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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7854035	Ｘ線スキャトロメトリシステムのフルビーム計測	2026年 4月30日
特許 7848247	物理学ベースモデルをセットアップするためのシステムおよび方法	2026年 4月20日
特許 7844585	半導体デバイスの位置ずれを測定する多層モアレ標的	2026年 4月13日
特許 7843846	複数の照明パラメータを使用した多方向オーバーレイ計測および分離画像化	2026年 4月10日
特許 7840440	感受性粒子を検出するための連続縮退楕円リターダ	2026年 4月 3日
特許 7839200	マルチビームシステムにおけるファイバ位置マッピングのシステムおよび方法	2026年 4月 1日
特許 7838002	複数の電子ビームを生み出すシステムおよび方法	2026年 3月31日
特許 7830475	半導体デバイスにおける欠陥ベースの試験カバレッジギャップを自動的に識別するためのシステムおよび方法	2026年 3月16日
特許 7828361	オーバーレイ計測用の傾斜照明	2026年 3月11日
特許 7821784	マイクロ電子デバイス製造中に物理的シミュレーションモデルを加速するシステムおよび方法	2026年 2月27日
特許 7821275	オーバレイ計量における参照画像グループ化	2026年 2月26日
特許 7815513	変調光源を備える光学計測ツール	2026年 2月17日
特許 7813279	確率的フォトレジスト厚み欠陥の予測及び計量	2026年 2月12日
特許 7811254	複数の測定列を用いた大規模オーバレイ計測サンプリング	2026年 2月 4日
特許 7808193	ロバストなインラインツールマッチングを用いた半導体測定	2026年 1月28日

19 件中 1-15 件を表示

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7854035 7848247 7844585 7843846 7840440 7839200 7838002 7830475 7828361 7821784 7821275 7815513 7813279 7811254 7808193

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