ホーム > 特許ランキング > ＴＥＫＴＲＯＮＩＸ，ＩＮＣ．
知財求人 - 知財ポータルサイト「IP Force」
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2022173145
(43)【公開日】2022-11-17
(54)【発明の名称】試験測定装置及び波形サンプリング方法
(51)【国際特許分類】
G01R 27/06 20060101AFI20221110BHJP
G01R 27/28 20060101ALI20221110BHJP
G01R 13/34 20060101ALN20221110BHJP
【ＦＩ】
G01R27/06
G01R27/28 T
G01R13/34 E
【審査請求】未請求
【請求項の数】14
【出願形態】ＯＬ
【外国語出願】
(21)【出願番号】P 2022076435
(22)【出願日】2022-05-06
(31)【優先権主張番号】63/184,723
(32)【優先日】2021-05-05
(33)【優先権主張国・地域又は機関】US
(31)【優先権主張番号】17/735,025
(32)【優先日】2022-05-02
(33)【優先権主張国・地域又は機関】US
(71)【出願人】
【識別番号】391002340
【氏名又は名称】テクトロニクス・インコーポレイテッド
【氏名又は名称原語表記】ＴＥＫＴＲＯＮＩＸ，ＩＮＣ．
(74)【代理人】
【識別番号】100090033
【弁理士】
【氏名又は名称】荒船 博司
(74)【代理人】
【識別番号】100093045
【弁理士】
【氏名又は名称】荒船 良男
(72)【発明者】
【氏名】カン・タン
【テーマコード（参考）】
2G028
【Ｆターム（参考）】
2G028BE10
2G028CG15
2G028CG20
2G028CG22
2G028DH06
2G028DH11
2G028GL07
2G028LR10
(57)【要約】
【課題】試験測定装置にＴＤＲ機能を持たせる。
【解決手段】試験測定装置１０は、被試験デバイス（ＤＵＴ）に接続されるポート１２と、信号源制御信号３２を受信してＤＵＴに印加する入射信号を生成するＴＤＲ信号源２８と、サンプル・クロックを受信してＴＤＲ信号源２８からの入射信号及びＤＵＴからのＴＤＲ信号又はＴＤＴ信号をサンプリングして、入射波形及びＴＤＲ/ＴＤＴ波形を生成するＡＤＣと、プロセッサ２２と、入射波形及びＴＤＲ/ＴＤＴ波形を表示する表示部２６とを有する。プロセッサ２２は、クロック合成部１６を制御してサンプル・クロック及び信号源制御信号３０を生成し、ＴＤＲ信号源２８の周期、サンプル・クロックの周期及びサンプル数を使用して、入射波形及びＴＤＲ/ＴＤＴ波形中のサンプルの時間位置を決定する。
【選択図】図１
【解決手段】試験測定装置１０は、被試験デバイス（ＤＵＴ）に接続されるポート１２と、信号源制御信号３２を受信してＤＵＴに印加する入射信号を生成するＴＤＲ信号源２８と、サンプル・クロックを受信してＴＤＲ信号源２８からの入射信号及びＤＵＴからのＴＤＲ信号又はＴＤＴ信号をサンプリングして、入射波形及びＴＤＲ/ＴＤＴ波形を生成するＡＤＣと、プロセッサ２２と、入射波形及びＴＤＲ/ＴＤＴ波形を表示する表示部２６とを有する。プロセッサ２２は、クロック合成部１６を制御してサンプル・クロック及び信号源制御信号３０を生成し、ＴＤＲ信号源２８の周期、サンプル・クロックの周期及びサンプル数を使用して、入射波形及びＴＤＲ/ＴＤＴ波形中のサンプルの時間位置を決定する。
【選択図】図１
【特許請求の範囲】
【請求項1】
被試験デバイス（ＤＵＴ）に接続するように構成された１つ以上のポートと、
信号源制御信号を受信すると共に上記ＤＵＴに印加される入射信号を生成するように構成された時間領域反射率測定（ＴＤＲ）信号源と、
サンプル・クロックを受信し、上記ＴＤＲ信号源からの入射信号及び上記ＤＵＴからの時間領域反射（ＴＤＲ）信号又は時間領域透過（ＴＤＴ）信号をサンプリングして入射波形及びＴＤＲ/ＴＤＴ波形を生成するように構成された１つ以上のアナログ・デジタル・コンバータ（ＡＤＣ）と、
１つ以上のプロセッサであって、
上記サンプル・クロック及び上記信号源制御信号を生成するようにクロック合成部を制御する処理と、
上記ＴＤＲ信号源の周期、上記サンプル・クロックの周期及びサンプルの数を使用して上記入射波形及び上記ＴＤＲ/ＴＤＴ波形内のサンプルの時間位置を決定する処理と
を上記１つ以上のプロセッサに行わせるプログラムを実行するように構成された上記１つ以上のプロセッサと、
上記入射波形と上記ＴＤＲ/ＴＤＴ波形を表示するように構成された表示部と
を具える試験測定装置。
信号源制御信号を受信すると共に上記ＤＵＴに印加される入射信号を生成するように構成された時間領域反射率測定（ＴＤＲ）信号源と、
サンプル・クロックを受信し、上記ＴＤＲ信号源からの入射信号及び上記ＤＵＴからの時間領域反射（ＴＤＲ）信号又は時間領域透過（ＴＤＴ）信号をサンプリングして入射波形及びＴＤＲ/ＴＤＴ波形を生成するように構成された１つ以上のアナログ・デジタル・コンバータ（ＡＤＣ）と、
１つ以上のプロセッサであって、
上記サンプル・クロック及び上記信号源制御信号を生成するようにクロック合成部を制御する処理と、
上記ＴＤＲ信号源の周期、上記サンプル・クロックの周期及びサンプルの数を使用して上記入射波形及び上記ＴＤＲ/ＴＤＴ波形内のサンプルの時間位置を決定する処理と
を上記１つ以上のプロセッサに行わせるプログラムを実行するように構成された上記１つ以上のプロセッサと、
上記入射波形と上記ＴＤＲ/ＴＤＴ波形を表示するように構成された表示部と
を具える試験測定装置。
【請求項2】
上記１つ以上のプロセッサが、
ｔRET(ｉ)＝ｍｏｄ(ｉ＊Ｔsample，ＴTDR）
に従って時間位置を決定する処理を上記１つ以上のプロセッサに行わせるプログラムを実行するよう更に構成され、このとき、Ｔsampleは、上記サンプル・クロックの周期であり、ＴTDRは、ＴＤＲクロック信号の周期であって、クロック分周回路で乗算した初期ＴＤＲクロック信号に等しい請求項１の試験測定装置。
ｔRET(ｉ)＝ｍｏｄ(ｉ＊Ｔsample，ＴTDR）
に従って時間位置を決定する処理を上記１つ以上のプロセッサに行わせるプログラムを実行するよう更に構成され、このとき、Ｔsampleは、上記サンプル・クロックの周期であり、ＴTDRは、ＴＤＲクロック信号の周期であって、クロック分周回路で乗算した初期ＴＤＲクロック信号に等しい請求項１の試験測定装置。
【請求項3】
サンプル周期が、
Ｔsample_RET＝ｍｏｄ(ＴTDR，Ｔsample）
に等しい請求項２の試験測定装置。
Ｔsample_RET＝ｍｏｄ(ＴTDR，Ｔsample）
に等しい請求項２の試験測定装置。
【請求項4】
上記信号源制御信号が、予備ＴＤＲクロック信号から構成され、
上記ＴＤＲ信号源が、クロック分周回路とステップ信号生成部とを有し、上記クロック分周回路は、上記信号源制御信号を受信してＴＤＲクロックを生成するように構成され、上記ステップ信号生成部は上記ＴＤＲクロックを受信して上記ＤＵＴに印加する上記入射信号を生成する請求項１の試験測定装置。
