特開 2022-151844 試験測定装置及び試験測定装置における方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2022151844

(43)【公開日】2022-10-07

(54)【発明の名称】試験測定装置及び試験測定装置における方法

(51)【国際特許分類】

   G01R 13/20 20060101AFI20220929BHJP

【ＦＩ】

G01R13/20 M

G01R13/20 N

G01R13/20 L

【審査請求】未請求

【請求項の数】10

【出願形態】ＯＬ

【外国語出願】

(21)【出願番号】P 2022048889

(22)【出願日】2022-03-24

(31)【優先権主張番号】63/165,699

(32)【優先日】2021-03-24

(33)【優先権主張国・地域又は機関】US

(31)【優先権主張番号】17/701,658

(32)【優先日】2022-03-22

(33)【優先権主張国・地域又は機関】US

(71)【出願人】

【識別番号】391002340

【氏名又は名称】テクトロニクス・インコーポレイテッド

【氏名又は名称原語表記】ＴＥＫＴＲＯＮＩＸ，ＩＮＣ．

(74)【代理人】

【識別番号】100090033

【弁理士】

【氏名又は名称】荒船 博司

(74)【代理人】

【識別番号】100093045

【弁理士】

【氏名又は名称】荒船 良男

(72)【発明者】

【氏名】ゲイリー・ジェイ・ウォルド

(57)【要約】

【課題】ＤＵＴの信号中の非常に稀なイベントを効果的に捕捉する。
【解決手段】試験測定装置１００は、ＤＵＴ１０１から信号を受信して信号からアクイジションを生成し、アクイジションをアクイジション・メモリ１１２に記憶し、アクイジションをデータ・ストア１２０にコピーする。履歴プロセッサ１５０は、データ・ストア１２０中のアクイジションを１つ以上の基準と比較し、アクイジションが１つ以上の基準を満たすかどうかを確認する。アクイジションが１つ以上の基準を満たすとき、アクイジションは、選択された測定値の履歴としてデータ・ストア履歴１５２に記憶されてもよく、ここで測定又は他の分析が行われても良い。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

試験用の信号を受信するように構成される入力部と、
受信した信号からアクイジションを生成し、アクイジション・メモリに上記アクイジションを記憶し、該アクイジションをデータ・ストアにコピーするように構成されるアクイジション・プロセッサと、
上記データ・ストア中の上記アクイジションを１つ以上の基準と比較し、選択されたアクイジションが上記１つ以上の基準を満たすか否かを確認するように構成されたアクイジション評価部と
を具える試験測定装置。

【請求項2】

上記アクイジション評価部が、上記アクイジションが上記１つ以上の基準を満たす場合に、上記アクイジションを第２メモリにコピーするように構成される請求項１の試験測定装置。

【請求項3】

上記アクイジション評価部が、
上記第２メモリの上記アクイジションを選択し、
上記第２メモリから選択された上記アクイジションを第２の１つ以上の基準と比較し、
上記第２メモリから選択された上記アクイジションが上記第２の１つ以上の基準を満たすか否かを確認する
ように更に構成される請求項２の試験測定装置。

【請求項4】

上記第２メモリに記憶された１つ以上のアクイジションから測定値を生成するように構成される測定プロセッサを更に具える請求項２の試験測定装置。

【請求項5】

上記１つ以上の基準が、視覚的トリガ、測定トリガ、イベント・トリガ、検索結果、マスク試験、バス・デコード結果、又はハードウェア・トリガの中の少なくとも１つを含む請求項１の試験測定装置。

【請求項6】

試験測定装置における方法であって、
試験入力部で被試験信号を受信する処理と、
上記被試験信号のデジタル化されたサンプルをアクイジションとして生成する処理と、
上記アクイジションをアクイジション・メモリに記憶する処理と、
上記アクイジション・メモリから上記試験測定装置のメモリ・ストアに上記アクイジションをコピーする処理と、
上記データ・ストア内の上記アクイジションを１つ以上の基準と比較する処理と、
上記アクイジションが上記１つ以上の基準を満たしているかどうかを確認する処理と
を具える試験測定装置における方法。

【請求項7】

上記アクイジションが上記１つ以上の基準を満たす場合に、上記アクイジションを第２メモリ・ストアにコピーする処理を更に具える請求項６の試験測定装置における方法。

【請求項8】

上記第２メモリから特定のアクイジションを選択する処理と、
上記第２メモリから選択された上記アクイジションを第２の１つ以上の基準と比較する処理と、
上記第２メモリから選択された上記アクイジションが上記第２の１つ以上の基準を満たすかどうかを確認する処理と
を更に具える請求項７の試験測定装置における方法。

【請求項9】

上記第２メモリに記憶された１つ以上のアクイジションから累積的測定値を生成する処理を更に具える請求項７又は８の試験測定装置における方法。

【請求項10】

複数のアクイジションの中の選択された１つを１つ以上の基準と比較する処理が、複数のアクイジションの中の選択された１つを、視覚的トリガ、測定トリガ、イベント・トリガ、検索結果、マスク試験、バス・デコード結果又はハードウェア・トリガの中の少なくとも１つと比較する処理を含む請求項６の試験測定装置における方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本開示は、試験測定装置に関し、特に、そのような試験測定装置によって取り込まれた特定のデータを記憶及び分析するための技術に関する。

【背景技術】

【0002】

デジタル・オシロスコープ、ロジック・アナライザ、スペクトラム・アナライザなどの試験測定装置は、被試験デバイス（ＤＵＴ）から目的の信号を受信し、それに応答して視覚的又はデータ測定出力を生成する。ほとんどの計測器には、入力信号の記録も記憶する。計測器のメモリ量は有限であるため、計測器に保存できるレコード、サンプル、アクイジション（取得データ）の数には限界がある。計測器に保存できるアクイジションの数は、データ・サンプル・レート、サンプル分解能、アクイジション・レコード長及びアクイジションを保存する計測器のメモリの総量によって異なる。

