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特開2022-189071ＩＣソケット及びＩＣモジュールの検査方法
発明の名称 ＩＣソケット及びＩＣモジュールの検査方法
出願人 日本電信電話株式会社 （識別番号 4226）
特許公開件数ランキング 87 位（72件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 7 位（299件）（共同出願を含む）
出願人 ＮＴＴエレクトロニクス株式会社 （識別番号 591230295）
特許公開件数ランキング 701 位（8件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 1295 位（4件）（共同出願を含む）
公報番号 特開-2022-189071
公報発行日 2022年12月22
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2022-189071
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