上記ＴＤＲ信号源が、クロック分周回路とステップ信号生成部とを有し、上記クロック分周回路は、上記信号源制御信号を受信してＴＤＲクロックを生成するように構成され、上記ステップ信号生成部は上記ＴＤＲクロックを受信して上記ＤＵＴに印加する上記入射信号を生成する請求項１の試験測定装置。
【請求項5】
上記信号源制御信号が、デジタル・アナログ・コンバータ（ＤＡＣ）クロック信号を含み、
上記ＴＤＲ信号源が、
上記ＤＡＣクロック信号を受信してパターン波形信号を生成するように構成されたＤＡＣと、
発振信号を生成する局部発振器と、
上記ＤＡＣからの上記パターン波形信号と上記局部発振器からの上記発振信号を受信し、上記ＤＵＴに印加する上記入射信号を生成するように構成されたミキサと
を有する請求項１の試験測定装置。
上記ＴＤＲ信号源が、
上記ＤＡＣクロック信号を受信してパターン波形信号を生成するように構成されたＤＡＣと、
発振信号を生成する局部発振器と、
上記ＤＡＣからの上記パターン波形信号と上記局部発振器からの上記発振信号を受信し、上記ＤＵＴに印加する上記入射信号を生成するように構成されたミキサと
を有する請求項１の試験測定装置。
【請求項6】
上記信号源制御信号が、周波数選択信号を含み、
上記ＴＤＲ信号源が、上記周波数選択信号を受信し、上記入射信号として正弦波を生成するように構成された信号生成部を有する請求項１の試験測定装置。
上記ＴＤＲ信号源が、上記周波数選択信号を受信し、上記入射信号として正弦波を生成するように構成された信号生成部を有する請求項１の試験測定装置。
【請求項7】
上記１つ以上のＡＤＣが、上記入射信号を受信するように構成された入射ＡＤＣと、上記ＤＵＴからの上記ＴＤＲ/ＴＤＴ信号を受信するように構成されたＴＤＲ/ＴＤＴ ＡＤＣとを有する請求項５又は６の試験測定装置。
【請求項8】
時間領域反射率測定信号源を有するリアル等価時間オシロスコープを用いて波形をサンプリングする方法であって、
サンプル・クロック及び信号源制御信号を生成するためにクロック合成部を制御する処理と、
時間領域反射率測定（ＴＤＲ）信号源を使用して、信号源制御信号を受信し、被試験デバイス（ＤＵＴ）に印加する入射信号を生成する処理と、
上記サンプル・クロックを１つ以上のアナログ・デジタル・コンバータ（ＡＤＣ）で受信し、上記ＴＤＲ信号源からの上記入射信号及び上記ＤＵＴからのＴＤＲ/ＴＤＴ信号をサンプリングして入射波形及びＴＤＲ/ＴＤＴ波形を生成する処理と、
上記ＴＤＲ信号源の周期、サンプル・クロックの周期及びサンプルの個数とを用いて上記入射波形及び上記ＴＤＲ/ＴＤＴ波形内におけるサンプルの時間位置を決定する処理と、
上記入射波形及び上記ＴＤＲ/ＴＤＴ波形を表示する処理とを具える波形サンプリング方法。
サンプル・クロック及び信号源制御信号を生成するためにクロック合成部を制御する処理と、
時間領域反射率測定（ＴＤＲ）信号源を使用して、信号源制御信号を受信し、被試験デバイス（ＤＵＴ）に印加する入射信号を生成する処理と、
上記サンプル・クロックを１つ以上のアナログ・デジタル・コンバータ（ＡＤＣ）で受信し、上記ＴＤＲ信号源からの上記入射信号及び上記ＤＵＴからのＴＤＲ/ＴＤＴ信号をサンプリングして入射波形及びＴＤＲ/ＴＤＴ波形を生成する処理と、
上記ＴＤＲ信号源の周期、サンプル・クロックの周期及びサンプルの個数とを用いて上記入射波形及び上記ＴＤＲ/ＴＤＴ波形内におけるサンプルの時間位置を決定する処理と、
上記入射波形及び上記ＴＤＲ/ＴＤＴ波形を表示する処理とを具える波形サンプリング方法。
【請求項9】
サンプルの時間位置を決定する処理が、
ｔRET(ｉ)＝ｍｏｄ(ｉ＊Ｔsample，ＴTDR）
に従ってサンプルの時間位置を決定する処理を更に含み、このとき、Ｔsampleはサンプル・クロックの周期であり、ＴTDRはＴＤＲクロック信号の周期であって、クロッ分周回路で乗算された初期ＴＤＲクロック信号に等しい請求項８の波形サンプリング方法。
ｔRET(ｉ)＝ｍｏｄ(ｉ＊Ｔsample，ＴTDR）
に従ってサンプルの時間位置を決定する処理を更に含み、このとき、Ｔsampleはサンプル・クロックの周期であり、ＴTDRはＴＤＲクロック信号の周期であって、クロッ分周回路で乗算された初期ＴＤＲクロック信号に等しい請求項８の波形サンプリング方法。
【請求項10】
サンプル周期が、
Ｔsample_RET＝ｍｏｄ(ＴTDR，Ｔsample）
に等しい請求項９の波形サンプリング方法。
Ｔsample_RET＝ｍｏｄ(ＴTDR，Ｔsample）
に等しい請求項９の波形サンプリング方法。
【請求項11】
上記信号源制御信号が、予備ＴＤＲクロック信号から構成され、上記ＴＤＲ信号源を用いて上記信号源制御信号を受信し、上記ＤＵＴに印加する上記入射信号を生成する処理が、
上記予備ＴＤＲクロック信号にクロック分周回路を適用してＴＤＲクロックを生成する処理と、
ステップ信号生成部を使用して上記ＴＤＲクロックを受信し、上記ＤＵＴに印加する上記入射信号を生成する処理と
を有する請求項８の波形サンプリング方法。
上記予備ＴＤＲクロック信号にクロック分周回路を適用してＴＤＲクロックを生成する処理と、
ステップ信号生成部を使用して上記ＴＤＲクロックを受信し、上記ＤＵＴに印加する上記入射信号を生成する処理と
を有する請求項８の波形サンプリング方法。
【請求項12】
上記信号源制御信号が、デジタル・アナログ・コンバータ（ＤＡＣ）クロック信号を含み、上記ＴＤＲ信号源を使用して上記信号源制御信号を受信し、上記ＤＵＴに印加する上記入射信号を生成する処理が、
ＤＡＣを使用してＤＡＣクロック信号を受信し、パターン波形信号を生成する処理と、
発振信号を生成する処理と、
上記ＤＡＣからの上記パターン波形信号と上記発振信号とを混合して、上記ＤＵＴに印加する上記入射信号を生成する処理と
を含む請求項８の波形サンプリング方法。
ＤＡＣを使用してＤＡＣクロック信号を受信し、パターン波形信号を生成する処理と、
発振信号を生成する処理と、
上記ＤＡＣからの上記パターン波形信号と上記発振信号とを混合して、上記ＤＵＴに印加する上記入射信号を生成する処理と
を含む請求項８の波形サンプリング方法。
【請求項13】
上記信号源制御信号が、周波数選択信号を含み、上記ＴＤＲ信号源を用いて上記信号源制御信号を受信し、上記ＤＵＴに印加する上記入射信号を生成する処理が、
信号生成部を使用して、上記周波数選択信号を受信し、上記ＤＵＴに印加する上記入射信号として正弦波を生成する処理を含む請求項８の波形サンプリング方法。
信号生成部を使用して、上記周波数選択信号を受信し、上記ＤＵＴに印加する上記入射信号として正弦波を生成する処理を含む請求項８の波形サンプリング方法。
【請求項14】
