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旭化成エレクトロニクス株式会社
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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第362位 82件
（
2023年：第494位 64件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第701位 32件
（
2023年：第587位 45件）
（ランキング更新日：2024年11月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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旭化成エレクトロニクス株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7584691 | 報奨管理装置、報奨管理システム、報奨管理方法、及びプログラム | 2024年11月15日 | |
| 特許 7578776 | カメラモジュール | 2024年11月 6日 | |
| 特許 7569712 | ガス検出装置 | 2024年10月18日 | |
| 特許 7566506 | 電力供給装置 | 2024年10月15日 | |
| 特許 7565691 | 逐次比較ＡＤ変換器 | 2024年10月11日 | |
| 特許 7565170 | 回転角センサ、角度信号算出方法及びプログラム | 2024年10月10日 | |
| 特許 7559170 | ＮＤＩＲガスセンサ及び光学デバイス | 2024年10月 1日 | |
| 特許 7554176 | 赤外線発光素子 | 2024年 9月19日 | |
| 特許 7553297 | 光学式濃度測定装置 | 2024年 9月18日 | |
| 特許 7550580 | 熱輻射光源 | 2024年 9月13日 | |
| 特許 7549694 | 表示装置、表示方法および表示プログラム | 2024年 9月11日 | |
| 特許 7548831 | 半導体発光装置 | 2024年 9月10日 | |
| 特許 7526069 | 光学式濃度測定装置および光導波路 | 2024年 7月31日 | |
| 特許 7525297 | 磁場計測装置、磁場計測方法、および、磁場計測プログラム | 2024年 7月30日 | |
| 特許 7518202 | 入力装置、コントローラおよびエラー検知方法 | 2024年 7月17日 |
33 件中 1-15 件を表示
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7584691 7578776 7569712 7566506 7565691 7565170 7559170 7554176 7553297 7550580 7549694 7548831 7526069 7525297 7518202
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