特開 2022-184847出願番号 特願 2022-136698
液晶材料の製造方法及び液晶材料の評価方法とその測定装置
公報発行日 2022年12月13
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2022-184847 ログイン済みの方はこのURLへ
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※ 共同出願を含む
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技術分野
要約特許出願時に添付された[要約書]
【課題】均質な電気的特性を有する液晶材料、その製造方法、均質な電気的特性を有する液晶材料を測定する方法、その測定装置を提供する。
【解決手段】液晶材料を調製する工程と液晶材料のデルタディレイ値を測定するデルタディレイ測定機構により液晶材料を測定する工程とを有し、デルタディレイ測定機構は、内部導体８及び外部導体を含む同軸管６を１本備え、基準電圧Ｖ０を内部導体８及び外部導体間に印加した状態で内部導体８と外部導体９との間の間隙に充填された液晶材料に対して連続的に変化する周波数の電磁波を伝搬させることにより計測される伝送遅延時間ｔ０と、基準電圧Ｖ０より大きい実行電圧Ｖを内部導体及び外部導体間に印加した状態で液晶材料に対して電磁波を伝搬させることにより計測される伝送遅延時間ｔｖとの差分である液晶材料のデルタディレイ値を算出する機構を有する、液晶材料の製造方法である。
【選択図】図１
発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋
課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋
発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋
本発明によれば、均質な電気的特性を有する液晶材料及びその製造方法、並びに均質な電気的特性を有する液晶材料を測定する方法及びその測定装置を提供しうる。
この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]
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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋
選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図
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