１つ以上のＡＤＣで上記入射信号をサンプリングする処理が、上記ＴＤＲ信号源からの上記入射信号を入射ＡＤＣにおいて、上記ＤＵＴからの上記ＴＤＲ/ＴＤＴ信号をＴＤＲ/ＴＤＴ ＡＤＣにおいて、サンプリングする処理を含む請求項１２又は１３の波形サンプリング方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本開示は、試験測定装置、より詳細にはリアル等価時間（ＲＥＴ）オシロスコープに関する。
【背景技術】
【0002】
高速システムの試験/デバッグには、オシロスコープ（「スコープ」）によって取り込まれた波形についての信号インテグリティ（品質、忠実性）分析が含まれる。こうしたオシロスコープとしては、リアルタイム（ＲＴ：real-time）オシロスコープ、等価時間（ＥＴ：equivalent-time、即ち、サンプリング）オシロスコープ、リアル等価時間（ＲＥＴ：real-equivalent-time）オシロスコープが含まれる。ＲＴオシロスコープは、概して、被試験デバイス（ＤＵＴ）によって生成された信号を表す波形全体を１つのトリガ・イベントで捕捉（キャプチャ）し、１つの連続レコードに多数のデータ・ポイントを捕捉する。ＥＴオシロスコープは、通常、トリガ・イベントごとに１つの入力サンプルを測定し、波形全体を再構築（reconstruct：再現）するのに十分なサンプルが収集されるまで、毎回わずかな遅延を追加しながら、このプロセスを繰り返す。ＲＥＴオシロスコープは、ＲＴオシロスコープよりは低いが、ＥＴオシロスコープよりは高いレートでサンプリングし、ソフトウェア・クロック・リカバリを使用してハードウェア・トリガを使用せずに波形を再構築する。
【0003】
高速システムの試験/デバッグには、ネットワーク解析も含まれる。ネットワーク解析は、時間領域反射率測定（ＴＤＲ：time domain reflectometry）若しくは時間領域透過率測定（ＴＤＴ：time domain transmissometry）、又はベクトル・ネットワーク・アナライザ（VNA）を使用して実行されることがある。ネットワーク解析の詳細な情報については、テクトロニクス社による「ＤＳＡ８３００型サンプリング・オシロスコープ用IConnect SW」https://www.tek.com/en/datasheet/product-software/iconnect-dsa （以下「IConnect（日本の商標登録第４,５２０,９７２号）」）で入手できる。別のリソースとしては、キーサイト・テクノロジー社の「S-Parameter Design」、https://www.keysight.com/us/en/assets/7018-06743/application-notes/5952-1087.pdf （以下「S-Parameter Design」）で入手できる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【特許文献1】米国特許公開第２０２１／０２６３０８５号明細書
【非特許文献】
【0005】
【非特許文献1】「IConnect SW for DSA8300 Sampling Oscilloscope」、Tektronix, Inc.、［online］、［２０２２年５月４日検索］、インターネット<https://www.tek.com/en/datasheet/product-software/iconnect-dsa8300>
【非特許文献2】「S-Parameter Design」、Keysight Technologies, Inc.、［online］、［２０２２年５月４日検索］、インターネット<https://www.keysight.com/us/en/assets/7018-06743/application-notes/5952-1087.pdf>
【非特許文献3】「TDR/TDT測定」、イリソ電子工業株式会社、コネクタ用語集、［online］、［２０２２年５月４日検索］、インターネット<https://www.iriso.co.jp/jp/technology/knowledge/tdr-tdt/>
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
典型的には、ＴＤＲ信号源を有するＥＴオシロスコープは、時間領域のＴＤＲやＴＤＴを測定できる。次いで、時間領域のＴＤＲ/ＴＤＴの結果は、周波数領域のＳパラメータに変換される。ＴＤＲ/ＴＤＴ及びＳパラメータにより、データ・リンクのインピーダンス、チャンネルの反射及び挿入損失、並びに、障害が生じたチャンネルでのクロストークの影響を確認できる。高速シリアル・データ試験では、Ｓパラメータを使用してエンベッド/ディエンベッド処理を行うことがある。また、ＲＥＴオシロスコープにＴＤＲ機能があれば、有益であろう。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本願の実施形態は、ＴＤＲ及びＴＤＴ測定を実行するために、ＴＤＲ機能をＲＥＴオシロスコープに組み込んでいる。ＲＥＴオシロスコープでＴＤＲ/ＴＤＴを測定するために、他の２種類の信号も考慮される。実施形態では、オシロスコープ内のＴＤＲ信号源とサンプリング回路が、システム・クロックを共有する。この装置は、高速デジタル信号のクロックをリカバリするために通常使用される標準のＲＥＴソフトウェア・クロック・リカバリを必要とせずに、取り込んだサンプルをパターン波形に直接マッピングする。しかしながら、更に詳細に説明するように、実施形態は、ＴＤＲ信号源をＲＥＴオシロスコープに組み合わせる以上のものを含む。
【図面の簡単な説明】
【0008】
【発明を実施するための形態】
【0009】
図１は、ＴＤＲ機能を有する試験測定装置１０の一実施形態を示す。以下の説明では、この装置をＲＥＴオシロスコープと呼ぶが、オシロスコープに限定することを意図するものではない。図１は、本開示のいくつかの構成によるリアル等価時間（real-equivalent-time）試験測定装置１０の例のブロック図を示す。試験測定装置１０は、１つ以上のポート１２を含み、これは、任意の電気信号伝達媒体であっても良い。ポート１２は、レシーバ、トランスミッタ又はトランシーバを有していても良い。各ポート１２は、試験測定装置１０のチャンネルを構成しても良い。ＲＥＴオシロスコープの一例は、２０２１年２月２２日に出願され、米国特許出願公開第２０２１/０２６３０８５号として公開され、その全体が参照により本願に組み込まれる米国特許出願第１７/１８２,０５６号（'０５６号米国特許出願）において説明されている。
【0010】
ポート１２は、ＤＵＴから信号を受信し、それをサンプラ・トラック・アンド・ホールド回路１４に送る。トラック・アンド・ホールド回路１４は、１つ以上の高分解能アナログ・デジタル・コンバータ（ＡＤＣ）１８がアクイジション（データ取り込み）を可能とするのに充分な期間、各信号を安定して保持する。このＡＤＣは、１つ以上のプロセッサ２２の制御下で、クロック合成部（シンセサイザ）１６からサンプル・クロックを受信しても良い。
【0011】
