する位置に窓８が設けられており、該窓８を通して長さ表示３が外部から視認可能となる。

【0026】

なお、収容したブロックゲージ１が校正作業者の独自の判断で容易に取り出されないようにするためには、収容されたブロックゲージ１が該開口部４からはみ出さない大きさに該筐体が形成されるのが好ましい。または、作業性を向上のためにブロックゲージ１の取り出しが容易となるよう、ブロックゲージ１が該開口部４からはみ出す大きさに該筐体が形成されてもよい。

【0027】

また、図２に示される通り、収容されたブロックゲージ１は、該一対の切り欠き部６から外部に露出する。校正作業者は、ブロックゲージ１の露出した部分を用いてデジタルマイクロメータの校正を実施する。デジタルマイクロメータの校正について、図３を用いて説明する。図３は、ブロックゲージ用治具２に収容されたブロックゲージ１を用いたデジタルマイクロメータの校正作業を説明する上面図である。

【0028】

図３に示すデジタルマイクロメータ５は、上方から見てＵ字状の部分と、該Ｕ字状の部分の一端から突出する突出部分と、を備えるフレーム１３を有する。該Ｕ字状の部分の内側の空間を挟んでフレーム１３の一方側にアンビル７と、他方側にスピンドル９と、が軸上に並ぶように配設されている。スピンドル９は、該軸方向に移動可能にフレーム１３に支持されている。

【0029】

該フレーム１３の突出部分には、該突出部分の周方向に回転可能なシンブル１５が設けられている。該シンブル１５は、機械的にスピンドル９に接続されており、該シンブル１５を回転させるとスピンドル９が該軸方向に移動する。該スピンドルと、該シンブル１５と、の間の位置の該フレーム１３の突出部には表示部１１が設けられている。表示部１１は、スピンドル９の位置に応じて該スピンドル９と、アンビル７と、の間の距離の値を表示する。

【0030】

デジタルマイクロメータ５による測長は、スピンドル９と、アンビル７と、の間に被測長物を挟み込ませることで実施される。このとき、スピンドル９と、アンビル７と、が被測長物を挟み込む力に応じて被測長物が変形する場合があるため、精度の高い測長のためには、一定の力で被測長物を挟み込むようにする必要がある。そこで、フレーム１３の突出部の先端には、該フレームの周方向に回転可能なラチェットストップ１７が設けられている。ラチェットストップ１７を回転させると、シンブル１５を回転できる。

【0031】

スピンドル９を軸方向に移動させるとき、作業者がラチェットストップ１７を持ってシンブル１５を回転させると、被測長物が挟み込まれたときに、挟み込む力が所定の大きさになるとラチェットストップ１７が空回りするようになっている。そのため、ラチェットストップ１７を持ってシンブル１５を回転させると、一定の力で被測長物が挟み込まれるようになる。

【0032】

ここで、表示部１１に表示される値には誤差が生じる場合がある。そこで、正確な測定を実施するためには、ブロックゲージ１を用いてデジタルマイクロメータ５を校正する必要がある。図３に示す通り、ブロックゲージ１はブロックゲージ用治具２の一対の切り欠き部６で露出するため、スピンドル９と、アンビル７と、をそれぞれブロックゲージ１の露出した箇所に当てることで校正を実施できる。

【0033】

なお、ブロックゲージ１の露出していない部分は該ブロックゲージ用治具２により校正には使用されない。すなわち、該ブロックゲージ用治具２を使用すると、ブロックゲージ１の校正に使用される測定箇所を規定できる。ブロックゲージ１の露出した箇所を繰り返し校正作業に使用すると、該露出した箇所が徐々に摩耗していくため、長さの標準としての機能が失われていく。そのため、所定の回数校正作業を実施した後は、ブロックゲージ１の他の箇所を使用して校正作業を実施する必要がある。

【0034】

ここで、図４を用いて、ブロックゲージ用治具２の他の構成例であるブロックゲージ用治具２ａについて説明する。図４は、ブロックゲージ用治具２ａを模式的に示す斜視図である。図４に示すブロックゲージ用治具２ａの一対の切り欠き部６ａは、図１等に示すブロックゲージ用治具２の一対の切り欠き部６とは異なる高さに形成される。

【0035】

例えば、図１等に示すブロックゲージ用治具２の一対の切り欠き部６がブロックゲージ用治具２の中央付近の高さに形成される場合、図４に示すブロックゲージ用治具２ａの一対の切り欠き部６ａを該中央付近以外の高さに形成する。より詳細には、上面の開口４に近い高さに形成する。