【0003】

一部の計測器で利用可能なオプションの履歴モードでは、被試験デバイスから入力される試験信号を測定するのではなく、計測器のメモリに保存されているアクイジション（又は、波形サンプル）に対して測定を実行できる。履歴モードが有効化されると、ユーザは、ある保存されたアクイジションから前又は後のアクイジションへと進むことができる。ユーザがあるアクイジションから別のアクイジションに移動すると、計測、検索、バス・デコードのような、計測器の全てのアクティブな分析機能が、選択されたアクイジションに対して実行される。この従来の履歴モードは、ユーザが、関心のあるイベントで停止して確認できるため、入力信号で検出された問題をデバッグするのに有益である。また、データは、計測器に保存されるため、ユーザは、関心のあるイベントを必要なだけ何度でも確認できる。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特開２０１８－１７９９９３号公報

【特許文献2】特開２０１５－２０３７０１号公報

【非特許文献】

【0005】

【非特許文献1】トランジスタ技術ＳＰＥＣＩＡＬ編集部編、「ディジタル・オシロスコープ活用ノート」、「５－２ トリガ回路のしくみ」、第８５～８７頁、図２（回路ブロック図）、トランジスタ技術ＳＰＥＣＩＡＬ ｆｏｒ フレッシャーズ Ｎｏ．９９、ＣＱ出版株式会社、２００７年７月１日発行

【非特許文献2】「トリガ入門」、文書番号55Z-17291-3、テクトロニクス、２０１０年６月発行、［online］、［２０２２年３月２４日検索］、インターネット<https://www.tek.com/ja>

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0006】

履歴モードは、保存された入力波形のデバッグや検査に役立つが、メモリ量が有限であるために、非常にまれにしか発生しないイベントが計測器によって捕捉されない可能性があり、その有用性に限界がある。例えば、ＤＵＴで平均４時間に１回のイベントが発生し、計測器に１時間相当のメモリ・ストレージがある場合、イベントが所与の１時間のサンプルに記憶される可能性は、４回に１回だけである。

【0007】

本開示の例は、従来技術のこれら及び他の欠陥に対処する。

【課題を解決するための手段】

【0008】

本願で開示されるのは、プログラムマブル又は設定変更可能な（configurable）アクイジション履歴プロセッサ（acquisition history processor）を有する試験測定装置である。設定変更可能な履歴プロセッサは、計測器のデータ・ストアに保存されたアクイジションを、典型的には、ユーザが指定する様々な基準に照らして評価する。記憶されたアクイジションが、現在の基準を満たすと、データ・ストア履歴に移動され、後で選択、分析、測定及び評価することができる。以下に説明するように、本発明の実施形態によれば、試験中、どんなに頻度の低いイベントであっても、ユーザにとって関心の高いアクイジション又はイベントの複数のサンプルを、計測器が収集可能になる。

【0009】

本開示技術の実施例の態様、特徴及び効果は、添付の図面を参照する実施例の以下の説明から明らかになるであろう。

【図面の簡単な説明】

【0010】

【図1】図１は、プログラマブル履歴プロセッサを有する試験測定装置の本開示技術の実施例によるブロック図である。

【図2】図２は、様々なメモリ・ストアと、そのようなメモリ・ストアに記憶されたデータに適用されても良い操作を示す本発明の実施形態によるブロック図である。

【図3】図３は、メイン・ホスト・メモリのアクイジション若しくはデータ・ストア履歴又はこれらの両方に対して、測定又は分析をどのように選択的に行うことがあるかを示す本発明の実施形態によるブロック図である。

【図4】図４は、本発明の実施形態による、メイン・ホスト・メモリのアクイジション、データ・ストア履歴のアクイジション、又は、データ・ストア履歴の更なる条件を満たしたアクイジションに由来するアクイジションに対して、測定又は分析をどのように選択的に行うことがあるかの別の例を示す本発明の実施形態によるブロック図である。

【図5】図５は、図１のプログラマブル履歴プロセッサを設定する際に、ユーザが呼び出すことができる基準を示す本発明の実施形態によるブロック図である。

【発明を実施するための形態】

【0011】

図１は、以下で詳述するように、ユーザ設定変更可能な履歴プロセッサを含む試験測定装置１００の一例のブロック図である。当業者であれば理解できるように、この測定装置１００は、図１に示されていない追加のコンポーネントを含んでもよいし、又は、本願に記載される様々なコンポーネント及び機能を、組み合わせてもっと少ない個数にするか若しくは複数のコンポーネント若しくは機能に分割しても良い。本願に記載される全ての機能又はコンポーネントが、本発明の全ての実施形態に存在する必要はない。

【0012】

図１の装置１００には、１つ以上のポート１０２があり、これは、任意の電気的又は光的信号伝達媒体であっても良い。ポート１０２は、レシーバやトランシーバを有していても良い。各ポート１０２は、試験測定装置１００のチャンネルである。いくつかの実施形態では、試験測定装置１００には、８個、１６個又はそれ以上の独立したポートがある。試験測定装置１００は、１つ以上のポート１０２を介して被試験デバイス（ＤＵＴ）１０１に結合し、試験や測定のためにＤＵＴからの信号を受けても良い。

【0013】

装置１００には、１つ以上のデバイス（そのうちの少なくとも１つはＤＵＴ１０１）から１つ以上のアナログ信号を受けるアナログ・フロント・エンド１０４が有っても良い。アナログ信号は、トラック・アンド・ホールド回路１０６で受信され、これは、１つ以上のアナログ信号を追跡し、サンプル・クロック（図示せず）に応答して、１つ以上のアナログ信号のサンプルを保持する。トラック・アンド・ホールド回路１０６の保持サンプルは、１つ以上のアナログ・デジタル・コンバータ（ＡＤＣ）１０８に送られ、これは、ア
ナログ入力サンプルをデジタル又はデジタル化されたサンプルに変換する。ＤＵＴ１０１からの入力信号がすでにデジタル形式である場合、コンポーネント１０４、１０６及び１０８はバイパスされても良い。いずれにしても、デジタル・サンプルは、１つ以上のアクイジション回路１１０に送られ、これは、サンプルをアクイジションし（取り込み）、それらをアクイジション・メモリ１１２に記憶する。

