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エーエスエムエル ネザーランズ ビー．ブイ．
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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第226位 139件
（
2024年：第220位 162件）
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第339位 72件
（2024年：第257位 124件）
（ランキング更新日：2025年11月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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エーエスエムエル ネザーランズ ビー．ブイ．の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7774104 | 時間依存欠陥検査装置 | 2025年11月20日 | |
| 特許 7771333 | リソグラフィ装置及び照度均一性補正システム | 2025年11月17日 | |
| 特許 7767282 | 真空中における熱伝導性の増大 | 2025年11月11日 | |
| 特許 7767327 | ロバストな流体結合装置 | 2025年11月11日 | |
| 特許 7767417 | 測定システム及びその使用方法 | 2025年11月11日 | |
| 特許 7766761 | リソグラフィ装置用のペリクル膜 | 2025年11月10日 | |
| 特許 7765529 | 荷電粒子検査ツール、検査方法 | 2025年11月 6日 | |
| 特許 7764512 | 半導体検出器及びこれを製造する方法 | 2025年11月 5日 | |
| 特許 7761646 | リソグラフィ装置コンポーネントおよび方法 | 2025年10月28日 | |
| 特許 7756205 | フィンガープリントモデルを取得する方法、コンピュータプログラム | 2025年10月17日 | |
| 特許 7753332 | 電子計数検出デバイスの検知要素レベルの回路設計 | 2025年10月14日 | |
| 特許 7753454 | 荷電粒子評価ツール、検査方法 | 2025年10月14日 | |
| 特許 7750876 | 迅速な計測回復のための精密真空ウィンドウビューポート及びペリクル | 2025年10月 7日 | |
| 特許 7750961 | 荷電粒子系、荷電粒子のマルチビームを使用してサンプルを処理する方法 | 2025年10月 7日 | |
| 特許 7749625 | ＥＵＶリソグラフィシステムにおける光学素子寿命の延長 | 2025年10月 6日 |
77 件中 1-15 件を表示
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7774104 7771333 7767282 7767327 7767417 7766761 7765529 7764512 7761646 7756205 7753332 7753454 7750876 7750961 7749625
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