特許 6865887 自動分析装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】6865887

(24)【登録日】2021年4月8日

(45)【発行日】2021年4月28日

(54)【発明の名称】自動分析装置

(51)【国際特許分類】

   G01N 35/10 20060101AFI20210419BHJP

【ＦＩ】

   G01N35/10 C

【請求項の数】7

【全頁数】13

(21)【出願番号】特願2020-502855(P2020-502855)

(86)(22)【出願日】2019年1月21日

(86)【国際出願番号】JP2019001602

(87)【国際公開番号】WO2019167468

(87)【国際公開日】20190906

【審査請求日】2020年3月11日

(31)【優先権主張番号】特願2018-34583(P2018-34583)

(32)【優先日】2018年2月28日

(33)【優先権主張国】JP

(73)【特許権者】

【識別番号】501387839

【氏名又は名称】株式会社日立ハイテク

(74)【代理人】

【識別番号】110000350

【氏名又は名称】ポレール特許業務法人

(72)【発明者】

【氏名】坂入 進

(72)【発明者】

【氏名】大草 武徳

【審査官】 永田 浩司

(56)【参考文献】

【文献】 特開２０１４−２０６３８１（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特表２０１０−５０９１４４（ＪＰ，Ａ）

【文献】 中国実用新案第２０３２７５２７５（ＣＮ，Ｕ）

【文献】 米国特許出願公開第２０１５／００３７２１１（ＵＳ，Ａ１）

【文献】 特開平２−５９６７０（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｇ０１Ｎ ３５／００

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

中心線に沿って複数の吸引口が配置される試薬ボトルを複数収容し、中心軸の周りに円周方向に回転動作することにより、試薬ボトルを所望の位置に搬送する試薬ディスクと、
回転軸の周りに回転動作し、前記試薬ディスク上の所定の吸引位置にある前記試薬ボトルの試薬を吸引する試薬分注機構と、
回転軸の周りに回転動作し、複数の反応容器が搭載されるインキュベータと、
制御コンピュータと、を有し、
前記試薬ディスクには、前記試薬ディスクの少なくとも１箇所の試薬ボトルの搭載位置において、前記試薬ボトルの搭載位置を挟んで第１及び第２のマークが設けられており、
前記試薬分注機構は、前記試薬分注機構の円弧軌道が前記第１及び第２のマークの上、及び前記インキュベータの吐出位置を通るように配置され、
前記試薬分注機構は、前記試薬ディスクの回転動作により前記所定の吸引位置に搬送された試薬ボトルの前記複数の吸引口のいずれかにアクセスして試薬の吸引を行い、前記インキュベータ上の前記吐出位置にある反応容器に試薬を吐出し、
前記制御コンピュータは、前記第１及び第２のマークへの前記試薬分注機構の回転移動量をその記憶装置に記憶し、
前記試薬分注機構がアクセスする、前記所定の吸引位置に搬送された試薬ボトルの前記複数の吸引口のいずれかへの回転移動量は、前記第１及び第２のマークへの前記試薬分注機構の回転移動量に基づき決定されている自動分析装置。

【請求項4】

請求項１において、
前記第１及び第２のマークは、前記試薬ディスクの試薬保持部に形成される突起もしくは穴である自動分析装置。

【請求項5】

請求項１において、
前記試薬ボトルは、前記試薬ボトルの中心線と前記試薬ディスクの径とが所定の傾きθ（θ＞０）をなすように前記試薬ディスクに収容される自動分析装置。

【請求項6】

円弧上に配置される複数位置に反応容器を収容し、中心軸の周りに円周方向に回転動作することにより、反応容器を所望の位置に搬送するインキュベータと、
直線軌道上を動作し、前記インキュベータ上の複数の吐出位置にある複数の反応容器に試薬を吐出する試薬分注機構と、を有し、
前記インキュベータには、前記複数の吐出位置を挟むように少なくとも１セットの第１及び第２のマークが設けられており、
前記試薬分注機構は、前記試薬分注機構の直線軌道が前記第１及び第２のマークの上を通るように配置され、
前記試薬分注機構は、前記インキュベータの回転動作により前記複数の吐出位置に搬送された複数の反応容器のいずれかにアクセスして試薬の吐出を行う自動分析装置。