ＡＤＣ１８は、トラック・アンド・ホールド回路１４からのアナログ信号をデジタル信号に変換する。ＡＤＣ１８は、等価時間試験測定装置よりも大きいが、リアルタイム試験測定装置よりは小さいサンプリング・レートを有していても良い。例えば、ＡＤＣ１８は、数ＧＳ／ｓから数十ＧＳ／ｓで信号をサンプリングできる（「Ｓ／ｓ」は「サンプル毎秒」を意味する）。一部の構成では、ＡＤＣ１８は、１ＧＳ/ｓから１００ＧＳ/ｓの間でアナログ信号をサンプリングできる。その他の構成では、ＡＤＣ１８は、２ＧＳ/ｓから２５ＧＳ/ｓの間でアナログ信号をサンプリングできる。ＡＤＣ１８からのデジタル化された信号は、次いで、アクイジション・メモリ２０に記憶できる。即ち、サンプリング・レートは、ナイキスト周波数（サンプリング・レートの半分である）が、ＡＤＣ１８のアナログ帯域幅より低くなるように設定される。ＡＤＣ１８は、１２ビットＡＤＣのような単一の高分解能ＡＤＣとしても良い。
【0012】
１つ以上のプロセッサ２２は、メモリからの命令を実行するように構成されてもよく、そのような命令によって示される任意の方法や関連するステップを実行しても良い。これらには、アクイジション・メモリ２０から取り込まれた信号を受信する処理、ハードウェア・トリガを使用せずに被試験信号を再構築（reconstruct：再現）する処理、高いアクイジション・レートでサンプルを取り込む処理などが含まれても良い。
【0013】
試験測定装置１０上のメモリ２０又はその他の任意のメモリは、プロセッサ・キャッシュ、ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）、読み取り専用メモリ（ＲＯＭ）、ソリッド・ステート・メモリ、ハード・ディスク・ドライブ又は任意の他のメモリ形式として実装されても良い。メモリは、データ、コンピュータ・プログラム・プロダクト及びその他の命令を記憶するための媒体として機能する。
【0014】
ユーザ・インタフェース２４は、１つ以上のプロセッサ２２に結合される。ユーザ・インタフェース２４には、表示部２６上でＧＵＩを使ってユーザがインタラクティブに操作するのに利用できる、キーボード、マウス、トラックボール、タッチスクリーン、その他の任意の操作装置が含まれても良い。表示部２６は、波形、測定値及び他のデータをユーザに表示するためのデジタル・スクリーン、ブラウン管ベースのディスプレイ又は他の任意のモニタであっても良い。
【0015】
実施形態の試験測定装置には、時間領域反射率測定（ＴＤＲ：time domain reflectometry）信号源（ソース）２８があり、これは、通常、プロセッサ２２が制御するクロック合成部（シンセサイザ）１６から制御信号３０を受信する。
【0016】
試験測定装置１０の構成要素は、試験測定装置１０内に統合されているものとして描かれているが、当業者であればわかるように、これらの構成要素の任意のものが試験測定装置１０の外部にあっても良い。これらは、有線や無線の通信媒体や機構などの任意の従来の方法で試験測定装置１０に結合されても良い。例えば、いくつかの例では、表示部２６は、試験測定装置１０から遠隔に配置されても良い。
【0017】
図２は、ＴＤＲ/ＴＤＴ及びＳパラメータの基本的な測定を図式にしたものを示す。入射１信号は、被試験デバイス（ＤＵＴ）３２に送られる入射波形であり、反射１信号は、入射２が終端された状態でのＴＤＲ波形を構成する。透過（Through：スルー）２信号は、ＴＤＴ波形である。波形は、オシロスコープ又は他のデータ・アクイジション装置（デジタイザなど）によって取り込まれる。周波数領域における入射信号に対する反射信号の比は、反射比として定義される。周波数領域における入射信号に対する透過信号の比率は、挿入損失として定義される。例えば、Ｓパラメータ・デザイン（非特許文献２）を参照されたい。
【0018】
以下の説明において、「入射信号（incident signal）」又は「入射（incident）」という用語は、ＴＤＲ信号源によって生成された信号又は波形を意味する。用語「時間領域信号」、「時間領域波形」又は「ＴＤ波形」は、入射信号に応答してＤＵＴが生成する時間領域反射（ＴＤＲ：time domain reflection）信号、時間領域透過（ＴＤＴ：time domain transmission）信号又は他の信号を意味する。
【0019】
図３は、図１の試験測定装置１０のような試験測定装置の実施形態の一部を示し、これにおいて、図１のＴＤＲ信号源２８のようなＴＤＲ信号源が、ＴＤＲステップ信号３６（典型的には、電圧源又は電流源）と、クロック分周回路３４とを有している。クロック分周回路３４によって生成されたＴＤＲクロックが、ＴＤＲステップ信号を駆動し、これが、図２に示す入射信号からなる。この実施形態では、図１のＴＤＲ制御信号３０は、クロック合成部１６からクロック分周回路３４へのＴＤＲクロック予備信号から構成される。
【0020】
図３の時間領域（ＴＤ）信号は、図２に示す反射/透過信号を含む。ＲＥＴオシロスコープ・チャンネルは、ブロック３８に示すように、入射信号と反射/透過信号の両方を入射波形データ及びＴＤＲ/ＴＤＴ波形データとして取り込む。ＲＥＴオシロスコープにおけるＳパラメータ解析、Ｚライン（インピーダンス特性）解析などのネットワーク解析は、パターン波形を取得すれば、ＥＴオシロスコープと同様に行うことができる。この実施形態は、１つ以上のＡＤＣ１８のうちの１つのみを用いても良い。
【0021】
ＲＥＴオシロスコープのＡＤＣ１８は、ＴＤＲステップ信号の反復レートとは非同期の固定のサンプル・レートでサンプリングする。図４において、ＴＤＲステップ信号は、ＴTDRの周期を有する。ＲＥＴオシロスコープは、Ｔsampleのサンプル周期でサンプリングする。ＲＥＴオシロスコープでは、エイリアシングを防ぐほど、サンプル・レートが十分ではない。サンプルを信号パターン波形中の対応する位置に配置するのに、数式（１）が使用される。
ｔRET(ｉ)＝ｍｏｄ(ｉ＊Ｔsample，ＴTDR） （１）
ここでｍｏｄ関数は、ｉ＊ＴsampleをＴTDRで割り算した余りを生じる。
ｔRET(ｉ)＝ｍｏｄ(ｉ＊Ｔsample，ＴTDR） （１）
ここでｍｏｄ関数は、ｉ＊ＴsampleをＴTDRで割り算した余りを生じる。
【0022】
ＲＥＴサンプル・レートは、エイリアシングを防止するほど十分には高くない。例えば、サンプル期間を、２ＧＳ/ｓのサンプル・レートとなるＴsample＝５００ピコ秒としながら、'０５６米国特許出願で説明されているように、アナログ帯域幅を７０ＧＨｚとすることができる。「クロック合成部」と「クロック分周回路」は、数式（１）のｔRETが波形のスパンを十分な密度で覆うように構成できる。例えば：
基準クロック＝１０ＭＨｚ。これは、試験装置の典型的な例である。
クロック合成部は、サンプル・クロック＝２ＧＨｚを、
２００＊基準クロック＝２００＊１０ＭＨｚ＝２ＧＨｚ
によって生成する。
クロック合成部は、ＴＤＲクロック予備信号＝２.０１ＧＨｚを、
