特開2022-184847液晶材料の製造方法及び液晶材料の評価方法とその測定装置

発明の名称　液晶材料の製造方法及び液晶材料の評価方法とその測定装置

出願人　ＤＩＣ株式会社　（識別番号 2886）

　　　　特許公開件数ランキング 153 位（216件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 86 位（288件）（共同出願を含む）

公報番号　特開-2022-184847

公報発行日　2022年12月13

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2022-184847

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