【請求項7】

請求項６において、
前記試薬分注機構は、前記複数の吐出位置に搬送された複数の反応容器に、試薬を連続して分割吐出する自動分析装置。

【請求項8】

請求項６において、
制御コンピュータを有し、
前記制御コンピュータは、前記第１及び第２のマークへの前記試薬分注機構の移動量をその記憶装置に記憶し、
前記試薬分注機構がアクセスする、前記複数の吐出位置に搬送された反応容器への移動量は、前記第１及び第２のマークへの前記試薬分注機構の移動量に基づき決定されている自動分析装置。

【請求項9】

請求項６において、
前記第１及び第２のマークは、前記インキュベータの反応容器保持部に形成される突起もしくは穴である自動分析装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、自動分析装置に関する。

【背景技術】

【0002】

検体に含まれる測定対象物を検出する自動分析装置では、反応容器内で検体と試薬を反応させる。この際、所定の位置に保持された試薬容器から試薬プローブにより試薬を吸引し、別の所定の位置に保持された反応容器へ吸引した試薬を吐出する工程（分注工程）がある。装置の信頼性の観点から、試薬の吸引時には試薬プローブと試薬容器の吸入口の中心とが、試薬の吐出時には試薬プローブと反応容器の中心とが、できるだけ一致していることが望ましい。このため、試薬を吸引・吐出する試薬分注機構と、試薬容器および反応容器との位置調整を行う必要がある。

【0003】

特許文献１には、試薬分注アームの吸引位置の調整のために、試薬ラックに金属製のピンを定位置に設ける例が開示されている。試薬分注アームのプローブ先端とピンとの間での静電容量の変化を検出してピンの位置を探索し、ピンの検出位置から予め記憶しているピンと試薬容器の口との相対的な位置関係を示す情報が示す位置を吸引位置として決定する。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特開２０１０−２４９６０１号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

自動分析装置が、直線上に配置される複数位置へアクセスする、円弧軌道の動作をする機構、または、円弧上に配置される複数位置へアクセスする、直線軌道の動作をする機構を有する場合、円弧と直線とを完全に一致させることは不可能であるため、これらのずれを最小とするように、位置調整を行う必要がある。

【課題を解決するための手段】

【0006】

本発明の一実施の形態である自動分析装置は、中心線に沿って複数の吸引口が配置される試薬ボトルを複数収容し、中心軸の周りに円周方向に回転動作することにより、試薬ボトルを所望の位置に搬送する試薬ディスクと、回転軸の周りに回転動作し、試薬ディスク上の所定の吸引位置にある試薬ボトルの試薬を吸引する試薬分注機構とを有し、試薬ディスクには、試薬ディスクの少なくとも１箇所の試薬ボトルの搭載位置において、試薬ボトルの搭載位置を挟んで第１及び第２のマークが設けられており、試薬分注機構は、試薬分注機構の円弧軌道が第１及び第２のマークの上を通るように配置され、試薬分注機構は、試薬ディスクの回転動作により所定の吸引位置に搬送された試薬ボトルの複数の吸引口のいずれかにアクセスして試薬の吸引を行う。

【0007】

また、本発明の一実施の形態である自動分析装置は、円弧上に配置される複数位置に反応容器を収容し、中心軸の周りに円周方向に回転動作することにより、反応容器を所望の位置に搬送するインキュベータと、直線軌道上を動作し、インキュベータ上の複数の吐出位置にある複数の反応容器に試薬を吐出する試薬分注機構とを有し、インキュベータには、複数の吐出位置を挟むように少なくとも１セットの第１及び第２のマークが設けられており、試薬分注機構は、試薬分注機構の直線軌道が第１及び第２のマークの上を通るように配置され、試薬分注機構は、インキュベータの回転動作により複数の吐出位置に搬送された複数の反応容器のいずれかにアクセスして試薬の吐出を行う。

【0008】

その他の課題と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。

【発明の効果】

【0009】

円弧と直線との組み合わせとなる位置調整を簡便に行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【0010】