【0036】

すると、ブロックゲージ用治具２ａにブロックゲージ１を収容すると、該一対の切り欠き部６ａからブロックゲージ１が露出するが、露出する箇所はブロックゲージ用治具２が使用されたときに露出する箇所とは異なる。

【0037】

そのため、ブロックゲージ用治具２を使用して校正を所定の回数実施した後は、ブロックゲージ１をブロックゲージ用治具２から取り出して、該ブロックゲージ１をブロックゲージ用治具２ａに収容すれば、ブロックゲージ１の摩耗していない箇所を使用して校正を実施できる。校正作業者はブロックゲージ１の露出した箇所を使用して校正を実施せざるを得ないため、摩耗した箇所を使用して校正を実施するおそれがない。そのためブロックゲージ１を交換せずに該ブロックゲージ１を引き続き校正に使用できる。

【0038】

さらに、ブロックゲージ用治具２ａを使用して校正を繰り返し実施して一対の切り欠き部６ａから露出した箇所が摩耗した後は、ブロックゲージ１を一度取り出して、上下を逆転させてブロックゲージ１を再びブロックゲージ用治具２ａに収容する。該一対の切り欠き部６ａはブロックゲージ用治具２ａの中央付近の高さには形成されていないため、上下を逆転する前に露出されていた箇所とは異なる箇所が一対の切り欠き部６ａから露出する。そのため、さらに引き続きブロックゲージ１を校正に使用することができる。

【0039】

なお、ブロックゲージ用治具２ａの筐体の側面側には、窓８ａと、窓８ｂと、が設けられている。該窓８ａ及び該窓８ｂは、ブロックゲージ１の長さ表示３に対応する高さに形成されており、ブロックゲージ１をブロックゲージ用治具２ａに収容したときに、ブロックゲージ１の長さ表示３がいずれかの窓を通して外部から視認可能となる。

【0040】

このように、ブロックゲージ用治具を用いることで、デジタルマイクロメータの校正に用いられるブロックゲージの部分を規定できる。そのため、ブロックゲージの特定の箇所のみが摩耗したことを理由にブロックゲージを交換する必要がなくなる。したがって、ブロックゲージの寿命を延ばすことができて経済的である。

【0041】

次に、ブロックゲージ用治具２からのブロックゲージ１の取り出しについて、図５（Ａ）、図５（Ｂ）及び図６を用いて説明する。ブロックゲージ１の取り出しは、図５（Ｂ）に示す押し出し器具１２を用いると容易となる。

【0042】

図５（Ａ）は、ブロックゲージ用治具２の底部１０側を模式的に示す斜視図である。図５（Ａ）に示す通り、ブロックゲージ用治具２の該底部１０には、挿通穴１０ａが形成される。図５（Ｂ）に示す押し出し器具１２は、平板状の基台１４から上方に突出する棒状の突起１６と、平板状の基台１４の両側方から立設された一対のガイド壁１８と、が配設される。

【0043】

ブロックゲージ用治具２の挿通穴１０ａと、押し出し器具１２の突起１６と、はそれぞれ同じ数だけ互いに対応する位置に対応した形状で形成される。例えば、該挿通穴１０ａは円形状または多角形状に形成され、該突起１６は該挿通穴１０ａの形状に対応するように円柱状または多角柱状に形成される。このとき、該挿通穴１０ａは、該突起１６の断面形状よりも大きく形成される。

【0044】

該一対のガイド壁１８は、その間の距離がブロックゲージ用治具２の幅（両側面の間の距離）に対応するように形成される。該一対のガイド壁１８は、それぞれ、該押し出し器具１２を側方から見たときに各突起１６がガイド壁１８により隠れる大きさに形成される。

【0045】

該押し出し器具１２には、例えば、アクリル樹脂やフッ素樹脂等の材料が用いられる。基台１４、突起１６、及び、一対のガイド壁１８は、例えば、射出成形や３Ｄプリント等により一体的に形成される。ただし、突起１６には大きな力が加わるため、突起１６を金属等の強度の高い材料を用いて作製し、該突起１６を基台１４に組み込んで押し出し器具１２を作製してもよい。

【0046】

図６は、押し出し器具１２を用いたブロックゲージ用治具２からのブロックゲージ１の取り出しを模式的に示す斜視図である。ブロックゲージ用治具２は、底部１０を押し出し器具１２の基台１４に向けた状態で押し出し器具１２の上方に位置付けられる。このとき、押し出し器具１２の突起１６の上方に挿通穴１０ａが位置付けられる。なお、一対のガイド壁１８がブロックゲージ用治具２の該幅方向における位置合わせを補助する。