２０１＊基準クロック＝２０１＊１０ＭＨｚ＝２.０１ＧＨｚ
によって生成する。
基準クロック＝１０ＭＨｚ。これは、試験装置の典型的な例である。
クロック合成部は、サンプル・クロック＝２ＧＨｚを、
２００＊基準クロック＝２００＊１０ＭＨｚ＝２ＧＨｚ
によって生成する。
クロック合成部は、ＴＤＲクロック予備信号＝２.０１ＧＨｚを、
２０１＊基準クロック＝２０１＊１０ＭＨｚ＝２.０１ＧＨｚ
によって生成する。
【0023】
ＴＤＲクロックは、ＴＤＲ/ＴＤＴ波形のセトリング時間をカバーするように選択される。目標となる１０μ秒を超えるＴＤＲクロック周期に対して、次の数式（２）と数式（３）を使用して、ＲＥＴオシロスコープ用の等価なサンプル周期のためのクロック分周回路の値を選択できる。
Ｔsample_RET＝ｍｏｄ(ＴTDR, Ｔsample) （２）
ここで、ｍｏｄは、除算の剰余を与えるｍｏｄ演算である。そして、
ＴTDR＝ＴＤＲクロック予備信号＊クロック分周回路 （３）
Ｔsample_RET＝ｍｏｄ(ＴTDR, Ｔsample) （２）
ここで、ｍｏｄは、除算の剰余を与えるｍｏｄ演算である。そして、
ＴTDR＝ＴＤＲクロック予備信号＊クロック分周回路 （３）
【0024】
クロック分周回路の値は、Ｔsample_RETの値とＴTDRの値の両方が所望の値に近くなるように、数式（２）及び（３）から選択できる。例えば、数式（２）における余り（これがＴsample_RETになる）として、約２.５ピコ秒を得るのには、次のクロック分周回路の値を選択できる。
クロック分周回路＝２００９９ （４）
クロック分周回路＝２００９９ （４）
【0025】
この構成では、ＴＤＲ周期ＴTDRは、約１０μ秒である。
ＴTDR＝ＴＤＲクロック予備信号＊クロック分周回路＝(１/２.０１ＧＨｚ)*２００９９＝９.９９９５μs （５）
ＴTDR＝ＴＤＲクロック予備信号＊クロック分周回路＝(１/２.０１ＧＨｚ)*２００９９＝９.９９９５μs （５）
【0026】
図５は、オシロスコープが、通常、ＴＤ波形測定を、ＴTDRの中のウィンドウ持続時間（window duration）Ｔwindowとして示すウィンドウ部分で行うことを示す。ＲＥＴオシロスコープは、ＴTDRの全持続時間にわたってサンプルを取り込むが、これは、取り込まれた生のサンプルの中の一部のみがＴＤ波形測定に有用であることを意味する。
【0027】
標準的なＳパラメータ測定の場合、周波数分解能は約１０ＭＨｚである。これは、１００ナノ秒の時間ウィンドウを必要とする。反復レートが１００ｋＨｚの標準的なＴＤＲ信号の周期は、１０μsである。この場合、Ｔwindowは、ＴTDRの１％であり、ＲＥＴオシロスコープの２ＧＳ/ｓのサンプリングに関しては、'０５６米国特許出願で説明されているように、ＴＤＲ/ＴＤＴの実効サンプリング・レートは、ＲＥＴサンプリング・レートの１％であるから、２０ＭＳ/ｓの実効サンプリング・レートが得られることになる。この２０ＭＳ/ｓの実効サンプリング・レートは、標準的なＥＴサンプリング・オシロスコープのサンプリング・レート２００ｋＳ/ｓの１００倍である。ＥＴオシロスコープに対して、ＲＥＴオシロスコープの速度の優位性により、より高速な測定が可能になり、同じアクイジション時間に対して、より多くのデータが取得されるため、より高い精度を実現できる。平均で１００倍のデータがあれば、測定システムのランダム・ノイズは、次のように２０ｄＢ低減できる。
平均で１０倍のデータがあれば、ノイズの低減は、１０ｄＢになる。
【数6】
平均で１０倍のデータがあれば、ノイズの低減は、１０ｄＢになる。
【0028】
ＲＥＴオシロスコープの利得段をバイパスすると、プリアンプに起因する垂直ノイズを回避できるため、ＴＤＲ/ＴＤＴ測定の垂直ノイズを改善できる。ＡＤＣの分解能を高くすれば、ノイズの低減にも有益になる。
【0029】
ＴＤＲ信号源及びＴＤ測定機能を有するＲＥＴオシロスコープは、校正キット（Calkit）を利用して、ＳＯＬＴ（short-open-load-through）校正又は同様の校正を実施する手順を有していても良い。校正により、基準面を正確に確立できる。校正キットをＤＵＴ３２の代わりに配置することで、図３に示すように校正のために既知の信号をＡＤＣ１８に提供できる。
【0030】
発明者らは、ＴＤＲ/ＴＤＴ機能を有するＲＥＴオシロスコープを、外部高速ステップ信号源を利用し、リアルタイム・オシロスコープを使ってデモンストレーションした。図６は、２.４インチ（約６.１cm）のプリント回路基板のトレースのＳ１１と呼ばれる反射損失（リターン・ロス）項を、ＴＤＲ機能を有するＲＥＴオシロスコープによって測定されたものを曲線４０とし、ＶＮＡによって測定されたものを曲線４２として、比較して示している。図７は、Ｓ２１と呼ばれる挿入損失について、同じ２つの出所による曲線４０及び４２の同様の比較を示す。
【0031】
図８は、１６Ｇｂ/ｓのＮＲＺ（ノン・リターン・トゥ・ゼロ）信号のアイ・ダイアグラムを示す。これらは、ＰＣＢのトレースが長いほど、より大きなＩＳＩ（シンボル間干渉）を生じるところ、ディエンベッドの効果をより適切に検証するために、より長めにしたＰＣＢトレースを使用して結果を得ている。左上のアイ・ダイアグラム４４は、１２インチ（約３０.５cm）のＰＣＢトレースの末端部で取り込まれた波形を表す。このアイ・ダイアグラムは、主にチャンネル挿入損失によって引き起こされる大きなＩＳＩを示している。アイ・ダイアグラム４６は、１２インチＰＣＢトレースの前で取り込まれた波形を表す。このアイ・ダイアグラム４６は、大きく開いたアイを有する。このアイ・ダイアグラムは、チャンネルの末端部で取り込まれるディエンベッドされた波形の最良の基準（golden reference）として機能する。左下の４７は、ＶＮＡを利用して測定されたＳパラメータを利用してディエンベッドされた波形を表すアイ・ダイアグラムを示し、右下の４８は、ＴＤＲ/ＴＤＴ機能付きオシロスコープを利用して測定されたＳパラメータを利用してディエンベッドされた波形を表すアイ・ダイアグラムである。
【0032】
上記数値の例は、ＶＮＡによって測定されたＳパラメータと、ＴＤＲによって測定されたＳパラメータが、周波数が低いほど、近づいてマッチングし、周波数が高いほど差が大きくなることを示している。ディエンベッドの結果は、ＶＮＡを用いて測定されたＳパラメータとオシロスコープを用いて測定されたＳパラメータとの間で同様であり、ディエンベッドされたアイ・ダイアグラムは、最良基準（golden reference）のアイ・ダイアグラムと一致する。
【0033】
ステップ信号のスペクトルは、図１１に示すように、１/ｆ特性に従った大きさを有する。そのエネルギーは、周波数が高いほど減少する。ノイズ・レベルが一定であれば、その信号対ノイズ比（ＳＮＲ）は、周波数が高いほど低下することになる。これは、ステップ信号ベースのＴＤＲ/ＴＤＴ手法の制約である。図６及び図７に示す数値の例は、周波数が高いほど、不正確さが増加することを示す。平均の数を増やすと、ＳＮＲを緩和できる。しかし、平均の数を増やすと、ＴＤＲ/ＴＤＴ測定の実行にかかる時間が長くなる。