【図1A】自動分析装置の全体構成を示す図。

【図1B】試薬ボトルの斜視模式図。

【図2A】試薬分注機構の円弧軌道と試薬ボトルの複数の吸引口との位置関係を示す図。

【図2B】吸引口と試薬プローブとのクリアランスを示す図。

【図3】試薬分注機構の位置調整を説明する図。

【図4】実施例２における試薬ディスク、試薬分注機構及びインキュベータの配置を示す図。

【図5】試薬分注機構の直線軌道とインキュベータの複数の吐出位置との位置関係を示す図。

【図6】実施例２の位置調整手段を示す図。

【発明を実施するための形態】

【0011】

本実施例に係る自動分析装置は、直線上に配置される複数位置へアクセスする、円弧軌道の動作をする機構（実施例１）、または、円弧上に配置される複数位置へアクセスする、直線軌道の動作をする機構（実施例２）を有する。

【実施例1】

【0012】

図１Ａに自動分析装置１の全体構成を示す。水平面であるＸＹ平面に設置された自動分析装置１を上（Ｚ方向）から見た平面の構成を示している。Ｘ方向及びＹ方向は水平面を構成する互いに直交する方向であり、ここでは、Ｘ方向は装置１の横幅の方向に対応し、Ｙ方向は装置１の縦幅の方向に対応している。Ｚ方向は、Ｘ方向及びＹ方向に垂直な鉛直方向であり、装置１の高さ方向に対応している。また、これに加えて、水平面において試薬ディスク２の半径方向Ｒと、試薬ディスク２の円周方向Ｃとを示している。

【0013】

自動分析装置１は、制御コンピュータ１２３、ラック搬送部１２０、ラック搬送ライン１１８、サンプル分注機構１０３、インキュベータ１０４、搬送機構１０６、保持部材１０７、攪拌機構１０８、廃棄孔１０９、試薬ディスク２、試薬分注機構１０、反応容器搬送機構１１６、検出ユニット１１７を有する。

【0014】

制御コンピュータ１２３は、自動分析装置１の分析依頼情報に基づいて各機構を制御して、分析のための各工程を実現する。工程には分注工程等を含む。また、制御コンピュータ１２３は、ユーザに対するインタフェースを提供する。

【0015】

自動分析装置１が分析対象とするサンプル（試料）はサンプル容器１０２に収容され、サンプル容器１０２はラック１０１に架設された状態で自動分析装置１に搬入される。ラック搬送部１２０は、外部と自動分析装置１との間でラック１０１を搬入または搬出を行う機構である。また、ラック搬送部１２０には、自動分析装置１の電源投入指示部１２１及び電源切断指示部１２２が備えられている。電源投入指示部１２１及び電源切断指示部１２２は、オペレータ（自動分析装置１を操作するユーザ）が入力操作するボタンである。なお、制御コンピュータ１２３の表示部に、電源投入指示部１２１及び電源切断指示部１２２に相当する入力部を備えてもよい。

【0016】

ラック搬送部１２０により搬入されたラック１０１は、ラック搬送ライン１１８によって、サンプル分注機構１０３近傍のサンプル分注位置まで移動される。インキュベータ１０４には、その円周部に複数の反応容器１０５が設置可能であり、円周方向に設置された反応容器１０５をそれぞれ所定位置に移動させる回転運動が可能である。

【0017】

搬送機構１０６は、Ｘ、Ｙ、Ｚの３軸の各方向に移動可能である。搬送機構１０６は、サンプル分注チップと反応容器１０５とを搬送する機構であり、サンプル分注チップ及び反応容器１０５を保持する保持部材１０７、反応容器１０５を攪拌する攪拌機構１０８、サンプル分注チップまたは反応容器１０５を廃棄する廃棄孔１０９、サンプル分注チップ装着位置１１０、及びインキュベータ１０４の所定箇所の範囲を移動する。

【0018】

保持部材１０７には、未使用の反応容器及び未使用のサンプル分注チップが複数個保持されている。まず、搬送機構１０６は、保持部材１０７の上方に移動し、下降して未使用の反応容器１０５を把持した後に上昇し、更にインキュベータ１０４の所定位置の上方に移動した後に下降して、反応容器１０５をインキュベータ１０４の所定位置に設置する。

【0019】

次いで、搬送機構１０６は、再び保持部材１０７の上方に移動し、下降して未使用のサンプル分注チップを把持した後に上昇し、サンプル分注チップ装着位置１１０の上方に移動した後に下降して、サンプル分注チップをサンプル分注チップ装着位置１１０に設置する。サンプル分注チップは、コンタミネーションを防止するため、サンプル分注機構１０３がサンプルを分注する際にプローブ（ノズル）の先端に装着され、当該サンプルの分注が終了すると破棄される。

