特開2022-159182IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

関連出願との相互参照 本出願は、2021年3月31日に出願された米国特許仮出願第63/168,341号の優先権を主張するものであり、その内容が参照により本明細書に組み込まれる。

要約特許出願時に添付された[要約書]

【課題】半導体発光装置(LEDs)の製造、特に成長基板上に角部分離層が形成・除去されるLEDsの製造方法に関する。
【解決手段】成長基板102上に、側壁P-N接合138を有する複数の発光ダイオード(LED)構造100を形成することと、前記LED構造上に、エピタキシャル構造112と前記成長基板との交差点に角部111を有する分離層101を形成することとを含むLEDsの製造方法である。本方法はまた、前記分離層上にエッチング可能な被覆チャネル層を形成することと、被覆チャネル層上にパターニング保護層を形成することと、第1エッチングプロセスを用いて前記被覆チャネル層内にエッチングチャネルを形成することと、第2エッチングプロセスを用いて前記分離層をエッチングすることにより前記分離層の前記角部を除去することとを含む。第2エッチングプロセスの後、前記分離層は前記側壁P-N接合を覆う。
【選択図】図1

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

分離層がエピタキシャル構造上に形成され、かつ成長基板に近接するエピタキシャル構造の角部で選択的に除去される、半導体発光装置(LEDs)の製造方法に関する。本開示はまた、本方法で製造された新規の半導体発光装置(LEDs)を提供することができる。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

