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ケーエルエー−テンカー コーポレイション
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■ 2026年 出願公開件数ランキング 第346位 13件
（
2025年：第347位 91件）
■ 2026年 特許取得件数ランキング 第456位 8件
（
2025年：第276位 102件）
（ランキング更新日：2026年2月20日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ケーエルエー−テンカー コーポレイションの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7815513 | 変調光源を備える光学計測ツール | 2026年 2月17日 | |
| 特許 7813279 | 確率的フォトレジスト厚み欠陥の予測及び計量 | 2026年 2月12日 | |
| 特許 7811254 | 複数の測定列を用いた大規模オーバレイ計測サンプリング | 2026年 2月 4日 | |
| 特許 7808193 | ロバストなインラインツールマッチングを用いた半導体測定 | 2026年 1月28日 | |
| 特許 7806104 | ４点傾斜整列ウェハチャック | 2026年 1月26日 | |
| 特許 7801361 | 高圧レーザー維持プラズマランプの製造方法 | 2026年 1月16日 | |
| 特許 7796212 | ツール誘起シフト補正を用いたダイ内オーバーレイの推定 | 2026年 1月 8日 | |
| 特許 7795550 | 可変ＤＵＶレーザアセンブリ | 2026年 1月 7日 |
8 件中 1-8 件を表示
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7815513 7813279 7811254 7808193 7806104 7801361 7796212 7795550
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