【0020】

サンプル分注機構１０３は、水平面での回転動作及び鉛直方向（Ｚ方向）の上下移動が可能である。サンプル分注機構１０３は、サンプル分注チップ装着位置１１０の上方まで回転動作により移動した後、下降して、ノズルの先端にサンプル分注チップを圧入して装着する。ノズルの先端にサンプル分注チップを装着したサンプル分注機構１０３は、搬送ラック１０１に載置されているサンプル容器１０２の上方に移動した後、下降して、そのサンプル容器１０２に保持されているサンプルを所定量吸引する。サンプルを吸引したサンプル分注機構１０３は、インキュベータ１０４の上方に移動した後、下降して、インキュベータ１０４に保持されている未使用の反応容器１０５にサンプルを吐出する。サンプル吐出が終了すると、サンプル分注機構１０３は廃棄孔１０９の上方に移動し、使用済みのサンプル分注チップを廃棄孔１０９から廃棄する。

【0021】

試薬ディスク２はディスク形状を有し、回転動作が行われる。試薬ディスク２には複数の試薬ボトル３が設置されている。試薬ディスク２は、水平面において鉛直方向の中心軸の周りに回転する。これにより、試薬ディスク２上に配置されている試薬ボトル３が円周方向Ｃに移動し、工程に応じた所定の位置に搬送される。

【0022】

試薬ディスク２は、例えば３個の容器部を１セットとした試薬ボトル３が設置可能となっている。図１Ｂに試薬ボトル３の斜視模式図を示す。なお、試薬ボトル３における容器部の数は複数であればよく、３には限られない。各容器部は、試薬を収容する本体部と、試薬に対してアクセス可能な吸引口３０１と、吸引口３０１を密閉可能な蓋３０２とを有している。試薬ボトル３全体の外形は、肩部３０３を有する略直方体の形状であり、肩部の上側に３つの吸引口３０１が並んで上側に突出している。自動分析装置の試薬容器蓋開閉機構（図示せず）による開閉動作を行うため、蓋３０２の一端に突起部３０４が設けられ、試薬ボトル３の側面方向に突出している。蓋３０２はヒンジ３０５を回転軸として回転可能とされ、蓋３０２には密閉部材３０６が設けられ、吸引口３０１に密閉部材３０６を挿入して蓋３０２を閉めることにより、試薬が蒸発したり、濃度変化を生じたりすることを抑制している。図１Ａに示されるように、本実施例の自動分析装置１は、試薬ボトル３の中心線が試薬ディスク２の半径方向Ｒに対して所定の角度θ（θ＞０）を有するように配置されている（ここでは、「斜め配置」と称する）。このような試薬ボトルの斜め配置を適用することにより、試薬分注機構１０の円弧軌道が１つの試薬ボトルの複数の吸引口の上を通過するように、試薬分注機構１０を設置できる。従来のように試薬ボトルを試薬ディスクの径に沿って放射状に配置する（θ＝０）場合、上述のようなアクセスを行うためには円弧軌道の径を大きくせざるを得ず、試薬分注機構１０により安定に分注動作することが困難であるため、試薬分注機構は吸引口ごとに異なる位置の試薬ボトルにアクセスするようにされていた。

【0023】

なお、試薬ディスク２の上部には図示しないカバーが設けられており、ほこり等の侵入が防止されているとともに、試薬ディスク２を含む空間部分が所定の温度に保温または保冷されている。すなわち、試薬ディスク２を含む空間部分は、保温庫や保冷庫としても機能する。本実施例では、領域４において試薬分注機構１０が試薬ボトル３にアクセスするため、カバーに開口部を設けるとともに、試薬容器蓋開閉機構を設けることが望ましい。これにより試薬容器の蓋の開閉動作と試薬吸引動作との間に試薬ディスクの回転動作を行うことを不要とし、分注工程に要する時間を短くすることができる。

【0024】

試薬分注機構１０は、水平面での回転動作、及び鉛直方向の上下移動が可能である。試薬分注機構１０は、領域４（カバーの開口部）の上方に回転動作で移動した後に、下降し、プローブ（ノズル）の先端を、試薬容器蓋開閉機構によって開蓋された試薬ボトル３内の試薬に浸漬して、所定量の試薬を吸引する。次いで、試薬分注機構１０は、上昇した後、インキュベータ１０４の所定位置５の上方に回転動作で移動して、反応容器１０５に試薬を吐出する。

