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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7579408	高アスペクト比構造の測定のための中赤外分光法及びシステム	2024年11月 7日
特許 7577162	電子ビームエミッタの動作方法	2024年11月 1日
特許 7576635	光学対物レンズを回転させるための装置および方法	2024年10月31日
特許 7573618	厚膜フォトレジスト層計測ターゲット	2024年10月25日
特許 7573656	対角回折ベースのオーバーレイターゲットを測定するための計測システムおよび方法	2024年10月25日
特許 7571274	モアレ効果を呈するデバイス様オーバレイ計量ターゲット	2024年10月22日
特許 7570434	埋込計量ターゲット用撮像システム	2024年10月21日
特許 7570470	ランプハウス補正を備えるプラズマ源のシステム	2024年10月21日
特許 7570527	デュアルアパーチャ方式の高解像度電子ビーム装置	2024年10月21日
特許 7569938	オンザフライ散乱計測オーバーレイ計測ターゲット	2024年10月18日
特許 7569379	ウェーハモデルを使用するウェーハ露光方法及びウェーハ製造アセンブリ	2024年10月17日
特許 7568639	設定可能焦点オフセットによって試料表面を追跡するための自動焦点調節システム	2024年10月16日
特許 7561793	半導体試料内の瑕疵を検出又は精査するシステム	2024年10月 4日
特許 7561882	半導体製造プロセスで使用される敏感な層の試料損傷を防いで走査型電子顕微鏡撮像を可能にする方法	2024年10月 4日
特許 7557546	試験サンプルの温度変調特性の測定	2024年 9月27日

86 件中 1-15 件を表示

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7579408 7577162 7576635 7573618 7573656 7571274 7570434 7570470 7570527 7569938 7569379 7568639 7561793 7561882 7557546

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