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特開2022-158893イベント検出方法、イベント検出システムおよびプログラム
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2022158893
(43)【公開日】2022-10-17
(54)【発明の名称】イベント検出方法、イベント検出システムおよびプログラム
(51)【国際特許分類】
G01D 5/245 20060101AFI20221006BHJP
【ＦＩ】
G01D5/245 B
G01D5/245 110L
【審査請求】未請求
【請求項の数】13
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2022001938
(22)【出願日】2022-01-07
(31)【優先権主張番号】P 2021060058
(32)【優先日】2021-03-31
(33)【優先権主張国・地域又は機関】JP
(71)【出願人】
【識別番号】303046277
【氏名又は名称】旭化成エレクトロニクス株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】110000877
【氏名又は名称】弁理士法人ＲＹＵＫＡ国際特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】井口 和之
【テーマコード（参考）】
2F077
【Ｆターム（参考）】
2F077JJ01
2F077JJ03
2F077JJ07
2F077JJ23
2F077TT32
(57)【要約】
【解決手段】予め定められた磁場発生部により発生した２軸以上の磁場を磁気センサで検出することにより、磁場発生部の位置に応じたイベントを検出するイベント検出方法であって、磁気センサで検出した磁場に基づいてイベント発生位置を取得する段階と、イベント発生位置に基づいて、イベント検出用の検出軸を選択する段階と、検出軸において、イベント発生位置に応じたトリガー閾値を算出する段階と、磁気センサで検出された磁場とトリガー閾値とが所定の条件を満たすことを示すトリガー信号を取得する段階とを備えるイベント検出方法を提供する。
【選択図】図１Ｂ
【選択図】図１Ｂ
【特許請求の範囲】
【請求項1】
予め定められた磁場発生部により発生した２軸以上の磁場を磁気センサで検出することにより、前記磁場発生部の位置に応じたイベントを検出するイベント検出方法であって、
前記磁気センサで検出した磁場に基づいて、イベント発生位置を取得する段階と、
前記イベント発生位置に基づいて、イベント検出用の検出軸を選択する段階と、
前記検出軸において、前記イベント発生位置に応じたトリガー閾値を算出する段階と、
前記磁気センサで検出された磁場と、前記トリガー閾値とが予め定められた条件を満たすことを示すトリガー信号を取得する段階と
を備えるイベント検出方法。
前記磁気センサで検出した磁場に基づいて、イベント発生位置を取得する段階と、
前記イベント発生位置に基づいて、イベント検出用の検出軸を選択する段階と、
前記検出軸において、前記イベント発生位置に応じたトリガー閾値を算出する段階と、
前記磁気センサで検出された磁場と、前記トリガー閾値とが予め定められた条件を満たすことを示すトリガー信号を取得する段階と
を備えるイベント検出方法。
【請求項2】
前記磁場発生部を予め定められた第１方向に移動させる段階と、
前記検出軸として、前記第１方向と平行な第１軸または、前記第１軸と直交する第２軸を選択する段階と
を備える請求項１に記載のイベント検出方法。
前記検出軸として、前記第１方向と平行な第１軸または、前記第１軸と直交する第２軸を選択する段階と
を備える請求項１に記載のイベント検出方法。
【請求項3】
前記磁場発生部を予め定められた第１方向に移動させる段階は、前記第１軸または前記第２軸において、前記磁場発生部が前記磁気センサ上を通過するように移動させる段階を含む
請求項２に記載のイベント検出方法。
請求項２に記載のイベント検出方法。
【請求項4】
前記検出軸を選択する段階は、
前記イベント発生位置が、前記第１軸において前記磁場発生部の位置を検出可能な検出可能領域に属する場合に前記第１軸を選択し、
前記イベント発生位置が、前記第１軸の検出可能領域に属さず、前記第２軸の検出可能領域に属する場合に前記第２軸を選択する段階を含む
請求項２または３に記載のイベント検出方法。
前記イベント発生位置が、前記第１軸において前記磁場発生部の位置を検出可能な検出可能領域に属する場合に前記第１軸を選択し、
前記イベント発生位置が、前記第１軸の検出可能領域に属さず、前記第２軸の検出可能領域に属する場合に前記第２軸を選択する段階を含む
請求項２または３に記載のイベント検出方法。
【請求項5】
前記磁場発生部の基準位置を取得する段階と、
前記基準位置および前記イベント発生位置に基づいて、前記検出軸を選択する段階と
を備える請求項１から４のいずれか一項に記載のイベント検出方法。
前記基準位置および前記イベント発生位置に基づいて、前記検出軸を選択する段階と
を備える請求項１から４のいずれか一項に記載のイベント検出方法。
【請求項6】
前記磁気センサにより検出される磁場の二乗和平方根を算出する段階と、
前記二乗和平方根を用いて、前記イベント発生位置に応じたトリガー閾値を算出する段階と
を備える、請求項１から５のいずれか一項に記載のイベント検出方法。
前記二乗和平方根を用いて、前記イベント発生位置に応じたトリガー閾値を算出する段階と
を備える、請求項１から５のいずれか一項に記載のイベント検出方法。
【請求項7】
予め定められた磁場を発生する磁場発生部と、
前記磁場発生部が発生した磁場を検出するための磁気センサと、
前記磁気センサが検出した信号を処理する処理部と
を備え、
前記処理部は、
前記磁気センサで検出した磁場に基づいて、イベント発生位置を取得する取得部と、
前記イベント発生位置に基づいて、イベント検出用の検出軸を選択する選択部と、
前記検出軸において、前記イベント発生位置に応じたトリガー閾値を算出する算出部と
を有し、
前記磁気センサで検出された磁場と、前記トリガー閾値とが予め定められた条件を満たすことを示すトリガー信号を出力する出力部を有する
イベント検出システム。
前記磁場発生部が発生した磁場を検出するための磁気センサと、