【0025】

サンプル及び試薬が吐出された反応容器１０５は、インキュベータ１０４の回転によって所定位置に移動し、搬送機構１０６によって、反応容器攪拌機構１０８へと搬送される。反応容器攪拌機構１０８は、反応容器１０５に回転運動を加えることで、反応容器１０５内のサンプルと試薬とを攪拌して混和する。これにより、反応容器１０５内に反応液が生成される。

【0026】

攪拌の終了した反応容器１０５は、搬送機構１０６によって、インキュベータ１０４の所定位置に戻される。反応容器搬送機構１１６は、インキュベータ１０４と検出ユニット１１７との間で反応容器１０５を移載する。反応容器搬送機構１１６は、反応容器１０５を把持して上昇し、回転動作によって検出ユニット１１７に反応容器１０５を搬送する。その反応容器１０５は、検出ユニット１１７内で分析される。分析の終了した反応容器１０５は反応容器搬送機構１１６によってインキュベータ１０４に戻される。その後、反応容器１０５は、搬送機構１０６によって、インキュベータ１０４から廃棄孔１０９の上方に移動し、その廃棄孔から廃棄される。

【0027】

試薬分注機構１０がアクセスする試薬ディスク２上の位置４及び試薬分注機構１０がアクセスするインキュベータ１０４上の吐出位置５は固定されており、図１に示す位置関係にある。まず、試薬ディスク２は回転動作を行い、吸引対象となる試薬の入った試薬ボトル３を位置４に移動させる。続いて、試薬分注機構１０が回転動作を行い、試薬ボトル３の吸引口３１，３２，３３のいずれかにアクセスして試薬プローブ１１を用いて試薬を吸引する。一方、インキュベータ１０４も回転動作を行い、試薬を吐出する反応容器１０５を吐出位置５に移動させておく。その後、試薬分注機構１０は回転動作を行い、吸引した試薬を吐出位置５の反応容器１０５に吐出する。

【0028】

図２Ａに、試薬分注機構１０の円弧軌道１２と、領域４に位置する試薬ボトル３の３か所の吸引口３１，３２，３３との位置関係を示す（ただし、図２Ａでは分かりやすさのため、円弧軌道１２を誇張して描いている）。ここで、試薬分注機構１０の円弧軌道１２とは、試薬分注機構１０の試薬プローブ（ノズル）１１が試薬分注機構の回転運動に伴って描く軌道をいう。試薬ボトル３の各吸引口の中心位置ｃ３１，ｃ３２，ｃ３３は中心線Ｌ１に沿って、かつ距離Ｐをもって配置されているので、図２Ａに示すように、試薬分注機構１０の円弧軌道１２と各吸引口の中心位置とのずれ量εを、すべて同じε₀とすることにより、最小のずれ量とすることができる。試薬分注機構１０の円弧軌道１２の半径をＲ（試薬分注機構１０の回転軸Ｏ_１と試薬プローブ１１との距離）とすると、３平方の定理から（数１）が成り立ち、これを変形することにより（数２）を導き出すことができる。このとき、試薬プローブ１１の各吸引口３１，３２，３３へのアクセス位置はそれぞれａ３１，ａ３２，ａ３３となる。

【0029】

【数1】

【0030】

【数2】

【0031】

したがって、（数２）より、ずれ量ε₀をできるだけ小さくするには、吸引口ピッチＰをできるだけ小さく、かつ円弧軌道１２の半径Ｒをできるだけ大きくすればよいことになる。しかしながら、装置寸法の制約上、部品製作上、または試薬の必要量などにより、ある程度制限される。また、試薬ボトル３の吸引口の寸法、試薬プローブ１１の太さなどの関係により、試薬分注機構１０の試薬ボトルへのアクセス時のクリアランスにも影響するため、適切な値にすることが必要である。

【0032】

例えば、試薬分注機構１０の円弧軌道１２の半径Ｒを200mm、３つの吸引口間のピッチＰを26mmとした場合、試薬プローブ１１の中心と試薬ボトルの吸引口３１，３２，３３の中心とのずれ量ε₀は（数２）により0.845mmとなる。試薬ボトルの吸引口寸法をΦ12mm、試薬プローブ１１の太さをΦ3mmとすると、吸引口と試薬プローブとのクリアランス値ｄは、(12/2)−(3/2)−0.845＝3.655mmとなる（図２Ｂを参照）。