【0047】

次に、ブロックゲージ用治具２を押し出し器具１２に向けて下降させる。すると、挿通穴１０ａに突起１６が挿通されて、該突起１６がブロックゲージ用治具２に収容されたブロックゲージ１に当たり該ブロックゲージ１を支えるようになる。すると、ブロックゲージ用治具２が下降する一方でブロックゲージ１が下降しないため、ブロックゲージ１が相対的に押し上げられてブロックゲージ用治具２からはみ出して摘み出すことがきできる。

【0048】

ここで、例えば、押し出し器具１２が該ガイド壁１８を有していない場合、ブロックゲージ用治具２と、押し出し器具１２と、の位置がずれていた場合に、突起１６には押し出し器具１２の幅方向に向いた力が加わり、突起１６が破損するおそれがある。これに対して、該ガイド壁１８を有する押し出し器具１２では、該ガイド壁１８が該幅方向においてブロックゲージ用治具２と、押し出し器具１２と、の位置を合わせるため、該突起１６に該幅方向に向いた力がかからず、突起１６の破損を抑制できる。

【0049】

このように、押し出し器具１２を用いると、ブロックゲージ用治具２からブロックゲージ１を容易に取り出すことができる。

【0050】

なお、押し出し器具１２は、異なる大きさのブロックゲージを収容する多種のブロックゲージ用治具２に対して使用できる。例えば、図６に示す通り、押し出し器具呼び寸法（校正に使用される面間の距離）が５０ｍｍのブロックゲージを収容するブロックゲージ用治具２に対しては、３本の突起１６を用いて該ブロックゲージを押し出す。また、例えば、呼び寸法が１０ｍｍのブロックゲージを収容するブロックゲージ用治具に対しては、該３本の突起１６のうち１本を用いて該ブロックゲージを押し出す。

【0051】

なお、本発明は、上記実施形態の記載に限定されず、種々変更して実施可能である。例えば、上記の実施形態では、ブロックゲージ用治具２の窓部８を通してブロックゲージ１の長さ表示３を外部から視認可能としていだが、本発明はこれに限定されない。例えば、ブロックゲージ用治具２に収容するブロックゲージの種別が予め決定されているのであれば、ブロックゲージ用治具２に窓部８を設けなくてもよく、その場合、ブロックゲージ用治具２の筐体に長さ表示を印字してもよい。

【0052】

また、上記の実施形態では、切り欠き部の形成位置の異なる２つのブロックゲージ用治具を用いて、校正に使用されるブロックゲージの面を３つの領域に分けて、各領域が順に露出されるようにブロックゲージ用治具を使用する例について説明した。本発明はこれに限定されず、例えば、ブロックゲージの該面を５つの領域に分けて、各領域が順に露出されるようにブロックゲージ用治具を使用してもよい。

【0053】

この場合、切り欠き部の形成位置の異なる３つのブロックゲージ用治具を用意する。すなわち、該５つの領域のうち中央の領域を露出する切り欠き部を有するブロックゲージ用治具と、該中央の領域に隣接する一方の領域を露出する切り欠き部を有するブロックゲージ用治具と、最外領域を露出する切り欠き部を有するブロックゲージ用治具と、を用意する。３つのブロックゲージ用治具を用いて、該５つの領域が順に露出させる。

【0054】

同様に、４つのブロックゲージ用治具を用意し、ブロックゲージの該面を７つの領域に分け、各領域が順に露出されるようにブロックゲージ用治具を使用してもよい。このように、マイクロメータのアンビル及びスピンドルがブロックゲージの該面にアクセス可能である範囲で、切り欠き部の形成位置の異なる複数のブロックゲージ用治具を組み合わせて使用できる。

【0055】

その他、上記実施形態に係る構造、方法等は、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施できる。

【符号の説明】

【0056】

１ ブロックゲージ
３ 長さ表示
５ デジタルマイクロメータ
７ アンビル
９ スピンドル
１１ 表示部
１３ フレーム
１５ 回転部
１７ ラチェットストップ
２，２ａ ブロックゲージ用治具
４ 開口部
６，６ａ 切り欠き部
８，８ａ，８ｂ 窓部
１０ 底部
１０ａ 挿通穴
１２ 押し出し器具
１４ 基台
１６ 突起
１８ ガイド壁

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】