【0014】

アクイジション・メモリ１１２は、大量の受信データを記憶するように構造化された比較的大きなソリッド・ステート・メモリであっても良い。アクイジション・メモリ１１２は、新しいデータが記憶されるにつれて最も古い記憶データを上書きする循環バッファとして構成されても良い。いくつかの実施形態では、アクイジション・メモリ１１２は、等しいサイズの２つの循環バッファとして構成され、このとき、第１循環バッファが、アクイジション回路１１０からのデータを記憶しながら、第２循環バッファが、そのデータをホスト・メモリ又はデータ・ストア１２０に送信する。次いで、第２循環バッファが、そのデータをデータ・ストア１２０にオフロードした後、第２循環バッファは、アクイジション回路１１０から新しいデータを取り込む一方で、第１循環バッファは、そのデータをデータ・ストア１２０にオフロードする。別の構成では、メモリが、書き込みと読み出しを同時に行う１つの循環バッファとして構成され、１つの循環バッファのみがアクイジション・メモリ１１２として使用される。

【0015】

１つ以上のトリガ回路１１６は、ユーザによって選択された特定の特性を有するもののみにアクイジションを制限するために使用されても良い。一般的なトリガには、エッジ・トリガ、グリッチ・トリガ、パルス幅トリガ、振幅トリガなどがある。トリガは、単一のイベントに基づく場合もあれば、Ａ－Ｂトリガを使用して、複数のイベントの組み合わせから複雑なトリガを指定することもできる。動作中、トリガ回路１１６は、入力信号にトリガ基準を適用し、トリガ条件が満たされた場合にのみアクイジション回路１１０にアクイジションを記憶させる。トリガ回路１１６は、入力信号自体とは別に、時間ベースその他の制御信号を受けることがある。トリガされると、トリガ回路１１６は、アクイジション回路１１０に、トリガ発生前の設定可能な量の信号情報及びトリガ・イベント後の設定可能な量の信号情報を記憶させる。トリガ・イベントに基づいて記憶される上記量の情報を、本願では、レコード又はアクイジションと呼ぶ。トリガ回路１１６がオフされると、アクイジションは周期的な間隔でＤＵＴ１０１から自動的にアクイジションされても良い。

【0016】

上述したように、アクイジション・メモリ１１２のアクイジションは、取り込まれた後に、自動的にデータ・ストア１２０に移動されるが、これは、装置１００における最新のアクイジションを記憶するメモリである。

【0017】

本発明の実施形態は、以下では、アクイジションが１つとして説明される。つまり、１つのトリガで、１つのアクイジションを生成し、次いで、これは、アクイジション・メモリ１１２からデータ・ストア１２０に移動され、そこで評価される。別の実施形態では、データ・ストア１２０に、複数のアクイジションを取り込み又は蓄積し、これらを後で評価するということを連続して行うこともあるが、評価プロセスは、データ・ストア１２０に記憶されたアクイジションが１つであるか、複数であるかにかかわらず同じである。

【0018】

１つ以上のメイン・プロセッサ１３０は、プロセッサ・メモリ１３２からの命令を実行するように構成され、こうした命令によって示される、装置１００の全体的な動作を制御するなどの任意の方法、動作又は関連するステップを実行しても良い。１つ以上のプロセッサ１３０は、データ・ストア１２０に記憶されたアクイジションに対して、デコード、検索、測定など、更なる処理を実行してもよく、その間、アクイジション・メモリ１１２は、次のアクイジションで満たされていく。次のアクイジションが完了すると、このアクイジションは、アクイジション・メモリ１１２からデータ・ストア１２０に自動的に移動され、典型的には前回のアクイジションを上書きする。

【0019】

メイン・ユーザ入力部１４０は、１つ以上のプロセッサ１３０に結合される。メイン・ユーザ入力部１４０には、ユーザが装置１００をインタラクティブに操作するのに利用できるキーボード、マウス、タッチスクリーン、プログラマブル・インタフェースその他の操作装置があっても良い。ユーザの入力は、装置の外部から、プログラマブル・インタフェースや接続されたパーソナル・コンピュータなどを通して、発信されても良い。装置は、メイン出力ディスプレイ１４２を有してよく、これはグラフィカル・ユーザ・インタフェース（ＧＵＩ）であっても良い。ディスプレイ１４２は、ＬＣＤのようなデジタル・スクリーンやその他の任意のモニタで有っても良く、波形、測定値及び他のデータをユーザに表示する。実施形態によっては、メイン出力ディスプレイ１４２がタッチスクリーンであり、ユーザの入力を受けることもできる。いくつかの実施形態では、主出力ディスプレイ１４２が、装置１００から離れた位置に配置されるか、又は、装置１００から離れた位置で複製されても良い。いくつかの実施形態では、リモート・コンピュータを装置１００に接続し、メイン・ディスプレイ１４２をリモート・コンピュータのディスプレイに表示させても良い。

【0020】

出力ポート１４４は、装置１００における測定結果、測定データ又は任意のデータを、装置の外部に送信するのに使用できる。いくつかの実施形態では、出力ポート１４４は、インターネット１４６又はプライベート・ネットワーク（ローカル・エリア・ネットワーク（ＬＡＮ）など）のようなクラウド又は接続されたネットワークにデータを記憶させる。

【0021】

装置１００には、プログラマブル履歴プロセッサ（history processor）１５０があり、これは、以下で詳細に説明される。大まかに言えば、履歴プロセッサ１５０は、１つ以上の基準を使用して、データ・ストア１２０に記憶されたアクイジションに対して比較する。データ・ストア１２０に記憶されたアクイジションが１つ以上の基準に適合する場合、アクイジションは、別のメモリ（第２メモリ：secondary memory）であるデータ・ストア履歴（data store history）１５２にコピー又は移動される。適合する全てのアクイジションは、ユーザによって指定されて削除されるまで、又はデータ・ストア履歴１５２がユーザによってクリアされるまで、データ・ストア履歴１５２に残る。いくつかの実施形態では、データ・ストア履歴１５２は、データ・ストア履歴１５２内のデータがユーザによる特定のアクションなしには上書きされないことを除けば、データ・ストア１２０の特定のセクション又は拡張部分である。