【0034】
図９は、試験測定装置（例えば、ＲＥＴオシロスコープ）１０におけるＴＤＲ信号源２８の別の実施形態を示す。この実施形態では、ＴＤＲ信号源は、帯域幅制限パターン波形信号を生成するためのデジタル・アナログ・コンバータ（ＤＡＣ）５２と、異なる周波数帯域をカバーするための局部発振器（ＬＯ）５６及びミキサ５４とを有する。この実施形態では、信号源制御信号３０は、クロック合成部（シンセサイザ）１６からＤＡＣ５２に送られるＤＡＣクロック５０である。
【0035】
ＤＡＣ１６は、限定された帯域幅にわたって一定のエネルギーを有する複数の高調波を含むパターン波形信号を生成し、そのパターン波形信号をミキサ５４に供給できる。任意波形生成装置（ＡＷＧ：arbitrary waveform generator）は、市販のＤＡＣベースの信号生成装置である。ＴＤＲ/ＴＤＴ測定の場合、パターン波形信号には複数の高調波が含まれており、通常、各高調波について位相をプログラムして実装される。これにより、ＤＡＣの垂直レンジをより有効に活用できる。例えば、１００個の高調波を生成する場合、全ての高調波の位相を揃えると、時間領域信号は、狭いパルスのように見える。ＤＡＣの垂直レンジは限られているため、ＤＡＣから出力される信号のエネルギーが制限される。複数の高調波の位相をランダムにすると、ランダム・ノイズのように見えるパターン波形信号が得られ、時間領域信号のピークを減少させる。同じＤＡＣ垂直レンジならば、ＤＡＣから出力される信号は、より高いエネルギーを持つことになる。これは、ＳＮＲを改善し、周波数が高くなっても、より正確なＴＤＲ/ＴＤＴ測定を実現する。
【0036】
ミキサ５４が受信したパターン波形信号は、局部発振器５６からのＬＯ信号と混合されて、入射信号を生成する。この実施形態では、ＡＤＣ１８は、２つのＡＤＣを有する。一方のＡＤＣ５８は、入射信号を受信して、ブロック６２に示すような入射波形データを生成する。ＤＵＴ３２も、入射信号を受信し、すると、ＡＤＣ６０へ向けてＴＤＲ/ＴＤＴ信号を生成し、ブロック６４に示すようにＴＤＲ/ＴＤＴ波形データ（まとめて「時間領域（ＴＤ）波形データ」とも呼ぶ）が生成される。波形データは、表示、分析などに使用しても良い。
【0037】
ミキサは、ＤＡＣから生成される信号のスペクトルをより高い周波数帯域にシフトするために使用することができ、これにより、より広いスペクトルをカバーすることが可能になる。図１０に示すように、周波数ｆ１、ｆ２、…において混合される信号は、ＴＤＲ/ＴＤＴ測定用のより高い帯域の信号を生成する。高調波のエネルギーは、より高い周波数と混合されると、ミキサに十分な帯域幅があれば、一定のエネルギー・レベルにとどまることに注意されたい。この特性により、図１１に示すように、ＤＡＣ及びミキサ・ベースのＴＤＲ信号源は、ステップ信号ベースのＴＤＲ信号源よりも、高い周波数において、ＳＮＲが良いという利点が得られる（以下でより詳細に説明する）。
【0038】
図９の試験測定装置（例えば、ＲＥＴオシロスコープ）は、サンプルを取り込むと、同じ数式（１）を用いてパターン波形信号を生成する。ＳＯＬＴ校正は、システムがステップ信号ベースのＴＤＲ信号源を使用する場合と同じように機能する。
【0039】
図１２に示す別の実施形態では、ＲＥＴオシロスコープ１０内のＴＤＲ信号源２８は、正弦信号生成部を有する。オシロスコープは、この実施形態では、一度に１つの周波数を測定する。信号源制御信号３０は、クロック合成部１６から掃引正弦信号生成部６８へ送られる周波数制御信号から構成される。これは、複数の周波数にわたるＴＤＲ/ＴＤＴ測定を行うのに、ステップ信号ベースのＴＤＲ信号源を使用するよりも又はＤＡＣ及びミキサ・ベースのＴＤＲ信号源を使用するよりも、時間がかかる。この手法は、一度に１つの周波数でＳパラメータを測定するＶＮＡのように、全ての信号エネルギーが１つの高調波に集中するため、各周波数におけるＳＮＲが最も良くなる。
【0040】
図１２の試験測定装置（例えば、ＲＥＴオシロスコープ）は、サンプルを取り込むと、次いで、正弦信号の周期は既知なので、同じ数式（１）を用いて正弦波形を生成する。ＳＯＬＴ校正は、ステップ信号ベースのＴＤＲ信号源を使用する場合と同じように機能する。掃引正弦信号生成部６８は、ブロック６２に示すように入射波形データを生成するために、入射信号を入射ＡＤＣ５８へ送信すると共に、ＤＵＴ３２にも入射信号を送信する。すると、ＤＵＴ３２は、ＡＤＣ６０に向けてＴＤＲ/ＴＤＴ信号を生成し、ブロック６４に示すようにＴＤＲ/ＴＤＴ波形データが生成される。波形データは、表示、分析などに使用しても良い。
【0041】
【0042】
本開示は、ＴＤＲ機能性を有するＲＥＴオシロスコープの様々な実施形態を記載している。ＲＥＴオシロスコープは、より高い周波数までのＳパラメータの測定と高速なデータ波形の捕捉と測定が可能なため、高速シリアル・データ試験/測定に必要なネットワーク解析と波形解析の両方を実行する汎用性の高いツールとなる。ＲＥＴオシロスコープによる手法（ソリューション）は、ＥＴオシロスコープによる手法よりも大きな利点がある。ＤＡＣベースのＴＤＲ信号源により、ＲＥＴオシロスコープによる手法は、より高い周波数において、正確なＳパラメータを提供する可能性がある。
【0043】
本開示技術の態様は、特別に作成されたハードウェア、ファームウェア、デジタル・シグナル・プロセッサ又はプログラムされた命令に従って動作するプロセッサを含む特別にプログラムされた汎用コンピュータ上で動作できる。本願における「コントローラ」又は「プロセッサ」という用語は、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、ＡＳＩＣ及び専用ハードウェア・コントローラ等を意図する。本開示技術の態様は、１つ又は複数のコンピュータ（モニタリング・モジュールを含む）その他のデバイスによって実行される、１つ又は複数のプログラム・モジュールなどのコンピュータ利用可能なデータ及びコンピュータ実行可能な命令で実現できる。概して、プログラム・モジュールとしては、ルーチン、プログラム、オブジェクト、コンポーネント、データ構造などを含み、これらは、コンピュータその他のデバイス内のプロセッサによって実行されると、特定のタスクを実行するか、又は、特定の抽象データ形式を実現する。コンピュータ実行可能命令は、ハードディスク、光ディスク、リムーバブル記憶媒体、ソリッド・ステート・メモリ、ＲＡＭなどのコンピュータ可読記憶媒体に記憶しても良い。当業者には理解されるように、プログラム・モジュールの機能は、様々な実施例において必要に応じて組み合わせられるか又は分散されても良い。更に、こうした機能は、集積回路、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（ＦＰＧＡ）などのようなファームウェア又はハードウェア同等物において全体又は一部を具体化できる。特定のデータ構造を使用して、本開示技術の１つ以上の態様をより効果的に実施することができ、そのようなデータ構造は、本願に記載されたコンピュータ実行可能命令及びコンピュータ使用可能データの範囲内と考えられる。