前記磁気センサが検出した信号を処理する処理部と
を備え、
前記処理部は、
前記磁気センサで検出した磁場に基づいて、イベント発生位置を取得する取得部と、
前記イベント発生位置に基づいて、イベント検出用の検出軸を選択する選択部と、
前記検出軸において、前記イベント発生位置に応じたトリガー閾値を算出する算出部と
を有し、
前記磁気センサで検出された磁場と、前記トリガー閾値とが予め定められた条件を満たすことを示すトリガー信号を出力する出力部を有する
イベント検出システム。
【請求項8】
前記選択部は、前記検出軸として、前記磁場発生部が移動する予め定められた第１方向と平行な第１軸または、前記第１軸と直交する第２軸を選択する
請求項７に記載のイベント検出システム。
請求項７に記載のイベント検出システム。
【請求項9】
前記磁場発生部は、前記第１方向に配列されたＮ極およびＳ極を有する
請求項８に記載のイベント検出システム。
請求項８に記載のイベント検出システム。
【請求項10】
前記第１方向に配置された複数の磁気センサを備える
請求項８または９に記載のイベント検出システム。
請求項８または９に記載のイベント検出システム。
【請求項11】
前記磁気センサは、２軸以上の磁場を検出可能な多軸磁気センサである
請求項７から１０のいずれか一項に記載のイベント検出システム。
請求項７から１０のいずれか一項に記載のイベント検出システム。
【請求項12】
記処理部は、前記磁気センサにより検出される磁場の二乗和平方根を算出し、
前記二乗和平方根を用いて、前記イベント発生位置に応じたトリガー閾値を算出する
請求項７から１１のいずれか一項に記載のイベント検出システム。
前記二乗和平方根を用いて、前記イベント発生位置に応じたトリガー閾値を算出する
請求項７から１１のいずれか一項に記載のイベント検出システム。
【請求項13】
コンピュータに請求項１から６のいずれか一項に記載のイベント検出方法を実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、イベント検出方法、イベント検出システムおよびプログラムに関する。
【背景技術】
【0002】
特許文献１には、「検出対象の移動量が大きくなったとしても、１つの検出部によって検出対象の移動を検出することができるポジションセンサを提供する」ことが記載されている。特許文献２には、「長い検知距離に対して出力が直線性を有し、かつ検出精度の高い位置検出が可能な位置検出センサを提供する」ことが記載されている。
［先行技術文献］
［特許文献］
特許文献１ 特開２０１９－２８３５号公報
特許文献２ 特開２００３－１６７６２７号公報
［先行技術文献］
［特許文献］
特許文献１ 特開２０１９－２８３５号公報
特許文献２ 特開２００３－１６７６２７号公報
【発明の概要】
【0003】
本発明の第１の態様においては、予め定められた磁場発生部により発生した２軸以上の磁場を磁気センサで検出することにより、磁場発生部の位置に応じたイベントを検出するイベント検出方法であって、磁気センサで検出した磁場に基づいてイベント発生位置を取得する段階と、イベント発生位置に基づいて、イベント検出用の検出軸を選択する段階と、検出軸において、イベント発生位置に応じたトリガー閾値を算出する段階と、磁気センサで検出された磁場とトリガー閾値とが所定の条件を満たすことを示すトリガー信号を受信する段階とを備えるイベント検出方法を提供する。
【0004】
本発明の第２の態様においては、予め定められた磁場を発生する磁場発生部と、磁場発生部が発生した磁場を検出するための磁気センサと、磁気センサが検出した信号を処理する処理部とを備え、処理部は、磁気センサで検出した磁場に基づいてイベント発生位置を取得する取得部と、イベント発生位置に基づいて、イベント検出用の検出軸を選択する選択部と、検出軸において、イベント発生位置に応じたトリガー閾値を算出する算出部とを有し、磁気センサは、検出された磁場とトリガー閾値とが所定の条件を満たすこと示すトリガー信号を出力する出力部を有するイベント検出システムを提供する。
【0005】
本発明の第３の態様においては、コンピュータに本発明の第１の態様に記載のイベント検出方法を実行させるためのプログラム。
【0006】
なお、上記の発明の概要は、本発明の特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
【図面の簡単な説明】
【0007】
【図1A】イベント検出システム１００の概要を示すブロック図である。
【図1B】磁気センサ２０および処理部３０のより具体的な構成を示す。
【図2A】磁場発生部１０および磁気センサ２０の配置方法の一例を示す。
【図2B】磁場発生部１０および磁気センサ２０の配置方法の一例を示す。
【図2C】磁場発生部１０および磁気センサ２０の配置方法の一例を示す。
【図3A】磁場発生部１０が基準位置Ｐ０に配置されている状態を示す。
【図3B】磁場発生部１０がイベント発生位置Ｐｅに配置されている状態を示す。
【図3C】磁場発生部１０の位置に応じた磁場波形を示す。
【図4A】２軸磁場を用いた閾値判定方法の一例を示す。
【図4B】磁場発生部１０および磁気センサ２０の配置方法の一例を示す。
【図4C】磁場発生部１０および磁気センサ２０の配置方法の一例を示す。
【図4D】２軸磁場を用いた閾値判定方法の一例を示す。
【図5】１軸磁場を用いた閾値判定方法の比較例を示す。
【図6】より具体的な閾値判定方法の一例を示す。
【図7A】より具体的な閾値判定方法の一例を示す。
【図7B】より具体的な閾値判定方法の一例を示す。
【図7C】より具体的な閾値判定方法の一例を示す。
【図7D】より具体的な閾値判定方法の一例を示す。
【図7E】より具体的な閾値判定方法の一例を示す。
【図8A】より具体的な閾値判定方法の一例を示す。
【図8B】より具体的な閾値判定方法の一例を示す。
【図8C】より具体的な閾値判定方法の一例を示す。
【図8D】より具体的な閾値判定方法の一例を示す。
【図9】イベント検出システム１００の動作フローの一例を示す。
【図10】イベント検出システム１００の構成の一例を示す。
【図11】本発明の複数の態様が全体的又は部分的に具現化されてよいコンピュータ２２００の例を示す。
【発明を実施するための形態】
【0008】
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【0009】
