特許6975344パターニングプロセスについての情報を決定する方法、測定データにおける誤差を低減する方法、メトロロジプロセスを較正する方法、メトロロジターゲットを選択する方法

発明の名称　パターニングプロセスについての情報を決定する方法、測定データにおける誤差を低減する方法、メトロロジプロセスを較正する方法、メトロロジターゲットを選択する方法

出願人　エーエスエムエル　ネザーランズ　ビー．ブイ．　（識別番号 504151804）

　　　　特許公開件数ランキング 166 位（61件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 263 位（34件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-6975344

公報発行日　2021年12月1

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-B9-6975344

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