【0022】

装置１００の任意のメモリは、任意のデータ記憶装置によって実装されても良い。例えば、アクイジション・メモリ１１２は、ＲＡＭ又は他のタイプのメモリで形成されても良い。データ・ストア１２０、データ・ストア履歴１５２及びプロセッサ・メモリ１３２などの試験測定装置１００内の他のメモリは、プロセッサ・キャッシュ、ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）、読み取り専用メモリ（ＲＯＭ）、ソリッド・ステート・メモリ、ハード・ディスク・ドライブ又は任意の他のメモリ形式として実装されても良い。データ・ストア１２０、データ・ストア履歴１５２及びプロセッサ・メモリ１３２は、一般に「ホスト」メモリと呼ばれ、そのようなホスト・メモリは、典型的には、物理的及び論理的に、アクイジション・メモリ１１２から独立している。アクイジション・メモリ１１２は、典型的には、ＡＤＣ１０８の高いサンプル・レートに追従するためにデータを高速に書き込みできることが要求され、従って、アクイジション・メモリは、典型的には、同じサイズのホスト・メモリよりも高コストである。アクイジション・メモリ１１２自体においてアクイジションを直接評価するのではなく、ホスト・メモリ・データ・ストア１２０に記憶されたアクイジションを評価するように履歴プロセッサ１５０を構成すると、装置１００が、より小さいサイズのアクイジション・メモリ１１２を利用可能になるので、コストを抑えられる。

【0023】

履歴プロセッサ１５０は、メイン・ユーザ入力部１４０に関連して上述した方法のいずれかからのユーザ入力を受けることができる。例えば、ユーザは、メニュー又はタッチスクリーンを使用して、選択基準を履歴プロセッサ１５０に入力しても良いし、又は、基準をプログラマチック・インタフェースを介して受けることもできる。また、履歴プロセッサ１５０は、上述したように出力ポート１４４を介して結果又はデータを出力しても良い。いくつかの実施形態では、データ・ストア履歴１５２を、装置１００自体にではなく、別個独立した装置に配置しても良いし、又は、現在の基準に適合するアクイジションを、内部のデータ・ストア履歴１５２及び出力ポート１４４に同時に送信しても良い。

【0024】

図２は、本発明の実施形態による履歴処理部１５０の高レベル機能を示すブロック図である。上述したように、装置１００は、ＤＵＴ１０１（図１）からの入力信号を収集し、トリガされると、アクイジション・メモリ１１２にアクイジションを記憶する。次に、アクイジション・メモリ１１２からデータ・ストア１２０にアクイジションが自動的にコピーされる。本発明の実施形態は、プログラマブル履歴プロセッサ１５０を含み、これは、データ・ストア１２０に記憶されたアクイジションを分析し、ユーザ基準（これをサンプル定義とも呼ぶ）２１０と比較する。種々のユーザ基準２１０の例が、図５を参照して、以下で説明される。動作中、履歴プロセッサ１５０は、データ・ストア１２０からアクイジションを選択し、それを現在のユーザ基準２１０と比較する。アクイジションが現在のユーザ基準２１０に適合すると、アクイジションはデータ・ストア履歴１５２にコピー又は移動される。このようにして、データ・ストア履歴１５２は、プログラマブル履歴プロセッサ１５０によって使用される１つ以上の基準に適合するアクイジションのみを受けて記憶する。これにより、本発明の実施形態は、ユーザ基準２１０によって定義されたアクイジションのみを収集して、長期間動作できる。本発明の実施形態は、装置が動作している限り、データ・ストア１２０内の各アクイジションを連続的に評価するように構成できるので、ユーザ基準が、まれに発生するイベント又は事象を指定しているかは特に問題ではなくなる。つまり、新たなアクイジションがデータ・ストア１２０に記憶されると、履歴プロセッサ１５０は、新しいアクイジションをユーザ基準２１０と比較する。アクイジションが現在の基準２１０と適合する場合、履歴プロセッサ１５０は、そのアクイジションをデータ・ストア履歴１５２に移動又はコピーし、ここに、ユーザによって削除されるまで、無期限に残ることになる。そのため、現在の基準が、平均して４時間に１回のみ発生する基準に設定されている場合、継続的に装置１００を動作させると、データ・ストア履歴１５２中に、平均して１日当たり６つのマッチングするサンプルを収集することになる。装置１００を連続的に動作させて１週間後には、データ・ストア履歴１５２は、平均して、４２個の別々のアクイジションを保有することになるが、これらは、ＤＵＴ１０１から収集され、各々が基準を満たしている。

【0025】

装置がプログラマブル履歴プロセッサ１５０を備えることの効果の一例が、図３に示されている。この図は、本発明の実施形態によって、ユーザが、どのようにして、プログラマブル履歴プロセッサ（programmable history processor）を含む装置によってアクイジションされたデータの中の定義されたサブセットのみについて測定を行うことが可能になるかを示す。従来の累積的測定動作が、工程３２０として図示されている。データ・ストア１２０内のデータに対して、平均周波数又は最大電圧などの累積的又は最高値の測定を行うことは、一般的な手法である。累積による測定値の他の例としては、測定統計値、ヒストグラム、プロットなどがあり、これらの全ては、工程３２０によって生成でき、これは、データ・ストア１２０に記憶されている全てのアクイジションに対して、このような動作を実行する。これらの累積的測定値は、アクイジションがデータ・ストア１２０に記憶されるときに、メイン・プロセッサ１３０がアクイジションを処理することによって作成及びアップデートされても良い。工程３２０は、累積的測定値を生成する基礎となるアクイジションはデータ・ストア１２０内で上書きされてしまっても、累積的測定値はアップデートし続ける。よって、工程３２０が、累積的測定値を生成するのに使用したアクイジションの多くは上書きされてしまい、最後のアクイジションのみがデータ・ストア１２０に残っているので、もはや、これらアクイジションの全てをユーザが利用可能なわけではない。ユーザは、工程３２０の累積的測定値について使用された特定のアクイジションの調査を希望する可能性があるが、その特定のアクイジションは、データ・ストア１２０の動作によって上書きされるために利用できない。

