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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7940039	二次高調波生成を用いる界面依拠欠陥検査	2026年10月22日
特許 7940013	スクリーニングエッジ配置均一性ウェハ確率	2026年10月22日
特許 7938134	小さなターゲットを使用して校正されるオーバーレイ誤差の測定	2026年10月20日
特許 7936372	オーバーレイ計測における特定のフーリエ瞳周波数を分離するためのシステムおよび方法	2026年10月15日
特許 7936325	電磁コイルの均一な冷却のためのシステムおよび方法	2026年10月15日
特許 7936321	高解像度、マルチ電子ビーム装置	2026年10月15日
特許 7936318	段階的な濃度のヒドロキシルラジカルを有するレーザ維持プラズマランプ	2026年10月15日
特許 7931152	マルチカラム顕微鏡用自動焦点センサの実装	2026年10月 6日
特許 7925525	電子銃及び電子顕微鏡	2026年 9月28日
特許 7924394	光電陰極膜を用いた複数の電子ビームの生成	2026年 9月24日
特許 7922797	画像モデリング支援輪郭抽出	2026年 9月16日
特許 7918852	リニク干渉計による３Ｄプロフィロメトリ	2026年 9月10日
特許 7917685	積み重ねられた四ホウ酸ストロンチウム板を使用した周波数変換	2026年 9月 8日
特許 7917656	光学検査装置及び計量方法	2026年 9月 8日
特許 7910173	走査スキャトロメトリ・オーバーレイ測定	2026年 8月24日

49 件中 1-15 件を表示

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7940039 7940013 7938134 7936372 7936325 7936321 7936318 7931152 7925525 7924394 7922797 7918852 7917685 7917656 7910173

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