図１Ａは、イベント検出システム１００の概要を示すブロック図である。イベント検出システム１００は、磁場発生部１０と、磁気センサ２０と、処理部３０とを備える。
【0010】
磁場発生部１０は、予め定められた磁場を発生する。例えば、磁場発生部１０は、予め定められた方向に配列されたＮ極とＳ極からなる２極磁石を含む。磁場発生部１０は、磁石の着磁方向に応じて、予め定められた磁場波形の磁場を発生させる。磁場発生部１０は、予め定められた方向に移動して磁場波形を変化させてよい。
【0011】
磁気センサ２０は、磁場発生部１０が発生した磁場を検出する。磁気センサ２０は、少なくとも２つ以上の検出軸の磁場を検出する。本例の磁気センサ２０は、２軸以上の磁場を検出可能な多軸磁気センサである。但し、磁気センサ２０は、複数の１軸センサを有することにより、２軸以上の磁場を検出してもよい。磁気センサ２０は、２軸以上の磁場の磁束密度を検出した測定データを取得する。磁気センサ２０は、取得した測定データが予め定められた条件を満たした場合にトリガー信号を生成する。トリガー信号は、磁気センサ２０の状態変化を通知する割り込み信号である。
【0012】
処理部３０は、磁気センサ２０が検出した信号を処理する。処理部３０は、磁気センサ２０とシリアル通信し、磁気センサ２０からの測定データを受信する。また、処理部３０は、磁気センサ２０からのトリガー信号によって内部状態を変化させる。例えば、処理部３０は、トリガー信号を受信することに応じて、処理部３０が設けられた機器を待機状態から起動状態へ変化させる。
【0013】
イベント検出システム１００は、磁場発生部１０と磁気センサ２０との相対的な位置関係に応じたイベントの検出に基づいてトリガー信号を生成する。本例のイベント検出システム１００は、磁場発生部１０が予め定められた位置に移動したことに応じてトリガー信号を生成して、予め定められた動作を実行する。
【0014】
一例において、イベント検出システム１００は、ディスプレイが伸縮可能なスマートフォン（例えば、ローラブルフォン）等の携帯端末に搭載され、ディスプレイが予め定められた位置まで伸縮されることに応じて、ディスプレイの表示を切り替えるためのトリガー信号を出力する。また、イベント検出システム１００は、イベントの検出に応じて、スマートフォンを待機状態から起動状態に切り替えてもよい。また、イベント検出システム１００は、予め定められた期間、操作がない場合に、起動状態から待機状態に遷移させてよい。
【0015】
図１Ｂは、磁気センサ２０および処理部３０のより具体的な構成を示す。本例の磁気センサ２０は、検出部２２および出力部２４を備える。処理部３０は、取得部３２と、選択部３４と、算出部３６とを備える。
【0016】
検出部２２は、磁場発生部１０が発生した磁場を検出する。検出部２２は、検出した磁場の測定データ（Ｂｘ，Ｂｙ，Ｂｚ）を検出部２２または処理部３０に出力する。Ｂｘ，ＢｙおよびＢｚは、それぞれＸ軸方向、Ｙ軸方向、Ｚ軸方向の磁束密度を示す。本例の検出部２２は、測定データとして３軸方向の磁束密度を検出するが、２軸方向の磁束密度を検出してもよい。
【0017】
取得部３２は、磁気センサ２０から測定データ（Ｂｘ，Ｂｙ，Ｂｚ）を取得する。例えば、取得部３２は、磁場発生部１０が予め定められた基準位置Ｐ０に位置する場合の測定データを取得する。基準位置Ｐ０は、磁気センサ２０が磁場発生部１０の位置を検出可能な任意の位置であってよい。
【0018】
また、取得部３２は、磁場発生部１０のイベント発生位置Ｐｅなどの、検出軸の選択またはトリガー閾値の算出に必要な情報を取得してよい。イベント発生位置Ｐｅの取得方法については後述する。取得部３２は、取得したイベント発生位置Ｐｅを選択部３４および算出部３６に出力する。取得部３２は、イベント発生位置Ｐｅなどの情報を、処理部３０に設けられた記憶部から取得してもよい。
【0019】
また、取得部３２は、検出軸毎に、磁場発生部１０の位置に応じた検出可能領域および検出不可領域を取得してよい。検出可能領域は、対応する検出軸において、トリガー閾値を検出可能な領域である。検出不可領域は、対応する検出軸において、トリガー閾値を検出できない領域である。トリガー閾値を検出できない場合とは、例えば、出力された磁束密度から磁場発生部１０の位置を特定できない場合である。複数の検出軸は、それぞれ異なる領域に検出可能領域と検出不可領域を有するように選択されてよい。
【0020】
選択部３４は、イベント発生位置Ｐｅに基づいて、イベント検出用の検出軸を選択する。例えば、選択部３４は、検出軸として、磁場発生部１０が移動する予め定められた第１方向と平行な第１軸または、第１軸と直交する第２軸を選択する。選択部３４は、磁場発生部１０の位置が検出可能領域に該当するように、検出軸を選択する。具体的な検出軸の選択方法については後述する。
【0021】
算出部３６は、検出軸において、イベント発生位置Ｐｅに応じたトリガー閾値を算出する。トリガー閾値は、選択された検出軸において、イベント発生位置Ｐｅで磁気センサ２０が検出する磁束密度である。算出部３６は、算出したトリガー閾値を出力部２４に出力する。
【0022】
出力部２４は、予め定められたトリガー閾値を検出してトリガー信号を出力する。本例の出力部２４は、検出部２２が検出した磁場の磁束密度がトリガー閾値を超えるか下回った場合に、トリガー信号を生成する。出力部２４は、生成したトリガー信号を処理部３０に出力する。処理部３０は、トリガー信号の受信に応じて、予め定められた処理を実行してよい。
【0023】
図２Ａは、磁場発生部１０および磁気センサ２０の配置方法の一例を示す。本図は、Ｙ軸方向の視点の磁場発生部１０および磁気センサ２０を示す。
【0024】
本例の磁場発生部１０は、Ｘ軸方向に配列されたＮ極およびＳ極を有する。Ｘ軸方向は、第１方向の一例である。但し、磁場発生部１０は、Ｘ軸方向に限らず、Ｙ軸方向、Ｚ軸方向またはその他の方向に移動してもよい。本例の磁場発生部１０は、Ｎ極よりもＸ軸方向の負側にＳ極を有するが、これに限定されない。Ｚ軸方向における磁場発生部１０と磁気センサ２０との距離は、磁気センサ２０が磁場発生部１０の磁場を検出できる距離であれば特に限定されない。
【0025】
本例では、磁場発生部１０の磁石の形状が直方体であるが、円柱などの他の形状であってよい。磁石の材料は、ネオジウムまたはフェライトなどの任意の材料であってよい。一例において、イベント検出システム１００がローラブルフォンに搭載される場合、磁場発生部１０がディスプレイ側に搭載され、磁気センサ２０が筐体側に搭載され、ディスプレイの伸縮に応じて磁場発生部１０と磁気センサ２０の相対的な位置関係が変化する。