【0026】

例えば、ユーザが、周波数測定値を分析している場合を検討する。累積的測定工程３２０の出力は、最大４０.９８５ＭＨｚ及び最小３９.２６３ＭＨｚを有する周波数測定値を示している。ユーザは、最大周波数と最小周波数の２つをもたらしたアクイジションについて、累積的測定工程３２０で利用された取り込まれたデータ・セット中の両極端のものを表しているので、調査を希望している。しかし、ユーザが、装置のツールを操作してデータ・セット内の最大値と最小値が実際に発生した場所を調査すると、データ・ストア１２０内で見つかった最大値は４０.７６１ＭＨｚで、見つかった最小値は３９.４９７ＭＨｚである。これは、関心のあるサイクルを含むアクイジションが、もっと早くに生じ、もはやデータ・ストア１２０内に含まれていない、即ち、これら特定のアクイジションは、累積的測定において使用されたにもかかわらず、上書きされていたためである。

【0027】

しかし、本発明の実施形態は、別の工程３３０を使用して、工程３２０によって実行されるものと同じ又は類似の累積的測定を実行しても良い。相違点は、工程３２０がデータ・ストア１２０内のアクイジションに対して測定を実行したとしても、累積的測定値を生成したときには上書きされることがあるのに対し、工程３３０は、上書きされないデータ・ストア履歴１５２に記憶されたアクイジションに対して累積的測定を実行することである。従って、工程３３０の累積的測定値を作成するために使用される全てのアクイジションは、データ・ストア履歴１５２に残り、ユーザが累積的測定で使用されたこれらのアクイジションの中の特定のものの調査を望む場合には、ユーザが利用可能である。

【0028】

その結果、プログラマブル履歴プロセッサ１５０の存在によって、本開示技術の実施形態によれば、ユーザは、記憶されたアクイジションのどれが累積的測定値の基礎として使用されたかを選択できる。ユーザは、累積的測定工程３２０を使用することによって、以前にアクイジションされた全てのアクイジションに対して累積的測定を実行することを選択しても良い。あるいは、ユーザは、累積的測定工程３３０を使用して、データ・ストア履歴１５２に記憶されたデータのみに対して累積的測定を実行することを選択しても良い。工程３３０を使用することを選択すると、装置１００は、データ・ストア履歴１５２に実際に含まれるアクイジションのセットに対してのみ累積的測定を実行する。そして、累積的測定値に使用された全てのアクイジションは、データ・ストア履歴１５２において、更なる検査のために利用可能に維持される。

【0029】

実施形態は、データ・ストア１２０又はデータ・ストア履歴１５２のいずれかに記憶されたアクイジション・データから累積的測定値を生成することだけに限定されない。それどころか、実施形態は、これらの場所に記憶されたデータに対して、アクティブな分析及び測定を実行することもできる。累積的な工程３２０、３３０に加えて、図３は、アクティブな測定及び分析工程３２２、３３２も図示している。アクティブな測定及び分析工程３２２は、データ・ストア１２０に記憶されたアクイジションに対して動作する一方、アクティブ測定及び分析工程３３２は、データ・ストア履歴１５０に記憶されたアクイジションに対して動作する。アクティブな分析及び測定には、様々な信号パラメータの測定、記憶されたアクイジションの中の特定のアクイジション又は特性の検索、バス・デコードなどが含まれる。しかし、現在の装置では、上書きされる対象であるデータ・ストア１２０に現在記憶されているデータに対してのみアクティブな分析及び測定を行うことができるのに対し、本開示による実施形態によれば、ユーザは、基準２１０においてユーザが与えた基準を更に満たし、データ・ストア履歴１５２に記憶されたデータに対して、アクティブな分析及び測定を実行することが更に可能になる。そして、更に、上述したように、データ・ストア履歴１５２に記憶されたアクイジションは、ユーザからの明示的な指示なしに上書き又は削除されることはない。

【0030】

上述したように、データ・ストア履歴１５２に記憶されるアクイジションは、プログラマブル履歴処理部１５０に対して指定されたユーザ基準２１０を満たすアクイジションのみを含む。従って、本開示技術の実施形態は、特に基準を満たした（qualified）データに対して、即ち、ユーザ指定基準２１０を満たし、よって、データ・ストア履歴１５２に記憶されているデータ・ストア１２０からのデータに対して、特定のアクティブ又は累積的測定を実行する能力をユーザに提供する。

【0031】

基準に従ってデータ・セットを精選（refine）するこの概念は、図４に例示されるように拡張されてもよく、これは、図３と同じ機能及び工程を含むが、第２セットであるユーザ基準４１０が追加され、これは、第２プログラマブル履歴プロセッサ４５０を駆動するために使用される。実際には、もちろん、履歴プロセッサ１５０自体が、第２プログラマブル履歴プロセッサ４５０の代わりに、第２セットである基準４１０を使用しても良いが、説明を簡単にするため、図４は、履歴プロセッサの第２インスタンスを図示している。第２プログラマブル履歴プロセッサ４５０は、第２ユーザ指定基準４１０を、データ・ストア履歴１５２に既に記憶されたアクイジション、即ち、既に基準適合を確認したか又は１度選択されたアクイジションに適用する。次いで、第２セットである基準４１０を満たすと共に、先に第１セットである基準２１０も満たしていた、これらサンプルのアクイジションが、第２データ・ストア履歴４５２に記憶される。累積的測定工程又はプロセス４３０は、第２データ・ストア履歴４５２に記憶されたデータのみに対して累積的測定を実行するように構成され、アクティブな分析及び測定工程又はプロセス４３２も、第２データ・ストア履歴４５２に記憶されたデータのみに対してアクティブな分析及び測定を実行するように構成される。既に選択されたか又は既に基準適合を確認した（qualified）アクイジションに対して、新しいユーザ基準を適用するこのプロセスは、追加のユーザ基準を用いて複数回繰り返すことで、データを更に限定し、第２データ・ストア履歴４５２用の選択されたデータ又は適格なデータのセットを絞り込んでも良い。図４は、複数回基準適合を確認したデータ又は複数回選択されたデータのみに対して測定を行うシステムを実装する１つの方法を示しているが、別の実施形態では、もちろん、異なる構成を利用しても良い。例えば、複数回基準適合を確認したデータを記憶するために第２データ・ストア履歴４５２を有している必要はなく、むしろ、これらのアクイジションは、データ・タグ又はメタデータ・タグで識別させることもでき、装置１００内又は他の場所において、データ・ストア履歴１５２又は他の場所に残すこともできる。

