特許6904943半導体マスク検査のためのポリゴンベースの幾何学的分類

発明の名称　半導体マスク検査のためのポリゴンベースの幾何学的分類

出願人　ケーエルエー−テンカー　コーポレイション　（識別番号 500049141）

　　　　特許公開件数ランキング 344 位（89件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 278 位（97件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-6904943

公報発行日　2021年7月21

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-B9-6904943

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