【0026】
なお、磁場発生部１０および磁気センサ２０の相対的な位置関係が変化すれば、磁気センサ２０が移動してもよいし、磁場発生部１０と磁気センサ２０の両方が移動してもよい。一例において、イベント検出システム１００がローラブルフォンに搭載される場合、磁場発生部１０がディスプレイ側に搭載され、磁気センサ２０が筐体側に搭載され、ディスプレイの伸縮に応じて磁場発生部１０と磁気センサ２０との相対的な位置関係が変化する。
【0027】
図２Ｂは、磁場発生部１０および磁気センサ２０の配置方法の一例を示す。本図は、Ｚ軸方向の視点の磁場発生部１０および磁気センサ２０を示す。即ち、本例の視点は、図２Ａに対して９０度回転した位置からの視点を示している。
【0028】
磁場発生部１０は、ＸＹ平面において、磁気センサ２０を横切るように移動している。磁場発生部１０が磁気センサ２０を横切るとは、ＸＹ平面において、磁場発生部１０と磁気センサ２０の一部が重なることを指す。言い換えると、磁場発生部１０は、磁気センサ２０上を通過するように移動してもよい。また、磁場発生部１０は、ＹＺ平面において、磁気センサ２０を横切るように移動してもよい。磁場発生部１０が予め定められた平面において磁気センサ２０を横切ることにより、磁場発生部１０の移動に応じた磁束密度の変化を検出しやすくなり、トリガー閾値の判定が容易になる。
【0029】
また、本例の磁場発生部１０は、Ｘ軸方向と平行に移動しているが、ＸＹ平面においてＸ軸に対して斜めに移動してもよい。このように、磁場発生部１０は、ＸＹ平面において、磁気センサ２０を横切るように配置される場合に限定されず、筐体設計の自由度を高くすることができる。
【0030】
本例では、磁場発生部１０が直線上を移動する場合について示したが、これに限定されない。即ち、磁場発生部１０は、曲線上を移動してもよいし、その他の任意の軌跡を描いて移動してもよい。磁場発生部１０は、予め定められた円周上を回転してもよい。
【0031】
図２Ｃは、磁場発生部１０および磁気センサ２０の配置方法の一例を示す。本図は、Ｚ軸方向の視点の磁場発生部１０および磁気センサ２０を示す。本図は、磁場発生部１０が円周上を移動する場合を示した上面図である。図２Ｃでは、磁場発生部１０が、ＸＹ平面において、磁気センサ２０を横切るように移動している。磁場発生部１０が磁気センサ２０を横切るとは、ＸＹ平面において、磁場発生部１０と磁気センサ２０の一部が重なることを指す。言い換えると、磁場発生部１０は、磁気センサ２０上を通過するように移動してもよい。また、磁場発生部１０は、磁気センサ２０上を通過しなくてもよい。
【0032】
例えば、折り畳みが可能なスマートフォン（例えば、フォルダブルフォン）の折り畳みに応じて磁場発生部１０が移動してもよいし、スマートウォッチのベゼルの回転に応じて磁場発生部１０が移動してもよい。フォルダブルフォンの場合、片面に磁場発生部１０が設けられ、もう片面に磁気センサ２０が設けられ、開閉に応じて磁場発生部１０が曲線上を移動してよい。スマートウォッチの場合、本体側に磁気センサ２０が設けられ、ベゼル側に磁場発生部１０が設けられ、ベゼルの回転駆動に応じて磁場発生部１０が円周上を回転してよい。
【0033】
図３Ａは、磁場発生部１０が基準位置Ｐ０に配置されている状態を示す。本例の磁場発生部１０は、Ｎ極とＳ極の境界が磁気センサ２０の上方に位置するように配置されている。本例においては、Ｚ軸方向の磁束密度Ｂｚよりも、Ｘ軸方向の磁束密度Ｂｘが大きくなる。但し、基準位置Ｐ０において磁気センサ２０が検出する磁束密度はこれに限定されない。
【0034】
図３Ｂは、磁場発生部１０がイベント発生位置Ｐｅに配置されている状態を示す。即ち、イベント検出システム１００は、磁場発生部１０が本図の位置に配置された場合に、予め定められた処理を実行する。本例の磁場発生部１０は、図３Ａの基準位置Ｐ０よりもＸ軸方向の正側に移動している。この場合、図３Ａにおいて磁場発生部１０が基準位置Ｐ０に存在する場合よりも、Ｚ軸方向の磁束密度Ｂｚの成分が大きくなる。磁場発生部１０および磁気センサ２０の相対的な位置関係と、磁場発生部１０の移動方向は、磁気センサ２０によってトリガー閾値を検出できるものであれば、本例に限定されない。
【0035】
図３Ｃは、磁場発生部１０の位置に応じた磁場波形を示す。横軸は磁場発生部１０のＸ軸方向における位置を示し、縦軸はＺ軸方向の磁束密度Ｂｚを示す。磁場発生部１０の移動に応じて、磁気センサ２０で測定する磁束密度Ｂｚの大きさが変化する。磁束密度Ｂｚ＿０は、磁場発生部１０が基準位置Ｐ０に配置された状態で磁気センサ２０が検出する磁束密度である。磁束密度Ｂｚ＿１は、磁場発生部１０が基準位置Ｐ０よりもＸ軸方向の正側に配置された状態で磁気センサ２０が検出する磁束密度である。
【0036】
磁束密度Ｂｔｈｚは、磁場発生部１０がイベント発生位置Ｐｅに配置された状態で磁気センサ２０が検出する磁束密度である。本例のイベント検出システム１００は、磁気センサ２０が磁束密度Ｂｔｈｚを超えた場合に、トリガー信号を生成する。なお、本例では、説明のために１軸の検出軸を用いる場合について説明したが、２軸以上の検出軸を用いてイベントを検出してよい。
【0037】
【0038】
時刻Ｔ１において、磁場発生部１０が基準位置Ｐ０から移動を開始して、磁束密度がＢｚ＿０から徐々に増加する。時刻Ｔ２において、磁束密度Ｂｔｈｚを超えた場合に磁気センサ２０からトリガー信号が生成される。その後、磁場発生部１０は、時刻Ｔ３で磁束密度Ｂｚ＿１に応じた位置まで移動して停止している。時刻Ｔ４において、磁場発生部１０は、基準位置Ｐ０への移動を開始して、時刻Ｔ５において磁束密度Ｂｔｈｚを下回った場合にトリガー信号の生成を停止している。このように、本例のイベント検出システム１００は、磁気センサ２０の内部の閾値判定に基づいてトリガー信号を生成している。
【0039】
以下では、２軸磁場を用いた閾値判定方法の一例について説明する。
【0040】