【0044】
開示された態様は、場合によっては、ハードウェア、ファームウェア、ソフトウェア又はこれらの任意の組み合わせで実現されても良い。開示された態様は、１つ以上のプロセッサによって読み取られ、実行され得る１つ又は複数のコンピュータ可読媒体によって運搬されるか又は記憶される命令として実現されても良い。そのような命令は、コンピュータ・プログラム・プロダクトと呼ぶことができる。本願で説明するコンピュータ可読媒体は、コンピューティング装置によってアクセス可能な任意の媒体を意味する。限定するものではないが、一例としては、コンピュータ可読媒体は、コンピュータ記憶媒体及び通信媒体を含んでいても良い。
【0045】
コンピュータ記憶媒体とは、コンピュータ読み取り可能な情報を記憶するために使用することができる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、コンピュータ記憶媒体としては、ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）、電気消去可能プログラマブル読み出し専用メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）、フラッシュメモリやその他のメモリ技術、コンパクト・ディスク読み出し専用メモリ（ＣＤ-ＲＯＭ）、ＤＶＤ（Digital Video Disc）やその他の光ディスク記憶装置、磁気カセット、磁気テープ、磁気ディスク記憶装置やその他の磁気記憶装置、及び任意の技術で実装された任意の他の揮発性又は不揮発性の取り外し可能又は取り外し不能の媒体を含んでいても良い。コンピュータ記憶媒体としては、信号そのもの及び信号伝送の一時的な形態は除外される。
【0046】
通信媒体とは、コンピュータ可読情報の通信に利用できる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、通信媒体には、電気、光、無線周波数（ＲＦ）、赤外線、音又はその他の形式の信号の通信に適した同軸ケーブル、光ファイバ・ケーブル、空気又は任意の他の媒体を含んでも良い。
【0047】
加えて、本願の説明は、特定の特徴に言及している。本明細書における開示には、これらの特定の特徴の全ての可能な組み合わせが含まれると理解すべきである。ある特定の特徴が特定の態様又は実施例に関連して開示される場合、その特徴は、可能である限り、他の態様及び実施例との関連においても利用できる。
【0048】
また、本願において、２つ以上の定義されたステップ又は工程を有する方法に言及する場合、これら定義されたステップ又は工程は、状況的にそれらの可能性を排除しない限り、任意の順序で又は同時に実行しても良い。
実施例
実施例
【0049】
以下では、開示技術の理解に有益な実施例が提示される。この技術の実施形態は、以下で記述する実施例の１つ以上及び任意の組み合わせを含んでいても良い。
【0050】
実施例１は、試験測定装置であって、被試験デバイス（ＤＵＴ）に接続するように構成された１つ以上のポートと、信号源制御信号を受信すると共に上記ＤＵＴに印加される入射信号を生成するように構成された時間領域反射率測定（ＴＤＲ）信号源と、サンプル・クロックを受信し、上記ＴＤＲ信号源からの入射信号及び上記ＤＵＴからの時間領域反射（ＴＤＲ）信号又は時間領域透過（ＴＤＴ）信号をサンプリングして入射波形及びＴＤＲ/ＴＤＴ波形を生成するように構成された１つ以上のアナログ・デジタル・コンバータ（ＡＤＣ）と、１つ以上のプロセッサであって、上記サンプル・クロック及び上記信号源制御信号を生成するようにクロック合成部を制御する処理と、上記ＴＤＲ信号源の周期、上記サンプル・クロックの周期及びサンプルの数を使用して上記入射波形及び上記ＴＤＲ/ＴＤＴ波形内のサンプルの時間位置を決定する処理とを上記１つ以上のプロセッサに行わせるプログラムを実行するように構成された上記１つ以上のプロセッサと、上記入射波形と上記ＴＤＲ/ＴＤＴ波形を表示するように構成された表示部とを具える。
【0051】
実施例２は、実施例１の試験測定装置であって、上記１つ以上のプロセッサが、ｔRET(ｉ)＝ｍｏｄ(ｉ＊Ｔsample，ＴTDR）に従って時間位置を決定する処理を上記１つ以上のプロセッサに行わせるプログラムを実行するよう更に構成され、このとき、Ｔsampleは、上記サンプル・クロックの周期であり、ＴTDRは、ＴＤＲクロック信号の周期であって、クロック分周回路で乗算した初期ＴＤＲクロック信号に等しい。
【0052】
実施例３は、実施例２の試験測定装置であって、サンプル周期が、
Ｔsample_RET＝ｍｏｄ(ＴTDR，Ｔsample）に等しい。
Ｔsample_RET＝ｍｏｄ(ＴTDR，Ｔsample）に等しい。
【0053】
実施例４は、実施例１～３のいずれかの試験測定装置であって、上記信号源制御信号が、予備ＴＤＲクロック信号から構成され、上記ＴＤＲ信号源が、クロック分周回路とステップ信号生成部とを有し、上記クロック分周回路は、上記信号源制御信号を受信してＴＤＲクロックを生成するように構成され、上記ステップ信号生成部は、上記ＴＤＲクロックを受信して上記ＤＵＴに印加する上記入射信号を生成する。
【0054】
実施例５は、実施例１～４のいずれかの試験測定装置であって、上記１つ以上のＡＤＣは、上記ＴＤＲ信号源からの上記入射信号と上記ＤＵＴからの上記ＴＤＲ/ＴＤＴ信号を受信するように構成された１つのＡＤＣを有する。
【0055】
実施例６は、実施例１～５のいずれかの試験測定装置であって、上記信号源制御信号が、デジタル・アナログ・コンバータ（ＤＡＣ）クロック信号を含み、上記ＴＤＲ信号源が、上記ＤＡＣクロック信号を受信してパターン波形信号を生成するように構成されたＤＡＣと、発振信号を生成する局部発振器と、上記ＤＡＣからの上記パターン波形信号と上記局部発振器からの上記発振信号を受信し、上記ＤＵＴに印加する上記入射信号を生成するように構成されたミキサとを有する。
【0056】
実施例７は、実施例６の試験測定装置であって、上記１つ以上のＡＤＣは、上記ミキサからの上記入射信号を受信するように構成された入射ＡＤＣと、上記ＤＵＴからの上記ＴＤＲ/ＴＤＴ信号を受信するように構成されたＴＤＲ/ＴＤＴ ＡＤＣとを有する。
【0057】
実施例８は、実施例６の試験測定装置であって、上記ミキサ及び上記局部発振器は、上記パターン波形信号のスペクトルをより高い周波数帯域にシフトするように更に構成されている。
【0058】
実施例９は、実施例１～８のいずれかの試験測定装置であって、上記信号源制御信号が、周波数選択信号を含み、上記ＴＤＲ信号源が、上記周波数選択信号を受信し、上記入射信号として正弦波を生成するように構成された信号生成部を有する。