【0032】

図５は、プログラマブル履歴プロセッサ５５０を設定する際に、ユーザが様々な基準をどのように指定できるかを示す本発明の実施形態によるブロック図である。図示のプログラマブル履歴プロセッサ５５０は、上述したプログラマブル履歴プロセッサ１５０、４５０のいずれかの一例であっても良い。

【0033】

図５に例示されるように、プログラマブル履歴プロセッサ５５０は、データ・ストア１２０に記憶されたアクイジションに適用される様々な形態のユーザ基準を受けて、識別する（identify：確認する）アクイジション又はデータ・ストア履歴１５２に移動させるアクイジションを限定又は選別する。更に、工程又はプロセス５３０は、以下で説明するように、プログラマブル履歴プロセッサ５５０に供給される複数の基準又は複数の形式の基準を組み合わせるために使用されても良い。

【0034】

プログラマブル履歴プロセッサ５５０によって適用されるユーザ基準は、図１の装置１００のような装置のユーザによって指定できる任意の形式の基準であっても良い。例えば、ユーザ基準は、１つ以上の視覚的トリガ基準５１０を含んでも良く、これは、波形出力を１つ以上のグラフィカルな形状又はウィンドウにグラフィカルに対して比較することによって、波形イベントを特定するトリガである。波形イベント又はグラフィカル定義を満たす波形を含むアクイジションは、視覚的トリガによって特定されるセットに含まれる一方、グラフィカル定義を満たしないものは含まれない。プログラマブル履歴プロセッサによって使用されても良い別の基準には、アクイジションのデータ・サンプルが特定の電圧を超えるか、又は、ある閾値を超える又は下回る周波数を有するかどうか、などの測定基準５１２がある。例えば、ユーザは、チャンネル１上の１００ミリ秒を超える少なくとも１つの正のパルス幅を含むアクイジションのみをプログラマブル履歴プロセッサ５５０が記憶させるように指定しても良い。プログラマブル履歴プロセッサによって使用されても良い別の基準には、検索可能なイベント基準５１４がある。この形式の基準は、一定期間有効な信号が受信されないタイムアウトのような波形サンプル周辺のイベント形式、又は、２つの信号エッジ間の時間のようなイベント間の時間に基づいている。別の検索可能なイベント基準５１４としては、定義した検索によって、全てユーザ定義の持続時間よりも速い立ち上がり時間測定値が２５個を超えて生成される場合のアクイジションのみを記憶するというものがあっても良い。他の形式の検索可能なイベント・トリガはよく知られている。プログラマブル履歴プロセッサによって使用されても良い別の基準には、通信又はマスク試験基準５１６があり、これは、波形を業界標準のマスク・テンプレートと比較する。プログラマブル履歴プロセッサによって使用されても良い別の基準には、バス・デコード結果基準５１８がある。例えば、ユーザは、x86hのような特定のバス・アドレスに書き込まれるアクイジションのみがデータ・ストア履歴１５２に記憶されるように指定できる。最後に、他の基準５２０は、装置のユーザによって使用されても良く、かつ当業者に既知の他の多くの形式のトリガ又は基準があることを示す。他の基準５２０の例には、エッジ、パルス幅、グリッチ、ラント、ウィンドウ、ロジック、バス、タイムアウト、遷移時間、メモリ・システム・トリガ、プロトコル・トリガ、パターン・トリガ、シリアル・レーン違反及びビーコン幅違反（Beacon width violation）などの任意のハードウェア・ベースのアクイジション形式が含まれても良い。更に、基準５１０～５１８の多くが、上述のように、時間領域ではなく、周波数領域においてなされても良い。基準５１０～５２０のいずれも、任意の特定の基準に限定されず、代わりに、ユーザによって指定されても良い任意の基準を含む。本発明の実施形態は、これらの基準のいずれか又は全てをプログラマブル履歴プロセッサと組み合わせて使用しても良い。

【0035】

図５に描かれているように、これらの基準５１０～５２０のいずれかがユーザによって指定され、装置に記憶されたデータ・アクイジションに対して適用するためにプログラマブル履歴プロセッサ５５０に提供されても良い。基準に一致又は適合するアクイジションが特定され、データ・ストア履歴１５２に移動されても良い。このようにして、プログラマブル履歴プロセッサ５５０は、フィルタ又はセレクタとして動作し、上述のように、更なる処理又は分析のために、記憶されたデータ・アクイジションの中の特定のものをフィルタするか又は選択する。

【0036】

更に、基準合成部（criteria combiner）５３０は、ほぼ無限の可能性で、上記で特定された基準５１０～５２０の中の任意のものを多様にカスタマイズする能力をユーザに提供する。基準合成部５３０は、ブール演算子であってもよく、ＡＮＤ、ＮＡＮＤ、ＯＲ又はＮＯＲの組み合わせに加えて、ＮＯＴ関数も可能にする。例えば、ユーザは、プログラマブル履歴プロセッサ５５０によって使用される基準を、ある視覚的トリガ５１０が満たされる（つまり、True：真である）が、検索可能なイベント基準５１４も真であるとき（例えば、装置がＤＵＴからのアクイジションを受信し始めてから１０００番目のアクイジションより後の特定のアクイジションなど）だけと指定しても良い。基準合成部５３０は、基準５１０～５２０のクラス又は形式の夫々からの単一の基準に限定されず、複数のインスタンスを含んでもよい。例えば、ユーザは、測定基準５１２を使用して、１.８０ボルトの最小電圧及び１.５１ＭＨｚを超える周波数を有するサンプルを含むアクイジ
ションのみを基準として指定できる。あるいは、基準は、第１の視覚的トリガ基準５１０に該当せず、同時に第２の視覚的トリガ基準内にないアクイジションだけを選択するように設定できる。

【0037】

上述のブール関数に加えて、基準合成部５３０は、入れ子型の論理をサポートしても良く、これは、丸括弧（parenthesis）、角括弧（brackets）、又は、他の任意の記号で指定されても良い。例えば、特定の合成された基準が、C0:[(視覚的トリガ１内 AND アクイジション番号＞100) OR (視覚的トリガ２内 AND アクイジション番号＞2000)] の形を取っても良い。