図４Ａは、２軸磁場を用いた閾値判定方法の一例を示す。本例においては、図２Ａおよび図２Ｂに示したように、磁場発生部１０は、ＸＹ平面において、磁気センサ２０を横切るように移動している。本例のイベント検出システム１００は、Ｘ軸方向の磁束密度Ｂｘと、Ｚ軸方向の磁束密度Ｂｚを選択的に用いている。しかしながら、イベント発生位置Ｐｅは、Ｚ軸方向の磁束密度Ｂｚの変曲点付近に対応しており、Ｚ軸を検出軸とすると正確にイベント発生位置Ｐｅを検出することができない。そのため、本例のイベント検出システム１００は、イベント発生位置Ｐｅにおいて、線形的な変化をしている磁束密度Ｂｘを用いてイベント発生位置Ｐｅを検出している。本例のイベント検出システム１００は、２軸以上の測定データを用いて閾値判定を行うことにより、イベント検知可能領域を拡張することができる。
【0041】
本実施形態においては、磁場発生部１０が、ＸＹ平面において、磁気センサ２０を横切らないように移動する場合でも、イベント検出することができる。
【0042】
図４Ｂは、磁場発生部１０および磁気センサ２０の配置方法の一例を示す。本図は、Ｚ軸方向の視点の磁場発生部１０および磁気センサ２０を示す。本例の磁場発生部１０は、ＸＹ平面において、磁気センサ２０を横切らず、磁気センサ２０からＹ軸方向にずれた位置を移動している。図４Ｂにおいては、Ｙ軸方向への移動量ｙは正の値である。即ち、磁場発生部１０はＹ軸方向の正の方向にｙだけ移動しているが、これに限定されない。
【0043】
図４Ｃは、磁場発生部１０および磁気センサ２０の配置方法の一例を示す。本図は、Ｚ軸方向の視点の磁場発生部１０および磁気センサ２０を示す。本例の磁場発生部１０は、ＸＹ平面において、磁気センサ２０を横切らず、磁気センサ２０からＹ軸方向にずれた位置を移動している。磁場発生部１０はＸＺ平面内をＸ軸方向の正の方向に移動してよく、Ｙ軸方向への移動量ｙは負の値である。即ち、磁場発生部１０は、ＸＹ平面内において、Ｙ軸の負の方向にｙだけ移動していてもよい。
【0044】
図４Ｄは、磁場発生部１０の位置に応じた磁場波形を示す。横軸は磁場発生部１０のＸ軸方向における位置を示し、縦軸はＸ軸方向の磁束密度ＢｘおよびＺ軸方向の磁束密度Ｂｚを示す。磁場発生部１０の移動に応じて、磁気センサ２０で測定する磁束密度ＢｘおよびＢｚの大きさが変化する。
【0045】
図２Ｂのように磁場発生部１０が磁気センサ２０を横切るように移動する場合の磁場波形（Ｂｘ，Ｂｚ）を破線で、図４Ｃのように磁場発生部１０が磁気センサ２０からＹ軸方向にずれた位置を移動する場合の磁場波形（Ｂｘｏｆｆ，Ｂｚｏｆｆ）を実線で示してある。図４Ｃのような場合、磁場発生部１０と磁気センサ２０との間の距離が図２Ｂの場合よりも大きくなるため、磁気センサ２０で検出される磁束密度は減少する。
【0046】
しかし、図４Ｄに示したように、ＸＹ平面において、磁場発生部１０が磁気センサ２０を横切る場合と、磁気センサ２０からＹ軸方向にずれた位置を移動する場合とにおいて、磁束密度のピークを与える磁場発生部１０のＸ軸方向における位置は大きく変化しない。したがって、ＸＹ平面において、磁場発生部１０が磁気センサ２０を横切らない場合においても、磁気センサ２０を横切る場合と同様のイベント検出方法を適用することができる。
【0047】
ここで、磁気センサ２０で検出される磁束密度の強度は、磁場発生部１０のＹ軸方向への移動量ｙが大きいほど、小さくなる。図示していないが、図４Ｂの場合に磁気センサ２０で検出される磁束密度の強度は、図４Ｃの場合に磁気センサ２０で検出される磁束密度の強度よりも小さくなる。
【0048】
よって磁場発生部１０の移動量ｙは、磁気センサ２０の位置における磁束密度が、外部磁場ノイズ等の影響を含めて、イベント検出が可能な磁束密度サイズを考慮して決定することができる。このようにすることで、磁場発生部１０と磁気センサ２０の配置自由度が高くなるので、筐体設計の自由度を高くすることができる。
【0049】
図５は、１軸磁場を用いた閾値判定方法の比較例を示す。本例では、イベント発生位置ＰｅがＺ軸方向の磁束密度Ｂｚの変曲点付近に対応しているので、イベント発生位置Ｐｅ付近において磁場発生部の位置を正確に判断することが困難である。そのため、比較例の閾値判定方法では、イベントを検知することができない検知不可領域Ｒｕが生じてしまう。そのため、比較例の方法では、検知可能なイベント発生位置Ｐｅが限定されてしまう。
【0050】
図６は、より具体的な閾値判定方法の一例を示す。本例のイベント検出システム１００は、Ｘ軸方向の位置に応じて、いずれかの検出軸を選択して使用する。グラフの実線は、磁場発生部１０の位置を検出可能な検出可能領域を示す。グラフの破線は、磁場発生部１０の位置を検出できない検出不可領域を示す。一例において、検出可能領域は、磁束密度の変曲点を有さず、磁場発生部１０の移動に応じて、単調に増加する領域または単調に減少する領域である。検出不可領域は、磁束密度の波形が変曲点を有する領域または磁場発生部１０の移動に応じた磁束密度の変化が小さい領域である。
【0051】
選択部３４は、イベント発生位置Ｐｅが、Ｘ軸において磁場発生部１０の位置を検出可能な検出可能領域に属する場合にＸ軸を選択する。一方、選択部３４は、イベント発生位置Ｐｅが、Ｘ軸の検出可能領域に属さず、Ｚ軸の検出可能領域に属する場合にＺ軸を選択する。また、選択部３４は、基準位置Ｐ０およびイベント発生位置Ｐｅに基づいて、検出軸を選択してよい。
【0052】
本例のイベント検出システム１００は、領域Ｒ１、領域Ｒ２、領域Ｒ３、領域Ｒ１'および領域Ｒ２'の５つの領域に分けて、軸を選択している。選択部３４は、領域Ｒ１、領域Ｒ３および領域Ｒ１'において、Ｚ軸を検出軸に選択している。選択部３４は、領域Ｒ２および領域Ｒ２'において、Ｘ軸を検出軸に選択している。
【0053】
領域Ｒ１は、始点と境界１との間の区間であり、単調に減少する磁束密度Ｂｚを用いてトリガー閾値を判定できる。領域Ｒ２は、境界１と境界２との間の区間であり、単調に減少する磁束密度Ｂｘを用いて、トリガー閾値を判定できる。領域Ｒ３は、境界２と境界２'との間の区間であり、単調に増加する磁束密度Ｂｚを用いて、トリガー閾値を判定できる。領域Ｒ２'は、境界２'と境界１'との間の区間であり、単調に増加する磁束密度Ｂｘを用いて、トリガー閾値を判定する。領域Ｒ１'は、境界１'と終点との間の区間であり、単調に減少する磁束密度Ｂｚを用いて、トリガー閾値を判定する。領域の設定方法については、これに限定されない。
【0054】
以上の通り、イベント検出システム１００は、選択された軸の磁束密度が変曲点を有さないように各領域を設定し、検出軸を選択する。これにより、イベント検出システム１００は、より広い範囲において、トリガー閾値を判定してトリガー信号を生成することができる。