【0033】

試薬分注機構１０は自動分析装置１の筐体に据え付ける。上述のように、試薬ボトルの吸引口と試薬プローブとのクリアランスは比較的小さく、かつ吸引口が直線上に配列されているのに対して、試薬分注機構１０は円弧軌道を有している。このため、例えば、図２Ａに示す吸引口３２を基準に試薬分注機構１０の据え付け位置を調整し、吸引口３２でのずれ量εがε₀よりも小さく調整されていたとすると、他の吸引口でのずれ量εがε₀よりも大きくなる。このため、試薬分注機構１０の位置調整を以下のように行う。

【0034】

図３に示すように、試薬ディスク２には、試薬分注機構１０の円弧軌道１２上で、かつ、試薬ボトル３の搭載位置の両端の外側近傍にマーク３５，３６が施されている。マークを施すのは、試薬ディスクのある１つの試薬ボトルの搭載位置に対してのみでよい。ここでは、試薬ボトルの搭載位置を挟んで、試薬ディスク２の回転軸に近い位置のマークを第１のマーク３５、遠い位置のマークを第２のマーク３６と呼ぶ。試薬分注機構１０の試薬プローブ１１が、第１のマーク３５、第２のマーク３６、およびインキュベータ１０４上の吐出位置５（反応容器１０５の中心）の３か所を通るように、試薬分注機構１０を自動分析装置の筐体に固定する。第１のマーク３５および第２のマーク３６は、突起もしくは穴とする。試薬ディスクの試薬保持部を樹脂で形成し、マーク３５，３６に相当する凹凸をその金型に作り込むことにより、試薬ディスク上に正確、かつ容易に円筒状の突起もしくは穴を形成することができる。なお、突起や穴に限られず、印刷やシールにより、試薬ディスク上に試薬分注機構１０の円弧軌道の通過位置を示すようにしてもよい。

【0035】

試薬分注機構１０の円弧軌道１２が上述の３か所を通るように試薬分注機構１０が据え付けられた後、試薬プローブ１１のアクセス位置はソフトウエアによる調整を行うことでより適切な位置へアクセス可能となる。具体的には、試薬分注機構１０を調整対象位置に向かって回転移動後、下降させ、正しいアクセス位置となる回転移動量を求め、例えば原点からの回転移動量を制御コンピュータ１２３の記憶装置に記憶させておく。

【0036】

インキュベータ１０４に対しては、吐出位置５の反応容器１０５の中心の一点のみへのアクセスであるので、その位置に合うように回転移動量を調整すればよい。例えば、試薬プローブ１１の原点位置が図３に示す状態であるとすると、回転移動量として角度αを記憶させる。

【0037】

一方、試薬ディスク２に対しては、試薬ボトル３の３つの吸引口のアクセス位置ａ３１，ａ３２，ａ３３へのアクセス位置を調整する必要がある。このため、第１のマーク３５および第２のマーク３６を利用して調整する。第１のマーク３５および第２のマーク３６のそれぞれに対して試薬分注機構１０を回転移動させて下降させ、第１のマーク３５および第２のマーク３６の直上に試薬プローブ１１が来る回転移動量β₁，β₂を求める。第１のマーク３５および第２のマーク３６と試薬ボトル３の搭載位置との関係は固定であるため、試薬ボトル３の３つの吸引口のアクセス位置ａ３１，ａ３２，ａ３３への回転移動量は、回転移動量β₁，β₂に基づき算出できる。なお、記憶させる回転移動量としては、回転角そのものであってもよく、試薬分注機構１０は例えばステッピングモータによって駆動されるので、モータに対する回転制御量のような情報であってもよい。

【0038】

もちろん、試薬分注機構１０を各アクセス位置ａ３１，ａ３２，ａ３３まで回転移動させて、下降させ、円弧軌道上での各アクセス位置に合うように、回転移動量を調整することも可能ではある。しかしながら、図２Ａ、図２Ｂに示したように、試薬ボトル３のアクセス位置ａ３１，ａ３２，ａ３３は、吸引口の中心位置ａ３１，ａ３２，ａ３３とはわずかにずれているため、調整作業者によるばらつきが出やすくなるおそれがあることに加え、調整箇所も１か所多くなる。

