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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7778154	ダイスクリーニングシステムおよび方法	2025年12月 1日
特許 7774062	プロセス条件検知装置	2025年11月20日
特許 7774064	製品上オーバレイターゲット及びオーバレイ誤差を計測する方法	2025年11月20日
特許 7774077	ウェハボンディングツールによって誘起されるオーバーレイ歪みパターンを軽減するためのシステムおよび方法	2025年11月20日
特許 7774080	多層試験試料の材料パラメータを決定する方法	2025年11月20日
特許 7773630	小さなターゲットを使用して校正されるオーバーレイ誤差の測定	2025年11月19日
特許 7770393	欠陥検査向けレーザパワー制御を伴う大粒子監視	2025年11月14日
特許 7767397	アレイを設計するための走査電子顕微鏡画像アンカーリング	2025年11月11日
特許 7762229	永久磁石アレイのための漏洩磁場の緩和のための遮蔽ストラテジ	2025年10月29日
特許 7762290	複数の空間周波数を有するオーバレイターゲットを使用した走査オーバレイ計測	2025年10月29日
特許 7761634	転移学習を用いるウェハレベルシグネチャグループ化	2025年10月28日
特許 7760574	供試標本の電気特性を計測する方法及び多層供試標本	2025年10月27日
特許 7760619	対向櫛型非線形結晶グレーティングを用いる周波数変換	2025年10月27日
特許 7759382	真空システム用の冷却剤微小漏出センサ	2025年10月23日
特許 7759412	レーザアニールパターンの抑制	2025年10月23日

97 件中 1-15 件を表示

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7778154 7774062 7774064 7774077 7774080 7773630 7770393 7767397 7762229 7762290 7761634 7760574 7760619 7759382 7759412

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