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(2024年:第383位 86件)
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第766位 18件
(2024年:第648位 39件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 7726936 | センサシステム、方法およびプログラム | 2025年 8月20日 | |
特許 7727144 | 半導体デバイス及び半導体デバイスの製造方法 | 2025年 8月20日 | |
特許 7724679 | 遅延パルス生成回路 | 2025年 8月18日 | |
特許 7719696 | 赤外線デバイス及び赤外線デバイスの製造方法 | 2025年 8月 6日 | |
特許 7710972 | 赤外線検出素子 | 2025年 7月22日 | |
特許 7703772 | 電流センサ、及び電流検出方法 | 2025年 7月 7日 | |
特許 7691292 | ガスセル筐体成型用金型およびガスセル筐体の製造方法並びにガスセンサ用ガスセル筐体およびこれを備えるガスセンサ | 2025年 6月11日 | |
特許 7663773 | 半導体デバイス及び半導体デバイスの製造方法 | 2025年 4月16日 | |
特許 7660044 | ガスセンサ | 2025年 4月10日 | |
特許 7658026 | 回転数検出装置、回転数検出システム、回転数演算装置、および回転数検出方法 | 2025年 4月 7日 | |
特許 7653525 | 適応フィルタ装置、適応フィルタ方法、および適応フィルタプログラム | 2025年 3月28日 | |
特許 7645851 | ガスセンサシステム、ガスセンサ校正方法およびガスセンサ校正プログラム | 2025年 3月14日 | |
特許 7634389 | 半導体ウエハ、半導体デバイス、及びガス濃度測定装置 | 2025年 2月21日 | |
特許 7626622 | 磁場計測装置、磁場計測方法、磁場計測プログラム | 2025年 2月 4日 | |
特許 7621216 | ガス検出装置 | 2025年 1月24日 |
18 件中 1-15 件を表示
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7726936 7727144 7724679 7719696 7710972 7703772 7691292 7663773 7660044 7658026 7653525 7645851 7634389 7626622 7621216
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