【0039】

以上、試薬分注機構１０、試薬ディスク２上に斜め配置された試薬ボトル３、インキュベータ１０４と反応容器１０５を例に実施例１を説明した。しかしながら、これは一例であって、広く円弧軌道の動作をする機構が、直線上の複数位置へアクセスする装置に対して適用可能である。

【実施例2】

【0040】

実施例２として、直線軌道の動作をする機構が、円弧上に配置される複数位置にアクセスする装置を示す。実施例２も自動分析装置の例であり、図４に実施例２に関する要部を示す。試薬の吸引・吐出を行う試薬プローブ６１を有し、直線軌道６２上で動作する試薬分注機構６０と、実施例１と同様の試薬ボトル３を複数保持可能で回転可能な試薬ディスク２と、反応容器１０５を複数保持可能で回転可能なインキュベータ１０４を示している。なお、図４では実施例１と同様に、試薬ボトル３を試薬ディスク２に斜め配置する例を示しているが、試薬ボトル３を径に沿って放射状に配置する試薬ディスク２であってもよい。

【0041】

インキュベータ１０４上の円弧５０上に設置された隣接する複数位置の反応容器１０５に対して、試薬分注機構６０が複数の反応容器分吸引した１試薬を、連続して複数の反応容器１０５に分割吐出する場合を例とする（なお、常に分割吐出する必要はなく、複数位置の反応容器のいずれかにアクセスするのであってもよい）。具体的には、インキュベータ１０４上の隣接する３つの位置５１，５２，５３の反応容器１０５に対して、試薬分注機構６０の直線動作によりアクセスする。

【0042】

試薬分注機構６０がアクセスする試薬ディスク２上の位置４及び試薬分注機構６０がアクセスするインキュベータ１０４上の吐出位置５１，５２，５３は固定されており、図４に示す位置関係にある。まず、試薬ディスク２は回転動作を行い、吸引対象となる試薬の入った試薬ボトル３を位置４に移動させる。試薬分注機構６０は試薬ボトル３の所定の吸引口（３１，３２，３３のいずれか）にアクセスして試薬プローブ６１を用いて試薬を吸引する。一方、インキュベータ１０４も回転動作を行い、試薬を吐出する反応容器１０５を吐出位置５１，５２，５３に移動させておく。その後、試薬分注機構６０は直線軌道６２上を順次移動しながら、隣接する吐出位置５１，５２，５３に位置する３個の反応容器１０５に吸引した試薬を吐出する。この場合、吐出位置５１，５２，５３は円弧５０上に位置するため、３か所の位置全ての中心を直線軌道６２上に乗せることは不可能である。このため、３つの吐出位置の中心と直線軌道とのずれを最小にする。

【0043】

実施例１と同様の考え方で、試薬分注機構６０の直線軌道６２と、インキュベータ１０４上の３つの吐出位置５１，５２，５３の中心位置ｃ５１，ｃ５２，ｃ５３のずれ量εを、すべて同じε₀とすることで最小のずれ量とすることができる。図５に示すように、インキュベータ１０４上で反応容器１０５を設置するピッチをθ、インキュベータ１０４上で反応容器１０５を設置する円弧５０の半径（インキュベータ１０４の回転軸Ｏ_２と吐出位置（反応容器１０５の中心位置）との距離）をＲとおく（ただし、図５では分かりやすさのため、円弧５０を誇張して描いている）。また、Ｒ≫ε₀であるため、３つの吐出位置５１，５２，５３へのアクセス位置ａ５１，ａ５２，ａ５３間の距離Ｐ’はＰ’＝（Ｒ＋ε₀）sinθ≒Ｒsinθが成り立つ。ここで、３平方の定理から（数３）が成り立ち、これを変形することにより（数４）を導き出すことができる。

【0044】

【数3】

【0045】

【数4】

【0046】

したがって、（数４）より、ずれ量ε₀をできるだけ小さくするには、ピッチθをできるだけ小さく、または半径Ｒをできるだけ小さくすればよいが、実施例１と同様、装置寸法の制約上、部品製作上、または反応液の必要量などにより、ある程度制限される。また、反応容器１０５の開口部の寸法、試薬プローブ６１の太さなどの関係により、試薬分注機構１０の反応容器へのアクセス時のクリアランスにも影響するため、適切な値にすることが必要である。

