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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第345位 76件
(2024年:第311位 105件)
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第280位 81件
(2024年:第286位 108件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 7749704 | 周波数変換に四硼酸ストロンチウムを用いる深紫外レーザ | 2025年10月 6日 | |
特許 7746419 | 介在ミラープレートを用いる差分高さ計測 | 2025年 9月30日 | |
特許 7745643 | 投影撮像システムにおけるその場光化学洗浄用の光の光路結合のためのシステム及び方法 | 2025年 9月29日 | |
特許 7745663 | 用途特化半導体計測システムパラメータ設定の最適化を正則化する方法及びシステム | 2025年 9月29日 | |
特許 7745790 | 走査型電子顕微法システム | 2025年 9月29日 | |
特許 7739432 | マスク検査ツールにおける光学式高さセンサの統合 | 2025年 9月16日 | |
特許 7736877 | EUV光を提供するフォトマスクを備えるシステム | 2025年 9月 9日 | |
特許 7734761 | 試料の検査のためのケア領域の設定 | 2025年 9月 5日 | |
特許 7725645 | オーバレイ計量の性能拡張 | 2025年 8月19日 | |
特許 7720953 | 半導体処理装置における希ガスの収集とリサイクル方法 | 2025年 8月 8日 | |
特許 7720964 | ランプハウス補正を備えるプラズマ源のシステム及び方法 | 2025年 8月 8日 | |
特許 7720405 | 検査ツールにおける側方剪断干渉測定のシステムおよび方法 | 2025年 8月 7日 | |
特許 7719100 | 品質管理専用ウェハを用いない半導体計測ツール群の整合 | 2025年 8月 5日 | |
特許 7717824 | EUVマスク検査のための方法および装置 | 2025年 8月 4日 | |
特許 7714625 | 電子ビーム検査システム及び方法 | 2025年 7月29日 |
81 件中 1-15 件を表示
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7749704 7746419 7745643 7745663 7745790 7739432 7736877 7734761 7725645 7720953 7720964 7720405 7719100 7717824 7714625
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10月16日(木) -
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10月16日(木) -
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10月17日(金) -
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10月24日(金) -
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