特許6983402汚れの影響を受けにくいひずみ分布測定方法とそのプログラム

発明の名称　汚れの影響を受けにくいひずみ分布測定方法とそのプログラム

出願人　独立行政法人産業技術総合研究所　（識別番号 301021533）

　　　　特許公開件数ランキング 189 位（261件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 138 位（280件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-6983402

公報発行日　2021年12月17

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-B9-6983402

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