【0047】

例えば、反応容器を設置する円弧５０の半径Ｒを58mm、反応容器１０５間のピッチθを9.47°（360°を38ポジションに等分割）とした場合、試薬分注機構６０の直線軌道６２と反応容器中心ｃ５１，ｃ５２，ｃ５３のずれ量ε₀は（数４）により0.393mmとなる。反応容器１０５の開口部寸法をΦ6mm、試薬プローブ６１の太さをΦ1mmとすると、反応容器開口部と試薬プローブとのクリアランス値は、(6/2)−(1/2)−0.393＝2.107mmとなる。

【0048】

実施例２における位置調整について説明する。図６に示すように、インキュベータ１０４には、試薬分注機構６０の直線軌道６２上で、かつ、吐出位置５１，５２，５３の両端の外側近傍にマーク５４，５５が施されている。マークはインキュベータ１０４に１セット施されていればよい。ここでは、吐出位置５１に近い位置のマークを第１のマーク５４、吐出位置５３に近い位置のマークを第２のマーク５５と呼ぶ。試薬分注機構６０の試薬プローブ６１が、第１のマーク５４、第２のマーク５５、および試薬ディスク２上の位置４の試薬ボトル３の中心を通るように、各機構の位置関係を調整する。第１のマーク５４および第２のマーク５５は、突起もしくは穴とする。インキュベータ１０４の反応容器保持部を樹脂で形成し、マーク５４，５５に相当する凹凸をその金型に作り込むことにより、インキュベータ上に正確、かつ容易に円筒状の突起もしくは穴を形成することができる。なお、突起や穴に限られず、印刷やシールにより、インキュベータ上に試薬分注機構６０の直線軌道の通過位置を示すようにしてもよい。

【0049】

試薬分注機構６０の直線軌道６２が上述の３か所を通るように各機構が据え付けられた後、試薬プローブ６１のアクセス位置はソフトウエアによる調整を行うことでより適切な位置へアクセス可能となる。具体的には、試薬分注機構６０を調整対象位置に向かって移動させて正しいアクセス位置となる移動量を求め、制御コンピュータ１２３の記憶装置に記憶させておく。

【0050】

実施例１と同様に第１のマーク５４および第２のマーク５５のそれぞれに対して試薬分注機構６０を直線移動させて下降させ、第１のマーク５４および第２のマーク５５の直上に試薬プローブ６１が来る移動量を求める。図５に示すように、第１のマーク５４および第２のマーク５５と吐出位置のアクセス位置ａ５１，ａ５２，ａ５３との関係は固定であるため、吐出位置のアクセス位置ａ３１，ａ３２，ａ３３への移動量は、第１のマーク５４および第２のマーク５５への移動量に基づき算出できる。

【0051】

以上、試薬分注機構６０、試薬ディスク２上に配置された試薬ボトル３、インキュベータ１０４と反応容器１０５を例に実施例２を説明した。しかしながら、これは一例であって、広く直線軌道の動作をする機構が、円弧上の複数位置へアクセスする装置に対して適用可能である。

【符号の説明】

【0052】

１：自動分析装置、２：試薬ディスク、３：試薬ボトル、４：領域、５：吐出位置、１０：試薬分注機構、１１：試薬プローブ、１２：円弧軌道、３１：第１吸引口、３２：第２吸引口、３３：第３吸引口、３５，３６：マーク、５０：円弧、５１，５２，５３：吐出位置、５４，５５：マーク、６０：試薬分注機構、６１：試薬プローブ、６２：直線軌道、１０１：ラック、１０２：サンプル容器、１０３：サンプル分注機構、１０４：インキュベータ、１０５：反応容器、１０６：搬送機構、１０７：保持部材、１０８：攪拌機構、１０９：廃棄孔、１１０：サンプル分注チップ装着位置、１１５：磁性粒子攪拌装置、１１６：反応容器搬送機構、１１７：検出ユニット、１１８：ラック搬送ライン、１２０：ラック搬送部、１２１：電源投入指示部、１２２：電源切断指示部、１２３：制御コンピュータ、３０１：吸引口、３０２：蓋：３０３：肩部、３０４：突起部、３０５：ヒンジ、３０６：密閉部材。

【図1A】

【図1B】

【図2A】

【図2B】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】