【0055】
本実施形態では、各検出軸についてトリガー閾値を複数設定できる場合において、磁場発生部１０がＸ軸のプラス方向又はマイナス方向に移動した際のイベント検出を行うことができる。また、本実施形態では、各検出軸についてトリガー閾値を１つしか設定できない場合においても、イベント検出を行うことができる。
【0056】
例として、磁場発生部１０が基準位置Ｐ０から移動した際のイベントを検出する方法を示す。以下では、磁場発生部１０がＸ軸のプラス方向又はマイナス方向に移動した際のイベントを検出する方法について説明するが、磁場発生部１０の移動方向はこれに限定されない。
【0057】
図７Ａは、磁場発生部１０の位置に応じた磁場波形を示す。横軸は磁場発生部１０のＸ軸方向における位置を示し、縦軸はＸ軸方向の磁束密度ＢｘおよびＺ軸方向の磁束密度Ｂｚを示す。基準位置Ｐ０の近くで磁場発生部１０がＸ軸のプラス方向又はマイナス方向へ移動したとき、ＢｘとＢｚとがいずれも変曲点を含まない場合、基準位置Ｐ０から±１ｍｍ移動したときのイベント検出を行うことができる。
【0058】
例えば、図７Ａにおいて基準位置Ｐ０が２ｍｍであるとき、プラス側に移動した場合のイベント発生位置Ｐｅ＋に応じたトリガー閾値はＢｘを用いて、マイナス側に移動した場合のイベント発生位置Ｐｅ－に応じたトリガー閾値はＢｚを用いて、それぞれイベント検出を行うことにより、各検出軸についてトリガー閾値を１つしか設定できない場合においても、イベント検出を行うことができる。
【0059】
しかし、例えば図７Ａにおいて基準位置Ｐ０が０ｍｍであるとき、基準位置Ｐ０の周辺においてＢｘの変化が小さいので、Ｂｘを用いたイベント検出を行うことができない。このような場合であっても、磁気センサ２０が磁束密度の二乗和平方根Ｂｓｕｍを算出することが可能であれば、イベント検出を行うことができる。即ち、二乗和平方根Ｂｓｕｍを用いて、イベント発生位置Ｐｅに応じたトリガー閾値を算出することにより、イベント検出を行うことができる。磁束密度の二乗和平方根Ｂｓｕｍは以下の数１に示す式で表すことができる。
【数1】
【0060】
図７Ｂは、磁場発生部１０の位置に応じた磁場波形を示す。横軸は磁場発生部１０のＸ軸方向における位置を示し、縦軸はＸ軸方向の磁束密度Ｂｘ、Ｚ軸方向の磁束密度Ｂｚ、および磁束密度の二乗和平方根Ｂｓｕｍを示す。例えば、基準位置Ｐ０が０ｍｍの場合、左右対称な形状をしているＢｓｕｍを用いることで、基準位置Ｐ０から±１ｍｍ移動したときのイベント検出を行うことができる。
【0061】
図７Ｃは、磁場発生部１０の位置に応じた磁場波形を示す。図７Ｃにおいて、基準位置Ｐ０は図７Ｂと同様に０ｍｍである。図７Ｃにおいては、プラス側に移動した場合のイベント発生位置Ｐｅ＋に応じたトリガー閾値はＢｚを用いて、マイナス側に移動した場合のイベント発生位置Ｐｅ－に応じたトリガー閾値はＢｓｕｍを用いて、それぞれイベント検出を行っている。これにより、各検出軸についてトリガー閾値を１つしか設定できない場合においても、イベント検出を行うことができる。
【0062】
図７Ｄは、それぞれ基準位置Ｐ０が１ｍｍの場合を表した図である。図７Ｄにおいては、プラス側に移動した場合のイベント発生位置Ｐｅ＋に応じたトリガー閾値はＢｓｕｍを用いて、マイナス側に移動した場合のイベント発生位置Ｐｅ－に応じたトリガー閾値はＢｚを用いて、それぞれイベント検出を行うことにより、各検出軸についてトリガー閾値を１つしか設定できない場合においても、イベント検出を行うことができる。
【0063】
図７Ｅは、基準位置Ｐ０が－１ｍｍの場合を表した図である。図７Ｅにおいては、プラス側に移動した場合のイベント発生位置Ｐｅ＋に応じたトリガー閾値はＢｚを用いて、マイナス側に移動した場合のイベント発生位置Ｐｅ－に応じたトリガー閾値はＢｓｕｍを用いて、それぞれイベント検出を行うことにより、各検出軸についてトリガー閾値を１つしか設定できない場合においても、イベント検出を行うことができる。
【0064】
以上の通り、イベント検出システム１００は、磁束密度の二重和平方根Ｂｓｕｍを用いることにより、両方向のイベント検出が可能になる。これにより、イベント検出システム１００は、選択された検出軸についてトリガー閾値を１つしか設定できない場合においても、トリガー閾値を判定してトリガー信号を生成することができる。
【0065】
更に、本実施形態では、各検出軸についてトリガー閾値を１つしか設定できない場合において、磁気センサ２０が磁束密度の二乗和平方根Ｂｓｕｍを算出することができない場合であっても、イベント検出を行うことができる。
【0066】
図８Ａは、図４Ｃで示したように、磁場発生部１０が磁気センサ２０を横切らないような場合における、磁場発生部１０の位置に応じた磁場波形を示す。横軸は磁場発生部１０のＸ軸方向における位置を示し、縦軸はＸ軸方向の磁束密度Ｂｘ、Ｙ軸方向の磁束密度ＢｙおよびＺ軸方向の磁束密度Ｂｚを示す。基準位置Ｐ０の近くで磁場発生部１０がＸ軸のプラス方向又はマイナス方向へ移動したとき、ＢｘとＢｚとがいずれも変曲点を含まない場合、基準位置Ｐ０から±１ｍｍ移動したときのイベント検出を行うことができる。
【0067】
例えば、図８Ａにおいて基準位置Ｐ０が２ｍｍであるとき、プラス側に移動した場合のイベント発生位置Ｐｅ＋に応じたトリガー閾値はＢｘを用いて、マイナス側に移動した場合のイベント発生位置Ｐｅ－に応じたトリガー閾値はＢｚを用いて、それぞれイベント検出を行うことにより、各検出軸についてトリガー閾値を１つしか設定できない場合においても、イベント検出を行うことができる。
【0068】
しかし、例えば図８Ａにおいて基準位置Ｐ０が０ｍｍであるとき、基準位置Ｐ０の周辺においてＢｘの変化が小さいので、Ｂｘを用いたイベント検出を行うことができない。このような場合であっても、Ｙ軸を検出軸として選択し、Ｂｙを用いることにより、イベント検出を行うことができる。
【0069】
図８Ｂは、基準位置Ｐ０が０ｍｍである場合を表した図である。本実施例では、プラス側に移動した場合のイベント発生位置Ｐｅ＋に応じたトリガー閾値はＢｚを用いて、マイナス側に移動した場合のイベント発生位置Ｐｅ－に応じたトリガー閾値はＢｙを用いて、それぞれイベント検出を行うことにより、各検出軸についてトリガー閾値を１つしか設定できない場合においても、イベント検出を行うことができることを示しているが、これに限定されない。即ち、プラス側に移動した場合のイベント発生位置Ｐｅ＋に応じたトリガー閾値はＢｙを用いて、マイナス側に移動した場合のイベント発生位置Ｐｅ－に応じたトリガー閾値はＢｚを用いて、それぞれイベント検出を行う事が可能である。