成長基板上に複数の発光ダイオード(LED)構造を形成する工程を含む、半導体発光装置(LEDs)の製造方法である。前記発光ダイオード(LED)構造は、側壁P-N接合を有する側壁を備えるエピタキシャル構造を含む。例示的な実施形態では、発光ダイオード(LED)構造は、チップ形態のデュアルパッド発光ダイオード(LED)構造及び垂直発光ダイオード(VLED)構造を含む。さらに、エピタキシャル構造は、ア・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 本方法のレーザリフトオフ(LLO)工程の前に角部を有する分離層を形成した後のデュアルパッド付き半導体発光装置(LED)構造を示す拡大概略断面図である。
【図2】 成長基板上に分離層がそのストリート領域内に伸びていない複数のデュアルパッド付き半導体発光装置(LED)構造を示す拡大概略断面図である。
【図2A】 成長基板上に分離層がそのストリート領域内に伸びている複数のデュアルパッド付き半導体発光装置(LED)構造を示す拡大概略断面図である。
【図3】 本方法のレーザリフトオフ(LLO)工程の前に角部を有する分離層を形成した後の垂直発光ダイオード(VLED)構造を示す拡大概略断面図である。
【図3A】 本方法のレーザリフトオフ(LLO)工程の前に角部を有する分離層を形成した後のサラウンドメサ構造を有する垂直発光ダイオード(VLED)構造を示す拡大概略断面図である。
【図4】 成長基板上に分離層がそのストリート領域内に伸びていない複数の垂直発光ダイオード(VLED)構造を示す拡大概略断面図である。
【図5】 本方法の成長基板上の複数の垂直発光ダイオード(VLED)構造上に分離層を形成する工程を示す拡大概略断面図である。
【図5A】 本方法の成長基板上のサラウンドメサ構造を有する複数の垂直発光ダイオード(VLED)構造上に分離層を形成する工程を示す拡大概略断面図である。
【図6】 本方法の分離層上に被覆チャネル層を形成する工程を示す拡大概略断面図である。
【図7】 本方法の被覆チャネル層上にパターニング保護層を形成する工程を示す拡大概略断面図である。
【図8】 本方法の第1化学エッチングプロセスを用いてエッチングチャネルを形成する工程を示す拡大概略断面図である。
【図9】 本方法の第2化学エッチングプロセスを用いて分離層をエッチングする工程を示す拡大概略断面図である。
【図10】 本方法の被覆チャネル層及びパターニング保護層を除去する工程を示す拡大概略断面図である。
【図11】 本方法の成長基板をその上に弾性高分子材料を有するキャリアに接合する工程を示す拡大概略断面図である。
【図12】 本方法の成長基板をデュアルパッド付き半導体発光装置(LED)構造から分離するレーザリフトオフ(LLO)工程を示す拡大概略断面図である。
【図13】 本方法で製造された半導体発光装置(LED)を示す拡大概略断面図である。
【図14】 パターニング保護層を分離層上に直接堆積することができ、第1エッチングプロセスを用いて分離層をエッチングすることによりストリート領域内の材料を除去し、第2エッチングプロセスを用いて側壁アンダーカット構造を形成することができる、代替実施形態の半導体発光装置(LEDs)の製造方法を示す拡大概略断面図である。
【図15】 パターニング保護層を分離層上に直接堆積することができ、第1エッチングプロセスを用いて分離層をエッチングすることによりストリート領域内の材料を除去し、第2エッチングプロセスを用いて側壁アンダーカット構造を形成することができる、代替実施形態の半導体発光装置(LEDs)の製造方法を示す拡大概略断面図である。
【図16】 パターニング保護層を分離層上に直接堆積することができ、第1エッチングプロセスを用いて分離層をエッチングすることによりストリート領域内の材料を除去し、第2エッチングプロセスを用いて側壁アンダーカット構造を形成することができる、代替実施形態の半導体発光装置(LEDs)の製造方法を示す拡大概略断面図である。
【図17】 パターニング保護層を分離層上に直接堆積することができ、第1エッチングプロセスを用いて分離層をエッチングすることによりストリート領域内の材料を除去し、第2エッチングプロセスを用いて側壁アンダーカット構造を形成することができる、代替実施形態の半導体発光装置(LEDs)の製造方法を示す拡大概略断面図である。
【図18】 半導体発光装置(LEDs)の製造方法の工程を示す拡大概略断面図である。
【図19】 半導体発光装置(LEDs)の製造方法の工程を示す拡大概略断面図である。
【図20】 半導体発光装置(LEDs)の製造方法の工程を示す拡大概略断面図である。
【図21】 半導体発光装置(LEDs)の製造方法の工程を示す拡大概略断面図である。
【図22】 半導体発光装置(LEDs)の製造方法の工程を示す拡大概略断面図である。
【図23】 半導体発光装置(LEDs)の製造方法の工程を示す拡大概略断面図である。
【図24】 代替実施形態の半導体発光装置(LEDs)の製造方法の工程を示す拡大概略断面図である。
【図25】 代替実施形態の半導体発光装置(LEDs)の製造方法の工程を示す拡大概略断面図である。
【図26】 代替実施形態の半導体発光装置(LEDs)の製造方法の工程を示す拡大概略断面図である。
【図27】 代替実施形態の半導体発光装置(LEDs)の製造方法の工程を示す拡大概略断面図である。
【図28】 本方法または代替実施形態の半導体発光装置(LEDs)の製造方法のレーザリフトオフ(LLO)工程を示す拡大概略断面図である。
【図29】 本方法または代替実施形態の半導体発光装置(LEDs)の製造方法のレーザリフトオフ(LLO)工程を示す拡大概略断面図である。
【図30】 本方法または代替実施形態の半導体発光装置(LEDs)の製造方法のレーザリフトオフ(LLO)工程を示す拡大概略断面図である。
【図31】 その上に本方法または代替実施形態の方法で製造された複数の半導体発光装置(LED)構造を有するキャリアの平面図である。
【図31A】 図31の断面線31A-31Aに沿って取られた、単一の半導体発光装置(LED)構造を示す断面図である。
【図32】 先行技術のレーザリフトオフ(LLO)プロセスの態様を示す拡大概略断面図である。
【図33】 先行技術のレーザリフトオフ(LLO)プロセスの態様を示す拡大概略断面図である。
【図34】 先行技術のレーザリフトオフ(LLO)プロセスの態様を示す拡大概略断面図である。
【図35】 先行技術のレーザリフトオフ(LLO)プロセスの態様を示す拡大概略断面図である。
【図36】 その上に先行技術のレーザリフトオフ(LLO)プロセスを用いて製造された複数の半導体発光装置(LED)構造を有するキャリアの平面図である。
【図36A】 図36の断面線36A-36Aに沿って取られた、キャリア上の単一の半導体発光装置(LED)構造を示す断面図である。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

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