【0038】

基準合成部５３０の柔軟性の利点の１つは、ユーザにとって関心のある多数の異なるアクイジション・データを指定するために使用できることである。例えば、ユーザは、プログラマブル履歴プロセッサ５５０によって使用される基準を、基準 C1:[視覚的トリガ１内に入る OR 1.63ボルトを超える電圧を有する OR 1.5MHzより低い周波数を有する OR マスク１に適合する] を有する任意のアクイジションである、と指定しても良い。この基準C1のセットは、基準C1内の多数のＯＲ節に基づいて、非常に多数のアクイジションをデータ・ストア履歴１５２に捕捉できる。しかし、上記の図４の説明を思い出せば、プログラマブル履歴プロセッサ５５０を複数回実行してもよく、それぞれが異なる基準を有している。そのため、プログラマブル履歴プロセッサ５５０によって評価されるデータ・ストア１２０からのアクイジションは、様々な理由から関心を引く、非常に多数のサンプルを有することがあり、データ・ストア履歴１５２に記憶される。次いで、図４に例示されるように、基準の第２セットが、データ・ストア履歴１５２のデータに対して実行されても良い。例えば、この基準の第２セットは、１.６３ボルトより大きく１.６６ボルト未満の電圧を有するサンプルのみを選択し、第２データ・ストア履歴４５２に記憶することを指定しても良い（C2:[(電圧＞1.63ボルト) AND (電圧＜1.66ボルト)]）。この第２基準C2では、少数のアクイジションのみを有していても良い。基準の第３セットC3は、装置１００に記憶された任意のアクイジションに適用されても良い。即ち、基準の第３セットC3は、メイン・データ・ストア１２０に記憶された最後のＮ個のサンプル全てを含むアクイジション、C1基準を満たしたアクイジションを含むデータ・ストア履歴１５２に記憶されたアクイジション、又は、C1とC2基準の両方を満たしたアクイジションを含むデータ・ストア履歴４５２のアクイジションを評価するために、プログラマブル履歴プロセッサによって使用されても良い。装置１００の任意の可能なソース又は測定基準（metric）に由来する複数の異種の基準をブール演算子及び入れ子型演算子（nested operators）を使って合成する基準合成部５３０の能力は、プログラマブル履歴プロセッサによる複数回の選択処理を異なるデータ・セットについて実行する能力及び基準の様々なセットを利用する能力と組み合わせられて、ユーザに、関心のあるアクイジションをすばやく見つけるための極めて高い能力を提供するもので、これは、未だかつて決して利用できなかったものである。

【0039】

本開示技術の態様は、特別に作成されたハードウェア、ファームウェア、デジタル・シグナル・プロセッサ又はプログラムされた命令に従って動作するプロセッサを含む特別にプログラムされた汎用コンピュータ上で動作できる。本願における「コントローラ」又は「プロセッサ」という用語は、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、ＡＳＩＣ及び専用ハードウェア・コントローラ等を意図する。本開示技術の態様は、１つ又は複数のコンピュータ（モニタリング・モジュールを含む）その他のデバイスによって実行される、１つ又は複数のプログラム・モジュールなどのコンピュータ利用可能なデータ及びコンピュータ実行可能な命令で実現できる。概して、プログラム・モジュールとしては、ルーチン、プログラム、オブジェクト、コンポーネント、データ構造などを含み、これらは、コンピュータその他のデバイス内のプロセッサによって実行されると、特定のタスクを実行するか、又は、特定の抽象データ形式を実現する。コンピュータ実行可能命令は、ハードディスク、光ディスク、リムーバブル記憶媒体、ソリッド・ステート・メモリ、ＲＡＭなどのコンピュータ可読記憶媒体に記憶しても良い。当業者には理解されるように、プログラム・モジュールの機能は、様々な実施例において必要に応じて組み合わせられるか又は分散されても良い。更に、こうした機能は、集積回路、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（ＦＰＧＡ）などのようなファームウェア又はハードウェア同等物において全体又は一部を具体化できる。特定のデータ構造を使用して、本開示技術の１つ以上の態様をより効果的に実施することができ、そのようなデータ構造は、本願に記載されたコンピュータ実行可能命令及びコンピュータ使用可能データの範囲内と考えられる。

【0040】

開示された態様は、場合によっては、ハードウェア、ファームウェア、ソフトウェア又はこれらの任意の組み合わせで実現されても良い。開示された態様は、１つ以上のプロセッサによって読み取られ、実行され得る１つ又は複数のコンピュータ可読媒体によって運搬されるか又は記憶される命令として実現されても良い。そのような命令は、コンピュータ・プログラム・プロダクトと呼ぶことができる。本願で説明するコンピュータ可読媒体は、コンピューティング装置によってアクセス可能な任意の媒体を意味する。限定するものではないが、一例としては、コンピュータ可読媒体は、コンピュータ記憶媒体及び通信媒体を含んでいても良い。

【0041】

コンピュータ記憶媒体とは、コンピュータ読み取り可能な情報を記憶するために使用することができる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、コンピュータ記憶媒体としては、ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）、電気消去可能プログラマブル読み出し専用メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）、フラッシュメモリやその他のメモリ技術、コンパクト・ディスク読み出し専用メモリ（ＣＤ-ＲＯＭ）、ＤＶＤ（Digital Video Disc）やその他の光ディスク記憶装置、磁気カセット、磁気テープ、磁気ディスク記憶装置やその他の磁気記憶装置、及び任意の技術で実装された任意の他の揮発性又は不揮発性の取り外し可能又は取り外し不能の媒体を含んでいても良い。コンピュータ記憶媒体としては、信号そのもの及び信号伝送の一時的な形態は除外される。

【0042】

通信媒体とは、コンピュータ可読情報の通信に利用できる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、通信媒体には、電気、光、無線周波数（ＲＦ）、赤外線、音又はその他の形式の信号の通信に適した同軸ケーブル、光ファイバ・ケーブル、空気又は任意の他の媒体を含んでも良い。