【0070】
図８Ｃは、基準位置Ｐ０が１ｍｍである場合を表した図である。本実施例では、プラス側に移動した場合のイベント発生位置Ｐｅ＋に応じたトリガー閾値はＢｚを用いて、マイナス側に移動した場合のイベント発生位置Ｐｅ－に応じたトリガー閾値はＢｙを用いて、それぞれイベント検出を行うことにより、各検出軸についてトリガー閾値を１つしか設定できない場合においても、イベント検出を行うことができることを示しているが、これに限定されない。即ち、プラス側に移動した場合のイベント発生位置Ｐｅ＋に応じたトリガー閾値はＢｙを用いて、マイナス側に移動した場合のイベント発生位置Ｐｅ－に応じたトリガー閾値はＢｚを用いて、それぞれイベント検出を行う事が可能である。
【0071】
図８Ｄは、基準位置Ｐ０が－１ｍｍである場合を表した図である。本実施例では、プラス側に移動した場合のイベント発生位置Ｐｅ＋に応じたトリガー閾値はＢｚを用いて、マイナス側に移動した場合のイベント発生位置Ｐｅ－に応じたトリガー閾値はＢｙを用いて、それぞれイベント検出を行うことにより、各検出軸についてトリガー閾値を１つしか設定できない場合においても、イベント検出を行うことができることを示しているが、これに限定されない。即ち、プラス側に移動した場合のイベント発生位置Ｐｅ＋に応じたトリガー閾値はＢｙを用いて、マイナス側に移動した場合のイベント発生位置Ｐｅ－に応じたトリガー閾値はＢｚを用いて、それぞれイベント検出を行う事が可能である。
【0072】
図９は、イベント検出システム１００の動作フローの一例を示す。本例では、処理部３０が待機状態に移行した後に、予め定められたイベントを検出して、処理部３０を起動させるためのトリガー信号を生成する方法を示す。
【0073】
ステップＳ３００～ステップＳ３１４は、処理部３０で実行され、ステップＳ２００～ステップＳ２０６が磁気センサ２０で実行されてよい。ステップＳ３００において、処理部３０が起動状態に設定されている。ステップＳ３０２において、磁場発生部１０の基準位置Ｐ０の測定データを取得するために、磁気センサ２０に測定データの読み出しをリクエストする。これにより、処理部３０は、磁気センサ２０から基準位置Ｐ０における測定データ（Ｂｘ，Ｂｙ，Ｂｚ）を取得する。磁場発生部１０の基準位置Ｐ０は、特に限定されない。
【0074】
ステップＳ３０４において、処理部３０は、取得した測定データから、磁場発生部１０の基準位置Ｐ０の領域を判定する。例えば、処理部３０は、予め作成したデータテーブルまたは関数フィッティングを用いて、磁場発生部１０の基準位置Ｐ０を算出する。
【0075】
ステップＳ３０６において、処理部３０は、イベント発生位置Ｐｅの領域を判定する。処理部３０は、予め設定されたイベント発生位置Ｐｅを記憶していてもよい。処理部３０は、磁場発生部１０がイベント発生位置Ｐｅに位置する場合の測定データからイベント発生位置Ｐｅの領域を判定してもよい。ステップＳ３０８において、処理部３０は、イベント発生位置Ｐｅに基づいてトリガー閾値を算出する。処理部３０は、予め作成したデータテーブルまたは関数フィッティングを用いて、トリガー閾値を算出してよい。
【0076】
ステップＳ３１０において、処理部３０は、算出したトリガー閾値を磁気センサ２０に書き込む。これにより、ステップＳ２０２において、使用する検出軸とトリガー閾値が磁気センサ２０に設定される。磁気センサ２０は、トリガー閾値の判定に必要のない軸については、使用せずに磁束密度を検出しなくてよい。磁気センサ２０は、磁場を測定して、設定されたトリガー閾値を超えるか、下回った場合にトリガー信号を処理部３０に出力する（ステップＳ２０４，ステップＳ２０６）。そして、処理部３０は、トリガー信号を受信することにより起動状態となる（ステップＳ３１４）。
【0077】
図１０は、イベント検出システム１００の構成の一例を示す。本例のイベント検出システム１００は、複数の磁気センサ２０を備える点で図２Ａの実施例と相違する。本例のイベント検出システム１００は、磁気センサ２０ａおよび磁気センサ２０ｂの２つの磁気センサ２０を備える。
【0078】
磁気センサ２０ａおよび磁気センサ２０ｂは、磁場発生部１０の移動方向であるＸ軸方向に配置されている。磁気センサ２０ａおよび磁気センサ２０ｂは、同一の種類の磁気センサであってもよいし、異なる種類の磁気センサであってもよい。磁気センサ２０ｂは、磁気センサ２０ａのイベント検知可能領域と重なっていてもよいし、重ならなくてもよい。
【0079】
イベント検出システム１００は、複数の磁気センサ２０を設けることにより、イベント検知可能領域をさらに拡張することができる。処理部３０は、磁気センサ２０が１つの場合に検出軸を決定する処理と同様の処理によって、使用する磁気センサ２０を選択し、選択された磁気センサ２０の中から検出軸を決定してよい。これにより、イベント検出システム１００は、イベント発生位置Ｐｅに応じて、最適な磁気センサ２０で最適な検出軸を使用することができる。
【0080】
図１１は、本発明の複数の態様が全体的又は部分的に具現化されてよいコンピュータ２２００の例を示す。コンピュータ２２００にインストールされたプログラムは、コンピュータ２２００に、本発明の実施形態に係る装置に関連付けられる操作又は当該装置の１又は複数のセクションとして機能させることができ、又は当該操作又は当該１又は複数のセクションを実行させることができ、及び／又はコンピュータ２２００に、本発明の実施形態に係るプロセス又は当該プロセスの段階を実行させることができる。そのようなプログラムは、コンピュータ２２００に、本明細書に記載のフローチャート及びブロック図のブロックのうちのいくつか又はすべてに関連付けられた特定の操作を実行させるべく、ＣＰＵ２２１２によって実行されてよい。
【0081】
本実施形態によるコンピュータ２２００は、ＣＰＵ２２１２、ＲＡＭ２２１４、グラフィックコントローラ２２１６、及びディスプレイデバイス２２１８を含み、それらはホストコントローラ２２１０によって相互に接続されている。コンピュータ２２００はまた、通信インタフェース２２２２、ハードディスクドライブ２２２４、ＤＶＤ－ＲＯＭドライブ２２２６、及びＩＣカードドライブのような入／出力ユニットを含み、それらは入／出力コントローラ２２２０を介してホストコントローラ２２１０に接続されている。コンピュータはまた、ＲＯＭ２２３０及びキーボード２２４２のようなレガシの入／出力ユニットを含み、それらは入／出力チップ２２４０を介して入／出力コントローラ２２２０に接続されている。
