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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7661309	モアレ要素及び回転対称配列を用いるイメージングオーバレイターゲット	2025年 4月14日
特許 7656031	可解釈な深層学習ベース欠陥検出及び分類	2025年 4月 2日
特許 7653445	接合されたウェハのオーバレイ計測	2025年 3月28日
特許 7645831	照明源及びプラズマ光源	2025年 3月14日
特許 7644721	極端紫外線計測のための光学的エタンデュ整合方法及びシステム	2025年 3月12日
特許 7642797	三次元ウェハ構造向けビニング増強欠陥検出方法	2025年 3月10日
特許 7642804	画像ベースのオーバレイ計測においてターゲット特徴焦点を決定するためのシステムおよび方法	2025年 3月10日
特許 7642045	プロセス条件計測ウェハアセンブリ向けのシステム及び方法	2025年 3月 7日
特許 7642081	プラズマ原子層堆積を用い堆積された硼素層を有する裏面照明型センサ	2025年 3月 7日
特許 7639111	検査システム及び方法	2025年 3月 4日
特許 7638230	極端紫外マスク検査システムの波面収差計量	2025年 3月 3日
特許 7637791	インライン欠陥部分平均試験を使用する適応的半導体試験のためのシステムおよび方法	2025年 2月28日
特許 7637054	非円形瞳を有する検査システム	2025年 2月27日
特許 7637147	半導体デバイス内潜在的信頼性欠陥識別システム及び方法	2025年 2月27日
特許 7635385	広帯域光の連続生成のためのレーザおよびドラム制御	2025年 2月25日

32 件中 1-15 件を表示

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7661309 7656031 7653445 7645831 7644721 7642797 7642804 7642045 7642081 7639111 7638230 7637791 7637054 7637147 7635385

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