実施例

【0043】

以下では、本願で開示される技術の理解に有益な実施例が提示される。この技術の実施形態は、以下で記述する実施例の１つ以上及び任意の組み合わせを含んでいても良い。

【0044】

実施例１は、試験測定装置であって、試験用の信号を受信するように構成される入力部と、受信した信号からアクイジションを生成し、アクイジション・メモリに上記アクイジションを記憶し、該アクイジションをデータ・ストアにコピーするように構成されるアクイジション・プロセッサと、上記データ・ストア中の上記アクイジションを１つ以上の基準と比較し、選択されたアクイジションが上記１つ以上の基準を満たしているかどうかを確認するように構成されたアクイジション評価部とを具える。

【0045】

実施例２は、実施例１の試験測定装置であって、アクイジション評価部は、アクイジ
ションが１つ以上の基準を満たす場合に、アクイジションを第２メモリにコピーするように構成されている。

【0046】

実施例３は、先の実施例のいずれかの試験測定装置であって、１つ以上の基準は、ブール演算子によって結合された少なくとも２つの基準を含む。

【0047】

実施例４は、先の実施例２及び３のいずれかの試験測定装置であって、アクイジション評価部が、第２メモリから特定のアクイジションを選択し、第２メモリから選択されたアクイジションを第２の１つ以上の基準と比較し、第２メモリから選択されたアクイジションが第２の１つ以上の基準を満たすか否かを確認する（identify）ように更に構成される。

【0048】

実施例５は、先の実施例２～４のいずれかの試験測定装置であって、第２メモリに記憶された１つ以上のアクイジションから測定値を生成するように構成される測定プロセッサを更に具える。

【0049】

実施例６は、実施例５の試験測定装置であって、測定プロセッサが累積的プロセッサである。

【0050】

実施例７は、先の実施例のいずれかによる試験測定装置であって、１つ以上の基準が、視覚的トリガ、測定トリガ、イベント・トリガ、検索結果、マスク試験、バス・デコード結果、又はハードウェア・トリガのうちの少なくとも１つを含む。

【0051】

実施例８は、試験測定装置における方法であって、試験入力部で被試験信号を受信する処理と、上記被試験信号のデジタル化されたサンプルをアクイジションとして生成する処理と、上記アクイジションをアクイジション・メモリに記憶する処理と、上記アクイジション・メモリから上記試験測定装置のメモリ・ストアに上記アクイジションをコピーする処理と、上記データ・ストア内の上記アクイジションを１つ以上の基準と比較する処理と、上記アクイジションが上記１つ以上の基準を満たしているかどうかを確認する処理とを具える。

【0052】

実施例９は、実施例８の試験測定装置における方法であって、アクイジションが１つ以上の基準を満たす場合にアクイジションを第２メモリ・ストアにコピーする処理を更に具える。

【0053】

実施例１０は、先のいずれかの実施例の方法による試験測定装置における方法であって、１つ以上の基準がブール演算子によって結合された少なくとも２つの基準を含む。

【0054】

実施例１１は、実施例９～１０の試験測定装置における方法であって、第２メモリから特定のアクイジションを選択する処理と、第２メモリから選択されたアクイジションを第２の１つ以上の基準と比較する処理と、第２メモリから選択されたアクイジションが第２の１つ以上の基準を満たすかどうかを確認する処理とを更に具える。

【0055】

実施例１２は、先のいずれかの実施例の方法の試験測定装置における方法であって、第２メモリに記憶された１つ以上のアクイジションから測定値を生成する処理を更に具える。

【0056】

実施例１３は、実施例１２の試験測定装置における方法であって、第２メモリに記憶された１つ以上のアクイジションから測定値を生成する処理が、累積的測定値を生成する処理を含む。

【0057】

実施例１４は、先のいずれかの実施例の方法の試験測定装置における方法であって、複数のアクイジションの中の選択された１つを１つ以上の基準と比較する処理が、複数のアクイジションの中の選択された１つを、視覚的トリガ、測定トリガ、イベント・トリガ、検索結果、マスク試験、バス・デコード結果又はハードウェア・トリガの中の少なくとも１つと比較する処理を含む。

【0058】

開示された主題の上述のバージョンは、記述したか又は当業者には明らかであろう多くの効果を有する。それでも、開示された装置、システム又は方法のすべてのバージョンにおいて、これらの効果又は特徴のすべてが要求されるわけではない。

【0059】

加えて、本願の説明は、特定の特徴に言及している。本明細書における開示には、これらの特定の特徴の全ての可能な組み合わせが含まれると理解すべきである。ある特定の特徴が特定の態様又は実施例に関連して開示される場合、その特徴は、可能である限り、他の態様及び実施例との関連においても利用できる。

【0060】

また、本願において、２つ以上の定義されたステップ又は工程を有する方法に言及する場合、これら定義されたステップ又は工程は、状況的にそれらの可能性を排除しない限り、任意の順序で又は同時に実行しても良い。

【0061】

説明の都合上、本発明の具体的な実施例を図示し、説明してきたが、本発明の要旨と範囲から離れることなく、種々の変更が可能なことが理解できよう。従って、本発明は、添付の請求項以外では、限定されるべきではない。

【符号の説明】

【0062】

１００ 試験測定装置
１０１ 被試験デバイス（ＤＵＴ）
１０２ ポート
１０４ アナログ・フロント・エンド
１０６ トラック・アンド・ホールド回路
１０８ ＡＤＣ
１１０ アクイジション回路
１１２ アクイジション・メモリ
１１６ トリガ回路
１２０ データ・ストア
１３０ プロセッサ
１３２ プロセッサ・メモリ
１４０ メイン・ユーザ入力部
１４２ ディスプレイ
１４４ 出力ポート
１４６ クラウド/ネットワーク
１５０ 履歴プロセッサ
１５２ データ・ストア履歴（第２メモリ）
２１０ ユーザ基準/サンプル定義
３２０ 累積的測定工程
３２２ 全データのアクティブな測定
３３０ 選択されたデータの累積的測定
３３２ 選択されたデータのアクティブな測定
４１０ ユーザ基準/サンプル定義（２）
４３０ ２回選択されたデータの累積的測定
４３２ ２回選択されたデータのアクティブな測定
５１０ 視覚的トリガ基準
５１２ 測定基準
５１４ 検索可能なイベント条件
５１６ マスク試験基準
５１８ バス・デコード結果基準
５２０ その他の基準
５３０ 基準合成部
５５０ プログラマブル履歴プロセッサ

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【外国語明細書】