【0082】
ＣＰＵ２２１２は、ＲＯＭ２２３０及びＲＡＭ２２１４内に格納されたプログラムに従い動作し、それにより各ユニットを制御する。グラフィックコントローラ２２１６は、ＲＡＭ２２１４内に提供されるフレームバッファ等又はそれ自体の中にＣＰＵ２２１２によって生成されたイメージデータを取得し、イメージデータがディスプレイデバイス２２１８上に表示されるようにする。
【0083】
通信インタフェース２２２２は、ネットワークを介して他の電子デバイスと通信する。ハードディスクドライブ２２２４は、コンピュータ２２００内のＣＰＵ２２１２によって使用されるプログラム及びデータを格納する。ＤＶＤ－ＲＯＭドライブ２２２６は、プログラム又はデータをＤＶＤ－ＲＯＭ２２０１から読み取り、ハードディスクドライブ２２２４にＲＡＭ２２１４を介してプログラム又はデータを提供する。ＩＣカードドライブは、プログラム及びデータをＩＣカードから読み取り、及び／又はプログラム及びデータをＩＣカードに書き込む。
【0084】
ＲＯＭ２２３０はその中に、アクティブ化時にコンピュータ２２００によって実行されるブートプログラム等、及び／又はコンピュータ２２００のハードウェアに依存するプログラムを格納する。入／出力チップ２２４０はまた、様々な入／出力ユニットをパラレルポート、シリアルポート、キーボードポート、マウスポート等を介して、入／出力コントローラ２２２０に接続してよい。
【0085】
プログラムが、ＤＶＤ－ＲＯＭ２２０１又はＩＣカードのようなコンピュータ可読媒体によって提供される。プログラムは、コンピュータ可読媒体から読み取られ、コンピュータ可読媒体の例でもあるハードディスクドライブ２２２４、ＲＡＭ２２１４、又はＲＯＭ２２３０にインストールされ、ＣＰＵ２２１２によって実行される。これらのプログラム内に記述される情報処理は、コンピュータ２２００に読み取られ、プログラムと、上記様々なタイプのハードウェアリソースとの間の連携をもたらす。装置又は方法が、コンピュータ２２００の使用に従い情報の操作又は処理を実現することによって構成されてよい。
【0086】
例えば、通信がコンピュータ２２００及び外部デバイス間で実行される場合、ＣＰＵ２２１２は、ＲＡＭ２２１４にロードされた通信プログラムを実行し、通信プログラムに記述された処理に基づいて、通信インタフェース２２２２に対し、通信処理を命令してよい。通信インタフェース２２２２は、ＣＰＵ２２１２の制御下、ＲＡＭ２２１４、ハードディスクドライブ２２２４、ＤＶＤ－ＲＯＭ２２０１、又はＩＣカードのような記録媒体内に提供される送信バッファ処理領域に格納された送信データを読み取り、読み取られた送信データをネットワークに送信し、又はネットワークから受信された受信データを記録媒体上に提供される受信バッファ処理領域等に書き込む。
【0087】
また、ＣＰＵ２２１２は、ハードディスクドライブ２２２４、ＤＶＤ－ＲＯＭドライブ２２２６（ＤＶＤ－ＲＯＭ２２０１）、ＩＣカード等のような外部記録媒体に格納されたファイル又はデータベースの全部又は必要な部分がＲＡＭ２２１４に読み取られるようにし、ＲＡＭ２２１４上のデータに対し様々なタイプの処理を実行してよい。ＣＰＵ２２１２は次に、処理されたデータを外部記録媒体にライトバックする。
【0088】
様々なタイプのプログラム、データ、テーブル、及びデータベースのような様々なタイプの情報が記録媒体に格納され、情報処理を受けてよい。ＣＰＵ２２１２は、ＲＡＭ２２１４から読み取られたデータに対し、本開示の随所に記載され、プログラムの命令シーケンスによって指定される様々なタイプの操作、情報処理、条件判断、条件分岐、無条件分岐、情報の検索／置換等を含む、様々なタイプの処理を実行してよく、結果をＲＡＭ２２１４に対しライトバックする。また、ＣＰＵ２２１２は、記録媒体内のファイル、データベース等における情報を検索してよい。例えば、各々が第２の属性の属性値に関連付けられた第１の属性の属性値を有する複数のエントリが記録媒体内に格納される場合、ＣＰＵ２２１２は、第１の属性の属性値が指定される、条件に一致するエントリを当該複数のエントリの中から検索し、当該エントリ内に格納された第２の属性の属性値を読み取り、それにより予め定められた条件を満たす第１の属性に関連付けられた第２の属性の属性値を取得してよい。
【0089】
上で説明したプログラム又はソフトウェアモジュールは、コンピュータ２２００上又はコンピュータ２２００近傍のコンピュータ可読媒体に格納されてよい。また、専用通信ネットワーク又はインターネットに接続されたサーバーシステム内に提供されるハードディスク又はＲＡＭのような記録媒体が、コンピュータ可読媒体として使用可能であり、それによりプログラムを、ネットワークを介してコンピュータ２２００に提供する。
【0090】
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【0091】
特許請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。
【符号の説明】
【0092】
１０・・・磁場発生部、２０・・・磁気センサ、２２・・・検出部、２４・・・出力部、３０・・・処理部、３２・・・取得部、３４・・・選択部、３６・・・算出部、１００・・・イベント検出システム、２２００・・・コンピュータ、２２０１・・・ＤＶＤ－ＲＯＭ、２２１０・・・ホストコントローラ、２２１２・・・ＣＰＵ、２２１４・・・ＲＡＭ、２２１６・・・グラフィックコントローラ、２２１８・・・ディスプレイデバイス、２２２０・・・入／出力コントローラ、２２２２・・・通信インタフェース、２２２４・・・ハードディスクドライブ、２２２６・・・ＤＶＤ－ＲＯＭドライブ、２２３０・・・ＲＯＭ、２２４０・・・入／出力チップ、２２４２・・・キーボード
【図1A】
【図1B】
【図2A】
【図2B】
【図2C】
【図3A】
【図3B】
【図3C】
【図3D】
【図4A】
【図4B】
【図4C】
【図4D】
【図5】
【図6】
【図7A】
【図7B】
【図7C】
【図7D】
【図7E】
【図8A】
【図8B】
【図8C】
【図8D】
【図9】
【図10】
【図11】