【0059】
実施例１０は、実施例９の試験測定装置であって、上記１つ以上のＡＤＣが、上記信号生成部からの上記入射信号を受信するように構成された入射ＡＤＣと、上記ＤＵＴからの上記ＴＤＲ/ＴＤＴ信号を受信するように構成されたＴＤＲ/ＴＤＴ ＡＤＣとを有する。
【0060】
実施例１１は、時間領域反射率測定信号源を有するリアル等価時間オシロスコープを用いて波形をサンプリングする方法であって、サンプル・クロック及び信号源制御信号を生成するためにクロック合成部を制御する処理と、時間領域反射率測定（ＴＤＲ）信号源を使用して、信号源制御信号を受信し、被試験デバイス（ＤＵＴ）に印加する入射信号を生成する処理と、上記サンプル・クロックを１つ以上のアナログ・デジタル・コンバータ（ＡＤＣ）で受信し、上記ＴＤＲ信号源からの上記入射信号及び上記ＤＵＴからのＴＤＲ/ＴＤＴ信号をサンプリングして入射波形及びＴＤＲ/ＴＤＴ波形を生成する処理と、上記ＴＤＲ信号源の周期、サンプル・クロックの周期及びサンプルの個数とを用いて上記入射波形及び上記ＴＤＲ/ＴＤＴ波形内におけるサンプルの時間位置を決定する処理と、上記入射波形及び上記ＴＤＲ/ＴＤＴ波形を表示する処理とを具える。
【0061】
実施例１２は、実施例１１の方法であって、サンプルの時間位置を決定する処理が、ｔRET(ｉ)＝ｍｏｄ(ｉ＊Ｔsample，ＴTDR）に従ってサンプルの時間位置を決定する処理を更に含み、このとき、Ｔsampleはサンプル・クロックの周期であり、ＴTDRはＴＤＲクロック信号の周期であって、クロッ分周回路で乗算された初期ＴＤＲクロック信号に等しい。
【0062】
実施例１３は、実施例１２の方法であって、サンプル周期は、Ｔsample_RET＝ｍｏｄ(ＴTDR，Ｔsample）に等しい。
【0063】
実施例１４は、実施例１１～１４のいずれかの方法であって、上記信号源制御信号が、予備ＴＤＲクロック信号を含み、上記ＴＤＲ信号源を用いて上記信号源制御信号を受信し、上記ＤＵＴに印加する上記入射信号を生成する処理が、上記予備ＴＤＲクロック信号にクロック分周回路を適用してＴＤＲクロックを生成する処理と、ステップ信号生成部を使用して上記ＴＤＲクロックを受信し、上記ＤＵＴに印加する上記入射信号を生成する処理とを有する。
【0064】
実施例１５は、実施例１４の方法であって、１つ以上のＡＤＣで上記入射信号をサンプリングする処理が、上記ＴＤＲ信号源からの上記入射信号及び上記ＤＵＴからの上記ＴＤＲ/ＴＤＴ信号を、１つのＡＤＣにおいてサンプリングする処理を含む。
【0065】
実施例１６は、実施例１１～１５のいずれかの方法であって、上記信号源制御信号が、デジタル・アナログ・コンバータ（ＤＡＣ）クロック信号を含み、上記ＴＤＲ信号源を使用して上記信号源制御信号を受信し、上記ＤＵＴに印加する上記入射信号を生成する処理が、ＤＡＣを使用してＤＡＣクロック信号を受信し、パターン波形信号を生成する処理と、発振信号を生成する処理と、上記ＤＡＣからの上記パターン波形信号と上記発振信号とを混合して、上記ＤＵＴに印加する上記入射信号を生成する処理とを含む。
【0066】
実施例１７は、実施例１６の方法であって、１つ以上のＡＤＣで上記入射信号をサンプリングする処理が、上記ＴＤＲ信号源からの上記入射信号を入射ＡＤＣでサンプリングする処理と、上記ＤＵＴからのＴＤＲ/ＴＤＴ信号をＴＤＲ/ＴＤＴ ＡＤＣでサンプリングする処理とを含む。
【0067】
実施例１８は、請求項１６に記載の方法であって、上記パターン波形信号と上記発振信号とを混合する処理が、上記パターン波形信号のスペクトルをより高い周波数帯域にシフトさせる処理を含む。
【0068】
実施例１９は、実施例１１～１６のいずれかの方法であって、上記信号源制御信号が、周波数選択信号を含み、上記ＴＤＲ信号源を用いて上記信号源制御信号を受信し、上記ＤＵＴに印加する上記入射信号を生成する処理が、信号生成部を使用して、上記周波数選択信号を受信し、上記ＤＵＴに印加する上記入射信号として正弦波を生成する処理を含む。
【0069】
実施例２０は、請求項１９に記載の方法であって、１つ以上のＡＤＣで上記入射信号をサンプリングする処理が、上記ＴＤＲ信号源からの上記入射信号を入射ＡＤＣにおいて、上記ＤＵＴからの上記ＴＤＲ/ＴＤＴ信号をＴＤＲ/ＴＤＴ ＡＤＣにおいて、サンプリングする処理を含む。
【0070】
明細書、要約書、特許請求の範囲及び図面に開示される全ての機能、並びに開示される任意の方法又はプロセスにおける全てのステップは、そのような機能やステップの少なくとも一部が相互に排他的な組み合わせである場合を除いて、任意の組み合わせで組み合わせることができる。明細書、要約書、特許請求の範囲及び図面に開示される機能の夫々は、特に明記されない限り、同じ、等価、又は類似の目的を果たす代替の機能によって置き換えることができる。
【0071】
説明の都合上、本開示技術の具体的な態様を図示し、説明してきたが、本発明の要旨と範囲から離れることなく、種々の変更が可能なことが理解できよう。従って、本開示技術は、添付の請求項以外では、限定されるべきではない。
【符号の説明】
【0072】
１０ 試験測定装置
１２ ポート
１４ サンプラ・トラック＆ホールド回路
１６ クロック合成部
１８ サンプラ/ＡＤＣ
２０ アクイジション・メモリ
２２ プロセッサ
２４ ユーザ・インタフェース
２６ 表示部
２８ 時間領域反射率測定（ＴＤＲ）光源
３０ ＴＤＲ信号源制御信号
３２ 被試験デバイス（ＤＵＴ）/校正キット
３４ クロック分周回路
３６ ＴＤＲステップ信号
３８ 入射波形データとＴＤＲ/ＴＤＴ波形データ
４０ ＲＥＴオシロスコープで測定した曲線
４２ ベクトル・ネットワーク・アナライザ（ＶＮＡ）で測定した曲線
５０ ＤＡＣクロック
５２ ＤＡＣ
５４ ミキサ
５６ 局部発振器（ＬＯ）
５８ サンプラ/ＡＤＣ
６０ サンプラ/ＡＤＣ
６２ 入射波形データ
６４ ＴＤＲ/ＴＤＴ波形データ
６８ 掃引正弦信号生成部
１２ ポート
１４ サンプラ・トラック＆ホールド回路
１６ クロック合成部
１８ サンプラ/ＡＤＣ
２０ アクイジション・メモリ
２２ プロセッサ
２４ ユーザ・インタフェース
２６ 表示部
２８ 時間領域反射率測定（ＴＤＲ）光源
３０ ＴＤＲ信号源制御信号
３２ 被試験デバイス（ＤＵＴ）/校正キット
３４ クロック分周回路
３６ ＴＤＲステップ信号
３８ 入射波形データとＴＤＲ/ＴＤＴ波形データ
４０ ＲＥＴオシロスコープで測定した曲線
４２ ベクトル・ネットワーク・アナライザ（ＶＮＡ）で測定した曲線
５０ ＤＡＣクロック
５２ ＤＡＣ
５４ ミキサ
５６ 局部発振器（ＬＯ）
５８ サンプラ/ＡＤＣ
６０ サンプラ/ＡＤＣ
６２ 入射波形データ
６４ ＴＤＲ/ＴＤＴ波形データ
６８ 掃引正弦信号生成部
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【外国語明細書】